DE7130859U - PHOTOMETER - Google Patents
PHOTOMETERInfo
- Publication number
- DE7130859U DE7130859U DE7130859U DE7130859U DE7130859U DE 7130859 U DE7130859 U DE 7130859U DE 7130859 U DE7130859 U DE 7130859U DE 7130859 U DE7130859 U DE 7130859U DE 7130859 U DE7130859 U DE 7130859U
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- light
- photometer according
- mirror
- light source
- comparison
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
Description
MANITZ. FINSTERWALD & CRÄMKOWMANITZ. FINSTERWALD & CRÄMKOW
G 71 30 859.3 München, den 21.6.76G 71 30 859.3 Munich, June 21, 1976
S/ri - S 3228S / ri - S 3228
Erwin Sick 7808 Waldkirch An der Allee 7-9Erwin Sick 7808 Waldkirch An der Allee 7-9
PhotometerPhotometer
Die Erfindung "betrifft ein Photometer, bei dem von einer einzigen Lichtquelle ein Meß- und Vergleichsstrahl abgeleitet und zwei Photoempfängern zugeführt werden, aus deren Ausgangssignalen eine für die Transmission, Extinktion, Remission oder dergleichen repräsentative Anzeige gebildet wird.The invention "relates to a photometer in which from one single light source derived a measuring and comparison beam and fed to two photoreceivers, from their Output signals formed a display representative of the transmission, extinction, remission or the like will.
Bei genauen photometrischen Messungen tritt gewöhnlich das Problem der Kompensation von Lichtquelle und Photoempfänger gegen Temperatur- und Spannungsänderungen sowie gegen Alterung auf. Zur Lösung dieses Problems sind bereits zwei 2-Strahl-Verfahren bekannt, bei denen nur ein Photo empfänger verwendet wird,, indem ein Meß- und ein Vergleichsstrahl entweder abwechselnd auf den Photo empfänger gegeben werden oder auch gleichzeitig jedoch .mit unterschiedlichen Frequenzen moduliert. Die Signale werden dann elektrisch voneinander getrennt, undThis usually occurs with accurate photometric measurements Problem of the compensation of light source and photoreceiver against temperature and voltage changes as well as against aging. There are already two 2-beam methods to solve this problem known where only one photo receiver is used is ,, by giving a measuring and a comparison beam either alternately to the photo receiver or also at the same time, however, modulated with different frequencies. The signals are then electrically isolated from one another, and
7130859 23.12.76 __ ! 7130859 12/23/76 __ !
es wird aus ihnen der Quotient gebildet. Praktisch wird der Quotient meist nur indirekt ermittelt, indem ein Regelkreis (Lampenregelung bzw. Verstärkungsregelung) das Vergleichssignal auf einem konstanten Wert hält. Beide Verfahren werden in der Praxis für sehr genaue Messungen physikalischer Größen wie Transmission, Extinktion und Remission verwendet, bedingen jedoch einen relativ hohen technischen Aufwand, so daß sie in der Anwendung kostspielig sind.the quotient is formed from them. In practice, the quotient is usually only determined indirectly using a control loop (Lamp control or gain control) keeps the comparison signal at a constant value. Both procedures will used in practice for very precise measurements of physical quantities such as transmission, extinction and remission however, a relatively high technical effort, so that they are expensive to use.
Normale Einstrahlphotometer sind zwar mit geringem Aufwand herstellbar, ihre Genauigkeit liegt jedoch um fast 2 Grössenordnungen niedriger als die der oben genannten Ein-Strahl-Geräte, zumindest wenn sie langzeitig im Einsatz sind.Normal single-beam photometers can be produced with little effort, but their accuracy is almost 2 orders of magnitude lower than that of the single-beam devices mentioned above, at least when they are in long-term use.
Es ist auch schon ein Zwei-Zellen-Photometer bekannt, bei dem mit der Vergleichszelle über einen Servomotor eine verstellbare Blende auf Gleichheit der zu vergleichenden Lichtströme eingestellt wird. Die mechanische Stellung car Blende ist dann ein Maß für die Transmission. Der Nachteil dieser Anordnung besteht jedoch darin, daß aufgrund der mechanischen Regelung die Ansprechzeiten relativ lang sind. Außerdem ist die Beeinflussung der am Teilerspiegel reflektierten bzw. durch ihn hindurchgehenden Lichtstrahlen ungleich.A two-cell photometer is also known in which an adjustable diaphragm is set with the comparison cell via a servomotor to ensure that the luminous fluxes to be compared are equal. The mechanical position of the car aperture is then a measure of the transmission. The disadvantage of this arrangement, however, is that the response times are relatively long due to the mechanical control. In addition, the influence of the light rays reflected on the splitter mirror or passing through it is unequal.
Bei einem weiteren bekannten Rauchdichtemeßgerät empfängt die Vergleichszelle einen Teillichtstrom. Das von der Vergleichszelle abgegebenen elektrische Signal wird zur Regelung der Lampenhelligkeit benutzt. Piese Anordnung hat den Nachteil, daß der MeB- und Vergleichslichtstrom aus unterschiedlichen Sendewinkelbereichen der Lampe stammen. Da die Kolben der Lampen stets inhomogen geschwärzt werden, arbeitet diese bekannte Methode nicht fehlerfrei. Außerdem ist die Regelung des Lampenstroms eine Leistungsregelung, so daß der elektronische Aufwand relativ groß ist. Die RegelzeitkonstanteIn another known smoke density meter, the comparison cell receives a partial luminous flux. That from the comparison cell The electrical signal emitted is used to regulate the lamp brightness. This arrangement has the Disadvantage that the measured and comparison luminous flux from different Transmission angle ranges of the lamp originate. Since the bulbs of the lamps are always blackened inhomogeneously, it works this known method is not error-free. In addition, the regulation of the lamp current is a power control, so that the electronic effort is relatively large. The control time constant
7130859 23.11767130859 23.1176
der bekannten Anordnung ist relativ groß, da die thermische Trägheit der Lampe eingeht.the known arrangement is relatively large because the thermal Sluggishness of the lamp.
Das Ziel der Erfindung besteht darin, ein. Photometer zu schaffen, das bei einem relativ geringen technischen Aufwand oir>.e hohe Genauigkeit liefert und somit die Lücke zwischen den bekannten Methoden schließt. Außerdem soll die elektronische Schaltung wenig aufwendig sein, die Ansprechzeitkonstante einen möglichst geringen Wert haben und eine unterschiedliche zentrale Beeinflussung der Strahlen vermieden werden.The aim of the invention is to provide a. Photometer too create that with a relatively low technical effort oir> .e delivers high accuracy and thus the gap between closes the known methods. In addition, the electronic circuit should not be complex, the response time constant have as low a value as possible and avoid different central influences on the rays will.
Zur Lösung dieser Aufgabe sieht die Erfindung vor, daß der von der Lichtquelle kommende Lichtstrahl an einem Teilerspiegel in einem Meß- und Vergleichsstrahl aufgeteilt wird, daß der Meßstrahl an einem Reflektor in sich zurückgeworfen und am gleichen Teilerspiegel zu einem ersten Photοempfänger umgelenkt wird und daß der "Vergleichsstrahl an einem Spiegel unter einem solchen Winkel reflektiert wird, daß er zwar noch auf den Teilerspiegel, jedoch nicht auf den ersten Photoempfänger, sondern auf einen in unmittelbarer Nähe desselben angeordneten zweiten Photoempfänger fällt. Auf diese Weise wird erreicht, daß der ließstrahl und der Vergleichsstrahl an dem spektral im allgemeinen nicht neutralen Teilerspiegel je einen Durchgang und je eine Reflektion aufweisen und damit spektral in identischer Weise verändert werden. Da die beiden Photoempfänger überdies unmittelbar nebeneinander angeordnet sind, sind Fehler durch unterschiedliche Temperaturen weitgehend ausgeschaltet. Erfindungsgemäß v/erden Photoempfänger verwendet, die im geforderten Temperaturbereich weniger als 2 % Abweichung in ihrer relativen Empfindlichkeit aufweisen.To solve this problem, the invention provides that the light beam coming from the light source at a splitter mirror is divided into a measuring and comparison beam so that the measuring beam is reflected back at a reflector and at the same splitter mirror to a first photo receiver is deflected and that the "comparison beam is reflected on a mirror at such an angle that it does still on the splitter mirror, but not on the first photoreceiver, but on one in the immediate vicinity of it arranged second photoreceiver falls. In this way it is achieved that the let beam and the comparison beam on the spectrally generally non-neutral splitter mirror have a passage and a reflection each and thus can be changed spectrally in an identical manner. Since the two photoreceivers are also arranged directly next to one another errors due to different temperatures are largely eliminated. According to the invention, photoreceivers are grounded are used, which have less than 2% deviation in their relative sensitivity in the required temperature range.
Vorzugsweise wird der Lichtstrahl mit einer vorgegebenen Frequenz moduliert, was für die Auswertung Vorteile ergibt.The light beam is preferably modulated with a predetermined frequency, which results in advantages for the evaluation.
7130859 2 3.12.76 7130859 2 3.12.76
Eie optische Anordnung ist vorzugsweise so, daß die Lichtquelle durch einen Kondensator auf den Lochring einer umlaufenden Lochscheibe abgebildet ist. Die Modulationsfrequenz beträgt vorzugsweise 4 kHz.An optical arrangement is preferably such that the light source is mapped by a capacitor on the perforated ring of a circumferential perforated disc. The modulation frequency is preferably 4 kHz.
Zweckmäßigerweise bildet ein Mikroobjektiv, das hinter der Lochscheibe angeordnet ist, das Bild der Lichtquellenwendel in das am Beginn der Meßstrecke befindliche Objektiv ab. Der Teilerspiegel ist vorteilhafterweise zwischen Mikroobjektiv und Objektiv angeordnet.A micro-objective which is arranged behind the perforated disk expediently forms the image of the light source coil into the lens located at the beginning of the measuring section. The splitter mirror is advantageously between the micro objective and lens arranged.
Der Reflexionsspiegel ist vorzugsweise sphärisch oder parabolisch ausgebildet, derart, daß er das auffallende Licht des Vergleichsstrahles auf dem zweiten Photoempfänger konzentriert. The reflection mirror is preferably spherical or parabolic designed such that it concentrates the incident light of the comparison beam on the second photoreceiver.
Ein weitgehend gleiches Temperaturverhalten wird gewährleistet, wenn die beiden Photoempfänger in einem gemeinsamen Gehäuse untergebracht sind.A largely the same temperature behavior is guaranteed if the two photoreceivers in one joint Housing are housed.
Sofern das verwendete Licht moduliert ist, werden die beiden Ausgangssignale der Photoempfänger vorzugsweise über eine Hochpaß und das Vergleichssignal zusätzlich über einen Gleichrichter mit einem Tiefpaß gemeinsam an einen Regelverstärker gelegt.If the light used is modulated, the two output signals of the photoreceivers are preferably via a high-pass filter and the comparison signal additionally via a rectifier with a low-pass filter together to a control amplifier placed.
Wird auf eine Lichtmodulation verzichtet, können die Ausgangssignale der beiden Photoempfänger über einen Tiefpaß und das Vergleichssignal zusätzlich über einen Zerhacker gemeinsam an einen Regelverstärker gelegt sein. Eine weitere Ausführungsform sieht vor, daß der Meßphotoempfänger über einen Zerhacker und der Vergleichsphotoempfänger direkt oder über einen Tiefpaß gemeinsam an einen Regelverstärker angeschlossen sind.If light modulation is not used, the output signals can the two photoreceivers via a low-pass filter and the comparison signal also via a chopper together be connected to a control amplifier. Another embodiment provides that the measuring photo receiver has a chopper and the comparison photo receiver directly or jointly connected to a control amplifier via a low-pass filter are.
7130859 23.12.767130859 12/23/76
i 4»
· ·
· f 1 I i 4 »
· · · F 1 I
. i i » I , t. i i »I, t
Die Erfindung wird im folgenden beispielsweise an Hand der Zeichnung beschrieben; in dieser zeigt:The invention is described below, for example, with reference to the Drawing described; in this shows:
Fig. 1 eine schematische Darstellung des Strahlenganges eines gemäß der Erfindung ausgebildeten Photometers,Fig. 1 is a schematic representation of the beam path of a photometer designed according to the invention,
Fig. 2 das Blockschaltbild einer Auswerteschaltung bei Verwendung von moduliertem Licht,2 shows the block diagram of an evaluation circuit when used of modulated light,
Fig. 3 das Blockschaltbild einer Auswerteschaltung bei Verwendung von Gleichsieht und3 shows the block diagram of an evaluation circuit when used of equals and
Fig. 4- ein weiteres Blockschaltbild einer Auswerteschaltung bei Verwendung von Gleichlicht.4- a further block diagram of an evaluation circuit when using constant light.
Nach Fig. 1 wird der von der Wendel 11 einer Lichtquelle ausgehende Lichtstrom über einen Kondensor 20, 20f in den Lochring 21 einer von einem Motor 22a angetriebenen umlaufenden Lochscheibe 22 abgebildet. Unmittelbar hinter dem Lochring ist ein Mikroobjektiv 23 vorgesehen, das das Bild der Wendel in den Löchern 21 in das Objektiv 25 abbildet, das sich am Beginn der Meßstrecke 24 befindet. Am Ende der Meßstrecke ist ein z.B. durch einen Tripelspiegel gebildeter Reflektor 18 aufgestellt, der das Meßstrahlenbündel 12 in sich zurückwirft .According to FIG. 1, the luminous flux emanating from the filament 11 of a light source is imaged via a condenser 20, 20 f in the perforated ring 21 of a revolving perforated disk 22 driven by a motor 22a. Immediately behind the perforated ring, a micro-objective 23 is provided, which images the image of the helix in the holes 21 in the objective 25, which is located at the beginning of the measuring section 24. At the end of the measuring section, a reflector 18, formed, for example, by a cube-corner mirror, is set up, which reflects the measuring beam 12 into itself.
Zwischen Mikroobjektiv 23 'ind Objektiv 25 ist ein Teilerspiegel 17, z.B. ein halbdurchlässiger Spiegel angeordnet, welcher einen Teil des Lichtstrahlenbündels 16 nach oben zu einem sphärischen Spiegel 19 reflektiert.A splitter mirror is located between the micro-objective 23 'and the objective 25 17, e.g. reflected to a spherical mirror 19.
Der zurückgeworfene Teil des Meßstrahles 12 wird ebenfalls am Teilerspiegel 17 teilreflektiert und gelangt über eine Sammellinse 14-a zu einem Me ß-Pho to empfänger 14.The reflected part of the measuring beam 12 is also partially reflected on the splitter mirror 17 and passes through a Converging lens 14-a for a measuring photo receiver 14.
7130859 23.12.767130859 12/23/76
Erfindungsgemäß ist der Spiegel 19 so gekippt, daß das Vergleichsstrahlenbündel 13 nicht|in sich selbst, sondern unter einem kleinen Winkel zurückreflektiert wird. Er gelangt auf diese Weise zwar noch auf den Teilerspiegel 17, wss wesentlich ist, nicht aber zum Meß-Photoempfänger 14, sondern über eine Sammellinse 15a zu einem dicht daneben angeordneten Vergleichsphotoempfänger 15· Erfindungsgemäß sind die Sammellinsen 14a, 15a nebeneinander angeordnet und es ist zwischen sie und die Photoempfänger 14, 15 ein Korrekturfilter 10 geschaltet. According to the invention, the mirror 19 is tilted so that the comparison beam 13 is not | reflected back in itself, but at a small angle. He gets on In this way, it is still to the splitter mirror 17, which is essential, but not to the measuring photoreceiver 14, but via a converging lens 15a to one arranged close to it Comparative photo receiver 15 · According to the invention are the converging lenses 14a, 15a arranged side by side and a correction filter 10 is connected between them and the photoreceivers 14, 15.
Auf diese Weise durchlaufen Meß- und Vergleichsstrahl den Teilerspiegel 17 einmal und werden einmal an ihm reflektiert. Die Beeinflussung beider Strahlen durch den Teilerspiegel ist also die gleiche.In this way, the measuring and comparison beams pass through the splitter mirror 17 once and are reflected once on it. The influence of the splitter mirror on both rays is therefore the same.
Der Spiegel 19 ist derart sphärisch ausgebildet, daß das auf ihn fallende Licht auf die Sammellinse 15a und damit auf den Photoempfänger 15 konzentriert wird.The mirror 19 is so spherical that the light falling on it onto the converging lens 15a and thus is concentrated on the photoreceiver 15.
Die an den Ausgängen der Photοempfänger 14, 15 erscheinenden elektrischen Signale können erfindungsgemäß ζ„ B. in einer Schaltung nach Fig. 2 ausgewertet werden. Entsprechend der z.B. 4KHz betragenden Modulatxonsfrequenz entstehen an den Ausgängen der beiden Photoempfänger 14, 15 modulierte Meß- und Vergleichssignale. Um Gleich- oder Niederspannungskomponenten in den Signalen zu eliminieren werden die Signale zunächst zu Hochpaßfiltern 26, 27 mit einer Grenzfreguenz von ca. 1 KHz geführt. Darauf wird das Vergleichssignal gleichgerichtet und in einem Tiefpaßfilter 28 mit einer Grenzfrequenz von 10 Hz gesiebt. Das gefilterte Meßsignal sowie das demodulierte Referenzsignal werden gemeinsam auf einen Regelverstärker 29 gegeben und anschließend mit einem 1 kHz-Hochpaßfilter 33 sowie einem Hz-Tiefpaßfilter 34 wieder getrennt. Ein mit einem SollwertThe appearing at the outputs of the photo receivers 14, 15 According to the invention, electrical signals can ζ "B. be evaluated in a circuit according to FIG. According to the modulation frequency amounting to 4KHz, for example Measurement and comparison signals modulated at the outputs of the two photoreceivers 14, 15. To equal or To eliminate low-voltage components in the signals, the signals are first fed to high-pass filters 26, 27 a limit frequency of approx. 1 KHz. The comparison signal is then rectified and placed in a low-pass filter 28 sieved with a cutoff frequency of 10 Hz. The filtered measurement signal and the demodulated reference signal are given jointly to a control amplifier 29 and then with a 1 kHz high-pass filter 33 and a Hz low-pass filter 34 again separated. One with a set point
7130859 23.12.767130859 12/23/76
beaufschlagter Regler 35 vergleicht das Vergleichssi^naJ mit einer konstanten Vergleichsspannung und regelt den Hegelverstärker so lange nach, bis Gleichheit der Signale besteht. Das Meßsignal wird hierauf demoduliert und in einem Tiefpaß 36 gesiebt. Es steht jetzt zur Weiterverarbeitung in einer Anzeigevorrichtung 37 bereit.acted upon controller 35 compares the comparison si ^ naJ with a constant reference voltage and the Hegel amplifier readjusts until the signals are equal consists. The measurement signal is then demodulated and filtered in a low-pass filter 36. It is now available for further processing in a display device 37 ready.
Diese Art der indirekten Quotientenbildung ist an Aufwand und Genauigkeit der direkten Quotientenbildung überlegen.This type of indirect quotient formation is superior to direct quotient formation in terms of effort and accuracy.
Der wesentlich, nsue Erfindungsgedanie der Auswerte schaltung besteht darin, daß Meß- und Vergleichssignal, nachdem sie durch Hochpaßfilter von Störkomponenten befreit sind, auf einen gemeinsamen regelbaren Verstärker 29 gegeben v/erden, anschließend beide Signale wieder getrennt und die Verstärkung des Regelverstärkers so geregelt wird, daß das Vergleichssignal immer konstant bleibt. Da zunächst jedoch beide Signale gleiche Frequenz haben und man sie demzufolge nach dem Mischen nicht wieder ohne weiteres voneinander trennen kann, wird das Vergleichssignal erst in ι α Gleichstromsignal verwandelt, in einem Regelverstärker mit einem 4- kHz-Meßsignal gemischt und nur mit Hochpaß- bzw. Tiefpaßfilter wieder getrennt.The essential, nsue inventive conception of the evaluation circuit is that measurement and comparison signals, after they have been freed from interference components by high-pass filters, are given to a common controllable amplifier 29, then both signals are separated again and the gain of the control amplifier is regulated that the comparison signal always remains constant. Since, however, both signals initially have the same frequency and consequently they cannot be separated from each other again easily after mixing, the comparison signal is first converted into ι α direct current signal, mixed in a control amplifier with a 4 kHz measurement signal and only with high-pass or Low-pass filter separated again.
Obwohl die vorstehend beschriebene mit moduliertem Licht arbeitende Auswerteschaltung bevorzugt ist, . m in einfacheren Fällen auch mit Gleichlicht gearbeitet werden, z.B. dann, wenn Fremdlicht nicht vorkommen kann.Although the one described above with modulated light working evaluation circuit is preferred,. m in simpler In some cases, constant light can also be used, e.g. when extraneous light cannot occur.
Auch in diesem Falle kann das gleiche Auswerteprinzip z.B. gemäß der Schaltung nach Fig. 3 angewendet werden. Im Anschluß an die Photoempfär.^er 14-, 15 sind Teifpässe 30, 31 für die Ausfilterung des 100 Hz-Brumms vorgesehen. DasIn this case, too, the same evaluation principle can be applied, e.g. according to the circuit according to FIG. 3. in the Connection to the photo receiver. ^ Er 14-, 15 are Teifpasses 30, 31 is intended for filtering out the 100 Hz hum. That
Vergleichssignal wird ausserdem noch über einen ZerhackerThe comparison signal is also sent via a chopper
7130859 23.12.767130859 12/23/76
mit einer Frequenz von z.B. 1 kHz geleitet, um anschliessend dem Regelverstärker 29 zugeführt zu werden.with a frequency of e.g. 1 kHz, followed by to be fed to the control amplifier 29.
Im An schiiiB an den Hegel verstärker 29 sind in der gezeigten Weise ein Tiefpaß 38, ein Hochpaß 39, ein Demodulator 4-0, ein weiterer Tiefpaß 4-1 und ein Regler 4-2 angeordnet, welcher das Steuersignal für den Regelverstärker 29 liefort.In connection with the Hegel amplifier 29 are shown in FIG Way, a low-pass filter 38, a high-pass filter 39, a demodulator 4-0, a further low-pass filter 4-1 and a controller 4-2 are arranged, which the control signal for the control amplifier 29 liefort.
Die Schaltung nach Fig. 3 ist besonders für langsam veränderliche Meßsignale geeignet. Die Lampe 11 braucht hier nicht stabilisiert zu sein.The circuit according to FIG. 3 is particularly suitable for slowly changing measurement signals. The lamp 11 does not need here to be stabilized.
Die ebenfalls mit Gleichlicht arbeitende Schaltung nach Fig. 4-ist besonders für schnell veränderliche Meßsignale bestimmt. In diesem Falle ist die Lampe erfindungsgemäß stabilisiert, weswegen der Tiefpaß y\ für das Vergleiciissignal nicht unbedingt vorgesehen sein muß. Die Frequenz des mit dein. Meß— signal beaufschlagten Zerhackers 32 soll möglichst hoch sein.The circuit according to FIG. 4, which also operates with constant light, is particularly intended for rapidly changing measurement signals. In this case, the lamp is stabilized according to the invention, which is why the low-pass filter y \ for the comparison signal does not necessarily have to be provided. The frequency of the with your. Chopper 32 applied to the measurement signal should be as high as possible.
Im Anscüuß an den Regelverstärker 29 sind in der dargestellten Weise ein Hochpaß 4-3 eine Signalverarbeitungsstufe 4-4-, ein Tiefpaß 4-5 und ein Regler 46 angeordnet, der das Steuersignal für den Regelverstärker 29 liefert.In connection with the control amplifier 29 are shown in FIG Way, a high-pass filter 4-3 a signal processing stage 4-4-, a low-pass filter 4-5 and a controller 46 arranged, the Control signal for the control amplifier 29 supplies.
7130859 23.12.767130859 12/23/76
Claims (10)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE7130859U DE7130859U (en) | 1971-08-11 | 1971-08-11 | PHOTOMETER |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE7130859U DE7130859U (en) | 1971-08-11 | 1971-08-11 | PHOTOMETER |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE7130859U true DE7130859U (en) | 1976-12-23 |
Family
ID=31955304
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE7130859U Expired DE7130859U (en) | 1971-08-11 | 1971-08-11 | PHOTOMETER |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE7130859U (en) |
-
1971
- 1971-08-11 DE DE7130859U patent/DE7130859U/en not_active Expired
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2436695C2 (en) | Method and device for flame detection | |
DE2217342A1 (en) | Automatic distance measuring device | |
DE2549905A1 (en) | DEVICE FOR FOCUSING A LENS | |
DE3433697A1 (en) | AUTOMATIC FOCUS ADJUSTMENT | |
DE2029627C3 (en) | Compensation circuit for an optical scanning device | |
DE2640442C3 (en) | Device for determining extreme density values | |
DD202348A5 (en) | EXPOSURE CONTROL DEVICE ON AN AIRCRAFT CAMERA | |
DE3016812C2 (en) | Light absorption monitor | |
CH616508A5 (en) | ||
DE2451352C3 (en) | Device for focusing an optical system | |
DE2326067C3 (en) | Device for monitoring a flame in a multiple flame burner | |
DE1279343B (en) | Optical rangefinder | |
DE7130859U (en) | PHOTOMETER | |
DE2140335A1 (en) | PHOTOMETER | |
DE2258219C3 (en) | Method for measuring light in single-lens reflex cameras and arrangement for carrying out the method | |
DE2220231A1 (en) | PHOTOMETER FOR DIGITAL DISPLAY OF LIGHT ABSORPTION OF A MEASURING SAMPLE IN A CUVETTE | |
DE2138519B2 (en) | Device for continuous, photometric measurement | |
DE2126178C3 (en) | ||
DE2140335C3 (en) | Photometer | |
DE1698237C3 (en) | Photoelectric smoke density meter | |
DE2032195C3 (en) | Multi-channel colorimeters, especially flow-through colorimeters | |
DE2239959A1 (en) | METHOD AND DEVICE FOR TESTING LIGHT LEVEL AND LIGHT DISTRIBUTION OF HEADLAMPS | |
DE2417856C3 (en) | Circuit arrangement for measuring the brightness and the distance of an object | |
DE2218536A1 (en) | Turbidity measuring device for gases and liquids | |
CH683291A5 (en) | Method and circuit for avoiding imaging errors in thermal imaging devices. |