DE6920380U

DE6920380U - DEVICE FOR AUTOMATIC TESTING OF OBJECTS

Info

Publication number: DE6920380U
Application number: DE19696920380
Authority: DE
Original assignee: NSK Ltd
Current assignee: NSK Ltd
Priority date: 1968-05-22
Filing date: 1969-05-21
Publication date: 1970-08-27
Also published as: GB1263968A; CS170151B2; DE1925751A1

Description

NIFFON SEIKO K. Κ. Nippon Seiiso CaseNIFFON SEIKO K. Κ. Nippon Seiiso Case

G 69 20 380*1 TOKYO / JAPAN 9. April 197©G 69 20 380 * 1 TOKYO / JAPAN April 9, 197 ©

Vorrichtung zur automatischen Prüfung vonDevice for the automatic testing of

Die Erfindung betrifft ein automatisches Prüfsystem für Gegenstände, insb-esondere ein System, bei dem die Oberfläche eines Gegenstands automatisch unter Verwendung von optischen Faserbündeln geprüft wird. Systeme zur Prüfung eines Gegenstands, insbesondere seines Aussehens, finden auf verschiedenen Gebieten ausgedehnte Anwendung, z. B· bei der Prüfung des Schliffs eines optischen Systems. Da das System der Erfindung für die Prüfung der Oberfläche von Lagern geeignet ist, wird die Erfindung an Hand des Lagers beschrieben. Jedoch ist das System nicht hierauf beschränkt. Es kann auch in verschiedenen anderen Gebieten angewendet werden.The invention relates to an automatic test system for Objects, in particular a system in which the surface of an object is automatically used is checked by optical fiber bundles. Find systems for testing an object, especially its appearance widespread use in various fields, e.g. B · when testing the cut of an optical system. Since the system of the invention is suitable for testing the surface of bearings, the invention is based on the Described in the camp. However, the system is not limited to this. It can be in various other areas as well be applied.

Das herkömmliche System besteht aus einer optischen Lichtmeßeinrichtung und einem Antriebsmechanismus, der den Gegenstand dreht, um die ganze Oberfläche des Gegenstandes, z. B. des Lagers, zu prüfen. Ein von einer Lichtquelle projiziertes Licht wird durch die Oberfläche des durch den Antriebsmechanismus gedrehten Lagers reflektiert und von einer Futterröhre für die Prüfung empfangen. Andererseits wird ein Teil des von der Lichtquelle ausgehenden Lichts einer KompensationsfutteiTöhre zugeführt, um eine Änderung der Lichtmenge der Lichtquelle zu kompensieren. Die Ausgänge beider Futterröhren werden durch einen Gleichstromdifferenzial-The conventional system consists of an optical light metering device and a drive mechanism which rotates the object to cover the whole surface of the object, e.g. B. of the camp to check. A light projected from a light source is reflected by the surface of the bearing rotated by the drive mechanism and from a Feed tube received for examination. On the other hand, part of the light emanating from the light source becomes a KompensationsfutteiTöhre fed to a change in To compensate for the amount of light from the light source. The outputs of both feed tubes are connected by a direct current differential

verstärker verstärkt, wobei sie, wenn die Aus gangsspannung der Prüfungsfutterröhre unter die Spannung abfällt, die durch einen Spannungsteiler zur Einstellung eines Wählpegels eingestellt ist, den Wählmagnet mit Hilfe einer Steuerschaltung betätigen und einen schlechten Gegenstand ausscheiden.amplifier amplified, taking when the output voltage the test feed tube drops below the voltage determined by a voltage divider for setting a selection level is set, operate the selector magnet with the help of a control circuit and a bad object retire.

Da in einem derartigen herkömmlichen System der absolute Wert des reflektierten Lichts gemessen wird, besteht die Möglichkeit, daß ein guter Gegenstand als schlechter festgestellt, wird, wenn z. B. nur ein Ölfilm auf der Oberfläche des Gegenstands vorhanden ist. Daher muß der zu prüfende Gegenstand durch Abwischen des Öls oder dergl. gereinigt werden. Ferner muß die ganze Prüfeinrichtung einschließlich der Futterröhren und des Verstärkers über eine lange Zeit stabil arbeiten.In such a conventional system, since the absolute value of the reflected light is measured, there is Possibility of a good object being determined to be worse, will if z. B. only a film of oil is present on the surface of the object. Therefore the one to be tested must Object can be cleaned by wiping off the oil or the like. Furthermore, the entire test facility including the feed tubes and the booster operate stably for a long time.

Um diese Probleme zu lösen, wurde ein Verfahren vorgeschlagen, bei dem das Auflösungsvermögen der Einrichtung nicht zu Änderungen der Lichtmenge der Lichtquelle der Empfindlichkeit der fotoelektrischen Elemente des optischen Systems und des Gleichstromverstärkers beeinflußt wird. Bei diesem System wird das zu messende Signal, das an einem der Ausgänge des Gleichstromverstärkers erscheint, unmittelbar dem Differenzialverstärker zugeführt, während das am anderen Ausgang erscheinende Signal zunächst über einen Kreis mit geeigneter Seitenkonstante der Speicherschaltung und dann dem DifferenzialverstärkerIn order to solve these problems, a method has been proposed in which the resolving power of the device does not cause changes in the amount of light of the light source the sensitivity of the photoelectric elements of the optical system and the DC amplifier is affected. With this system, the signal to be measured is which appears at one of the outputs of the DC amplifier, fed directly to the differential amplifier, while the signal appearing at the other output is initially via a circle with a suitable side constant the memory circuit and then the differential amplifier

zugeführt wird. Dieses System ist eine Art von Selbstvergleichsverfahren mit zeitabhängigem System, da die Speicherschaltung nacheinander stets die mittlere Fläche der Oberfläche des geprüften Lagers als Normalwert berechnet und dann die Änderung der Menge des reflektierten Lichts abhängig vom Normalwert festgestellt wird. Dies Verfahren beseitigt einige Mangel des oben erwähnten herkömmlichen Verfahrens, bei dem der absolute Wert des reflektierten Lichts gemessen wird. Jedoch bleiben Mängel wie die Forderung nach einem optischen Präsisionssystem, die geringe Empfindlichkeit und die Forderung, daß der Gegenstand mehrmals gedreht werden muß, weiterhin vorhanden.is fed. This system is a type of self-comparison procedure with a time-dependent system, since the memory circuit always has the middle area one after the other of the surface area of the tested bearing is calculated as the normal value, and then the change in the amount of reflected light is determined depending on the normal value. This method overcomes some of the shortcomings of the conventional one mentioned above Process in which the absolute value of the reflected light is measured. However, shortcomings such as the requirement remain after an optical precision system, the low sensitivity and the requirement that the object several times must be rotated, still available.

Daher ist es eine Aufgabe der Erfindung, ein neuartiges automatisches Prüfsystem für Gegenstände zu schaffen, das sehr genau, zuverlässig und stabil ist.It is therefore an object of the invention to provide a novel automatic article inspection system which is very accurate, reliable and stable.

Erfindungsgemäß wird eine Vorrichtung zur automatischen Prüfung von Gegenständen verfügbar gemacht werden, welches auf der Verwendung optischer Fasern beruht. Die Besonderheit dieser Vorrichtung besteht in ihrer Ausstattung mit einer Einrichtung, welche von der Prüfeberfläche eines sich bewegenden Gegenstandes reflektiertes oder übertragenes Licht, auf das eine Ende einer Anzahl von optischen Faserbündeln projiziert, die am anderen Ende mit fotoelektrischen Wandlerelementen verbunden sind, ekiner Einrichtung zur Umwandlung der Lichtmenge in elektrische Größen, einer Einrichtung, welche die elektrischen Größen von in vorbestimroter Reihenfolge ausgewählten Paaren optischer FiberbündelAccording to the invention a device for the automatic inspection of objects will be made available, which based on the use of optical fibers. The peculiarity of this device consists in its equipment with a device which is reflected or transmitted from the test surface of a moving object Light projected onto one end of a number of optical fiber bundles, the other end with photoelectric Converter elements are connected, ekiner means for conversion the amount of light in electrical quantities, a device which converts the electrical quantities in predetermined red Order selected pairs of optical fiber bundles

abnimmt, und einer Einrichtung zur Feststellung der Güte des Gegenstandes durch Ermittlung des Gleichgewichts bzw. Ungleichgewichts der elektrischen Größen.decreases, and a device for determining the quality of the object by determining the equilibrium or Imbalance of electrical quantities.

Nachfolgend wird die Erfindung an Hand der beigefügten Zeichnungen beschrieben. Es zeigen:The invention is described below with reference to the accompanying drawings. Show it:

Fig. 1 eine Ansicht, die einen tatsächlichenFig. 1 is a view showing an actual

Aufbau einer Ausführung des erfindungsgemäßen Prüfsystems veranschaulicht undStructure of an embodiment of the test system according to the invention illustrated and

Fig. 2 ein Blockschema einer elektrischen Schaltung, die in dem erfindungsgemäßen Prüfsystem verwertet wird.Fig. 2 is a block diagram of an electrical circuit used in the test system according to the invention is recovered.

In Fig. 1 ist eine optische Faserbündelgruppe 1 dargestellt, ferner zwei Antriebsrollen 2 und 3, weiterhin ein auf den Antriebsrollen angebrachtes Rollenlager 4 und schließlich eine Lampe 5. Das eine Ende der optischen Faserbündelgruppe 1 ist in einer Reihe gebündelt, während das andere Ende in optische Faserbündel aufgeteilt ist, die in gleichen Zweigen angeordnet sind. In Fig. 1, an optical fiber bundle group 1 is shown, further two drive rollers 2 and 3, furthermore a roller bearing 4 mounted on the drive rollers and finally a lamp 5. One end of the optical Fiber bundle group 1 is bundled in a row while the other end is divided into optical fiber bundles arranged in equal branches.

Fotoelektrische Elemente, z. B. die Fototransistoren mit den Bezeichnungen Nr. 1, Nr. 2, Nr. 3 ... Nr. 10, sind jeweils mit den optischen Faserbündeln verbunden, und zwar mit jedem Bündel 1. Jedes optische Faserbündel, das mit einem der Fototransistoren Nr. 1, Nr. 2,Photoelectric elements, e.g. B. the phototransistors with the designations No. 1, No. 2, No. 3 ... No. 10, are each connected to the optical fiber bundles, namely with each bundle 1. Each optical fiber bundle, the one with one of the phototransistors No. 1, No. 2,

Nr. 3 ... oder Nr. 10 verbunden ist, wird benutzt, um die äußere Oberfläche zu prüfen. Zwei dieser optischen Bündel werden ausgewählt, um ein Paar zu bilden. Die Elemente der Paare können benachbart sein, z, B. Nr. 2 umL Nr. 3, Nr. 4 und Nr. 5, oder es kann jedes zweite gewählt werden, z. B. Nr. 2 und Nr. 4, oder Nr. 3 und Nr. 5 oder es können Kombinationen mit den dritten Nummern verwendet werden, z. B. Nr. 2 und Nr. 6 oder Nr. 4 und Nr. 7. Mit anderen Worten: auf Wunsch kann jede Art von Kombination gebildet werden. Bei der Feststellung eines großen Risses oder einer großen Ausdehnung des Risses in axialer Richtung ist es jedoch vorteilhaft, ein Paar zu bilden, bei dem die Bündel weit voneinander entfernt liegende Fototransistornummern haben, z. B. ein Paar mit einem Unterschied der Fototransistornummer von drei·No. 3 ... or No. 10 is used to test the outer surface. Two of these optical ones Bundles are selected to form a pair. The elements of the pairs can be adjacent, e.g. No. 2 umL No. 3, No. 4 and No. 5, or it can be every second be chosen, e.g. B. No. 2 and No. 4, or No. 3 and No. 5 or combinations with the third numbers be used, e.g. B. No. 2 and No. 6 or No. 4 and No. 7. In other words, any type of Combination can be formed. When detecting a large crack or a large extent of the crack in the axial direction, however, it is advantageous to form a pair in which the bundles are far apart have lying phototransistor numbers, e.g. B. a pair with a phototransistor number difference of three

Bei der in der Zeichnung dargestellten Ausführung bilden die auf beiden Seiten der optischen Faserbündelgruppe 1 gelegenen optischen Faserbündeln mit den entsprechenden Fototransistoren Nr. 1 und Nr. 10 e*n Paar. Das Gesichtsfeld dieses Paars bedeckt etwa die Hälfte der Abschrägung des Lagers. Daher wird dieses Bündelpaar verwendet, um die Abschrägung zu prüfen. Außer diesen optischen Faseijündeln ist ein Paar von optischen Faserbündeln vorgesehen, das die von einer Lampe 7 kommenden reflektierten Lichtstrahlen aufnimmt und mit Hilfe einer Linse 8 zur Endfläche des Lagers projiziert. Dieses Paar wird verwendet, um die Endfläche des Lagers zu prüfen. Es ist in Fig· 1In the embodiment shown in the drawing, the optical fiber bundles located on both sides of the optical fiber bundle group 1 form e * n pairs with the corresponding phototransistors No. 1 and No. 10. The field of view of this pair covers about half of the bevel of the bearing. Therefore, this pair of bundles is used to test the bevel. In addition to these optical fiber bundles, a pair of optical fiber bundles are provided which receive the reflected light rays coming from a lamp 7 and project them with the aid of a lens 8 towards the end face of the bearing. This pair is used to check the end face of the bearing. It is in Fig. 1

als diejenigen Bündel angegeben, welche die Fototramsistoren Nr, 11 und 12 haben. Es ist möglich, einen Riß auf der polierten Endfläche Abnormalltäten in Richtung des Gangs oder Gesamtfehler, z. B. eine Rauheit der polierten Oberfläche, festzustellen, indem der Gang des äußeren Durchmessers und der Mittelteile und das Ungleichgewicht auf der Oberfläche in jedes Gesichtsfeld des optischen Faserbündelpaars eingeschlossen wird, das die Fototransistoren Nr. 11 und Nr. 12 zusammenfaßt. Das in Fig. 1 dargestellte System, das aus einem optischen Faserbündelpaar und der Lampe 5, der Linse 9, dem Spalt 10 und den Fototransistoren Nr. 13 und Nr. 14 besteht, die das Paar bilden wird verwendet, um den Gesamtbearbeitungszustand dekr äußeren Oberfläche des Rollenlagers 4, z. B. die Grenze der Rauheit des Polierens,'festzustellen. Das System kann ferner benutzt werden, um die Schwärzung und einen porBsen Faden der Lampe 5 festzustellen. given as those bundles which have phototramsistors Nos. 11 and 12. It is possible to detect a crack on the polished end face, abnormalities in the direction of the thread or overall defects, e.g. B. a roughness of the polished surface can be determined by including the pitch of the outer diameter and the central parts and the imbalance on the surface in each field of view of the optical fiber bundle pair that the No. 11 and No. 12 phototransistors together. The system shown in Fig. 1, which consists of a pair of optical fiber bundles and the lamp 5, the lens 9, the gap 10 and the phototransistors No. 13 and No. 14 which form the pair is used to establish the overall processing state of the outer surface of the roller bearing 4, e.g. B. the limit of the roughness of the polishing, 'to determine. The system can also be used to determine the blackening and a porous thread of the lamp 5.

Fig. 2 zeigt die elektrische Schaltung des erfindungsgemäßen Pulssystems. Jedes Fototransistorpaar, das mit dem optischen Faserbündel verbunden ist, ist zu einer Brücke geschaltet, welche dieselbe Nummer wie das Paar h%t. Die Brücken sind in bekannter Weise aufgebaut und mit einer gemeinsamen Gleichstromquelle 20 verbunden. Im einzelnen ist das Paar der Fototransistoren Nr. 1 und Nr. 10 mit der Brücke 21 verbunden, das Paar der Fototransistoren Nr. 2 und Nr. 6 mit der Brücke 22 und das Paar der Transistoren Nr. 3 und Nr. 7 mit der Brücke 23. Die BrückenFig. 2 shows the electrical circuit of the invention Pulse system. Each pair of phototransistors connected to the optical fiber bundle is one Bridge switched, which has the same number as the couple. The bridges are constructed in a known manner and connected to a common direct current source 20. Specifically, the pair of phototransistors No. 1 and No. 10 connected to the bridge 21, the pair of phototransistors No. 2 and No. 6 to the bridge 22 and the pair of Transistors No. 3 and No. 7 with the bridge 23. The bridges

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24, 25 und 26 sind in gleicher Weise aufgebaut. Mit der Brücke sind die Fototransistoren Nr. 13 und Nr. 14 verbunden. Die Fototransistorenpaara sind wie folgt geschaltet: Der Fototransistor Nr. 10 liegt in dem Zweig der dem Brückenzweig gegenüber liegt, in dem der Widerstand R1 liegt, während der Fototransistor Nr. 1 in dem Zweig liegt, der dem veränderlichen Widerstand R2 gegenüberliegt. Die Brücke 27 ist in der Zeichnung dargestellt. Es ist leicht zu erkennen, daß dieselbe Schaltung auch für die anderen Brücken gilt.24, 25 and 26 are constructed in the same way. With the bridge No. 13 and No. 14 phototransistors are connected. The phototransistor pairs are connected as follows: The photo transistor No. 10 is in the branch opposite the bridge branch, in which the resistor R1 is, while the phototransistor No. 1 is in the branch that the variable resistor R2 opposite. The bridge 27 is shown in the drawing. It is easy to see that the same circuit works for the other bridges applies.

Mit den Ausgangsklemmen Jeder Brücke ist ein Gleichstromdifferentialverstärker verbunden, um die Ausgangsspannung der nicht im Gleichgewicht befindlichen Brücke zu verstärken. In Fig. 2 sind nur die Gleichstromdifferentialverstärker 28 und 29 repräsentativ dargestellt. Der Ausgang Jedes Gleichstromdifferentialverstärkers liegt an einer Schmitt Trigger-Schaltung in der die Wahl des Eingangspegels durchgeführt wird. Ein Meßgerät zum Einstellen des Gleichgewichts ist mit der Ausgangsstufe des Gleichstromverstärkers verbunden, um die Einstellung durchzuführen. Dieses Meßgerät zum Einstellen des Gleichgewichts kann während der Periode des Wahlens durch Schalter, z. B. 37 und 38, abgeschaltet werden. Bei dieser Ausführung kann der Triggerpegel, mit anderen Worten, der Wählgrenzwert, entweder durch die Schmitt Trigger-Schaltung 32 und 33 oder durch die Gleichstromdifferentialverstärker 28 und 29 festgelegt werden. Alle Ausgänge der Schmitt Trigger-Schaltungen gehen zur ODER-Gatterschaltung 34. Der Ausgang der Gatterschaltung wird dann durch den Ausgangsverstärker verstärkt.Using the output terminals of each bridge is a DC differential amplifier connected to boost the output voltage of the unbalanced bridge. In 2, only the DC differential amplifiers 28 and 29 are representatively shown. The output of any DC differential amplifier is due to a Schmitt trigger circuit in which the input level is selected. A measuring device to adjust the balance is connected to the output stage of the DC amplifier for the adjustment perform. This measuring device for adjusting the balance can be switched during the period of selection by switches, z. B. 37 and 38 are switched off. In this embodiment, the trigger level, in other words, the dial limit, can be either by the Schmitt trigger circuit 32 and 33 or by the DC differential amplifiers 28 and 29 will. All outputs of the Schmitt trigger circuits go to the OR gate circuit 34. The output of the gate circuit is then amplified by the output amplifier.

Pig. 2 zeigt eine ODER-Gattersohaltung, die zeitlich durch die Steuerschaltung 35 und den gemeinsamen Ausgangskreisen gesteuert wird. Der Ausgang des Ausgangsverstärkers erregt den Wählmagnet 36, der die Ausscheidung fehlerhafter Gegenstände bewirkt.Pig. FIG. 2 shows an OR gate state that is timed by the Control circuit 35 and the common output circuits is controlled. The output of the output amplifier energizes the selector magnet 36, which causes defective items to be eliminated.

Wie oben beschrieben wurde, besteht das erfindungsgemäße Prüfsystem aus einem Grundgerät, d. h, der Einheit, die so aufgebaut ist, daß sie die zu prüfende Oberfläche in kleine Gebiete teilt, um Gleichgewichtsschaltungen durch Paaren der Mittel zu bilden, die der Information der gewählten Gebiete entsprechen und um einen Selbstvergleich durchzuführen. Die Ausgänge einer Anzahl von Einheiten, die das Grundgerät bilden, gehen zu Schmitt Trigger-Schaltungen, werden einer Pegelwahl unterzogen. Dann werden die Ausgänge der Trigger-Schaltungen zu einem einzigen Ausgang durch das ODER-Gatter zusammengefaßt, um eine Beurteilung und eine Wahl guter oder schlechter Gegenstände durchzuführen.As described above, the test system of the present invention exists from a basic device, d. i.e., the unit which is designed to divide the surface to be tested into small areas divides to form equilibrium circuits by pairing the means corresponding to the information of the selected areas and to do a self-comparison. The outputs of a number of units that make up the base go to Schmitt trigger circuits are subjected to a level selection. Then the outputs of the trigger circuits become a single one Output summarized by the OR gate to an assessment and a choice of good or bad items perform.

Wenn auch die Erfindung an Hand eines Rollenlagers beschrieben wurde, so kann die gleiche Aufgabe doch auch mit dem gleichen Aufbau in bezug auf das äußere Aussehen von Ringen, gerillten Oberflächen oder Kugellageroberflächen erfüllt werden.Even if the invention has been described on the basis of a roller bearing, the same task can also be performed with the same Construction in terms of the external appearance of rings, grooved surfaces or ball bearing surfaces can be met.

Erfindungsgemäß können alle Zustände der gesamten Oberfläche eines Gegenstandes während einer Umdrehung geprüft werden· Die Prüfung kann normalerweise durchgeführt werden, wenn der Ölfilm des Reingungsöls infolge eines unvollständigen Abwischens auf der Oberfläche geblieben ist. Mit anderen Worten, eine Prüfung kann mit hohem Wirkungsgrad durchgeführt werden. Ferner ist das PrüfHystem der Erfindung sehr empfindlich, weil dieAccording to the invention, all states of the entire surface of an object can be checked during one rotation The test can normally be carried out if the oil film on the cleaning oil is the result of incomplete wiping stayed on the surface. In other words, a test can be carried out with high efficiency. Further the test system of the invention is very sensitive because the

Oberfläche_f die geprüft werden soll, bei der Prüfung in kleine Gebiete aufgeteilt wird; z. 3. ist der Jcleinate der durch herkömmliche Mittel f estge&tellt werden Scann, etwa 1Θ0 Mikrometer χ 200 Mikrometer (gleichwertig 141 Mikrometer Durchmesser) zu groß, wä£s?end erfindungsgeB&ß Risse festgestellt werden können, die nur einen Durchmesser von 30 Mikrometer haben. Die Prüfung ist ferner auch möglich« wenn die Lichtmenge vergrößert wird. Die Genauigkeit des Verfahrens der Erfindung beträgt 99,9 %_t während das herkömmliche Verfahren eine Genauigkeit von höchstens 99,5 % hefe. Das bedeutet, daß bei herkömmliehen Prüf systemen ein^Feststellungsfehler bei 200 Gegenständen auftritt, während bei der Erfindung nur ein Feststellungsfehler bei 1000 Gegenständen auftritt. D. h. die Zuverlässigkeit ist durch Anwendung der Erfindaag beträchtlich verbessert. Ferner ist das System der Erfindung sehr stabil, weil ein relativer Vergleich durchgeführt wird, da ein Elementpaar als Einheit benutzt wird, so daß das Prüf system frei von Faktoren₅ **^β eine Schwankung der Lichtmenge ist. Das System mit Präzisionslinsen, wie herkömmliche Verfahren. Es erlaubt die Verwendung von Fototransistoren, Fotodioden, Fotozellen usw. , die sich günstig auswirken, z. B. durch Vereinfachung des Aufbaus.Surface _f to be tested is divided into small areas in the test; z. 3. Jcleinate of f by conventional means estge &'s are tellt scan, about 1Θ0 microns χ 200 micrometers (equivalent to 141 micrometer diameter) to large, laundri £ s? ErfindungsgeB & ß cracks can be detected end, which only have a diameter of 30 microns. The test is also possible if the amount of light is increased. The accuracy of the method of the invention is 99.9% _t while the conventional method, an accuracy of more than 99.5% yeast. This means that in conventional test systems a ^ detection error occurs for 200 objects, while in the invention there is only one detection error for 1000 objects. I. E. the reliability is considerably improved by using the invention. Further, the system of the invention is very stable because a relative comparison is made since a pair of elements is used as a unit, so that the test system is free from factors ₅ ** ^β variation in the amount of light. The system with precision lenses, like conventional methods. It allows the use of phototransistors, photodiodes, photocells, etc., which have a beneficial effect, e.g. B. by simplifying the structure.

Claims

Claim to protection

Device for the automatic testing of objects, characterized by their equipment with a device, which light reflected or transmitted from the test surface of a moving object to the projects one end of a number of optical fiber bundles, which are connected at the other end to photoelectric conversion elements, a device for converting the amount of light into electrical quantities, a device which selects the electrical quantities of in a predetermined order Pairs of optical fiber bundles decreases, and a device for establishing the quality of the object by determination the equilibrium or imbalance of the electrical quantities.