DE68909767T2 - System zum auffinden von freien partikeln in einem bauteilgehäuse und verfahren zum auffinden. - Google Patents

System zum auffinden von freien partikeln in einem bauteilgehäuse und verfahren zum auffinden.

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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
    • G01R31/2817—Environmental-, stress-, or burn-in tests
    • H—ELECTRICITY
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