Einrichtung zur mengenmäßigen Bestimmung von Elementen durch Ausmessung
der Intensitäten homologer Spektrallinien Zusatz zum Patent 664 233 Das Patent 664
233 bezieht sich bereits auf Verfahren und Einrichtungen zur mengenmäßigen Bestimmung
von Elementen durch Ausmessung der Intensitäten der Spektrallinien, welche die in
einer spektroskopischen Lichtquelle, vorzugsweise in der Flamme, im elektrischen
Funken o. dgl. angeregten Elemente aussenden, wobei aus dem Spektrum des zu bestimmenden
Elementes Spektrallinien ausgeblendet und auf Lichtzellen zur Wirkung gebracht werden.
Bei einem solchen Verfahren wird gemäß diesem Patent der von der oder den Lichtzellen
abgegebene l ichtstrom auf Elektrometer in einer Schaltung zur Wirkung gebracht,
bei der eine Summierung der abgegebenen Lichtstrommengen angezeigt wird. Ferner
werden aus den Spektren des zu bestimmenden Elementes und eines bekannten Eichelementes
Spektrallinien ausgeblendet und unabhängig voneinander auf je Element und Eichelement
angeordnet, Elektrometer aufladende Lichtzellen zur Wirkung gebracht, wobei das
Verhältnis der Elektrometeraufladungen je Zeiteinheit lediglich dem Verhältnis der
Linienintensitäten entspricht. Dieses Verfahren zur Ausblendung und Erfassung der
Linien erfordert eine vorhergehende photographische Aufnahme der Spektren, um die
in Betracht kommenden Linien ermitteln und den Spalt auf diese Linien einstellen
zu können.Device for the quantitative determination of elements by measurement
of the intensities of homologous spectral lines Addition to patent 664 233 Patent 664
233 already relates to procedures and devices for quantitative determination
of elements by measuring the intensities of the spectral lines which the in
a spectroscopic light source, preferably in the flame, in the electric
Emit sparks or the like. Excited elements, from the spectrum of the to be determined
Element's spectral lines are hidden and brought to effect on light cells.
In such a method, according to this patent, the one or more light cells
emitted luminous flux brought into effect on an electrometer in a circuit,
in which a total of the luminous flux emitted is displayed. Further
are derived from the spectra of the element to be determined and a known calibration element
Spectral lines hidden and independent of each other on each element and calibration element
arranged, electrometer charging light cells brought into effect, the
The ratio of electrometer charges per unit of time is only the ratio of
Line intensities. This method of masking and capturing the
Lines requires a prior photographic recording of the spectra in order to obtain the
Determine the lines in question and adjust the gap to these lines
to be able to.
Vorliegender Erfindung ist die Aufgabe gesetzt, unter grundsätzlicher
Beibehaltung des bereits vorgeschlagenen Verfahrens die zur
Durchführung
desselben Anwendung findenden Einrichtungen so auszubilden, -daß die das Bestimmungsverfahren
verzögernden und erschwerenden Einstellungen, die durch di Anwendung der photographischen
Platte k dingt sind, in Fortfall kommen. Diese At¢ gabe wird erfindungsgemäß durch
Anordnung" zweier übereinanderliegender, unabhängig voneinander einstellbarer Prismen
konstanter Ablenkung im Wege eines über einen Eintrittsspalt ausgeblendeten Lichtstrahls
der spektroskopischen Lichtquelle in Verbindung mit einem Anzeigegerät für die eingestellten
Prismenlagen, wobei jedem Prisma über ein der Prismenanordnung entsprechend übereinanderliegendes
Doppelspaltsystem je eine Lichtwelle und je ein die Summierung der abgegebenen Lichtstrommengen
kennzeichnendes Elektrometer zugeordnet sind, gelöst. The present invention is set, under fundamental, the task
Retention of the already proposed procedure for
execution
of the same application to train devices so that the determination process
retarding and aggravating settings caused by the use of photographic
Disk k dingt are to come in failure. According to the invention, this statement is carried out
Arrangement "of two superimposed, independently adjustable prisms
constant deflection in the way of a light beam masked out via an entrance slit
the spectroscopic light source in conjunction with a display device for the set
Prism layers, with each prism over one of the prism arrangement lying one above the other
Double slit system each with one light wave and one each for the summation of the emitted luminous flux quantities
characteristic electrometer are assigned, solved.
Als die Prismenlagen kennzeichnendes Anzeigegerät finden -dabei vorzugsweise
Wellenlängentrommeln Anwendung. Durch die starre Zuordnung der Lichtzellen zu den
Spalten des Doppelspaltsystems werden alle Ungenauigkeiten, die die Bewegung der
Lichtzellen bzw. der auf die Lichtzellen abbilden den Anordnung mit sich bringt,
vermieden, so daß es möglich ist, lediglich mit Hilfe der Wellenlängentrommeln die
zur Messung zu benutzenden Spektrallinien mittels des Doppelspaltsystems auszublenden.
DieFeineinstellung der Prismen wird mit Hilfe der Elektrometer vorgenommen, da diese
den maximalen Ausschlag zeigen, wenn die zur Bestimmung verwandte Spektrallinie
oder der in Betracht kommende Spektralbereich genau ausgeblendet ist. Ist das in
denEintrittsspalt eintretende Licht genügend homogen, was bei parallelem Licht angenommen
werden kann, so erhalten beide Prismen und damit beide Lichtzellen Licht aus allen
Teilen der Lichtquelle. Das ist von besonderer Bedeutung für die Photometrierung
von aus dem Funken oder Bogen stammendem Licht. Es ist naturgemäß vollkommen unwesentlich,
ob die Lichtzellen dem Doppelspaltsystem unmittelbar zugeordnet sind oder ob zunächst
das Licht noch über das Licht zurückwerfende Flächen niehrfach umgelenkt wird.The display device that characterizes the prism positions is preferred
Wavelength drums application. Due to the rigid assignment of the light cells to the
Columns of the double-gap system will remove any inaccuracies that affect the movement of the
Light cells or the arrangement that maps onto the light cells,
avoided, so that it is possible only with the help of the wavelength drums
to hide the spectral lines to be used for measurement by means of the double slit system.
The fine adjustment of the prisms is made with the help of the electrometer, since this
show the maximum deflection when the spectral line used for determination
or the relevant spectral range is precisely masked out. Is that in
light entering the entrance slit is sufficiently homogeneous, which is assumed for parallel light
can be, both prisms and thus both light cells receive light from all
Share the light source. This is of particular importance for photometry
of light emanating from the spark or arc. It is of course completely unimportant
whether the light cells are directly assigned to the double-slit system or whether initially
the light is never deflected by the surfaces reflecting the light.
Die Zeichnung gibt in - - Abb. I die beispielsweise Ausführung einer
-i.-rfindungsgemäß ausgebildeten Einrichtung in schematischer Darstellung wieder. The drawing shows in - - Fig. I the example of the execution of a
-i.-device designed according to the invention in a schematic representation again.
Abb. 2 stellt das Doppelspaltsystem in einer Stirnansicht dar. Fig. 2 shows the double-slit system in a front view.
Es bezeichnet I die spektroskopische Lichtquelle, 2 den Eintrittsspalt
des Spektrometers, 3 eine Kollimatorlinse und 4, 5 zwei Prismen konstanter Ablenkung,
wobei jedem der beiden Prismen eine in der Zeichnung nicht dargestellte Wellenlängentrommel
an sich bekannter Ausbildung zugeordnet ist. I denotes the spectroscopic light source, 2 the entrance slit
of the spectrometer, 3 a collimator lens and 4, 5 two prisms of constant deflection,
each of the two prisms having a wavelength drum, not shown in the drawing
is assigned to known training.
Im Weg der aus den Prismen austretenden Lichtstrahlen liegt außer
entsprechenden Linsenanordnungen 6 ein Doppelspaltsystem 7 mit den Austrittsspalten
8, 9 und den entsprechenden Einstellmitteln Io und ii Den beiden Austrittsspalten
zugeordnet sind nicht gezeichnete Lichtzellen, auf die das durch die beiden Austrittsspalte
ausgeblendete Licht entweder unmittelbar oder nach Umlenkung durch reflektierende
Flächen zur Wirkung gebracht wird. In the path of the light rays emerging from the prisms lies outside
corresponding lens arrangements 6 a double slit system 7 with the exit slits
8, 9 and the corresponding adjustment means Io and ii The two exit slits
assigned are not shown light cells to which the through the two exit slits
faded out light either immediately or after deflection by reflective
Surfaces is brought into effect.