DE60045611D1 - Frequenzbereich-Analysesystem für ein Zeitbereich-Messinstrument - Google Patents

Frequenzbereich-Analysesystem für ein Zeitbereich-Messinstrument

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John J Pickerd
Scott A Davidson
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Tektronix Inc
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    • G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
    • G01R13/22—Circuits therefor
    • G01R13/34—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
    • G01R13/345—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies for displaying sampled signals by using digital processors by intermediate A.D. and D.A. convertors (control circuits for CRT indicators)
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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