DE4440448C2 - X-ray source with increased radiation yield - Google Patents
X-ray source with increased radiation yieldInfo
- Publication number
- DE4440448C2 DE4440448C2 DE19944440448 DE4440448A DE4440448C2 DE 4440448 C2 DE4440448 C2 DE 4440448C2 DE 19944440448 DE19944440448 DE 19944440448 DE 4440448 A DE4440448 A DE 4440448A DE 4440448 C2 DE4440448 C2 DE 4440448C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- ray
- waveguide
- radiation
- ray source
- source according
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/16—Vessels; Containers; Shields associated therewith
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/06—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K2201/00—Arrangements for handling radiation or particles
- G21K2201/06—Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
Description
Die Erfindung betrifft eine Röntgenstrahlungsquelle, die bei gleicher elektrischer Leistung wie herkömmliche Röhren in einem bestimmten spektralen Bereich eine erhöhte Strahlungsleistung bereitstellt oder umgekehrt, bei gleicher Strahlungsleistung einer wesentlich geringeren elektrischen Leistung bedarf.The invention relates to an X-ray source, which has the same electrical power as conventional tubes in a certain spectral range an increased radiation power provides or vice versa, with the same radiation power of a much lower electrical Performance requires.
Der Wirkungsgrad von Röntgenröhren bei der Umsetzung von elektrischer in Strahlungsenergie ist aufgrund des physikalischen Wirkprinzips sehr niedrig und liegt in der Regel bei Werten < 1%. Insbesondere bei Feinfokusröhren wird der Gesamtwirkungsgrad bis zur unmittelbaren Nutzung der Strahlung noch erheblich durch die Größe des benutzten Raumwinkels verschlechtert.The efficiency of X-ray tubes when converting electrical energy into radiation energy is due to the physical principle of action, it is very low and is usually <1%. In the case of fine focus tubes in particular, the overall efficiency is up to immediate use the radiation deteriorated considerably due to the size of the solid angle used.
Feinfokusröhren haben neben der Strukturanalytik besonders in der Totalreflexions- Röntgenfluoreszenzanalyse (DE-OS 29 11 596; "Instr. Developments in TRXRF ", X-Ray Spectrometry, Vol. 20, S.23 ff, (1991)) Anwendung gefunden. Berücksichtigt man die üblichen Abmaße solcher Meßanordnungen, so läßt sich abschätzen, daß weniger als 10-4 der von der Anode emittierten Röntgenstrahlung auf die Probe gelangen.In addition to structural analysis, fine focus tubes have been used in particular in total reflection X-ray fluorescence analysis (DE-OS 29 11 596; "Instr. Developments in TRXRF", X-Ray Spectrometry, Vol. 20, pp. 23 ff, (1991)). If the usual dimensions of such measuring arrangements are taken into account, it can be estimated that less than 10 -4 of the X-rays emitted by the anode reach the sample.
Für viele Anwendungen sind darum Röntgenröhren mit einer Leistung < 500 W und den damit verbundenen aufwendigen Hochspannungsgeneratoren und Kühlsystemen notwendig. Dieser Sachverhalt steht der Verbesserung vieler Röntgenmeßsysteme entgegen.For many applications, therefore, X-ray tubes with a power <500 W and so are connected complex high-voltage generators and cooling systems necessary. This situation prevents the improvement of many X-ray measuring systems.
Für die Ablenkung, Fokussierung und Filterung von Röntgenstrahlung sind seit langem auf Total- oder Braggreflexion basierende Systeme bekannt ("A simple model for . . .", X-Ray Spectrometry, 22, S. 216 ff(1993); DE-OS 39 40 251; DE-OS 38 42 561; EP 0244 504).For the deflection, focusing and filtering of X-rays, total or Bragg reflection-based systems are known ("A simple model for...", X-Ray Spectrometry, 22, pp. 216 ff (1993); DE-OS 39 40 251; DE-OS 38 42 561; EP 0244 504).
Dabei werden die Systeme als selbständige Baugruppen entsprechend der beabsichtigten Wirkung im freien Strahlengang angeordnet.The systems are used as independent assemblies according to the intended effect arranged in the free beam path.
Wellenleiter dieser Art bestehen im einfachsten Fall aus zwei gegenüberliegenden polierten Quarzglasplatten bzw. aus Stapeln solcher planparallel angeordneten Spiegelflächen (DE 38 04 798). Andere Systeme basieren auf Glaskapillaren mit ebenfalls hochvergüteten Oberflächen. Der Gewinn in der Bestrahlungsstärke erreicht bei einfachen Anordnungen bereits Werte zwischen 3 und 7 (DE-Z.: "Experimentelle Technik der Physik", Band XII, 1964, Heft 5, S. 320. . .326).In the simplest case, waveguides of this type consist of two opposite polished ones Quartz glass plates or from stacks of such plane-parallel mirror surfaces (DE 38 04 798). Other systems are based on glass capillaries with also highly coated surfaces. Of the With simple arrangements, the gain in irradiance already reaches values between 3 and 7 (DE-Z .: "Experimentelle Technik der Physik", Volume XII, 1964, Issue 5, pp. 320 ... 326).
Zur Totalreflexion sind prinzipiell alle Oberflächen von Festkörpern geeignet, wenn sie eine ausreichende Qualität (Oberflächenrauhigkeit) besitzen und der Einfallswinkel der Strahlung einen bestimmten Grenzwinkel nicht überschreitet.In principle, all surfaces of solids are suitable for total reflection if they have one have sufficient quality (surface roughness) and the angle of incidence of the radiation is one does not exceed a certain critical angle.
Dieser Winkel, bei dem ein Übergang von Reflexion zu Streuung und Absorption erfolgt, ist für Strahlung höherer Energie kleiner als für niederenergetische Strahlung. Für Quarz gilt z. B.:This angle, at which there is a transition from reflection to scattering and absorption, is for Radiation of higher energy is smaller than for low-energy radiation. For quartz applies e.g. B .:
Ecut = 32.3/ϕcrit E cut = 32.3 / ϕ crit
Ecut ist die maximale Strahlungsenergie (keV), die beim Winkel ϕcrit (mrad) noch reflektiert wird. Strahlung mit höherer Energie wird gestreut oder absorbiert.E cut is the maximum radiation energy (keV) that is still reflected at the angle ϕ crit (mrad). Higher energy radiation is scattered or absorbed.
Durch die Einschränkung der im Wellenleiter möglichen Grenzwinkel läßt sich eine spektrale Kantenfilterfunktion realisieren.By restricting the limit angle possible in the waveguide, a spectral angle can be obtained Realize edge filter function.
Hauptvorteil der Totalreflexion ist ihre hohe Effizienz, die bei etwa 95% liegt. Nachteilig sind die sehr kleinen Winkel im Bereich von 2 mrad.The main advantage of total reflection is its high efficiency, which is around 95%. They are disadvantageous very small angle in the range of 2 mrad.
Verwendet man für die Oberfläche des Wellenleiters Mehrschichtsysteme aus schweren und
leichten Elementen oder die Netzebenen von Kristallen, so realisiert sich bei größeren Winkeln der
Strahlungstransport durch den Wellenleiter über die Bragg-Bedingung:
nλ = 2d sin θ.If multilayer systems made of heavy and light elements or the network planes of crystals are used for the surface of the waveguide, the radiation transport through the waveguide is realized at larger angles via the Bragg condition:
nλ = 2d sin θ.
Dabei ist λ ist die Wellenlänge der Strahlung, d der Netzebenenabstand des Kristallgitters und θ der Einfallswinkel der Strahlung.Here λ is the wavelength of the radiation, d is the lattice spacing of the crystal lattice and θ the angle of incidence of the radiation.
Unter diesen Bedingungen sind relativ leicht Bandpaßfilterfunktionen des Wellenleiters realisierbar. Nachteilig ist der schlechtere Reflexionskoeffizient.Under these conditions, bandpass filter functions of the waveguide can be implemented relatively easily. The poorer reflection coefficient is disadvantageous.
Definierte Öffnungswinkel des Wellenleiters haben außerdem eine Kollektorwirkung und ermöglichen eine verbesserte Fokussierung des Röntgenstrahls.Defined opening angles of the waveguide also have a collector effect and enable improved focusing of the X-ray beam.
Ziel der Erfindung ist eine wesentliche Steigerung des hier durch das Verhältnis von elektrischer Eingangsleistung und der am Austrittsfenster der Röhre verfügbaren Strahlungsleistung definierten Gesamtwirkungsgrades einer Röntgenröhre, sowie eine zielgerichtete Beeinflussung der Strahlparameter der aus der Röhre austretenden Röntgenstrahlung wie Strahldivergenz oder Energiespektrum.The aim of the invention is a substantial increase in the ratio of electrical here Input power and the radiation power available at the exit window of the tube Overall efficiency of an X-ray tube, as well as a targeted influence on the Beam parameters of the X-rays emerging from the tube, such as beam divergence or Energy spectrum.
Dazu wurde erfindungsgemäß eine übliche Röntgenröhre, bestehend aus einer Katode, einer Beschleunigungsstrecke für Elektronen und einer Anode, an der die Röntgenstrahlung entsteht, derart modifiziert, daß die in der Röntgenröhre entstehenden Photonen nicht wie üblich nur über ein für Röntgenstrahlen transparentes Fenster abgestrahlt werden, sondern daß unmittelbar am Brennfleck der Elektronen auf der Anode eine Wellenleiteranordnung, die entsprechend der Bedingung der Totalreflexion gestaltet ist, angeordnet ist, dort die entstehende Röntgenstrahlung mit maximaler Effizienz einkoppelt, sie während der Weiterleitung gegebenenfalls bezüglich Divergenz und/oder Spektrum beeinflußt und danach die Auskopplung der Strahlung realisiert.For this purpose, according to the invention, a conventional X-ray tube consisting of a cathode, a Acceleration path for electrons and an anode, where the X-rays are generated, modified in such a way that the photons produced in the X-ray tube are not only transferred as usual be emitted a window transparent for X-rays, but that immediately on Focal spot of the electrons on the anode is a waveguide arrangement that corresponds to the Condition of total reflection is designed, is arranged, the resulting X-rays couples with maximum efficiency, possibly with regard to the forwarding Divergence and / or spectrum influenced and then the coupling of the radiation is realized.
Anhand von Ausführungsbeispielen soll das Wesen der Erfindung erläutert werden.The essence of the invention is to be explained on the basis of exemplary embodiments.
Fig. 1 Die Prinziplösung. Fig. 1 The principle solution.
Fig. 2 Gestaltung der erfindungsgemäßen Röntgenstrahlungsquelle mit Wellenleiterjustage. Fig. 2 design of the X-ray source according to the invention with waveguide adjustment.
Fig. 3 Strahlungsauskopplung mittels geometrisch strukturierten Wellenleiters zur Verstärkung des Kantenfiltereffektes und Begrenzung des Austrittswinkels. Fig. 3 coupling out radiation by means of a geometrically structured waveguide to reinforce the edge filter effect and limit the exit angle.
Fig. 4 Strahlungsauskoppelung mit kombinierter Total- und Braggreflexion zur zusätzlichen Energie- und Wellenlängenselektion. Fig. 4 radiation coupling with combined total and Bragg reflection for additional energy and wavelength selection.
In Fig. 1 erzeugt ein von der Katode 1 emittierter Elektronenstrahl 2 auf der Anode 3 die primäre Röntgenstrahlung 4. Unmittelbar am Fokus auf der Anode 3 wird die entstehende Röntgenstrahlung 4 in eine Wellenleiteranordnung eingekoppelt, die sie zum Austrittsfenster der Röntgenröhre 6 weiterleitet und auf diesem Wege entsprechend den Prinzipien der Wellenoptik zu verändern/beeinflussen in der Lage ist.In Fig. 1, a beam emitted from the cathode 1 electron beam 2 generated on the anode 3, the primary X-rays 4. Immediately at the focus on the anode 3 , the resulting x-ray radiation 4 is coupled into a waveguide arrangement, which forwards it to the exit window of the x-ray tube 6 and in this way is able to change / influence it in accordance with the principles of wave optics.
Fig. 2 zeigt die konstruktive Gestaltung einer Wellenleiterröntgenröhre mit der Möglichkeit der Justierung der Relativposition des Brennflecks auf der Anode und der Eintrittsöffnung des Wellenleiters. Das Prinzip der Erzeugung von Röntgenstrahlung entspricht dabei dem, welches man allgemein in Feinfokusröhren verwendet. Ein von einer Kathode 1 emittierter Elektronenstrahl 2 erzeugt auf der Anode 3 die primäre Röntgenstrahlung 4. Der Wellenleiter besteht hier aus zwei Quarzglasplatten 5. Der Wellenleiter ist in Verbindung mit einer Justagemechanik und einem Faltenbalg 9 entlang einer zur Anode parallelen Ebene 8 verstellbar. In diesem Beispiel erzeugt der Elektronenstrahl einen Strichfokus, der parallel zur Eintrittsöffnung des Wellenleiters liegt. Röntgenstrahlung, die in die Öffnung des Wellenleiters gelangt und auf seine Oberfläche mit einem Winkel kleiner als dem Grenzwinkel der Totalreflexion trifft, wird durch den Wellenleiter bis zum Austrittsfenster 6 der Röhre transportiert. Fig. 2 shows the structural design of a waveguide X-ray tube with the possibility of adjusting the relative position of the focal spot on the anode and the inlet opening of the waveguide. The principle of generating X-rays corresponds to that which is generally used in fine focus tubes. An electron beam 2 emitted by a cathode 1 generates the primary X-ray radiation 4 on the anode 3 . The waveguide here consists of two quartz glass plates 5 . In conjunction with an adjustment mechanism and a bellows 9, the waveguide can be adjusted along a plane 8 parallel to the anode. In this example, the electron beam creates a line focus that is parallel to the entrance opening of the waveguide. X-ray radiation, which enters the opening of the waveguide and strikes its surface at an angle smaller than the critical angle of total reflection, is transported through the waveguide to the exit window 6 of the tube.
Eine Verschiebung des Wellenleiters parallel zur Anodenoberfläche verändert den Anteil der eingekoppelten Strahlung, ihr Spektrum sowie das Strahlprofil am Austrittsfenster der Röhre. Befindet sich der Fokus in Verlängerung der Längsachse des Wellenleiters vor dessen Öffnung, so setzt sich die Strahlung am Ausgang der Röntgenröhre aus einem vom Wellenleiter durch Reflexion transportierten Anteil und dem direkt vom Fokus zum Röhrenfenster gelangten Anteil zusammen. Verschiebt man den Wellenleiter parallel zur Oberfläche der Anode, so gelangt schließlich nur noch reflektierte Strahlung zum Austrittsfenster der Röhre.A shift of the waveguide parallel to the anode surface changes the proportion of coupled radiation, its spectrum and the beam profile at the exit window of the tube. If the focus is in the extension of the longitudinal axis of the waveguide before its opening, then the radiation at the exit of the x-ray tube consists of one from the waveguide by reflection transported portion and the portion that came directly from the focus to the tube window. If you move the waveguide parallel to the surface of the anode, you will only get it reflected radiation to the exit window of the tube.
Eine Veränderung der Relativposition von Fokus und Wellenleiter ist natürlich auch über eine Elektronenstrahlablenkung möglich.A change in the relative position of focus and waveguide is of course also a Electron beam deflection possible.
Vorteilhafterweise wird die Stirnseite des Wellenleiters über eine Metallbeschichtung auf Anodenpotential gelegt. Dies verhindert störende Raumladungen durch Rückstreu- oder Primärelektronen.The end face of the waveguide is advantageously covered by a metal coating Anode potential. This prevents disruptive space charges caused by backscattering or Primary electrons.
Für den Wellenleiter sind verschiedenste Varianten verwendbar. So können anstelle von zwei reflektierenden Flächen auch Stapelsysteme solcher Oberflächen zum Einsatz kommen. Gleiches gilt für Kapillaren oder Bündel von Kapillaren.Various variants can be used for the waveguide. So instead of two reflective surfaces also stack systems of such surfaces are used. Same thing applies to capillaries or bundles of capillaries.
Fig. 3 zeigt einen speziellen Wellenleiter 5, bei dem die Strukturierung 10 der Oberfläche die Kantenfilterwirkung verstärkt und gleichzeitig den Öffnungswinkel der austretenden Strahlung 7 begrenzt. Die Strukturierung der Oberfläche des Wellenleiters besteht dabei aus streifenförmigen Bereichen, die für Totalreflexion geeignet sind, abgelöst von Bereichen, die durch ihre geometrische Lage oder Oberflächenbeschaffenheit die Röntgenstrahlung nicht reflektieren können. Die reflektierenden Streifen des Wellenleiters sind derart zueinander angeordnet, daß die Röntgenstrahlung wechselseitig von Streifen zu Streifen reflektiert wird. Fig. 3 shows a specific waveguide 5, wherein the structuring of the surface 10 enhances the edge filter effect and at the same time limits the opening angle of the exiting radiation 7. The structuring of the surface of the waveguide consists of stripe-shaped areas that are suitable for total reflection, separated from areas that cannot reflect the X-rays due to their geometrical position or surface condition. The reflective strips of the waveguide are arranged with respect to one another in such a way that the X-rays are mutually reflected from strips to strips.
Nur Röntgenstrahlung, die so reflektiert wird, daß sie gerade wieder auf den nächsten reflexionsfähigen Bereich der anderen Wellenleiterseite gelangt, wird zum Ausgang der Röhre transportiert. Only X-rays that are reflected in such a way that they are just reflected on the next one reflective area of the other side of the waveguide, is to the exit of the tube transported.
Dadurch wird der Winkelbereich, mit dem die Strahlung von der Oberfläche reflektiert wird, stark eingeschränkt. Strahlung mit höherer Energie, die nur reflektiert wird, wenn sie unter einem besonders flachen Winkel auf die Oberfläche trifft, wird durch diesen Wellenleiter nicht transportiert. Dadurch wird eine Verstärkung des Kantenfiltereffektes realisiert.This makes the angular range at which the radiation is reflected from the surface strong limited. Radiation with higher energy, which is only reflected when it is under one This waveguide does not make a particularly shallow angle on the surface transported. This enhances the edge filter effect.
Hergestellt werden können solche Wellenleiter vorteilhaft durch Ätzen oder durch Aufdampfen von nicht reflektierenden Streifen auf einer polierten Quarzplatte.Such waveguides can advantageously be produced by etching or by vapor deposition non-reflective stripes on a polished quartz plate.
Fig. 4 zeigt den gleichen Wellenleiter unter Verwendung einer Oberfläche 11, die durch Braggreflexion einen energetischen Bandpaßfilter ermöglicht. Die aus dem Wellenleiter austretende Strahlung besitzt aufgrund der Totalreflexionsbedingung nur eine sehr geringe Divergenz. Benutzt man für die letzte reflektierende Oberfläche ein Mehrschichtsystem von leichten und schweren Elementen (z. B. W/Si oder W/C Schichten) oder die Netzebenen eines Kristalls (LiF; Graphit. . .), so werden bei größeren Einfallswinkeln die Röntgenstrahlen entsprechend der Braggbedingung reflektiert. Im Gegensatz zur Totalreflexionsbedingung ist die Wirkung hier ein energetischer Bandpaßfilter. Fig. 4 shows the same waveguide using a surface 11 which enables an energetic bandpass filter by Bragg reflection. Due to the total reflection condition, the radiation emerging from the waveguide has only a very low divergence. If a multilayer system of light and heavy elements (e.g. W / Si or W / C layers) or the network planes of a crystal (LiF; graphite...) Are used for the last reflecting surface, the X-rays become corresponding at larger angles of incidence reflected the Bragg condition. In contrast to the total reflection condition, the effect here is an energetic bandpass filter.
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944440448 DE4440448C2 (en) | 1994-11-03 | 1994-11-03 | X-ray source with increased radiation yield |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944440448 DE4440448C2 (en) | 1994-11-03 | 1994-11-03 | X-ray source with increased radiation yield |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4440448A1 DE4440448A1 (en) | 1996-05-09 |
DE4440448C2 true DE4440448C2 (en) | 1996-11-14 |
Family
ID=6533146
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19944440448 Expired - Fee Related DE4440448C2 (en) | 1994-11-03 | 1994-11-03 | X-ray source with increased radiation yield |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4440448C2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102005028904B4 (en) * | 2005-06-22 | 2008-06-26 | Siemens Ag | X-ray generator for an X-ray machine with X-ray lens module |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DD258097A1 (en) * | 1987-03-02 | 1988-07-06 | Freiberger Praezisionsmechanik | ARRANGEMENT FOR THE TOTAL REFLECTION OF ROOM RADIATION |
DE3940251A1 (en) * | 1989-12-06 | 1991-06-13 | Philips Patentverwaltung | Focused hard X=ray source for imaging or analysis - has ring formed anode and elliptical surface of rotation multiple coated mirror to increase target energy density |
-
1994
- 1994-11-03 DE DE19944440448 patent/DE4440448C2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102005028904B4 (en) * | 2005-06-22 | 2008-06-26 | Siemens Ag | X-ray generator for an X-ray machine with X-ray lens module |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4440448A1 (en) | 1996-05-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1102302B1 (en) | Monochromatic x-ray source | |
US7634052B2 (en) | Two-stage x-ray concentrator | |
EP0829120B1 (en) | Tuneable, adjustment-stable laser light source with a spectral filtered output | |
DE102010031199A1 (en) | Apparatus and method for beam shaping | |
DE3813572A1 (en) | LASER | |
DE202012005157U1 (en) | lighting device | |
DE2803347C2 (en) | X-ray source for a tomography facility | |
DE4335585C2 (en) | Laser with an unstable resonator and shading device | |
WO2021209434A1 (en) | Apparatus for the spectral broadening of laser pulses and optical system | |
DE102014218353B4 (en) | Laser arrangement and method for increasing the service life of optical elements in a laser arrangement | |
DE102012111978A1 (en) | Optical energy transmission system | |
EP0262435A2 (en) | Narrow-band laser transmitter with an external resonator, the output power being extractable from the resonator | |
DE4440448C2 (en) | X-ray source with increased radiation yield | |
DE102016108474A1 (en) | Solid state, laser amplification system and solid-state laser | |
DE2700020C2 (en) | ||
DE3932097A1 (en) | OPTICAL PULSE COMPRESSOR | |
EP0276731B1 (en) | Method for electron beam guidance with energy selection, and electron spectrometer | |
EP0152570B1 (en) | Gaslaser, in particular te-laser | |
DE102004004772B4 (en) | Electromagnetic radiation directing optical element and electromagnetic radiation emitting device | |
DE4446026C1 (en) | Folded laser cavity resonator for continuous laser | |
EP3652570A1 (en) | Polariser arrangement and euv radiation generating device comprising a polariser arrangement | |
DE1516021C3 (en) | Arrangement for tracking the receiving antenna of a receiver for coherent electromagnetic radiation | |
DE102010003226A1 (en) | Multiplexer / demultiplexer with adjustment mirror | |
DE102007051295A1 (en) | Arrangement for generating EUV radiation | |
DE2848538C2 (en) | Electron or ion optical device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |