DE4424717C2 - Optoelektronisches Mikrosystem - Google Patents
Optoelektronisches MikrosystemInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein optoelektrisches Element für mikrooptische Systeme gemäß
dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Es ist bekannt, daß die optischen Eigenschaften - insbesondere der
Brechungsindex - dielektrischer oder halbleitender Dünnfilme mit der
Temperatur variieren. Dies führt etwa bei Interferenzfiltern dazu, daß die
Wellenlänge maximaler Transmission temperaturabhängig ist. Dieser Effekt
ist meist unerwünscht und erfordert in der Regel eine aufwendige
Temperaturstabilisierung.
Aus "Mikromechanik", Herausgeber A. Heuberger, Springer-Verlag, Berlin
1989, S. 226 u. S. 387 - ist die Herstellung von Dünnfilmmembranen auf
Siliziumträgern bekannt. Aufgrund ihrer geringen Wärmekapazität können
solche Membranen mit ebenfalls in Dünnschichttechnik aufgebrachten
Widerständen mit geringen Leistungen schnell auf hohe Temperaturen
geheizt werden. Nach Abschalten der Heizleistung kühlen sie durch
Wärmeabgabe an die die Membran umgebende Luft fast ebenso schnell
wieder ab. So können etwa 10 mm2 große Siliziumnitrid-Membranen mit
einer Heizleistung von ca. 120 mW auf ca. 500°C gehalten werden. Die
Aufheiz- und Abkühlzeit liegt hierbei im msec-Bereich.
Aus der EP 0 518 228 A2 ist ein abstimmbares optisches Filter bekannt, bei
dem die Heizung der Dünnschicht mittelbar über ein eigenes Heizelement
und das Trägermaterial für die Schicht erfolgt, was jedoch zu einer
Beeinträchtigung der Aufheiz- und Abkühlgeschwindigkeit führt. ferner wird
hier das Aufbringen eines zusätzlichen temperaturabhängigen Elementes
erfoderlich, außerdem muß die Trägerplatte elektrisch leitend sein.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein optoelektronisches Element für ein
mikrooptisches System der eingangs genannten Art zu schaffen, das es erlaubt, die
optischen Eigenschaften einer oder mehrerer Schichten gezielt thermisch zu
variieren.
Diese Aufgabe wird durch die im Anspruch 1 aufgezeigten Maßnahmen
gelöst. In den Unteransprüchen sind Weiterbildungen und Ausgestaltungen
angegeben und in der nachfolgenden Beschreibung sind
Ausführungsbeispiele erläutert und in den Figuren der Zeichnung dargestellt.
Es zeigen:
Fig. 1a einen Schnitt durch ein heizbares Fabry-Perot-Interferenzfilter,
Fig. 1b ein Diagramm der erwarteten Transmissionscharakteristik bei
Raumtemperatur und 500°C Temperatur für Filter mit 500 nm bzw.
1000 nm Transmissionswellenlänge,
Fig. 2 einen Querschnitt durch eine Siliziummembran nach dem Stand der
Technik,
Fig. 3 einen Querschnitt durch einen Phasenmodulator mit Frequenztunin
gelement,
Fig. 4a einen Querschnitt durch ein Bandpaßfilter variabler Breite, oder
äquivalent als Spektrometer,
Fig. 4b ein Diagramm über das Transmissionsverhalten des Bandpaßfilter
gemäß Fig. 4a im Prinzip,
Fig. 5 eine Draufsicht auf eine Membran mit abstimmbaren Reflexions
schichten mit Gaußprofil.
Die Kombination optischer Dünnfilmaufbauten mit heizbaren Membranelemen
ten führt zu miniaturisierten im Stapelprozeß herstellbaren optischen Kompo
nenten mit thermisch einstellbaren spektralen Eigenschaften, die mit Frequen
zen im kHz-Bereich betrieben werden können. Es ist zur Lösung der gestellten
Aufgabe vorteilhaft, daß das System - um schnelle Ansprechzeiten zu erhalten
- miniaturisierbar und im Stapelprozeß in mit der Siliziumtechnologie verträgli
cher Weise herstellbar ist.
Der allgemeine Erfindungsgedanke sieht vor, daß durch die Kombination von
Membranen (Fig. 1) mit Heizelementen und optischen Schichtaufbauten die
gestellte Aufgabe gelöst wird, wobei die Mehrfachfunktion von Schichten als
Membran- und/oder Heiz- und/oder optische Schicht beibehalten wird. Hierzu
müssen die einzelnen Schichten mit ihren Eigenschaften gezielt ausgewählt und
aufeinander abgestimmt werden. Insbesondere müssen die optischen Schichten
ätzresistent sein oder beispielsweise mit SiN passiviert werden, um im Sinne
einer einfachen Stapel-Prozessierung die Ätzung als letzten Bearbeitungsschritt
auszuführen. Ebenso ist auf Eigenschaften wie optische Transmission, hohe
Wärmeleitfähigkeit, geringe Wärmekapazität für hohe Abstimmraten, geringe
mechanische Verspannung und hohe chemische Ätzresistenz zu achten. Als
Ergebnis der erfindungsgemäßen Maßnahmen werden in relativ einfacher Wei
se eine Vielzahl von Anwendungsmöglichkeiten erhalten, die auf anderem We
ge nur schwer oder garnicht realisierbar sind.
In dem in Fig. 1a skizzierten Ausführungsbeispiel wird eine SiN Membran -
die in einem naßchemischen, anisotropen Ätzprozeß hergestellt werden kann
(Fig. 2) - als Träger für ein aus einem Platinmäander bestehenden Heizelement
als Vielschichtinterferenzfilter verwendet. Dieses Vielschichtinterferenzfilter
besteht in dem gezeigten Ausführungsbeispiel aus zwei Spiegelschichtaufbau
ten, die eine λ/2-Schicht aus wasserstoffhaltigem amorphen Silizium (a - Si : H)
einschließen. Die Spiegelschichten bestehen aus je 5 λ/4-Schichtpaaren aus
Siliziumnitrid (SiN) und a-Si : H. Grundsätzlich können für die Herstellung von
Filtern auf den Membranen alle in der Interferenz-Filtertechnik üblichen dielek
trischen Schichten verwendet werden. Ausschlaggebend für die Wahl der
Schichtmaterialien ist ein Brechungsindexsprung zwischen angrenzenden
Schichten zur Erzeugung der Vielfach-Interferenz sowie eine hinreichende Ab
hängigkeit des Brechungsindex von der Temperatur zur Änderung der Interfe
renzeigenschaften. Die beispielsweise vorgeschlagene Anordnung von ab
wechselnden Schichten von SiN mit a-Si : H hat zudem den Vorteil der Kom
pensation von Material-Verspannungen, weil amorphes Silizium gewöhnlich
unter Druck, Siliziumnitridschichten aber gewöhnlich unter Zugspannung ste
hen, so daß die Verspannungen sich weitgehend ausgleichen. Eventuell ver
bleibende Restspannungen werden gezielt durch Zusatzschichten ohne optische
Funktion ausgeglichen. Jeder beliebige Filteraufbau ist realisierbar, der je nach
Schichtfolge und Schichtmaterial vom einschichtigen "Cut-off" über "Cut-off",
"Cut-on"-Interferenzfilter bis hin zu schmalbandigen Interferenzbandpaßfilter
reichen.
In dem dargestellten Ausführungsbeispiel wird durch Änderung der Temperatur
des Interferenzfilters durch das Heizelement, welches entweder als mäander
förmig aufgedampftes oder abgeschiedenes Platin, Polysilizium oder Indium
zinnoxid oder eines anderen elektrisch leitenden Materials besteht, oder bei
spielsweise auch als optisch transparentes, aber elektrisch leitfähiges Mediums
(z. B. ITO) flächenhaft auf oder unter dem Filterpaket angeordnet ist, die Temperatur
des Interferenzfilters gezielt eingestellt. Durch Messung des ebenfalls
temperaturabhängigen Widerstandes des Heizelementes wird außerdem noch
eine Information über die aktuelle Temperatur dessen und somit auch des Fil
ters ermittelt. Infolgedessen wird die Filterkante des Vielschichtfilters gezielt
zu höheren oder niedrigeren Temperaturen verschoben (je nach Ausführung
des Filters), und so ergibt sich eine abstimmbare Filterwirkung.
Die Fig. 1b zeigt zwei Transmissionskurven für die vorstehend beschriebene
Interferenzfiltergeometrie bei Raumtemperatur und bei 500°C. Der thermoopti
sche Koeffizient von a-Si : H liegt bei 5.10-4 K-1, was bei einer Transmissions
wellenlänge von ca. 500 nm bzw. 1000 nm zu einer Verschiebung der Band
paßmittenwellenlänge von ca. 60-80 nm führt. Durch Kombination zweier
oder mehrerer solcher thermisch einstellbarer Interferenzfilter ist ein Spektro
meter realisierbar, bei dem die Mitten- bzw. Kantenwellenlänge der dielektri
schen Schichten durch die einzustellende Temperatur verändert werden kann.
Ein solches Spektrometer ist beispielsweise als Fabry-Perot-Spektrometer in
Resonanz oder einfach als ein System gegeneinander abstimmbarer Filter rea
lisierbar.
In der Fig. 3 ist der Entwurf eines Phasenmodulators oder Frequenztuning-
Elements für den Einsatz in miniaturisierten Laserresonatoren dargestellt. Hier
bei wird die thermisch induzierte Brechungsindex- und Längenänderung einer
einzelnen oder mehrerer Schichten dazu verwendet, die Phase oder Frequenz
eines Lasers durch Änderung der optischen Länge einer solchen - in den Laser
resonator eingebrachten - Schicht zu beeinflussen. Ausschlaggebend für den
Modulationsbereich ist die Schichtdicke der freitragenden Schicht und die Hö
he der Temperatur die einstellbar ist. Die Heizschicht selbst kann transparent
sein (z. B. ITO) oder ist so geformt, daß sie ein Transmissionsfenster offen läßt.
Ein optisches Bandpaßfilter variabler Durchlaßkurvenbreite ist ebenfalls reali
sierbar (Fig. 4a). Zwei thermooptisch veränderbare Spiegelschichtmembranen
werden auf verschiedener Temperatur gehalten, wobei die eine Membran als
Tiefpaß-, die andere als Hochpaßfilter aufgebaut ist, durch die das Licht trifft.
Eine Transmission findet nur im Überlappungsbereich der Einzelkurven statt
(Fig. 4b). Der Überlappungsbereich wird durch eine Variation der Temperaturdifferenz
vergrößert oder verkleinert, bis hin zu einer vollen Sperrung des
Transmissionsdurchgangs.
Nicht dargestellt, aber ebenso realisierbar, ist eine Kombination zweier ther
mooptischer Spiegelschichtmembranen, wobei die Verschiebung der Filterkan
te dλ/dT unterschiedliche Vorzeichen aufweist. Die Temperatur beider Mem
branen ist dann auch gleich zu wählen, wobei die Breite des Überlappungsbe
reichs dann eine Funktion der gemeinsamen Temperatur ist.
In gleicher Weise ist ein Spektrometer realisierbar, wenn das dλ/dT der beiden
Spiegelschichten gleich ist. Eine Änderung der Temperatur führt dann zu einer
Verschiebung der Zentralwellenlänge unter Konstanz der Transmissionsbreite.
Prinzipiell anwendbar sind alle Komponenten sowohl in Transmission als auch
analog in Reflexion.
Die Fig. 5 zeigt eine abstimmbare Spiegelschicht, bei der gezielt ein Gradient
des Reflexionskoeffizienten über die geometrische Formung der Heizschicht
einstellbar ist. Beispielsweise führt eine kreisbogenförmige Heizschicht zu ei
nem radialen Temperaturgradienten, der in einem hierzu proportional radialen
Brechungsindexgradienten und daraus folgend Reflexions- bzw. Transmissi
onsgradienten resultiert. Auf diese Weise können beispielsweise Spiegel mit
radialem Reflexionsgradienten ("Super-Gauß'sche Spiegel") realisiert werden,
bei denen der Reflexionsgradient über die Temperatur der Heizschicht einge
stellt werden kann. Solche Spiegel sind z. B. bei Multimode-Lasern zur Reduk
tion der transversalen Modenstruktur oder als Modenblende nützlich.
Claims (13)
1. Optoelektronisches Element für mikrooptische Systeme mit einem - auf einer
Trägerschicht aufgebrachten - Dünnschichtaufbau, das in seinen optischen Eigen
schaften - insbesondere Brechungsindex, Absorptionskoeffizient, Bandlücke -
temperaturmäßig variierbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß
die Variation der optischen Eigenschaften thermisch induziert wird und zur Tempera
turvariation entweder eine ohmsche Verlustheizung in dem Dünnschichtaufbau
selbst, oder eine Heizung, die aus einer Dünnschicht besteht, die in einer zweiten -
mit der ersten thermisch kontaktierten - Dünnschicht angeordnet ist und
das optoelektronische Element miniaturisiert und im Stapel-Prozeß aus amorphem
Silizium und Siliziumnitrid gefertigt wird.
2. Optoelektronisches Element nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
es sich bei dem Dünnschichtaufbau um eine Abfolge von λ/4- oder λ/2-Schichten
mit abwechselnd unterschiedlichem Brechungsindex handelt.
3. Optoelektronisches Element nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
es sich bei dem Dünnschichtaufbau um eine oder mehrere Schichten aus amorphem
Silizium α-Si : H oder dessen Legierungen handelt.
4. Optoelektronisches Element nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge
kennzeichnet, daß
die optischen Schichten ätzresistent oder mit SiN passiviert sind.
5. Optoelektronisches Element nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch ge
kennzeichnet, daß
die Trägerschicht des Schichtaufbaus aus einer durch anisotropes Siliziumätzen
hergestellten SiN-, SiO- oder SiC-Membran gebildet wird.
6. Optoelektronisches Element nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch ge
kennzeichnet, daß
zur Heizung Schichten aus Platin, Polysilizium oder Indiumzinnoxid auf dem Dünn
schichtaufbau aufgebracht werden.
7. Optoelektronisches Element nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch ge
kennzeichnet, daß
die Heizschichten so geformt sind, daß in der Trägermembran ein optisches Trans
missionsfenster gebildet ist.
8. Optoelektronisches Element nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch ge
kennzeichnet, daß
die Heizschichten so geformt sind, daß auf der Trägermembran ein Temperaturgra
dient erzeugt wird.
9. Optoelektronisches Element nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch ge
kennzeichnet, daß
das Heizelement aus einem optisch transparenten, elektrisch leitfähigen Medium
gebildet und flächenhaft auf oder unter dem Dünnschichtaufbau angeordnet ist.
10. Verwendung eines optoelektronischen Elements nach einem der
Ansprüche 1 bis 9 in einem Interferenzfilter, wobei die Filterkante
durch die Temperaturvariation durch die Heizung verschiebbar ist.
11. Verwendung eines optoelektronischen Elements nach einem der
Ansprüche 1 bis 9 in einem Phasenmodulator für den Einsatz in
miniaturisierten Laserresonatoren, wobei die Phase eines Lasers
durch Änderung der optischen Länge des optoelektronischen
Elements durch die Heizung beeinflußbar ist.
12. Verwendung eines optoelektronischen Elements nach einem der
Ansprüche 1 bis 9 in einem Frequenztuningelement für den Einsatz in
miniaturisierten Laserresonatoren, wobei die Frequenz eines Lasers
durch Änderung der optischen Länge des optoelektronischen Ele
ments durch die Heizung beeinflußbar ist.
13. Verwendung eines optoelektronischen Elements nach einem der
Ansprüche 1 bis 9 in einem optischen Bandpaßfilter, das zwei opto
elektronische Elemente nach einem der Ansprüche 1 bis 9 umfaßt,
wobei ein optoelektronisches Element als Hochpaßfiler und das
andere als Tiefpaßfilter ausgebildet ist und der Überlappungsbereich
durch eine Variation der Temperaturdifferenz der beiden optoelektro
nischen Elemente durch die Heizung vergrößer- und verkleinerbar ist.
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US7049004B2 (en) | 2001-06-18 | 2006-05-23 | Aegis Semiconductor, Inc. | Index tunable thin film interference coatings |
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JP2012019158A (ja) * | 2010-07-09 | 2012-01-26 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 面発光レーザ素子および面発光レーザアレイ素子 |
DE102018201507B4 (de) * | 2018-02-01 | 2020-09-10 | Robert Bosch Gmbh | LIDAR-System und Steuerungssystem für ein Kraftfahrzeug |
DE102019210950A1 (de) * | 2019-07-24 | 2021-01-28 | Robert Bosch Gmbh | LIDAR-Sensor zur optischen Erfassung eines Sichtfeldes und Verfahren zur optischen Erfassung eines Sichtfeldes |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0518228A2 (de) * | 1991-06-13 | 1992-12-16 | Hartmann & Braun Aktiengesellschaft | Abstimmbares optisches Filter |
-
1994
- 1994-07-13 DE DE19944424717 patent/DE4424717C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0518228A2 (de) * | 1991-06-13 | 1992-12-16 | Hartmann & Braun Aktiengesellschaft | Abstimmbares optisches Filter |
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