DE4410102A1

DE4410102A1 - Radiation measuring system operating method for gas analysis

Info

Publication number: DE4410102A1
Application number: DE4410102A
Authority: DE
Inventors: Andrej Marek Rolski
Original assignee: Mannesmann AG
Current assignee: ABB Training Center GmbH and Co KG
Priority date: 1994-03-21
Filing date: 1994-03-21
Publication date: 1995-09-28

Abstract

The method involves using a radiation source (L), a screening wheel and an interference filter (IF). Radiation emitted from the source is selectively band filtered using the screening wheel rotated by a motor (M). The sensitivity or the intensifying of the radiation receiver is adjusted to the max. intensity of the radiation band, the band being respectively allowed through by the interference filter. The sensitivity or the intensity of the radiation receiver is automatically adjusted corresp. to these radiation bands, the band lying within a measuring line. Individually different radiation bands are cyclically selected across several selected filters.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betrieb einer Strahlungsmeßanordnung, gemäß Oberbegriff des Patentanspruches 1, sowie eine Strahlungsmeßanordnung gemäß Oberbegriff des Patentanspruches 7.The invention relates to a method for operating a Radiation measuring arrangement, according to the preamble of claim 1, and a radiation measuring arrangement according to the preamble of claim 7.

Das Einsatzgebiet der vorliegenden Erfindung ist beispielsweise in der Gasanalysetechnik zu finden. Hierbei werden Strahlungsquellen verwendet, die diskrete Spektrallinien erzeugen. Ein Beispiel hierfür ist die Hohlkathodenlampe, die viele diskrete Spektrallinien bzw. Strahlungsbanden mit unterschiedlichen Intensitäten liefert. Zur entsprechenden Analyse von Gaszusammensetzungen, bei denen auf die Detektion spezifischer Gaskomponenten abgestellt ist, werden in der Regel resonante Absorptionen diskreter Spektrallinien nachgewiesen. Da eine solche Hohlkathodenlampe viele diskrete Strahlungsbanden erzeugt, werden zur Erlangung eines besseren Signals zu Rauschverhältnissen alle Strahlungsbanden bis auf die gewünschte Strahlungsbande ausgeblendet. The field of application of the present invention is, for example, in Find gas analysis technology. Here radiation sources are used, that create discrete spectral lines. An example of this is the Hollow cathode lamp, which has many discrete spectral lines or Radiation bands with different intensities delivers. For Corresponding analysis of gas compositions in which the Detection of specific gas components is turned off in the Normally, resonant absorptions of discrete spectral lines were detected. There such a hollow cathode lamp generates many discrete radiation bands, become all to get a better signal to noise ratios Radiation bands hidden up to the desired radiation band.

Je nachdem welche Gaskomponente zum Nachweis ansteht, können durch entsprechend in den Strahlengang einbringbare Filter jeweils die gewünschten Strahlenbanden hindurchlassen und alle übrigen herausgefiltert werden. Beim Einsatz solcher Strahlungsquellen in optischen Geräten wie beispielsweise in Fotometern, ergeben sich bei der Detektion der entstehenden Intensitäten zwei Probleme. Zum einen ist die Intensität der jeweiligen Spektrallinien bzw. Strahlungsbanden unterschiedlich. Zum anderen ist die Intensität der einzelnen Spektrallinien bzw. Strahlungsbanden zeitlich auch nicht konstant. Die Lösung dieser Probleme mit bisher bekannten Mitteln ist aufwendig und kostspielig. Hierzu gibt es jedoch im Stand der Technik bislang realisierte Problemlösungen beispielsweise in Form des Betriebsfotometers RADARS 1 von Hartman & Braun AG. Hierbei wird zum erstgenannten Problem der statische Unterschied der Intensitäten der verwendeten unterschiedlichen Strahlungsbanden mit Hilfe optischer Abschwächer für stärkere Banden ausgeglichen. Für die nachfolgende Meßtechnik entsteht dabei jedoch nachteiligerweise die Maßgabe, mit schwächeren Signalen zu arbeiten. Zum zweitgenannten Problem sind die dynamischen Unterschiede der Strahlungsintensität im Verlauf der Betriebszeit durch Alterung der Strahler, der Empfänger und der optischen Bauteile im Strahlungsgang durch einen erhöhten periodischen Serviceeinsatz zu beheben. Somit resultiert daraus, daß sich die Güte der Messung innerhalb der Standzeit stark vermindert.Depending on which gas component is due for detection, can by corresponding filters that can be inserted into the beam path Allow the desired radiation bands and all others be filtered out. When using such radiation sources in optical devices, such as in photometers, result from the Detection of the emerging intensities two problems. For one, it is Intensity of the respective spectral lines or radiation bands differently. The other is the intensity of each Spectral lines or radiation bands are also not constant over time. The Solving these problems with previously known means is complex and expensive. However, there is so far in the prior art realized problem solutions, for example in the form of the Operating photometer RADARS 1 from Hartman & Braun AG. Here, the first-mentioned problem of the static difference in the intensities of the used different radiation bands with the help of optical Attenuators balanced for stronger gangs. For the following However, measurement technology disadvantageously creates the requirement with weaker signals to work. The second problem is that dynamic differences in radiation intensity in the course of Operating time due to aging of the emitters, the receiver and the optical components in the radiation path due to an increased periodic To fix service use. Hence it follows that the goodness measurement within the service life is greatly reduced.

Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Betrieb einer Strahlungsmeßanordnung sowie eine Strahlungsmeßanordnung der gattungsgemäßen Art derart auszubilden, daß bei zeitlich nacheinanderfolgenden unterschiedlichen Signalintensitäten am Eingang des Empfängers, vergleichbare, d. h. nahezu konstante Signalstärken am Ausgang des Strahlungsempfängers vorliegen. The invention is therefore based on the object of a method for Operation of a radiation measuring arrangement and a Radiation measuring arrangement of the generic type in such a way that with different successive signal intensities at the entrance of the recipient, comparable, d. H. almost constant Signal strengths are available at the output of the radiation receiver.

Die gestellte Aufgabe wird hinsichtlich eines Verfahrens der gattungsgemäßen Art erfindungsgemäß durch die kennzeichnenden Merkmale des Patentanspruchs 1 gelöst. Weitere Ausgestaltungen des Verfahrens sind in den Unteransprüchen 2 bis 6 angegeben.The task is carried out with regard to a process of Generic type according to the invention by the characterizing features of claim 1 solved. Further refinements of the process are specified in subclaims 2 to 6.

Hinsichtlich einer Strahlungsmeßanordnung der gattungsgemäßen Art ist die gestellte Aufgabe erfindungsgemäß durch die kennzeichnenden Merkmale des Patentanspruches 7 gelöst. Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen sind in den übrigen Unteransprüchen angegeben. Die oben angegebenen Nachteile sind durch die Erfindung sowohl hinsichtlich des Verfahrens als auch hinsichtlich der Strahlungsmeßanordnung selbst ausgeräumt.With regard to a radiation measuring arrangement of the generic type the task according to the invention by the characterizing features of claim 7 solved. Further advantageous configurations are specified in the remaining subclaims. The above Disadvantages are due to the invention both in terms of the method as well as cleared with regard to the radiation measurement arrangement itself.

Die erfindungsgemäße Strahlungsmeßanordnung sowie das Verfahren zum Betrieb einer solchen, eignen sich für die Anwendung in jedweder Art analytischer Meßanordnungen. Beispielhaft ist dies in der weiteren Ausführung der Erfindung am Beispiel einer Hohlkathodenlampe und eines Gasanalysatorgerätes dargelegt. Die gesamte Strahlungsemission einer solchen Hohlkathodenlampe durchläuft zwecks Auswahl der für die entsprechende Meßaufgabe geeigneten Strahlungsbanden verschiedene optische Bandpaßfilter, die auf einem Blendenrad montiert sind, und nacheinander in den Strahlengang eingeschwenkt werden. Aus der jeweiligen Intensität der ausgewählten Strahlungsbande ergibt sich nach der Durchstrahlung eines passenden optischen Interferenzfilters am Empfänger eine dementsprechende spezifische gemessene Intensität als elektrische Signalstärke. Da sich auf dem drehenden Blendenrad viele verschiedene optische Bandpaßfilter befinden, erhält man als Signal am Ausgang des Empfängers eine zeitliche Abfolge von unterschiedlich starken Signalen. Diese Signale können nur dann weiterverarbeitet werden, wenn deren Stärke für die nachfolgenden Verstärkerstufen sich in bestimmten engen Grenzen befinden. Man bezeichnet dies als Dynamik des Arbeitspunktes. In der Anwendung der Erfindung erfolgt nun eine Anpassung der Signalstärke für die weitere Signalverarbeitung derart, daß die Signalfolge einer Lichtschranke, mit deren Hilfe man die zeitliche Ortung der einzelnen Filter auf dem Blendenrad vornimmt, in erfindungsgemäßer Weise dazu benutzt, den Verstärkungsfaktor des Empfängers zu beeinflussen, bzw. zu regeln. Die Regelung des Verstärkungsfaktors erfolgt in einem Ausführungsbeispiel der Erfindung, bei dem der Empfänger ein Fotomultiplier ist, dadurch daß die Einstellung der Hochspannung für den Sekundärelektronenvervielfacher entsprechend beeinflußt bzw. geregelt wird. In weiterer Ausgestaltung der Erfindung erfolgt die Bestimmung der erforderlichen Hochspannungswerte für die einzelnen Meßphasen automatisch durch einen ausgewählten Menüpunkt im Programm der Analysatorsteuerung und die ermittelten Werte werden gespeichert. Da das System nun in zyklischer Folge der eingeschwenkten Blenden bzw. Interferenzfilter die Intensitäten bzw. die maximal erreichbaren Intensitäten kennt, werden diese während der Messung nun beim entsprechenden Schwenken des Blendenrades ausgewählt. Demnach erhält dann der Empfänger zu den jeweiligen Zeitpunkten, zu denen sich die einzelnen Interferenzfilter im Strahlungsgang des Fotomultipliers befinden, also während der Meßphase, die ermittelten festen Versorgungsspannungen. Damit wird für alle aus dem Emissionsspektrum der Lampe durch die Filter auf dem Blendenrad jeweils ausgewählten spektralen Strahlungsbanden, gekoppelt mit den für diese Wellenlängen spezifischen Strahlungsverlusten, im optischen System und der spektralen Empfindlichkeitskurve des Empfängers, ein vergleichbar hohes Ausgangssignal in jeder Meßphase erzeugt. Auf diese Weise werden die Anforderungen nach Abgleich der statischen und dynamischen Unterschiede der Strahlungsintensität für die Weiterverarbeitung des Signales erfüllt. The radiation measuring arrangement according to the invention and the method for Operation of such, are suitable for use in any kind analytical measuring arrangements. This is exemplified in the further one Implementation of the invention using the example of a hollow cathode lamp and one Gas analyzer set out. The total radiation emission of one passes through such hollow cathode lamp for the purpose of selecting the for the appropriate measurement task suitable radiation bands different optical bandpass filters mounted on an aperture wheel, and be swiveled into the beam path one after the other. From the The intensity of the selected radiation band results from the transmission of a suitable optical interference filter on Receiver a corresponding specific measured intensity as electrical signal strength. Because there are many on the rotating aperture wheel Various optical bandpass filters are located as a signal on Output of the receiver a time sequence of different strong signals. These signals can only be processed further if their strength for the subsequent amplifier stages are within certain narrow limits. This is called dynamic of the working point. In the application of the invention, a Adapting the signal strength for further signal processing in such a way that the signal sequence of a light barrier, with the help of which the temporal location of the individual filters on the aperture wheel used according to the invention to increase the gain of To influence or regulate the recipient. The regulation of Gain factor takes place in one embodiment of the invention, in which the receiver is a photomultiplier in that the Setting the high voltage for the secondary electron multiplier is influenced or regulated accordingly. In a further embodiment the invention determines the necessary High voltage values for the individual measuring phases automatically by a selected menu item in the analyzer control program and the determined values are saved. Since the system is now in cyclical Follow the swiveled aperture or interference filter Intensities or the maximum achievable intensities are known this during the measurement when swiveling the Aperture wheel selected. Accordingly, the recipient then receives the respective times at which the individual interference filters are in the radiation path of the photomultiplier, i.e. during the Measurement phase, the determined fixed supply voltages. So that for all from the emission spectrum of the lamp through the filters on the Aperture wheel each selected spectral radiation bands, coupled with the radiation losses specific for these wavelengths, in optical system and the spectral sensitivity curve of the Receiver, a comparable high output signal in each measurement phase generated. In this way, the requirements for matching the static and dynamic differences in radiation intensity for the Further processing of the signal fulfilled.

Das ganze System kann unter Verwendung von Mikroprozessortechnik adaptiv angelegt werden. Damit ist gemeint, daß beispielsweise durch zyklisches Wiederholen dieses Vorganges, den man auch als spektralbandenspezifische Strahlungsempfängernormierung oder Eichung bezeichnen könnte, der Empfänger seine Verstärkungswerte optimieren, und die ursprünglichen Werte, welche in einem Speicher abgelegt sind, überschreiben. Hierbei würden Schwankungen im System sofort erkannt und die entsprechend zu wählenden Hochspannungen für den Sekundärelektronenvervielfacher würden in dem genannten Speicher der Signalverarbeitung zyklisch überschrieben.The whole system can be adaptive using microprocessor technology be created. This means that, for example, cyclical Repeat this process, which is also called spectral band specific Could refer to radiation receiver standardization or calibration Receiver optimize its gain values, and the original ones Overwrite values that are stored in a memory. Here fluctuations in the system would be recognized immediately and accordingly choosing high voltages for the secondary electron multiplier cyclically overwritten in the mentioned signal processing memory.

Bestechend einfach an diesem Verfahren ist, daß das zum Erkennen des Einschwenkens eines Filters im Blendenrad vorgesehene Lichtschrankensignal die Taktierung der Einstellung des Hochspannungswertes des Sekundärelektronenvervielfachers auslöst.What is strikingly simple about this method is that it is used to recognize the Swinging in a filter provided in the aperture wheel Light barrier signal clocking the setting of the high voltage value of the secondary electron multiplier.

Die Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und im nachfolgenden näher beschrieben.The invention is shown in the drawing and in the following described in more detail.

Es zeigt:It shows:

Fig. 1 die Darstellung des Meßverfahrens, Fig. 1 is an illustration of the measurement method,

Fig. 2 die gesamte Meßanordnung, Fig. 2 shows the entire measuring arrangement,

Fig. 3 das Blendenrad. Fig. 3 the aperture wheel.

Fig. 1 zeigt in Gesamtschau die erfindungsgemäß zeitlich koordinierten Maßnahmen zeitlich verbunden mit dem damit erzielten Ergebnis. Im oberen Bildteil ist der zeitliche Verlauf des Licht-Schranken-Signals zu erkennen. Hierbei sind, wie weiter unten noch dargestellt, die einzelnen Filter auf einem Blendenrad angeordet; in diesem Falle vier Filter. Fig. 1 according to the invention shows time-coordinated measures in overall picture temporally connected to the thus obtained result. The temporal course of the light barrier signal can be seen in the upper part of the picture. Here, as will be shown below, the individual filters are arranged on an aperture wheel; in this case four filters.

Bei der Drehung des Blendenrades, wie in Fig. 3 noch näher dargestellt, welche motorisch erfolgen, wird der jeweils eingeschwenkte Filter durch ein über eine Kerbe im Blendenrad ausgelöstes Licht-Schranken-Signal erkannt. Dies ist im oberen Bildteil von Fig. 1 auf der Zeitachse zu erkennen. Hierbei ist zur Veranschaulichung einfach dargestellt, daß die Filter durch Drehung des Blendenrades aufeinanderfolgend in den Strahlengang geschwenkt werden. Im mittleren Bildteil von Fig. 1 ist die zeitliche Koordinierung des durch das Licht-Schranken-Signal markierten eingeschwenkten Filters in Verbindung mit der Hochspannungsbeaufschlagung für den Sekundär-Elektronen-Vervielfacher dargestellt. Dabei ist zu erkennen, daß in jedem einzelnen Takt, in welchem jeweils ein anderes Filter eingeschwenkt ist, auch eine andere Hochspannung für den Sekundär-Elektronen-Vervielfacher erzeugt und angesteuert wird. Der untere Bildteil von Fig. 1 gibt dabei wieder, daß in der vorstehend erfindungsgemäß beschriebenen Weise die Hochspannung für den Sekundär-Elektronen-Vervielfacher in jeweiliger Zuordnung zum jeweiligen Filter in einem derartigen Betrag durchgesteuert wird, daß am Signalausgang des Sekundär-Elektronen-Vervielfacher, der im unteren Bildteil von Fig. 1 dargestellt ist, über alle Filter ein nahezu konstantes Ausgangssignal bzw. eine nahe konstante maximale Ausgangssignalamplitude entsteht. Dies führt dazu, daß der Signalausgang des Sekundär-Elektronen-Vervielfachers und damit der gesamten Detektion unabhängig vom durch die Filterelemente ausgewählten Spektralbereich immer möglichst bei der größten Empfindlichkeit des Detektors eingestellt wird.When the diaphragm wheel rotates, as shown in more detail in FIG. 3, which is done by motor, the filter that is pivoted in is recognized by a light barrier signal triggered by a notch in the diaphragm wheel. This can be seen in the upper part of FIG. 1 on the time axis. It is shown simply for illustration that the filters are successively pivoted into the beam path by rotating the diaphragm wheel. In the middle part of FIG. 1, the temporal coordination of the swiveled-in filter marked by the light barrier signal is shown in connection with the high voltage application for the secondary electron multiplier. It can be seen that in each individual cycle, in which a different filter is swung in, a different high voltage is also generated and controlled for the secondary electron multiplier. The lower part of FIG. 1 shows that in the manner described above according to the invention, the high voltage for the secondary electron multiplier is controlled in an amount corresponding to the respective filter in such a way that at the signal output of the secondary electron multiplier, which is shown in the lower part of FIG. 1, an almost constant output signal or a nearly constant maximum output signal amplitude arises across all filters. This leads to the fact that the signal output of the secondary electron multiplier and thus the entire detection is always set with the greatest sensitivity of the detector, regardless of the spectral range selected by the filter elements.

Fig. 2 zeigt die hierzu notwendige Meßanordnung. Es ist eine Strahlungsquelle L vorgesehen, mit der in diesem optischen Aufbau der Strahlengang beginnt. Fig. 2 shows the measuring device required for this purpose. A radiation source L is provided with which the beam path begins in this optical structure.

Es folgt ein Blendenrad BLR, welches in Fig. 3 noch näher dargestellt ist, und auf dem einzelne Filterelemente angeordnet sind. Das Blendenrad BLR ist dabei über einen Motor M drehbar in der Art, daß die einzelnen Filterelemente schrittweise in den Strahlengang eingeschwenkt werden können. Die benannten Filter sind als Interferenzfilter ausgeführt und mit IF gekennzeichnet. Der Rand des Blendenrades BLR ist am Ort der einzelnen Filtersegmente, wie oben bereits erwähnt, gekerbt, und die Position des Blendenrades BLR kann dann durch ein am Rand des Blendenrades angeordnetes Licht-Detektor-Element in Form einer Lichtgabel LG bestimmt werden. In einfachster Ausführung sind die Kerben gleich ausgebildet, und haben die Aufgabe, die Beaufschlagung des Sekundär-Elektronen-Vervielfachers zu takten. Das Ausgangssignal der Lichtgabel LG gibt somit das "wann" an, nämlich wann ein entsprechendes Interferenzfilter in den Strahlengang eingeschwenkt ist, und die Messung beginnen kann. Dieses Signal wird sowohl einem Hochspannungsnetzteil NT-HV zur Erzeugung der Hochspannung für den Sekundär-Elektronen-Vervielfacher SEV, als auch der Signalaufbereitung mP zugeführt. Die Signalaufbereitung ermittelt aus dem Ausgangssignal des Sekundär-Elektronen-Vervielfachers die ankommende Intensität des Ausgangssignales. Dieser Absolutwert wird ebenfalls dem Hochspannungsnetzteil NT/HV zugeführt, so daß die beiden Informationen, nämlich das "wann" von der Lichtgabel LG und das "wieviel" von der Signalaufbereitung mP zusammengeführt wird, und daraus die entsprechende Hochspannung HV ermittelt wird, um am Ausgang des Sekundär-Elektronen-Vervielfachers SEV nahezu unabhängig vom jeweils gewählten Spektralbereich die Ausgangsempfindlichkeit auf nahezu gleichem Niveau zu halten. Zwischen Blendenrad BLR und Sekundär-Elektronen-Vervielfacher SEV ist natürlich noch ein Lichtdetektor D angeordnet, sowie eine Meßküvette MK. An aperture wheel BLR follows, which is shown in more detail in FIG. 3 and on which individual filter elements are arranged. The aperture wheel BLR can be rotated via a motor M in such a way that the individual filter elements can be pivoted into the beam path step by step. The named filters are designed as interference filters and are marked with IF. The edge of the diaphragm wheel BLR is notched at the location of the individual filter segments, as already mentioned above, and the position of the diaphragm wheel BLR can then be determined by a light detector element in the form of a light fork LG arranged at the edge of the diaphragm wheel. In the simplest version, the notches are of the same design and have the task of clocking the action on the secondary electron multiplier. The output signal of the light fork LG thus indicates the "when", namely when a corresponding interference filter has been pivoted into the beam path and the measurement can begin. This signal is fed both to a high-voltage power supply NT-HV for generating the high voltage for the secondary electron multiplier SEV and to the signal conditioning mP. The signal conditioning determines the incoming intensity of the output signal from the output signal of the secondary electron multiplier. This absolute value is also fed to the high-voltage power supply NT / HV, so that the two pieces of information, namely the "when" from the light fork LG and the "how much" from the signal conditioning mP, are combined, and the corresponding high voltage HV is determined from them at the output of the secondary electron multiplier SEV to keep the output sensitivity at almost the same level almost independent of the spectral range selected. Between the aperture wheel BLR and the secondary electron multiplier SEV there is of course still a light detector D and a measuring cuvette MK.

Diese beiden Komponenten MK und D werden jedoch in bekannter Weise betrieben.However, these two components MK and D are in a known manner operated.

Fig. 3 zeigt das vorstehend schon erwähnte Blendenrad. Hierbei sind vier Interferenzfilter 1 bis 4 vorgesehen, welche nahe dem Außenumfang auf demselben angeordnet sind. Am Außenumfang des Blendenrades sind Kerben angeordnet, die räumlich den einzelnen Filtern zugeordnet sind. Diese könnten in einfachster Ausgestaltung alle gleich breit bzw. gleich tief ausgebildet sein, womit dann lediglich nur die Information verfügbar ist, daß das jeweils eingeschwenkte Filter in Soll-Position eingeschwenkt ist, und der Meßtakt begonnen werden kann. Es ist jedoch auch möglich, die Kerben unterschiedlich breit anzulegen, um beim Überstreichen der Kerbe eine Information darüber verfügbar zu haben, welches der jeweiligen Filter in den Strahlengang eingeschwenkt ist. Fig. 3 shows the aperture wheel already mentioned above. Here, four interference filters 1 to 4 are provided, which are arranged on the outer circumference thereof. Notches are arranged on the outer circumference of the diaphragm wheel, which are spatially assigned to the individual filters. In the simplest embodiment, these could all be of the same width or depth, with which then only the information is available that the respective pivoted-in filter has been pivoted into the desired position and the measuring cycle can be started. However, it is also possible to apply the notches of different widths so that when the notch is swept over, information is available as to which of the respective filters has been pivoted into the beam path.

Claims

1. A method for operating a radiation measuring arrangement, in which a radiation source is used which emits a plurality of radiation bands, which is fed to a measuring medium to be analyzed and the optical signal influenced by the measuring medium is detected and electrically evaluated by a radiation receiver, characterized in that the radiation source emitted radiation is filtered in a radiation band-selective manner and the sensitivity or amplification of the radiation receiver is set to the maximum intensity of the respective radiation band passed by the filter.

2. A method of operating a radiation measuring arrangement according to claim 1, characterized, that within a series of measurements in which defined over several Filters selected individual different radiation bands cyclically be determined the corresponding to this radiation band Sensitivity or gain from the radiation receiver is set automatically.

3. A method of operating a radiation measuring arrangement according to claim 2, characterized, that in the case of using an aperture wheel to the defined cyclical introduction of filters into the beam path respective filter swivel in via a swivel movement triggered signal detected, and depending on the Radiation receiver to the corresponding sensitivity or Gain is set.

4. A method of operating a radiation measuring arrangement according to claim 3, characterized, that before a measuring cycle with a measuring medium, a calibration cycle without Measuring medium is arranged in which for the respective transmitted radiation band the intensity and the accordingly sensitivity or amplification of the Radiation receiver is determined.

5. A method of operating a radiation measuring arrangement according to claim 4, characterized, that the assigned to the respective radiation bands Sensitivities or amplifications of the radiation receiver in be stored in a storage medium, and during the corresponding filter the corresponding stored sensitivity or Gain value is supplied to the radiation receiver in a regulating manner.

6. A method of operating a radiation measuring arrangement according to claim 5, characterized, that storing the sensitivity or gain values is adaptive, and the calibration cycle during a Operating phase of the radiation measuring arrangement several times or periodically is repeated.

7. radiation measuring arrangement with a plurality of radiation bands emitting radiation source, with at least one measuring cell, the acted upon by the radiation from the radiation source and by the flow medium to be analyzed can be flowed through, as well as with a Radiation receiver and means for electronic evaluation of the Radiation received signals, as well as an aperture wheel, on which several interference filters arranged, and in the beam path are pivotable, characterized, that the position of the diaphragm wheel (BLR) via an encoder (LG) can be determined, and that the light transmitter signal and Output signal of the detector electronics (mP) of a controllable Sensitivity setting arrangement (NT-HV) can be fed via which is the sensitivity or gain of the detector (D, SEV) is adjustable.

8. radiation measuring arrangement according to claim 7, characterized, that the detector (D) is a light detector with the output a secondary electron multiplier (SEV) is provided.

9. radiation measuring arrangement according to claim 8, characterized, that the sensitivity or gain adjustment means from one High-voltage power supply (NT-HV) exist, through which the Secondary electron multiplier (SEV) high voltage is adjustable.

10. Radiation measuring arrangement according to claims 7 to 9, characterized in that the aperture wheel (BLR) is notched on the outer circumference in the vicinity of a respective filter element ( 1, 2, 3, 4 ), and the notch width is different in association with each individual filter element .