DE4342288A1 - Reflectometer for detecting and monitoring condition of threads etc. - Google Patents

Reflectometer for detecting and monitoring condition of threads etc.

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DE4342288A1
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Abstract

A reflectometer comprising a transmitter-receiver operating in the 1 to 10 mm waveband monitors the presence and condition of threads, ropes, wires etc. during their manufacture or when part of a cable suspension installation. A source of EM energy and tuned receiver (16) together with a primary antenna (11) and dielectric lens (12) are focused in the region (13) of a housing (15) whose U-shaped slots (17) enable introduction of the thread etc. (9) into the measurement chamber (18) and allow the latter to be sealed against dust or humidity. A radiation absorbent pad (14) prevents external disturbance and the reflected signals are evaluated in an associated unit (not shown).

Description

Die Erfindung betrifft einen Reflektometer mit Auswerte­ einheit zur Vermessung und/oder Überwachung von länglichen Objekten gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.The invention relates to a reflectometer with evaluations Unit for measuring and / or monitoring elongated Objects according to the preamble of claim 1.

Bei der Herstellung und Verarbeitung von länglichen Objek­ ten z. B. in Form von Fäden, Seilen, Drähten u.ä. besteht immer das Problem der Kontrolle. Dabei muß sowohl das Vor­ handensein des Objektes wie auch dessen Beschaffenheit beispielsweise hinsichtlich seiner Homogenität überwacht werden. Die bisher bekannten Lösungen aus dem Bereich Op­ tik, Mechanik bzw. der kapazitiven und induktiven Sensorik können häufig nur mit Einschränkungen verwendet werden, da Staubteilchen und andere Umgebungsparameter die Funkti­ onsfähigkeit der entsprechenden Sensoren stark beeinträch­ tigen.In the manufacture and processing of elongated objects ten z. B. in the form of threads, ropes, wires and the like. consists always the problem of control. Both the before existence of the object as well as its nature monitored for its homogeneity, for example become. The previously known solutions from the area of op tics, mechanics or capacitive and inductive sensors can often only be used with restrictions,  since dust particles and other environmental parameters affect the function on ability of the corresponding sensors term.

Der Erfindung liegt nunmehr die Aufgabe zugrunde, ein gat­ tungsgemäßes Reflektometer vorzuschlagen, mit dem das Vor­ handensein bzw. die Beschaffenheit länglicher Objekte un­ ter Umgehung störender Umgebungsparameter ermittelt werden können.The invention is based on the object, a gat propose reflectometer with which the Vor presence or the nature of elongated objects bypassing disturbing environmental parameters can be determined can.

Die erfindungsgemäße Lösung der Aufgabe wird durch die kennzeichnenden Merkmale des Patentanspruchs 1 wiedergege­ ben. Vorteilhafte Aus- und Weiterbildungen sind den Un­ teransprüchen entnehmbar.The achievement of the object is achieved by characteristic features of claim 1 reproduced ben. Advantageous training and further education are the Un removable claims.

Die erfindungsgemäße Lösung der Aufgabe besteht darin, daß ein Millimeterwellen-Sende/Empfangsteil mit Primärantenne und eine Linse von einem gemeinsamen Gehäuse umgeben sind oder daß für ein Millimeterwellen-Sende/Empfangsteil mit Primärantenne und einer Linse ein gemeinsames Gehäuse mit einer Öffnung vorgesehen ist, in der die Linse angeordnet ist. Das Objekt ist dabei durch eine Meßzone geführt, in welcher mindestens einer der Abbildungspunkte der Primär­ antenne liegt.The achievement of the object is that a millimeter wave transmitter / receiver with primary antenna and a lens are surrounded by a common housing or that for a millimeter wave transmitting / receiving part with Primary antenna and a lens with a common housing an opening is provided in which the lens is arranged is. The object is guided through a measuring zone, in which is at least one of the mapping points of the primary antenna lies.

Die Vorteile der Erfindung bestehen u. a. darin, daß auch sehr dünne längliche Objekte wie z. B. dünne Fäden oder Drähte kontaktlos auf ihre Beschaffenheit überprüft bzw. auf ihr Vorhandensein überwacht werden können. So läßt sich beispielsweise bei der Herstellung von Fäden oder Drähten mit der Erfindung problemlos die Stärke der Fäden oder Drähte überwachen bzw. eventuell vorkommende Faden- bzw. Drahtabrisse sofort feststellen.The advantages of the invention include a. in that too very thin elongated objects such as B. thin threads or Wires checked for their properties without contact or can be monitored for their presence. So lets for example in the manufacture of threads or Wires with the invention easily the strength of the threads  or monitor wires or possibly occurring thread or detect wire breaks immediately.

Im folgenden wird die Erfindung exemplarisch anhand der Fig. 1 bis 3 näher erläutert. Es zeigen:The invention is explained in more detail below by way of example with reference to FIGS. 1 to 3. Show it:

Fig. 1 ein Schnittbild durch eine vorteilhafte Ausgestal­ tungsform eines Meßkopfes des erfindungsgemäßen Reflektometers; Figure 1 is a sectional view through an advantageous Ausgestal processing form of a measuring head of the reflectometer according to the invention.

Fig. 2 ein Blockschaltbild einer vorteilhaften Ausgestal­ tungsform der Auswerteeinheit des erfindungsge­ mäßen Reflektometers mit dem schematisiert darge­ stellten Meßkopf nach Fig. 1; FIG. 2 is a block diagram of an advantageous embodiment of the evaluation unit of the reflectometer according to the invention with the measuring head shown schematically in FIG. 1;

Fig. 3 ein Blockschaltbild einer vorteilhaften weiteren Ausgestaltungsform der Auswerteeinheit des erfin­ dungsgemäßen Reflektometers mit dem ebenfalls schematisiert dargestellten Meßkopf nach Fig. 1. Fig. 3 is a block diagram of an advantageous further embodiment of the evaluation unit of the reflectometer OF INVENTION to the invention with the measuring head also schematically illustrated in FIG. 1.

In dem Schnittbild nach Fig. 1 ist eine kleine Primäran­ tenne 11 eines Millimeterwellen-Sende/Empfangsteiles 16 zu erkennen, die durch eine dielektrische Linse 12 hindurch eine Meßzone 13 ausleuchtet. Primärantenne 11, Millimeter­ wellen-Sende/Empfangsteil 16, Linse 12, Meßzone 13 sowie ein Absorber 14 sind dabei von einem gemeinsamen Gehäuse 15 umgeben, welches Aussparungen 17 enthält, durch die ein längliches Objekt 9 geführt werden kann. Dabei wird das Objekt 9 im Gehäuse 15 durch eine Meßkammer 18 geführt, in der sich die Meßzone 13 sowie der Absorber 14 befinden und in welche die Linse 12 teilweise hineinragt. Die Wandungen der Meßkammer 18 sind dabei Bestandteil des Gehäuses 15. In the sectional view of FIG. 1, a small primary antenna 11 of a millimeter-wave transmitting / receiving part 16 can be seen, which illuminates a measuring zone 13 through a dielectric lens 12 . Primary antenna 11 , millimeter wave transmitting / receiving part 16 , lens 12 , measuring zone 13 and an absorber 14 are surrounded by a common housing 15 which contains recesses 17 through which an elongated object 9 can be guided. The object 9 is guided in the housing 15 through a measuring chamber 18 in which the measuring zone 13 and the absorber 14 are located and into which the lens 12 partially protrudes. The walls of the measuring chamber 18 are part of the housing 15 .

Die Linse 12 ist durch die Wahl der Dielektrizitäts­ konstanten des Linsenmaterials und durch die Formgebung des Linsenprofils derart realisiert, daß eine quasiopti­ sche Fokussierung der Millimeterwellenstrahlung in der Meßzone 13 erreicht wird. Da insbesondere in der Textilin­ dustrie allgemein Sensoren durch Staub und Fusseln leicht zugesetzt werden, erscheint die Verwendung von Millimeter­ wellen und die quasioptische Fokussierung in einer ge­ schützten Kammer besonders vorteilhaft. Da ferner die Meß­ zone 13 einen immateriellen Bereich in der Meßkammer 18 bildet, in dem die Primärantenne 11 oder Teile der Primär­ antenne quasioptisch abgebildet sind (sowie das Objekt 9 hindurchgeführt ist), kann dieser selbst nicht verstauben. Ablagerungen auf der Linse 12 haben wegen der großen Ober­ fläche (in Relation zur Meßzone 13) nur stochastische Aus­ wirkungen im Hinblick auf Meßergebnisse. Aus all diesen Umständen heraus ist es besonders wichtig zur Vermeidung von Störeinflüssen das Millimeterwellen-Sende/Empfangsteil 16, die Primärantenne 11 sowie die Linse 12 staub- und wasserdicht zukapseln. Daher ist das Sende/Empfangsteil 16, die Primärantenne 11 sowie die Linse 12 von einem ge­ meinsamen Gehäuse 15 umgeben, welches die Meßkammer 18 in­ tegrierend umschließt.The lens 12 is realized by the choice of the dielectric constant of the lens material and by the shape of the lens profile in such a way that a quasi-optical focusing of the millimeter wave radiation in the measuring zone 13 is achieved. Since sensors in the textile industry in particular are easily added due to dust and lint, the use of millimeter waves and the quasi-optical focusing in a protected chamber appears particularly advantageous. Furthermore, since the measuring zone 13 forms an immaterial area in the measuring chamber 18 , in which the primary antenna 11 or parts of the primary antenna are depicted quasi-optically (and the object 9 is passed through), this itself cannot collect dust. Deposits on the lens 12 have only stochastic effects due to the large upper surface (in relation to the measuring zone 13 ) with regard to measurement results. For all these circumstances, it is particularly important to encapsulate the millimeter-wave transmitting / receiving part 16 , the primary antenna 11 and the lens 12 in a dustproof and watertight manner in order to avoid interference. Therefore, the transmitting / receiving part 16 , the primary antenna 11 and the lens 12 are surrounded by a ge common housing 15 , which encloses the measuring chamber 18 in tegrating.

Das Fokussieren mittels der Linse 12 konzentriert die Mil­ limeterwellenstrahlung in einem engen Bereich. Damit ist eine gute Ausleuchtung von länglichen Objekten, z. B. ei­ nem dünnen Faden 9 gegeben. Außerdem wird hierdurch er­ reicht, daß auch kleine Störstellen erkannt werden und dicht aufeinanderfolgende sich nicht gegenseitig kompen­ sieren. The focusing by means of the lens 12 concentrates the mil limeterwelle radiation in a narrow range. This ensures good illumination of elongated objects, e.g. B. egg nem thin thread 9 given. In addition, it is thereby sufficient that even small imperfections are recognized and closely consecutive do not compensate each other.

An dem der Linse 12 gegenüberliegenden Ende der Meßkammer 18 wird die elektromagnetische Energie in einem Absorber 14 aufgenommen. Dadurch ergibt sich als zusätzlicher posi­ tiver Effekt, daß das gesamte System von Störungen aus der Umgebung abgeschirmt ist und ferner keine Energie nach außen hin, d. h. in den Raum außerhalb des Gehäuses 15, abgestrahlt wird. Ursache hierfür ist, daß bei der quasi­ optischen Energieführung keinerlei Wandströme in der Meß­ kammer 18 fließen, wenn z. B. der Innendurchmesser der Meßkammer 18, in der die Meßzone 13 liegt, doppelt so groß ist wie die durch die Linsenpararmeter angegebenen Abmes­ sungen der Meßzone 13. Fließen wiederum keinerlei Wand­ ströme, so kann dadurch bedingt vorteilhafterweise auch keine Abstrahlung durch die Aussparungen 17 im Gehäuse 15 zum Durchlaß des Objektes 9 erfolgen.At the end of the measuring chamber 18 opposite the lens 12 , the electromagnetic energy is received in an absorber 14 . This results in an additional positive effect that the entire system is shielded from interference from the environment and also no energy to the outside, ie in the space outside the housing 15 is radiated. The reason for this is that no wall currents flow in the measuring chamber 18 in the quasi-optical energy supply when z. B. the inner diameter of the measuring chamber 18 , in which the measuring zone 13 lies, is twice as large as the dimensions indicated by the lens parameters of the measuring zone 13th If no wall currents flow in turn, this means that there can advantageously be no radiation through the cutouts 17 in the housing 15 for the passage of the object 9 .

Der Millimeterwellen-Sende/Empfänger 16 kann als Hybrid­ schaltung, Hohlleiterlösung, in Fenstertechnik oder als MMIC-Chip - hierbei stehen im Wort "MMIC" die Buchstaben "MM" für "Millimeterwellen" und "IC" für "Integrierter Schaltkreis" - ausgebildet sein, ebenso sind selbstschwin­ gende Mischstufen verwendbar, die besonders gute Meßergeb­ nisse liefern, wenn mindestens in etwa mehr als 80% der Sendeenergie innerhalb der Meßzone 13 konzentriert ist. Als Primärantenne 11 können Hohlleiteröffnungen, dielektrische Strahler oder Patch-Antennen verwendet wer­ den.The millimeter wave transceiver 16 can be designed as a hybrid circuit, waveguide solution, in window technology or as an MMIC chip - in this case, the letters "MM" for "millimeter waves" and "IC" for "integrated circuit" in the word "MMIC" , self-oscillating mixing stages can also be used, which deliver particularly good measurement results if at least approximately more than 80% of the transmission energy is concentrated within the measuring zone 13 . Waveguide openings, dielectric radiators or patch antennas can be used as the primary antenna 11 .

Vorteilhaft ist es, die Aussparungen 17 als Schlitze aus­ zubilden, um ein Einfädeln zu erleichtern. It is advantageous to form the recesses 17 as slots in order to facilitate threading.

Durch Schrägstellen des Gehäuses 15 gegenüber der Längs­ achse des Objektes 9 kann bewirkt werden, daß das Objekt 9 die Meßzone 13 schräg zur Hauptachse des quasioptischen Systems durchläuft. Dies führt zu einer besseren Fehlerer­ kennung bei dünnen Objekten, da sich keine entfernungsab­ hängige Empfindlichkeitsabhängigkeit ausprägen kann. Eine weitere Verbesserung ist durch Einsatz eines IQ-Empfangs­ teils zur entfernungsunabhängigen Betragsmessung der re­ flektierten Leistung möglich.By tilting the housing 15 relative to the longitudinal axis of the object 9 can be caused that the object 9 passes through the measuring zone 13 obliquely to the main axis of the quasi-optical system. This leads to better error detection in thin objects, since there is no distance-dependent sensitivity dependency. A further improvement is possible by using an IQ receiver for measuring the amount of the reflected power regardless of the distance.

Die Auswerteeinheit 20 nach Fig. 2 und 3 ist so ausgelegt, daß das Vorhandensein und/oder von Unregelmäßigkeiten des Objektes an Ausgang C (Fig. 2) bzw. das Vorhandensein des z. B. bewegten Objektes am Ausgang A (Fig. 3) und Unregel­ mäßigkeiten im Durchmesser am Ausgang B (Fig. 3) zur An­ zeige kommen.The evaluation unit 20 according to FIGS. 2 and 3 is designed such that the presence and / or irregularities of the object at output C ( FIG. 2) or the presence of the z. B. moving object at the output A ( Fig. 3) and irregularities in diameter at the output B ( Fig. 3) come to show.

Hierbei bildet den Ausgang A der Ausgang eines Komparators 32 einer Signalverarbeitungseinheit 30 und den Ausgang B der Ausgang eines Mitlauf-Komparators 33 dieser Signalver­ arbeitungseinheit 30, auf die weiter unten noch näher ein­ gegangen wird.Here, the output A forms the output of a comparator 32 of a signal processing unit 30 and the output B forms the output of a tracking comparator 33 of this signal processing unit 30 , which will be discussed in more detail below.

Beiden Fig. 2 und 3 gemeinsam ist, daß der in dem Ge­ häuse 15 befindliche Millimeterwellen-Meßkopf nach Fig. 1 an die Auswerteeinheit 20 angeschlossen ist. Diese Auswer­ teeinheit 20 ist realisiert durch einen Vorverstärker 21, einen Filter 22 und durch die Signalverarbeitungseinheit 30, die in Fig. 2 aus einem A/D-Wandler 34 und einem Mi­ kroprozessor 35 besteht, bzw. einem Controler. Unter einem Controler ist dabei materiall gesehen ein Mikroprozessor mit einem Speicher z. B. in Form von Lese-, Schreib/Lese- bzw. Direktzugriffsspeicher zu verstehen, so daß ein auto­ nomer, d. h. nicht fremdgesteuerter Betrieb möglich ist.Both FIGS. 2 and 3 have in common that the millimeter wave measuring head according to FIG. 1 located in the housing 15 is connected to the evaluation unit 20 . This evaluation unit 20 is realized by a preamplifier 21 , a filter 22 and by the signal processing unit 30 , which in FIG. 2 consists of an A / D converter 34 and a microprocessor 35 , or a controller. Under a controller is seen materially a microprocessor with a memory z. B. to understand in the form of read, write / read or random access memory, so that an auto nomer, ie not externally controlled operation is possible.

Prinzipiell ergibt sich nunmehr folgender Funktionsablauf der Schaltung nach Fig. 2.In principle, the following functional sequence of the circuit according to FIG. 2 now results.

Meßkopfseitig übertragene Signale werden verstärkt (21) und gefiltert (22). Nach der Filterung wird das Signal A/D-gewandelt (34) und dem Mikroprozessor 35 zugeleitet. Da das Vorhandensein eines beispielsweise bewegten Objekts 9 zu Reflexionen führt, welche üblicherweise über dem Sy­ stemgrundrauschen liegen, wird im Mikroprozessor eine Schwellenbildungen mit geeigneten Algorithmen bei zuvor definiertem Schwellwert vollzogen. Diese wiederum kann das Kriterium zur Aussendung einer Fehlermeldung an den Aus­ gang C des Mikroprozessors 35 sein. Alternativ kann eine Fehlerhäufung pro Längeneinheit vorgegeben werden und erst bei deren Überschreitung Meldung erfolgen.Signals transmitted on the measuring head side are amplified ( 21 ) and filtered ( 22 ). After filtering, the signal is A / D converted ( 34 ) and fed to the microprocessor 35 . Since the presence of, for example, a moving object 9 leads to reflections which are usually above the system noise floor, thresholds are formed in the microprocessor with suitable algorithms at a previously defined threshold value. This in turn can be the criterion for sending an error message to the output C of the microprocessor 35 . Alternatively, an accumulation of errors per unit of length can be specified and a message can only be given if it is exceeded.

Im Unterschied zu Fig. 2 wird in Fig. 3 die Signalverar­ beitungseinheit 30 durch einen Gleichrichter 31 gebildet, der auf den Komparator 32 oder Trigger (nicht gezeigt) und den Mitlaufkomparator 33 aufgeschaltet ist.In contrast to FIG. 2, the signal processing unit 30 is formed in FIG. 3 by a rectifier 31 , which is connected to the comparator 32 or trigger (not shown) and the tracking comparator 33 .

Die Ausführungsform des erfindungsgemäßen Reflektometers nach Fig. 3 funktioniert nun derart, daß Signale des im Gehäuse 15 untergebrachten Meßkopfes nach Vorverstärkung 21 und Filterung 22 durch Gleichrichtung und Glättung 31 den Komparator 32 oder Trigger so ansteuern, daß das Gerätegrundrauschen noch nicht durchsteuern kann. Das Vor­ handensein eines z. B. bewegten Objektes 9 bewirkt dann das überschreiten einer zuvor eingestellten Schwelle im Kom­ parator 32 oder Trigger, was wiederum am Ausgang A der Signalverarbeitungseinheit 30 angezeigt wird.The embodiment of the reflectometer according to the invention according to FIG. 3 now functions in such a way that signals from the measuring head accommodated in the housing 15 , after preamplification 21 and filtering 22 by rectification and smoothing 31, control the comparator 32 or trigger in such a way that the background noise of the device cannot yet be controlled. The presence of a z. B. moving object 9 then causes a previously set threshold in the comparator 32 or trigger, which in turn is displayed at the output A of the signal processing unit 30 .

Ferner kann der Mitlauf-Komparator 33 sowohl bei fest wie auch bei mitlaufender Schwelle, deren Wert als Funktion des arithmetischen Mittelwertes der Meßwerte über der Zeit bzw. vordefinierter Zeitintervalle auffaßbar ist, fest­ stellen, ob Abweichungen vom Sollwert vorhanden sind. Es können dabei positive oder negative Abweichungen - bezogen auf den Sollwert - registriert werden, die am Ausgang B der Signalverarbeitungseinheit 30 abgegriffen werden kön­ nen.Furthermore, the tracking comparator 33 can determine whether there are any deviations from the target value, both with a fixed and with a moving threshold, the value of which can be understood as a function of the arithmetic mean of the measured values over time or predefined time intervals. It can be registered positive or negative deviations - based on the target value - which can be tapped at the output B of the signal processing unit 30 .

Die Erfindung ist natürlich nicht auf die beschriebenen Ausführungsbeispiele beschränkt, sondern sinngemäß auf weitere anwendbar. So kann beispielsweise durch teilweise Öffnung des Gehäuses 15 sowie entsprechende Formung der Linse 12 eine großräumige Meßzone 13 außerhalb des Gehäu­ ses 15 entstehen, in der z. B. Drahtseile von Fahrstühlen überwacht werden können.The invention is of course not limited to the exemplary embodiments described, but can be applied analogously to others. For example, by partially opening the housing 15 and correspondingly shaping the lens 12, a large measuring zone 13 outside the housing 15 may arise, in which, for. B. wire ropes can be monitored by elevators.

Claims (16)

1. Reflektometer mit Auswerteeinheit zur Vermessung und/oder Überwachung von länglichen Objekten, dadurch gekennzeichnet,
  • - daß ein Millimeterwellen-Sende/Empfangsteil (16) mit Primärantenne (11) und eine Linse (12) von ei­ nem gemeinsamen Gehäuse (15) umgeben sind oder
    daß für ein Millimeterwellen-Sende/Empfangsteil mit Primärantenne und einer Linse ein gemeinsames Gehäuse mit einer Öffnung vorgesehen ist, in der die Linse angeordnet ist;
  • - daß das Objekt (9) durch eine Meßzone (13) geführt ist, in welcher mindestens einer der Abbildungs­ punkte der Primärantenne (11) liegt.
1. reflectometer with evaluation unit for measuring and / or monitoring elongated objects, characterized in that
  • - That a millimeter wave transmitting / receiving part ( 16 ) with a primary antenna ( 11 ) and a lens ( 12 ) of egg nem common housing ( 15 ) are surrounded or
    that for a millimeter-wave transmitting / receiving part with a primary antenna and a lens, a common housing is provided with an opening in which the lens is arranged;
  • - That the object ( 9 ) is guided through a measuring zone ( 13 ) in which at least one of the imaging points of the primary antenna ( 11 ).
2. Reflektometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die bildseitige Brennweite der Linse (12) gleich oder zumindest etwa gleich der gegenstandsseitigen Brennweite der Linse (12) ist.2. reflectometer according to claim 1, characterized in that the image-side focal length of the lens ( 12 ) is equal to or at least approximately equal to the object-side focal length of the lens ( 12 ). 3. Reflektometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die auf die Linse (12) bezogene Gegenstands­ weite des Millimeterwellen-Sende/Empfangsteiles (16) größer ist als die gegenstandsseitige Brennweite der Linse (12).3. Reflectometer according to claim 1 or 2, characterized in that the object on the lens ( 12 ) related width of the millimeter wave transmitting / receiving part ( 16 ) is greater than the object-side focal length of the lens ( 12 ). 4. Reflektometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die durchschnittliche Wellen­ länge λ des Millimeterwellen-Sende/Empfangsteiles (16) in etwa zwischen 1 mm und 10 mm liegt.4. Reflectometer according to one of the preceding claims, characterized in that the average wave length λ of the millimeter wave transmitting / receiving part ( 16 ) is approximately between 1 mm and 10 mm. 5. Reflektometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Empfangsteil des Millime­ terwellen-Sende/Empfangsteils (16) als IQ-Empfangsteil ausgebildet ist.5. Reflectometer according to one of the preceding claims, characterized in that the receiving part of the millimeter terwellen transmitting / receiving part ( 16 ) is designed as an IQ receiving part. 6. Reflektometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Objekt (9) in der Meßzone (13) unter einem Winkel α geführt ist, der in der Meßzone (13) zwischen der Hauptachse der Linse (12) und der Längs­ achse des Objektes (9) liegt und verschieden von Null ist.6. Reflectometer according to one of the preceding claims, characterized in that the object ( 9 ) in the measuring zone ( 13 ) is guided at an angle α, which is in the measuring zone ( 13 ) between the main axis of the lens ( 12 ) and the longitudinal axis of the object ( 9 ) lies and is different from zero. 7. Reflektometer nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Winkel α einen Wert zwischen in etwa 5° und in etwa 45° annimmt. 7. reflectometer according to claim 6, characterized in that the angle α has a value between about 5 ° and in takes about 45 °.   8. Reflektometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß in etwa mehr als 80% der Sen­ deenergie innerhalb der Meßzone (13) konzentriert ist.8. Reflectometer according to one of the preceding claims, characterized in that approximately more than 80% of the deenergy is concentrated within the measuring zone ( 13 ). 9. Reflektometer nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Innendurchmesser einer Meßkammer (18), in der die Meßzone (13) liegt, doppelt oder zumindest in etwa doppelt so groß ist wie die durch die Linsenparameter gegebenen Abmessungen der Meßzone (13).9. reflectometer according to claim 8, characterized in that the inner diameter of a measuring chamber ( 18 ), in which the measuring zone ( 13 ) is located, is twice or at least approximately twice as large as the dimensions of the measuring zone ( 13 ) given by the lens parameters. 10. Reflektometer nach einem der vorhergehenden Ansprü­ che, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßzone (13) zwischen einem Absorber (14) und der Linse (12) ausgebildet ist.10. Reflectometer according to one of the preceding claims, characterized in that the measuring zone ( 13 ) is formed between an absorber ( 14 ) and the lens ( 12 ). 11. Reflektometer nach Anspruch 10, dadurch gekennzeich­ net, daß das Gehäuse (15) auch die Meßzone (13), den Ab­ sorber (14) und die Meßkammer (18) umschließt.11. Reflectometer according to claim 10, characterized in that the housing ( 15 ) also encloses the measuring zone ( 13 ), the absorber ( 14 ) and the measuring chamber ( 18 ). 12. Reflektometer nach einem der vorhergehenden Ansprü­ che, dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäuse (15) auf zwei sich gegenüberliegenden Seiten zwei Aussparungen (17) in Form von spiegelsymmetrisch angeordneten länglichen Schlitzen enthält, durch die das Objekt (9) geführt ist.12. Reflectometer according to one of the preceding claims, characterized in that the housing ( 15 ) on two opposite sides contains two recesses ( 17 ) in the form of mirror-symmetrically arranged elongated slots through which the object ( 9 ) is guided. 13. Reflektometer nach Anspruch 12, dadurch gekennzeich­ net, daß die Längsachse der Schlitze orthogonal oder zu­ mindest in etwa orthogonal oder parallel oder zumindest in etwa parallel zur Hauptachse der Primärantenne (11) ver­ laufen.13. Reflectometer according to claim 12, characterized in that the longitudinal axis of the slots run orthogonally or at least approximately orthogonally or parallel or at least approximately parallel to the main axis of the primary antenna ( 11 ) ver. 14. Reflektometer nach einem der vorhergehenden Ansprü­ che, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswerteeinheit (20) aus einem Verstärker (21), einem Filter (22) und einer Si­ gnalverarbeitungseinheit (30) aufgebaut ist.14. Reflectometer according to one of the preceding claims, characterized in that the evaluation unit ( 20 ) is constructed from an amplifier ( 21 ), a filter ( 22 ) and a signal processing unit ( 30 ). 15. Reflektometer nach Anspruch 14, dadurch gekennzeich­ net, daß die Signalverarbeitungseinheit (30) aus einem A/D-Wandler (34) und einem Mikroprozessor (35), der vor­ zugsweise durch einen Controler realisiert ist, ausgebil­ det ist.15. reflectometer according to claim 14, characterized in that the signal processing unit ( 30 ) from an A / D converter ( 34 ) and a microprocessor ( 35 ), which is preferably implemented by a controller, is ausgebil det. 16. Reflektometer nach Anspruch 14, dadurch gekennzeich­ net, daß die Signalverarbeitungseinheit (30) durch einen Gleichrichter (31) und einen Komparator (32), zu dem vor­ zugsweise ein Mitlauf-Komparator (33) parallel geschaltet ist, realisiert ist.16. Reflectometer according to claim 14, characterized in that the signal processing unit ( 30 ) is realized by a rectifier ( 31 ) and a comparator ( 32 ), to which a tracking comparator ( 33 ) is preferably connected in parallel.
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