DE4242035A1 - Schottky-Barrieren-Photodetektor - Google Patents
Schottky-Barrieren-PhotodetektorInfo
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Description
Schottky-Infrarotdetektoren verwenden eine Metall-Halbleiter (Silizium-)
Grenzflächenstruktur, über die durch Licht angeregte Ladungsträger im
Metall einen Photostrom erzeugen. Ein Vorteil solcher Photodetektoren
ist die Verwendung von Silizium als Halbleitermaterial. Die Silizi
um-Technologie wird gut beherrscht, so daß großflächige Detektorarrays
mit vielen Einzeldetektoren und integrierter Signalauswertung herge
stellt werden können. Ein Nachteil von Schottky-Photodetektoren ist jedoch
deren geringe Quantenausbeute. Dies ist bedingt durch den Umstand,
daß die im Metall durch Absorption von elektromagnetischer Strahlung
entstandenen energiereichen Ladungsträger die Energiebarriere des Me
tall-Halbleiterkontakts nur dann überschreiten können, wenn diese in ei
nem engen Winkelbereich um die Normale auf die Grenzschicht auftreffen.
Ferner wird langwellige elektromagnetische Strahlung von Metallschichten
im allgemeinen reflektiert.
Die Erfindung stellt sich die Aufgabe, den Wirkungsgrad der Anordnung zu
verbessern, insbesondere die Quantenausbeute.
Wird nun die Grenzschicht so strukturiert, daß wenigstens in einem be
stimmten Bereich der Oberfläche die Flächennormale stark wechselt, so
wird eine erhöhte Übergangswahrscheinlichkeit erreicht.
Auch die Absorption der einfallenden optischen Strahlung in der Metallschicht
selbst kann durch eine Strukturierung einhergehend mit der Ober
flächenvergrößerung dieser Schicht verbessert werden. Dazu müssen die
typischen Strukturgrößen bis im Bereich der Lichtwellenlänge gehalten
werden.
Eine Strukturierung der Si-Oberfläche vor Aufbringen der Metallschicht
kann durch geeignete isotrope und anisotrope Silizium-Ätzverfahren er
reicht werden, wobei auch geeignete Ätzmasken gewählt werden können.
Insbesondere können die Ätzmasken so gewählt werden, daß eine gezielte
Strukturierung (periodische Linien, Raster) im Bereich der Wellenlänge
der zu detektierenden Strahlung erreicht werden. Eine Ätzung ohne Masken
ergibt willkürlich verteilte pyramidenartige Strukturen, die sich vom
Nanometer- in den Mikrometerbereich erstrecken.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der beigefügten Zeichnung
rein schematisch dargestellt. Es zeigen
Fig. 1 einen Querschnitt durch einen Silizium-Halbleiter als Träger für
eine Dünnschichtmetallisierung,
Fig. 2 eine Oberflächen(Grenzflächen-)Rauhigkeit im Mikrometerbereich,
Fig. 3 eine Oberfläche wie in Fig. 2 dargestellt, weiter abgewandelt
durch zusätzliche Rauhigkeit im Nanometerbereich,
Fig. 4a, b, c verschiedene Gitterformen der Oberfläche (Grenzfläche),
1-dimensional dargestellt und
Fig. 5a und b verschiedene Gitterformen, 2-dimensional dargestellt.
Auf der Basis oder dem Träger 1 aus möglichst reinem Silizium (Si) als
Halbleitermaterial für den Photodetektor ist (siehe Fig. 1) eine übliche
metallische Dünnschicht nach einem physikalischen oder chemischen Ab
scheideverfahren, wie PVD- oder CVD-Verfahren bekannter Technologie, als
die Siliziumoberfläche bedeckende und deren Struktur folgende Schicht 2
aufgebracht. Die Struktur bildet dann die Grenzfläche Metall-Silizium 3.
Die einfallende optische, insbesondere infrarote Strahlung ist mit 4
oder mit 5 bezeichnet, je nachdem von welcher Seite sie einfällt.
Üblicherweise fällt nur von einer Seite (in der Zeichnung von unten)
Strahlung ein. Strahlungseinfall von der Oberseite kann mit bekannten
Mitteln unterdrückt, abgeschottet, vernachlässigt, kompensiert oder re
flektiert werden, wie im Einzelfall gewünscht.
Wie aus Fig. 2 ersichtlich, ist zu der Oberfläche/Grenzfläche zur dünnen
Metallschicht bei diesem Ausführungsbeispiel eine Rauhigkeit durch aus
der Halbleitertechnologie bekanntes anisotropes chemisches Ätzen, im Be
reich der Lichtwellenlänge (=Mikrometerbereich) erzeugt, und darauf wird
mit einem der bekannten Dünnschichtverfahren, wie im Vakuum Abscheiden
auf physikalischem Wege (PVD) durch Aufdampfen, Aufputtern oder (plasma
unterstützte) chemische Dampfabscheidung (CVD) eine dünne Schicht von
Metallen, wie solchen der Platingruppe, z. B. Pt, Pd, oder solche der Eisengruppe,
z. B. Co, Ni des Periodensystems der Elemente, entweder als
reine Metalle die auf dem Träger eine Verbindung eingehen oder als Me
tallverbindungen, wie Silizide (z. B. Pt-Silizide, Co-Silizide) erzeugt.
Die Verteilung der Rauhigkeitsspitzen ist I. nach Fig. 2, Fig. 3 sta
tistisch/zufällig oder II. regelmäßig z. B. nach Fig. 4a, b, c oder 5a, b.
In Fig. 3 ist, ausgehend von einer Oberfläche/Grenzfläche gemäß Fig. 2
zur dünnen Metallschicht, bei diesem Ausführungsbeispiel eine Rauhigkeit
im Bereich der Streulänge der Ladungsträger im Metall an den Spitzen er
zeugt.
Die so erzeugte Rauhigkeit liegt im Nanometerbereich, ist also etwa drei
Größenordnungen kleiner (als bei Fig. 2).
Die Erzeugung dieser Rauhigkeit im Nanometerbereich erfolgt durch an
sich bekanntes (weiteres) anisotropes chemisches Ätzen aus der Halblei
tertechnologie und/oder physikalisch z. B. durch Kathodenstrahlätzung
(vor oder während dem Sputtern) oder durch Laser- oder Elektronenstrahl
ätzung. Darauf wird die der Rauhigkeit zu der Grenzfläche folgende Me
tallisierung wie im Beispiel der Fig. 2 aufgebracht, wobei jegliche Kom
bination der dort erwähnten Verfahrensschritte möglich ist.
Der Rauhigkeitserzeugung - gemäß Fig. 3 - im Nanometerbereich muß jedoch
nicht in jedem Falle die Rauhigkeitserzeugung gemäß Fig. 2 vorausgehen.
Claims (5)
1. Schottky-Photodetektor, insbesondere für einfallende Strahlung im
Infrarot-Bereich des Spektrums, auf der Basis von Silizium als Halbleitermaterial,
dessen Oberfläche in wenigstens einem (Nutz-)Bereich einer
Ätzung unterworfen wurde, mit zusätzlicher Metallisierung, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Ätzung so gewählt wird, daß eine Oberfläche der
Grenzschicht des Halbleiters bzw. ein Oberflächenbereich hiervon eine
solche Struktur aufweist, daß die Strukturschwankungen (eindimensional
in Richtung zur Oberflächennormale der Basis) in der Größenordnung der
Wellenlängen bzw. sehr viel kleiner sind als die Wellenlänge der zu mes
senden Strahlung und die Flächennormalen auf den strukturierten Teilflä
chen des geätzten Bereichs - soweit nebeneinander - ständig wechseln,
und daß eine darauf aufgebrachte Metallisierung dieser Strukturierung
folgt.
2. Schottky-Photodetektor, insbesondere für einfallende Strahlung im
Infrarotbereich des Spektrums mit (Rein-)Silizium als Halbleitermateri
al, dessen der ankommenden Strahlung zugekehrte Oberfläche durch Ätzen
strukturiert und mit einer dünnen Metallschicht überzogen wurde, da
durch gekennzeichnet, daß
- - die Metallschicht auf die Siliziumoberfläche so aufgebracht ist, daß diese der geätzten Struktur folgt,
- - die Grenzfläche Metall - Silizium so gestaltet ist, daß eine kurz reichweitige Rauhigkeit (im Nanometerbereich bzw. Im Bereich der Streulänge der Ladungsträger im Metall) und eine längerreichweitige (im Mikrometerbereich bzw. im Bereich der Wellenlänge der Strahlung) übereinander erzeugt sind.
3. Schottky-Photodetektor nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich
net, daß die Siliziumoberfläche periodisch oder willkürlich struktu
riert ist im Mikrometerbereich (dem Bereich der Lichtwellenlänge, bezogen
auf die Tiefe der Strukturen und deren Periodizität, insbesondere in ei
ner, vorzugsweise in zwei Richtungen quer zur Flächennormale).
4. Schottky-Photodetektor nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß an der Siliziumoberfläche übereinander zu
nächst eine Grobätzung zur Erzeugung langreichweitiger Rauhigkeit im Be
reich der Lichtwellenlänge und darüber eine Feinätzung zur Erzeugung
kurzreichweitiger Rauhigkeit im Bereich der Streulänge der Ladungsträger
im Metall vorgenommen ist.
5. Schottky-Photodetektor nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß an der Siliziumoberfläche die Strukturie
rung regelmäßig, wie wellenförmig (Berg/Tal) oder pyramidenförmig ausge
führt ist.
Priority Applications (1)
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DE4242035A1 true DE4242035A1 (de) | 1994-06-16 |
DE4242035C2 DE4242035C2 (de) | 1996-07-11 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE4242035A Expired - Fee Related DE4242035C2 (de) | 1992-12-12 | 1992-12-12 | Schottky-Barrieren-Photodetektor |
Country Status (1)
Country | Link |
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DE (1) | DE4242035C2 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10734539B2 (en) | 2018-05-14 | 2020-08-04 | National Taiwan University | Photodetector |
FR3100086A1 (fr) * | 2019-08-22 | 2021-02-26 | National Taiwan University | Photodétecteur |
-
1992
- 1992-12-12 DE DE4242035A patent/DE4242035C2/de not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
JP 2-260468 A. In: Patents Abstracts of Japan, Sect. E, Vol. 15 (1991), No. 4 * |
JP 3-153088 A. In: Patents Abstracts of Japan, Sect. E, Vol. 15 (1991), No. 383 * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10734539B2 (en) | 2018-05-14 | 2020-08-04 | National Taiwan University | Photodetector |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
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DE4242035C2 (de) | 1996-07-11 |
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