DE4040259A1

DE4040259A1 - Quality control tester for incandescent lamps - places two lamps in parallel to form first test unit and forms second test unit from two first units also in parallel

Info

Publication number: DE4040259A1
Application number: DE19904040259
Authority: DE
Inventors: Friedhelm Harnischmacher
Original assignee: ABB Patent GmbH
Current assignee: ABB Patent GmbH
Priority date: 1990-12-17
Filing date: 1990-12-17
Publication date: 1992-06-25

Abstract

To test sixteen lamps, they are placed in pairs (30,31; 32,33; 34,35; 36,37....) to form first units (46 to 49). These units in turn are placed in parallel to form second test units (54,55....). In a further stage, each pair of second units can be switched together to form a third test unit (57,58). Finally, all the pairs of units are switched together in a single large assembly (60) supplied from a current source (61). The current from the latter flows equally through all the lamps so that each is subjected to the same test voltage. USE - Testing any number of lamps under same conditions.

Description

Die Erfindung betrifft eine Einrichtung gemäß dem Ober begriff des Anspruches 1.The invention relates to a device according to the Ober Concept of claim 1.

Zur Überprüfung von Lampen auf Funktion und auf Lebens dauer werden mehrere Lampen nebeneinander und parallel zueinander an eine Stromschiene angeschlossen, die etwa in der Mitte eine Stromzu- und eine Stromabführung auf weisen. Jede der beiden Stromschienen besitzt in bestimmtem Abstand von der Stromzuführung bzw. Stromab führung angeordnete Anschlußklemmen, an denen die Elek troden der Lampen angeschlossen werden.For checking lamps for function and for life Several lamps are used side by side and in parallel connected to each other on a power rail, the approximately in the middle a power supply and a power drain point. Each of the two busbars has in certain distance from the power supply or downstream leadership arranged terminals on which the elec troden of the lamps.

Zwischen dem Stromzuführungs- und Stromabführungspunkt jeder Stromschiene und jeder Anschlußklemme ist ein elektrischer Widerstandswert vorhanden, der abhängig ist von der Querschnittsfläche der Stromschiene, die durch die Befestigung der Anschlußklemmen beeinflußt ist, und dem Abstand zwischen dem Stromzuführungs- bzw. Stromab führungspunkt und jeder einzelnen Anschlußklemme. Der Strom, der von der Stromzuführungsstelle oder vom Strom zuführungspunkt bis zu einer Anschlußklemme fließt, un terliegt einem anderen Widerstand, als wenn er zu einer weiter entfernten oder näher gelegenen Anschlußklemme fließen muß. Dies hat zur Folge, daß Lampen, die weit von der Stromzuführungs- oder Stromabführungsstelle an der Stromschiene angeschlossen sind, mit einer entspre chend niedrigeren Spannung beaufschlagt sind, als dieje nigen Lampen, die in unmittelbarer Nähe zur Stroman schluß- oder Stromabführungsstelle an der Stromschiene angeschlossen sind. Dies hat natürlich Auswirkungen auf die Prüfergebnisse der Lampen. Beispielsweise können Le bensdauerversuche mit einer solchen Anordnung nicht für mehrere Lampen gleichzeitig durchgeführt werden, es sei denn, man berücksichtigt die unterschiedlichen Span nungsbelastungen der Lampen.Between the power supply and power discharge point Every busbar and every connection terminal is one electrical resistance value available, which is dependent from the cross-sectional area of the busbar that passes through the attachment of the terminals is affected, and the distance between the power supply or downstream guide point and each individual connection terminal. The Electricity coming from the electricity supply point or from the electricity feed point flows to a terminal, un is subject to a different resistance than if he were to one more distant or closer terminal must flow. As a result, lamps that are far from the power supply or outlet point the busbar are connected with a corre sponding voltage is lower than that few lamps that are in close proximity to the electricity termination or current discharge point on the conductor rail are connected. Of course, this affects the test results of the lamps. For example, Le Endurance tests with such an arrangement are not for multiple lamps are carried out at the same time, be it because you take into account the different span loads on the lamps.

Aufgabe der Erfindung ist es, eine Einrichtung zum Prü fen von Lampen der eingangs genannten Art zu schaffen, bei der alle Lampen mit gleicher Spannung beaufschlagt werden.The object of the invention is to provide a device for testing to create lamps of the type mentioned at the outset, where all lamps are charged with the same voltage will.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß zwei parallel geschaltete Lampen eine erste Prüfeinheit bilden und daß zwei erste Prüfeinheiten zur Bildung ei ner zweiten Prüfeinheit zusammenschaltbar sind.This object is achieved in that two lamps connected in parallel a first test unit form and that two first test units to form ei ner second test unit can be interconnected.

Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung kann dahin gehen, daß je zwei zweite Prüfeinheiten zur einer dritten Prüfeinheit zusammenschaltbar sind, die selbst wiederum zu je zwei zu einer vierten Prüfeinheit zusammenschaltbar sind, usw. Another advantageous embodiment of the invention can go that two second test units each a third test unit can be interconnected, the even two each to a fourth test unit can be interconnected, etc.

Erfindungsgemäß also werden jeweils zwei Lampen mitein ander zusammengeschaltet, so daß eine Prüfeinheit ge bildet wird. Je zwei dieser Prüfeinheiten werden wieder um zu einer größeren Prüfeinheit zusammengeschaltet, je zwei der größeren Prüfeinheit können zu einer noch grö ßeren Prüfeinheit zusammengeschaltet werden, usw. Auf grund der Zweieranordnung der Lampen und der einzelnen Prüfeinheiten wird erreicht, daß jede Lampe mit der gleichen Spannung beaufschlagt wird; die relativ gerin gen Spannungsabfälle in den einzelnen Leitern können durch geeignete Bemessungen der Zuführungsleiter im we sentlichen ausgeschaltet werden.According to the invention, two lamps are included connected together so that a test unit ge is forming. Two of these test units are used again to interconnect to a larger test unit, each two of the larger test units can be made even larger Outer test unit can be interconnected, etc. On due to the arrangement of two lamps and each Test units ensures that each lamp with the same voltage is applied; the relatively small voltage drops in the individual conductors by suitable dimensioning of the supply ladder in the we be switched off considerably.

Anhand der Zeichnung, in der ein Ausführungsbeispiel ei ner bekannten Lampenprüfanordnung sowie eine erfindungs gemäße Einrichtung dargestellt sind, sollen die Erfin dung sowie weitere vorteilhafte Ausgestaltungen und Ver besserungen der Erfindung näher erläutert und beschrie ben werden.Based on the drawing, in which an embodiment egg ner known lamp test arrangement and a fiction appropriate facility are shown, the inven tion and other advantageous embodiments and Ver Improvements of the invention explained and described be.

Es zeigenShow it

Fig. 1 eine Ausführungsform einer Lampenprüfeinrich tung gemäß dem Stand der Technik und Fig. 1 shows an embodiment of a lamp test device according to the prior art and

Fig. 2 eine Lampenprüfeinrichtung gemäß der Erfin dung. Fig. 2 is a lamp testing device according to the inven tion.

Die Lampenprüfeinrichtung gemäß Fig. 1, die an sich be kannt und rein schematisch dargestellt ist, besitzt zwei parallel oder nebeneinander angeordnete Stromschienen 10, 11. In der Mitte der Stromschienen 10 bzw. 11 befin det sich ein Stromeinspeisungspunkt 12 und ein Stromab führungspunkt 13 (Masse) und beidseitig zu den Punkten 12 und 13 sind Anschlußklemmen 14, 15, 16 und 17 bzw. 18, 19, 20 und 21 angeordnet; lediglich die links von den Punkten 12 und 13 befindlichen Klemmen sind mit Be zugsziffern bezeichnet. Zwischen den Anschlußklemmen 14 und 18 befindet sich eine erste zu prüfende Lampe 22, zwischen den Klemmen 15 und 19 eine zweite Lampe 23, zwischen den Klemmen 16 und 20 eine Lampe 24 und zwi schen Klemmen 17 und 21 eine Lampe 25. Die gleiche An ordnung ist natürlich auch rechts der Punkte 12 und 13 zu sehen. Zwischen den beiden Punkten 12 und 13 befindet sich eine Stromquelle 26.The Lampenprüfeinrichtung shown in FIG. 1, be per se known and is shown purely schematically, has two parallel or juxtaposed bus bars 10, 11. In the middle of the busbars 10 and 11 is a current feed point 12 and a Stromab management point 13 (ground) and on both sides to points 12 and 13 , terminals 14 , 15 , 16 and 17 or 18, 19, 20 and 21 are arranged ; only the terminals to the left of points 12 and 13 are designated by reference numerals. Between the connection terminals 14 and 18 there is a first lamp 22 to be tested, between the terminals 15 and 19 a second lamp 23 , between the terminals 16 and 20 a lamp 24 and between the terminals 17 and 21 a lamp 25th The same arrangement can of course also be seen on the right of points 12 and 13 . A current source 26 is located between the two points 12 and 13 .

Man erkennt aus Fig. 1 die Abstände 1 ₁ bis 1₄ zwischen den einzelnen Klemmen 14 bis 17 und 18 bis 21 von den Punkten 12 und 13 variiert und demgemäß verändert sich der Widerstand zwischen den einzelnen Anschlußklemmen und den Punkten 12 und 13 entsprechend der Formel R=1/ · A,
worin,
R = Widerstand,
l = Länge zwischen den Punkten 12 und 13 und den jewei ligen Anschlußklemmen 14 bis 17, 18 bis 21,
= elektrische Leitfähigkeit,
A = Querschnittsfläche der Stromschienen 10, 11,
bedeuten.It can be seen from Fig. 1, the distances 1 ₁ to 1 ₄ between the individual terminals 14 to 17 and 18 to 21 from points 12 and 13 varies and accordingly the resistance between the individual terminals and points 12 and 13 changes according to the formula R = 1 / · A,
wherein,
R = resistance,
l = length between points 12 and 13 and the respective terminals 14 to 17 , 18 to 21 ,
= electrical conductivity,
A = cross-sectional area of the busbars 10 , 11 ,
mean.

Hieraus ist ersichtlich, daß sich die Widerstände zu den einzelnen Lampen stark mit der Länge verändern und dem gemäß beispielsweise die Lampe 15 nur mit einem Bruch teil der Spannung beaufschlagt wird, mit der die Lampe 22 beaufschlagt ist. Hierdurch ergibt sich in jedem Fall eine Begrenzung der Anzahl der gleichzeitig zu prüfenden Lampen. From this it can be seen that the resistances to the individual lamps vary greatly with length and that, for example, lamp 15 is only subjected to a fraction of the voltage with which lamp 22 is applied. In any case, this results in a limitation of the number of lamps to be tested simultaneously.

Diese Nachteile werden mit der erfindungsgemäßen Ein richtung vermieden.These disadvantages are solved with the A according to the invention avoided direction.

Mit der erfindungsgemäßen Einrichtung gemäß Fig. 2 sol len 16 Lampen geprüft werden. Zu diesem Zweck werden je zwei Lampen 30, 31; 32, 33; 34, 35; 36, 37 . . . parallel miteinander zu je zwei zu ersten Prüfeinheiten 46 bis 49 . . . zusammengeschaltet.With the device according to FIG. 2, 16 lamps should be checked. For this purpose, two lamps 30 , 31 ; 32 , 33 ; 34 , 35 ; 36 , 37 . . . in parallel with each other with two to first test units 46 to 49 . . . interconnected.

In einer weiteren Stufe können je zwei erste Prüfeinhei ten 46, 47 bzw. 48, 49 zu einer zweiten Prüfeinheit 54, 55 . . . zusammengeschaltet werden, in einer weiteren Stufe je zwei zweite Prüfeinheiten 54 und 55 zu einer dritten Prüfeinheit 57 und 58 zusammengeschaltet werden und schlußendlich können die beiden Prüfeinheiten zu einer großen Einheit 60 zusammengeschaltet werden, die von ei ner Stromversorgung 61 versorgt wird. Der von der Strom versorgung 61 fließende Strom verteilt sich völlig gleich und mit gleichem Widerstand auf die einzelnen Lampen 30 bis 45, so daß jede einzelne Lampe mit der gleichen Spannung versorgt bzw. beaufschlagt wird und damit die Bedingungen bei der Prüfung aller Lampen gleich sind. Man kann entweder nur vier Lanpen, acht Lampen, sechzehn Lampen, wie in der Fig. 2 dargestellt prüfen; es besteht natürlich auch die Möglichkeit, wei tere Prüfeinheiten zu der Einrichtung nach Fig. 2 dazu zuschalten.In a further stage, two first test units 46 , 47 and 48 , 49 can each form a second test unit 54 , 55 . . . can be interconnected, in a further stage two second test units 54 and 55 can be interconnected to form a third test unit 57 and 58 and finally the two test units can be interconnected to form a large unit 60 which is supplied by a power supply 61 . The current flowing from the power supply 61 is distributed completely identically and with the same resistance to the individual lamps 30 to 45 , so that each individual lamp is supplied or acted on with the same voltage and thus the conditions when testing all lamps are the same. One can test only four lanterns, eight lamps, sixteen lamps, as shown in FIG. 2; there is of course also the possibility of connecting further test units to the device according to FIG. 2.

Claims

1. A device for testing a plurality of lamps which are connected in parallel during the test process and are supplied with voltage by a power supply, characterized in that two lamps connected in parallel form a first test unit and that two first test units can be connected together to form a second test unit .

2. Device according to claim 1, characterized records that two second test units to one third test unit can be interconnected, which itself again two each to a fourth test unit are switchable, etc.