DE4030802C2 - Meßanordnung zur berührungslosen Bestimmung der Dicke und/oder thermischen Eigenschaften von Folien und dünnen Oberflächenbeschichtungen und/oder der Absorptionseigenschaften inhomogener Materialien - Google Patents
Meßanordnung zur berührungslosen Bestimmung der Dicke und/oder thermischen Eigenschaften von Folien und dünnen Oberflächenbeschichtungen und/oder der Absorptionseigenschaften inhomogener MaterialienInfo
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Description
Meßanordnung zur berührungslosen Bestimmung der Dicke und/oder
thermischen Eigenschaften von Folien und dünnen Oberflächenbe
schichtungen und/oder der Absorptionseigenschaften inhomogener
Materialien.
Das Prinzip der Dickenbestimmung von Folien und dünnen Oberflä
chenbeschichtungen mit Hilfe der instationären Wärmeleitung ist
seit langem bekannt. Es beruht darauf, bei einer zeitlich ver
änderlichen Aufheizung einer Probenoberfläche den daraus resul
tierenden zeitlichen Verlauf der Oberflächentemperatur auszu
werten. Es läßt sich zeigen, daß der zeitliche Verlauf der Tem
peratur nach einer zeitlich definierten Aufheizung empfindlich
von der Dicke sowie den thermischen Kenngrößen einer Schicht
oder Folie abhängt. Im Prinzip kann die Aufheizung dabei einen
zeitlichen Verlauf haben, der zwischen einem Einzelimpuls und
einer periodischen sinusförmigen Form liegt. Ist die Anregung
periodisch, so stellt sich die Temperaturoszillation hinsicht
lich Amplitude und Phase in charakteristischer Weise ein.
Eine Meßanordnung zur berührungslosen Bestimmung der Dicke und/oder
thermischen Eigenschaften von Folien und dünnen Oberflä
chenbeschichtungen ist beispielsweise aus Z. Werkstofftech. 15,
140 bis 148 (1984) bekannt. Bei der dort dargestellten Ver
suchsanordnung wird die von einem Laser erzeugte und in einem
nachgeordneten Modulator in der Intensität periodisch veränder
te Heizstrahlung auf das Meßobjekt gerichtet. Die absorbier
te Heizstrahlung erzeugt dann sogenannte Wärmewellen, die von
Grenzflächen im Probeninneren reflektiert werden. Diese reflek
tierten Wärmewellen werden dann an der Oberfläche des Meßob
jekts über die resultierende Modulation der thermischen Emis
sion nachgewiesen. Hierzu wird ein Infrarot-Detektor verwendet,
dessen Ausgangssignal in einem phasenempfindlichen Lock-In-Ver
stärker mit dem Referenzsignal des Modulators verglichen wird.
Der derart ermittelte Phasenunterschied gibt dann Aufschluß
über die jeweilige Schichtdicke, wobei durch einen Schiebe
schlitten auch eine lokale Ortsauflösung ermöglicht wird.
Ähnliche Meßanordnungen, bei welchen das Meßobjekt durch ge
wöhnliche Infrarotstrahler oder Infrarotlaser aufgeheizt wird,
sind aus Z. Technisches Messen 49, 1982, Heft 11, S. 391 bis
398 bekannt.
Aus der DE-A-36 31 652 ist eine weitere Meßanordnung zur berüh
rungslosen Bestimmung der Dicke von Folien und dünnen Oberflä
chenbeschichtungen bekannt, bei welcher die Genauigkeit der
Messungen dadurch erheblich gesteigert wird, daß der Strah
lungsempfänger, insbesondere durch ein vorgeschaltetes Filter,
auf einen von der anregenden Heizstrahlung separaten Empfangs
bereich begrenzt wird. Die Heizstrahlung wird bei dieser be
kannten Meßanordnung über einen flexiblen Lichtleiter auf das
Meßobjekt übertragen.
Bei den bekannten Meßanordnungen wird die zur Ausbreitung von
Wärme im Meßobjekt benötigte Temperaturänderung durch Absorp
tion einer Heizstrahlung erzeugt, deren Wellenlängen im sicht
baren, im nahen Ultraviolett und im nahen Infrarot liegen.
Aus der DE-A-30 21 096 ist eine Meßanordnung zur
berührungslosen Bestimmung der Dicke von Folien oder des Füll- oder
Volumenfaktors von porösen oder netzartigen Materialien
bekannt, die einen Mikrowellen-Generator zur Erzeugung von auf
das Meßobjekt gerichteten Mikrowellen und einen
Mikrowellen-Empfänger für die am Meßobjekt reflektierenden
Mikrowellen umfaßt. Der am Meßobjekt reflektierte Anteil der
Mikrowellen dient als Maß für die Dicke einer Folie bzw. bei
porösem oder netzartigem Material als Maß für dessen Füll- oder
Volumenfaktor.
Der im Anspruch 1 angegebenen Erfindung liegt das Problem zu
grunde, eine Meßanordnung zur berührungslosen Bestimmung der
Dicke und/oder thermischen Eigenschaften von Folien und dünnen
Oberflächenbeschichtungen zu schaffen, die auch bei Meßobjekten
mit optisch verdeckten Schichten angesetzt werden kann.
Die mit der Erfindung erzielten Vorteile bestehen insbesondere
darin, daß bei einer Aufheizung des Meßobjekts durch intensi
tätsmodulierte Mikrowellen auch Messungen an einer Vielzahl von
Meßobjekten durchgeführt werden können, bei welchen eine Auf
heizung durch Absorption von Licht nicht möglich ist. Neben
einer Aufheizung optisch verdeckter Schichten können mit Mikro
wellen insbesondere auch Wasser oder Schichten mit einen hohen
Wasseranteil aufgeheizt werden. Derartige Schichten können
durch Lichteinstrahlung nicht oder allenfalls nur unwesentlich
erwärmt werden. Ein weiterer Vorteil des Einsatzes von Mikro
wellen besteht darin, daß durch eine Bestimmung der Absorp
tionseigenschaften inhomogener Materialien beispielsweise Was
ser in nicht wasserhaltiger Umgebung nachgewiesen werden kann.
Schließlich ist noch hervorzuheben, daß die Verwendung von Mi
krowellen gegenüber einer Aufheizung durch Licht und insbeson
dere gegenüber einer Aufheizung durch Laserstrahlen nur einen
geringen Aufwand erfordert. Die bei herkömmlichen Meßanordnun
gen erforderlichen Filter zur Trennung von anregender Heiz
strahlung und emittierter thermischer Strahlung können bei der
erfindungsgemäßen Meßanordnung entfallen.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Ansprü
chen 2 und 3 angegeben.
Die Weiterbildung nach Anspruch 2 ermöglicht es, die von einem
Mikrowellen-Generator erzeugten Mikrowellen gezielt auf das
Meßobjekt zu richten.
Die Ausgestaltung nach Anspruch 3 dient dem Schutz von Perso
nen, die sich in der Nähe des Meßortes aufhalten.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dar
gestellt und wird im folgenden näher beschrieben.
Die Zeichnung zeigt in stark vereinfachter schematischer Dar
stellung eine Meßanordnung zur berührungslosen Bestimmung der
Dicke von Folien und dünnen Oberflächenbeschichtungen. Mit die
ser Meßanordnung soll an einem mit Mo bezeichneten Meßobjekt
beispielsweise die Dicke einer auf Stahlblech aufgebrachten
Lackschicht gemessen werden. Hierzu werden zunächst die in
einem Mikrowellen-Generator MG erzeugten Mikrowellen über einen
metallischen Hohlleiter H auf die Oberfläche des Meßobjekts Mo
gerichtet. Die Mikrowellen sind dabei durch einen Pfeil Mw auf
gezeigt. Die Absorption der Mikrowellen Mw im Meßobjekt Mo be
wirkt an der Oberfläche eine Temperaturoszillation. Die ent
sprechende vom angeregten Meßobjekt Mo emittierte thermische
Strahlung St wird über einen mit Hs bezeichneten Hohlspiegel
für Infrarotstrahlung zu einem Strahlungsempfänger Se umge
lenkt. Bei diesem Strahlungsempfänger Se handelt es sich um
einen Infrarot-Detektor.
Die zeitliche Intensitätsmodulation der vom Mikrowellen-Genera
tor MG erzeugten Mikrowellen Mw wird durch einen Funktionsgene
rator Fg bewirkt, dessen Modulations-Frequenz MF beispielsweise
200 Hz beträgt. Demgegenüber beträgt die Arbeitsfrequenz des
Mikrowellen-Generators MG beispielsweise 2 GHz. Als Mikrowel
len-Generator MG kann beispielsweise ein Klystron oder auch ein
Gunn-Oszillator eingesetzt werden. Bei der Erzeugung und Über
tragung von Mikrowellen kann dabei auf Erfahrungen in der Mi
krowellen-Spektroskopie und in der Mikrowellen-Therapie zurück
gegriffen werden.
Die Signalverarbeitung erfolgt durch einen phasenempfindlichen
Lock-In-Verstärker LI, welchem das Referenzsignal Rs des Funk
tionsgenerators Fg und das Ausgangssignal As des Strahlungsemp
fängers Se zugeführt werden. Im Lock-In-Verstärker LI werden
dann in gleicher Weise wie bei den konventionellen fotothermi
schen Meßanordnungen durch Vergleich der Signale Rs und As die
Amplitude A und Phase P der im Meßobjekt Mo erzeugten Wärmewel
len ermittelt. Durch Analyse von Amplitude A und Phase P lassen
sich Rückschlüsse auf Schichtdicken, Einschlüsse, Ablösungen und
dergleichen ziehen, wobei insbesondere auch die Möglichkeit
eines Nachweises von Wasser in nichtwasserhaltiger Umgebung
hervorzuheben ist. Gegenüber den konventionellen fotothermi
schen Meßanordnungen können auch optisch verdeckte Schichten
aufgeheizt werden. So können beispielsweise lichtabsorbierende
Kunststoffbeschichtungen oder Keramikbeschichtungen auf elek
trisch leitfähigen Materialien derart untersucht werden, daß
die Wärme mittels Mikrowellen im elektrischen Leiter erzeugt
wird. Dies hat den Vorteil, daß die Wärme nur den einfachen Weg
durch die Beschichtung zurücklegen muß, während im Gegensatz
dazu bei der Lichterwärmung die Wärme den doppelten Weg durch
die Beschichtung zurücklegen muß. Es können somit doppelt so
dicke Schichten wie bisher vermessen werden.
Zum Schutz von Personen, die sich im Umfeld der Messungen auf
halten, ist auf der dem Mikrowellen-Generator MG gegenüberlie
genden Seite des Meßobjekts Mo eine Mikrowellen-Absorberzelle
MA angeordnet. Der Aufbau derartiger Zellen ist beispielsweise
aus der Mikrowellen-Spektroskopie bekannt.
Bei dem vorstehend geschilderten Ausführungsbeispiel wird die
sogenannte Frontseitenmethode angewandt, bei welcher eine Seite
des Meßobjekts mit Mikrowellen beaufschlagt wird und die von
dieser Seite emittierte thermische Strahlung erfaßt wird. Die
Anwendung der sogenannten Rückseitenmethode ist jedoch eben
falls möglich. In diesem Fall wird dann eine Seite des Meßob
jekts mit Mikrowellen beaufschlagt und die von der gegenüber
liegenden Seite des Meßobjekts emittierte thermische Strahlung
erfaßt.
Claims (3)
1. Meßanordnung zur berührungslosen Bestimmung der Dicke und/oder
thermischen Eigenschaften von Folien und dünnen Oberflä
chenbeschichtungen und/oder der Absorptionseigenschaften inho
mogener Materialien mittels instationärer Wärmeleitung mit
einem Strahlungsempfänger (Se) für die vom angeregten Meßob jekt (Mo) emittierte thermische Strahlung (St),
dadurch gekennzeichnet, daß
ein Mikrowellen-Generator (MG) zur Erzeugung von auf das Meßobjekt (Mo) gerichteten zeitlich intensitätsmodulierten Mikrowellen (Mw) vorgesehen ist.
einem Strahlungsempfänger (Se) für die vom angeregten Meßob jekt (Mo) emittierte thermische Strahlung (St),
dadurch gekennzeichnet, daß
ein Mikrowellen-Generator (MG) zur Erzeugung von auf das Meßobjekt (Mo) gerichteten zeitlich intensitätsmodulierten Mikrowellen (Mw) vorgesehen ist.
2. Meßanordnung nach Anspruch 1, dadurch ge
kennzeichnet, daß die im Mikrowellen-Generator
(MG) erzeugten Mikrowellen (Mw) über einen Hohlleiter (H) auf
das Meßobjekt (Mo) gerichtet sind.
3. Meßanordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß auf der dem Mikrowellen-Ge
nerator (MG) gegenüberliegenden Seite des Meßobjekts (Mo) eine
Mikrowellen-Absorberzelle (MA) angeordnet ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904030802 DE4030802C2 (de) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | Meßanordnung zur berührungslosen Bestimmung der Dicke und/oder thermischen Eigenschaften von Folien und dünnen Oberflächenbeschichtungen und/oder der Absorptionseigenschaften inhomogener Materialien |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904030802 DE4030802C2 (de) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | Meßanordnung zur berührungslosen Bestimmung der Dicke und/oder thermischen Eigenschaften von Folien und dünnen Oberflächenbeschichtungen und/oder der Absorptionseigenschaften inhomogener Materialien |
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Publication Number | Publication Date |
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DE4030802A1 DE4030802A1 (de) | 1992-04-02 |
DE4030802C2 true DE4030802C2 (de) | 1998-01-29 |
Family
ID=6415220
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19904030802 Expired - Fee Related DE4030802C2 (de) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | Meßanordnung zur berührungslosen Bestimmung der Dicke und/oder thermischen Eigenschaften von Folien und dünnen Oberflächenbeschichtungen und/oder der Absorptionseigenschaften inhomogener Materialien |
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DE (1) | DE4030802C2 (de) |
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- 1990-09-28 DE DE19904030802 patent/DE4030802C2/de not_active Expired - Fee Related
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