DE4008984A1

DE4008984A1 - Test data compression in function tester - applying digital signal train to tested sample and receiving reply signals for testing

Info

Publication number: DE4008984A1
Application number: DE4008984A
Authority: DE
Inventors: Yoichiro Yamada
Original assignee: Hewlett Packard Co
Current assignee: HP Inc
Priority date: 1989-04-28
Filing date: 1990-03-21
Publication date: 1990-10-31
Also published as: JPH02287270A; JP3126127B2

Abstract

A train of digital signals is applied to a sample and the reply signals are used for the function test. The digital signals are generated from stored function testing signals. The function test data are stored for further function testing. The stored function testing data are then read-out from the memory. The selected parts of the function testing data are transmitted for generating the digital signal train w.r.t. a preset time unit. The part of the function testing data with a high changing incidence for each preset time unit are stored, and those with a low change incidence at each point of time with a data change are also stored. USE/ADVANTAGE - For testing integrated or printed circuit board, with reduced data transmit time from control testing units.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Kompression von Daten, die zur Durchführung eines Funktionstests einer integrierten Schaltung (IC) oder einer gedruckten Schal tungsplatte (PC) benötigt werden. Um eine Funktionsprüfung an einer integrierten Schaltung oder einer gedruckten Schaltungs platte durchzuführen, steuert man einen gewählten Eingangsan schluß mit einem bekannten Sollsignal an. Danach wird das an einem gewählten Ausgangsanschluß auftretende Antwortsignal mit einem erwarteten Ausgangssignalwert verglichen. Durch Wieder holen der Operationsfolge, die im Anlegen bekannter Signale und im Vergleich der Antwortsignale mit erwarteten Ausgangssig nalwerten besteht, kann beurteilt werden, ob der Prüfling wie erwartet funktioniert.The invention relates to a method and an apparatus for Compression of data used to perform a functional test an integrated circuit (IC) or a printed scarf plate (PC) are required. To perform a functional test an integrated circuit or a printed circuit a selected input is activated end with a known target signal. After that it turns on response signal occurring with a selected output connection compared to an expected output signal value. By again fetch the sequence of operations in applying known signals and comparing the response signals with expected output signals nal values, it can be assessed whether the test specimen expected works.

Die Funktionen von integrierten Schaltungen und gedruckten Schaltungsplatten werden immer komplizierter. Deshalb werden auch die Inhalte oder die Art der Funktionsprüfungen, die er forderlich sind, um eine korrekte Funktion festzustellen, immer detaillierter und komplizierter. Insbesondere ist die für die Funktionsprüfung benötigte Datenmenge bemerkenswert angestiegen. Im Ergebnis verlängert sich durch die zur Durchführung der Funktionsprüfung angewachsene Datenmenge die zur Übertragung dieser Daten von einer Prüfsteuereinheit zu einer Funktions prüfeinheit erforderliche Zeitdauer. Zusätzlich übersteigen die großen Datenmengen häufig die Speicherkapazität der Funk tionsprüfeinheit, und es ist nicht möglich, sämtliche Daten gleichzeitig zu speichern. In der Folge müssen die Speicherin halte während einer Prüfung derselben integrierten Schaltung oder gedruckten Schaltungsplatte ersetzt werden, bevor man mit dem nächsten Schritt weitergehen kann. Die für das Auffrischen der Speicherinhalte notwendige Übertragungszeit für die Prüf daten hat sich als einer der Hauptfaktoren, die den Durchsatz der Funktionsprüfung beeinflussen, ergeben.The functions of integrated circuits and printed Circuit boards are becoming more and more complicated. Therefore be also the content or the type of functional tests that he are always required to determine correct functioning more detailed and complicated. In particular, it is for the Function test required amount of data increased remarkably. The result is prolonged by the implementation of the Functional test, increased amount of data for transmission this data from a test control unit to a function unit of time required. In addition, exceed the large amount of data often the storage capacity of the radio tion test unit, and it is not possible to view all data save at the same time. As a result, the storage stop during a test of the same integrated circuit or printed circuit board to be replaced before using can go to the next step. The one for freshening up the memory contents necessary transmission time for the test Data has proven to be one of the main factors affecting throughput influence the functional test.

Bei diesen herkömmlichen Funktionsprüfverfahren und Vorrich tungen waren die Funktionsprüfdaten in dem Speicher einer Prüf einheit gespeichert und hatten dieselbe Struktur wie die in einer zentralen oder steuernden Datenspeichereinheit, beispiels weise in einem Plattenspeicher oder dergleichen, gespeicherten Daten. Die herkömmlichen Lösungen des oben beschriebenen Pro blems zielten auf die Erhöhung der Übertragungsrate längs des Datenübertragungswegs von der Steuereinheit zur Prüfeinheit, um damit die Übertragungszeit für die Prüfdaten zu verkürzen; oder man erhöhte die Kapazität des Speichers in der Prüfeinheit, um dadurch die Häufigkeit der Datenaustauschoperation zu ver ringern. Die Nachteile der herkömmlichen Lösungen sind hohe Kosten und nur eine kleine Verringerung in der Datenübertra gungszeitdauer.With these conventional functional test methods and devices was the functional test data in the memory of a test unit and had the same structure as that in a central or controlling data storage unit, for example as stored in a disk memory or the like Data. The conventional solutions of the Pro described above blems aimed at increasing the transmission rate along the Data transmission path from the control unit to the test unit, in order to shorten the transmission time for the test data; or you increased the capacity of the memory in the test unit, thereby verifying the frequency of the data exchange operation wrestle. The disadvantages of the conventional solutions are high Cost and only a small reduction in data transfer duration.

Es ist demgemäß Aufgabe der Erfindung, die oben geschilderten Probleme zu vermeiden und ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Kompression der von der Steuereinheit zur Prüfeinheit über tragenden Daten zwecks Verringerung der benötigten Datenüber tragungszeitdauer zu ermöglichen.It is accordingly an object of the invention, the above Avoid problems and a method and device to compress the from the control unit to the test unit carrying data in order to reduce the data required allow period of wear.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Merkmale der Pa tentansprüche gelöst. Zur Verringerung der Datenübertragungszeit werden die Prüfdaten vor ihrer übertragung von der Steuereinheit zur Funktionsprüfeinheit komprimiert. Gemäß einer bevorzugten Ausführungsart der Erfindung werden die von der Steuereinheit zur Prüfeinheit zu übertragenden Prüfdaten abhängig von Eigen schaften der Daten komprimiert. Genauer werden solche Teile der Funktionsprüfdaten mit geringer Änderungshäufigkeit ledig lich für die Datenänderungspunkte aufgezeichnet. Die auf diese Weise komprimierten Daten werden nach ihrer Expansion in der Prüfeinheit verwendet. Das Verfahren und die Vorrichtung zur Datenkompression verringert wesentlich die zur Übertragung der Daten zur Prüfeinheit benötigte Zeit.This object is achieved according to the features of Pa claims resolved. To reduce the data transmission time the test data are transferred from the control unit before they are transmitted compressed to the functional test unit. According to a preferred Embodiment of the invention are those of the control unit test data to be transferred to the test unit depending on Eigen data is compressed. Such parts become more precise of the functional test data with low frequency of changes Lich recorded for the data change points. The on this Data is compressed after its expansion in the manner Test unit used. The method and the device for Data compression significantly reduces the data transfer rate Test unit data Time required.

Typischer Weise enthalten die Prüfdaten Ausgangssignalwerte, erwartete Eingangssignalwerte, Ausgangssignalformen und Ein-/Ausgabezeitdaten. Von diesen Datenwerten haben die Ausga besignalformdaten und die Ein-/Ausgabezeitdaten eine kleinere Änderungshäufigkeit.The test data typically contain output signal values, expected input signal values, output waveforms and Input / output time data. The outputs of these data values waveform data and the input / output time data a smaller one Frequency of change.

Im Folgenden wird die Erfindung anhand der Zeichnung näher beschrieben. Es zeigen:In the following, the invention will be explained in more detail with reference to the drawing described. Show it:

Fig. 1 ein Blockdiagramm eines Prüfsystems, in dem die vor liegende Erfindung angewendet werden kann; Fig. 1 is a block diagram of a test system in which the present invention can be applied;

Fig. 2 ein Diagramm eines Beispiels der Struktur der Prüf daten in einem Funktionsprüfmodul; Fig. 2 is a diagram of an example of the structure of the test data in a Funktionsprüfmodul;

Fig. 3 ein Diagramm der Struktur von in Übereinstimmung mit einer Ausführungsart der Erfindung komprimierten Prüfdaten; und Fig. 3 is a diagram of the structure compressed in accordance with an embodiment of the invention test data; and

Fig. 4 ein Diagramm des Aufbaus einer Ausführungsart des Datendehners. Fig. 4 is a diagram of the construction of an embodiment of the data stretcher.

Das in Fig. 1 dargestellte Blockdiagramm weist eine Prüfeinheit 11 auf, die über eine Anzahl von (nicht gezeigten) Stiften oder Nadeln mit einem Prüfling (13), beispielsweise einer in tegrierten Schaltung oder einer gedruckten Schaltungsplatte, verbunden ist. Durch diese Stifte werden Prüfsignale dem Prüf ling 13 zugeführt und Antwortsignale empfangen. Die Antwortsig nale werden mit erwarteten Ausgangssignalwerten für den jewei ligen Prüfling verglichen. Es soll bemerkt werden, daß die Art und Weise der physikalischen Verbindung zwischen Prüfeinheit 11 und Prüfling 13 und der zur Erzeugung der Prüfsignale und zum Empfang der Antwortsignale dienende Schaltungsaufbau für sich bekannt sind, weshalb sie hier auch nicht näher erläutert werden. Weiterhin ist zu bemerken, daß bei der bevorzugten Ausführungsart sämtliche Signale digitale Signale sind.The block diagram shown in FIG. 1 has a test unit 11 which is connected to a test object ( 13 ), for example an integrated circuit or a printed circuit board, via a number of pins or needles (not shown). Through these pins, test signals are supplied to the test object 13 and response signals are received. The response signals are compared with expected output signal values for the respective test object. It should be noted that the manner of the physical connection between the test unit 11 and the test object 13 and the circuit structure used to generate the test signals and to receive the response signals are known per se, which is why they are not explained in more detail here. It should also be noted that in the preferred embodiment all signals are digital signals.

Die Prüfeinheit 11 in Fig. 1 enthält Funktionsprüfmodule 111, 113 und 115, jeweils für jeden Stift oder für Stiftgruppen. Die Anzahl der Funktionsprüfmodule ist nur beispielhaft und weitere Funktionsprüfmodule sind hinzufügbar. Zur Ausführung einer ausführlichen Prüfung kann jeder Funktionsprüfmodul seine Ein- und Ausgangssignale zu den Zeitpunkten gegebener Taktsig nale modifizieren. Zu diesem Zweck speichert jeder Funktions prüfmodul Funktionsprüfdaten für eine gegebene Anzahl von Takt perioden in seinem eigenen Speicher. Die Funktionsprüfdaten für eine Taktperiode setzen sich aus Prüfsignalwerten (Ausgangs werten) und erwarteten Antwortsignalwerten (erwarteten Eingangs werten), einem Ausgangssignalformat und einer Ein-/Ausgabezeit zahl oder -nummer, das heißt, einem Zeiger für einen Ein-/Ausgabezeitspeicher, der Zeitsteuerinformationen speichert zusammen. Die Funktionsprüfdaten definieren zusammen mit den Inhalten des Zeitspeichers auf den eine bestimmte Zeitzahl zeigt die Ein-/Ausgabesignale für eine Taktperiode. Die Daten struktur der Funktionsprüfdaten für einen Funktionsprüfmodul ist in Fig. 2 dargestellt. Diese Daten sind in einem in jedem Modul befindlichen Speicher gespeichert. The test unit 11 in FIG. 1 contains function test modules 111 , 113 and 115 , each for each pin or for pin groups. The number of function test modules is only an example and further function test modules can be added. To carry out a detailed test, each function test module can modify its input and output signals at the times of given clock signals. For this purpose, each function test module stores function test data in its own memory for a given number of clock periods. The functional test data for a clock period is composed of test signal values (output values) and expected response signal values (expected input values), an output signal format and an input / output time number or number, that is to say a pointer for an input / output time memory which stores timing control information together. The function test data together with the contents of the time memory on which a certain number of times shows the input / output signals for a clock period. The data structure of the function test data for a function test module is shown in FIG. 2. This data is stored in a memory in each module.

Gemäß der in Fig. 2 dargestellten Ausführungsart erfolgt die Datenkompression aufgrund der Erkenntnis, daß unter den Daten elementen die Änderungshäufigkeiten im Format der Ausgabesignale und der Ein-/Ausgabezeitzahl viel geringer sind, als die Ände rungshäufigkeiten des Prüfsignals (Modul-Ausgangssignal) oder der erwarteten Antwortsignalwerte. Hier bedeutet die Änderungs häufigkeit die Häufigkeit mit der die Digitalsignale ihren logischen Zustand ändern, das heißt von logisch "Eins" nach logisch "Null" und umgekehrt wechseln. Dabei muß bemerkt werden, daß die Prüfsignalwerte und die erwarteten Antwortsignalwerte binäre Darstellungen der tatsächlich ausgegebenen Signale oder der als Eingangssignale über die Prüfstifte erwarteten Werte. Somit ist die Wahrscheinlichkeit, daß sich diese Werte mit jeder Taktperiode ändern, hoch. Das Format der Ausgangssignale und die Ein-/Ausgabezeitzahl ändern sich nur mit geringer Fre quenz. Diese Eigenschaft, nämlich die kleine Änderungsfrequenz rührt daher, daß das Format des Ausgangssignals die Art oder den Typ der Impulsform angibt, die an den Prüfstiften tatsäch lich erzeugt wird und daß die Ein-/Ausgabezeitzahl ein Zeiger für den Ein-/Ausgabezeitspeicher ist, der Daten speicher, die den Zeitpunkt angeben, an dem die Flanken der Ein-/Ausgabeim pulse an den Prüfstiften relativ zum Taktsignal auftreten oder auftreten sollten. Die Funktionsprüfung wird gewöhnlich über mehrere Taktperioden mit festgelegtem Format des Ausgangssignals und festgelegter Ein-/Ausgabezeitzahl fortgesetzt.According to the embodiment shown in Fig. 2, the data compression takes place on the basis of the knowledge that the frequency of changes in the format of the output signals and the number of input / output times among the data elements is much lower than the frequency of changes of the test signal (module output signal) or the expected Response signal values. Here the change frequency means the frequency with which the digital signals change their logical state, that is, from logical "one" to logical "zero" and vice versa. It should be noted that the test signal values and the expected response signal values are binary representations of the signals actually output or of the values expected as input signals via the test pins. Thus, the probability that these values change with every clock period is high. The format of the output signals and the number of input / output times change only with a low frequency. This characteristic, namely the small frequency of change, stems from the fact that the format of the output signal indicates the type or type of pulse shape that is actually generated on the test pins and that the number of input / output times is a pointer for the input / output time memory which Data memory that indicates the point in time at which the edges of the input / output pulses on the test pins occur or should occur relative to the clock signal. The functional test is usually continued over several clock periods with a fixed format of the output signal and a fixed number of input / output times.

Auf der Basis der oben geschilderten Eigenschaften werden er findungsgemäß das Format des Ausgangssignals und die Ein-/Ausgabezeitzahl, die die genannten kleinen Änderungshäu figkeiten haben, nicht in ihrer ursprünglichen Form, sondern als Attribute außerhalb der Prüfeinheit behandelt, das heißt in einer Datenspeichereinheit 17 und einem Computer 15, wie Fig. 1 zeigt. Das heißt, daß die die Funktionsprüfdaten ent haltende Information nicht über alle Taktzeitperioden beibehal ten wird, sondern statt dessen nur die Information beibehalten wird, die zu solchen Zeitpunkten gehört, an denen das Format des Ausgangssignals und die Ein-/Ausgabezeitzahl wechseln. Die beibehaltene Information (Attribute) wird in der Prüfeinheit 11 in eine Form "für jede Taktperiode" gedehnt.On the basis of the properties described above, it is treated according to the invention the format of the output signal and the number of input / output times, which have the abovementioned small changes, not in their original form, but as attributes outside the test unit, that is to say in a data storage unit 17 and a computer 15 , as shown in FIG. 1. This means that the information containing the functional test data is not retained over all cycle time periods, but instead only the information is retained which belongs to those times at which the format of the output signal and the number of input / output times change. The retained information (attributes) is expanded in the test unit 11 into a form "for every clock period".

Für einen Prüfling, der eine Vielzahl von Taktsignalen hat, wird die Periode des Grundtaktes der Prüfeinheit 11 als der größte gemeinsame Teiler der Perioden des Taktsignals des Prüf lings gewählt. In dieser Situation enthält jeder Posten beibe haltener Informationen (jedes Attribut) außerdem Information über den Startpunkt des entsprechenden Takts und eine Ganzzahl, die das Verhältnis zwischen der Periodendauer des entsprechenden Takts und der des Grundtakts angibt.For a device under test that has a plurality of clock signals, the period of the basic clock of the test unit 11 is chosen as the largest common divisor of the periods of the clock signal of the device under test. In this situation, each item of retained information (each attribute) also contains information about the start point of the corresponding measure and an integer indicating the relationship between the period of the corresponding measure and that of the base measure.

Zusätzlich kann die erfindungsgemäße Ausführungsform, wenn sich dieselbe Folge der beibehaltenen Informationen (Attribute) wiederholt, die Redundanz durch Verwendung eines Zwischenattri butfaktors verringern, der die Anzahl der Wiederholungen der Folge kennzeichnet. Dadurch, daß nicht die Folge in der benö tigten Anzahl in der Datenspeichereinheit 17 gespeichert wird, werden die Daten weiterhin komprimiert.In addition, if the same sequence of retained information (attributes) is repeated, the embodiment of the present invention can reduce redundancy by using an intermediate attribute factor that indicates the number of times the sequence is repeated. Because the sequence is not stored in the required number in the data storage unit 17 , the data is further compressed.

Die folgende Tabelle zeigt ein Beispiel der Datenstrukturen der Attribute und Zwischenattribute. The following table shows an example of the data structures of the attributes and intermediate attributes.

Tabelle 1 Table 1

Fig. 3 zeigt ein Beispiel, wie die Funktionsprüfdaten in der Datenspeichereinheit 17 unter Verwendung solcher Attribute und Zwischenattribute gespeichert sind. In dem Speicherbereich 33 für die Daten größerer Änderungshäufigkeit ist eine Folge von Prüfsignalwerten (Ausgabewerten) und erwarteten Antwortwerten (erwartete Eingabewerte) für jede Taktzeitdauer gespeichert. Diese Werte entsprechen den Teilen der Funktionsprüfdaten, die eine höhere Änderungshäufigkeit aufweisen. Andererseits sind solche Teile der Funktionsprüfdaten, die eine geringe Änderungs häufigkeit haben, in einem Speicherbereich 31 für Daten in geringerer Änderungshäufigkeit in Form von Attributen und Zwi schenattributen gespeichert. Es soll daran erinnert werden, daß die Zwischenattribute Wiederholungen der Attribute darstel len. Fig. 3 shows an example of how the Funktionsprüfdaten in the data storage unit 17 using such attributes and intermediate attributes are stored. A sequence of test signal values (output values) and expected response values (expected input values) for each clock period is stored in the memory area 33 for the data with a greater frequency of changes. These values correspond to the parts of the functional test data that have a higher change frequency. On the other hand, those parts of the function test data which have a low change frequency are stored in a storage area 31 for data with a low change frequency in the form of attributes and intermediate attributes. It should be remembered that the intermediate attributes represent repetitions of the attributes.

Die "Adresse des letzten Attributs" (siehe Tabelle 1) in dem Zwischenattribut gibt die Adresse des letzten Attributs unter den diesem Zwischenattribut zugehörigen Attributen an. Die "letzte Adresse" in dem Attribut gibt die Adresse der letzten Daten in der Folge der Ausgangssignale und der erwarteten Ein gangsdaten in dem Speicherbereich 33 an, zu denen dieses Attri but gehört. Die Adressen können absolute Adressen oder Werte relativ zu einer bestimmten Bezugsadresse angeben, beispiels weise zu einer Kopfadresse des Abschnitts oder des Attributs selbst.The "address of the last attribute" (see Table 1) in the intermediate attribute indicates the address of the last attribute among the attributes associated with this intermediate attribute. The "last address" in the attribute indicates the address of the last data in the sequence of the output signals and the expected input data in the memory area 33 to which this attribute belongs. The addresses can indicate absolute addresses or values relative to a specific reference address, for example to a header address of the section or of the attribute itself.

Im Betrieb werden die vom Computer 15 aus der Datenspeicherein heit 17 gelesenen Funktionsprüfdaten zu der Funktionsprüfeinheit 11 in der in Fig. 3 dargestellten Form übertragen. Dann werden die Daten in das in Fig. 2 gezeigte Format durch den Datendeh ner 35 in der Prüfeinheit 11 gedehnt. Das heißt, daß die Daten so gedehnt werden, daß ein Ausgangswert, ein Ausgangssignalfor mat, ein erwarteter Eingangswert und eine Ein-/Ausgabezeitnummer für jede Taktperiode vorhanden sind. Im Einzelnen werden die Daten, die in dem Attribut enthalten sind, welches solche Zeit punkte angibt, wo entweder das Format des Ausgangssignals oder die Ein-/Ausgabezeitnummer wechseln, gedehnt, damit sie sich auf jede zugehörige Taktperiode beziehen und dann zu den bereits für die jeweilige Taktperiode vorhandenen Funktionsprüfdaten hinzugefügt. Die so gedehnten Funktionsprüfdaten werden in dem Funktionsprüfdatenspeicher 37 innerhalb des Moduls gespeichert, der für die folgende Funktionsprüfung verwendet wird.In operation, the functional test data read by the computer 15 from the data storage unit 17 are transmitted to the functional test unit 11 in the form shown in FIG. 3. Then, the data is expanded into the format shown in FIG. 2 by the data stretcher 35 in the test unit 11 . That is, the data is expanded so that there is an output value, an output signal format, an expected input value, and an input / output time number for each clock period. Specifically, the data contained in the attribute indicating times when either the format of the output signal or the input / output time number change is expanded so that it relates to each associated clock period and then to that already for the Existing functional test data added to the respective cycle period. The functional test data thus expanded is stored in the functional test data memory 37 within the module which is used for the following functional test.

Fig. 4 stellt ein vorteilhaftes Ausführungsbeispiel des Aufbaus des Datendehners 35 dar. Das vom Computer 15 über einen Datenbus 401 zugeführte Zwischenattribut wird in einem Zwischenattribut register 403 gespeichert. Nach dem Zwischenattribut kommt eine Folge von Attributen, die über den Datenbus 401 eingegeben und in einem Attributspeicher 405 gespeichert werden. Dieses ge trennte Abspeichern der Attribute und der Zwischenattribute ermöglicht die vom Zwischenattribut befohlene Dehnung. Die Dehnung wird mittels eines Offsetaddierers 409, einer Verglei cherschaltung 411, eines Attributspeicheradressenzählers 413 und eines Taktadressenzählers 421 gesteuert von einer Steuerung 407 ausgeführt. Fig. 4 illustrates an advantageous embodiment of the construction of the expander 35. The supplied from the computer 15 via a data bus 401 between register attribute is stored in a temporary attribute 403rd After the intermediate attribute comes a sequence of attributes, which are input via the data bus 401 and stored in an attribute memory 405 . This separate storage of the attributes and the intermediate attributes enables the expansion commanded by the intermediate attribute. The stretching is carried out by a controller 407 by means of an offset adder 409 , a comparator circuit 411 , an attribute memory address counter 413 and a clock address counter 421 .

Mit dieser Anordnung zeigt der Attributspeicheradressenzähler 413 auf das momentan aktive Attribut im Attributspeicher. Das gekennzeichnete Attribut und die Prüfsignalwerte (Ausgangswerte) pro Taktperiode sowie die erwarteten Antwortsignalwerte (erwar tete Eingangswerte), die ebenfalls über den Datenbus 401 zuge führt werden, werden vom Datenumsetzer 415 zusammengesetzt. Die Ergebnisse dieser Synthese, das sind die vollständig gedehn ten Funktionsprüfdaten, werden in den Speicherplatz des Funk tionsprüfdatenspeichers 37 (Fig. 3) eingeschrieben, zu dessen Adresse der Adressenzähler 417 zeigt. Hier muß bemerkt werden, daß sich die Eingriffe des Prüfsteuercomputers 15 während der Datenübertragung durch anfängliches Senden der Attribute zum Speicher, um darin die Attribute bis zu dessen vollem Fassungs vermögen zu akkumulieren, minimieren läßt.With this arrangement, the attribute memory address counter 413 points to the currently active attribute in the attribute memory. The identified attribute and the test signal values (output values) per clock period and the expected response signal values (expected input values), which are also supplied via the data bus 401 , are put together by the data converter 415 . The results of this synthesis, that is the fully stretched functional test data, are written into the memory location of the functional test data memory 37 ( FIG. 3), to the address of which the address counter 417 points. It should be noted here that the interventions of the test control computer 15 during the data transmission can be minimized by initially sending the attributes to the memory in order to accumulate the attributes therein until it is completely full.

Obwohl der jeweilige Reduktionsgrad der Prüfdatenmenge von der tatsächlichen Häufigkeit oder der Menge der Daten mit geringerer Änderungshäufigkeit abhängt, ergaben vom Erfinder ausgeführte Experimente eine Kompression auf ein Sechstel. Eine weitere Kompression auf ein Fünftel wurde dadurch erzielt, daß in die Attribute die Information über mehrere Takte für den Prüfling als Taktverhältnisse eingeführt wurde. Durch Kombination dieser Kompressionen wurde eine maximale Kompression auf ein Dreißig stel erreicht. Zusätzlich konnte in Situationen, die sehr viele Wiederholungen von Attributen unter Verwendung der Zwischenat tribute erforderten, eine maximale Kompression auf einige Hun dertstel erzielt werden.Although the respective degree of reduction of the test data amount from the actual frequency or amount of data with less Frequency of change depends on the inventor made Experiment with compression to a sixth. Another Compression to a fifth was achieved in that Attributes the information about several cycles for the test object was introduced as clock ratios. By combining this Compressions became a maximum compression to a thirty stel reached. In addition, in situations that could be very many Repetitions of attributes using the intermediate attribute tributes required maximum compression to a few hun most likely to be achieved.

Die Erfindung ist selbstverständlich nicht auf die oben be schriebenen Ausführungsarten beschränkt. Beispielsweise können verschiedene Attribute, die sich von den obengenannten unter scheiden, verwendet werden. Die Datenstruktur nach Ausführung der Kompression ist nicht auf die obengenannte beschränkt. Außerdem kann die Dehnung der komprimierten Daten programmge steuert erfolgen. Statt die Dehnung in der Prüfeinheit auszu führen, läßt sich ein Aufbau ermöglichen, bei dem die dem Prüf ling zuzuführenden Daten oder die mit den Ausgangssignalen des Prüflings zu vergleichenden Daten direkt aus den komprimierten Daten erzeugt werden und zwar mit einer ähnlichen Anordnung wie sie Fig. 4 zeigt.The invention is of course not limited to the embodiments described above. For example, various attributes that differ from the above can be used. The data structure after the compression is performed is not limited to the above. In addition, the expansion of the compressed data can be program controlled. Instead of executing the expansion in the test unit, a structure can be made possible in which the data to be supplied to the test object or the data to be compared with the output signals of the test object are generated directly from the compressed data, and with a similar arrangement as that shown in FIG. 4 shows.

Da, wie oben im einzelnen beschrieben, die vorliegende Erfindung eine schnelle Übertragung der Funktionsprüfdaten zur Funktions prüfeinheit durch Kompression von Teilen der Prüfdaten, die eine große Redundanz aufweisen, gestattet, läßt sich die zur Prüfung einer integrierten Schaltung oder einer gedruckten Schaltungsplatte nötige Zeit merklich verringern, wobei die Erhöhung der Kosten des Prüfsystems minimal bleibt. Außerdem können mit dem oben beschriebenen Verfahren und der oben be schriebenen Vorrichtung die Prüfdaten in dem Funktionsprüfmodul längere Zeit gespeichert bleiben, da die erzeugten Prüfdaten in komprimierter Form gespeichert und daraus direkt die zum Prüfvorgang nötigen Daten erzeugt werden. Diese Anordnung er laubt deshalb eine weitere Verringerung der zur Prüfung eines komplizierten Prüflings nötigen Zeit.Because, as described in detail above, the present invention a quick transfer of the function test data to the function test unit by compressing parts of the test data, the have a large redundancy, allowed to Testing an integrated circuit or a printed circuit Noticeably reduce the time required for the circuit board, the Increasing the cost of the testing system remains minimal. Furthermore can be with the method described above and the above wrote device the test data in the function test module remain stored for a long time because the test data generated stored in compressed form and directly from it to the Necessary data are generated. This arrangement he therefore permits a further reduction in the time needed to consider a complicated test piece required time.

Claims

1. Method for compressing test data in a functional test facility that carries out a functional test of a test object, characterized by the following steps:

- Applying a sequence of digital signals to the DUT and receiving response signals from the DUT to perform a functional test, the digital signals being generated from stored functional test signals;
- Storage of function test data for carrying out the function test;
- reading the stored function test data; and
- Transferring selected parts of the function test data to generate the sequence of the digital signals in relation to a predetermined time unit, parts of the function test data with a high frequency of change being stored for each predetermined time unit and parts of the function test data with a low frequency of change being stored at any point in time where a data change occurs .

2. The method according to claim 1, characterized by a further step which is the out selected parts of the stored function test data implements that all parts of the functional test data for each specified time unit are available.

3. The method according to claim 1 or 2, characterized in that the parts of the functional test data with little change frequency are stored as attributes, with an attri but is generated at every data change time.

4. The method according to claim 3, characterized in that each of the attributes a test to be supplied to the test object signal value and an expected response signal value for a contains the response signal to be received by the DUT, where the expected response signal value that is working properly represents the examinee.

5. The method according to claim 4, characterized in that an intermediate attribute is also stored, which repeating a sequence of with the intermediate attribute associated attributes.

6. Device for compressing test data in a function test device, which subjects a test item to a functional test, characterized by

- A test unit ( 11 ) which supplies a sequence of digital signals to the test object ( 13 ) and receives response signals from the latter for performing the functional test, the test unit having a memory which stores functional test data from which the digital signals are generated;
- a data storage unit ( 17 ) which stores function test data for performing the function test; and
- A test control unit ( 15 ) which reads the functional test data from the data storage unit ( 17 ) and supplies selected parts thereof to the test unit ( 11 ) in relation to a predetermined time unit, parts of the functional test data having a high frequency of change in the memory for each predetermined one Unit of time are stored and parts of the function test data with a low frequency of change are stored in the memory at any point in time at which a data change occurs.

7. The device according to claim 6, characterized in that an expansion device is also provided which implements the functional test data in such a way that all parts of the Function test data for each specified time unit are available.

8. The device according to claim 6 or 7, characterized in that the parts of the functional test data that make a slight change frequency have been saved as attributes, whereby an attribute is generated for each data change point becomes.

9. The device according to claim 8, characterized in that each of the attributes a test to be supplied to the test object signal value and one to be received by the device under test contains expected response signal value, where the expected Response signal value for the correctly functioning test object is representative.

10. The device according to claim 9, characterized in that the test unit is synchronized with a cycle and has an input / output time memory which has a plurality of memories places that each contain information that indicates the time of the test signal relative to the clock, and each of the attributes has an input / output time number, which on one of the memory locations in the Input / output time memory shows.

11. The device according to claim 10, characterized in that the data storage unit also an intermediate attribute that stores a repetition of a sequence of with the Intermediate attribute associated attributes specified.

12. The apparatus according to claim 6, characterized in that

- the test unit has several function test modules and several pins,
- each functional test module is associated with a number of pins in order to supply a sequence of the digital signals to the pins and to receive the response signals from the test object, and
- Each function test module has a memory device which stores the function test data in relation to the pens belonging to the respective function test module.

13. The apparatus according to claim 12, characterized in that the parts of the information that make a slight change ability in the storage device as attributes which are stored for individual data change points of the parts of the information that make a slight change ability to be generated.

14. The apparatus according to claim 13, characterized in that each of the attributes one over the pens to the examinee test signal value to be supplied and one from the device under test expected response signal to be received via the pins value, where the expected response signal value for the correctly functioning test object is representative.

15. The apparatus according to claim 14, characterized in that the function test modules synchronized with a clock and each of the functional test modules is one I / O memory that has multiple memories places, each information about the time of the test signals relative to the clock, and each of the attributes has an input / output time number, which on one of the memory locations of the Shows input / output time memory.

16. The apparatus according to claim 15, characterized in that the data storage unit ( 17 ) also stores an intermediate attribute which identifies a repetition of a sequence of attributes associated with the intermediate attribute.