DE3844312A1 - Device and method and a circuit for an appliance for controlling the quality of technical films - Google Patents

Device and method and a circuit for an appliance for controlling the quality of technical films

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59—Transmissivity
    • G01N21/5907—Densitometers

Abstract

The invention relates to a device for checking the quality of exposure material, in particular of technical films or X-ray films, with the aid of an exposure device constructed as sensitometer, which is combined with a densitometer device. In this case, on the one side of a work surface (50) a row of (a number of) luminous sensitometer areas (55) is arranged which are bounded by masks (17) and illuminated by at least one light source (19). On the other side of the work surface (50) a row of (a number of) densitometer light-entry openings (58), bounded by similar masks (57) and in mirror-image symmetry with respect to the luminous sensitometer areas (55), is arranged with photoelectric measuring cells (6, 7, 8, 9) located below it. The lid (51) which covers the work surface (50) in the closed state has a foamed plastic insert (59) in which a densitometer lamp system (60) is arranged. A liquid crystal display (38) which has a plurality of display fields for simultaneously representing a plurality of measured values is furthermore arranged in the work surface (50). <IMAGE>

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Qualitätsprüfung von Belichtungsmaterial, insbesondere von technischen Filmen oder Röntgenfilmen, mit Hilfe einer als Sensitometer ausgebildeten Belichtungseinrichtung. Sie betrifft ferner eine Schaltung der Vorrichtung und ein Verfahren zur Qualitätsprüfung von Belich­ tungsmaterial, insbesondere von technischen Filmen oder Röntgen­ filmen, mit Hilfe einer als Sensitometer ausgebildeten Belich­ tungseinrichtung und einer nach der Erfindung kombinierten Densi­ tometereinrichtung.The invention relates to a device for quality testing of Exposure material, in particular technical films or X-ray films using a sensitometer Exposure device. It also relates to a circuit of the Device and a method for quality control of Belich tion material, in particular technical films or X-rays film with the help of a Belich designed as a sensitometer tion device and a combined according to the invention densi tometer device.

Es sind bereits zahlreiche Verfahren zur Messung der Farbdichte oder der Graustufen eines Film bekannt. Zur Bestmmung der Graustufen oder der Gradation eines Schwarz-Weiß-Films ist es bisher erforderlich, einen sogenannten Graukeil aus dem zu messen­ den Film anzufertigen. Ein Graukeil stellt ein Lichtfilter von grauer Farbe mit kontinuierlich oder stufenweise ansteigender Absorption dar.There are already numerous methods for measuring color density or the grayscale of a movie. To determine the It is grayscale or the gradation of a black and white film previously required to measure a so-called gray wedge from the to make the film. A gray wedge represents a light filter from gray color with continuously or gradually increasing Absorption.

Als Gradation eines Films ist die Beziehung zwischen der Belich­ tung und der in der photographischen Schicht erstellbaren Schwär­ zung zu verstehen. Da die Augenempfindlichkeit logarithmisch verläuft, ist ein herzustellender Graukeil mit einem logarith­ mischen Schwärzungsverlauf aufzubauen. Es kommen jedoch auch lineare Meßverfahren zur Anwendung.As the gradation of a film is the relationship between the Belich device and the density that can be created in the photographic layer to understand the tongue. Because eye sensitivity is logarithmic is a gray wedge with a logarith mix build up blackening. However, it also comes linear measurement methods for use.

Zur Messung der Gradation ist es bekannt, Densitometer zu verwen­ den. Diese arbeiten entweder mit Photozellen, Photoelementen oder durch Vergleich mit einem geeichten Meßgraukeil, wobei die eine Gesichtshälfte durch das vom Prüfling durchgelassene Licht und die andere durch das von der eingestellten Stelle des Meß­ keils durchgelassene Licht erhellt ist. Der Meßkeil wird ver­ schoben, bis beide Gesichtshälften gleich hell erscheinen.It is known to use densitometers to measure gradation the. These work either with photocells or photo elements or by comparison with a calibrated gray wedge, the one half of the face through the light transmitted by the test object  and the other by the set point of the measurement light let through is illuminated. The measuring wedge is ver until both halves of the face appear equally bright.

Aus der Gradationskurve oder der Kennlinie eines Films lassen sich Kennwerte ermitteln, welche für die Güte, die Brauchbarkeit und die Einsatzmöglichkeit eine ausreichende Aussagekraft haben.Leave out the gradation curve or the characteristic curve of a film determine characteristic values, which for the quality, the usability and the possible uses have sufficient informative value.

Die Gradation eines Films und damit seine Kennwerte unterliegen u. a. der Veränderung durch Alterung und der chemischen Entwick­ lung, welche ihrerseits von der Güte der verwendeten Chemikalien sowie der Anzahl der Bäder abhängt. Durch eine entsprechende Belichtung können Veränderungen der Gradation unter Umständen ausgeglichen werden. Ein solcher Ausgleich durch eine verstärkte Belichtung ist insbesondere dann nicht zulässig und gefährlich, wenn es sich um Röntgenfilme handelt. Wird eine verstärkte Strah­ lendosis zum Ausgleich eines fehlerhaften Films eingesetzt, so erhält ein Patient aus technischen Mängeln des Filmmaterials eine erhöhte Strahlenbelastung, welche vermeidbar ist. Aus diesen Gründen ist es besonders wichtig, die Gradation eines jeden Films durch fortlaufende Messungen definierter Proben zu bestim­ men. Hierbei ist es bedeutungsvoll, daß diese Messungen sicher, genau und schnell auch von ungeübten Personen durchgeführt werden können.The gradation of a film and thus its characteristics are subject to u. a. change due to aging and chemical developments lung, which in turn depends on the quality of the chemicals used as well as the number of baths. By an appropriate Exposure can change gradation under certain circumstances be balanced. Such a compensation through an increased Exposure is particularly not permitted and dangerous, if it is X-ray films. Becomes a reinforced beam lendose used to compensate for a defective film, so a patient receives from technical defects in the footage an increased radiation exposure, which is avoidable. From these It is particularly important to base the gradation of everyone To determine films by continuous measurements of defined samples men. It is important that these measurements are safe, can be carried out accurately and quickly even by inexperienced people can.

Bei den bisher bekannten Methoden wird ein auf einer Filmprobe hergestellter Graukeil durch ein mit einer Photozelle ausgerü­ stetes Gerät geführt, welches die jeweiligen Meßwerte anzeigt. Diese müssen von der Bedienungsperson einzeln abgelesen und graphisch ausgewertet werden. Hierzu wird eine Gradationskurve gezeichnet, aus der die Kennwerte, wie der Grauschleier, die Empfindlichkeit, die Gradation und die Endschwärzung ermittelt werden. Zur Ermittlung eines Toleranzbandes der verschiedenen Filme sind diese Werte noch in einer Tabelle festzuhalten und untereinander zu vergleichen. Typische Meßfehler bei dieser bekannten Methode sind eine ungenaue Positionierung der zu messen­ den Graustufe unter der Photozelle, ferner Ablesefehler und Fehler bei der graphischen Auswertung. Diese Fehler können sich nicht nur addieren, sondern auch multiplizieren, insbesondere bei Berücksichtigung logarithmischer Größen.In the previously known methods, one is on a film sample manufactured gray wedge by a equipped with a photocell constant device, which displays the respective measured values. These must be read and read individually by the operator be evaluated graphically. This is done using a gradation curve drawn from which the characteristic values, such as the gray veil, the Sensitivity, gradation and final blackening determined will. To determine a tolerance band of the different  Films, these values can still be recorded in a table and to compare with each other. Typical measurement errors in this known method are to measure the inaccurate positioning of the the gray level under the photocell, further reading errors and Graphic evaluation error. These mistakes can be not only add, but also multiply, especially taking logarithmic variables into account.

Zur Lösung dieses Problems ist es aus der DE-OS 36 41 846 bekannt, die Kennlinie oder Gradationskurve automatisch aufzunehmen und die Kennwerte aus Meßwerten automatisch zu berechnen und an­ zuzeigen. Meß- und Handhabungsfehler der Bedienungsperson werden dabei nahezu ausgeschlossen.To solve this problem, it is known from DE-OS 36 41 846 automatically record the characteristic curve or gradation curve and to automatically calculate the characteristic values from measured values and to to show. Measurement and handling errors of the operator almost impossible.

Um endgültige Aussagen über die Qualität und damit Brauchbarkeit eines technischen Films oder Röntgenfilms treffen zu können, ist es jedoch erforderlich, danach eine Densitometermessung durch­ zuführen.To make definitive statements about the quality and thus usability of a technical film or X-ray film however, it is necessary to carry out a densitometer measurement afterwards respectively.

Zur Bestimmung der Qualität eines Films ist es daher bisher notwendig, zwei völlig voneinander getrennte Messungen durch­ zuführen, wozu auch zwei getrennte Meßgeräte benötigt wurden. Die hierzu benötigten Geräte sind nicht nur aufwendig und damit teuer, sondern ihre Bedienung ist auch komplex, insbesondere unter Berücksichtigung der Tatsache, daß diese Messungen in der Dunkelkammer durchgeführt werden müssen.So far, it has been used to determine the quality of a film necessary to take two completely separate measurements feed, which also required two separate measuring devices. The devices required for this are not only complex and therefore expensive, but their operation is also complex, in particular taking into account the fact that these measurements in in the darkroom.

Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine preiswerte Vorrichtung mit einer entsprechenden Schaltung und ein Verfahren vorzuschlagen, mit deren Hilfe eine Qualitätskontrolle eines Films der eingangs genannten Art in einfacher und sicherer Weise durchgeführt werden kann. The invention is therefore based on the object of an inexpensive Device with a corresponding circuit and a method to propose a quality control of a Films of the type mentioned in a simple and safe manner can be carried out.  

Die Lösung dieser Aufgabe besteht nach der Erfindung darin, daß eine Vorrichtung vorgeschlagen wird, welche folgende Merkmale aufweist:According to the invention, this object is achieved by that a device is proposed which has the following features having:

  • a) eine Arbeitsebene auf einer durch einen Deckel abdeckbaren Gehäuseoberfläche zur Auflage und Bearbeitung des zu prüfen­ den Films und Mitteln zu seiner Justierung;a) a working level on a coverable by a lid Check the surface of the housing to support and process the the film and the means of adjusting it;
  • b) eine auf der einen Seite der Arbeitsebene angeordnete Reihe von durch Masken begrenzter Sensitometer-Leuchtflächen, welche durch mindestens eine Lichtquelle ausgeleuchtet werden, die im Innern des Gehäuses angeordnet und deren Lichtstärke und Leuchtzeit steuerbar ausgebildet ist;b) a row arranged on one side of the working level of sensitometer illuminated areas delimited by masks, which is illuminated by at least one light source are arranged inside the housing and their Luminous intensity and lighting time is designed to be controllable;
  • c) eine auf der anderen Seite der Arbeitsebene angeordnete Reihe von durch gleichartige Masken und in spiegelbildlicher Zuordnung zu den Sensitometer-Leuchtflächen begrenzter Densitometer-Lichteinfallsöffnungen mit darunter befind­ lichen Fotomeßzellen,c) one on the other side of the working level Set of masks of the same type and in mirror image Assignment to the sensitometer illuminated areas is more limited Densitometer light incidence openings with below photometric cells,
  • d) einen Deckel, der die Arbeitsebene im geschlossenen Zustand überdeckt, in dem sich eine Schaumstoffeinlage mit einem Densitometer-Lampensystem befindet, welches den Densito­ meter-Lichteinfallsöffnungen im geschlossenen Zustand des Deckels geometrisch zugeordnet ist, undd) a lid covering the working level when closed covered, in which a foam insert with a Densitometer lamp system is located, which is the Densito meter light openings in the closed state of the Lid is geometrically assigned, and
  • e) eine in der Arbeitsebene liegende Flüssigkristallanzeige mit mehreren Anzeigefeldern zur gleichzeitigen Darstel­ lung mehrerer Meßwerte.e) a liquid crystal display lying in the working plane with several display fields for simultaneous display development of several measured values.

Weitere vorteilhafte Ausführungsformen sind in den Unteransprüchen angegeben.Further advantageous embodiments are in the subclaims specified.

Die weitere Lösung der gestellten Aufgabe besteht in dem an­ gegebenen Verfahren, bestehend aus folgenden Verfahrensschrit­ ten:The further solution to the task is to given process, consisting of the following process step ten:

  • α. ein zu prüfender Film wird mit Hilfe von vier Leuchtflächen mit unterschiedlichen und definierten Lichtmengen beauf­ schlagt, wobei die definierten Lichtmengen vier repräsenta­ tive Meßpunkte bzw. Graustufen auf der Gradationskurve des zu messenden Films erzeugen, α . A film to be tested is exposed to different and defined amounts of light with the aid of four luminous surfaces, the defined amounts of light producing four representative measuring points or gray levels on the gradation curve of the film to be measured,
  • β. danach wird der Film in der üblichen und bekannten Weise entwickelt und dem Meßgerät spiegelbildlich zugeführt, so daß die erzeugten vier Graustufen zwischen dem auf dem Gerätedeckel befindlichen Densitometer-Lampensystem und den auf der Arbeitsebene befindlichen Densitometer-Lichtein­ fallsöffnungen zu liegen kommen, woraufhin die Graustufen mittels Fotozellen ausgemessen und deren elektrische Meßwerte gespeichert und mit zuvor gespeicherten Normwerten verglichen und das Ergebnis angezeigt wird, wobei die von der Fotozelle aufgenommenen elektrischen Meßwerte logarithmiert und digi­ talisiert über mindestens einen steuerbaren Schalter jeweils einem Speicher zugeführt werden. β . then the film is developed in the usual and known manner and supplied to the measuring device in mirror image, so that the four gray levels generated between the densitometer lamp system located on the device lid and the densitometer light openings located on the working level come to lie, whereupon the gray levels by means of Measured photocells and their electrical measured values stored and compared with previously stored standard values and the result is displayed, the electrical measured values recorded by the photocell being logarithmized and digitized each fed to a memory via at least one controllable switch.

Schließlich wird die gestellte Aufgabe mit Hilfe einer Schaltung gelöst, welche eine Reihe von Fotozellen des Densitometers auf­ weist, die entsprechenden Lichtquellen zugeordnet sind. Diese sind jeweils mit logarithmischen Verstärkern verbunden, deren Ausgänge einen Schalter beaufschlagen, dessen Ausgang einem A/D-Wandler zugeführt ist, welcher seine Ausgangswerte prozes­ sorgesteuert einem Speichersystem zuleitet. Finally, the task posed with the help of a circuit solved, which a series of photocells of the densitometer on points, the corresponding light sources are assigned. These are each connected to logarithmic amplifiers whose Outputs act on a switch, the output of which one A / D converter is fed, which processes its output values routed to a storage system in a controlled manner.  

Weitere Ausführungsformen der Schaltung sind ebenfalls aus den Unteransprüchen ersichtlich.Further embodiments of the circuit are also shown in FIGS Subclaims can be seen.

Die Erfindung wird anhand der Zeichnungen näher erläutert. Hierbei zeigtThe invention is explained in more detail with reference to the drawings. Here shows

Fig. 1 ein Blockschaltbild der Vorrichtung nach der Erfindung; Fig. 1 is a block diagram of the device according to the invention;

Fig. 2 die Vorrichtung in perspektivischer Darstellung; Figure 2 shows the device in perspective.

Fig. 3 eine graphische Darstellung der Basislichtmenge und der sich anschließenden Lichtmenge, welche addiert die Lichtmenge für die Filmbelichtung ergeben, und Fig. 3 is a graphical representation of the amount of basic light and the subsequent amount of light, which add up to the amount of light for the film exposure, and

Fig. 4 eine Gradationskurve mit vier gemessenen Werten. Fig. 4 is a gradation curve with four measured values.

In dem Blockschaltbild nach Fig. 1 sind die Meßlichtquellen des Densitometers der Vorrichtung 1 bis 4 bezeichnet. Das von diesen Quellen ausgesandte Licht, welches durch Pfeile darge­ stellt ist, durchdringt den zu messenden Film 16 und wird durch die Fotozellen 6 bis 9 aufgefangen und in elektrische Energie umgewandelt. Der so entstehende Fotostrom gelangt in die logarith­ mischen Verstärker 10 bis 13, wobei jeder Ausgang a-d eines Verstärkers mit einem vom Prozessor 36 gesteuerten Schalter 41 verbunden ist. Eine weitere Lichtquelle 5, welche als Rotlicht­ quelle ausgebildet ist, beaufschlagt ebenfalls eine Fotozelle 9. Mit Hilfe dieser Rotlichtquelle ist es möglich festzustellen, ob der eingelegte Film 16 ein zu messender Film oder ein noch unbelichteter Film ist. Handelt es sich um einen noch unbelichte­ ten und unentwickelten Film, so bewirkt dieser eine größere Streuung und Absorption des Rotlichtes, so daß eine geringere Lichtmenge von der Fotozelle empfangen wird. Da der unbelichtete Film für das Spektrum der Rotlichtlampe unempfindlich ist, erfolgt auch keine Beeinflussung des Films. In the block diagram of Fig. 1, the measuring light sources of the densitometer of the device 1 to 4 are designated. The light emitted by these sources, which is represented by arrows, penetrates the film 16 to be measured and is collected by the photocells 6 to 9 and converted into electrical energy. The resulting photocurrent flows into the logarithmic amplifiers 10 to 13 , each output ad of an amplifier being connected to a switch 41 controlled by the processor 36 . Another light source 5 , which is designed as a red light source, also acts on a photocell 9 . With the help of this red light source, it is possible to determine whether the inserted film 16 is a film to be measured or a film that is still unexposed. If it is a still unexposed and undeveloped film, this causes greater scattering and absorption of the red light, so that a smaller amount of light is received by the photocell. Since the unexposed film is insensitive to the spectrum of the red light lamp, there is no influence on the film.

Mit 14 ist ein Temperaturfühler bezeichnet, dessen Ausgang eben­ falls mit dem Schalter 41 verbunden ist. Der Ausgang des Schalters 41 ist mit dem Eingang eines Analog/Digitalwandlers verbunden, dessen Ausgang das prozessorgesteuerte Speichersystem 22 bis 35 beaufschlagt. Der Aufbau des Speichersystems besteht aus einem Hauptspeicher 22, aus den Speichern 22 bis 25 für die Speicherung der Nullwerte der vier Kanäle, den Speichern 26 bis 29 zur Spei­ cherung der Eichwerte dieser vier Kanäle und den Speichern 30 bis 33 zur Speicherung ihrer Meßwerte. 14 with a temperature sensor is designated, the output of which is just connected to the switch 41 . The output of the switch 41 is connected to the input of an analog / digital converter, the output of which acts on the processor-controlled memory system 22 to 35 . The structure of the memory system consists of a main memory 22 , from the memories 22 to 25 for storing the zero values of the four channels, the memories 26 to 29 for storing the calibration values of these four channels and the memories 30 to 33 for storing their measured values.

Der Prozessor 36 ist ferner mit der Fotozelle 18 des Sensitometers verbunden, wobei zur Bestimmung der von der Lichtquelle 19 aus­ zusendenden Gesamtlichtmenge die ermittelte Basislichtmenge mit einem eingebbaren, vom zu prüfenden Material abhängigen Faktor multiplizierbar ist. Auf diese Zusammenhänge wird anhand der Fig. 3 näher eingegangen.The processor 36 is also connected to the photocell 18 of the sensitometer, and in order to determine the total amount of light to be emitted from the light source 19, the determined basic amount of light can be multiplied by a factor that can be entered and is dependent on the material to be tested. These relationships are discussed in more detail with reference to FIG. 3.

Der Prozessor 36 beaufschlagt eine Steuervorrichtung 37 der Flüssigkristallanzeige 38. Diese ist in mehrere Bereiche ein­ geteilt und zeigt gleichzeitig verschiedene Meßwerte an, nämlich Werte für die gemessene und/oder errechnete Filmempfindlichkeit, des Kontrastes, des Schleiers und der maximalen Dichte.The processor 36 acts on a control device 37 of the liquid crystal display 38 . This is divided into several areas and simultaneously displays various measured values, namely values for the measured and / or calculated film sensitivity, the contrast, the fog and the maximum density.

Der Prozessor 36 ist mit einem Schalter 39 zum Einschalten der Vorrichtung und Nullen des Systems verbunden. Ein weiterer Schal­ ter 40 dient zur Anwahl des Eichmodus und die gleichzeitige Betätigung beider Schalter aktiviert die Vorrichtung für den Meß- oder Belichtungsvorgang.The processor 36 is connected to a switch 39 for turning on the device and zeroing the system. Another switch ter 40 is used to select the calibration mode and the simultaneous actuation of both switches activates the device for the measuring or exposure process.

In der Schaltung nach Fig. 1 bezeichnet 17 eine Maske für die Abschirmung bzw. Begrenzung des Leuchtfeldes der Lichtquelle 19, welche in dem hier vorliegenden Beispiel als Lumineszenzfolie ausgebildet ist. In the circuit according to FIG. 1, 17 denotes a mask for shielding or limiting the light field of the light source 19 , which in the present example is designed as a luminescent film.

Ein Anschluß 20 zum Schalter 41 dient für einen Meßstift 61 zur externen Dichtemessung. Hierbei wird eine Fremdlichtquelle ver­ wendet.A connection 20 to the switch 41 is used for a measuring pin 61 for external density measurement. An external light source is used here.

Fig. 2 zeigt die Vorrichtung in einer perspektivischen Darstel­ lung. Fig. 2 shows the device in a perspective presen- tation.

Die Arbeitsebene 50 der Vorrichtung befindet sich auf einer durch einen Deckel 51 abdeckbaren Gehäuseoberfläche. Sie dient zur Auflage und Bearbeitung des zu prüfenden Films. Um den Film der Vorrichtung genau zuordnen zu können, sind Mittel zu seiner Justierung vorgesehen, welche aus den Anschlägen 52, 53, 54 bestehen.The working level 50 of the device is located on a housing surface that can be covered by a cover 51 . It is used to print and edit the film to be checked. In order to be able to assign the film to the device precisely, means are provided for its adjustment, which consist of the stops 52, 53, 54 .

Auf der einen Seite der Arbeitsebene 50 befindet sich eine Reihe von durch Masken 17 (s. Fig. 1) begrenzter Sensitometer-Leucht­ flächen 55, welche durch die Lumineszenzfolie 19 ausgeleuchtet sind, die im Innern des Gehäuses 56 angeordnet ist. Ihre Licht­ stärke und Leuchtzeit ist dabei steuerbar ausgebildet.On one side of the working plane 50 there is a series of sensitometer light surfaces 55 delimited by masks 17 (see FIG. 1), which are illuminated by the luminescent film 19 which is arranged in the interior of the housing 56 . Your light intensity and lighting time is designed to be controllable.

Auf der anderen Seite der Arbeitsebene 50 ist eine Reihe von Densitometer-Lichteinfallsöffnungen 58 vorhanden, welche durch gleichartige Masken 57 begrenzt sind und in spiegelbildlicher Zuordnung zu den Sensitometer-Leuchtflächen 55 angeordnet sind. Unter den Masken befinden sich die in Fig. 1 dargestellten Fotomeßzellen 6, 7, 8 und 9.On the other side of the working plane 50 there are a number of densitometer light incidence openings 58 which are delimited by masks 57 of the same type and are arranged in mirror-image assignment to the sensitometer light surfaces 55 . The photo measuring cells 6, 7, 8 and 9 shown in FIG. 1 are located under the masks.

In dem Deckel 51, der die Arbeitsebene 50 im geschlossenen Zustand überdeckt, befindet sich eine Schaumstoffeinlage 59 mit einem Densitometer-Lampensystem 60 mit den darin angeordneten Lampen 1, 2, 3, 4. In the cover 51 , which covers the working level 50 in the closed state, there is a foam insert 59 with a densitometer lamp system 60 with the lamps 1, 2, 3, 4 arranged therein.

In der Arbeitsebene 50 liegt ferner die Flüssigkristallanzeige 38, welche mit mehreren Anzeigefeldern zur gleichzeitigen Darstel­ lung mehrerer Meßwerte ausgerüstet ist.In the working plane 50 there is also the liquid crystal display 38 , which is equipped with a plurality of display fields for the simultaneous display of a plurality of measured values.

In dem Densitometer-Lampensystem 50 befindet sich ferner die Lampe 5, die ein für den zu prüfenden unbelichteten Film unem­ pfindliches Spektrum aussendet. Damit ist die Feststellung mög­ lich, ob es sich bei dem eingelegten Film um einen zu messenden oder einen noch unbelichteten und unentwickelten Film handelt.In the densitometer lamp system 50 there is also the lamp 5 which emits a spectrum which is sensitive to the unexposed film to be tested. This makes it possible to determine whether the film loaded is a film to be measured or a film that is still unexposed and undeveloped.

Der Anschluß 20 dient für einen Meßstift 61 zur externen Dichte­ messung unter Verwendung einer Fremdlichtquelle.The connection 20 is used for a measuring pin 61 for external density measurement using an external light source.

Die Fig. 3 zeigt eine grafische Darstellung der Basislichtmenge und einer zweiten sich anschließenden und berechneten Belich­ tung. Aufgetragen ist hierbei die Lichtintensität I über der Zeit t. Das Integral Idt ergibt hierbei die Basislichtmenge, in der geräteinterne Störgrößen, wie beispielsweise die Batterie­ spannung oder der Alterungsprozeß der Lumineszenzfolie enthalten sind. Die Zeit t 0 ist hierbei eine fest vorgegebene Zeit, welche in jedem Fall kleiner als 50% des zu berechnenden Wertes t 1 sein muß. Dieser Wert t 1 wird aus der Basislichtmenge und einem einstellbaren Zeitfaktor berechnet. Die Summe der beiden Zeiten t 0 und t 1 ergeben die Gesamtbelichtungszeit und die Flächensumme der beiden sich ergebenden Flächen bilden die Gesamtbelich­ tungszeit des zu prüfenden Films. Fig. 3 shows a graphical representation of the amount of basic light and a second subsequent and calculated exposure device. The light intensity I is plotted against the time t . The integral Idt results in the amount of basic light contained in the device's internal disturbances, such as the battery voltage or the aging process of the luminescent film. The time t 0 is a fixed time, which must in any case be less than 50% of the value t 1 to be calculated. This value t 1 is calculated from the basic light quantity and an adjustable time factor. The sum of the two times t 0 and t 1 gives the total exposure time and the total area of the two resulting areas form the total exposure time of the film to be tested.

Damit ergibt sich eine Belichtung des zu prüfenden Films, welche von den Störgrößen der Vorrichtung und auch von den Auswirkungen eines Alterungsprozesses der verschiedenen Komponenten unabhängig ist. This results in an exposure of the film to be tested, which the disturbance variables of the device and also the effects an aging process of the various components independently is.  

Die mit der auf diesem Wege ermittelten Belichtungszeit durchge­ führte Messung eines zu prüfenden Films ergibt vier charakteri­ stische Meßwerte, welche auf einer Gradationskurve liegen, die aus Fig. 4 ersichtlich ist. Diese Kennwerte sind der Grau­ schleier Gr, die Empfindlichkeit Em, die Gradation Gra und die End­ schwärzung.The measurement carried out with the exposure time determined in this way of a film to be tested gives four characteristic measurement values which lie on a gradation curve which can be seen from FIG. 4. These parameters are the gray veil Gr , the sensitivity Em , the gradation Gra and the final blackening.

Mit der Vorrichtung nach der Erfindung wird daher eine Meßein­ richtung geschaffen, mit der es in einfacher Weise möglich ist, eine Qualitätskontrolle eines Films, beispielsweise Röntgenfilme durchzuführen. Hierzu wird nur ein Gerät benötigt und Fehl­ messungen sowie Fehlbelichtungen sind praktisch ausgeschlossen, wobei sich das Gerät in einer Dunkelkammer leicht handhaben läßt.With the device according to the invention is therefore a Meßein direction created with which it is easily possible quality control of a film, for example X-ray films perform. Only one device is required for this and a fault Measurements and incorrect exposures are practically impossible. the device being easy to handle in a dark room leaves.

Claims (17)

1. Vorrichtung zur Qualitätsprüfung von Belichtungsmaterial, insbesondere von technischen Filmen oder Röntgenfilmen, mit Hilfe einer als Sensitometer ausgebildeten Belichtungs­ einrichtung, gekennzeichnet durch
  • a) eine Arbeitsebene (50) auf einer durch einen Deckel (51) abdeckbaren Gehäuseoberfläche zur Auflage und Bearbeitung des zu prüfenden Films und Mittel zu seiner Justierung (52, 53, 54);
  • b) eine auf der einen Seite der Arbeitsebene (50) ange­ ordnete Reihe von durch Masken (17) begrenzter Sensi­ tometer-Leuchtflächen (55), welche durch mindestens eine Lichtquelle (19) ausgeleuchtet sind, die im Innern des Gehäuses (56) angeordnet und deren Lichtstärke und Leuchtzeit steuerbar ausgebildet ist;
  • c) eine auf der anderen Seite der Arbeitsebene (50) an­ geordnete Reihe von durch gleichartige Masken (57) und in spiegelbildlicher Zuordnung zu den Sensitometer- Leuchtflächen (55) begrenzter Densitometer-Lichtein­ fallsöffnungen (58) mit darunter befindlichen Fotomeß­ zellen (6, 7, 8, 9),
  • d) einen Deckel (51), der die Arbeitsebene (50) im ge­ schlossenen Zustand überdeckt, in dem sich eine Schaum­ stoffeinlage (59) mit einem Densitometer-Lampensystem (60) mit den Lampen (1, 2, 3, 4) befindet, welches den Densitometer-Lichteinfallsöffnungen (58) im geschlosse­ nen Zustand des Deckels (51) geometrisch zugeordnet ist, und
  • e) eine in der Arbeitsebene (50) liegende Flüssigkri­ stallanzeige (38) mit mehreren Anzeigefeldern zur gleich­ zeitigen Darstellung mehrerer Meßwerte.
1. Device for quality control of exposure material, in particular technical films or X-ray films, using an exposure device designed as a sensitometer, characterized by
  • a) a working plane ( 50 ) on a housing surface which can be covered by a cover ( 51 ) for supporting and processing the film to be tested and means for its adjustment ( 52, 53, 54 );
  • b) on one side of the working plane ( 50 ) is arranged a row of masks ( 17 ) delimited Sensi tometer luminous surfaces ( 55 ) which are illuminated by at least one light source ( 19 ) arranged in the interior of the housing ( 56 ) and whose light intensity and lighting time are designed to be controllable;
  • c) a drop openings on the other side of the work plane (50) on ordered series of by similar masks (57) and in mirror-image association with the Sensitometer- luminous areas (55) of limited densitometer Lichtein (58) with underlying Fotomeß cells (6, 7, 8, 9 ),
  • d) a cover ( 51 ) which covers the working level ( 50 ) in the closed state, in which there is a foam insert ( 59 ) with a densitometer lamp system ( 60 ) with the lamps ( 1, 2, 3, 4 ) which is geometrically assigned to the densitometer light incidence openings ( 58 ) in the closed state of the cover ( 51 ), and
  • e) in the working level ( 50 ) lying liquid crystal display ( 38 ) with several display fields for the simultaneous display of several measured values.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß sich in dem Densitometer-Lampensystem (60) eine Lampe (5) befindet, die ein für den zu prüfenden unbelichteten Film unempfindliches Spektrum aussendet, deren den Film durchdringende Strahlung meßbar ist.2. Device according to claim 1, characterized in that in the densitometer lamp system ( 60 ) there is a lamp ( 5 ) which emits a spectrum insensitive to the unexposed film to be tested, the radiation penetrating the film of which can be measured. 3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß diese einen Anschluß (20) für einen Meßstift (61) zur externen Dichtemessung unter Verwendung einer Fremdlicht­ quelle aufweist.3. Apparatus according to claim 1 or 2, characterized in that it has a connection ( 20 ) for a measuring pin ( 61 ) for external density measurement using an external light source. 4. Vorrichtung nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeich­ net, daß die Mittel zur Justierung des zu prüfenden Films aus Anschlägen (52, 53, 54) für die Filmkanten bestehen, welche aus der Arbeitsebene (50) herausragend ausgebildet und an der oberen Längsseite, sowie der rechten und linken Seite der Arbeitsebene (50) angeordnet sind.4. Apparatus according to claim 1, 2 or 3, characterized in that the means for adjusting the film to be tested consist of stops ( 52, 53, 54 ) for the film edges, which protruding from the working plane ( 50 ) and on the upper long side, and the right and left sides of the working level ( 50 ) are arranged. 5. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder einem der voranstehenden, dadurch gekennzeichnet, daß auf der Arbeitsebene (50) eine vom Deckel (51) während der Schließbewegung betätigbare Einschalttaste (39) angeordnet ist. 5. The device according to claim 1 or one of the preceding, characterized in that on the working level ( 50 ) from the cover ( 51 ) during the closing movement actuatable switch ( 39 ) is arranged. 6. Vorrichtung zur Qualitätsprüfung von Belichtungsmaterial, insbesondere von technischen Filmen oder Röntgenfilmen, mit Hilfe einer als Sensitometer ausgebildeten Belichtungs­ einrichtung, gekennzeichnet durch eine Arbeitsebene (50) auf einer durch einen mit einem Schaumstoff (52) gefüllten Deckel (51) abdeckbaren Gehäuseoberfläche zur Auflage und Bearbeitung des zu prüfenden Films (16) und Mitteln zu seiner Justierung sowie einer vom Deckel während der Schließbewegung betätigbaren Einschalttaste (39), in deren unmittelbarer Nähe eine weitere Taste (40) angeordnet ist, wobei die ela­ stische Federkraft des auf die weitere Taste (40) einwirkenden Schaumstoffs des Deckels (51) kleiner als die Federkraft der Taste ist, so daß diese im geschlossenen Zustand des Deckels (51) bei Abwesenheit eines Films (16) nicht betätigbar ist, während bei Einlage eines zu prüfenden Films (16) die Taste (40) betätigbar ist und die Anwesenheit des eingelegten Films (16) signalisiert.6. Apparatus for quality testing of exposure material, in particular technical films or X-ray films, using an exposure device designed as a sensitometer, characterized by a working plane ( 50 ) on a housing surface that can be covered by a cover ( 51 ) filled with a foam ( 52 ) for support and processing of the film to be tested ( 16 ) and means for its adjustment as well as a power button ( 39 ) which can be actuated by the lid during the closing movement, in the immediate vicinity of which a further button ( 40 ) is arranged, the elastic spring force of the further button ( 40 ) acting foam of the cover ( 51 ) is smaller than the spring force of the key, so that it cannot be actuated in the closed state of the cover ( 51 ) in the absence of a film ( 16 ), while when inserting a film ( 16 ) to be tested the button ( 40 ) can be actuated and the presence of the inserted film ( 1 6 ) signals. 7. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die in der Arbeitsebene (50) liegende Flüssigkristallanzeige (37) vier Anzeigefelder zur gleichzeitigen Darstellung der gemessenen und/oder errechneten Filmempfindlichkeit, des Kontrastes, des Schleiers und der maximalen Dichte aufweist.7. The device according to claim 1, characterized in that the liquid crystal display ( 37 ) lying in the working plane ( 50 ) has four display fields for the simultaneous display of the measured and / or calculated film sensitivity, the contrast, the fog and the maximum density. 8. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder einem der voranstehenden, dadurch gekennzeichnet, daß diese prozessorgesteuert ausge­ bildet ist.8. The device according to claim 1 or one of the preceding, characterized in that this processor controlled forms is. 9. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder einem der voranstehenden, dadurch gekennzeichnet, daß diese eine wahlweise Einstellung für blau- oder grünempfindliche Röntgenfilme aufweist. 9. The device according to claim 1 or one of the preceding, characterized in that this is an optional setting for blue or green sensitive X-ray films.   10. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder einem der voranstehenden, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (19) als Lumi­ neszenzfolie ausgebildet ist.10. The device according to claim 1 or one of the preceding, characterized in that the light source ( 19 ) is designed as a luminescent film. 11. Verfahren zur Qualitätsprüfung von Belichtungsmaterial, insbesondere von technischen Filmen oder Röntgenfilmen, mit Hilfe einer als Sensitometer ausgebildeten Belichtungs­ einrichtung und einer nach den Ansprüchen 1 bis 8 kombi­ nierten Densitometereinrichtung, gekennzeichnet durch folgen­ de Verfahrensschritte:
  • α) ein zu prüfender Film wird mit Hilfe von vier Leucht­ flächen mit unterschiedlichen und definierten Licht­ mengen beaufschlagt, wobei die definierten Lichtmengen vier repräsentative Meßpunkte bzw. Graustufen auf der Gradationskurve des zu messenden Films erzeugen,
  • β) danach wird der Film in der üblichen und bekannten Weise entwickelt und dem Meßgerät spiegelbildlich zugeführt, so daß die erzeugten vier Graustufen zwischen dem auf dem Gerätedeckel befindlichen Densitometer- Lampensystem und den auf der Arbeitsebene befindlichen Densitometer-Lichteinfallsöffnungen zu liegen kommen, woraufhin die Graustufen mittels Fotozellen ausgemessen und deren elektrische Meßwerte gespeichert und mit zuvor gespeicherten Normwerten verglichen und das Ergebnis angezeigt wird, wobei die von der Fotozelle aufgeommenen elektrischen Meßwerte logarithmiert und digitalisiert über mindestens einen steuerbaren Schalter jeweils einem Speicher zugeführt werden.
11. A method for quality testing of exposure material, in particular technical films or X-ray films, using an exposure device designed as a sensitometer and a densitometer device combined according to claims 1 to 8, characterized by the following process steps:
  • α ) a film to be tested is exposed to different and defined quantities of light with the aid of four luminous surfaces, the defined quantities of light producing four representative measuring points or gray levels on the gradation curve of the film to be measured,
  • β ) then the film is developed in the usual and known manner and fed to the measuring device in mirror image, so that the four gray levels generated come to lie between the densitometer lamp system located on the device cover and the densitometer light incidence openings located on the working level, whereupon the gray levels measured by means of photocells and their electrical measured values stored and compared with previously stored standard values and the result is displayed, the electrical measured values recorded by the photocell being logarithmized and digitized in each case being fed to a memory via at least one controllable switch.
12. Schaltung für die Vorrichtung zur Qualitätsprüfung von Belichtungsmaterial, insbesondere von technischen Filmen oder Röntgenfilmen, mit Hilfe einer als Densitometer aus­ gebildeten Belichtungseinrichtung, welche nach den Ansprüchen 1-10 mit einer Densitometer-Meßvorrichtung kombiniert ist, dadurch gekennzeichnet, daß eine Reihe von Fotozellen (6, 7, 8, 9) des Densitometers, welche entsprechenden Lichtquel­ len (1, 2, 3, 4) zugeordnet sind, jeweils logarithmischen Verstärkern (10, 11, 12, 13) verbunden sind, deren Ausgänge (a, b, c, d) einen prozessorgesteuerten Schalter (41) beauf­ schlagen, dessen Ausgang einem A/D-Wandler (21) zugeführt ist, welcher seine Ausgangswerte prozessorgesteuert einem Speichersystem (22 bis 35) zuleitet.12. Circuit for the device for quality testing of exposure material, in particular technical films or X-ray films, using an exposure device formed as a densitometer, which is combined according to claims 1-10 with a densitometer measuring device, characterized in that a series of photocells ( 6, 7, 8, 9 ) of the densitometer, which are assigned to corresponding light sources ( 1, 2, 3, 4 ), logarithmic amplifiers ( 10, 11, 12, 13 ) are connected, the outputs (a, b, c, d) act on a processor-controlled switch ( 41 ), the output of which is fed to an A / D converter ( 21 ), which feeds its output values under processor control to a memory system ( 22 to 35 ). 13. Schaltung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß der Prozessor (36) mit der Fotozelle (18) des Densitometers verbunden ist und mit dem elektrischen Wert einer ermittel­ ten, die Gerätestörgrößen berücksichtigende Basislichtmenge beaufschlagbar ist.13. The circuit according to claim 12, characterized in that the processor ( 36 ) is connected to the photocell ( 18 ) of the densitometer and can be acted upon with the electrical value of a determined, taking into account the device disturbance base light quantity. 14. Schaltung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß der Prozessor (36) mit der Fotozelle des Densitometers verbunden ist, wobei zur Bestimmung der von der Lichtquelle auszusendenden Gesamtlichtmenge die ermittelte Basislicht­ menge mit einem eingebbaren, vom zu prüfenden Material abhängigen Faktor multiplizierbar ist.14. Circuit according to claim 13, characterized in that the processor ( 36 ) is connected to the photocell of the densitometer, the determined amount of basic light being able to be multiplied by an inputable, dependent on the material to be tested factor for determining the total amount of light to be emitted by the light source. 15. Schaltung nach Anspruch 12, 13 oder 14, dadurch gekennzeich­ net, daß der Prozessor (36) eine Steuervorrichtung (37) der Flüssigkristallanzeige (38) beaufschlagt. 15. The circuit according to claim 12, 13 or 14, characterized in that the processor ( 36 ) acts on a control device ( 37 ) of the liquid crystal display ( 38 ). 16. Schaltung nach Anspruch 12, 13, 14 oder 15, dadurch gekennzeichnet, daß der Prozessor (36) mit einem Schalter (39) (40) zum Einschalten der Vorrichtung und zum Nullen des Systems verbunden ist.16. The circuit according to claim 12, 13, 14 or 15, characterized in that the processor ( 36 ) is connected to a switch ( 39 ) ( 40 ) for switching on the device and for zeroing the system. 17. Schaltung nach Anspruch 12, 13, 14 oder 15, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Prozessor mit einem Schalter (39) zur Anwahl eines Eichmodus für Änderung von gespeicherten Basis­ daten verbunden ist.17. The circuit according to claim 12, 13, 14 or 15, characterized in that the processor is connected to a switch ( 39 ) for selecting a calibration mode for changing stored basic data.
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