DE3818217C2 - Test circuit and test oscillator for performing self-tests on duplex radios - Google Patents

Test circuit and test oscillator for performing self-tests on duplex radios

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Description

Die Erfindung betrifft eine Prüfschaltung und einen Prüfoszil­ lator für eine Prüfschaltung zum Durchführen von Selbsttests von Duplex-Funkgeräten mit einer oder mehreren Bandabstands­ frequenz(en).The invention relates to a test circuit and a test circuit lator for a test circuit for performing self-tests of duplex radios with one or more bandgap frequency (s).

Aus der DE-AS 23 19 087 ist ein Verfahren zum Überprüfen einer Funkempfangsanlage mit mehreren, auf verschiedene Frequenzen eingestellten Empfangseinrichtungen, die an eine gemeinsame Antenne über Antennenverteiler angeschlossen sind, bekannt, bei dem während der Prüfdauer in die Antennenzuleitung der Funk­ empfangsanlage ein breitbandiges Testsignal eingekoppelt wird, das diskrete Spektrallinien besitzt, die so dicht liegen, daß mindestens eine Spektrallinie in die eingestellte Empfangsband­ breite jedes Empfängers der Empfangseinrichtungen fällt. Damit ist es möglich, sämtliche Empfangseinrichtungen gleichzeitig zu prüfen.DE-AS 23 19 087 describes a method for checking one Radio receiving system with several, on different frequencies set receiving devices that are connected to a common Antenna are connected via antenna distributors, known at the radio during the test period in the antenna feeder receiving a broadband test signal, which has discrete spectral lines that are so close that at least one spectral line in the set receiving band width of each recipient of the receiving devices falls. In order to it is possible to close all receiving devices at the same time check.

Die Sende- und Empfangsfrequenzen von Duplex-Funkgeräten sind voneinander verschieden. Die Differenz zwischen der Sendefre­ quenz fS und der Empfangsfrequenz fE wird dabei üblicherweise mit Bandabstandsfrequenz fB oder kurz mit Bandabstand bezeich­ net. Moderne Duplex-Funkgeräte weisen im allgemeinen einen oder mehrere unterschiedliche Bandabstände auf, die mitunter auch variabel sein können. Einen Selbsttest solcher Geräte zur Prü­ fung der Funktion von Sende- und Empfangsteil läßt sich dadurch realisieren, daß man mit Hilfe eines Prüfoszillators und eines an die Antennenleitung des Funkgeräts angekoppelten Mischers das vom Funkgerät erzeugte Sendesignal der Frequenz fS auf die Empfangsfrequenz fE des Geräts umsetzt und über eine geräte­ interne Frequenzweiche dem Empfangsteil zuführt. Wenn man als Prüfoszillator einen abstimmbaren, freischwingenden Oszillator oder einen fest abgestimmten Quarzoszillator einsetzt, der ein HF-Signal mit der Frequenz eines der Bandabstände des zu prüfenden Funkgeräts erzeugt, dann muß der Oszillator auf jede der zu prüfenden Bandabstandsfrequenzen des Funkgeräts separat eingestellt werden, was aufwendige Abstimmprozeduren und ggf. den Austausch der verwendeten Quarzoszillatoren erforderlich macht.The transmit and receive frequencies of duplex radios are different from each other. The difference between the transmission frequency f S and the reception frequency f E is usually referred to as the bandgap frequency f B or briefly with the bandgap. Modern duplex radios generally have one or more different band gaps, which can sometimes also be variable. A self-test of such devices for testing the function of the transmitting and receiving part can be achieved by using a test oscillator and a mixer coupled to the antenna line of the radio to transmit the signal generated by the radio of the frequency f S to the reception frequency f E of the device implemented and fed to the receiving section via a device internal crossover. If you use a tunable, free-running oscillator or a fixed-tuned quartz oscillator as a test oscillator that generates an RF signal with the frequency of one of the bandgaps of the radio to be tested, then the oscillator must be set to each of the bandgap frequencies of the radio to be tested, which complex tuning procedures and, if necessary, the replacement of the crystal oscillators used.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Prüfschaltung und einen Prüfoszillator für eine Prüfschaltung anzugeben, mit denen ein Selbsttest von Duplex-Funkgeräten, die eine oder meh­ rere Bandabstandsfrequenzen aufweisen, zeitsparend und ohne Austauschoperationen durchgeführt werden kann.The invention has for its object a test circuit and specify a test oscillator for a test circuit with a self-test of duplex radios that one or more have higher bandgap frequencies, time-saving and without Exchange operations can be carried out.

Diese Aufgabe wird bezüglich der Prüfschaltung durch die Merk­ male des Anspruchs 1, bezüglich des Prüfoszillators durch die Merkmale des Anspruchs 2 gelöst. Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand der abhängigen Ansprüche.This task is carried out with regard to the test circuit by the Merk male of claim 1, with respect to the test oscillator Features of claim 2 solved. Developments of the invention are the subject of the dependent claims.

Bei der Erfindung erzeugt der Prüfoszillator ein Ausgangssignal fp, das sämtliche Bandabstandsfrequenzen fB1 . . . fBn des zu prüfenden Duplex-Funkgeräts mit annäherend gleicher Amplitude enthält.In the invention, the test oscillator generates an output signal fp which contains all bandgap frequencies f B1 . . . f Bn of the duplex radio under test with approximately the same amplitude.

Der Vorteil der erfindungsgemäßen Lösung besteht vor allem darin, daß ein einziger Prüfoszillator für alle Bandabstände des zu prüfenden Duplex-Funkgeräts ausreicht, ohne daß weitere Abgleich- oder Austauschoperationen notwendig sind, so daß sich in der Folge geringere Bereitstellungs- und Lagerkosten erge­ ben, und gleichzeitig sowohl der Sendeteil als auch der Empfangsteil des Duplex-Funkgeräts geprüft werden kann.The advantage of the solution according to the invention is above all in that a single test oscillator for all bandgaps of the duplex radio to be tested is sufficient without further Matching or exchange operations are necessary so that as a result, lower supply and storage costs ben, and at the same time both the transmitting part and the Receiving part of the duplex radio can be checked.

Die Erfindung wird nun anhand der Figuren näher erläutert.The invention will now be explained in more detail with reference to the figures.

Fig. 1 ist ein Testaufbau mit einer Prüfschaltung mit den Merkmalen der Erfindung und einem zu prüfenden Duplex-Funkgerät. Fig. 1 is a test setup with a test circuit with the features of the invention and a duplex radio to be tested.

Die Prüfschaltung enthält einen Prüfoszillator, bestehend aus einem Quarzoszillator, der beispielsweise bei 6,4 MHz schwingt, einem Teiler, der die Frequenz fQ des Quarzoszillators z. B. durch 64 teilt, sowie einem Impulsformer. Quarzoszillator und Frequenzteiler bilden dabei einen Oszillator, der ein Ausgangs­ signal der Frequenz fO abgibt.The test circuit contains a test oscillator, consisting of a quartz oscillator, which oscillates at 6.4 MHz, for example, a divider, the frequency f Q of the quartz oscillator z. B. divided by 64, and a pulse shaper. The crystal oscillator and frequency divider form an oscillator that emits an output signal of frequency f O.

Das Funkgerät enthält eine Frequenzweiche, die Sende- und Empfangsteil des Funkgeräts mit der Antenne verbindet. An die Antenne ist ein Mischer angekoppelt, und diesem ist das Aus­ gangssignal des Prüfoszillators zugeführt.The radio contains a crossover network, the transmit and Receiving part of the radio connects to the antenna. To the Antenna is connected to a mixer, and this is the end output signal of the test oscillator supplied.

Die vom Oszillator erzeugte Grundfrequenz fO ist so gewählt, daß sie durch alle zu prüfenden Bandabstandsfrequenzen fB1 . . . fBn des zu untersuchenden Duplex-Funkgeräts ohne Rest teilbar ist. Aus dieser Grundfrequenz fO entsteht durch Impulsformung im Impulsformer ein oberschwingungsreiches Signal, das alle geforderten Bandabstandsfrequenzen fB1 . . . fBn mit etwa gleicher Amplitude enthält. Dieses Signal ist das Prüfoszillatorsignal fp, das durch Mischung mit der Sendefrequenz fS, im Mischer u. a. auch die Emp­ fangsfrequenz fE erzeugt. Dies ermöglicht dem Empfänger des Funkgeräts, den eigenen Sender zu empfangen und somit das Funkgerät zu überprüfen.The fundamental frequency f O generated by the oscillator is selected such that it passes through all bandgap frequencies f B1 to be tested. . . f Bn of the duplex radio to be examined is divisible without remainder. From this basic frequency f O , a harmonic-rich signal is generated by pulse shaping in the pulse shaper, which has all the required bandgap frequencies f B1 . . . f contains Bn with approximately the same amplitude. This signal is the test oscillator signal f p , which, by mixing with the transmission frequency f S , also generates the reception frequency f E in the mixer. This enables the radio receiver to receive its own transmitter and thus check the radio.

Fig. 2 zeigt eine vorteilhafte Ausführungsform des Impuls­ formers des Prüfoszillators. Der Impuls­ former besteht aus einer Diode D, der ein Kondensator C in Reihe nachgeschaltet ist. Am Verbindungspunkt zwischen Diode D und Kondensator C sowie an dem freien Ende des Kondensa­ tors C ist jeweils ein mit seinem freien Ende an Masse liegen­ der ohmscher Widerstand R1 bzw. R2 angeschlossen. Fig. 2 shows an advantageous embodiment of the pulse former of the test oscillator. The pulse former consists of a diode D, which is followed by a capacitor C in series. At the connection point between diode D and capacitor C and at the free end of the capacitor C, one is connected to the free end of the ohmic resistor R1 or R2.

Es ist möglich, anstelle des in Fig. 1 gezeigten Oszillators einen Synthesizer einzusetzen.It is possible to use a synthesizer instead of the oscillator shown in FIG. 1.

Weiterhin ist es möglich, die gesamte Prüfschaltung in das Funkgerät zu integrieren. It is also possible to use the entire test circuit to integrate into the radio.  

Schließlich ist es möglich, die Grundfrequenz fO des Oszil­ lators im Prüfoszillator variabel einstellbar zu machen, um den Prüfoszillator für den Selbsttest verschiedener Duplex- Funkgeräte, die sich in der Anzahl und Lage ihrer Bandab­ stände unterscheiden, verwenden zu können.Finally, it is possible to make the basic frequency f O of the oscillator variably adjustable in the test oscillator in order to be able to use the test oscillator for the self-test of various duplex radios, which differ in the number and position of their band spacings.

Claims (5)

1. Prüfschaltung zum Durchführen von Selbsttests von Duplex-Funkgeräten mit einer oder mehreren Bandabstandsfre­ quenzen fB1 . . . fBn, bei welchem Selbsttest die Sendefre­ quenz fS des Duplex-Funkgerätes mit Hilfe eines Prüfoszilla­ tors und eines Mischers auf die Empfangsfrequenz fE des Duplex-Funkgerätes umgesetzt wird und nach Umsetzung durch den Empfänger des Duplex-Funkgerätes empfangen wird, wobei das Prüfoszillatorsignal fP sämtliche Bandabstandsfrequenzen fB1 . . . fBn des zu prüfenden Duplex- Funkgeräts mit annähernd gleicher Amplitude enthält.1. Test circuit for performing self-tests of duplex radios with one or more bandgap frequencies f B1 . . . f Bn , in which self-test the transmission frequency f S of the duplex radio is converted with the aid of a test oscillator and a mixer to the reception frequency f E of the duplex radio and is received after conversion by the receiver of the duplex radio, the test oscillator signal f P all bandgap frequencies f B1 . . . f Bn of the duplex radio under test with approximately the same amplitude. 2. Prüfoszillator für eine Prüfschaltung nach Anspruch 1, bestehend aus einer Reihenschaltung aus Oszillator und nachge­ schaltetem Impulsformer, wobei die Frequenz fO des Oszillators durch sämtliche Bandabstandsfrequenzen fB1 . . . fBn des Duplex-Funkgerätes ohne Rest teilbar ist. 2. test oscillator for a test circuit according to claim 1, consisting of a series circuit of oscillator and nachge switched pulse shaper, the frequency f O of the oscillator by all bandgap frequencies f B1 . . . f Bn of the duplex radio is divisible without a remainder. 3. Prüfoszillator nach Anspruch 2, bei dem der Oszillator ein Quarzoszillator mit nachgeschaltetem Frequenzteiler ist (Fig. 1).3. Test oscillator according to claim 2, wherein the oscillator is a quartz oscillator with a downstream frequency divider ( Fig. 1). 4. Prüfoszillator nach Anspruch 2, bei dem der Oszillator ein Synthesizer ist.4. Test oscillator according to claim 2, in which the oscillator is a synthesizer. 5. Prüfoszillator nach einem der Ansprüche 2 bis 4, bei dem der Impulsformer mit einer Diode (D) und einem hierzu in Reihe geschalteten Kondensator (C) sowie mit einem ersten, an den Verbindungspunkt zwischen Diode (D) und Kondensator (C) angeschlossenen und mit seinem freien Ende an Masse liegenden ohmschen Widerstand (R1) und mit einem zweiten, an dem freien Ende des Kondensators (c) angeschlossenen und mit seinem freien Ende an Masse angeschlossenen ohmschen Wider­ stand (R) aufgebaut ist.5. Test oscillator according to one of claims 2 to 4, in which the pulse shaper with a diode (D) and one in Series connected capacitor (C) and with a first, to the connection point between diode (D) and capacitor (C) connected and with its free end to ground ohmic resistance (R1) and with a second one connected to the free end of the capacitor (c) and with its free end connected to ground ohmic counter stand (R) is built.
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