DE3739223A1 - Verfahren zur autofokussierung von mikroskopen und mikroskope mit einer autofokussierung - Google Patents
Verfahren zur autofokussierung von mikroskopen und mikroskope mit einer autofokussierungInfo
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- DE3739223A1 DE3739223A1 DE19873739223 DE3739223A DE3739223A1 DE 3739223 A1 DE3739223 A1 DE 3739223A1 DE 19873739223 DE19873739223 DE 19873739223 DE 3739223 A DE3739223 A DE 3739223A DE 3739223 A1 DE3739223 A1 DE 3739223A1
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- G02B21/241—Devices for focusing
- G02B21/244—Devices for focusing using image analysis techniques
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Autofokussierung
eines Mikroskops mit kontinuierlich oder
diskontinuierlich veränderbarer Objektivvergrößerung
gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1. Die Erfindung
betrifft des weiteren ein Mikroskop mit kontinuierlich
oder diskontinuierlich variierbarer Objektivvergrößerung
gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 24.
Bei mikroskopischen Untersuchungen ist vielfach
notwendig, rasch zwischen verschiedenen Vergrößerungen
wechseln zu können, wobei Objektive zur Anwendung kommen,
deren Vergrößerung über weite Bereiche variiert,
beispielsweise von 5× bis 150× und darüber. Da derartige
Mikroskope auch zur Überwachung in der Produktion, d. h.
zu Routineuntersuchungen, beispielsweise bei der
Waverherstellung, in großem Maße Anwendung finden, und
der visuelle Fokussierungsvorgang für die
Bedienungsperson äußerst ermüdend ist, wird in
verstärktem Maße versucht, Autofokussierungssysteme zum
Einsatz zu bringen, die rasch eine automatische und in
Einzelfällen auch genauere Scharfeinstellung auf das
Objekt ermöglichen, als dies visuell möglich wäre. Es hat
sich jedoch gezeigt, daß die herkömmlichen
Autofokussierungssysteme, insbesondere wenn sie mit einer
Strahlung arbeiten, die eine Beschädigung oder
Veränderung der zu beobachtenden Halbleiterplättchen
ausschließt, überfordert sind, wenn die
Objektivvergrößerung in einem größeren Bereich variiert,
wie er beispielhalber vorstehend angegeben wurde. Dies
ist zum einen darauf zurückzuführen, daß bei zunehmender
Vergrößerung im Objekt enthaltene oder auf dem Objekt
erzeugte Strukturen bezüglich des Kantenkontrastes
verwaschen werden, was zu einer zunehmenden Ungenauigkeit
führt, wenn dieser Kontrast oder daraus abgeleitete
Größen, wie der Gehalt an hohen Ortsfrequenzen, zur
Scharfeinstellung herangezogen werden. Ein weiteres
Problem ist nach Erkenntnis der Anmelderin darin zu
sehen, daß mit steigender Vergrößerung bildseitig die
Tiefenschärfe zunimmt, und zwar mit dem Quadrat der
Vergrößerung des Objektivs, was in einem erheblichen Maße
zu dem zum Teil unerklärlichen Versagen der herkömmlichen
Autofokussierungssysteme bei unterschiedlicher Vergrößerung
beitragen dürfte. Die Anmelderin hat daher ein
in der Patentanmeldung P 37 07 487.4 beschriebenes
Verfahren zur Autofokussierung und ein Mikroskop mit
einer Autofokussierung geschaffen, welche in der Lage
sind, auch bei stark differierenden
Objektivvergrößerungen eine sichere und optimale
automatische Scharfeinstellung auf das Objekt zu
ermöglichen. Es hat sich jedoch gezeigt, daß diese Art
der Autofokussierung nur dann vollständig funktioniert,
wenn am Objekt genügend Details sichtbar sind.
Insbesondere bei Auflichtverfahren ist es oft notwendig,
Objektstellen mit wenig Details (beispielsweise Waver in
der Elektronikindustrie in einem ersten
Beschichtungsstadium) oder im Extremfall sogar reine
Oberflächenspiegel zu fokussieren.
Aber auch dann, wenn genügend Details sichtbar sind, kann
es vorkommen, daß bei schneller Bewegung des
Objekttisches bei gleichzeitig starker
Objektivvergrößerung das Bild so schnell durch die
optimale Scharfeinstellung fährt, daß es von der
Elektronik nicht mehr als scharf oder unscharf
wahrgenommen werden kann.
Der vorliegenden Erfindung
liegt daher die Aufgabe zugrunde das eingangs
beschriebene Autofokussierungssystem dahingehend weiter
zu entwickeln, daß es insbesondere beim Auflichtbetrieb
auch bei Objekten die selbst nur geringe Details
aufweisen eine sichere Scharfeinstellung gewährleistet.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Verfahren
gelöst, wie es im Anspruch 1 wiedergegeben ist, sowie
durch ein Mikroskop gemäß Anspruch 24. Bevorzugte
Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen beschrieben.
Das auf das Objekt projizierte Muster erzeugt dort ein
Bild, welches reflektiert wird und zur Scharfeinstellung
verwendet wird. Der hier verwendete Begriff "Signale"
umfaßt sowohl optische als auch elektrische Signale,
wobei in dem Autofokussierungssystem zunächst optische
Signale entstehen, welche durch elektro-optische Wandler
in elektrische Signale umgewandelt werden, die einer
elektronischen Weiterverarbeitung unterzogen werden
können, und nach ihrer Weiterverarbeitung zumindest ein
Steuersignal liefern, welches eine Verschiebung von
Objekt und/oder Objektiv in Richtung auf die optimale
Scharfeinstellung in an sich bekannter Weise,
beispielsweise über entsprechende Elektromotore und
-antriebe, bewirken kann.
Das Muster wird bevorzugt in einer zur Objektebene
konjugierten Ebene angeordnet und von hinten beleuchtet,
wobei als Muster mit Vorteil ein Strich- oder Kreuzgitter
verwendet wird. Die Einspiegelung des Musters erfolgt
zweckmäßigerweise mittels eines teildurchlässigen
Spiegels oder Prismas der im Abbildungsstrahlengang
angebracht ist. Damit insbesondere bei
Dunkelfeldbeleuchtung das dem Objekt im Einblick des
Mikroskops überlagerte Bild des Musters nicht stört wird
die Beleuchtung des Musters nur während der
Relativbewegung zwischen Objekt und Objektiv
eingeschaltet. Eine weitere Möglichkeit besteht darin,
für die Beleuchtung des Musters und zur Durchführung der
Autofokussierung Licht eines Wellenlängenbereichs zu
verwenden, der im Abbildungsstrahlengang vor dem Einblick
und/oder einer Aufzeichnungseinrichtung wieder
ausgefiltert wird, für den jedoch die Optiken korrigiert
sind. Besonders zweckmäßig ist es, wenn zur Beleuchtung
des Musters Licht mit einem Wellenlängenbereich verwendet
wird, der außerhalb des für die Abbildung wirksam
verwendeten Wellenlängenbereiches liegt, und zur
Kompensation der hierdurch bedingten
Brennpunktverschiebungen das Muster oder eine das Muster
abbildende Optik in Abhängigkeit von dem jeweils
verwendeten Mikroskopobjektiv in eine vorbestimmte Lage
verschoben wird, welche die wellenlängenbedingte
Brennpunktverschiebung kompensiert.
Gemäß einer alternativen Lösung erfolgt die Beleuchtung
des Musters mit polarisiertem Licht, das im
Abbildungsstrahlengang vor dem Einblick und/oder einer
Aufnahmeeinrichtung durch komplementäre
Polarisationsfiltermittel ausgefiltert wird.
Gemäß einer besonders bevorzugten Ausgestaltung der
Erfindung werden bevorzugt für den Ausgleich der durch
einen Wechsel in der Objektivvergrößerung bedingten
Änderungen der Signale optische Mittel verwendet, mit
welchen die optischen Signale vor ihrer Umwandlung in
elektrische Signale eine Anpassung erfahren. Alternativ
oder zusätzlich hierzu können für den Ausgleich der durch
einen Wechsel in der Objektivvergrößerung bedingten
Änderungen der Signale elektronische Mittel eingesetzt
werden, welche die elektrischen Signale beeinflussen oder
verarbeiten, wie beispielsweise Gradationsverstärkungen
oder Verschiebungen im Frequenzverhalten elektrischer
Filter, Integratorschaltungen usw. Die praktische
Erfahrung hat jedoch gezeigt, daß die optischen Mittel
die Wirksamkeit zeigen. Gemäß einer besonders bevorzugten
Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens werden
als optische Signale von dem Objekt zwei voneinander
getrennte Abbildungen auf separaten elektro-optischen
Wandlern oder auf separaten Bereichen eines
elektro-optischen Wandlers erzeugt, wobei die durch
Rückprojektion der die Abbildungen aufnehmenden Wandler
oder Bereiche eines Wandlers entstehenden Fokusebenen
voneinander getrennt und vor bzw. hinter der
Scharfeinstellungsebene für das Objekt liegen. Der
besondere Vorteil dieses Verfahrens ist darin zu sehen,
daß es bei Auf- und Durchlichtbeleuchtung in gleicher
Weise anwendbar ist. Mit Vorteil werden als optische
Mittel Linsen bzw. Linsensysteme verwendet, die bei der
Formung der optischen Signale das vom Objektiv erzeugte
Bild maßstäblich verändern, und insbesondere eine
Verkleinerung desselben bewirken, damit die
Stufenkontraste erhöht und die bildseitige Tiefenschärfe
verringert wird. Gemäß einer Variante des
erfindungsgemäßen Verfahrens wird die Maßstabsveränderung
stufenweise durchgeführt, indem beispielsweise
entsprechend dem jeweils verwendeten Objektiv eine
zugehörige Linse oder ein zugehöriges Linsensystem in den
Fokussierungsstrahlengang eingeschwenkt wird, wobei die
Linsen oder Linsensysteme, beispielsweise auf einem
Revolver, angeordnet sein können.
Gemäß der bevorzugten Ausführungsform der Erfindung
erfolgt die Maßstabsveränderung jedoch kontinuierlich
mittels eines Zoomobjektivs, das in den Strahlengang des
Fokussierungssystems eingesetzt ist. Die Vergrößerung des
Objektivs kann hierdurch zumindest soweit aufgehoben
werden, daß der nachteilige Einfluß der bildseitigen
Tiefenschärfenzunahme eliminiert werden kann, und daß für
die vergrößerungsbedingten Verflachungen der
Kantenkontraste bei starken Vergrößerungen soweit
reduziert werden, daß bei einem Vergleich der zur
Scharfeinstellung herangezogenen Referenzsignale ein
sicheres Unterscheidungskriterium erreichbar ist.
Zweckmäßigerweise erfolgt die Maßstabsveränderung
gekoppelt mit der Veränderung der Objektivvergrößerung
und automatisch, wobei jedoch eine manuelle Beeinflußung
vorgenommen werden kann, die u. U. bei schwachen
Bildkontrasten notwendig ist, um einen von dem
Autofokussierungssystem verwertbaren Kontrastbereich
herauszugreifen.
Bei der praktischen Durchführung des Verfahrens hat es
sich als besonders zweckmäßig erwiesen, wenn die
Maßstabsveränderung nach einer Herausführung der
optischen Signale aus dem Abbildungsstrahlengang des
Mikroskops erfolgt, um letzteren nicht nachteilig zu
beeinflußen. Mit Vorteil werden dabei die optischen
Mittel zur Maßstabsänderung vor Aufspaltung in zwei
voneinander getrennte optische Signale verwendet. Als
zweckmäßig hat es sich des weiteren erwiesen, wenn die
optischen Signale vor der Bildung der voneinander
getrennten Abbildungen zumindest bei Einnahme des
optimalen Fokussierungszustandes bildgrößen- und
helligkeitsmäßig abgeglichen werden, d. h. wenn man bei
Einnahme des optimalen Fokussierungszustandes gleich
große und gleich helle Abbildungen erhält, was
normalerweise aufgrund der unterschiedlichen
Abbildungsverhältnisse und der unterschiedlichen Anzahl
von Reflexionen oder der unterschiedlichen Anzahl von
durchlaufenen Glasflächen nicht unbedingt der Fall ist.
Einfache, in einem der Strahlengänge angebrachte Sammel-
bzw. Zerstreuungslinsensysteme bzw. entsprechende
Graufilter ermöglichen ohne großen Aufwand die
Durchführung dieser Maßnahmen.
Insbesondere nach einem derartigen Abgleich der beiden
für die Fokussierung verwendeten Signale läßt sich zur
Grobfokussierung die Helligkeit der beiden Abbildungen
verwenden, ein Kriterium, das beispielsweise auch dann
wirksam ist, wenn die Rückprojektionen der beiden
Abbildungen in den Objektraum den eigentlichen
Scharfeinstellungsbereich nicht einschließen.
Zumindest für die Feinfokussierung werden die einen hohen
Ortsfrequenzbereich entsprechenden Inhalte der Signale
verwendet, welche optisch durch entsprechende Gitter
oder elektrisch durch entsprechende Filter
herausgegriffen werden können. Als elektro-optischer
Wandler wird vorzugsweise zumindest eine
TV-Aufnahmevorrichtung verwendet, wobei die getrennten
Abbildungen mit Vorteil benachbart zueinander auf
zumindest einem TV-Bildschirm wiedergegeben werden.
Dieser erlaubt eine visuelle Kontrolle der
Scharfeinstellung und läßt daneben erkennen, ob eine
bezüglich der Autofokussierung günstige, d. h.
kontrastreiche, Stelle des Objekts verwendet ist, die
eine Verschiebung des Objekts oder eine Maßstabsänderung
im Autofokussierungssystem angebracht erscheinen läßt.
Gemäß einer weiteren Ausgestaltung des erfindungsgemäßen
Verfahrens werden von dem Objekt Teilbilder in
unterschiedlichen Maßstäben nebeneinander oder überlagert
auf eine Detektorvorrichtung abgebildet, wobei die
Auswertelektronik die Scharfeinstellung anhand des
hierfür geeignetsten Ortsfrequenzbereichs bewirkt, der
den Teilbildern zu entnehmen ist.
Das erfindungsgemäße Mikroskop nach dem Anspruch 24
bewirkt, daß nicht nur bei stark wechselnder
Objektivvergrößerung, sondern auch bei schwachen
Objektivkontrasten eine sichere und exakte automatische
Fokussierung bewirkt werden kann. Die Beleuchtungsquelle,
welche das Muster beleuchtet, weist bevorzugt einen
bestimmten Wellenlängenbereich auf oder es ist ein
selektives Farbfilter vor dem Muster angeordnet und es
ist in den Abbildungsstrahlengang vor dem Einblick
und/oder einer Aufnahmevorrichtung z. B. einer
Photokamera, einem Videoaufnahmegerät oder Filmkameras
ein komplementäres Farbfilter angebracht. Vorzugsweise
ist daher in Richtung der Lichtausbreitung gesehen vor
dem Muster ein Langpaßfilter und im
Abbildungsstrahlengang vor dem Einblick und/oder einer
Aufnahmevorrichtung ein korrespondierendes Kurzpaßfilter
eingebracht. Als alternative Lösung kann in Richtung der
Lichtausbreitung gesehen vor dem Muster ein
Polarisationsfilter und in dem Abbildungsstrahlengang vor
dem Einblick und/oder der Aufnahmevorrichtung ein
komplementären Polarisationsfilter angebracht sein.
Als zweckmäßig hat es sich ferner erwiesen, wenn das
Gitter oder eine Linse, welche das Gitter abbildet, längs
des Projektionsstrahlenganges verschiebbar angeordnet ist
und mit einer Stellvorrichtung in Wirkverbindung steht,
welche eine Verschiebung des Gitters in Abhängigkeit von
dem jeweils verwendeten Mikroskopobjektiv bewirkt.
Vorzugsweise enthält das optische System, welches im
Autofokussierungssystem die Maßstabsänderung bewirkt, ein
Zoomsystem, das prinzipiell jedoch auch durch eine Reihe
von in den Strahlengang separat einbringbaren Linsen und
Linsensystemen ersetzt sein kann, die beispielsweise auf
einem Revolver angeordnet sind. Zweckmäßigerweise ist ein
Kopplungsmechanismus vorgesehen, welcher bewirkt, daß
bei einem Objektivwechsel oder bei einer Änderung der
Objektivvergrößerung die Brennweite des in den
Strahlengang des Autofokussierungssystems eingebrachten
oder einbringbaren zumindest einen optischen Systems
entsprechend variiert wird. Eine, insbesondere bei
schlechten Kontrasten, u. U. notwendige Nachjustierung
läßt sich besonders einfach bewerkstelligen, wenn der
Kopplungsmechanismus für jede vorgegebene Vergrößerung
des Objektivs eine entsprechende Grundeinstellung der
Brennweite für das zumindest eine optische System bewirkt
und daneben eine manuelle Eingriffsmöglichkeit zur
Brennweitenverstellung bietet.
Gemäß einer baulich besonders einfachen Ausführungsform
eines Mikroskops mit Auflicht- und/oder
Durchlichtbeleuchtung und zwei Detektoreinrichtungen,
welche derart angeordnet sind, daß ihre Rückprojektionen
mittels der Optiken des Autofokussierungssystems und des
Objektivs in voneinander getrennten Fokusebenen
benachbart zur Scharfeinstellungsebene des Objekts
liegen, wird das optische System zur Erzeugung einer
Maßstabsänderung der auf den Detektoreinrichtungen
erzeugten Abbildungen des Objekts in einen Bereich des
Fokussierungsstrahlengangs angeordnet oder ist in diesem
anbringbar, welcher von den zu den beiden
Detektoreinrichtungen verlaufenden Strahlenbündeln
gemeinsam durchlaufen wird. In einer alternativen
Ausgestaltung dieses Mikroskops wird je ein optisches
System zur Erzeugung einer Maßstabsänderung der auf den
Detektoreinrichtungen erzeugten Abbildungen des Objekts
in dem separat zu der jeweiligen Detektoreinrichtung
führenden Bereich des Strahlengangs angebracht. Die
beiden den Detektoreinrichtungen zugeordneten optischen
Systeme können unterschiedlich ausgebildet sein, und zwar
möglichst derart, daß sie gleichzeitig einen Hellabgleich
und/oder einen Größenabgleich im Zustand der
Scharfeinstellung sicherstellen. Gemäß einer besonders
bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist in dem
Abbildungsstrahlengang des Mikroskops eine
Strahlenteilervorrichtung derart angebracht, daß von dem
hierdurch ausgelenkten Fokussierungsstrahlenbündel ein
Zwischenbild des Objekts erzeugt wird, welches mit Hilfe
des zumindest einen optischen Systems im Maßstab
verändert direkt oder über ein weiteres Zwischenbild auf
die Detektoreinrichtungen abgebildet wird. Mit Vorteil
ist dem optischen System ein Kollimator derart
vorgeschaltet, daß der die Pupille des Mikroskopobjektivs
in die Pupille des zugehörigen optischen Systems
abbildet. Für die Detektoreinrichtungen wird vorzugsweise
zumindest eine TV-Aufnahmeeinrichtung verwendet, auf der
aneinander angrenzend, vorzugsweise nebeneinander, zwei
in der Größe identische Bilder des Objekts gebildet
werden, die bei optimaler Fokussierung gleich hell und
gleich unscharf sind. An die TV-Aufnahmeeinrichtung sind
elektronische Signalverarbeitungsmittel angeschlossen,
welche die Verschiebung des Objekttisches und/oder des
Mikroskopobjektivs steuern, bis eine optimale
Fokussierung erreicht ist. Zur visuellen Beobachtung kann
ein Bildschirm angeschlossen sein.
Bei Verwendung einer einzigen TV-Aufnahmeeinrichtung,
welche beide Abbildungen erfaßt, ist eine elektronische
Schaltung mit einem Differenzverstärker angeschlossen,
wobei ein Umschalter nach jedem Abtastintervall der
TV-Aufnahmeeinrichtung, das gleich der Breite einer der
auf der Aufnahmeleitung selbst erzeugten Abbildungen
ist, das gegebenenfalls aufbereitete Signal aus der
Aufnahmeeinrichtung auf den jeweils anderen Eingang des
Differenzverstärkers umschaltet.
Die Elektronik ist des weiteren vorzugsweise so
ausgelegt, daß Änderungen in den Signalen, die auf die
Relativbewegung zwischen Objekt und Objektiv während des
Fokussierungsvorganges zurückzuführen sind, zu keiner
Verfälschung der Meßergebnisse führen.
Die beiliegenden Zeichnungen eines Ausführungsbeispiels
dienen der weiteren Erläuterung der Erfindung:
Fig. 1 zeigt schematisch den Strahlengang eines
erfindungsgemäßen Mikroskops mit Autofokussierung;
Fig. 2 zeigt eine elektronische Schaltung, die an die
in Fig. 1 gezeigte Fernsehkamera anzuschließen
ist;
Fig. 3 zeigt Signalverläufe, die sich bei der
Schaltung der Fig. 2 ergeben.
Fig. 4 zeigt eine Detailansicht aus dem in Fig. 1
gezeigten Strahlengang von einer praktischen
Ausführungsform des Mikroskops.
In Fig. 1 sind schematisch die wichtigsten Bereiche des
Strahlengangs eines Mikroskops und dessen
Autofokussierungssystems dargestellt. Die optische Achse
des Mikroskops ist mit X-X bezeichnet. Mit O ist eine
längs der optischen Achse X-X des Mikroskops, wie durch
die Pfeile f-f′ angedeutet, verstellbare Objektebene
bezeichnet. Das Mikroskop ist für Auflicht- und
Durchlichtbeleuchtung ausgerichtet. Im Falle einer
Auflichtbeleuchtung wird Licht, das von einer Lichtquelle
LA herkommt, über einen halbdurchlässigen Spiegel 2 in
den Strahlengang X-X eingespiegelt. Im Falle einer
Durchlichtbeleuchtung fällt Licht, das von einer
Lichtquelle LD herkommt, nach Durchlaufen eines
Kondensors 4 ebenfalls auf die Objektebene O. In einem
lediglich schematisch angedeuteten Objektivrevolver 6 ist
eine Reihe von Objektiven mit unterschiedlicher
Vergrößerung derart gehaltert, daß diese bei Drehen des
Revolvers 6 aufeinanderfolgend in den Strahlengang X-X
einbringbar sind. Aus Gründen der Vereinfachung sind
lediglich zwei Objektive dargestellt, von denen das
Objektiv 8 nicht im Strahlengang und das Objektiv 10 im
Strahlengang angeordnet ist. Die Fokussierung erfolgt
durch Verschiebung der Objektebene O in Richtung der
Pfeile f bzw. f′. Mit P ist die Pupille des Objektivs 10
bezeichnet. In dem vom Objektiv 10 zu einem nicht
gezeigten Okular oder Binotubus führenden Strahlengang,
ist eine Tubuslinse 12 angebracht, sowie anschließend an
diese ein halbdurchlässiger Spiegel 14, der ein
Fokussierungsstrahlenbündel aus dem Strahlengang X-X
auslenkt, dessen optische Achse durch das Bezugszeichen
16 angedeutet ist und er zu einer mit TV bezeichneten
Fernsehkamera führt. Im letzten Bereich vor der
Fernsehkamera TV ist der Strahlengang 16 durch einen
Teilerspiegel in zwei Teilstrahlen 16 a und 16 b
aufgespalten, wobei der Teilstrahl 16 b durch einen
Umlenkspiegel 20 derart umgelenkt wird, daß er parallel
zum Teilstrahl 16 a verläuft. Beide Teilstrahlen 16 a und
16 b treffen auf eine lichtempfindliche Schicht 22 der
Fernsehkamera auf, bei der die Aufnahmelinse entfernt
ist. Die Teilstrahlen 16 a und 16 b erzeugen auf der
lichtempfindlichen Schicht 22 als Bildebene O′′′ zwei
Abbildungen 22 a und 22 b eines in der Objektebene O
befindlichen Objektes. Die Anordnung ist dabei derart
getroffen, daß die Abbildungen 22 a und 22 b möglichst eng
aneinanderliegen, sich aber nicht überlappen. Bei einer
Rückprojektion des zur Abbildung 22 a gehörigen
Flächenanteils der lichtempfindlichen Schicht 22 in den
Objektbereich erhält man eine Fokusebene a, bei der
Rückprojektion des der Abbildung 22 b zugehörigen
Flächenanteils der lichtempfindlichen Schicht 22 eine
Fokusebene b. Wenn sich die Objektebene O in der
Fokusebene a befindet, wird das Objekt auf dem
lichtempfindlichen Flächenanteil 22 a der lichtempfindlichen
Schicht 22 scharf abgebildet werden, während die
Abbildung auf dem lichtempfindlichen Flächenanteil 22 b
der lichtempfindlichen Schicht 22 unscharf ist, und
umgekehrt. In Fig. 1 befindet sich die Objektebene O in
der Mitte zwischen den beiden Fokusebenen a und b, so daß
die beiden Abbildungen 22 a und 22 b in gleichem Maße
unscharf sind, wobei eine Linse 24 im Teilstrahlengang
16 b bewirkt, daß die Teilbilder 22 a und 22 b gleich groß
sind. Im Teilstrahlengang 16 a kann des weiteren ein
Graufilter 26 angebracht sein, welches dem Umstand
Rechnung trägt, daß längs des Teilstrahlengangs 16 b mehr
Licht absorbiert wird als längs des Teilstrahlengangs
16 a, so daß auch ein Helligkeitsabgleich der Teilbilder
22 a und 22 b erfolgt. Wie man aus Fig. 1 erkennt, erfolgt
die Abbildung des Objekts mittels des
Fokussierungsstrahlengangs 16 nicht unmittelbar auf die
Flächenanteile 22 a bzw. 22 b der lichtempfindlichen
Schicht 22, sondern über Zwischenbilder, wobei im
vorliegenden Falle zwei Zwischenbilder O′ und O′′ zur
Anwendung kommen. Das Zwischenbild O′ wird von dem
Objektiv 10 und der Tubuslinse 12 erzeugt, wobei die
Größe bzw. der Maßstab des vom Objekt in der
Zwischenbildebene O′ erzeugten Bildes von der
Vergrößerung des Objektivs 10 abhängt. Die Lage des
Zwischenbilds O′ bleibt jedoch unverändert. Würde man die
des weiteren vor dem Strahlenteiler 18 angeordneten
Linsen 28 und 30 derart wählen, daß sie ein in der
Zwischenbildebene O′ erzeugtes Bild des Objekts auf die
lichtempfindliche Schicht 22 abbilden würden, würden die
Objektdetails in den auf den lichtempfindlichen
Flächenanteilen 22 a und 22 b erzeugten Abbildungen
entsprechend der Vergrößerung des jeweils verwendeten
Objektivs unterschiedlich groß wiedergegeben werden.
Eine derartige Bildvergrößerung bewirkt jedoch, wie
bereits eingangs erwähnt, eine Verflachung der
Kantenkontraste, d. h., eine Verringerung der hohen
Ortsfrequenzen, die beispielsweise in einer nachfolgenden
Steuerungselektronik als Scharfeinstellungskriterium
verwendbar sind. Zum anderen wird hierdurch, wie bereits
ebenfalls vorstehend erwähnt, durch eine erhöhte
Objektivvergrößerung die bildseitige Tiefenschärfe, d. h.,
die Tiefenschärfe im Bereich der lichtempfindlichen
Schicht 22, größer, so daß auch aus diesem Grunde eine
Fokussierung immer schwieriger wird. Als Gegenmaßnahme
wird das Zwischenbild O′ mittels eines Zoomsystems 32,
sowie im dargestellten Beispiel eines Kollimators 34 in
eine ortsfeste zweite Zwischenbildebene O′′ abgebildet.
Der Kollimator 34 bewirkt, daß dem Zoomsystem 32
paralleles Licht zugeführt wird. Er bildet des weiteren
die Pupille P des Objektivs 10 in die Pupille P′ des
Zoomsystems 32 ab. Das Zoomsystem 32 und der Kollimator
34 erzeugen somit in der Zwischenbildebene O′′ ein
verkleinertes Bild des in der Zwischenbildebene O′
erzeugten, vom Objektiv 10 vergrößert wiedergegebenen
Bilds des Objektes O. Durch eine geeignete Wahl der
Verkleinerung kann erreicht werden, daß unabhängig von
der Vergrößerung des jeweils verwendeten
Mikroskopobjektivs in der Zwischenbildebene O′′ ein Bild
des Objektes O entsteht, dessen Größe sich nicht oder nur
wenig verändert. Dies kann durch einen
Koppelungsmechanismus 36 bewerkstelligt werden, der
automatisch mit der Verstellung des Objektivrevolvers 6
die Brennweite des Zoomsystems 32 und damit dessen
Vergrößerungs- bzw. Verkleinerungswirkung auf
entsprechende Grundwerte einregelt, wobei ein manuell
betätigbares Stellglied 38 ein gewollt unterschiedlich
oder zusätzliche Brennweitenverstellung des Zoomsystems
32 ermöglicht, die in Sonderfällen, wie beispielsweise
bei besonders schwachen Objektkontrasten u. U.
wünschenswert ist.
Die folgende Tabelle gibt Beispiele für eine derartige
Grundeinstellung wieder.
Längsobjektivvergrößerung | |
Brennweite; Zoomsystem |
|
5x/10x|80 mm | |
20× | 60 mm |
50× | 30 mm |
100×/150× | 18 mm |
Die Kollimatorlinse hat dabei beispielsweise eine
Brennweite von 70 mm, die Linse 40 eine Brennweite von
40 mm und die Linse 30 eine Brennweite von 25 mm, wenn
auf einer Fernsehkamera mit 2/3′′ zwei identische Bilder
nebeneinander erzeugt werden sollen.
Fig. 1 zeigt ferner in schematisierter Darstellung die
Einspiegelung eines Musters in die Objektebene O. Das
Muster ist im dargestellten Falle von einem Gitter 40
gebildet, das mit einem Motortrieb 41 verbunden ist, der
eine Verschiebung des Gitters 40 längs der optischen
Achse des Abbildungsstrahlenganges 42 ermöglicht. Das
Gitter ist in einer zur Objektebene O konjugierten Ebene
angebracht. Es wird von einer Lampe 43 über einen
Kollektor 44 und einem Filter 45 beleuchtet, mittels
eines halbdurchlässigen Spiegels 46 in den Strahlengang
eingeblendet und über den halbdurchlässigen Spiegel 14,
die Linse 12 sowie das jeweilige Objektiv 8 des
Objektivrevolvers 10 in die Objektebene O projiziert. In
Betrachungsstrahlengang X-X ist eine bezüglich seiner
Wellenlängendurchlässigkeit komplementäres Filter 47
angebracht. (Wenn das Filter 45 ein Langpaßfilter z. B.
für 670 nm ist, dient als Filter 47 ein entsprechendes
Kurzpaßfilter z. B. für 670 nm). Die Verwendung der Filter
45 und 47 verhindert, daß das auf dem Objekt O erzeugte
Bild des Gitters 40 im Einblick des Mikroskops sichtbar
wird.
Durch Auswahl einer Filterwellenlänge für das Filter 45,
die im Infrarotem liegt, läßt sich der gleiche Effekt
erzielen und das Filter 47 könnte entfallen. Wenn jedoch
die Objektive, wie üblich, nicht für Infrarot korrigiert
sind, würde dies jedoch dazu führen, daß das Gitter 40
nicht scharf abgebildet wird und je nach Objektiv 8
unterschiedliche Fokuslagen in der Bildebene O′′′
einnähme. Dies wird durch den Motortrieb 41
ausgeglichen, welcher das Gitter 40 in Abhängigkeit von
dem jeweiligen Objektiv 8, beispielsweise durch ein nicht
gezeigtes durch die Verstellung des Objektivrevolvers
betätigtes Stellglied entsprechend längs der optischen
Achse 42 verschiebt.
Die in Fig. 4 gezeigte teilschematisierte
Detaildarstellung der für die Autofokussierung
verwendeten Optik-Baugruppen gilt ein praktisches
Ausführungsbeispiel wieder. Die der schematischen
Darstellung von Fig. 1 entsprechenden Bandelemente sind
mit den gleichen Bezugszeichen belegt. Daneben erkennt
man einen zusätzlichen Spiegel 48 der das von der
Lichtquelle 43 kommende Beleuchtungslicht auf das in der
zur Objektebene konjugierten Ebene O* belegene Gitter 40
umlenkt und eine nach dem Zoomobjektiv angebrachte Blende
50. Die Lichtquelle 43 enthält eine Reflektorlampe 49,
die in einem mit Kühlrippen versehenen Lampengehäuse 51
aufgenommen ist, welches auch das Filter 45 haltert. Das
komplementäre Filter 47 im Beobachtungsstrahlengang ist
in dieser Detailansicht nicht dargestellt.
An die Fernsehkamera TV von Fig. 1 ist beispielsweise die
in Fig. 2 gezeigte elektronische Schaltung angeschlossen.
Das Ausgangssignal aus der Fernsehkamera TV gelangt in
einen Eingangsverstärker A und hat die in den
Signalverlaufdiagrammen der Fig. 3 unter I gezeigte Form,
und zwar unter der Voraussetzung, daß sich die
Objektebene O näher an einer der beiden Fokusebenen a, b
befindet. Nehmen wir an, es sei dies die Fokusebene a.
Dann wird die auf dem lichtempfindlichen Flächenanteil
22 a erzeugte Abbildung schärfer als die auf dem
lichtempfindlichen Flächenanteil 22 b erzeugte Abbildung
sein, so daß der über die gesamte Breite der
lichtempfindlichen Schicht laufende Abtaststrahl der
Fernsehkamera TV das unter I gezeigte elektrische Signal
ergibt, bei dem der Oberwellenanteil sehr groß ist,
solange der Abtaststrahl den lichtempfindlichen
Flächenanteil 22 a durchläuft, und sehr niedrig, wenn er
den lichtempfindlichen Flächenanteil 22 b durchläuft.
Begrenzt wird so eine Abtastzeile auf beiden Seiten von
den horizontalen Synchronisationssignalen, die ebenfalls
in der Fig. 3 I dargestellt sind.
An den Eingangsverstärker A ist ein Hochpaßfilter B
angeschlossen, der die hochfrequenten Schwingungen
bevorzugt durchläßt. An diesen wiederum ist ein
Nachverstärker C angeschlossen. An den elektronischen
Schalter F sind in Parallelschaltung zwei elektronische
Schalter G und H angeschlossen, auf die in Reihe zwei
Demodulatoren D und E folgen, von denen der eine an den
positiven Eingang und der andere an den negativen Eingang
eines Leistungsdifferenzverstärkers I angeschlossen ist,
dessen Ausgang ein Stellglied J steuert, das die
Objektebene O verstellt. Zwischen dem Eingangsverstärker
A und dem Hochpaßfilter B ist eine Abzweigung vorgesehen,
die zu einer Einheit K für die vertikale
Synchronisationserkennung führt und deren Ausgang den
elektronischen Schalter F steuert. Diese Einheit K öffnet
den Schalter F, solange vertikale Synchronisationsimpulse
ankommen, und schließt den Schalter F während der übrigen
Zeit, in der die lichtempfindliche Schicht 22 über beide
Flächenanteile 22 a und 22 b hinweg Zeile für Zeile
abgetastet wird, bis diese Fläche einmal vollständig
abgetastet worden ist, so daß während der Ankunft der
vertikalen Synchronisationsimpulse eine Ansteuerung des
Stellmotors J ausgeschlossen ist.
Zwischen dem Eingangsverstärker A und dem Hochpaßfilter B ist
auch noch eine Einheit L für die horizontale Synchronisationserkennung
angeschlossen, deren Ausgang an einem Monoflop M
angeschlossen ist, dessen Ausgang seinerseits zum elektronischen
Schalter E und über einen weiteren Monoflop N zum elektronischen
Schalter H geführt ist. Über die Einheit L wird der
Monoflop M jedesmal dann angesteuert, wenn ein horizontaler
Synchronisationsimpuls eingeht. Der Monoflop M schließt dann
über die halbe Länge einer Abtastzeile, also solange der Abtaststrahl
den Flächenanteil 22 a der lichtempfindlichen Schicht
20 durchläuft, den elektronischen Schalter G, während der elektronische
Schalter H offen ist, und triggert nach der vorgegebenen
Zeit den Monoflop N an, wobei der elektronische Schalter
G gleichzeitig geöffnet wird. Ist der Monoflop N beaufschlagt
worden, schließt der Halter H die voreingestellte Zeit, nämlich
über die Zeit, die zum Durchlaufen der zweiten Hälfte der Abtastzeile
über die Breite des Flächenanteils 22 b der lichtempfindlichen
Schicht 20 hinweg benötigt wird, den elektronischen
Schalter H. Die vor den Demodulatoren D und E anliegenden elektrischen
Signale sehen daher aus wie es unter II und
III der Fig. 3 gezeigt ist.
Aus den Demodulatoren D und E kommt ein Gleichspannungssignal,
dessen Wert umso größer ist, je größer der Oberwellenanteil
in den an die Demodulatoren D und E ankommenden elektrischen
Signalen ist, d. h. im vorliegenden Beispiel, daß das Ausgangssignal
des Demodulators D sehr groß ist, während das Ausgangssignal
aus dem Demodulator E sehr klein ist. Die Gleichspannungen
aus den Demodulatoren D und E verändern sich praktisch
innerhalb einer Bildzeile nicht.
Unter IV ist in Fig. 3 die Gleichspannung aus dem Demodulator
D punktiert und die Gleichspannung aus dem Demodulator E gestrichelt
aufgetragen in Abhängigkeit von der Stellung der
Objektebene O, wobei auch die Fokusebenen a und b angegeben
sind. Liegt bspw. die Objektebene O in der Fokusebene a, dann
erreicht die Gleichspannung aus dem Demodulator D ihr Maximum,
während die Gleichspannung aus dem Demodulator E ihr Minimum,
als praktisch Null, erreicht. Umgekehrt liegen die Verhältnisse,
wenn sich die Objektebene in der Fokusebene b befindet.
Der Leistungsverstärker I bildet nun das Differenzsignal zwischen
der punktiert gezeichneten Spannung und der gestrichelt
gezeichneten Spannung, wobei zu berücksichtigen ist, daß die
eine Spannung ja am positiven und die andere Spannung am negativen
Eingang anliegt, so daß sich am Ausgang des Leistungsverstärkers
eine Umkehrung der Polarität ergibt. Diese Ausgangsspannung
ist mit durchgehender Linie eingezeichnet. Mit Hilfe
dieser Spannung kann nun einfach der als Stellmotor dienende
Gleichstrommotor J beaufschlagt werden, der die Objektebene
O verfährt. Der Stellmotor J wird die Stelle aufsuchen, wo
die durchgezogene Spannungslinie die Abszisse kreuzt. Das ist
genau in der Mitte zwischen den Fokusebenen a und b. Der Regelkreis
ist somit geschlossen.
Claims (39)
1. Verfahren zur Autofokussierung eines Mikroskops
mit kontinuierlich oder diskontinuierlich veränderbarer
Objektivvergrößerung, bei dem zwei Signale erzeugt werden,
welche sich bei Vergrößerung bzw. bei Verkleinerung des
Abstandes zwischen Objekt und Objektiv zumindest in einem
Bereich, der benachbart zur Scharfeinstellungsebene liegt
und diesen enthält, gegenläufig verändern, wobei Signale aus
einer Strahlung gewonnen werden, die vom Objekt kommend durch
das Objektiv hindurchgetreten ist, und wobei aus den Signalen
zumindest ein Steuersignal gebildet wird, welches eine
Verschiebung von Objekt und/oder Objektiv in Richtung einer
optimalen Scharfeinstellung bewirkt und bei dem durch einen
Wechsel in der Objektivvergrößerung bedingte Änderungen in
den Signalen zumindest so weit ausgeglichen werden, daß die
Autofokussierung für die jeweilige Objektivvergrößerung
sichergestellt ist, dadurch gekennzeichnet, daß bei Betrieb
mit einer Auflichtbeleuchtung in die Objektebene ein
Hell-Dunkel-Kontrast enthaltendes Muster projiziert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß das Muster in einer zur Objektebene konjugierten Ebene
angeordnet und von hinten beleuchtet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß als Muster ein Strich- oder Kreuzgitter
verwendet wird.
4. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß das Muster mittels eines
teildurchlässigen Spiegels oder Prismas im
Abbildungsstrahlengang eingespiegelt wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß die Beleuchtung des Musters nur
während der Relativbewegung zwischen Objekt und Objektiv
eingeschaltet wird.
6. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß für die Beleuchtung des Musters
und zur Durchführung der Autofokussierung Licht eines
Wellenlängenbereichs verwendet wird, der im
Abbildungsstrahlengang vor dem Einblick und/oder einer
Aufzeichnungseinrichtung wieder ausgefiltert wird.
7. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß zur Beleuchtung des Musters
Licht mit einem Wellenlängenbereich verwendet wird, der
außerhalb des für die Abbildung wirksam verwendeten
Wellenlängenbereiches liegt, und daß zur Kompensation der
hierdurch bedingten Brennpunktverschiebungen das Muster oder
eine das Muster abbildende Optik in Abhängigkeit von dem
jeweils verwendeten Mikroskopobjektiv in eine vorbestimmte
Lage verschoben wird, welche die wellenlängenbedingte
Brennpunktverschiebung kompensiert.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Beleuchtung des Musters mit
polarisiertem Licht erfolgt, das im Abbildungsstrahlengang
vor dem Einblick und/oder einer Aufnahmeeinrichtung durch
komplementäre Polarisationsfiltermittel ausgefiltert wird.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch
gekennzeichnet, daß die Signale zunächst optische Signale
sind, die durch opto-elektrische Wandler in elektrische
Signale umgewandelt werden, und daß für den Ausgleich der
durch einen Wechsel in der Objektivvergrößerung bedingten
Änderungen der Signale optische Mittel verwendet werden,
mit welchen eine Anpassung der optischen Signale vor der
Umwandlung in elektrische Signale vorgenommen wird,
und/oder daß für den Ausgleich der durch einen Wechsel in
der Objektivvergrößerung bedingten Änderungen der Signale
elektronische Mittel verwendet werden, welche die
elektrischen Signale beeinflussen oder verarbeiten.
10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet,
daß als optische Signale von dem Objekt zwei voneinander
getrennte Abbildungen auf separaten elektro-optischen
Wandlern oder auf separaten Bereichen eines
elektro-optischen Wandlers erzeugt werden, wobei die
durch Rückprojektion der die Abbildungen aufnehmenden
Wandler oder Bereiche eines Wandlers entstehenden
Fokusebenen voneinander getrennt werden und vor bzw.
hinter der Scharfeinstellungsebene liegen.
11. Verfahren nach Ansprich 9 oder 11, dadurch
gekennzeichnet, daß als optische Mittel Linsen bzw.
Linsensysteme verwendet werden, die bei der Formung der
optischen Signale das vom Objektiv erzeugte Bild
maßstäblich verändern.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 11, dadurch
gekennzeichnet, daß die optischen Mittel verwendet
werden, um das vom Objektiv kommende Bild zu verkleinern.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 11 oder 12,
dadurch gekennzeichnet, daß die Maßstabsveränderung
stufenweise durchgeführt wird.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 11 oder 12,
dadurch gekennzeichnet, daß die Maßstabsveränderung
kontinuierlich durchgeführt wird.
15. Verfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 14,
dadurch gekennzeichnet, daß die Maßstabsveränderung
gekoppelt mit der Veränderung der Objektivvergrößerung
erfolgt.
16. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 15, dadurch
gekennzeichnet, daß die Maßstabsveränderung nach einem
Herausführen der optischen Signale aus dem
Abbildungsstrahlengang des Mikroskops erfolgt.
17. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 16, dadurch
gekennzeichnet, daß die optischen Mittel zur
Maßstabsveränderung vor Aufspaltung in zwei voneinander
getrennte optische Signale verwendet werden.
18. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 17, dadurch
gekennzeichnet, daß die optischen Signale vor Bildung der
voneinander getrennten Abbildungen zumindest bei Einnahme
des optimalen Fokussierungszustandes bildgrößen- und
helligkeitsmäßig abgeglichen werden.
19. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 18, dadurch
gekennzeichnet, daß zur Grobfokussierung der Helligkeit
der beiden Abbildungen verwendet wird.
20. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 18, dadurch
gekennzeichnet, daß zumindest zur Feinfokussierung die
einem hohen Ortsfrequenzbereich des Objekts
entsprechenden Inhalte der Signale verwendet werden.
21. Verfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 20, dadurch
gekennzeichnet, daß als elektro-optische Wandler
zumindest eine TV-Aufnahmevorrichtung verwendet wird.
22. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die getrennten Abbildungen
benachbart zueinander auf zumindest einem TV-Bildschirm
wiedergegeben werden.
23. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß von dem Objekt Teilbilder in
unterschiedlichen Maßstäben nebeneinander oder überlagert
auf eine Detektorvorrichtung abgebildet werden.
24. Mikroskop mit kontinuierlich oder diskontinuierlich
variierbarer Objektivvergrößerung mit einem
Autofokussierungssystem, dessen Strahlengang das Objektiv
durchsetzt, zwischen Objektiv und Okular aus dem
Abbildungsstrahlengang des Mikroskops herausgeführt ist,
und zu zumindest einer foto-elektrischen
Detektorvorrichtung führt, bei welchem in dem
Strahlengang des Autofokussierungssystems zumindest ein
optisches System eingebracht oder einbringbar ist, das
bei einer Änderung der Objektivvergrößerung eine
Maßstabsänderung des zumindest einen auf der
Detektorvorrichtung erzeugten Bildes ermöglicht oder
bewirkt, dadurch gekennzeichnet, daß in einer zur
Objektebene konjugierten Ebene ein Hell-Dunkel-Kontraste
enthaltendes Muster angeordnet ist, das mittels einer
Beleuchtungsquelle und eines im Strahlengang angeordneten
teildurchlässigen Spiegels oder Prismas in die
Objektebene projizierbar ist.
25. Mikroskop nach Anspruch 24, dadurch
gekennzeichnet, daß das Muster im Abbildungsstrahlengang
eingespiegelt wird.
26. Mikroskop nach Anspruch 24 oder 25, dadurch
gekennzeichnet, daß das Muster ein Strich- oder Kreuzgitter
ist.
27. Mikroskop nach einem der Ansprüche 24 oder 26,
dadurch gekennzeichnet, daß die Beleuchtungsquelle einen
bestimmten Wellenlängenbereich aufweist oder daß ein
selektives Farbfilter vor dem Muster angeordnet ist, und daß
in den Abbildungsstrahlengang vor dem Einblick und/oder
einer Aufnahmevorrichtung ein komplementäres Farbfilter
angebracht ist.
28. Mikroskop nach Anspruch 27, dadurch
gekennzeichnet, daß in Richtung der Lichtausbreitung gesehen
vor dem Muster ein Langpaßfilter und im
Abbildungsstrahlenang vor dem Einblick und/oder einer
Aufnahmevorrichtung ein korrespondierendes Kurzpaßfilter
eingebracht ist.
29. Mikroskop nach einem der Ansprüche 24 bis 26,
dadurch gekennzeichnet, daß in Richtung der Lichtausbreitung
gesehen vor dem Muster ein Polarisationsfilter und in dem
Abbildungsstrahlengang vor dem Einblick und/oder der
Aufnahmevorrichtung ein komplementäres Polarisationsfilter
angebracht ist.
30. Mikroskop nach einem der Ansprüche 24 bis 29,
dadurch gekennzeichnet, daß das Gitter oder eine Linse,
welche das Gitter abbildet, längs des
Projektionsstrahlenganges verschiebbar angeordnet ist und
mit einer Stellvorrichtung in Wirkverbindung steht, welche
eine Verschiebung des Gitters in Abhängigkeit von dem jeweils
verwendeten Mikroskopobjektiv bewirkt.
31. Mikroskop nach einem der Ansprüche 24 bis 30,
dadurch gekennzeichnet, daß das zumindest eine optische
System ein Zoomsystem enthält.
32. Mikroskop nach einem der Ansprüche 24 bis 30,
dadurch gekennzeichnet, daß das zumindest eine optische
System eine Reihe von in den Strahlengang des
Fokussierungssystems einbringbaren Linsen oder festen
Linsensystemen enthält.
33. Mikroskop nach einem der Ansprüche 24 bis 32
gekennzeichnet durch einen Kopplungsmechanismus, welcher
bewirkt, daß bei einem Objektivwechsel oder einer
Änderung der Objetivvergrößerung die Brennweite des
zumindest einen in den Strahlengang des
Autofokussierungssystems eingebrachten oder einbringbaren
optischen Systems entsprechend variiert wird.
34. Mikroskop nach einem der Ansprüche 24 bis 32,
dadurch gekennzeichnet, daß der Kopplungsmechanismus für
jede Vergrößerung des Objektivs eine entsprechende
Grundeinstellung der Brennweite bewirkt und eine manuelle
Eingriffsmöglichkeit bietet.
35. Mikroskop nach einem der Ansprüche 24 bis 34,
mit Auflicht- und/oder Durchlichtbeleuchtung und zwei
Detektoreinrichtungen, welche derart angeordnet sind, daß
ihre Rückprojektionen mittels der Optiken des
Autofokussierungssystems und des Objektivs in voneinander
getrennten Fokusebenen benachbart zur Scharfeinstellungsebene
des Objektivs liegen, dadurch gekennzeichnet, daß das
optische System zur Erzeugung einer Maßstabsänderung der
auf den Detektoreinrichtungen erzeugten Abbildungen des
Objekts in einem Bereich des Fokussierungsstrahlengangs
angebracht oder anbringbar ist, der von den zu den beiden
Detektoreinrichtungen verlaufenden Strahlenbündeln
gemeinsam durchlaufen wird.
36. Mikroskop nach einem der Ansprüche 24 bis 34,
mit Auflicht- und/oder Durchlichtbeleuchtung und zwei
Detektoreinrichtungen, welche derart angeordnet sind, daß
ihre Rückprojektionen mittels der Optiken des
Autofokussierungssystems und des Objektivs in voneinander
getrennten Fokusebenen benachbart zur Scharfeinstellungsebene
des Objekts liegen, dadurch gekennzeichnet, daß je
ein optisches System zur Erzeugung einer Maßstabsänderung
der auf den Detektoreinrichtungen erzeugten Abbildungen
des Objekts in dem separat zu der jeweiligen
Detektoreinrichtung führenden Bereich des Strahlengangs
angebracht oder anbringbar ist.
37. Mikroskop nach einem der Ansprüche 24 bis 36,
dadurch gekennzeichnet, daß in dem Abbildungsstrahlengang
des Mikroskops eine Strahlenteilervorrichtung derart
angebracht ist, daß von dem hierdurch ausgelenkten
Fokussierungsstrahlenbündel ein Zwischenbild des Objekts
erzeugt wird, welches mit Hilfe des zumindest einen
optischen Systems im Maßstab verändert und direkt oder
über ein weiteres Zwischenbild auf die
Detektoreinrichtungen abgebildet wird.
38. Mikroskop nach Anspruch 38, dadurch
gekennzeichnet, daß mit dem zumindest einen optischen System
ein Kollimator derart vorgeschaltet ist, daß er die
Pupille des Mikroskopobjektivs in die Pupille des
zugehörigen optischen Systems abbildet.
39. Mikroskop nach einem der Ansprüche 24 bis 38,
dadurch gekennzeichnet, daß als Detektoreinrichtungen
zumindest eine TV-Aufnahmeeinrichtung dient, an die
elektronische Signalverarbeitungsmittel angeschlossen
sind, welche die Verschiebung des Objekttisches und/oder
des jeweiligen Mikroskopobjektivs steuern, bis eine
optimale Fokussierung erreicht ist, und daß
gegebenenfalls zumindest ein Bildschirm angeschlossen
ist.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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---|---|---|---|
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
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---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3739223A1 (de) |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1991018313A1 (en) * | 1990-05-21 | 1991-11-28 | Interactive Video Systems, Inc. | Projected image focus system and method of use |
EP0529458A1 (de) * | 1991-08-22 | 1993-03-03 | Applied Imaging International Ltd. | Automatische Scharfstelleinrichtung |
FR2690531A1 (fr) * | 1992-04-23 | 1993-10-29 | Moeller J D Optik | Microscope opératoire. |
US5270527A (en) * | 1991-10-11 | 1993-12-14 | Leica Ag | Method for autofocusing of microscopes and autofocusing system for microscopes |
FR2725532A1 (fr) * | 1994-10-10 | 1996-04-12 | Nova Measuring Instr Ltd | Microscope autofocus |
US6974938B1 (en) | 2000-03-08 | 2005-12-13 | Tibotec Bvba | Microscope having a stable autofocusing apparatus |
WO2009043472A2 (de) | 2007-09-26 | 2009-04-09 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Verfahren zur mikroskopischen dreidimensionalen abbildung einer probe |
DE102009012293A1 (de) * | 2009-03-11 | 2010-09-16 | Sensovation Ag | Autofokusverfahren und Autofokuseinrichtung |
DE19721112B4 (de) * | 1996-05-20 | 2010-12-02 | Mitutoyo Corp., Kawasaki-shi | Autofokussierverfahren |
DE102009047249B4 (de) * | 2008-11-28 | 2014-08-28 | Mitutoyo Corp. | Autofokusvorrichtung |
CN111788508A (zh) * | 2018-03-01 | 2020-10-16 | 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 | 数码显微镜和用于改变数码显微镜的放大率的方法 |
US10877258B2 (en) | 2014-10-06 | 2020-12-29 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Microscope |
US10928619B2 (en) | 2014-10-06 | 2021-02-23 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Microscope |
US10928618B2 (en) | 2014-10-06 | 2021-02-23 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Microscope |
CN114488501A (zh) * | 2018-04-25 | 2022-05-13 | 卡尔蔡司医疗技术股份公司 | 显微系统以及用于操作显微系统的方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2102922B2 (de) * | 1971-01-22 | 1977-12-22 | Anordnung zum selbsttaetigen fokussieren auf in optischen geraeten zu betrachtende objekte | |
US4255029A (en) * | 1978-09-04 | 1981-03-10 | Karl Vockenhuber | Focusing device |
DE2812593C2 (de) * | 1977-03-23 | 1982-07-15 | Olympus Optical Co., Ltd., Tokyo | Vorrichtung zur automatischen Fokussierung des optischen Systems eines Mikroskops |
DE3339970A1 (de) * | 1983-11-04 | 1985-05-15 | Karl Süss KG, Präzisionsgeräte für Wissenschaft und Industrie GmbH & Co, 8046 Garching | Einrichtung zum automatischen fokussieren von optischen geraeten |
DE3707487A1 (de) * | 1986-05-16 | 1987-11-26 | Reichert Optische Werke Ag | Verfahren zur autofokussierung von mikroskopen und mikroskope mit einer autofokussierung |
-
1987
- 1987-11-19 DE DE19873739223 patent/DE3739223A1/de not_active Ceased
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2102922B2 (de) * | 1971-01-22 | 1977-12-22 | Anordnung zum selbsttaetigen fokussieren auf in optischen geraeten zu betrachtende objekte | |
DE2812593C2 (de) * | 1977-03-23 | 1982-07-15 | Olympus Optical Co., Ltd., Tokyo | Vorrichtung zur automatischen Fokussierung des optischen Systems eines Mikroskops |
US4255029A (en) * | 1978-09-04 | 1981-03-10 | Karl Vockenhuber | Focusing device |
DE3339970A1 (de) * | 1983-11-04 | 1985-05-15 | Karl Süss KG, Präzisionsgeräte für Wissenschaft und Industrie GmbH & Co, 8046 Garching | Einrichtung zum automatischen fokussieren von optischen geraeten |
DE3707487A1 (de) * | 1986-05-16 | 1987-11-26 | Reichert Optische Werke Ag | Verfahren zur autofokussierung von mikroskopen und mikroskope mit einer autofokussierung |
Cited By (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1991018313A1 (en) * | 1990-05-21 | 1991-11-28 | Interactive Video Systems, Inc. | Projected image focus system and method of use |
EP0529458A1 (de) * | 1991-08-22 | 1993-03-03 | Applied Imaging International Ltd. | Automatische Scharfstelleinrichtung |
US5270527A (en) * | 1991-10-11 | 1993-12-14 | Leica Ag | Method for autofocusing of microscopes and autofocusing system for microscopes |
FR2690531A1 (fr) * | 1992-04-23 | 1993-10-29 | Moeller J D Optik | Microscope opératoire. |
FR2725532A1 (fr) * | 1994-10-10 | 1996-04-12 | Nova Measuring Instr Ltd | Microscope autofocus |
DE19721112B4 (de) * | 1996-05-20 | 2010-12-02 | Mitutoyo Corp., Kawasaki-shi | Autofokussierverfahren |
US6974938B1 (en) | 2000-03-08 | 2005-12-13 | Tibotec Bvba | Microscope having a stable autofocusing apparatus |
US7016110B2 (en) | 2000-03-08 | 2006-03-21 | Tibotec Bvba | Microscope suitable for high-throughput screening having an autofocusing apparatus |
WO2009043472A3 (de) * | 2007-09-26 | 2009-07-30 | Zeiss Carl Microimaging Gmbh | Verfahren zur mikroskopischen dreidimensionalen abbildung einer probe |
WO2009043472A2 (de) | 2007-09-26 | 2009-04-09 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Verfahren zur mikroskopischen dreidimensionalen abbildung einer probe |
US9697605B2 (en) | 2007-09-26 | 2017-07-04 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Method for the microscopic three-dimensional reproduction of a sample |
DE102009047249B4 (de) * | 2008-11-28 | 2014-08-28 | Mitutoyo Corp. | Autofokusvorrichtung |
DE102009012293A1 (de) * | 2009-03-11 | 2010-09-16 | Sensovation Ag | Autofokusverfahren und Autofokuseinrichtung |
US10877258B2 (en) | 2014-10-06 | 2020-12-29 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Microscope |
US10928619B2 (en) | 2014-10-06 | 2021-02-23 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Microscope |
US10928618B2 (en) | 2014-10-06 | 2021-02-23 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Microscope |
CN111788508A (zh) * | 2018-03-01 | 2020-10-16 | 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 | 数码显微镜和用于改变数码显微镜的放大率的方法 |
CN111788508B (zh) * | 2018-03-01 | 2022-08-23 | 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 | 数码显微镜和用于改变数码显微镜的放大率的方法 |
CN114488501A (zh) * | 2018-04-25 | 2022-05-13 | 卡尔蔡司医疗技术股份公司 | 显微系统以及用于操作显微系统的方法 |
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