DE3400920A1

DE3400920A1 - Multi-point current measuring device

Info

Publication number: DE3400920A1
Application number: DE19843400920
Authority: DE
Inventors: Tadashi Sagamihara Kanagawa Ogawa; Hideaki Tokorozawa Saitama Uno; Keiki Fuchu Tokio/Tokyo Yamaguchi
Original assignee: Yokogawa Hokushin Electric Corp
Current assignee: Yokogawa Electric Corp
Priority date: 1984-01-12
Filing date: 1984-01-12
Publication date: 1985-07-25

Abstract

This device supplies signal currents in several channels of an X-ray detector in a computer-aided X-ray tomography unit to corresponding capacitors (C1-Cn) in order to charge up the latter and successively reads out or picks up the voltages present across the capacitors in order to measure the signal currents. Offsets occurring in the measuring system are compensated for in order to achieve a high-speed current measurement. <IMAGE>

Description

Die Erfindung betrifft eine Mehrpunkt-Strommeßvorrich-The invention relates to a multi-point current measuring device

tung zum Anlegen eines von einem Röntgendetektor eines rechnergestützten Röntgentomographen gelieferten Mehrkanalsignalstroms an jeweils einen von mehreren Kondensatoren und zum Abgreifen der Spannung, mit welcher der Kondensator aufgeladen worden ist, um den Signalstrom in jedem Kanal zu untersuchen und damit die Möglichkeit für einen Ausgleich einer in einer Strommeßanlage auftretenden Abweichung zu bieten und Ströme mit hoher Geschwindigkeit zu messen.device for creating a computer-aided by an X-ray detector X-ray tomographs delivered multi-channel signal stream to one of several Capacitors and for tapping the voltage with which the capacitor is charged has been to examine the signal flow in each channel and thus the possibility to compensate for a deviation occurring in a current measuring system and measure currents at high speed.

Ein rechnergestützter Röntgentomograph ist so ausgebildet, daß ein Untersuchungsobjekt (mit Röntgenstrahlung) durchleuchtet wird und die übertragenen bzw. durchgelassenen Röntgenstrahlen mittels eines aus einer Anzahl von Ionisierungskammern bestehenden Röntgendetektors erfaßt werden, um auf der Grundlage des vom Detektor gelieferten Signals auf das Untersuchungsobjekt bezogene Projektionsdaten zu gewinnen. Der Tomograph ist dabei mit einer Mehrpunkt-Strommeßvorrichtung versehen, mit welcher die Größe des Ausgangsstroms der Ionisierungskammer in jedem Kanal der Mehrkanalanordnung gemessen werden kann. Fig. 1 veranschaulicht eine bisherige Strommeßvorrichtung, bei der zu messende Signalströme 11 - In von einem Röntgendetektor fließen. Die Signalströme I1 -In sind pulsierende Ströme, die durch entsprechende Kondensatoren C1 - Cn in Spannungssignale umgesetzt werden. Die über den Kondensatoren C1 - Cn liegenden Aufladespannungen werden mittels Abtastschaltern S1 - Sn jeweils einzeln gewählt, durch einen Verstärker U verstärkt und dann ausgegeben.A computer-aided X-ray tomograph is designed so that a Examination object (with X-rays) is x-rayed and the transmitted or transmitted x-rays by means of one of a number of ionization chambers existing X-ray detector can be detected based on the information provided by the detector delivered signal to gain projection data related to the examination subject. The tomograph is provided with a multi-point current measuring device with which the magnitude of the output current of the ionization chamber in each channel of the multi-channel arrangement can be measured. Fig. 1 illustrates a previous current measuring device, in which the signal currents to be measured 11 - In flow from an X-ray detector. the Signal currents I1 -In are pulsating currents that flow through appropriate capacitors C1 - Cn are converted into voltage signals. The over the capacitors C1-Cn lying charging voltages are individually selected by means of sampling switches S1-Sn chosen, amplified by an amplifier U and then output.

Die Ausgangsströme von den Mehrkanal-Ionisierungskammern werden mithin in Spannungssignale für die Messung umgewandelt. Hierbei kann ein Streustrom in jedem für Strom/-Spannung-Umwandlung benutzten Kondensator fließen. Da zudem der zum Verstärken der Aufladespannung des oder jedes Kondensators dienende Verstärker nicht frei ist von einer nicht vernachlässigbaren Abweichung (off-set), müssen diese Fehlerfaktoren korrigiert werden, wenn eine Messung mit hoher Genauigkeit erforderlich ist.The output currents from the multi-channel ionization chambers are therefore converted into voltage signals for measurement. Here, a stray current in each capacitor used for current / voltage conversion. Since the amplifiers serving to boost the charging voltage of the or each capacitor is not free from a non-negligible deviation (off-set), it must Error factors are corrected when a high accuracy measurement is required is.

Aufgabe der Erfindung ist damit die Schaffung einer Strommeßvorrichtung, mit welcher Fehlerfaktoren zur Gewährleistung einer höchst genauen Messung korrigierbar sind und mit welcher unter Vornahme einer solchen Fehlerkorrektur eine schnelle Messung durchführbar ist.The object of the invention is thus to create a current measuring device, with which error factors can be corrected to ensure a highly accurate measurement are and with which one under such an error correction a fast Measurement is feasible.

Diese Aufgabe wird bei einer Mehrpunkt-Strommeßvorrichtung mit mehreren Kanälen, die jeweils zugeordnete Kondensatoren enthalten, die durch Ströme aufladbar sind, welche von einem Röntgendetektor durch die Kanäle fließen, wobei die Ströme in den jeweiligen Kanälen durch aufeinanderfolgendes Abgreifen der über die Kondensatoren anliegenden Spannungen meßbar sind, erfindungsgemäß gelöst durch Abweichungs-Meßeinheiten zum Entladen der Kondensatoren in einer Periode, in welcher zu messende Signalströme nicht zugeführt werden, wobei von den Signalströmen verschiedene Komponenten während fester, jeweils für die Kondensatoren nach dem Entladen derselben bestimmter Intervalle an die Kondensatoren angelegt und dann die Spannungen über die Kondensatoren zur Bestimmung der Abweichungen(off-sets) im jeweiligen Kanal gemessen werden, durch eine Abweichungs-Speichereinheit zur Speicherung der Abweichungen in den betreffenden Kanälen und durch eine Meß- und Recheneinheit zum aufeinanderfolgenden Auslesen oder Abgreifen der Spannungen über die durch die Signalströme in den Kanälen vom Röntgendetektor nach ihrer Entladung aufgeladenen Kondensatoren nach Ablauf festgelegter Zeitspannen nach dem Entladen der Kondensatoren, zum Abrufen der Abweichungen in den Kanälen aus den Abweichungs-Speichereinheiten und zum Subtrahieren der Abweichungen von den gemessenen Signalströmen.This task is met with a multipoint current measuring device with several Channels, each containing associated capacitors, which can be charged by currents which flow from an X-ray detector through the channels, the currents in the respective channels by successively tapping the via the capacitors applied voltages can be measured, solved according to the invention by deviation measuring units for discharging the capacitors in a period in which the signal currents to be measured are not supplied, whereby different components of the signal streams during more fixed, each for the capacitors after discharging the same specific intervals applied to the capacitors and then the voltages across the capacitors to Determination of the deviations (off-sets) in the respective channel are measured by a deviation storage unit for storing the deviations in the relevant Channels and by a measuring and computing unit to successive Reading out or tapping off the voltages through the signal currents in the channels capacitors charged by the X-ray detector after their discharge after expiry defined periods of time after the capacitors have been discharged to call up the deviations in the channels from the deviation storage units and for subtracting the deviations of the measured signal currents.

Im folgenden ist eine bevorzugte Ausführungsform der Erfindung im Vergleich zum Stand der Technik anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen: Fig. 1 ein Schaltbild einer bisherigen Mehrpunkt-Strommeßvorrichtung, Fig. 2 ein teilweise in Blockschaltbildform gehaltenes Schaltbild einer Mehrpunkt-Strommeßvorrichtung gemäß der Erfindung und Fig. 3 ein Zeitablaufdiagramm zur Verdeutlichung der Arbeitsweise der erfindungsgemäßen Mehrpunkt-Strommeßvorrichtung.The following is a preferred embodiment of the invention in Compared to the prior art explained in more detail with reference to the drawing. Show it: 1 shows a circuit diagram of a previous multipoint current measuring device, FIG Circuit diagram, partly in block diagram form, of a multipoint current measuring device according to the invention and FIG. 3 is a timing diagram to illustrate the mode of operation the multi-point current measuring device according to the invention.

Fig. 1 ist eingangs bereits erläutert worden. Den Teilen von Fig. 1 entsprechende Teile nach Fig. 2 sind mit denselben Bezugsziffern wie vorher bezeichnet und daher nicht mehr im einzelnen erläutert.Fig. 1 has already been explained at the beginning. The parts of Fig. 1 corresponding parts of FIG. 2 are denoted by the same reference numerals as before and therefore no longer explained in detail.

Bei der Ausführungsform nach Fig. 2 können die verschiedenen Abtastschalter durch einen Multiplexer ersetzt werden. Ein Rücksetzschalter Sr dient zum Entladen der Kondensatoren C1 - Cn. Ein Verstärker U bei sitzt eine hohe Eingangsimpedanz für die Abnahme der über die Kondensatoren Cl - Cn anliegenden Spannungen und dient zum Verstärken dieser Spannungen und zu ihrer Ubertragung zu einer nachgeschalteten Stufe. Die Vorrichtung umfaßt ferner einen A/D-Wandler 3 zum Umsetzen der vom Verstärker U gelieferten Analogsignale in Digitalsignale, Speicher 5, 7 zum Speichern der vom A/D-Wandler 3 gelieferten Digitalsignale, eine Recheneinheit 9 zur Abnahme einer Anzahl der im Speicher 7 abgespeicherten Dateneinheiten und zur Berechnung ihres Mittelwerts sowie eine Recheneinheit 11 zur Abnahme der in den Speichern 5, 7 enthaltenen Dateneinheiten und zum Addieren und Subtrahieren dieser Dateneinheiten. Zu den Kondensatoren C1 - Cn parallelgeschaltete Elemente ii - in stellen Streuströme dar.In the embodiment according to FIG. 2, the various sampling switches be replaced by a multiplexer. A reset switch Sr is used for discharging of capacitors C1 - Cn. An amplifier U at has a high input impedance for the decrease of the voltages applied across the capacitors Cl - Cn and is used to the Reinforce these tensions and transfer them to one downstream stage. The apparatus further comprises an A / D converter 3 for conversion the analog signals supplied by the amplifier U in digital signals, memories 5, 7 for storing the digital signals supplied by the A / D converter 3, a computing unit 9 for taking a number of the data units stored in the memory 7 and for calculating their mean value and an arithmetic unit 11 for taking the in the data units contained in the memories 5, 7 and for adding and subtracting of these data units. Elements connected in parallel with capacitors C1-Cn ii - in represent stray currents.

Diê Arbeitsweise der Vorrichtung nach Fig. 2 ist nachstehend anhand von Fig. 3 erläutert.The operation of the device according to FIG. 2 is based on the following of Fig. 3 explained.

Während des Zeitraums, in welchem keine Röntgenimpulse emittiert und damit die Signalströme I1 - In nicht eingegeben werden, wird zunächst der Abweichungsanteil (offset portion) in jedem Kanal (Störsignal ohne zu messenden Signalstrom) in der im folgenden angegebenen Reihenfolge gemessen. Gemäß Fig. 3, welche die Betriebszustände der Schalter angebende Wellenformen darstellt, befinden sich die Schalter im Schließzustand oder Offenzustand, wenn die Wellenform einen hohen bzw. einen niedrigen Pegel besitzt.During the period in which no X-ray pulses are emitted and so that the signal currents I1 - In are not entered, the deviation component is first used (offset portion) in each channel (interference signal without signal current to be measured) in the measured in the order given below. According to Fig. 3, which shows the operating states The switches are in the closed state or open state when the waveform is high and low, respectively.

1. Wenn gemäß Fig. 3 der Rücksetzschalter Sr zum Zeitpunkt P1 geschlossen wird, schließen gleichzeitig die Abtastschalter S1 - Sn. Dabei werden die Aufladespannungen der Kondensatoren C1 - Cn entladen, so daß die Spannung jedes Kondensators zu Null wird.1. If, according to FIG. 3, the reset switch Sr is closed at time P1 the sampling switches S1 - Sn close at the same time. The charging voltages of capacitors C1 - Cn are discharged so that the voltage of each capacitor becomes zero will.

2. Anschließend werden sämtliche Schalter S1 - Sn geöffnet, und der auf der Abweichung (off-set) beruhende Strom kann in jeden der Kondensatoren C1 - Cn fließen und wird darin integriert.2. Then all switches S1 - Sn are opened, and the current based on the offset (off-set) can flow into each of the capacitors C1 - Cn flow and is integrated into it.

3. Nach einer Zeitspanne T1 nach dem Entladen der Kondensatoren C1 - Cn wird zunächst der Abtastschalter S1 geschlossen. Die Spannung des Kondensators C1 wird abgegriffen und über den Verstärker U und den A/D-Wandler 3 im Speicher 7 gespeichert.3. After a period of time T1 after the capacitors C1 have discharged - Cn, the sampling switch S1 is initially closed. The voltage of the capacitor C1 is tapped off and stored in memory via the amplifier U and the A / D converter 3 7 saved.

4. Sodann wird nach einer Zeitspanne T2 nach dem Entladen der Kondensatoren C1 - Cn der Abtastschalter S2 geschlossen. Die Spannung des Kondensators C2 wird abgegriffen und auf oben beschriebene Weise im Speicher 7 gespeichert.4. Then after a period of time T2 after the capacitors have been discharged C1 - Cn the sampling switch S2 closed. The voltage of the capacitor C2 becomes tapped and stored in the memory 7 in the manner described above.

5. Danach werden die Spannungen der Kondensatoren C3 -Cn auf die vorstehend beschriebene Weise sämtlich im Speicher 7 gespeichert.5. After that, the voltages of the capacitors C3 -Cn are set to the above described manner are all stored in the memory 7.

6. Wenn der Rückstellschalter Sr zum Zeitpunkt P2 wieder geschlossen wird, werden die einzelnen Abtastschalter S1 - Sn gleichzeitig geschlossen, und die Spannungen der Kondensatoren C1 - Cn gehen auf Null über.6. When the reset switch Sr is closed again at time P2 is, the individual sampling switches S1 - Sn are closed at the same time, and the voltages of the capacitors C1-Cn go to zero.

7. Die vorstehend unter 1. bis 5. beschriebenen Vorgänge werden wiederholt, wobei die Daten für die Abweichung in jedem Kanal nacheinander im Speicher 7 gespeichert werden.7. The processes described above under 1. to 5. are repeated, the data for the deviation in each channel being successively stored in the memory 7 will.

8. Durch die Wiederholung der beschriebenen Vorgänge werden die Abweichungsdaten für jeden Kanal im Speicher 7 abgespeichert, wobei die Daten während der vorbestimmten Zeitspanne (Tl, T2, ..., Tn) auf (Ein-)Kanalbasis nach dem Entladen der Kondensatoren C1 - Cn gesammelt werden.8. By repeating the operations described above, the deviation data stored for each channel in memory 7, the data during the predetermined Time span (Tl, T2, ..., Tn) on (one) channel basis after the capacitors have been discharged C1 - Cn are collected.

9. Die im Speicher 7 gespeicherten Daten werden durch die betreffenden Kanäle abgenommen, um die Recheneinheit 9 den Mittelwert dieser Daten liefern zu lassen.9. The data stored in the memory 7 are replaced by the relevant Channels removed in order to supply the arithmetic unit 9 with the mean value of this data permit.

Die abgerufenen Daten für den Kondensator C1 werden beispielsweise zur Mittelwertbildung benutzt, und der Mittelwert des Abweichungsanteils im Kanal 1 wird wieder im Speicher 7 gespeichert.The retrieved data for capacitor C1 is, for example used for averaging, and the mean value of the deviation component in the channel 1 is stored in memory 7 again.

10. Der genannte Mittelwert für jeden Kanal wird mittels derselben Operation berechnet und im Speicher 7 gespeichert.10. The mean value mentioned for each channel is calculated using the same Operation calculated and stored in memory 7.

Erfindungsgemäß wird somit der Mittelwert des Abweichungsanteils in jedem Kanal während der Zeitspanne vor dem Eingeben oder Einspeisen der Signalströme I1 - In berechnet und im Speicher (ab) gespeichert.According to the invention, the mean value of the deviation component is thus in each channel during the period before the input or feed-in of the signal streams I1 - In calculated and stored in memory (ab).

Die Signalströme I1 - In werden andererseits wie folgt gemessen: 11. GemäßFig. 3 schließen die einzelnen Abtastschalter Sl - Sn gleichzeitig mit dem Schließen des Rückstellschalters Sr zum Zeitpunkt P3; hierbei werden die Kondensatoren C1 - Cn entladen.The signal currents I1 - In, on the other hand, are measured as follows: 11. According to Fig. 3 close the individual sampling switches Sl - Sn simultaneously with the Closing the reset switch Sr at time P3; this is where the capacitors C1 - Cn discharged.

12. Anschließend werden gemäß Fig. 3 Röntgenimpulse emittiert, wobei die einzelnen Stromsignale 11 - In zu den Kondensatoren C1 - Cn in den betreffenden Kanälen fließen und in eine Spannung umgesetzt werden.12. Then, as shown in FIG. 3, X-ray pulses are emitted, with the individual current signals 11 - In to the capacitors C1 - Cn in the relevant Channels flow and are converted into tension.

13. Nach einer Zeitspanne T1 nach dem Entladen der Kondensatoren C1 - Cn wird der Schalter S1 geschlossen, und die Spannungsdaten für den Kondensator C1 werden über den Verstärker U und den A/D-Wandler 3 im Speicher 5 gespeichert.13. After a period of time T1 after the capacitors C1 have been discharged - Cn the switch S1 is closed, and the voltage data for the capacitor C1 are stored in the memory 5 via the amplifier U and the A / D converter 3.

14. Danach schließt der Abtastschalter S2 nach der Zeitspanne T2, und die Spannung des Kondensators C2 wird abgegriffen oder ausgelesen. Die ermittelte Größe wird auf die vorstehend beschriebene Weise im Speicher 5 gespeichert.14. Then the sampling switch S2 closes after the time period T2, and the voltage of the capacitor C2 is tapped or read out. The determined Size is stored in memory 5 in the manner described above.

15. Mittels derselben Operationen, wie sie vorstehend unter 13. und 14. beschrieben sind, werden anschließend die Spannungen der Kondensatoren C3 - Cn sämtlich im Speicher 5 gespeichert.15. Using the same operations as described under 13. and 14. are described, the voltages of the capacitors C3 - Cn are all stored in memory 5.

16. Die im Speicher 5 enthaltenen Meßdaten für jeden Kanal und der im Speicher 7 enthaltene Abweichungsanteil für jeden Kanal werden der Recheneinheit 11 eingegeben, welche Rechenoperationen an den eingegebenen Daten ausführt. Sodann gibt die Recheneinheit 11 einen echten bzw. effektiven Signalstrom aus, von dem jeder Fehler-oder Abweichungsanteil beseitigt worden ist.16. The measurement data contained in memory 5 for each channel and the The component of the deviation contained in the memory 7 for each channel is transferred to the arithmetic unit 11 entered, which arithmetic operations will be carried out on the entered data. Then the arithmetic unit 11 outputs a real or effective signal stream from which every part of the error or discrepancy has been eliminated.

17. Sooft danach Signalströme I1 - In in den einzelnen Kanälen zugeführt werden, wird die korrigierende Rechenoperation unter Heranziehung des im Speicher 7 enthaltenen Abweichungsanteils wiederholt.17. As often as thereafter, signal currents I1 - In are supplied to the individual channels the corrective arithmetic operation is performed using the in memory 7 is repeated.

Obgleich es sich bei der beschriebenen Recheneinheit 11 zum Abnehmen oder Abrufen der in den Speichern 5, 7 enthaltenen Daten und zur Ausführung einer Subtraktion an diesen Daten um eine digitale Recheneinheit handelt, kann erfindungsgemäß auch eine analoge Recheneinheit verwendet werden. In diesem Fall muß der Recheneinheit 11 ein D/A-Wandler zur Umsetzung eines Digitalsignals in ein Analogsignal vorgeschaltet sein.Although the arithmetic unit 11 described is for removal or retrieving the data contained in the memories 5, 7 and executing a Subtraction on this data is a digital arithmetic unit, can according to the invention an analog processing unit can also be used. In this case the arithmetic unit must 11, a D / A converter for converting a digital signal into an analog signal is connected upstream be.

Während bei der beschriebenen Ausführungsform zwei getrennt angeordnete Speicher vorgesehen sind, kann weiterhin auch ein einziger Speicher verwendet werden, wenn die Adressen getrennt benutzt bzw. belegt werden.While in the described embodiment, two separately arranged Memory are provided, a single memory can still be used, if the addresses are used or assigned separately.

Mittels der beschriebenen Operationen werden Meßdaten mit kompensierten Abweichungseinflüssen für jeden Kanal geliefert. Tatsächlich ändert sich jedoch die Abweichungsgröße während der Abtastung, und bei der Messung der Abweichung und der Signale liegt statisches Rauschen vor. Bei einem rechnergestützten Tomographen der sog.By means of the operations described, measurement data are also compensated Influences of deviation for each channel delivered. Actually changes However, the amount of deviation during the scan, and when measuring the Deviation and there is static noise in the signals. With a computer-aided Tomographs of the so-called

dritten Generation (Dreh/Dreh-Abtastsystem) entspricht ein bestimmter Detektorkanal einem bestimmten Kreis auf dem Bild, wobei im Bild ein ringförmiges Artefakt (annular artifact) entsteht, wenn in einem bestimmten Kanal ein Abweichungsfehler vorhanden ist.third generation (rotary / rotary scanning system) corresponds to a specific one Detector channel a certain circle on the picture, with a ring-shaped one in the picture Artifact (annular artifact) occurs when there is an error in a certain channel is available.

Zur Gewinnung eines Schnittbilds werden 200 - 900 Projektionsmessungen durchgeführt. Durch Ausführung des unter 1. bis 10. beschriebenen Abweichungs-Meßzyklus in jedem unter 11. bis 17. beschriebenen Projektionsmeßzyklus kann die Abweichungsgröße ausreichend, wenn nicht sicher, korrigiert werden, weil die Abweichungs- und Projektionsmessungen in einer kurzen Zeit in der Größenordnung von 10 - 20 ms durchgeführt werden. Nachteilig an dieser Anordnung ist jedoch, daß die Zahl der Abweichungs-Meßzyklen zunimmt und sich die Abtastzeit verlängert. Wenn die Abweichungsgröße (off-set value) während der Abtastzeitspanne von 5 - 10 s im wesentlichen konstant bleibt, kann ein Abweichungs-Meßzyklus unmittelbar vor Beginn eines Abtastvorgangs durchgeführt werden, und eine vor dem Abtastvorgang gemessene Abweichungsgröße kann für alle Projektionsdaten gemein-.200-900 projection measurements are required to obtain a sectional image carried out. By executing the deviation measuring cycle described under 1 to 10 in each projection measurement cycle described under 11. to 17. the deviation size sufficient, if not certain, to be corrected because of the deviation and projection measurements can be performed in a short time on the order of 10-20 ms. Disadvantageous however, it is a feature of this arrangement that the number of deviation measuring cycles increases and the sampling time increases. If the deviation size (off-set value) during the sampling period of 5 - 10 s remains essentially constant, a deviation measuring cycle can be performed immediately before the start of a scan, and one before the The deviation magnitude measured in the scanning process can be common to all projection data.

sam benutzt werden, ohne die Abweichungen während der Projektionsmessung erneut zu bestimmen. Auf diese Weise kann die für den Abweichungs-Meßzyklus erforderliche Zeit im Vergleich zu der für den Projektions-Meßzyklus benötigten Gesamtzeitspanne in ausreichendem Maß verkürzt und damit eine Verlängerung der Abtastperiode vermieden werden. Wenn jedoch nur ein Abweichungs-Meßzyklus durchgeführt wird, können etwaige, in diesem Meßzyklus enthaltene Störsignale und Meßfehler Inhalte (contants) bilden, die alle Projektionsdaten während der Abtastperiode beeinträchtigen, so daß sich ein außerordentlich dünnes Ringartefakt (Störring) im Bild ergibt. Wenn somit ein Abweichungs-Meßzyklus unmittelbar vor einem Abtastvorgang vorgesehen wird, um die Gesamt-Abtastperiode zu verkürzen, sollte bzw. muß auch dann die Abweichungsmessung mehrmals erfolgen, und der Mittelwert der gemessenen Abweichungen muß zur Unterdrückung von Störsignal (Rauschen) und Meßfehler benutzt werden.sam can be used without the deviations during projection measurement to be determined again. In this way, the necessary for the deviation measurement cycle Time compared to the total time required for the projection measurement cycle shortened to a sufficient extent, thus avoiding a lengthening of the sampling period will. However, if only one deviation measurement cycle is carried out, any in this Measuring cycle contained interference signals and measuring error contents (contants) that affect all projection data during the sampling period, so that there is an extremely thin ring artifact (interference ring) in the image. if thus a deviation measuring cycle is provided immediately before a scanning process, in order to shorten the total sampling period, the deviation measurement should or must also then take place several times, and the mean value of the measured deviations must be used for suppression of interfering signals (noise) and measurement errors.

Bei der beschriebenen Vorrichtung werden somit Abweichungen (off-sets) in den jeweiligen Kanälen im voraus gemessen und gespeichert, wobei auf der Grundlage der gespeicherten Abweichung bei jedesmaliger Messung eines Signalstroms eine mit hoher Geschwindigkeit erfolgende korrigierende Rechenoperation ausgeführt wird. Auf diese Weise kann eine Strommeßvorrichtung realisiert werden, die unter Kompensierung von Abweichungen die Signalströme in kurzen Zeitspannen zu messen vermag.In the device described, deviations (off-sets) measured and stored in the respective channels in advance, based on of the stored deviation each time a signal current is measured corrective arithmetic operation at high speed is performed. In this way, a current measuring device can be realized which is compensated able to measure the signal currents in short time spans of deviations.

Selbstverständlich ist die Erfindung keineswegs auf die vorstehend dargestellte und beschriebene Ausführungsform beschränkt, sondern zahlreichen Änderungen und Abwandlungen zugänglich.Of course, the invention is by no means limited to the above shown and described embodiment limited, but numerous changes and modifications accessible.

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Claims

Claims 1. Multi-point current measuring device with several channels, each containing assigned capacitors that can be charged by currents, which flow from an X-ray detector through the channels, the currents in the respective channels by successively tapping the capacitors applied voltages can be measured, characterized by deviation measuring units (U, 3) for discharging the capacitors (C1 - Cn) in a period in which to measuring signal currents are not supplied, whereby different from the signal currents Components during solid, each for the capacitors after discharging the same certain intervals are applied to the capacitors and then the voltages over the capacitors to determine the deviations (off-sets) in the respective channel are measured by a deviation storage unit (5, 7) for storing the Deviations in the relevant channels and due to a measuring and computing unit (9, 11) for successive reading or tapping of the voltages through the the signal currents in the channels are charged by the X-ray detector after their discharge Capacitors after a specified period of time after the capacitors have been discharged, for retrieving the deviations in the channels from the deviation storage units and for subtracting the deviations from the measured signal currents.

2. Apparatus according to claim 1, characterized in that the deviation measuring unit the deviation measurement is repeated several times and the deviation storage unit the Mean values of the measured deviations than the stated deviations in the relevant Channels.