DE3341844A1 - Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen - Google Patents
Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechenInfo
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Country Status (1)
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|---|---|
| DE (1) | DE3341844A1 (enrdf_load_stackoverflow) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0264057A3 (en) * | 1986-10-07 | 1990-12-12 | Fujitsu Limited | Automatic focusing system for observing means for inspecting an object |
| DE4003390A1 (de) * | 1990-02-05 | 1991-08-08 | Emco Maier Gmbh | Vorrichtung zum erfassen der kontur eines werkstueckes |
| DE4105284A1 (de) * | 1991-02-20 | 1992-11-05 | Bacher Gmbh B | Verfahren und vorrichtung zur videounterstuetzten montage |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| DE2612751A1 (de) * | 1975-04-03 | 1976-10-21 | Chemetron Corp | Huellkurvenmessanordnung |
| US4213117A (en) * | 1977-11-28 | 1980-07-15 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for detecting positions of chips on a semiconductor wafer |
| EP0053730A1 (de) * | 1980-11-27 | 1982-06-16 | Webb Service GmbH | Schlüssel-Erkenner |
-
1983
- 1983-11-19 DE DE19833341844 patent/DE3341844A1/de active Granted
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3341844C2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1989-08-17 |
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