DE3341844A1 - Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen - Google Patents
Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechenInfo
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 7
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19833341844 DE3341844A1 (de) | 1983-11-19 | 1983-11-19 | Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19833341844 DE3341844A1 (de) | 1983-11-19 | 1983-11-19 | Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3341844A1 true DE3341844A1 (de) | 1985-05-30 |
DE3341844C2 DE3341844C2 (enrdf_load_html_response) | 1989-08-17 |
Family
ID=6214724
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19833341844 Granted DE3341844A1 (de) | 1983-11-19 | 1983-11-19 | Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3341844A1 (enrdf_load_html_response) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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1983
- 1983-11-19 DE DE19833341844 patent/DE3341844A1/de active Granted
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Publication number | Publication date |
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DE3341844C2 (enrdf_load_html_response) | 1989-08-17 |
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