DE3341844A1 - Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen - Google Patents

Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen

Info

Publication number
DE3341844A1
DE3341844A1 DE19833341844 DE3341844A DE3341844A1 DE 3341844 A1 DE3341844 A1 DE 3341844A1 DE 19833341844 DE19833341844 DE 19833341844 DE 3341844 A DE3341844 A DE 3341844A DE 3341844 A1 DE3341844 A1 DE 3341844A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
contour
measuring arrangement
sensor
data
arrangement according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19833341844
Other languages
German (de)
English (en)
Other versions
DE3341844C2 (enrdf_load_html_response
Inventor
Wilfried Dipl.-Ing. 2800 Bremen Heinisch
Wilhelm Dipl.-Ing. 2874 Lemwerder Janning
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
STN Systemtechnik Nord GmbH
Original Assignee
Messerschmitt Bolkow Blohm AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Messerschmitt Bolkow Blohm AG filed Critical Messerschmitt Bolkow Blohm AG
Priority to DE19833341844 priority Critical patent/DE3341844A1/de
Publication of DE3341844A1 publication Critical patent/DE3341844A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3341844C2 publication Critical patent/DE3341844C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
DE19833341844 1983-11-19 1983-11-19 Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen Granted DE3341844A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19833341844 DE3341844A1 (de) 1983-11-19 1983-11-19 Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19833341844 DE3341844A1 (de) 1983-11-19 1983-11-19 Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3341844A1 true DE3341844A1 (de) 1985-05-30
DE3341844C2 DE3341844C2 (enrdf_load_html_response) 1989-08-17

Family

ID=6214724

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19833341844 Granted DE3341844A1 (de) 1983-11-19 1983-11-19 Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3341844A1 (enrdf_load_html_response)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0264057A3 (en) * 1986-10-07 1990-12-12 Fujitsu Limited Automatic focusing system for observing means for inspecting an object
DE4003390A1 (de) * 1990-02-05 1991-08-08 Emco Maier Gmbh Vorrichtung zum erfassen der kontur eines werkstueckes
DE4105284A1 (de) * 1991-02-20 1992-11-05 Bacher Gmbh B Verfahren und vorrichtung zur videounterstuetzten montage

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2612751A1 (de) * 1975-04-03 1976-10-21 Chemetron Corp Huellkurvenmessanordnung
US4213117A (en) * 1977-11-28 1980-07-15 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for detecting positions of chips on a semiconductor wafer
EP0053730A1 (de) * 1980-11-27 1982-06-16 Webb Service GmbH Schlüssel-Erkenner

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2612751A1 (de) * 1975-04-03 1976-10-21 Chemetron Corp Huellkurvenmessanordnung
US4213117A (en) * 1977-11-28 1980-07-15 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for detecting positions of chips on a semiconductor wafer
EP0053730A1 (de) * 1980-11-27 1982-06-16 Webb Service GmbH Schlüssel-Erkenner

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0264057A3 (en) * 1986-10-07 1990-12-12 Fujitsu Limited Automatic focusing system for observing means for inspecting an object
DE4003390A1 (de) * 1990-02-05 1991-08-08 Emco Maier Gmbh Vorrichtung zum erfassen der kontur eines werkstueckes
DE4105284A1 (de) * 1991-02-20 1992-11-05 Bacher Gmbh B Verfahren und vorrichtung zur videounterstuetzten montage

Also Published As

Publication number Publication date
DE3341844C2 (enrdf_load_html_response) 1989-08-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3901185C2 (enrdf_load_html_response)
DE102008049821B4 (de) Abstandssensor und Verfahren zur Ermittlung eines Abstands und/oder von Abstandsschwankungen zwischen einem Bearbeitungslaser und einem Werkstück
DE102009035336B3 (de) Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE3915627C2 (enrdf_load_html_response)
DE3781519T2 (de) Standortbestimmungsgeraet.
US11305797B2 (en) Method for commanding a set of one or more intervention tools mounted on a railway intervention vehicle
DE102013100192A1 (de) Selbstfahrender Roboter und Verfahren zur Abstandsbestimmung bei einem selbstfahrenden Roboter
EP0837300B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung von Werkstückkanten
EP1669776A1 (de) Handhaltbares Vermessungsgerät und Vermessungsverfahren für ein solches Vermessungsgerät
DE3712958C1 (en) Method and device for photographically measuring a three-dimensional object
EP2865988B1 (de) Lichtschnittsensor
DE69117141T2 (de) Gerät zum Bestimmen einer Ultraschallgeschwindigkeit mittels einer V(z)-Messung sowie Ultraschallmikroskop unter Verwendung dieses Geräts
DE102006029650B4 (de) Schaltungsanordung und Verfahren zur Kippfehlerermittlung an einer Positionsmesseinrichtung
EP0326840B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen eines Durchstrahlungsbildes
DE3341844A1 (de) Messanordnung zur bestimmung von projektionsflaechen
DE3517671C2 (enrdf_load_html_response)
DE69401017T2 (de) Verfahren zum Messen der Breite der Orientierungsfläche eines Einkristalls
EP2584418A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Ortung eines Aufnahmepunktes eines Objekts in einer Anlage
WO2020160874A1 (de) Kalibriereinrichtung für eine überwachungsvorrichtung, überwachungsvorrichtung zur man-overboard-überwachung sowie verfahren zur kalibrierung
DE102011076428A1 (de) Ermitteln einer Unrundkontur eines Bauteils und Kameranachführung auf Basis einer ermittelten Unrundkontur
WO2008131722A1 (de) Ultraschall-handmesssystem mit positionsbestimmung
DE3112026C2 (de) Vorrichtung zur Messung der Lage und Bewegung eines schwingfähigen Körpers
EP0479759A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Längen- oder Winkelmessung
DE102004046752A1 (de) Messsystem
DE3813754A1 (de) Vorrichtung zur erfassung der winkelposition eines drehbaren koerpers

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: STN SYSTEMTECHNIK NORD GMBH, 2800 BREMEN, DE

8339 Ceased/non-payment of the annual fee