DE3326216A1 - Method and measuring system for measuring the concentration of an additive on a moving sheet of material - Google Patents
Method and measuring system for measuring the concentration of an additive on a moving sheet of materialInfo
- Publication number
- DE3326216A1 DE3326216A1 DE19833326216 DE3326216A DE3326216A1 DE 3326216 A1 DE3326216 A1 DE 3326216A1 DE 19833326216 DE19833326216 DE 19833326216 DE 3326216 A DE3326216 A DE 3326216A DE 3326216 A1 DE3326216 A1 DE 3326216A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- additive
- material web
- radiation
- concentration
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
Description
Verfahren und Meßsystem zum MessenMethod and measuring system for measuring
der Konzentration eines Zusatzstoffes an einer laufenden Materialbahn Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Messen der Konzentration mindestens eines Zusatzstoffes, welcher auf eine Material-, insbesondere Papierbahn, auf gebracht wird, die diesen Zusatzstoff bereits enthalten kanne sowie ein Meßsystem zur Durchführung des verfahrens.the concentration of an additive on a moving material web The invention relates to a method for measuring the concentration of at least one Additive, which is placed on a material, in particular paper web which may already contain this additive and a measuring system for implementation of the procedure.
Insbesondere befasst sich die Erfindung rit der Messung des Gewichts bzw der Menge einer insbesondere aus mehreren Zusatzstoffen bestehenden Beschichtung, welche auf eine Papierbahn aufgebracht wird.In particular, the invention is concerned with measuring weight or the amount of a coating consisting in particular of several additives, which is applied to a paper web.
In der Papierindustrie werden zur Verbesserung der Papierqualität hinsichtlich der Helligkeit und der Undurchsichtigkeit Beschichtungsmaterialien verwendet, welche aus Titandioxid, Kalzumkarbonat und verschiedenen Tonmaterialien zusammengesetzt sind Unter dem Gesichtspunkt der Kosten- und Qualitätskontrolle ist es dabei wünschenswert, im On-Line-Betrieb eine direkte Messung der aufgebrachten Beschichtung und der Bestandteile derselben durchführen zu kennen.In the paper industry are used to improve paper quality in terms of brightness and opacity, coating materials used, which are made from titanium dioxide, calcium carbonate and various clay materials are composed from the point of view of cost and quality control it is desirable to have a direct measurement of the applied in on-line operation To know the coating and its components.
Bei den bekannten Verfahren zur Bestimmung des Gewichts der Beschichtung erfolgt die Messung der Gesamtmasse pro Flächeneinheit des Materials vor und nach dem Aufbringen der Beschichtung. Im einzelnen wird die Messung dabei im On-Line-Betrieb so durchgeführt, daß mit der Bedämpfung einer Beta-Strahlung durch das Material gearbeitet wird, wobei zwei Abtastrahmen vorgesehen sind, die längs der laufenden Materialbahn vor und hinter der Beschichtungsstation angeordnet sind. Das bekannte Messverfahren arbeitet im allgemeinen befriedigend, leidet jedoch an einem grundsätzlichen Fehler,der darin besteht, daß zwei relativ große Messwerte voneinander abgezogen werden müssen, um ein Ergebnis zu erhalten, welches nur etwa 2 bis 10% der bei der Ermittlung der Gesamtmasse ermittelten Messwerte ausmacht. Das Messergebnis ist folglich nicht so exakt, wie dies wünschenswert wäre. Weiterhin erhält man bei dem bekannten Verfahren, da jeweils nur die Gesamtmasse gemessen wird, keine Information darüber, in welchem Umfang möglicherweise bereits Beschichtungsmaterlalien in der Papierbahn selbst vor der Beschichtung derselben vorhanden ist, und zwar aufgrund der Verwendung von Altpapier bei der Herstellung der Papierbahn.In the known methods for determining the weight of the coating the total mass per unit area of the material is measured before and after the application of the coating. In detail, the measurement is carried out in on-line operation carried out so that with the attenuation of beta radiation through the material is worked, with two scanning frames are provided along the current Material web are arranged in front of and behind the coating station. The known The measuring process works satisfactorily in general, but suffers from a fundamental one Error that consists in subtracting two relatively large measured values from one another need to be in order to get a result which is only about 2 to 10% of that of the Determining the total mass of the measured values determined. The measurement result is consequently not as precise as would be desirable. Furthermore, one receives with the known methods, since only the total mass is measured in each case, no information about the extent to which coating materials may already be in the Paper web itself is present before the coating of the same, due to the use of waste paper in the manufacture of the paper web.
Ausgehend vom Stand der Technik liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Messverfahren bzw. ein eßsystem anzugeben, mit dem es möglich ist, das Gewicht und die Zusamr:nsetzung des Beschichtungsmaterials direkt zu messen und dabei gegebenenfalls auch bereits in der Papierbahn selbst vorhandene Bestandteile eines Beschichtungsmaterials nach Menge und Zusammensetzung zu bestimmen.Based on the prior art, the invention is based on the object specify a measuring method or a measuring system with which it is possible to measure the weight and to measure the composition of the coating material directly and if necessary also components of one that are already present in the paper web itself Coating material to be determined according to quantity and composition.
Diese Aufgabe wird was das Verfahren anbelangt, durch die Verfahrensschritte gemäß dem Kennzeichenteil des Anspruchs 1 gelöst.As far as the method is concerned, this task is rendered by the method steps solved according to the characterizing part of claim 1.
Zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens ha sich dabei ein Meßsystem gemäß Anspruch 4 besonders bewährt Es ist ein besonderer Vorteil von Verfahren und Meßsystem gemäß der Erfindung, daß im On-Line-Betrieb das Vorhandensein und die Menge mindestens eines Zusatzstoffes direkt bestimmt werden kann, und zwar sowohl bezüglich einer nachträglich aufgebrachten Beschichtung als auch bezüglich der als Ausqangsmaterial verwendeten unbeschichteten Papierhn.In order to carry out the method according to the invention, there is a need Measuring system according to claim 4 particularly proven. It is a particular advantage of methods and measuring system according to the invention that in the on-line operation the presence and the amount of at least one additive can be determined directly, both with regard to a subsequently applied coating as well as with regard to the as The starting material used was uncoated paper.
In vorteilhafter Ausgestaltung bietet sich dabei die Möglichkeit das Vorhandensein mehre@e verschiedener ZusatzstoFfe festzustellen und die Menge zu bestimmen, in der diese Zusatzstoffe vorhanden sind. Die Messergebnisse, aus denen sich das Gewicht und die Zusammensetzung einer Beschichtung bestimen lassen, sind dabei wesentlich genauer als bie den vorbekannten Mess-Weiterhin ist es ein Vorteil von Verfahren und Messsystem gemäB der Erfindung, daß die Anzahl der aus jeweils einer Strahlungsquelle und einer Detektoranordnung bzw. einem Sensor bestehenden Abtastvorrichtungen mit ihren relativ teuren elektromechanischen Antriebseinrichtungen, die die Erzeugung eines Querschnittsprofils der Messdaten ermöglichen, auf ein Minimum reduziert wird.In an advantageous embodiment, this offers the possibility Determine the presence of several different additives and increase the amount determine in which these additives are present. The measurement results from which the weight and composition of a coating can be determined at the same time, it is much more precise than with the previously known measurement. Furthermore, it is an advantage of the method and measuring system according to the invention that the number of respectively a radiation source and a detector arrangement or a sensor existing Scanning devices with their relatively expensive electromechanical drive devices, which enable the generation of a cross-sectional profile of the measurement data, to a minimum is reduced.
Weitere Einzelheiten und Vorteile der Erfindung werden nachstehend anhand von Zeichnungen noch näher erläutert und/oder sind Gegenstand von Unteransprüchen.Further details and advantages of the invention are provided below explained in more detail with reference to drawings and / or are the subject of subclaims.
Es zeigen: Fig. 1 eine schematische Seitenansicht eines Meßsystems mit einer Strahlungsquelle und mit einem auf Fluoreszenzstrahlung ansprechenden Sensor zur Durchführung von Messungen der Menge und Zusammensetzung eines Beschichtungsmaterials an einem beschichteten Papier und Fig. 2 eine schematische Darstellung einer bevorzugten Ausführungsform eines erfindungsgemäßen MeBsystems zur Durchführung von Messungen im On-Line-Betrieb an einer Papierbahn.1 shows a schematic side view of a measuring system with a radiation source and with a responsive to fluorescent radiation Sensor for making measurements of the amount and composition of a coating material on a coated paper and FIG. 2 shows a schematic representation of a preferred one Embodiment of a measuring system according to the invention for carrying out measurements in online operation on a paper web.
Im einzelnen zeigt Fig. 1 einen typischen Röntgenstrahlen-Fluoreszenzsensor 10, welcher eine geeignete radioaktive Strahlungsquelle oder eine Röntgenstrahlröhre 12 umfasst, mit der eine Röntgenstrahlung gegen eine laufende Papierbahn gerichtet wird, die mit einem zu einer Fluoreszenz anregbaren Material beschichtet ist. Die dabei von der Papierbahn 14 ausgehende Strahlung trifft auf einen Energie streuenden Detektor 15, wie z.B. einen gasgefüllten Proportionalzähler oder einen gekühlten Halbleiter-Dertektor 16, der aus einer geeigneten Speisespannungsquelle 18 gespeist wird.In detail, Fig. 1 shows a typical X-ray fluorescence sensor 10, which is a suitable radioactive radiation source or an X-ray tube 12 includes, with which an X-ray radiation against a running paper web which is coated with a material which can be excited to fluorescence is. The radiation emanating from the paper web 14 hits an energy scattering detector 15, such as a gas-filled proportional counter or a cooled semiconductor detector 16, which comes from a suitable supply voltage source 18 is fed.
Die derzeit in der papierindustrie verwendeten Beschichtungsmaterialien sind aus Titandioxid (TiO2), Kalziumkarbonat (CaCo3) und verschiedenen Tonsorten zusammengesetzt, welche Al2O3- und SiO2-Bestandteile enthalten.The coating materials currently used in the paper industry are made from titanium dioxide (TiO2), calcium carbonate (CaCo3) and various types of clay composed, which contain Al2O3 and SiO2 components.
Ali diese Materialien enthalten, wie dies in einer früheren Anmeldung der Anmelderin (US-Serial No. 332,662 vom 23. Dezember 1981) beschrieben ist, Elemente, &iC dazu angeregt werden können, eine Fluoreszenz-Röntgenstranlung zu erzeugen. Die Energie der Röntgenstrahlung kann nunmehr ausgewertet werden, um festzustellen, daß ein bestimmter Stoff bzw. eine bestimmte Bindun@ vorhanden ist, wobei die gemessene Intensität as Maß für die Konzentration des betreffenden Stoffes ausgewertet werden kann.Ali included these materials, as did a previous application by the applicant (US Serial No. 332,662 dated December 23, 1981), elements, & iC can be stimulated to generate a fluorescence X-ray radiation. The energy of the X-ray radiation can now be evaluated in order to determine that a certain substance or a certain binding @ is present, the measured Intensity can be evaluated as a measure of the concentration of the substance in question can.
Bekanntlich erzeugt eine 55Fe-Strahlungsquelle 42 eine Röntgenstrahlung mit einer eine Energie von 5,9 keV aufweisenden Photonen-Emission, die hinsichtlich der Stimulation einer Fluoreszenz-Emission von Kalzium und Titan in der Papierbahn 14 sehr wirksam ist. Jegliches Kalzium, welches in der Papierbahn 14 als Bei standteil der Verbindung CaCO3 vorhanden ist, emittiert bei Stimulierung mit der 5,9 keV-Quelle eine charakteristische Fluoreszenzstrahlung von 3,7 keV. In entsprechender Weise emittiert Titan, welches in der Papierbahn 12 als Bestandteil des Titanoxids TiO2 enthalten ist, bei Anregung mit Photonen mit einer Energie von 5,9 keV eine Fluoreszenzstrahlung von 4,5 keV.As is known, a 55Fe radiation source 42 generates an X-ray radiation with an energy of 5.9 keV having photon emission, which with respect to the stimulation of a fluorescence emission of calcium and titanium in the paper web 14 is very effective. Any calcium that is part of the paper web 14 as a component the compound CaCO3 is present, emitted when stimulated with the 5.9 keV source, a characteristic fluorescence radiation of 3.7 keV. In a corresponding manner, titanium is emitted, which is contained in the paper web 12 as a component of the titanium oxide TiO2 is contained, when excited with photons with an energy of 5.9 keV fluorescence radiation of 4.5 keV.
Aluminium, welches in der Papierbahn 14 in Form der werbindung A12O3 vorhanden ist, die ihrerseits Bestandteil des verwendeten Tonmaterials ist, emittiert bei Stimulation durch die 5,9 keV-Quelle eine Fluoreszenzstrahlung von 1,5 keV. Silizium, welches in der Papierbahn 14 als Bestandteil der Verbindung Si02 vorhanden ist, die ebenfalls in dem Tonmaterial vorkommt, emittiert bei Stimulierung durch die 5,9 keV-Quelle eine Fluoreszenzstrahlung von 1,74 keV. Die Photonen, aus denen diese Fluoreszenzstrahlung besteht, treffen auf den Detektor 16 und erzeugen dort elektrische Impulse, deren Höhe proportional zur Energie der emittierten Photonen ist.Aluminum, which is in the paper web 14 in the form of the advertising binding A12O3 is present, which in turn is part of the clay material used, is emitted when stimulated by the 5.9 keV source, fluorescence radiation of 1.5 keV. Silicon, which is present in the paper web 14 as part of the compound SiO2 , which also occurs in the clay material, emitted when stimulated by the 5.9 keV source emits fluorescence radiation of 1.74 keV. The photons that make up this fluorescence radiation exists, hit the detector 16 and generate there electrical impulses, the height of which is proportional to the energy of the emitted photons is.
Das Ladungs-Ausgangssignal des Detektors 16 wird einem ladungsempfindlichen Vorverstärker 20 zugeführt, welcher einem als Impulsformer ausgebildeten Verstärker 22 ein Eingangssignal in Form von Spannungsimpulsen zuführt.The charge output of the detector 16 becomes a charge sensitive Preamplifier 20 is supplied, which is an amplifier designed as a pulse shaper 22 supplies an input signal in the form of voltage pulses.
Der Verstärker 22 ist mit einem Mehrkanal-Analysator 24 verbunden, der die gesammelten Daten einem Mikroprozessor 26 zuführt, welcher die Daten in bekannter Weise aufbereitet und eine Anzeige der Zusammensetzung der Beschichtung sowie einen Messwert bezüglich des Gesamtgewichts der Beschichtung als Ausgangssignale erzeugt.The amplifier 22 is connected to a multi-channel analyzer 24, which feeds the collected data to a microprocessor 26, which the data in prepared in a known manner and an indication of the composition of the coating and a measured value relating to the total weight of the coating as output signals generated.
Gemäß Fig. 2 wird bei dem erfindungsgemäßen Flureszenz Meßsystem 28 zum Ermitteln des Gewichts einer Beschic>-tung von Papier eine Papierbahn 30, welche teilweise aus Altpapier hergestellt sein kann, zwischen zwei B-schichtungsvorrichtungen 32 und 34 hindurchgeführt, mit deren Hilfe ein Beschichtungsmaterial in bekannter Weise auf die Oberseite bzw. die Unterseite der Papierbahn 30 aufgebracht werden kann. Dabei ist längs des Laufweges der Papierbahn 30 stromaufwärts von den Be schichtungsvorrichtungen 32 und 3t eine erste Abtastvorrichtung 36 vorgesehen, während stromabwärts von den Beschichtungsvorrichtungen eine zweite Abtastvorrichtung vorgesehen ist.According to FIG. 2, in the fluorescence measuring system according to the invention 28 a paper web 30 to determine the weight of a load of paper, which can be partially made of waste paper, between two B-layering devices 32 and 34 passed through, with the help of which a coating material in known Way be applied to the top or the bottom of the paper web 30 can. It is along the path of the paper web 30 upstream of the coating devices 32 and 3t a first scanning device 36 is provided, while downstream of the Coating devices a second scanning device is provided.
Die Abtastvorrichtung 36 erstreckt sich quer zur Laufrichtung der Papierbahn 30 über die gesamte Breite derselben und trägt einen Röntgenstrahi-rluoreszenzsensor 40, welcher dem Sensor 10 in Fig. 1 entspricht.The scanning device 36 extends transversely to the direction of travel Paper web 30 over the entire width of the same and carries an X-ray fluorescence sensor 40, which corresponds to the sensor 10 in FIG. 1.
Der Sensor 40 kann längs eines Rahmens der Abtastvorrichtung 36 verfahren werden , um ein Querschnittsprofil der Menge des Beschichtungsmaterials in der Papierbahn bzw. in der Basisschicht der Papierbahn zu erzeugen.The sensor 40 can move along a frame of the scanning device 36 to obtain a cross-sectional profile of the amount of coating material in the paper web or to be produced in the base layer of the paper web.
Die betreffenden Messungen werden also durchgeführt, ehe die Papierbahn zwischen den Beschichtungsvorrichtungen 32 und 34 hindurchgelaufen ist.The measurements in question are therefore carried out before the paper web has passed between the coaters 32 and 34.
Das Vorhandensein von Beschichtungsmaterial in der Papierbahn vor dem Beschichten derselben kann auf das Vorhandensein derartiger Materialien in Altpapier zurückzuführen sein, welches bei der Herstellung der Papiergrundschicht verwendet wurde. Das Ausgangssignal des Sensors 40 wird in dem System gemäß Fig. 2 einem Mikroprozessor 42 zugeführt.Presence of coating material in the paper web Coating the same can indicate the presence of such materials in waste paper be attributed to what was used in the manufacture of the Paper base layer was used. The output signal of the sensor 40 is in the system according to FIG. 2 is fed to a microprocessor 42.
Die zweite Abtastvorrichtung 38, welche sich quer zum Laufweg der Papierbahn 30 über die gesamte Breite derselben erstreckt, trägt einen Röntgenstrahl-Fluoreszenzsensor 44, welcher der Abtastung der Beschichtung an der Oberseite der Papierbahn dient und einen Röntgenstrahl-Fluoreszenzsensor 46, welcher der Unterseite der Papierbahn zugeordnet ist. Die Sensoren 44 und 46 entsprechen in Aufbau und Funktion dem Sensor 10 in Fig. 1. Jeder der Sensoren 44, 46 kann längs eines Rahmens der Abtastvorrichtung 38 verfahren werden, um ein Querschnittsprofil der enge des Beschichtungsmaterials auf der betreffenden Seite der Papierbahn zu ermitteln. Die Ausgangssignale der Sensoren 44, 46 werden dem Mikroprozessorsystem 42 zugeführt.The second scanning device 38, which extends across the path of the Paper web 30 extends over the entire width of the same, carries an X-ray fluorescence sensor 44, which is used to scan the coating on the top of the paper web and an x-ray fluorescence sensor 46 located on the underside of the paper web assigned. The sensors 44 and 46 correspond in structure and function to the sensor 10 in Fig. 1. Each of the sensors 44, 46 can be positioned along a frame of the scanning device 38 are moved to a cross-sectional profile of the tightness of the coating material on the relevant side of the paper web. The output signals of the Sensors 44, 46 are fed to the microprocessor system 42.
Das Mikroprozessorsystem 42 ist in bekannter Weise derart aufgebaut, daß es die erforderlichen Berechnungen ausführen kann, um die Art der einzelnen Bestandteile der Beschichtungen und das Gewicht jedes Bestandteils zu ermitteln. Wenn bei den Sensoren 40, 44 und 46 beispielsweise gekühlte Halbleiterdetektoren verwendet werden, dann könnte für die Signalauswertung ein Mikroprozessorsystem verwendet werden, wie es in der oben erwähr.ter, früheren Anmeldung beschrieben ist.The microprocessor system 42 is constructed in a known manner in such a way that that it can perform the calculations necessary to the nature of each Determine components of the coatings and the weight of each component. For example, if the sensors 40, 44 and 46 have cooled semiconductor detectors then a microprocessor system could be used for signal evaluation can be used as described in the earlier application mentioned above is.
Bei Verwendung gasgefüllter Proportionalzähler für die Sensoren könnte zur Signalauswertung ein System verwendet werden, wie es in der US-PS 4 081 576 beschrieben ist. Dabei müssten die beiden früheren Systeme jeweils etwas modifiziert werden, um auch der charakteristischen Röntgenstrahl-Fluoreszenz der Aluminium- und Silizium-Bestandteile des verwendeten Tonmaterials zu entsprechen Das Mikroprozessor-System 42 ist geeignet, eiene optische Anzeige der Zusammensetzung und des Gewicht der Beschichtungsmaterialien in der Papierbahn vor der Beschichtung anzuzeigen und die Zusammensetzung und das Gewicht der Beschichtungsmaterialien anzuzeigen, welche später auf beide Seiten der Basis-Papierbahn aufgebracht werden Die kontinuierliche Ausgabe des Gewichts der einzelnen Bestandteile der Beschichtung ermöglicht dem Bedienungspersonal dabei die Optimierung des für die Beschichtung verwendeten Gemisches in On-Line-Betrieb, so daß eine schnelle Reaktion auf alle bei der Beschichtung auftretenden Probleme erfolgen kann Aus der vorstehenden Beschreibung wird deutlich, daß die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe gelöst wird und daß ein auf der Auswertung der Fluoreszenz basierendes Meßsystem für die Ermittlung des Gewichts der Beschichtung einer Papierbahn geschaffen wurde, welches eine direkte Messung des Gewichts der aufgebrachten Beschichtung und der Bestandteile derselben ermöglicht, ohne daß s erforderlich ware, zwei große Werte voneinander abzuziehen, um eine im Vergleich dazu kleine Differenz zu ermitteln. Bei dem erfindungsgemäßen System wird auBerdem der Anteil an Beschichtungsmaterial, welcher bereits in der Basis-Papierbahn, beispielsweise aufgrund der Verwendung von Altpapier, vorhanden ist, unabhängig von der Messung der später aufgebrachten Beschichtung gemessen.When using gas-filled proportional counters for the sensors could a system for signal evaluation used as it is in the U.S. Patent 4,081,576. The two earlier systems would each have to slightly modified to include the characteristic X-ray fluorescence to match the aluminum and silicon components of the clay material used The microprocessor system 42 is capable of providing a visual indication of the composition and the weight of the coating materials in the paper web prior to coating display and the composition and weight of the coating materials indicate which will later be applied to both sides of the base paper web The continuous output of the weight of the individual components of the coating enables the operating personnel to optimize the coating used mix in on-line operation, so quick response to all Problems encountered in coating can be made from the description above it becomes clear that the object underlying the invention is achieved and that a measuring system based on the evaluation of the fluorescence for the determination the weight of the coating of a paper web was created, which is a direct Measurement of the weight of the applied coating and the components thereof enables, without the need for s, two large ones Values of each other subtract in order to determine a small difference in comparison. In the inventive The system also determines the proportion of coating material that is already in the Base paper web, for example due to the use of waste paper, available is measured independently of the measurement of the coating applied later.
Außerdem wird bei dem erfindungsgemäßen System die Anzahl der elektromechanischen Abtastvorrichtungen auf ein Minimum reduziert, während andererseits das Gewicht der Beschichtungen und deren Zusammensetzung mit größerer Genauigkeit bestimmt werden kann, als dies bisher möglich war.In addition, in the system according to the invention, the number of electromechanical Scanning devices reduced to a minimum, while on the other hand the weight the coatings and their composition can be determined with greater accuracy than was previously possible.
Aus der vorstehenden Beschreibung wird ferner deutlich, daß gewisse Einzelmerkmale und Unterkombinationen der vorstehend beschriebenen Meßsystem auch für sich allein mit Vorteil eingesetzt werden können. Dem Fachmann stehen also, ausgehend von den vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispielen, zahlreiche Möglichkeiten für hnderungen und/oder Ergänzungen zu Gebote, ohne daß er dabei den Grundgedanken der Erfindung verlassen müsste.From the above description it is also clear that certain Individual features and sub-combinations of the measurement system described above, too can be used to advantage on their own. So to the expert, starting from the exemplary embodiments described above, numerous possibilities for changes and / or additions to bids without him doing the basic idea the invention would have to leave.
Claims (10)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US40518282A | 1982-08-04 | 1982-08-04 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3326216A1 true DE3326216A1 (en) | 1984-02-09 |
Family
ID=23602619
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19833326216 Withdrawn DE3326216A1 (en) | 1982-08-04 | 1983-07-21 | Method and measuring system for measuring the concentration of an additive on a moving sheet of material |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5944630A (en) |
CA (1) | CA1197630A (en) |
DE (1) | DE3326216A1 (en) |
-
1983
- 1983-07-04 CA CA000431710A patent/CA1197630A/en not_active Expired
- 1983-07-21 DE DE19833326216 patent/DE3326216A1/en not_active Withdrawn
- 1983-08-04 JP JP14199883A patent/JPS5944630A/en active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5944630A (en) | 1984-03-13 |
CA1197630A (en) | 1985-12-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2626144C3 (en) | Calibration method for a measuring device for determining the amount of a substance transported by a moving material web from the absorption of optical radiation | |
EP0272645B1 (en) | Method for selectively measuring the filling material in running-material webs, particularly paper sheets | |
DE2924244C2 (en) | X-ray fluorescence method for measuring the content or amount of a certain element in a sample by means of an X-ray tube and device for carrying out the method | |
DE2421649A1 (en) | DEVICE FOR TESTING A SAMPLE OR A MATERIAL BY MEASURING THE ABSORPTION OF GAMMA OR X-RAY RADIATION | |
DE4214369A1 (en) | METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING THE BONE MINERAL DENSITY AND THE BONE THICKNESS | |
DE2042009B2 (en) | Arrangement for the non-destructive density measurement of substances of living objects by means of penetrating rays | |
DE69017495T2 (en) | X-ray filter and device for controlling the weight of a coating. | |
EP0217464B1 (en) | Method for determining photoattenuation in a domain of a test object, and arrangement for carrying out the method | |
DE4021617A1 (en) | DEVICE FOR MEASURING THE IRON CONTENT IN ZINC LAYERS | |
DE69523476T2 (en) | LAYER THICKNESS MEASUREMENT USING BACKFLOW OF HIGH-ENERGY PHOTONES | |
DE2601190C2 (en) | Fluorescence spectrometer | |
DE1598873A1 (en) | Method and device for determining the mean size of certain particles in a fluid | |
DE2543011A1 (en) | DEVICE FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS | |
DE2411841C3 (en) | Auger electron spectrometer | |
DE1798241A1 (en) | Method and device for determining the mean size of solid particles in a fluid | |
DE3326216A1 (en) | Method and measuring system for measuring the concentration of an additive on a moving sheet of material | |
DE3135838C2 (en) | Method for level measurement of tubes or sleeves filled with powders or liquids | |
DE2002939B2 (en) | Method for analyzing a sample with X-rays and apparatus for carrying out this method | |
EP0444719B1 (en) | Method of measurement of X- or gamma-rays and measuring apparatus suitable for that | |
DE2364081C3 (en) | Method and device for classifying tires | |
DE3531460A1 (en) | Method and device for measuring the thickness of a plated coating | |
DE3219962A1 (en) | METHOD FOR DETERMINING LAYER THICKNESSES | |
DE2001513A1 (en) | Device for measuring the content of an element in a sample by gamma absorptiometry | |
DE3325281C2 (en) | Method and device for continuous, non-destructive material testing on continuously moving strip material | |
EP0156005A1 (en) | Process for automatically adjusting the voltage-resolution of a corpuscular radiation-measuring apparatus, and device therefor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8141 | Disposal/no request for examination |