DE3006756A1

DE3006756A1 - Through-the-lens exposure control for SLR camera - has integral photocell and condenser lens to measure light reflected off film through half-silvered mirror

Info

Publication number: DE3006756A1
Application number: DE19803006756
Authority: DE
Inventors: Toru Fukuhara
Original assignee: Nippon Kogaku KK
Current assignee: Nikon Corp
Priority date: 1979-02-23
Filing date: 1980-02-22
Publication date: 1980-09-04
Also published as: JPS55123929U

Abstract

Through the lens exposure control for an SLR camera has a photocell (4) in the bottom of the camera case to monitor light reflected off the film (12). The light is focussed onto the photocell by an integral condenser lens (3) positioned not to interfere with the exposure of the image. In the viewing position part of the light passes through a half silvered section of the viewing mirror and is reflected into the photocell by a small mirror (11) behind the viewing mirror, both mirrors are swung aside for exposure. In the exposure position, the photocell accepts diffuse reflected light from the top part of the film and more directly reflected light of the lower part. The exposure circuit makes correction between the two modes of measurement so that a continuous exposure factor is provided during the exposure cycle.

Description

Beschreibung description

Die Erfindung betrifft einen Belichtungsmesser für eine einäugige Spiegelreflexkamera. Üblicherweise haben solche Belichtungsmesser den üblichen Aufbau (der im folgenden als "ubliche Belichtungsmessung" bezeichnet werden soll), bei dem das Objektlicht von einem Aufnahmeobjektiv durch einen halbtransparenten-Bereich eines Hauptspiegels zu einem Lichtempfangssystem gerichtet wird, das sich am Boden des Kameragehäuses befindet; hinter diesem Hauptspiegel ist ein zweiter Spiegel angeordnet; bei Verwendung eines Elektronenblitzgerätes bei einer solchen einäugigen Spiegelreflexkamera arbeitet ein solcher Belichtungsmesser nach dem Prinzip, bei dem das an der Filmoberfläche reflektierte Objektlicht mittels des Lichtempfangssystems gemessen wird (dieses Verfahren soll im folgenden als "Belichtungsmessung durch Reflexion in der Filmoberfläche" bezeichnet werden).The invention relates to a light meter for a one-eyed SLR camera. Such exposure meters usually have the usual structure (which is to be referred to as "normal exposure metering" in the following), at the object light from a taking lens through a semi-transparent area of a main mirror is directed to a light receiving system, which is located on the ground the camera body is located; behind this main mirror is a second mirror arranged; when using an electronic flash unit with such a one-eyed one Such a light meter works according to the principle of a single lens reflex camera the object light reflected on the film surface by means of the light receiving system is measured (this method is hereinafter referred to as "exposure measurement by Reflection in the film surface ").

Aus der DE-AS 1 277 664 ist eine Kamera mit einem Belichtungsmesser bekannt, bei dem ein Teil des Objektlichtes von einem Aufnahmeobjektiv durch einen halbtransparenten, in dem Hauptspiegel ausgebildeten Bereich abgetrennt und hinter den Hauptspiegel (den ersten Spiegel) geleitet wird; dieses abgetrennte Licht wird durch einen zweiten Spiegel auf ein Lichtempfangssystem gerichtet, das sich am Boden des Kameragehäuses befindet. Außerdem ist aus der US-PS 3 726 197 eine Technik bekannt, bei der das an der Filmoberfläche reflektierte Objektlicht selbsttätig gemessen wird, um die Menge des von einem Elektronenblitzgerät emittierten Blitzlichtes zu steuern.DE-AS 1 277 664 discloses a camera with an exposure meter known, in which a part of the object light from a taking lens by a semi-transparent, formed in the main mirror area separated and behind directing the main mirror (the first mirror); this separated light becomes directed through a second mirror to a light receiving system located on the ground of the camera body. In addition, US Pat. No. 3,726,197 discloses a technique in which the object light reflected on the film surface is measured automatically to increase the amount of flash light emitted by an electronic flash unit steer.

Bei einer Kamera des zuerst erwähnten Typs werden die Form des halbtransparenten Bereiches des Hauptspiegels und die Reflexionsrichtungs-Kennlinie des zweiten Spiegels so festgelegt, daß sich eine mittenbetonte Belichtungsmessung" oder eine mittlere bzw. integrale Belichtungsmessung ergeben. Im Gegensatz hierzu sind bei einer Kamera des zuerst erwähnten Typs diese Elemente (der erste und der zweite Spiegel) nicht vorhanden, wenn das an der Filmoberfläche reflektierte Licht gemessen wird, so daß das Lichtempfangssystem direkt das an der Filmoberfläche reflektierte Licht empfängt. Dementsprechend beeinflußt die Konstruktion des Lichtempfangssystems stark die Empfindlichkeits-Verteilung bei der Belichtungsmessung.In a camera of the first-mentioned type, the shape of the semi-transparent Area of the main mirror and the reflection direction characteristic of the second mirror so determined that a center-weighted exposure metering " or result in a mean or integral exposure measurement. In contrast, are in the case of a camera of the first-mentioned type, these elements (the first and the second Mirror) does not exist when the light reflected on the film surface is measured so that the light receiving system directly reflected that on the film surface Receives light. Accordingly, it affects the construction of the light receiving system strong the sensitivity distribution when measuring exposure.

Außerdem gibt es noch folgenden Gesichtspunkt: Die Ungleichmäßigkeit der Länge des Strahlengangs von jedem Punkt auf der Filmoberfläche zu dem Lichtempfangssystem ist kein wesentliches Problem, weil das Licht von dem Film diffuses bzw. zerstreutes Licht ist (FR-PS 1 581 805).There is also the following aspect: the unevenness the length of the optical path from each point on the film surface to the light receiving system is not a significant problem because the light from the film is diffuse Light is (FR-PS 1 581 805).

Bei dem Film handelt es sich jedoch nicht um eine vollständig bzw. optimal streuende bzw. diffuse Oberfläche, so daß die Empfindlichkeitsverteilung in Abhängigkeit von der Konstruktion des Lichtempfangssystems stark schwankt. Außerdem ist aus der DE-AS 2 127 896 eine Technik bekannt, bei der ein Lichtunterbrechungselement vorgesehen ist, um das regelmäßige, an der Filmoberfläche reflektierte Licht zu unterbrechen. Wenn jedoch ein solches Abblendelement vorgesehen wird, unterbricht es nicht nur das regelmäßig reflektierte Licht, sondern auch das diffus bzw. zerstreut reflektierte Licht; weil es sich um einen bestimmten Bereich der Bildebene handelt, fällt das reflektierte Licht von diesem Bereich nicht auf das Lichtempfangssystem, so daß dieser Bereich nicht zur Belichtungsmessung beiträgt. Dadurch ergibt sich jedoch der Nachteil, daß sich die Empfindlichkeitsverteilung zu einer Seite der Bildebene hin neigt und die Messung nicht mehr mit der gewünschten Exaktheit vorgenommen werden kann; außerdem fallen die Empfindlichkeitsverteilung für die übliche Belichtungsmessung und die Empfindlichkeitsverteilung für die Belichtungsmessung durch Reflexion in der Filmoberfläche nicht zusammen.However, the film is not a complete or complete one. optimally scattering or diffuse surface, so that the sensitivity distribution varies greatly depending on the construction of the light receiving system. aside from that A technique is known from DE-AS 2 127 896 in which a light interruption element is provided to the regular light reflected on the film surface interrupt. However, if such a screening element is provided, interrupts it is not only the regularly reflected light, but also the diffuse or scattered light reflected light; because it is a specific area of the image plane, the reflected light from this area does not fall on the light receiving system, so that this area does not contribute to the exposure metering. This results in however, the disadvantage that the sensitivity distribution to one side of the The image plane is inclined and the measurement is no longer carried out with the desired accuracy can be; in addition, the sensitivity distribution for the usual exposure metering falls and the sensitivity distribution for exposure measurement by reflection in the film surface does not coincide.

Es ist deshalb ein Ziel der vorliegenden Erfindung, einen Belichtungsmesser für eine einäugige Spiegelreflexkamera zu schaffen, bei dem mittels eines einzigen Lichtempfangssystems die übliche Belichtungsmessung und die Belichtungsmessung durch Reflexion in der Filmoberfläche durchgeführt werden können.It is therefore an object of the present invention to provide a light meter for a single-lens reflex camera with which by means of a single Light receiving system through the usual exposure metering and exposure metering Reflection in the film surface can be performed.

Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung wird ein Belichtungsmesser für eine einäugige Spiegelreflexkamera vorgeschlagen, bei dem die Nachteile der herkömmlichen Belichtungsmessung durch Reflexion in der Filmoberfläche vermieden werden; außerdem werden die übliche Belichtungsmessung und die Belichtungsmessung durch Reflexion in der Filmoberfläche durch das gleiche Lichtempfangssystem durchgeführt, das jedoch jeweils unterschiedliche Lichtempfangsbahnen hat; die Empfindlichkeitsverteilungen für die Belichtungsmessungen mit den beiden Verfahren fallen im wesentlichen zusammen.In accordance with one aspect of the present invention, there is provided a light meter proposed for a single lens reflex camera, in which the disadvantages of conventional exposure measurement by reflection in the film surface avoided will; in addition, the usual exposure metering and exposure metering performed by reflection in the film surface by the same light receiving system, however, each has different light receiving paths; the sensitivity distributions for the exposure measurements with the two methods essentially coincide.

Die Erfindung schafft also einen Belichtungsmesser für eine einäugige Spiegelreflexkamera mit einem ersten, zwischen einer Beobachtungsstellung und einer Aufnahmestellung beweglichen Spiegel, mit einem halbtransparenten, in dem ersten Spiegel ausgebildeten Bereich, der einen Teil des Objektlichtes zur Rückseite des ersten Spiegels durchläßt, mit einem in dem Kameragehäuse angeordneten Lichtempfangssystem und mit einem zweiten Spiegel, der das durch den halbdurchlässigen Bereich durchgelassene Objektlicht zu dem Lichtempfangssystem richtet, wobei das Lichtempfangssystem ein photoelektrisches Element und eine Kondensorlinse aufweist und so aufgebaut ist, daß es von der oberen Fläche einer Filmoberfläche im wesentlichen diffuses, an der Filmoberfläche reflektiertes Licht und von der unteren Fläche der Filmoberfläche im wesentlichen regelmäßiges, an der Filmoberfläche reflektiertes Licht empfängt, wobei weiterhin der zweite Spiegel hinter dem ersten Spiegel so angeordnet ist, daß bei in der Beobachtungsstellung befindlichen ersten Spiegel der zweite Spiegel in einer vorgegebenen Stellung in dem Winkel des Lichtempfangs liegt, um das durch den halbtransparenten Bereich fallende Licht auf das Lichtempfangssystem zu richten, und wobei das Lichtempfangssystem eine erste Betriebslage für die Messung des Objektlichtes durch den zweiten Spiegel und eine zweite Betriebslage für die Messung des Objektes durch die Filmoberfläche aufweist.The invention thus provides a light meter for a one-eyed SLR camera with a first, between an observation position and a Pick-up position movable mirror, with a semi-transparent, in the first Mirror formed area, which part of the object light to the rear of the first mirror lets through, with a light receiving system arranged in the camera housing and a second mirror that shows what is transmitted through the semitransparent area Directs object light to the light receiving system, wherein the light receiving system a has a photoelectric element and a condenser lens and is constructed so that it is essentially diffuse from the upper surface of a film surface at the Light reflected from the film surface and from the lower surface of the film surface essentially regular, on the film surface reflected Receives light, the second mirror continues behind the first mirror so it is arranged that when the first mirror is in the observation position the second mirror in a predetermined position at the angle of light reception lies around the light falling through the semitransparent area on the light receiving system to be directed, and wherein the light receiving system has a first operating position for the measurement of the object light through the second mirror and a second operating position for the Having measurement of the object through the film surface.

Die Erfindung wird im folgenden anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die beiliegenden, schematischen Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen Fig. 1 einen Querschnitt durch- einen Belichtungsmesser für eine einäugige Spiegelreflexkamera nach der vorliegenden Erfindung im Zustand für die "übliche Belichtungsmessung", Fig. 2 einen Querschnitt durch den gleichen Belichtungsmesser im Zustand für die Belichtungsmessung durch Reflexion der Filmoberfläche", Fig. 3 eine graphische Darstellung der Empfindlichkeits-Verteilung bei der Belichtungsmessung an der Filmoberfläche, Fig. 4 eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung und Fig. 5 eine Schaltung für die automatische Belichtungssteuerung und die automatische Belichtungseinstellung bei der "üblichen Belichtungsmessung" -und bei "Belichtungsmessung durch Reflexion an der Filmoberfläche".The invention is illustrated below with the aid of exemplary embodiments Explained in more detail with reference to the accompanying schematic drawings. Show it 1 shows a cross section through an exposure meter for a single-lens reflex camera according to the present invention in the state for the "usual exposure measurement", Fig. 2 is a cross section through the same exposure meter in the state for Exposure measurement by reflection of the film surface ", Fig. 3 is a graphical representation the sensitivity distribution when measuring exposure on the film surface, FIG. 4 shows another embodiment of the present invention and FIG. 5 shows a circuit for automatic exposure control and automatic exposure adjustment with the "usual exposure metering" and with "exposure metering by reflection on the film surface ".

Die Fig. 1 und 2 zeigen den Belichtungsmesser für eine einäugige Spiegelreflexkamera nach der vorliegenden Erfindung. Dabei stellt Fig. 1 den Strahlengang des einfallenden bzw. empfangenen Lichtes für die übliche Belichtungsmessung" und Fig. 2 den Strahlengang für den Empfang des an der Filmoberfläche reflektierten Lichtes dar. Fig. 3 zeigt die Empfindlichkeits-Verteilung bei der Belichtungsmessung an der Filmoberfläche.1 and 2 show the light meter for a single-lens reflex camera according to the present invention. 1 shows the beam path of the incident or received light for the usual exposure measurement "and FIG. 2 shows the beam path for the reception of the light reflected on the film surface. Fig. 3 shows the sensitivity distribution in the exposure measurement on the film surface.

In Fig. 1 ist ein Haupt- oder erster Spiegel 6, der zwischen einer Beobachtungsstellung und einer Aufnahmestellung gedreht bzw. geschwenkt werden kann, im Strahlengang eines Aufnahmeobjektivs 1 angeordnet. Wenn sich der Hauptspiegel 6 in der Beobachtungsstellung befindet, so wird das vom Objekt einfallende Licht, das durch das offene Objektiv 1 verläuft, durch den Hauptspiegel 6 nach oben reflektiert, wie man in Fig. 1 erkennen kann, und auf eine Fokussierplatte 7 abgebildet. Diese Abbildung kann von dem Photographen durch eine Kondensorlinse 8, ein Pentaprisma 9 und ein Okular 10 beobachtet werden.In Fig. 1 is a main or first mirror 6, which is between a Observation position and a recording position can be rotated or pivoted, arranged in the beam path of a taking lens 1. When the main mirror 6 is in the observation position, the incident light from the object which runs through the open lens 1, reflected upwards by the main mirror 6, as can be seen in FIG. 1, and mapped onto a focusing plate 7. These Imaging can be done by the photographer through a condenser lens 8, a pentaprism 9 and an eyepiece 10 can be observed.

Der Hauptspiegel 6 ist andererseits mit einem halbtransparenten Bereich 6' ausgebildet, so daß ein Teil des vom Objekt einfallenden Lichtes den Hauptspiegel 6 passiert und auf seine Rückseite gelangt. Am Boden 2' des Kameragehäuses 2 ist außerhalb des Strahlengangs des Aufnahmeobjektivs 1 ein Lichtempfangssystem angeordnet, das eine Kondensorlinse 3 und ein photoelektrisches Element 4 aufweist. Der Bildwinkel bzw. Bildfeldwinkel der Kondensorlinse 3 bestimmt den Winkel des Lichtempfangs des Lichtempfangssystems; ein zweiter Spiegel 11 ist innerhalb des Bildwinkels der Kondensorlinse 3 (der durch gestrichelte Linien angedeutet ist) angeordnet und reflektiert das vom Objekt einfallende Licht, das den halbtransparenten Bereich 6' passiert hat, zu dem Lichtempfangssystem.The main mirror 6, on the other hand, is provided with a semi-transparent area 6 'formed so that part of the incident light from the object the main mirror 6 happened and got to its back. At the bottom 2 'of the camera housing 2 is a light receiving system is arranged outside the beam path of the taking lens 1, which has a condenser lens 3 and a photoelectric element 4. The angle of view or field angle of the condenser lens 3 determines the angle of light reception of the Light receiving system; a second mirror 11 is within the angle of view of the condenser lens 3 (indicated by dashed lines) and reflects that incident light from the object that has passed the semi-transparent area 6 ', to the light receiving system.

Die Kondensorlinse 3 ist so ausgelegt, daß ihre optische Achse in Bezug auf den zweiten Spiegel 11 zur optischen Achse des Aufnahmeobjektivs 1 konjugiert ist. Auf diese Weise empfängt das photoelektrische Element 4 das vom Objekt einfallende Licht durch den halbtransparenten Bereich 6' des Hauptspiegels 6, den zweiten Spiegel 11 und die Kondensorlinse 3, wodurch die übliche Belichtungsmessung" durchgeführt wird. Eine Belichtungssteuerschaltung (nicht dargestellt) spricht auf das bei dieser Belichtungsmessung erzeugte Ausgangs signal sowie andere Belichtungsfaktoren an und bestimmt den zugehörigen Belichtungswert, so daß beispielsweise auf dieser Basis die Belichtungszeit eingestellt werden kann, und zwar automatisch.The condenser lens 3 is designed so that its optical axis in Conjugate with respect to the second mirror 11 to the optical axis of the taking lens 1 is. In this way, the photoelectric element 4 receives the incident from the object Light through the semi-transparent area 6 'of the main mirror 6, the second mirror 11 and the condenser lens 3, whereby the usual exposure measurement "is carried out will. An exposure control circuit (not shown) responds to this in this Exposure metering generated output signal as well as other exposure factors and determines the associated exposure value, for example on this basis the exposure time can be set automatically.

Die Größe des halbtransparenten Bereiches 6', die Form, Abmessungen und räumliche Anordnung des zweiten Spiegels 11 sowie der Winkel des Lichtempfangs des Lichtempfangssystems werden so festgelegt, daß bei der "üblichen Belichtungsmessung" die Messung mit einer gewissen Mitten-Betonung durchgeführt wird.The size of the semi-transparent area 6 ', the shape, dimensions and spatial arrangement of the second mirror 11 and the angle of light reception of the light receiving system are determined in such a way that with the "usual exposure measurement" the measurement is carried out with a certain center emphasis.

Im folgenden soll die Funktionsweise dieses Belichtungsmessers für den Fall erläutert werden, daß mittels eines Elektronenblitzgerätes Blitzlichtaufnahmen (einschließlich tageslicht-synchronisierten Aufnahmen) gemacht werden sollen. Bei Blitzaufnahmen wird die Belichtungszeit auf die Synchronisationszeit des Verschlusses eingestellt; das Lichtempfangssystem mißt durch die Filmoberfläche das an dem Objekt reflektierte Licht, wobei dieses Objekt durch den Blitz bei vollständig offener Blende bestrahlt wird; wenn das Ausgangssignal dieser Belichtungsmessung einen vorgegebenen Wert erreicht hat, wird die Lichtemission des Elektronenblitzes angehalten.The following describes how this light meter works for the case will be explained that by means of an electronic flash unit, flash photography (including daylight-synchronized recordings) should be made. at For flash photography, the exposure time is based on the synchronization time of the shutter set; the light receiving system measures that on the object through the film surface reflected light, this object being hit by the flash when fully open Aperture is irradiated; when the output signal of this exposure measurement is a predetermined Has reached the value, the light emission of the electronic flash is stopped.

Dementsprechend muß der Winkel des Lichtempfangs des Lichtempfangssystems so festgelegt werden, daß er sowohl den zweiten Spiegel als auch eine vorgegebene Fläche der Filmoberfläche enthält.Accordingly, the light receiving angle of the light receiving system must can be set to have both the second mirror and a predetermined one Contains area of the film surface.

Wenn nun das an der Filmoberfläche 12 reflektierte Licht (siehe Fig. 2) mittels dieses Lichtempfangssystems bestimmt wird, werden der Hauptspiegel 6 und der zweite Spiegel 11 aus dem Strahlengang des Aufnahmeobjektivs 1 zurückgezogen, so daß das Licht von dem Aufnahmeobjektiv 1 an der Filmoberfläche 12 reflektiert wird und durch die Kondensorlinse 3 auf das photoelektrische Element 4 fällt. Von diesem Licht ist der Strahl A, der an der oberen Hälfte der Filmoberfläche 12 reflektiert wird und auf das photoelektrische Element 4 fällt, diffuses bzw. zerstreutes Licht. Auch bei dem Strahl B, der von der Mitte 12' der Filmoberfläche zu dem photoelektrischen Element 4 verläuft, handelt es sich um diffuses bzw. zerstreutes Licht. Im Gegensatz hierzu besteht der Strahl C, der an der unteren Hälfte der Filmoberfläche 12 reflektiert wird und auf das photoelektrische Element 4 fällt, im wesentlichen aus regelmäßig reflektiertem Licht, obwohl er auch diffuses bzw. zerstreutes Licht enthält. Die Lichtstrahlen, die von den verschiedenen Teilen der Filmoberfläche 12 auf das Lichtempfangssystem 5 allen, können also entsprechend unterteilt werden; dies heißt, daß die an dem oberen Bereich der Filmoberfläche 12 reflektierten Strahlen einen stärkeren Faktor als diffus reflektiertes Licht haben, während die an dem unteren Bereich der Filmoberfläche reflektierten Strahlen einen stärkeren Faktor als regelmäßig reflektiertes Licht haben. Die Intensität dieses regelmäßig reflektierten Lichtes ist relativ hoch.If the light reflected on the film surface 12 (see Fig. 2) is determined by means of this light receiving system, the main mirror 6 and the second mirror 11 is withdrawn from the beam path of the taking lens 1, so that the light from the taking lens 1 reflects on the film surface 12 and falls on the photoelectric element 4 through the condenser lens 3. from this light is the ray A, which is reflected on the upper half of the film surface 12 and falls on the photoelectric element 4, diffuse light. Also in the case of the beam B extending from the center 12 'of the film surface to the photoelectric Element 4 runs, it is diffuse or scattered light. In contrast for this purpose there is the beam C, which is reflected on the lower half of the film surface 12 and falls on the photoelectric element 4, substantially regularly reflected light, although it also contains diffuse or scattered light. the Light rays emanating from the various parts of the film surface 12 onto the light receiving system 5 all, so can be subdivided accordingly; this means that the at that the upper portion of the film surface 12, rays reflected a greater factor as diffuse reflected light, while those at the lower area of the film surface reflected rays have a stronger factor than regularly reflected light to have. The intensity of this regularly reflected light is relatively high.

Hier werden nun die Richtungs-Charakteristiken des Licht--empfangssystems so festgelegt, daß sie für die obere Hälfte der Filmoberfläche stark und für die untere Hälfte der Filmoberfläche schwach sind. Dies kann beispielsweise dadurch realisiert werden, daß die optische Achse 5 der Kondensorlinse 3 so ausgerichtet wird, daß der Schnittpunkt 5' mit der Filmoberfläche 12 sich etwas über der Mitte 12' der Filmoberfläche befindet. Das photoelektrische Element 4 mißt besonders stark die Strahlen (A und B in Fig. 2), die in einem größeren Winkel zur optischen Achse 5 einfallen, und zwar wegen des Cosinus4-Gesetzes.Here are the directional characteristics of the light receiving system set so that they are strong for the upper half of the film surface and for the lower half of Film surface are weak. This can be, for example can be realized in that the optical axis 5 of the condenser lens 3 is aligned becomes that the point of intersection 5 'with the film surface 12 is slightly above the center 12 'of the film surface. The photoelectric element 4 measures particularly strongly the rays (A and B in Fig. 2) which are at a greater angle to the optical axis 5 occur because of the Cosine4 law.

Die relative Empfindlichkeit des Lichtempfangssystems für jeden Punkt auf der Filmoberfläche zu diesem Zeitpunkt sollim.folgenden in Bezug auf die regelmäßig reflektierte Lichtkomponente und die diffus reflektierte Lichtkomponente betrachtet werden. Wie bereits oben erwähnt wurde, kommt die regelmäßig reflektierte Lichtkomponente, die auf das Lichtempfangssystem fällt, kaum von der oberen Hälfte der Filmoberfläche, sondern meistens von der unteren Hälfte der Filmoberfläche. Dementsprechend wird die regelmäßig reflektierte Lichtkomponente von der unteren Hälfte der Filmoberfläche, die in einem relativ großem Winkel in Bezug auf die optische Achse der Kondensorlinse 3 einfällt, aufgrund des Cosinus4-Gesetzes der Linse bzw. des Objektives gedämpft. Die relative Empfindlichkeit des Lichtempfangssystems wird jedoch dadurch so eingestellt, daß die untere Hälfte der Filmoberfläche stark bzw. betont gemessen wird, wie durch die Kurve X in Figur 3 angedeutet ist. Im Gegensatz hierzu tritt die diffus reflektierte Lichtkomponente gleichmäßig von der Filmoberfläche in das Lichtempfangssystem ein; das Licht von dem unteren Bereich der Filmoberfläche wird jedoch durch die Kondensorlinse 3 gedämpft, so daß die relative Empfindlichkeit des Lichtempfangssystems so wird, daß die obere Hälfte der Filmoberfläche stark bzw.The relative sensitivity of the light receiving system for each point on the film surface at this time should be in the following with respect to the regular reflected light component and the diffuse reflected light component considered will. As already mentioned above, the regularly reflected light component comes falling on the light receiving system, barely from the top half of the film surface, but mostly from the lower half of the film surface. Accordingly, will the regularly reflected light component from the lower half of the film surface, those at a relatively large angle with respect to the optical axis of the condenser lens 3 occurs, attenuated due to the cosine 4 law of the lens or the objective. However, the relative sensitivity of the light receiving system is adjusted so that that the lower half of the film surface is measured strongly, as by the curve X is indicated in FIG. In contrast, the diffusely reflected occurs Light component uniformly from the film surface into the light receiving system; however, the light from the lower portion of the film surface is passed through the condenser lens 3 attenuated so that the relative sensitivity of the light receiving system becomes that the upper half of the film surface is strong resp.

betont gemessen wird, wie in Fig. 3 durch die Kurve Y angedeutet ist.is measured emphatically, as indicated by the curve Y in FIG. 3.

Die Empfindlichkeitsverteilung des Lichtempfangssystems für das Objektfeld wird schließlich durch die beiden oben erwähnten Charakteristiken bzw. Kennlinien bestimmt, die einander überlagert werden. D. h. also, daß die Empfindlichkeitsverteilung die Form der Kurve Z in Fig. 3 annimmt, die das Produkt der Kurve X und der Kurve Y ist.The sensitivity distribution of the light receiving system for the object field is finally determined by the two characteristics or characteristic curves mentioned above determined, which are superimposed on each other. I. E. so that the sensitivity distribution takes the form of curve Z in Fig. 3, which is the product of curve X and the curve Y is.

Damit kann also die Empfindlichkeitsverteilung bei der Belichtungsmessung durch Reflexion an der Filmoberfläche so ausgelegt werden, daß es sich um den sogenannten "mittenbetonten Typ" handelt, der einen Bereich mit hoher Empfindlichkeit in der Nähe der Mitte der Filmoberfläche hat; als Ergebnis hiervon kann die Empfindlichkeitsverteilung im wesentlichen gleich der Empfindlichkeitsverteilung für die übliche Belichtungsmessung gemacht werden.Thus, the sensitivity distribution in the exposure measurement can be be interpreted by reflection on the film surface so that it is the so-called "center-weighted type" is an area of high sensitivity in the Has near the center of the film surface; as a result, the sensitivity distribution essentially the same as the sensitivity distribution for the usual exposure measurement be made.

Die Form der Empfindlichkeitsverteilung kann jedoch auch so ausgelegt werden, daß sie von der Mitte der Bildebene (für die aufgenommene tatsächliche Szene) etwas mehr zum Boden hin gerichtet ist. Außerdem kann die Kennlinie, wie beispielsweise die Kurve Y von Fig. 3, nicht nur durch den Sinn der optischen Achse des Lichtempfangssystems, sondern auch dadurch erreicht werden, daß eine Kondensorlinse 3a und ein Lichtempfangselement 4a in einer Schiebebeziehung bzw. einer verschobenen Beziehung angeordnet werden, wie es beispielsweise in Fig. 4 dargestellt ist (dabei kann die optische Achse 5a der Linse 3a der Mitte 12' der Filmoberfläche zugewandt sein). Außerdem können auch die beiden Elemente zueinander geschwenkt bzw. geneigt angeordnet werden.However, the shape of the sensitivity distribution can also be designed in this way that they are from the center of the image plane (for the actual scene recorded) is directed a little more towards the ground. In addition, the characteristic curve, such as the curve Y of Fig. 3, not only through the sense of the optical axis of the light receiving system, but also can be achieved by having a condenser lens 3a and a light receiving element 4a are arranged in a sliding relationship or a shifted relationship, as shown, for example, in FIG. 4 (the optical axis 5a the lens 3a facing the center 12 'of the film surface). Besides, can also the two elements can be pivoted or inclined relative to one another.

Im folgenden wird auf Fig. 5 Bezug genommen, um eine Schaltungsanordnung zu beschreiben, mit der die automatische Belichtungssteuerung und die automatische Lichteinstellung bei der üblichen Belichtungsmessung und bei der Belichtungsmessung durch Reflexion an der Filmoberfläche durchgeführt werden.Reference is now made to FIG. 5 for a circuit arrangement to describe with the automatic exposure control and the automatic Light setting for the usual exposure metering and exposure metering be carried out by reflection on the film surface.

Das Licht von einem Objekt 20, das durch natürliches Licht oder Blitzlicht bestrahlt wird, wird durch ein Lichtempfangssystem 21 mit dem oben beschriebenen Aufbau gemessen. Während der üblichen Belichtungsmessung wird das vom Belichtungsmesser erhaltene Ausgangssignal an eine elektrische Verschluß schaltung 22 angelegt, die den üblichen Aufbau hat. Andere Belichtungsfaktoren, wie beispielsweise die Helligkeit des aufzunehmenden Objektes, werden-dieser Schaltung 22 ebenfalls zugeführt; auf der Basis dieser Belichtungsinformationen wird die Belichtungszeit elektromagnetisch eingestellt. Bei dem Elektromagneten handelt es sich um die elektromagnetische Einstellung für die Durchführung dieser Steuerung.The light from an object 20 produced by natural light or flash light is irradiated is through a light receiving system 21 having that described above Structure measured. During the usual exposure metering, this is done by the exposure meter output signal obtained is applied to an electrical shutter circuit 22 which has the usual structure. Other exposure factors, such as brightness of the object to be recorded are also supplied to this circuit 22; on The exposure time becomes electromagnetic based on this exposure information set. The electromagnet is the electromagnetic setting for performing this control.

Ein Elektronenblitz 24 mit einer Blitzentladungsröhre 25 und einer Schaltung 26 für die Unterbrechung der Lichtemission sind durch Verbindungsglieder 27 und 28 an eine elektrische Schaltung angeschlossen, die sich in dem Kameragehäuse befindet, nämlich das Lichtempfangssystem 21 und der Synchronkontakt 29, wenn das Blitzlichtgerät an der Kamera angebracht wird. Zu diesem Zeitpunkt wird ein Schalter 30 geschlossen. Die automatische Lichteinstellung erfolgt auf folgende Weise: Der Hauptspiegel wird in die Aufnahmelage gebracht; anschließend wird der Synchronkontakt 29 geschlossen. Als Ergebnis hiervon emittiert die Blitzentladungsröhre 25 einen Blitz, um das Objekt 20 zu bestrahlen. Das von diesem bestrahlten Objekt 20 reflektierte Licht wird von dem Lichtempfangssystem 21 durch die Filmoberfläche gemessen. Anschließend integriert die Schaltung 26, welche die Lichtemission beendet, das Ausgangssignal dieser Belichtungsmessung; wenn dieser integrierte Wert einen vorgegebenen Wert erreicht hat, wird die Blitzlichtemission der Blitzentladungsröhre 25 unterbrochen. Dabei handelt es sich also um die automatische Lichteinstellung. Zu diesem Zeitpunkt steuert die elektrische Verschluß schaltung 22 die Belichtungszeit durch das Schließen des Schalters 30 auf die Synchronisationszeit des Verschlusses, und zwar unabhängig von dem Belichtungsmesser-Ausgangssignal des Lichtempfangssystems.An electronic flash 24 with a flash discharge tube 25 and a Circuit 26 for stopping light emission are through connectors 27 and 28 are connected to an electrical circuit which is located in the camera housing is located, namely the light receiving system 21 and the synchronous contact 29, if the Flash unit is attached to the camera. At this point there will be a switch 30 closed. The automatic light setting is carried out in the following way: The Main mirror is brought into the recording position; then the synchronous contact 29 closed. As a result, the flash discharge tube 25 emits a Flash to irradiate the object 20. That reflected from this irradiated object 20 Light is measured by the light receiving system 21 through the film surface. Afterward the circuit 26 which stops the light emission integrates the output signal this exposure metering; when this integrated value is a predetermined value has reached, the flash emission of the flash discharge tube 25 is stopped. So this is the automatic light setting. At this time the electric shutter circuit 22 controls the exposure time by the closing of the switch 30 to the synchronization time of the shutter, and regardless of the light meter output signal of the light receiving system.

Bei dem Belichtungsmesser nach der vorliegenden Erfindung müssen die Halterung für die Kondensorlinse 3 und die Form und die Abmessungen des Bodens 2' des Kameragehäuses so ausgelegt werden, daß die von der unteren Hälfte der Filmoberfläche 12 auf das Lichtempfangssystem 5 fallenden Lichstrahlen nur soweit unterbrochen werden, wie es unbedingt nötig ist.In the light meter according to the present invention, the Bracket for the condenser lens 3 and the shape and dimensions of the bottom 2 ' of the camera body can be designed so that those of the lower half of the film surface 12 light rays falling on the light receiving system 5 are interrupted only as far as absolutely necessary.

L e e r s e i t eL e r s e i t e

Claims

Light meter for a single-lens reflex camera patent claims / 1 light meter for a single-lens reflex camera with a first, between an observation position and a recording position movable mirror, with a semitransparent area formed in the first mirror through which a part of the light from the object through the mirror to the back of the first mirror can fall, with a light receiving system arranged in the camera body and with a second mirror that shows this through the semi-transparent area directs falling object light onto the light receiving system, d u r c h e k e n n z e i c h n e. t that the light receiving system (21) is a photoelectric element (4) and a condenser lens (3) and is constructed so that it is from the upper Area of a film surface essentially diffusely reflects light and from the The lower surface of the film surface is essentially regularly reflected light receives that the second mirror (11) is arranged relative to the first mirror (6) is that the second mirror (11) is in a predetermined position in the angle of light reception is when the first mirror (6) is in the observation position to the light passing through the semitransparent area (6 ') to the light receiving system (21) to be directed, and that the light receiving system (21) has a first operating position for measuring the object light from the second mirror (11) and a second operating position for comprises measuring the object light from the film surface.

2. Exposure meter according to claim 1, characterized in that the optical axis of the condenser lens (3) intersects the top surface of the film surface.

3. Exposure meter according to one of claims 1 or 2, characterized in that that the optical axis of the condenser lens (3) with respect to the second mirror (11) is conjugate to the optical axis of the taking lens (1).