DE29917052U1 - Vorrichtung zum Feststellen des Oberflächenzustandes - Google Patents

Vorrichtung zum Feststellen des Oberflächenzustandes

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    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3554Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
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Claims (7)

1. Vorrichtung zum Feststellen des Oberflächenzustandes mit einer Strahlungsquelle, einem oder mehreren Sensoren, welche die Intensität des von der Strahlungsquelle ausgesandten und von der zu untersuchenden Oberfläche reflektierten Lichts bei unterschiedlichen Wellenlängen ermitteln, dadurch gekennzeichnet, dass in dem Strahlengang von der Strahlungsquelle zu dem oder den Sensoren eine Aussparungen aufweisende erste Reflexionsfläche angeordnet ist, dass die Aussparungen der ersten Reflexionsfläche von einer zweiten Reflexionsfläche periodisch geschlossen und freigegeben werden, dass die Reflexionskoeffizienten der ersten und der zweiten Reflexionsfläche voneinander verschieden sind, dass einer oder mehrere Wellenlängenbereiche der von der ersten und zweiten Reflexionsfläche und/oder der ersten Reflexionsfläche und Oberfläche reflektierten Strahlung gleichzeitig von dem oder den Sensoren gemessen werden, und dass aus dem oder den Ausgangssignalen des oder der Sensoren das durch erste und zweite Reflexionsfläche verursachte oszillierende Referenzsignal herausgefiltert wird und zur kontinuierlichen Kompensation der Änderungen der Empfindlichkeit des oder der Sensoren und/oder der spektralen Verteilung der Strahlungsquelle herangezogen werden.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Reflexionskoeffizienten der ersten Reflexionsfläche bei den von den Sensoren ausgewertetenen Wellenlängen gleich sind.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Reflexionskoeffizienten der zweiten Reflexionsfläche bei den von den Sensoren ausgewerteten Wellenlängen gleich sind.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Reflexionskoeffizienten der ersten Reflexionsfläche bei den von den Sensoren ausgewertetenen Wellenlängen kleiner als die der zweiten Reflexionsfläche sind.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die erste Reflexionsfläche eine Kreisfläche ist und die Aussparungen Kreissektoren sind, dass die zweite Reflexionsfläche im wesentlichen aus den Aussparungen der ersten Reflexionsfläche entsprechenden Kreissektoren besteht, dass erste und zweite Reflexionsfläche konzentrisch zueinander angeordnet sind und sich relativ zueinander drehen.
6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Gesamtstrahlungsintensität des von der Strahlungsquelle ausgesandten Lichts und von erster und/oder zweiter Reflexionsfläche auf die Sensoren reflektierten Lichts gleich ist.
7. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlungsquelle ein Temperatur-Strahler ist.
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