DE2951450A1

DE2951450A1 - Local test circuit for programme controlled telephone exchange - operated independently of test and check facilities of exchange computer

Info

Publication number: DE2951450A1
Application number: DE19792951450
Authority: DE
Inventors: Manfred 8000 München Bichler; Dieter 8900 Augsburg Karlstetter
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1979-12-20
Filing date: 1979-12-20
Publication date: 1981-07-02
Also published as: DE2951450C2

Abstract

The automatic test circuit is used to enable testing of exchange sections which would otherwise impose considerable requirements upon the exchange central processor (ZST). The circuit is typically used in checking out the connection system (KF) between subscribers (TN) and the rest of the exchange equipment. Test units (PE1,PE2) are provided, one to simulate a calling subscriber (PE1) and the other a called subscriber (PE2). A local control circuit (ST) regulates the test programme. At set intervals, a simulated call is set up through the connecting system (KF) between the two test units. This operation changes the loop impedance and connects a number selection memory (WAS). After a limited timed interval, the connection is broken. A voltage sensitive discriminator senses the potential changes during the test process. If these do not conform with the correct values for a healthy circuit a fault condition is signalled.

Description

Schaltungsanordnung zur Funktionsüberwachung von Koppel-Circuit arrangement for function monitoring of coupling

feldteilen und ihnen zugeordneten peripheren Steuerungen in zentralgesteuerten Nachrichtenvermittlungsanlagen, insbesondere in programmgesteuerten Fernsprechwählanlagen Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zur Funktionsüberwachung von Koppelfeldteilen und ihnen zugeordneten peripheren Steuerungen in zentralgesteuerten Nachrichtenvermittlungsanlagen, insbesondere in programmgesteuerten Fernsprechwählanlagen.field parts and their associated peripheral controls in centrally controlled Message switching systems, in particular in program-controlled telephone switching systems The invention relates to a circuit arrangement for monitoring the function of switching matrix parts and their associated peripheral controls in centrally controlled communication systems, especially in program-controlled telephone systems.

In programmgesteuerten Fernsprechwählanlagen sind umfangreiche Uberwachungs- und Prüfschaltungen vorgesehen, die eine schnelle und sichere Störungserkennung und -beseitigung ermöglichen sollaiund die im Störfall die Ersatzschaltung bzw. Abschaltung gestörter Einrichtungen veranlassen. Die Einrichtungen größeren Zentralisierungsgrades sind entweder gedoppelt und arbeiten im Parallelbetrieb oder es sind für mehrere von ihnen gemeinsame Ersatzeinrichtungen vorgesehen. Für Funktionsteile geringeren Zentralisierungsgrades sind außerdem Prüfeinrichtungen für periodische Routineprüfungen und gezielte Prüfungen zur Störungsbeseitigung vorgesehen.In program-controlled telephone systems, extensive monitoring and test circuits are provided which enable rapid and reliable fault detection and remedial action, and which in the event of a fault, the replacement circuit or Arrange for disrupted equipment to be switched off. The institutions of greater degree of centralization are either duplicated and work in parallel or they are for several joint replacement facilities provided by them. For functional parts lower Degrees of centralization are also Test equipment for periodic Routine tests and specific tests for troubleshooting are provided.

Die Routineprüfungen laufen dabei automatisch unter der Kontrolle der zentralen Steuerung ab.The routine tests run automatically under the control the central control.

Es hat sich herausgestellt, daß bestimmte Fehlerarten von den üblichen schaltungstechnischen und programmtechnischen ttberwachungseinrichtungen nicht erkannt und signalisiert werden und daher zu einer begrenzten Blokkierung von Vermittlungseinrichtungen führen können.It has been found that certain types of errors differ from the usual Circuit and program monitoring devices not recognized and are signaled and therefore to a limited blocking of switching equipment being able to lead.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine einfache Schaltungsanordnung zur routinemäßigen Prüfung der einzelnen Koppelfeldteile einer Vermittlungsanlage zu schaffen, die unabhängig von dem Prüfprogramm der zentralen Steuerung arbeitet.The invention is based on the object of a simple circuit arrangement for routine testing of the individual switching network parts of a switching system to create that works independently of the test program of the central control.

Ausgehend von einer Schaltungsanordnung der eingangs genannten Art mit an die Koppelfeldteile angeschlossenen dezentralen Prüfeinrichtungen zur Simulation von Belegungsanreizen (z.B. durch Nachbildung eines niederohmigen Schleifenschlusses) sowie mit Anzeigemitteln zur Störungssignalisierung bei Fehlfunktionen innerhalb der zu überwachenden Koppelfeldteile und/oder ihrer peripheren Steuerungen wird die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe dadurch gelöst, - daß an wenigstens ein Exemplar der einer peripheren Steuerung zugeordneten Zugänge eines Koppelfeldteiles eine der genannten Prüfeinrichtungen angeschlossen ist, - daß diese Prüfeinrichtung in vorgebbaren periodischen Zeitabständen mit Jeweils vorgebbarer Bewertungsdauer betätigbare Anschaltemittel umfaßt, mittels derer ein die genannten Belegungsanreize verursachendes Schaltelement sowie eine Detektorschaltung periodisch an den betreffenden Zugang des Koppelfeldteiles anschalt- bar sind, - daß die Detektorschaltung einen Diskriminator zur Uberwachung des Eintreffens eines als Meldesignal auswertbaren bei ordnungsgemäßer Durchkopplung zu einer über das Koppelfeldteil erreichbaren nachgeordneten Einrichtung (z.B. einem Wahlaufnahmesatz) in dieser erzeugten Kennzeichens beinhaltet, welcherDiskriminator die Erzeugung eines Alarmsignals veranlaßt, falls innerhalb der genannten Bewertungszeit ein Meldesignal nicht ermittelbar ist - unddaß eine durch die Alarmsignale fortschaltbare Zählvorrichtung vorgesehen ist, die nach Abzählung einer vorbestimmten Anzahl von Alarmsignalen die genannten Anzeigemittel aktiviert.Based on a circuit arrangement of the type mentioned at the beginning with decentralized test equipment connected to the switching matrix parts for simulation of occupancy incentives (e.g. by simulating a low-resistance loop closure) as well as with display means for signaling faults in the event of malfunctions within the switching matrix parts to be monitored and / or their peripheral controls the object underlying the invention achieved in that - that at least a copy of the access points of a switching matrix part assigned to a peripheral control one of the named test facilities is connected, - that this test facility at predefinable periodic time intervals with a predefinable evaluation duration in each case includes actuatable connecting means, by means of which one of the mentioned occupancy incentives causing switching element and a detector circuit periodically to the relevant Switch on access to the switching matrix are bar, - that the detector circuit a discriminator for monitoring the arrival of a signal that can be evaluated as a message signal with proper coupling to one that can be reached via the switching matrix part downstream facility (e.g. an election record) in this generated identifier includes which discriminator causes the generation of an alarm signal, if a report signal cannot be determined within the stated evaluation time - and that a counting device which can be incremented by the alarm signals is provided, which after Counting a predetermined number of alarm signals said display means activated.

Die Schaltungsanordnung gemäß der Erfindung stellt eine von der Programmierung der zentralen Steuerung unabhängige Einrichtung dar, die fortlaufend Belegungsanreize erzeugt und sich vom Erfolg dieser Belegungsanreize überzeugt. Ein besonderer Vorteil der Schaltungsanordnung gemäß der Erfindung besteht darin, daß Fehlerarten, die von den üblichen Uberwachungseinrichtungen nicht erkannt und signalisiert werden, mit vergleichsweise einfachen Mitteln feststellbar sind.The circuit arrangement according to the invention represents one of the programming a facility independent of the central control system that provides ongoing occupancy incentives generated and convinced of the success of these occupancy incentives. A particular advantage the circuit arrangement according to the invention is that types of errors that are not recognized and signaled by the usual monitoring devices, can be determined with comparatively simple means.

Eine Weiterbildung der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß der Ausgang der Detektorschaltung und ein die Bewertungsdauer bestimmendes Zeitgebersignal über Verknüpfungsglieder mit dem Zähleingang und dem RUcksetzeingang der Zählvorrichtung derart verbunden sind, daß letztere durch die die Beendigung der Bewertungsdauer begleitende Pegeländerung des Zeitgebersignals in Abhängigkeit davon, ob während der Bewertungsdauer das Kennzeichen der nachgeordneten Einrichtung in der Detektorschaltung empfangen wird oder nicht, zurUckgesetzt bzw. fortgeschaltet wird. Die Tatsache, daß die Alarmsignale zunächst in einer Zählvorrichtung gespeichert werden und eine Fehlersignalisierung erst dann erzeugt wird, wenn aufeinanderfolgend eine vorgegebene Anzahl von Alarmsignalen entstanden ist, stellt sicher, daß zufällige Fehlfunktionen, die bei der Routineprüfung nur einmal oder nur wenige Male auftreten, keinen Alarm auslösen. Sobald sich im weiteren Verlauf der Prüfung eine ordnungsgemäße Funktion der zu überwachenden Anlagenteile ergibt, wird der vorbereitend gesetzte Alarm durch Rückstellung der Zählvorrichtung wieder gelöscht.A development of the invention is characterized in that the Output of the detector circuit and a timer signal which determines the evaluation period Via logic elements with the counting input and the reset input of the counting device are connected in such a way that the latter is due to the termination of the evaluation period accompanying change in level of the timer signal depending on whether during the evaluation period the identifier of the downstream device in the detector circuit is received or not, is reset or advanced. The fact, that the Alarm signals are initially stored in a counting device and error signaling is only generated if consecutive a predetermined number of alarm signals has arisen ensures that random Malfunctions that occur only once or only a few times during routine testing, do not trigger an alarm. As soon as a proper Function of the system parts to be monitored results, the preparatory one is set The alarm is cleared by resetting the counting device.

Eine andere Weiterbildung der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß die Anschaltemittel durch die den Beginn der Bewertungsdauer begleitende Pegeländerung des Zeitgebersignals aktivierbar und unabhängig von der tatsächlichen Beendigung der Bewertungsdauer durch das von dem Diskriminator ermittelte Meldesignal ausschaltbar ist. Dadurch ist gewährleistet, daß die Belegung der nachgeordneten Einrichtung bei fehlerfreier Funktion der betreffenden Anlagenteile sofrt wieder aufgehoben wird, diese Einrichtungen also durch die Routineprüfung nur sehr kurz belegt sind. Der Schaltzyklus ist bei ordnungsgemäßer Funktion der Anlagenteile vorzugsweise so kurz, daß der Belegungsanreiz bereits wieder verschwunden ist, wenn in der nachgeordneten Einrichtung weitere Schaltvorgänge, beispielsweise die Anschaltung einer Speisespannung, erfolgt, so daß die betreffenden Anschaltekontakte stromlos schalten.Another development of the invention is characterized in that that the switch-on means by the level change accompanying the beginning of the evaluation period of the timer signal can be activated and independent of the actual termination the evaluation period can be switched off by the message signal determined by the discriminator is. This ensures that the occupancy of the downstream facility immediately canceled if the relevant system parts are functioning correctly , these facilities are only very briefly occupied by the routine test. The switching cycle is preferred if the system components are functioning properly so briefly that the occupancy incentive has already disappeared again when in the subordinate Setting up further switching processes, for example the connection of a supply voltage, takes place so that the relevant connection contacts de-energize.

Die an Zugänge der Koppelfeldteile angeschlossenen dezentralen Prüfeinrichtungen sind vorzugsweise in solcher Vielzahl vorgesehen, daß alle peripheren Steuerungen, (die jeweils nur für begrenzte Gruppen von Koppelfeldzugängen zuständig sind), periodisch von der Funktionsüberwachung erfaßt werden. Gemäß einer anderen Weiterbildung der Erfindung sind die Zeitgeberschaltungen zur Bemessung der Bewertungszeiten und der zwischen ihnen liegenden Pausenzeiten in einer Mehrzahl von dezentralen Prüfeinrichtungen gemeinsam zugeordnet, so daß sich der Aufwand für letztere weiter verringert.The decentralized test equipment connected to the access points of the switching matrix parts are preferably provided in such a large number that all peripheral controls, (which are only responsible for limited groups of switching network accesses), periodically are recorded by the function monitoring. According to another further education of the invention are the timer circuits for dimensioning the evaluation times and the break times between them in a number of decentralized test facilities assigned together, so that the effort for the latter is further reduced.

Gemäß einer anderen Weiterbildung der Erfindung ist an wenigstens einen der einer peripheren Steuerung zugeordneten Zugänge eines Koppelfeldteiles eine als Nachbildung einer gerufenen Teilnehmerstelle ausgebildete Prüfeinrichtung zweiter Art angeschlossen, in welcher Mittel zur Bewertung ankommender Rufsignale, zur Dämpfungsmessung und/oder zur Geräuschmessung vorgesehen sind. Damit ist es möglich, routinemäßig die Ubertragungseigenschaften eines Sprechweges über die Koppelanordnung zu überprüfen, ohne daß hierfUr die zentrale Steuerung in Anspruch genommen werden muß. Vorteilhafterweise erfolgt der Verbindungsaufbau zwischen einer der erstgenannten Prüfeinrichtungen und einer der Prüfeinrichtungen zweiter Art teil- oder vollselbsttätig mittels einer in der Vermittlungsstelle vorgesehenen Einrichtung zur Wahl durch Kurzwahlrufnummern oder zur automatischen Verbindungsherstellung (hot-line-service).According to another development of the invention, at least one of the access points of a switching matrix part assigned to a peripheral control a test device designed as a replica of a called subscriber station second type connected, in which means for evaluating incoming call signals, are provided for attenuation measurement and / or for noise measurement. So that's it possible, routinely the transmission properties of a speech path via the switching network to be checked without the central control being used for this got to. The connection is advantageously established between one of the former Test facilities and one of the test facilities of the second type partially or fully automatic by means of a facility provided in the exchange Speed dial numbers or for automatic connection establishment (hot-line service).

Die letztgenannten Einrichtungen zur Wahl durch Kurzwahlrufnummern oder zur automatischen Verbindungsherstellung sind inmoden programmgesteuerten Vermittlungsanlagen ohnehin vorhanden, so daß sie keinen zusätzlichen Aufwand erfordern.The latter facilities to be dialed by speed dial numbers or program-controlled switching systems are used for automatic connection establishment already present, so that they do not require any additional effort.

Eine der erstgenannten Prüfeinrichtungen und die von ihr vorzugsweise durch vollautomatische Verbindungsherstellung ansteuerbare Prüfeinrichtung zweiter Art sind vorzugsweise an von unterschiedlichen peripheren Steuerungen bediente Koppelfeldteile angeschlossen, so daß zur Verbindungsherstellung zwischen den beiden PrüSeinrichtungen eine Mehrzahl von Koppelstufen durchlaufen werden muß, so daß letztere in die Prüfung mit einbezogen sind.One of the first-mentioned test facilities and that of theirs preferably second test device controllable through fully automatic connection establishment Art are preferably on switching matrix parts served by different peripheral controls connected so that to establish a connection between the two test equipment go through a plurality of coupling stages must be so that the latter are included in the examination.

Im folgenden sei die Erfindung anhand des in den Zeichnungen dargestellten Ausfüurungsbeispiels näher erläutert: Fig. 1 zeigt eine stark vereinfachte Übersicht einer programmgesteuerten Fernsprechwählanlage mit einer Schaltungsanordnung zur Funktionsüberwachung gemäß der Erfindung, Fig. 2 zeigt ein Blockschaltbild einer der Prüfeinrichtungen erster Art.In the following the invention is illustrated with reference to the drawings Exemplary embodiment explained in more detail: Fig. 1 shows a greatly simplified overview a program-controlled telephone system with a circuit arrangement for Function monitoring according to the invention, FIG. 2 shows a block diagram of a of the test facilities of the first kind.

Die in Fig. 1 schematisch dargestellte Vermittlungsanlage umfaßt ein dreistufiges Koppelfeld KF, das aus drei Koppelstufen A, B und C aufgebaut ist. Die Koppelstufen A und B sind zu Koppelgruppen zusammengefaßt, denen Jeweils eine periphere Steuerung PS zugeordnet ist.The switching system shown schematically in Fig. 1 comprises a three-stage switching network KF, which is made up of three switching stages A, B and C. The coupling stages A and B are combined into coupling groups, each of which has one peripheral control PS is assigned.

In entsprechender Weise stehen die Koppelvielfache der Koppelstufe C unter dem Steuereinfluß einer (nicht dargestellten) peripheren Steuerung. Das dargestellte Koppelfeld KF ist Bestandteil eines eine Mehrzahl derartiger Koppelfelder umfassenden Koppelnetzes. Ein oder mehrere Koppelfelder KF bilden zusammen mit den zugehörigen Sätzen und peripheren Steuerungen PS ein sogenanntes Arbeitsfeld, das unter dem Steuereinfluß eines teilzentralen Arbeitsfeldsteuerwerkes AST steht. Die gesamte Vermittlungsanlage wird von einem Zentral steuerwerk ZST gesteuert.The switching multiples of the switching stage are in a corresponding manner C under the control of a peripheral controller (not shown). That Switching matrix KF shown is part of a plurality of such switching matrices comprehensive coupling network. One or more switching matrices KF form together with the associated sets and peripheral controls PS a so-called field of work, the is under the control of a partially central work field control unit AST. the The entire switching system is controlled by a central control unit ZST.

An das Koppelfeld KF sind unter anderem Teilnehmersätze TS angeschlossen, die ihrerseits über (nicht dargestellte) Verteilereinrichtungen mit Teilnehmerstationen TN verbunden sind. Weiter sind an das Koppelfeld KF Wahlaufnahmesätze WAS angeschlossen, die beim Beginn eines Verbindungsaufbaues über das Koppelfeld KF mit einer einen Belegungswunsch aus sendenden Teilnehmerstation TN verbunden werden. Die Vermittlungsanlage besitzt eine Vielzahl nicht dargestellter Prüfeinrichtungen, die im Störungsfall entsprechende Informationen an das Zentralsteuerwerk ZST weitergeben, das daraufhin beispielsweise entsprechende Ersatzschalteeinrichtungen aktiviert.Among other things, subscriber sets TS are connected to the switching network KF, which in turn via distribution facilities (not shown) with subscriber stations TN are connected. Furthermore, dialing records WAS are connected to the switching field KF, the one at the beginning of a Connection establishment via the switching network KF be connected to a subscriber station TN sending an occupancy request. The switching system has a large number of test devices, not shown, pass on the relevant information to the central control unit ZST in the event of a malfunction, which then activates, for example, corresponding replacement switching devices.

Erfindungsgemäß sind weitere Prüfeinrichtungen PEI und PE2 unmittelbar an Zugänge des Koppelfeldes angeschlossen, die zur Ermittlung solcher Funktionsstörungen dienen, welche von den unter dem Einfluß des Zentralsteuererkes ZST stehenden Prüfeinrichtungen nicht oder nur unter vergleichsweise großem Programm- und Schaltungsaufwand ermittelbar sind. Die Prüfeinrichtungen PE7 stellen Nachbildungen von Teilnehmersätzen und Teilnehmerstationen dar und dienen zur Simulation abgehender Rufe. Die Prüfeinrichtungen PE2 dienen zur Simulation gerufener Teilnehmerstellen. Der Verbindungsaufbau zwischen einer Prüfeinrichtung PEI und einer Prüfeinrichtung PE2 erfolgt vorzugsweise durch eine in dem Vermittlungssystem vorgesehene sogenannte automatische Wahl. Gewisse Steuerteile, zu denen insbesondere Zeitgeberschaltungen gehören, sind einerMehrzahl von Prüfeinrichtungen PEI gemeinsam zugeordnet und in einer Steuerung ST zusammengefaßt.According to the invention, further test devices PEI and PE2 are direct connected to entrances to the switching matrix, which are used to determine such malfunctions which are used by the test devices under the influence of the central control unit ZST cannot be determined or can only be determined with a comparatively large amount of programming and circuitry are. The test facilities PE7 provide replicas of subscriber sets and subscriber stations and are used to simulate outgoing calls. The test facilities PE2 are used to simulate called subscriber stations. Establishing a connection between a Testing device PEI and a testing device PE2 is preferably carried out by a so-called automatic dialing provided in the switching system. Certain control parts, particularly including timing circuits are a plurality of testers PEI assigned jointly and combined in a controller ST.

In Fig. 2 ist eine Prüfeinrichtung PE1 und die zugeordnete Steuerung ST in näheren Einzelheiten dargestellt.In Fig. 2 is a test device PE1 and the associated control ST shown in more detail.

Die dargestellte Prüfeinrichtung PEI dient zur periodischen Belegung von Wahlaufnahmesätzen WAS und zur Prüfung der ordnungsgemäßen Anschaltung. Durch die periodische Ansteuerung eines Wahlaufnahmesatzes wird nicht nur dessen ordnungsgemäße Funktion geprüft sondern auch diejenige der betreffenden Koppelgruppe AB und der zugeordneten peripheren Steuerung PS.The PEI test facility shown is used for periodic occupancy of elective acceptance records WAS and to check the correct connection. By the periodic activation of an electoral acceptance sentence is not only its proper one Function checked but also that of the relevant coupling group AB and the associated peripheral control PS.

Die Prüfeinrichtung PEI ist in gleicher Weise wie ein Teilnehmersatz TS zweiadrig an einen Zugang einer Koppelgruppe AB angeschlossen. Zur Anschaltung dient ein Anschalterelais A, dessen Kontakte al und a2 in die zu dem Koppelfeldanschluß führenden Adern eingefügt sind.The PEI test facility is the same as a subscriber set TS two-wire connected to an access point of a coupling group AB. For connection A connection relay A is used, whose contacts a1 and a2 are connected to the coupling network connection leading wires are inserted.

Die Anschaltekontakte al und a2 schalten einerseits einen ohmschen Widerstand RT an das Koppelfeld, der einen niederohmigen Schleifenschluß an einer Teilnehmerstation TN simuliert. Außerdem schalten die Kontakte al und a2 einen Diskriminator D an die beiden Adern, mittels dessen ein nach erfolgter Durchkopplung von dem Wahlaufnahmesatz WAS an die Adern angelegtes Meldezeichen in Form einer Potentialanschaltung erkennbar ist.The connection contacts a1 and a2 switch an ohmic one on the one hand Resistance RT to the switching network, which has a low-resistance loop on a Participant station TN simulated. In addition, the contacts a1 and a2 switch a discriminator D to the two wires, by means of which one after coupling through from the elective record WHAT signal sign attached to the wires recognizable in the form of a potential connection is.

Der Ausgang des Diskriminators D steht mit einer ersten bistabilen Kippstufe K1 in Verbindung, deren Ausgänge mit Eingängen von UND-Gliedern Ul, U2 bzw. U3 in Verbindung stehen. Ein weiterer Eingang der UND-Glieder U2 und U3 steht mit dem Ausgang eines als Zähler ausgebildeten Zeitgebers ZG1 in Verbindung. Die Ausgänge der UND-Glieder U2 und U3 führen zu dem Rücksetzeingang R bzw. der Zähleingang S einer Zählvorrichtung Z. Deren Ausgang steht über ein UND-Glied U4 mit einer als Leuchtdiode LD ausgebildeten Anzeigevorrichtung zur Störungssignalisierung in Verbindung.The output of the discriminator D is connected to a first bistable Flip-flop K1 in connection, the outputs of which with inputs of AND gates Ul, U2 or U3 are connected. Another input of the AND gates U2 and U3 is available connected to the output of a timer ZG1 designed as a counter. the The outputs of the AND gates U2 and U3 lead to the reset input R or the counter input S a counting device Z. Its output is via an AND gate U4 with an as Light-emitting diode LD formed display device for fault signaling in connection.

Neben dem erwähnten Zeitgeber ZG1 zur Bemessung der Bewertungszeit ist ein weiterer Zeitgeber ZG2 zur Bemessung der Pausenzeit vorgesehen. Die beiden Zeitgeber ZG1 und ZG2 beeinflussen einander derart, daß sie in wechselnder Folge wirksam werden. Zur Ansteuerung ihrer Zähleingänge dienen bistabile Kippstufen K2 bzw. K3, während ihre Rücksetzeingänge über Zeitverzögerungsglieder D7 bzw. D2 jeweils von den eigenen Ausgangssignalen angesteuert werden.In addition to the mentioned timer ZG1 for measuring the evaluation time a further timer ZG2 is provided for measuring the pause time. The two Timers ZG1 and ZG2 influence each other in such a way that they are in alternating order be effective. To control their counting inputs, bistable multivibrators K2 are used and K3, while their reset inputs via time delay elements D7 and D2, respectively can be controlled by their own output signals.

Ein Relais B, dessen Erregerstromkreis über Strom- schleifen verläuft, die von den Steckverbindern der die Einrichtungen PEI und ST umfassenden Baugruppen vervollständigt werden, dient zur sogenannten Plattenvollständigkeitsprüfung. Sein Kontakt b stellt über den ebenfalls mit b bezeichneten Schaltungspunkt einen definieF ten Ausgangszustand der bistabilen Kippstufen K2 und K3 und der Zeitgeber ZG1 und ZG2 her.A relay B, the excitation circuit of which is ribbons runs from the connectors of the PEI and ST comprehensive Assemblies are completed, is used for the so-called plate completeness check. Its contact b represents a circuit point which is also designated by b defined initial state of the bistable flip-flops K2 and K3 and the timer ZG1 and ZG2.

Im folgenden sei die Wirkungsweise der dargestellten Schaltung kurz erläutert: Wenn alle zu der Anordnung gehörenden Baugruppen an ihren zugeordneten Plätzen in einem Baugruppenrahmen eingesteckt sind, wird das die Plattenvollständigkeit kennzeichnende Relais B erregt. Sein Kontakt b legt Potential an die ebenfalls mit b bezeichneten Schaltungspunkte, so daß die als Zähler ausgebildeten Zeitgeber ZG1 und ZG2 über ODER-Glieder OD1 bzw. OD2 in ihre Nullstellung gesetzt werden. Außerdem werden die bistabilen Kippstufen K2 und K3 in definierte Schaltstellungen gesetzt. Diese Ruhestellung der bistabilen Kippstufe K3 ist derart, daß an dem Zähleingang Z des Zeitgebers ZG2 ein einer logischen "1" entsprechendes Signal ansteht, während an dem Zähleingang Z des Zeitgebers ZGI eine logische ttOtt ansteht. Der Zeitgeber ZG2 wird daraufhin schrittweise fortgeschaltet, bis an dem durch einen Wahlschalter S2 wählbaren Ausgang eine logische "1 n erscheint. Durch dieses Ausgangssignal wird die bistabile Kippstufe K2 gekippt, so daß der Zeitgeber ZG1 einen Zählzyklus beginnt. Außerdem setzt das Ausgangssignal am Wahlschalter S2 den Zeitgeber ZG2 selbst über das Verzögerungsglied D2 und das ODER-Glied OD2 zurück. Das Ausgangssignal der bistabilen Kippstufe K2, das den Zähleingang Z des Zeitgebers ZG1 aktiviert, gelangt außerdem zu einem Eingang des UND-Gliedes Ul. Die anderen Eingänge dieses UND-Glie- des U1 sind durch das Ausgangssignal der bistabilen Kippstufe K1 bz>. durch einen mit nEIN" bezeichneten Schalter aktiviert. Damit führen alle Eingänge des UND-Gliedes Ul eine logische n?", so daß das über einen nicht näher bezeichneten Verstärker seinen Ausgang angeschlossene Anschalterelais A mit Beginn des Zählzyklus des Zeitgebers ZGI erregt wird und anspricht. Das Anschalterelais A schließt seine Kontakte al und a2, über die sowohl der einen Belegungsanreiz verursachendes Widerstand RT als auch die Diskriminatorschaltung D an einen Zugang des zu überwachenden Koppelfeldteiles angeschaltet werden. Bei ordnungsgemäßer Funktion des Koppelfeldes und seiner Steuerung führt dieser Belegungsanreiz dazu, daß die dargestellten Adern al und a2 über das Koppelfeld KF zunächst mit einem der an das Koppelfeld KF angeschalteten Wahlaufnahmesätze WAS Fig. 1 angeschaltet werden. Es sei zunächst angenommen, daß eine solche Anschaltung während der durch die Ablaufzeit des Zeitgebers ZG1 gegebenen Zeitspanne erfolgt. Der Diskriminator D erkennt die mit der Belegung des Wahlaufnahmesatzes WAS verbundene Potentialänderung an den Adern al und a2 und gibt ein entsprechendes Ausgangssignal an die bistabile Kippstufe K1, welches diese in ihren anderen stabilen Zustand steuert. Damit erscheint an dem mit dem UND-Glied U1 verbundenen Ausgang eine logische os, während an dem rechts daneben bezeichneten Ausgang eine logische "1" n erscheint. Das erstgenannte Ausgangssignal sperrt das UND-Glied Ul, so daß das Anschalterelais A stromlos wird und seine Kontakte al und a2 öffnet. Damit verschwindet der Belegungsanreiz für die nachgeordnete Einrichtung WAS, so daß diese wieder freigegeben wird. Es ist zu erwähnen, daß diese Freigabe bei positivem Prüfungsergebnis erfolgt, bevor in der nachgeordneten Einrichtung irgendwelche Schaltvorgänge, beispielsweise eine Speiseanschaltung, wirksam werden.In the following, the mode of operation of the circuit shown is brief explained: If all assemblies belonging to the arrangement are attached to their assigned Places in a module frame are inserted, this becomes the plate completeness characteristic relay B energized. His contact b puts potential on them as well b designated circuit points, so that the timer designed as a counter ZG1 and ZG2 are set to their zero position via OR gates OD1 or OD2. aside from that the bistable toggle stages K2 and K3 are set to defined switching positions. This rest position of the bistable multivibrator K3 is such that at the counting input Z of the timer ZG2 a signal corresponding to a logic "1" is present while a logical ttOtt is pending at the counter input Z of the timer ZGI. The timer ZG2 is then incremented up to that by a selector switch S2 selectable output a logical "1 n appears. This output signal is the bistable multivibrator K2 is tilted so that the timer ZG1 begins a counting cycle. In addition, the output signal at the selector switch S2 sets the timer ZG2 itself the delay element D2 and the OR element OD2 back. The output of the bistable Trigger stage K2, which activates the counting input Z of the timer ZG1, also arrives to an input of the AND gate Ul. The other inputs of this AND gate of U1 are by the output signal of the bistable multivibrator K1 bz>. through a Switch marked with nEIN "is activated. This means that all inputs of the AND element lead Ul a logical n? ", So that that via an unspecified amplifier connected to its output at the start of the timer counting cycle ZGI is excited and responds. The connection relay A closes its contacts al and a2, via which both the resistance RT which causes an occupancy incentive and also the discriminator circuit D to an access of the switching matrix part to be monitored be switched on. With proper functioning of the switching matrix and its control This occupancy incentive leads to the fact that the wires shown a1 and a2 via the Switching matrix KF initially with one of the dialing records connected to the switching matrix KF WHAT Fig. 1 are turned on. It is initially assumed that such a connection takes place during the period of time given by the expiry time of the timer ZG1. The discriminator D recognizes the WAS associated with the occupancy of the election record Change in potential at wires a1 and a2 and gives a corresponding output signal to the bistable multivibrator K1, which controls it into its other stable state. This means that a logical os appears at the output connected to the AND element U1, while a logical "1" n appears at the output marked on the right. The first-mentioned output signal blocks the AND gate Ul, so that the switch relay A is de-energized and its contacts a1 and a2 open. This means that the incentive for occupancy disappears for the downstream device WAS, so that it is released again. It It should be mentioned that this release takes place before the test result is positive Any switching operations in the downstream device, for example one Supply connection, become effective.

Das am rechts unten gezeichneten Ausgang der bistabilen Kippstufe KI erscheinende Signal, das einer logischen 1 n entspricht, wird dem negierenden Eingang des UND-Gliedes U3 und einem Eingang des UND-Gliedes U2 zugeführt. Sobald die durch den Zeitgeber ZG1 gegebene Bewertungszeit verstrichen ist, erscheint an dem durch den Wahlschalter S1 wählbaren Ausgang ein Signal, das einer logischen "1 n entspricht. Dieses Signal hat im einzelnen folgende Wirkungen: Am Ausgang des UND-Gliedes U2 erscheint ein Signal, das den Rücksetzeingang des Zählers Z aktiviert, der Zeitgeber ZG1 wird über das Verzögerungsglied D7 und das ODER-Glied ODI zurückgesetzt, die bistabile Kippstufe K3 wird umgesteuert, so daß der Zeitgeber ZG2 für die Bemessung der Pausenzeit von neuem anläuft, die bistabile Kippstufe K1 wird in ihren Ruhezustand zurückgestellt.The output of the bistable multivibrator shown at the bottom right KI appearing signal, which corresponds to a logical 1 n, becomes the negating The input of the AND gate U3 and one input of the AND gate U2 are supplied. As soon the evaluation time given by the timer ZG1 has elapsed appears on the output selectable by the selector switch S1 a signal that is a logical "1 corresponds to n. This signal has the following effects in detail: At the output of the AND gate U2, a signal appears that activates the reset input of counter Z, the timer ZG1 is reset via the delay element D7 and the OR element ODI, the bistable multivibrator K3 is reversed, so that the timer ZG2 for the measurement the pause time starts again, the bistable flip-flop K1 is in its idle state deferred.

Falls während der durch den Zeitgeber ZG1 gegebenen Bewertungszeit kein Melde signal über die Adern al und a2 eintrifft, liefert der Diskriminator D während dieser Zeit kein Ausgangssignal, so daß die bistabile Kippstufe K1 in ihrem Ruhezustand verbleibt. Damit steht am Ende der Bewertungszeit an dem rechts unten gezeichneten Ausgang der bistabilen Kippstufe Kl eine logische "O" an, so daß mit der mit dem Ende der Bewertungszeit verbundenen Pegeländerung am Ausgang des Schalters SI das UND-Glied U3 aktiviert wird und einen Alarmimpuls an den Zähleingang des Zählers Z liefert. Das Ausgangssignal des Zeitgebers ZG1 bewirkt außerdem ein Kippen der bistabilen Kippstufe K2, so daß am unteren Eingang des UND-Gliedes U1 eine logische 0" erscheint, die das Anschalterelais A abfallenläßt. Der Rücksetzeingang R des Zählers Z wird nicht aktiviert, da am linken Eingang des UND-Gliedes U2 eine logische "O" anliegt.If during the evaluation time given by the timer ZG1 the discriminator delivers no signal via the wires a1 and a2 D no output signal during this time, so that the bistable multivibrator K1 in remains in its idle state. This means that at the end of the evaluation period, the one on the right is displayed output of the bistable flip-flop Kl shown below a logic "O", so that with the level change at the output associated with the end of the evaluation time of the switch SI the AND element U3 is activated and an alarm pulse is sent to the counter input of the counter Z delivers. The output signal of the timer ZG1 also causes a Tilting the bistable flip-flop K2, so that at the lower input of the AND element U1 a logical 0 "appears, which releases the connection relay A. The reset input R of the counter Z is not activated because there is a logical "O" is present.

Der Zeitgeber ZG2 fUr die Bemessung der Pausenzeit wird wie im vorangehend beschriebenen Fall eingeschaltet, so daß nach Ablauf der Pausenzeit ein neuer Belegungsanreiz erzeugt wird. Wenn auch dieser Belegungsanreiz ohne Erfolg bleibt, wird der Zähler Z um einen weiteren Schritt fortgeschaltet. Wenn der Zähler Z die durch einen Wahlschalter F3 vorwählbare Zählstellung erreicht, erscheint an dessen Ausgang eine logische "In, die zu dem Ausgang des UND-Gliedes U4 durchgreift, da dessen anderer Eingang durch den Schalter EIN" bereits vorbereitend gesetzt war. Das Ausgangssignal des UND-Gliedes U4 steuert die als Leuchtdiode ausgebildete Anzeigevorrichtung LD an, die den Alarmfall signalisiert. Über ein ODER-Glied OD3 werden außerdem die Ausgänge der UND-Glieder aller unter dem Einfluß der Steuerung ST stehenden Prüfeinrichtungen PEI zusammengefaßt. Der Ausgang des ODER-Gliedes OD3 führt zu einer Leuchtdiode LDS zur Kennzeichnung eines sogenannten Sammelalarms.The timer ZG2 for the measurement of the pause time is as in the preceding described case switched on, so that after the pause time a new occupancy incentive is produced. If this occupancy incentive is unsuccessful, the counter will Z advanced by one more step. When the counter Z is controlled by a selector switch F3 reaches the preselectable counting position, a logical one appears at its output "In, which reaches through to the output of the AND element U4, as its other input was already set in preparation with the ON "switch. The output signal of the AND element U4 controls the display device LD, which is designed as a light-emitting diode, which signals the alarm. The outputs are also via an OR element OD3 the AND gates of all test devices under the influence of the control ST PEI summarized. The output of the OR gate OD3 leads to a light emitting diode LDS to identify what is known as a collective alarm.

Schließlich steuert der Ausgang des ODER-Gliedes 0D3 über einen nicht näher bezeichneten Verstärker außerdem ein Relais AL an, das über einen (nicht dargestellten) Kontakt eine Alarmsignalgabe bewirkt.Finally, the output of the OR gate 0D3 does not control one more detailed amplifier also a relay AL, which via a (not shown) Contact causes an alarm signal.

Falls nach einem oder mehreren vergeblichen Belegungsversuchen ein erfolgreicher Belegungsversuch stattfindet, bevor der Zähler Z die durch den Wahlschalter S3 vorgewählte Zählstellung erreicht hat, wird er durch diesen erfolgreichen Belegungsversuch über das UND-Glied U2-wieder zurückgestellt. Erfolgreiche Belegungsversuche führen also zur Löschung der vorbereiteten Alarmgabe.If after one or more unsuccessful attempts to occupy a Successful occupancy attempt takes place before the counter Z that through the selector switch S3 has reached the preselected counting position, it is confirmed by this successful attempt to occupy it reset via the AND gate U2. Make successful attempts at occupancy thus to delete the prepared alarm.

Die Prüfeinrichtung PE1 kann weitere Ausstattungsmerkmale besitzen, die beispielsweise eine automatische Wahl verursachen, die eine Durchschaltung zu einer der in Fig. 1 eingezeichneten Prüfeinrichtungen PE2 zur Folge hat. Die Prüfeinrichtungen PE1 und PE2 können außerdem mit Einrichtungen zum Senden und/oder zum Empfang der üblichen Belegungs- und/oder Meldesignale ausgestattet sein sowie mit Vorrichtungen zur Aussendung von bewertbaren Signalen, denen in der jeweils anderen Prüfeinrichtung Vorrichtungen zur Prüfung der Ubertragungsqualität entsprechen.The test facility PE1 can have further equipment features, which, for example, cause an automatic dialing that leads to a through-connection one of the test devices PE2 shown in FIG. 1 for episode Has. The test devices PE1 and PE2 can also be equipped with devices for transmitting and / or equipped to receive the usual occupancy and / or message signals be as well as with devices for the transmission of assessable signals, which in the each other testing device devices for testing the transmission quality correspond.

7 Patentansprüche 2 Figuren Leerseite7 claims 2 figures Blank page

Claims

Claims / 1 circuit arrangement for monitoring the function of Switching matrix parts and their associated peripheral controls in centrally controlled Message switching systems, especially in program-controlled telephone switching systems, - with decentralized test devices connected to the switching matrix parts Simulation of occupancy incentives (e.g. by simulating a low-resistance loop closure), - as well as display means for signaling faults in the event of malfunctions within the switching network parts to be monitored and / or their peripheral controls, d a d u r c h characterized - that at least one copy of the one peripheral Control section (PS) assigned accesses of a switching matrix part (e.g. AB switching group) one of the named test devices (PE1) is connected, - that this test device (PE1) in (by ZG2) specifiable periodic time intervals with each (by ZG1) specifiable evaluation duration comprises actuatable connecting means (A), by means of which a switching element (RT) causing the mentioned occupancy incentives and a Detector circuit (D) periodically to the relevant access of the switching matrix part can be switched on - that the detector circuit has a discriminator (D) for monitoring the arrival of a signal that can be evaluated as a message signal with proper coupling to a downstream device (WAS) in this generated identifier contains which discriminator (D) is generating of an alarm signal if a message signal is received within the stated evaluation time cannot be determined - and that one that can be advanced by the alarm signals Counting device (Z) is provided, after counting a predetermined number the indicated display means (LD, LDS) are activated by alarm signals.

2. Circuit arrangement according to claim 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that the output of the detector circuit (D) and a the evaluation period determining timer signal via logic elements (U2, U3) with the counter input (S) and the reset input (R) of the payment device (Z) are connected in such a way that the latter (Z) due to the level change accompanying the termination of the evaluation period (at S1) of the timer signal depending on whether during the evaluation period receive the switching identifier of the downstream device in the discriminator will or will not be reset or advanced.

3. Circuit arrangement according to claim 1 or 2, d a -d u r c h g e it is not indicated that the connection means (A) by the beginning of the evaluation period accompanying change in level of the timer signal can be activated and independent of the actual termination of the evaluation period by the discriminator (D) detected signal signals can be switched off.

4. Circuit arrangement according to one of the preceding claims, d a d u r c h g e k e n n n z e i c h n e t that timer circuits (ZG1 and ZG2) for Measurement of the evaluation times and the break times between them A plurality of decentralized test facilities (PE1) are assigned jointly.

See circuit arrangement according to one of the preceding claims, d a d u r c h g e k e n n n z e i c h n e t that at least one of the peripheral steering (PS) assigned accesses of a switching matrix part (e.g.

AB coupling group) as a replica of a called subscriber station trained test device of the second type (po2) is connected, in which means for evaluating incoming call signals, for measuring attenuation and / or for measuring noise are provided.

6. Circuit arrangement according to claim 5, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that the connection is established between one of the first-mentioned test devices (PE1) and one of the test devices of the second type (PE2) partially or fully automatically by means of a facility provided in the exchange Speed dial numbers or for automatic connection establishment (hot-line service) he follows.

i. Circuit arrangement according to Claim 5 or 6, d a -d u r c h g e no indication that one of the first-mentioned test facilities (PEI) and the test device of the second type that can be controlled partially or fully automatically (PE2) on different peripheral controls (PS) associated switching matrix parts are connected.