DE2524331C3 - Circuit arrangement for setting the input of a connected logic module - Google Patents
Circuit arrangement for setting the input of a connected logic moduleInfo
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Description
(Olger arbeiten kann, jedoch in der übrigen Zeit nur seine Basis-Emitter-Strecke wirksam ist. Anstatt an die Basis des zweiten Schalttransistors wird die Impulsspannung an den Steuereingangjanschluß gelegt.(Olger can work, but only for the rest of the time its base-emitter path is effective. Instead of going to the base of the second switching transistor, the pulse voltage placed on the control input connection.
Gegenüber der Verwendung einer Kondensatorentladung hat die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung als besondere Vorteile, daß die Wiederholungsfrequenz der Einstellimpulse nur durch die Schaltungsgrenzfrequenz begrenzt ist und die EinsteMimpulse ununterbrochen bei gleicher Periode durchlaufen können. Ferner ermöglicht die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung, den einzustellenden Eingang des angeschlossenen logischen Bausteins auf logischen Null-Wert einfach durch Anschließen zu bringen und in der Zeit, während der die Einstellimpulse erzeugt werden, diesen Eingang auf den logischen Eins-Wert einzustellen. Compared to the use of a capacitor discharge, the circuit arrangement according to the invention has as a special advantage that the repetition frequency of the setting pulses only depends on the switching frequency is limited and the EinsteMimpulse can run through uninterrupted with the same period. Furthermore, the circuit arrangement according to the invention enables the input to be set of the connected logical module to logical zero value simply by connecting and in the Time during which the setting pulses are generated to set this input to the logical one value.
Daher können die beiden logischen Werte, die zum Prüfen des logischen Bausteins nötig sind, ohne eine Einschalttaste eingestellt werden. Auch eine Beschädigung des logischen Bausteins ist ausgeschlossen, bevor sein Eingang auf logischen Null-Wert eingestellt und sein Ausgang an andere logische Glieder angeschlossen ist.Therefore, the two logical values that are necessary to check the logical module can be used without a Power button can be set. Damage to the logic module is also ruled out before its input is set to a logical zero value and its output is connected to other logical elements is.
Da die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung sehr einfach aufgebaut ist, indem sie nur sehr wenige Bauelemente besitzt, kann eine Prüfsonde gebaut werden, die für manuelle Prüfung sehr geeignet ist, ohne daß eine spezielle integrierte Schaltung gemäß Kunden-Spezifikation hergestellt werden müßte.Since the circuit arrangement according to the invention is very simple in that it only contains very few Has components, a test probe can be built, which is very suitable for manual testing, without that a special integrated circuit would have to be manufactured according to customer specifications.
Die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung wird beispielsweise anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigtThe circuit arrangement according to the invention is explained in more detail, for example, with reference to the drawing. It shows
Fig. 1 ein schematisches Schaltbild der Schaltungsanordnung zum Einstellen des Eingangs eines angeschlossenen logischen Bausteins undFig. 1 is a schematic circuit diagram of the circuit arrangement for setting the input of a connected logic module and
Fig. 2 a, b, d -g den Signalverlauf an verschiedenen Punkten der Schaltungsanordnung.Fig. 2 a, b, d -g the signal curve on different Points of the circuit arrangement.
Gemäß Fig. 1 ist ein Steuereingangsanschluß 1 an einem Eingang A 1 eines NAND-Gliedes A angeschlossen,
dessen Ausgang A 3 über einen ersten Widerstand R 1 mit der Basis eines ersten Schalttransistors 7"I in
Form eines PNP-Transistors gekoppelt ist. Der Emitter
des ersten Schalttransistors 7Ί ist an einen ersten Speisespannungsanschluß 2 angeschlossen, während
sein Kollektor mit dem Kollektor eines zweiten Schalttransistors Tl in Form eines NPN-Transistors gekoppelt
ist, dessen Basis einerseits über einen dritten Widerstand R3 und einen zweiten Widerstand Rl, die
miteinander in Reihe geschaltet sind, an einen zweiten Speisespannungsanschluß 3 und andererseits über
einen vierten Widerstand >? 4 an eine Erdklemme 5
der Schaltungsanordnung angeschlossen sind. Der Emitter des zweiten Schalttransistors Tl ist einerseits
über einen fünften Widerstand R 5 an die Erdklemme 5 der Schaltungsanordnung und andererseits an einen
Ausgangsanschluß 4, der seinerseits mit einer Meßspitze //gekoppelt ist, angeschlossen.
Zur Eingangseinstellung des in Fig. 1 dargestelltenAccording to FIG. 1, a control input terminal 1 is connected to an input A 1 of a NAND element A , the output A 3 of which is coupled via a first resistor R 1 to the base of a first switching transistor 7 "I in the form of a PNP transistor. The emitter the first switching transistor 7Ί is connected to a first supply voltage terminal 2, while its collector is coupled to the collector of a second switching transistor Tl in the form of an NPN transistor, the base of which is connected in series via a third resistor R3 and a second resistor Rl are, the circuit arrangement are connected to a second supply voltage terminal 3 and on the other hand via a fourth resistance>? 4 to a ground terminal. 5 the emitter of the second switching transistor Tl is the one hand via a fifth resistor R 5 to the ground terminal 5 of the circuit arrangement and secondly to an output terminal 4, which in turn is coupled to a measuring tip // connected.
For the input setting of the one shown in FIG
ίο Ausluhrungsbeispiels des angeschlossenen logischen Bausteins, der hier ein NAND-Glied LOl ist, das mit weiteren NAND-Gliedern LOl und 103 gekoppelt ist, ist die Meßspitze H mit dem Eingang M des NAND-Gliedes LOl verbunden. Ferner ist eine Erdklemme Z des zum Einstellen bestimmten NAND-Gliedes LO 1 an die Erdklemme 5 der Schaltungsanordnung angeschlossen. ίο Ausluhrungsbeispiels the connected logic module, which is a NAND element LOl here, which is coupled to further NAND elements LOl and 103, the probe tip H is connected to the input M of the NAND element LOl . Furthermore, a ground terminal Z of the NAND element LO 1 intended for setting is connected to the ground terminal 5 of the circuit arrangement.
Die Schaltungsanordnung von Fig. 1 arbeitet folgendermaßen: The circuit arrangement of Fig. 1 operates as follows:
:o Dem Steuereingangsanschluß 1 werden Stromimpulse ο (vgl. Fig. 2a) zugeführt, die im NAND-Glied A geformt und über den ersten Widerstand R 1 der Basis des eisten Schalttransistors 7Ί zugeführt werden. Der Emitter des ersten Schalttransistors 7'1 wird mit einer positiven Spannung von +5 V gegenüber Erde gespeist, und zwar über den ersten Speisespannungsanschluß 2, wobei diese positive Spannung, solange der erste Schalttransistor 7Ί unter der Einwirkung der Impulse a geöffnet ist, auch dem Kollektor des zweiten Schalttransistors Tl zugeführt wird. Die Basis des zweiten Schalttransistors Tl wird von einem Spannungsteiler gespeist, der aus dem zweiten Widerstand Rl, dem dritten Widerstand A3 und dem vierten Widerstand R4 besteht. Dieser Spannungsteiler ist an den zweiten Speisespannungsanschluß 73 angeschlossen, der mit Konstantgleichspannung 6 (vgl. Fig. 2 b) versorgt wird. Die Basis-Emitter-Strecke des zweiten Schalttransistors Tl ist wegen der Konstantgleichspannung b dauernd geöffnet, und solange am Kollektor des zweiten Schalttransistors Tl die positive Spannung vom ersten Speisespannungsanschluß 2 anliegt, erscheint ein Impuls des Pulses (I (vgl. Fig. 2d) am Ausgangsanschluß 4. Ein Puls/(vgl. Fig. 2f) tritt an der Basis des ersten Schalttransistors 7Ί auf, ein Puls g am Kollektor des ersten Schalttransistors T\ und ein Puls c an der Basis des zweiten Schalttransistors 7'2.: o The control input terminal 1 are supplied with current pulses ο (see. Fig. 2a), which are formed in the NAND element A and fed through the first resistor R 1 to the base of the switching transistor 7Ί. The emitter of the first switching transistor 7'1 is fed with a positive voltage of +5 V with respect to ground, via the first supply voltage terminal 2, this positive voltage as long as the first switching transistor 7'1 is open under the action of the pulses a , including the Collector of the second switching transistor Tl is fed. The base of the second switching transistor Tl is fed by a voltage divider, which consists of the second resistor Rl, the third resistor A3 and the fourth resistor R 4. This voltage divider is connected to the second supply voltage connection 73, which is supplied with constant DC voltage 6 (cf. FIG. 2 b). The base-emitter path of the second switching transistor Tl is permanently open because of the constant DC voltage b , and as long as the positive voltage from the first supply voltage terminal 2 is applied to the collector of the second switching transistor Tl , a pulse of the pulse (I (see. Fig. 2d) appears on Output terminal 4. A pulse / (see. Fig. 2f) occurs at the base of the first switching transistor 7Ί, a pulse g at the collector of the first switching transistor T \ and a pulse c at the base of the second switching transistor 7'2.
Die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung kann zum Bau von Ein- oder Mehrspitzcnsonden zum Prüfen logischer Bausteine benutzt werden.The circuit arrangement according to the invention can be used to build single-point or multi-point probes for testing logical building blocks are used.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings
Claims (1)
ist esTo be able to accommodate the tip, it would have to be built as a special integrated circuit,
is it
lungs- bzw. Prüfsignal am Ausgang der Schaltungsanordnung bzw. der Meßspitze hinsichtlich Größe und
Form in gewissen Grenzen unabhängig von der Belastung sein.The invention relates to a circuit arrangement 40 ground terminal of the circuit arrangement lying (five times the preamble of patent claim. Th) resistance per se has long been a known emitter follower (collector circuit) when setting the input of a logic component (see stone on logic one - or zero value result from DT magazine "Funk-Technik", 1970, No. 1, p. 17 and often difficulties, since this input with the output 18), in which the transistor-collector alternating voltage of the same logic module and voltage standard is also input 45 at ground potential and a high transitions of other logical elements, the maximum number-impedance input resistor and a, is such that it is as Impeben connected niederohmidurch the manufacturer of the logical block has vorgege- gen output resistance, so that larger Schwan- dan / converter serves. Because of the low-ohmic deflection of the load at the output of the circuit input resistance, the output signal is also in order, which is expediently largely independent of the connection with a measuring tip 50 that knows its limits. Nevertheless, the setting should
treatment or test signal at the output of the circuit arrangement or the probe in terms of size and
Form to be independent of the load within certain limits.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19752524331 DE2524331C3 (en) | 1975-06-02 | Circuit arrangement for setting the input of a connected logic module |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19752524331 DE2524331C3 (en) | 1975-06-02 | Circuit arrangement for setting the input of a connected logic module |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2524331A1 DE2524331A1 (en) | 1976-12-09 |
DE2524331B2 DE2524331B2 (en) | 1977-03-31 |
DE2524331C3 true DE2524331C3 (en) | 1977-11-17 |
Family
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