DE2458035A1

DE2458035A1 - Measuring device for timepiece quartz oscillater frequency - has probe in electromagnetic field of oscillation circuit

Info

Publication number: DE2458035A1
Application number: DE19742458035
Authority: DE
Inventors: Alfred Barz; Rainer Drenske
Original assignee: Andimess & Co KG GmbH
Current assignee: Andimess & Co KG GmbH
Priority date: 1974-12-07
Filing date: 1974-12-07
Publication date: 1976-06-10

Abstract

The device is used for measuring the oscillation frequency of a quartz oscillator used to drive a timepiece mechanism, e.g. a wrist watch. It employs a probe (4) which is positioned within the inherent electromagnetic field of the oscillation circuit, with the signals from the probe supplied to an evaluating unit, pref. an electronic counter, for providing the duration of one or several periods of the probe signal, or the frequency of the latter. Pref. the probe (4) is attached to the metal watch casing (5) and is sandwiched between two insulating plates (2, 3), the probe (4) being connected via a pre-amplifier (6) to the evaluating unit. The measured value may be supplied to a comparator for comparison with a required value.

Description

Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Quarzfrequenz von quarzgesteuerten Uhren.Method and device for measuring the quartz frequency of quartz-controlled Clocks.

Der rfindung lag die Aufgabe zugrunde , die Schwingfrequenz des Oszillators von quartgesteurten Uhren zu massen und sie gegebenenfalls gleichzeitig an dem üblicherweise in der Uhr vorhandenen Ziehtrimmerkondensator nachzustellen.The object of the invention was to determine the oscillation frequency of the oscillator to measure quartz-controlled clocks and, if necessary, to measure them at the same time as usual to readjust the pull trimmer capacitor present in the clock.

An den Anschlüßen der integrierten Schaltkreise dieser Uhren sind zu diesem Zweck Kontakte vorgesehen, an die man ein geeignetes Meßgerät anklemmen kann. Dieses Anklemmen ist jedoch eine umständliche Prozedur, insbesondere bei Armbanduhren , bei denen die Kontaktteile sehr klein sind. Ungünstig ist ferner hierbei, daß die Uhr für die Messung geöffnet werden auß, was die Gefahr einer Beschädigung der tJ>:r in sch birgt.At the connections of the integrated circuits of these clocks are for this purpose contacts are provided to which a suitable measuring device can be connected can. However, this clamping is a cumbersome procedure, especially with wristwatches where the contact parts are very small. Another disadvantage here is that The watch must be opened for measurement without risk of damage to the tJ>: r in sch harbors.

Die Erfindung geht von der Erkenntnis aus , daß die in den Uhren verwendeten Quarzoszillatoren ein Streufeld haben, das selbst wenn die Uhr ein Metallgehäuse hat, durch das Uhrglas hindurch wirkt. Auch noch in mehr als 5 cm Entfernung von der Uhr ist dieses Streufeld , ei en:-sprechend geringer Bandbreite des für die Messung verwendeten Verstärkers erheblich stärker als das thermische Rauschen und auch starker als iie in normalen Räumen herschende Störstrahlung.The invention is based on the knowledge that the clocks used Quartz oscillators have a stray field, even if the clock has a metal case acts through the watch glass. Even at a distance of more than 5 cm from the clock is this stray field, ei en: - correspondingly low bandwidth for the Measurement used amplifier significantly stronger than the thermal noise and also stronger than the interference radiation that prevails in normal rooms.

Bei der der Erfindung entsprechenden Vorrichtung ist deshalb statt ier Kontaktierungsspitzen eine Sonde vorgesehen, die in das Streufeld hineinragt.In the device corresponding to the invention is therefore instead A probe is provided at the contacting tips, which protrudes into the stray field.

Diese Sonde ist an einen empfindlichen Vorverstärker angeschlossen, der das Signal an die eigentliche Meßvorrichtung weiterleitet. Das voln dem uarzoszillator abgegebene Signal erscheint als eine achselspannung, blicherweise liegen de Frequenzen bei 32768 Hz , 65536 Hz , 1310@ und anderen Potenzen von 2.This probe is connected to a sensitive preamplifier, which forwards the signal to the actual measuring device. The voln the clock oscillator The output signal appears as an armpit tension, usually the frequencies are at 32768 Hz, 65536 Hz, 1310 @ and other powers of 2.

er Vorverstärker muß auf die jeweilige Frequenz abgestimmt sein und eine Bandbreite mu3 gerade so weit sein, daß bei der maximal zu erwartenden Abweichung der Oszillatorfrequenz von der Sollfrequenz noch eine ausreichende Verstärkung gewahrleistet ist. he preamplifier must be tuned to the respective frequency and a bandwidth must be just wide enough for the maximum expected deviation the oscillator frequency still ensures sufficient gain from the setpoint frequency is.

Abb. 1 zeigt eine schematische Abbildung einer praktisch ausgeführten Anordnung , die speziell zur Messung an Armbanduhren aus,:e1egt St.Fig. 1 shows a schematic illustration of a practically executed Arrangement specially designed for measurements on wristwatches: e1egt St.

Tn dem Metallgehäuse 5 ist die Sonde untergebracht. Die Sonde 1 .st durch eine Isolierplatte 2 gegen Kurzschlu geschützt, sie befindet auf einer ebenfalls isolierenden Platte 3. Über ein abges@@@ ist sie mit dem Vorverstärker 6 verbunden, der das verstärkte durch das Kabel 9 in das Meßgerät 7 weiterleitet.The probe is housed in the metal housing 5. The probe 1st Protected against short circuit by an insulating plate 2, it is also located on one insulating plate 3. It is connected to the preamplifier 6 via an abs @@@, which forwards the amplified through the cable 9 into the measuring device 7.

Die Abb. 2 zeigt eine Ausführungsform der Sonde. Die eigentliche @@@ 1 befindet sich als leitender Belag auf einer Platte aus isolierndem Kunststoff und hat vorzugsweise eine kammartige Struktur.Fig. 2 shows an embodiment of the probe. The real @@@ 1 is located as a conductive coating on a plate made of insulating plastic and preferably has a comb-like structure.

er Belag 2 hat ebenfalls eine kammartige Struktur und ist an Masse angeschlossen. Diese Ausführungsform bewirkt eine Unterdrückung von Störfeldern , die wegen ihrer größeren Ausdehnung homogen sind, und spricht selektiv auf das Streufeld der Uhr an.he pad 2 also has a comb-like structure and is grounded connected. This embodiment causes a suppression of interference fields , which are homogeneous because of their larger size, and speaks selectively to that Stray field of the clock.

Claims

Patent claims:

1.! Method and device for measuring the quartz frequency of quartz-controlled Clocks, characterized in that a probe in the electromagnetic stray field the oscillation switch is brought and that the signal picked up by the probe an evaluation device, preferably an electronic counter is zugefr.rt.

2. The method and device according to claim 1, characterized in that that the evaluation device the duration of a period or a multiple of the period of the probe signal.

3. The method and device according to claim 1, characterized in that da2 the evaluation device is the frequency or a multiple of the frequency of the probe signal measures.

4. The method and device according to claim 1, characterized in that that the probe is firmly mounted in the evaluation device.

5. The method and apparatus according to claim 1 thereby gekennzeicnet that the probe is separated from the evaluation device.

6. The method and device according to claims 1. 2. 3. 4. or 5.

characterized in that the determined by the evaluation device Measured value is fed to a comparator which controls a tool, preferably a mechanically powered screwdriver that adjusts the crystal frequency makes to a predetermined setpoint.

L e r s e i t e