DE2441192C2 - Sample and hold circuit for determining the voltage value contained in a periodic signal - Google Patents

Sample and hold circuit for determining the voltage value contained in a periodic signal

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Description

Die durch die erfindungsgemäße Schaltung erzielte Ersparnis ist nicht unerheblich, wenn man bedenkt, daß in der Fernsehmeßtechnik längs einer Übertragungsstrecke eine Vielzahl von Meßgeräten eingesetzt werden, die oft 30 oder mehr derartige Abtastschaltungen enthalten.The savings achieved by the circuit according to the invention are not insignificant when you consider that In television measurement technology, a large number of measuring devices are used along a transmission path often 30 or more such sampling circuits contain.

Es sind summierende Abtastschaltungen mit Zwischenspeicher bekannt, bei denen nach, dem Abtastschalter in Reihe zu einem Integrationskondensator, der parallel zu einem Operationsverstärker liegt, ein Widerstand geschaltet ist (Elektronische Rechenanlagen, 3, 1961, Heft 3, Seite 119 bis 122, Bild 8). Diese bekannte Schaltung bildet das Integral über die dem Zwischenspeicher entnommenen Abtastspannungswerte und nicht deren Mittelwert Bei dieser bekannten Schaltung ist der Integrationskondensator auch nicht zu einem aktiven Filter höherer Ordnung ergänztThere are summing sampling circuits with a buffer known in which after, the sampling switch in series with an integration capacitor that is parallel to an operational amplifier Resistance is switched (electronic computing systems, 3, 1961, issue 3, pages 119 to 122, Fig. 8). These known circuit forms the integral over the sampling voltage values taken from the buffer memory and not their mean value. In this known circuit, the integration capacitor is not closed either an active higher-order filter added

Die Erfindung wird im folgenden an Hand der F i g. 4 und 5 an drei Ausführungsbeispielen näher erläutertThe invention is illustrated below with reference to FIGS. 4 and 5 explained in more detail using three exemplary embodiments

F i g. 3 zeigt zunächst die Ergänzung der in F i g. 1 dargestellten bekannten Abtast- und Halte-Schaltung zu einem Filter erster Ordnung durch einfache Serienschaltung eines Widerstandes R 1 zum elektronischen Schalter S und abzutastender Signalquelle U. Die Abtastung erfolgt mit Impulsen, deren Abtastzeit t/sich nach dem jeweiligen abzutastenden Signalverlauf richtet und im allgemeinen in der Größenordnung zwischen 0,1 und 2μ5 liegt. Sofern die Zeitkonstante Ri · C\> dist, wird durch die definierte Abtastzeit d das Eingangssignal mit einem Spaltfrequenzgang der FormF i g. 3 initially shows the addition to the in FIG. 1 shown known sample-and-hold circuit to a filter of the first order by simply connecting a resistor R 1 in series to the electronic switch S and the signal source U to be sampled is in the order of magnitude between 0.1 and 2μ5. Provided that the time constant Ri · C \> d , the input signal with a slit frequency response of the form is given by the defined sampling time d

π dfπ df

bewertet. Zum Messen des Weißimpulspegels bei einem Fernsehprüfzeilensignal wird beispielsweise eine Abtastzeit d von 1 [is verwendet, und es wird hierbei der Pegelmittelwert innerhalb dieser Abtastzeit d ermittelt, was zulässig ist, solange der Signalverlauf innerhalb dieser Zeit linear verläuft oder die Krümmung vernachlässigbar gering ist. Die Abtastperiodendauer Tp richtet sich nach der Wiederholfrequenz des abzutastenden Signals und beträgt in der Prüfzeilenmeßtechnik beispielsweise 40 ms.rated. To measure the white pulse level in a television test line signal, a sampling time d of 1 [is , for example, is used, and the mean level value is determined within this sampling time d, which is permissible as long as the signal curve is linear within this time or the curvature is negligibly small. The sampling period T p depends on the repetition frequency of the signal to be sampled and is 40 ms, for example, in test line measurement technology.

Der Widerstand R1 bildet zusammen mit dem Abtastschalter 5 und dem nachgeschalteten Speicherkondensatoi-Cl ein überschwingfreies Tiefpaßfilter, das die dem Signal überlagerten Störspannungen, beispielsweise weißes Rauschen, mit a einer Spaltfunktion (Spaltfrequenzgang) und b einem /?C-Amplitudenfrequenzgang mit der ZeitkonstanteThe resistor R 1, together with the sampling switch 5 and the downstream storage capacitor C1, forms an overshoot-free low-pass filter, which reduces the interference voltages superimposed on the signal, for example white noise, with a split function (split frequency response) and b a /? C amplitude frequency response with the time constant

bewertet. Während der Abtastzeit d fließt durch den Ladewiderstand R 1 ein Strom, der von der Spannungsdifferenz aus der Eingangsspannung der Signalquelle U t>o und der aktuellen Spannung am Speicherkondensator Cl bestimmt wird. Während der Haltezeit, d.h. bei offenem Schalter S, bleibt der Spannungspegel am Speicherkondensator Cl konstant. Am Ausgang des als Impedanzwandler dienenden Operationsverstärkers O b5 ergibt sich eine treppenförmige /?C-Funktion mit ständig verringerter Treppenhöhe. Wenn das Signal während der Abtastzeit d nicht konstant ist, sondernrated. During the sampling time d , a current flows through the charging resistor R 1 which is determined by the voltage difference between the input voltage of the signal source U t> o and the current voltage on the storage capacitor Cl. During the hold time, ie when the switch S is open, the voltage level across the storage capacitor C1 remains constant. At the output of the operational amplifier O b5 serving as an impedance converter, there is a step-shaped /? C function with a constantly decreasing step height. If the signal is not constant during sampling time d, but rather

z. B. linear ansteigt, entsteht am Speicherkondensator Cl nach der Einschwingzeit der Abtastschaltung der Spannungsmittelwert des Pegelverlaufes während dieser Abtastzeit d z. B. increases linearly, arises at the storage capacitor Cl after the settling time of the sampling circuit, the voltage mean value of the level curve during this sampling time d

Die Dimensionierung des Filters erfolgt in bekannter Weise. Bei gegebener Einschwingzeit (beispielsweise der Forderung, daß in 10 Sekunden 99,5% des Meßwertsprunges erreicht sein müssen) und bekannten Eigenschaften der Signalspannungsquelle U (Stromergiebigkeit, maximaler Spannungshub, Periodendauer, Innenwiderstand) sowie gegebenem Eingangsstrom des Operationsverstärkers O und festgelegter Abtastzeit d können damit die beiden Elemente R 1 und C1 dieses Filters berechnet werden. Der Operationsverstärker sollte einen möglichst hochohmigen Eingangswiderstand und einen möglichst niederohmigen Ausgangswiderstand besitzen und ist daher vorzugsweise gegengekoppelt. Der Widerstand R1 ist in dem dargestellten Beispiel vor dem Schalter S angeordnet, was unter gewissen Umständen vorteilhafter sein kann als die Anordnung nach dem Schalter.The filter is dimensioned in a known manner. With a given settling time (for example the requirement that 99.5% of the measured value jump must be reached in 10 seconds) and known properties of the signal voltage source U (current yield, maximum voltage swing, period duration, internal resistance) as well as the given input current of the operational amplifier O and a defined sampling time d can be used the two elements R 1 and C 1 of this filter are calculated. The operational amplifier should have an input resistance that is as high as possible and an output resistance that is as low as possible and is therefore preferably fed back. In the example shown, the resistor R 1 is arranged in front of the switch S , which under certain circumstances can be more advantageous than the arrangement after the switch.

Die Filterwirkung der Schaltung nach Fig.3 ist jedoch noch ment optimal. Nach der Erfindung soll die Schaltung daher gemäß F i g. 4 und 5 zu einem aktiven Filter zweiter oder höherer Ordnung ergänzt werden.The filter effect of the circuit according to Fig.3 is but still ment optimal. According to the invention, the circuit according to FIG. 4 and 5 become an active one Filters of the second or higher order can be added.

F i g. 4 zeigt, wie der Operationsverstärker O durch die /?C-Kombination RMCX sowie RlICl zu einem aktiven Filter zweiter Ordnung ergänzt werden kann. Der eine Widerstand R 1 der Widerstands-Reihenschaltung ist dabei wiederum in Serie zum elektronischen Schalter S angeordnet. Sofern die Abtastbreite d <R\ ■ C\ ist, wird das Eingangssignal wiederum mit dem Spaltfrequenzgang sin (π fd)/(n fd) bewertet. Da das Filter zweiter Ordnung bei gleicher Einschwingzeit auf z. B. 99,5% v. E. oberhalb der 3-dB-Grenzfrequenz einen steileren Frequenzgangabfall aufweist, wird damit gegenüber einer Schaltung nach Fig.3 eine Verbesserung der Störbefreiung um etwa 4 dB erreicht. Bei der Berechnung des Einschwingvorganges dieses Filters zweiter Ordnung ist zu berücksichtigen, daß der Widerstand R 1 nur während der Abtastzeil angeschlossen ist. In diesem Zeitbereich fließt ein Strom in den Kondensator Cl, dessen Mittelwert durch den Widerstand R 1 und der mittleren Spannungsdifferenz über diesem Widerstand R1 bestimmt wird. In der Haltephase, d. h. bei offenem Schalter 5 gleicht sich dii in dem Kondensator Cl gespeicherte Ladung über den Widerstand R 2 mit der im Kondensator C2 gespeicherten Ladung teilweise aus. Dabei folgt die Spannung an C2 erst mit einer zusätzlichen Verzögerung. Durch die Rückkopplung vom Ausgang des vorzugsweise gegengekoppelten Operationsverstärkers über Cl kann der Verlauf der Einschwingfunktion an C2 und damit auch am Ausgang A beeinflußt werden. Die Berechnung dieses Filters nach Fig.4 kann nach grundsätzlich bekannten Verfahren erfolgen, wobei zu berücksichtigen ist, daß der Widerstand R1 nur zeitweise angeschlossen ist. Die Berechnung kann beispielsweise mit einem Iterationsverfahren durchgeführt werden, in dem die Spannungen und Ströme an den einzelnen Bauelementen sowie deren Änderungen schrittweise in den Abtast- und Haltephasen über einen kompletten Einschwingvorgang berechnet werden. Dabei ist es zweckmäßig, diese Berechnungen in ein Optimierungsprogramm einzubeziehen, in welchem die Dimensionierung der Filterelemente unter Berücksichtigung der Abtastzeit d, der Abtastperiode Tp, der zulässigen Restabweichune nach Ablauf der voreeeebenen Ein-F i g. 4 shows how the operational amplifier O can be supplemented by the /? C combination RMCX and RlICl to form an active second-order filter. The one resistor R 1 of the resistor series circuit is in turn arranged in series with the electronic switch S. If the scanning width is d <R \ ■ C \ , the input signal is again weighted with the slit frequency response sin (π fd) / (n fd) . Since the second order filter is set to z. B. 99.5% v. E. If the frequency response drops more steeply above the 3 dB cutoff frequency, an improvement in the elimination of interference by approximately 4 dB is achieved compared with a circuit according to FIG. When calculating the transient response of this second-order filter, it must be taken into account that the resistor R 1 is only connected during the scanning line. In this time range, a current flows into the capacitor Cl, the mean value of which is determined by the resistor R 1 and the mean voltage difference across this resistor R 1. In the holding phase, that is to say when the switch 5 is open, the charge stored in the capacitor Cl is partially compensated for via the resistor R 2 with the charge stored in the capacitor C2. The voltage at C2 only follows with an additional delay. Due to the feedback from the output of the operational amplifier, which is preferably fed back, via C1, the course of the transient function at C2 and thus also at output A can be influenced. The calculation of this filter according to FIG. 4 can be carried out according to methods known in principle, whereby it must be taken into account that the resistor R 1 is only connected at times. The calculation can be carried out, for example, with an iteration method in which the voltages and currents at the individual components and their changes are calculated step by step in the sample and hold phases over a complete transient process. It is useful to include these calculations in an optimization program in which the dimensioning of the filter elements, taking into account the sampling time d, the sampling period Tp, the permissible residual deviations after the expiry of the pre-level input

schwingzeit bei freier Wahl eines Bauelementes ermittelt wird.oscillation time is determined with a free choice of a component.

F i g. 5 zeigt die Ergänzung zu einem Filter dritter Ordnung, wobei der Widerstand R 1 der Filterelemente wieder in Serie zum Schalter 5 angeordnet ist. Die Schaltung nach F i g. 5 kann als Kombination der Schaltungen nach den F i g. 3 und 4 aufgefaßt werden. Auch hier ist wieder der Vorteil des durch die definierte Abtastbreite d gegebenen Spaltfrequenzganges (Unterdrückung hochfrequenter Stör- und/oder Signalkomponenten des Eingangssignals) mit der verbesserten Störspannungsunterdrückung durch das nachgeschaltete aktive Filter vereinigt. Durch dieses Filter dritter Ordnung kann die Streubreite des Meßwertes gegenüber der Schaltung nach F i g. 3 bei gleicher Störgröße und bei gleicher Einschwingzeit auf 99,5% v. E. etwa um 6 dB verringert werden.F i g. 5 shows the addition to a third-order filter, the resistor R 1 of the filter elements again being arranged in series with the switch 5. The circuit according to FIG. 5 can be used as a combination of the circuits according to FIGS. 3 and 4 are understood. Here, too, the advantage of the slit frequency response given by the defined scanning width d (suppression of high-frequency interference and / or signal components of the input signal) is combined with the improved interference voltage suppression by the downstream active filter. This third-order filter allows the spread of the measured value compared to the circuit according to FIG. 3 with the same disturbance variable and with the same settling time to 99.5% f.s. E. can be reduced by about 6 dB.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings

Claims (1)

Patentanspruch:Claim: Abtast- und Halteschaltung zum Ermitteln des in einem periodischen Signal enthaltenen und von Störspannungen überlagerten Spannungswertes, insbesondere des in einem Fernsehsignal enthaltenen Prüfzeilentestsignals, mit einem elektronischen Schalter sowie einem an dessen Ausgang und vor einem Impedanzwandler angeschalteten Speicherkondensator, bei der höherfrequente Störspannungsanteile vor der Abtastung und niederfrequentere Störspannungsanteile nach der Abtastung ausgefiltert werden, gekennzeichnet durch die Kombination folgender Merkmale:Sample and hold circuit for determining what is contained in and from a periodic signal Voltage value superimposed on interference voltages, in particular that contained in a television signal Test line test signal, with an electronic switch and one at its output and in front of it Storage capacitor connected to an impedance converter, in which higher-frequency interference voltage components before the scanning and lower-frequency interference voltage components are filtered out after the scanning, characterized by the combination of the following features: a) der Speicherkondensator /Cl) wird zum Bestandteil eines aktiven Tiefpasses zweiter oder höherer Ordnung gemacht unda) the storage capacitor / Cl) becomes a component made of an active low-pass filter of the second or higher order and b) die Schließzeit (d) des Schalters (S) wird kleiner als die sich aus Speicherkondensator (Ct) und dem diesem vorgeschalteten Ladewiderstand (R X) des Filters ergebende Zeitkonstante (Ri ■ CI) gemacht.b) the closing time (d) of the switch (S) is made shorter than the time constant (Ri ■ CI) resulting from the storage capacitor (Ct) and the upstream charging resistor (RX) of the filter. Die Erfindung betrifft eine Abtast- und Halteschaltung laut Oberbegriff des Hauptanspruches.The invention relates to a sample and hold circuit according to the preamble of the main claim. Es sind Abtast- und Halte-Schaltungen bekannt, die aus einem elektronischen Schalter und einem am Eingang eines Impedanzwandlers angeschalteten Speicherkondensator bestehen (Journal of the Institution of Electronics and Telecommunication Engineers, Vo. 20, No. 7, Juli 1974, Seite 374). Fig. 1 zeigt eine solche bekannte Schaltung. Es ist auch schon bekannt, solche Abtast- und Halte-Schaltungen zum Ermitteln des in einem periodischen Signal enthaltenen Spannungswertes, beispielsweise des in einem Fernsehsignal enthaltenen Prüfzeilentestsignals zu verwenden. Das in programmfreien Zeilen der Bildaustastlücke enthaltene Prüfzeilentestsignal wird hierbei aus der schematisch angedeuteten Signalquelle t/über einen elektronischen Schalter S, der über einen Impulsgenerator / angesteuert ist, wiederholt, beispielsweise alle 40 ms, abgetastet und der momentane Spannungswert wird dann im Speicherkondensator Cl gespeichert und kann über einen als Impedanzwandler dienenden beispielsweise gegengekoppelten Operationsverstärker O am Anfang A zu weiteren Meßzwecken abgenommen werden. Die Abtastimpulsbreite ist hierbei beliebig gewählt. Solchen zu ermittelnden Spannungswerten sind jedoch meist zusätzlich Störspannungen überlagert, durch die das Meßergebnis verfälscht würde. Aus diesem Grunde ist es auch schon bekannt, bei solchen mit Abtastschaltungen arbeitenden Meßschaltungen zum Ermitteln des in einem periodischen Signal enthaltenen Spannungswertes der Abtastschaltung ein die höherfrequenten Störspannungsanteile ausfilterndes Tiefpaßfilter vorzuschalten, das die Bandbreite des Eingangssignals begrenzt und die überlagerten höherfrequenten Störspannungsanteile vermindert (Forderung beispielsweise gemäß CCIR-Rec. 267, Los Angeles 1959, Vol. V). Um ferner auch noch die niederfrequenteren Störspannungsanteile nach der Abtastung auszufiltern, also über eine längere Meßzeit einen Mittelwert des über längere Zeit selbst relativ konstanten Spannungswertes zu erhalten, ist es auch schon bekannt, dem Impedanzwandler der Abtastschaltung ein weiteres Tiefpaßfilter von entsprechend niederer Grenzfrequenz nachzuschalten. Solche zusätzlichen Tiefpaßfilter einerseits zum Ausfiltern der höherfrequenten Störspannungsanteile vor der Abtastung und andererseits der niederfrequenteren Störspannungsanteile nach der Abtastung sind im Aufbau relativ teuer, sie müssen aus Spulen, Kondensatoren, Widerständen und ggf. Trenn-Sample and hold circuits are known which consist of an electronic switch and a storage capacitor connected to the input of an impedance converter (Journal of the Institution of Electronics and Telecommunication Engineers, Vo. 20, No. 7, July 1974, page 374). Fig. 1 shows such a known circuit. It is also already known to use such sample and hold circuits to determine the voltage value contained in a periodic signal, for example the test line test signal contained in a television signal. The test line test signal contained in the program-free lines of the image blanking interval is scanned from the schematically indicated signal source t / via an electronic switch S which is controlled via a pulse generator /, for example every 40 ms, and the instantaneous voltage value is then stored in the storage capacitor Cl and can be picked up at the beginning A for further measurement purposes via an operational amplifier O serving as an impedance converter, for example, with negative feedback. The sampling pulse width is chosen arbitrarily. However, such voltage values to be determined are usually also superimposed on interference voltages which would falsify the measurement result. For this reason, it is already known to connect a low-pass filter which filters out the higher-frequency interference voltage components in such measuring circuits, which work with scanning circuits, to determine the voltage value of the scanning circuit contained in a periodic signal CCIR-Rec. 267, Los Angeles 1959, Vol. V). In order to also filter out the lower-frequency interference voltage components after the scanning, i.e. to obtain an average value of the voltage value, which is itself relatively constant over a longer period of time, over a longer measuring time, it is already known to connect a further low-pass filter with a correspondingly lower cut-off frequency to the impedance converter of the scanning circuit. Such additional low-pass filters on the one hand to filter out the higher-frequency interference voltage components before the scanning and on the other hand the lower-frequency interference voltage components after the scanning are relatively expensive in construction, they have to consist of coils, capacitors, resistors and, if necessary, isolating K) verstärkern aufgebaut werden und verteuern dadurch solche Meßschaltungen.K) amplifiers are built up and thereby make them more expensive such measuring circuits. Es ist Aufgabe der Erfindung, eine Meßschaltung der eingangs erwähnten Art zu schaffen, die im Aufbau sehr einfach ist.It is the object of the invention to provide a measuring circuit of the type mentioned at the outset, which is very structurally is easy. Diese Aufgabe wird ausgehend von einer Schaltung laut Oberbegriff des Patentanspruches durch dessen kennzeichnende Merkmale gelöst.This task is based on a circuit according to the preamble of the claim by the characteristic features solved. Der Aufbau und die Dimensionierung des aktiven Filters erfolgt iii bekannter Weise, beispielsweise nach den Vorschriften der Berechnung von aktiven Filtern laut Elektronik 1970, Heft 10, Seiten 329-334, oder Heft 11, Seiten 379—382, insbesondere Bilder 9,10 und 13, oder Heft 12, Seiten 421—424, und zwar unter Berücksichtigung der gegebenen Einschwingzeit, innerhalb welcher ein vorgegebener Meßwert erreicht sein muß, sowie der bei der erfindungsgemäßen Schaltung gegebenen speziellen Voraussetzung des zwischengeschalteten elektronischen Abtastschalters.The active filter is constructed and dimensioned in a known manner, for example according to the regulations for the calculation of active filters according to Electronics 1970, Issue 10, pages 329-334, or Issue 11, pages 379-382, in particular Figures 9, 10 and 13, or issue 12, pages 421-424, taking into account the given settling time, within which a predetermined measured value must be reached, as well as that in the circuit according to the invention given special requirement of the interposed electronic sampling switch. Auch die Bemessung der Schließzeit zur ErzielungAlso the measurement of the closing time to achieve jo des gewünschten Spaltfrequenzganges erfolgt in bekannter Weise aufbauend auf den gewünschten oder geforderten Filtereigenschaften. Ist für eine solche Abtastschaltung für eine spezielle Meßaufgabe in der Prüfzeilenmeßtechnik beispielsweise vor dem Abtastschalter ein Thomson-Filter mit einer Grundlaufzeit von 300 ns gefordert und ist damit ein bestimmter Amplitudenfrequenzgang dieses Filters gegeben, so kann nach bekannten Bemessungsvorschriften für sogenannte Spaltfrequenzfilter die eine solche Filterei-jo of the desired split frequency response takes place in known Based on the desired or required filter properties. Is for such Scanning circuit for a special measuring task in test line measuring technology, for example in front of the scanning switch a Thomson filter with a basic delay of 300 ns is required and is therefore a definite one Given the amplitude frequency response of this filter, according to known design rules for so-called cut-off frequency filters that provide such a filter 4(i genschaft bewirkende entsprechende Schließzeit des Schalters berechnet werden. F i g. 2 zeigt einen auf diese Weise realisierbaren Spaltfrequenzgang für das Eingangssignal, bei dem in bekannter Weise die Frequenz der ersten Filterpolstelle F unmittelbar umgekehrt proportional der Schließzeit d ist. Für einen Spaltfrequenzgang mit der ersten Filterpolstelle Fbei 1 MHz ist damit beispielsweise eine Schließzeit von 1 με erforderlich. 4 (i genschaft effecting corresponding closing time of the switch can be calculated. F i g. 2 shows a realizable in this way gap frequency response for the input signal, wherein, in known manner, the frequency of the first Filterpolstelle F of the closing time d is directly inversely proportional. For a gap frequency response with the first filter pole position F at 1 MHz, a closing time of 1 με is required, for example. Durch die erfindungsgemäße Kombination, nämlich den Speicherkondensator zum Bestandteil eines aktiven Tiefpasses zweiter oder höherer Ordnung zu machen und die Schließzeit des Schalters kleiner als die sich aus Speicherkondensator und dem diesem vorgeschalteten Ladewiderstand des Filters ergebende Zeitkonstante zu machen wird erreicht, daß 1. das Eingangssignal mit dem Amplitudenfrequenzgang einer Spaltfrequenz-Funktion bewertet wird, also die höherfrequenten Störspannungsanteile ausgefiltert werden, ohne daß hierzu ein gesondertes Filter vorgeschaltet wird, und daß 2.Through the combination according to the invention, namely the storage capacitor as part of an active one Make second or higher order low pass and the closing time of the switch is smaller than that Storage capacitor and the upstream charging resistor of the filter resulting in the time constant make is achieved that 1. the input signal with the amplitude frequency response of a split frequency function is evaluated, so the higher-frequency interference voltage components are filtered out without this a separate filter is connected upstream, and that 2. bo gleichzeitig über das Tiefpaßfilter auch die niederfrequenteren Störspannungsanteile ausgefiltert werden, also der gewünschte Mittelwert gebildet wird. Die erfindungsgemäße Schaltung erfüllt also neben ihrer eigentlichen Funktion als Abtastschaltung zwei Filterte funktionen unterschiedlicher Grenzfrequenz, nämlich die Funktion eines Tiefpaßfilters für die hochfrequenten Störspannungsanteile und ein Tiefpaßfilter zum Ausfiltern der niederfrequenten Störspannungsanteile.bo at the same time also the lower-frequency ones via the low-pass filter Interference voltage components are filtered out, so the desired mean value is formed. the The circuit according to the invention thus fulfills two filters in addition to its actual function as a sampling circuit functions of different cut-off frequency, namely the function of a low-pass filter for the high-frequency Interference voltage components and a low-pass filter to filter out the low-frequency interference voltage components.
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