DE2350479A1 - Scanning disk for an infra-red gas analyser - with radiation from an infra-red source split by the scanning disk in two rays - Google Patents

Scanning disk for an infra-red gas analyser - with radiation from an infra-red source split by the scanning disk in two rays

Info

Publication number
DE2350479A1
DE2350479A1 DE19732350479 DE2350479A DE2350479A1 DE 2350479 A1 DE2350479 A1 DE 2350479A1 DE 19732350479 DE19732350479 DE 19732350479 DE 2350479 A DE2350479 A DE 2350479A DE 2350479 A1 DE2350479 A1 DE 2350479A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
aperture wheel
infra
radiation
aperture
wheel according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19732350479
Other languages
German (de)
Other versions
DE2350479C3 (en
DE2350479B2 (en
Inventor
Otto Dipl Phys Dr Blunck
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
H Maihak AG
Original Assignee
H Maihak AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by H Maihak AG filed Critical H Maihak AG
Priority to DE19732350479 priority Critical patent/DE2350479C3/en
Priority claimed from DE19732350479 external-priority patent/DE2350479C3/en
Publication of DE2350479A1 publication Critical patent/DE2350479A1/en
Publication of DE2350479B2 publication Critical patent/DE2350479B2/en
Application granted granted Critical
Publication of DE2350479C3 publication Critical patent/DE2350479C3/en
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/37Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using pneumatic detection

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Optical Measuring Cells (AREA)

Abstract

The measurement and reference rays are modulated with opposite phases. One of them passes through the gas to be analysed and the other through a reference gas, and then both are applied to a radiation detector. The scanning disk side facing the radiation source is a mirror. A layer of a reflecting material is applied to the disk side. This material has a high reflectivity in the infra-red spectral range, and is applied by evaporation, or consists of a brilliant surface produced by anodic deposition. The reflecting surface is produced by glueing a reflecting foil on the disk.

Description

Dr. Ing. A. vun Cst WorthDr. Ing. A. vun Cst Worth Dr-R Lederer _Λ OM. 1973Dr-R Lederer _Λ OM. 1973

al Hamburg βθal Hamburg βθ

Wilstorfer Straße 32Wilstorfer Strasse 32

H. Maihak Aktiengesellschaft
2 Hamburg 39» Semperstrasse 38
H. Maihak Public Company
2 Hamburg 39 »Semperstrasse 38

Blendenrad für Infrarot-GasanalysengeräteAperture wheel for infrared gas analyzers

Die Erfindung betrifft ein Blendenrad für Infrarot-Gasanalysengerät e, "bei denen die von einem Infrarotstrahler ausgehende Strahlung durch das von einem Motor angetriebene Blendenrad in zwei gegenphasig modulierte Meß- und Vergleichsstrahlenbündel zerlegt wird, von denen das eine das zu analysierende Gasgemisch und das andere ein Vergleichsgas durchläuft und beide dann in einen Strahlungsdetektor gelangen.The invention relates to an aperture wheel for an infrared gas analyzer e, "in which the radiation emitted by an infrared radiator passes through that of a motor driven diaphragm wheel is divided into two anti-phase modulated measuring and comparison beams, of which one passes through the gas mixture to be analyzed and the other passes through a reference gas and then both into one Radiation detector arrive.

Es sind IR-Gasanalysengeräte bekannt, bei denen die Strahlungsmodulation dadurch erfolgt, dass die Analysenküvette mit dem zu analysierenden Gasgemisch und die Vergleichsküvette mit einem Yergleichsgas durch das Blendenrad jeweils abwechselnd abgedeckt werden. Dementsprechend wird im Durchschnitt nur die Hälfte der Strahlerintensität ausgenutzt; die andere Hälfte wird durch das Blendenrad absorbiert. Der Wirkungsgrad der ausgenutzten Gesamtstrahlur^ ist daher nur etwa 50%.There are IR gas analyzers known in which the Radiation modulation takes place in that the analysis cuvette with the gas mixture to be analyzed and the comparison cuvette are alternately covered with a Yergleichsgas through the aperture wheel. Accordingly only half of the emitter intensity is used on average; the other half is through the aperture wheel absorbed. The efficiency of the total jet used is therefore only about 50%.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, den Wirkungsgrad der ausgenutzten Strahlung zu vergrößern und dadurch die für den Absorptionsprozeß zur Verfügung stehende Strahlungsintensität zu erhöhen.The invention is based on the object of the efficiency to increase the radiation used and thereby the radiation intensity available for the absorption process to increase.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß das Blendenrad auf der dem Strahler zugewandten Seite als Spiegel ausgebildet ist.This object is achieved according to the invention in that the aperture wheel is designed as a mirror on the side facing the radiator.

Vorzugsweise wird zu diesem Zweck eine Schicht aus einem spiegelnden Material aufgebracht.For this purpose, a layer of a reflective material is preferably applied.

5098 16/09765098 16/0976

Das aufgebrachte spiegelnde Material hat vorzugsweise einen hohen Reflexionsgrad im infraroten Spektralbereich.The applied reflective material preferably has a high degree of reflection in the infrared spectral range.

Das spiegelnde Material kann durch Bedampfung aufgebracht . werden.The reflective material can be applied by vapor deposition. will.

Das spiegelnde Material kann aus einer durch anodisches Niederschlagen erhaltenen glänzenden Schicht bestehen.The reflective material can be made of an anodic Precipitation obtained glossy layer consist.

Die Spiegelbildung kann auch durch Bekleben des Blendenrads mit einer spiegelnden Folie erreicht werden.The mirror formation can also be achieved by sticking a reflective film on the aperture wheel.

Besondere Vorzüge ergeben sich dadurch, dass die Spiegelschicht auf einer elektrolytisch oxidierten Aluminiumschicht aufgebracht ist.Particular advantages result from the fact that the mirror layer is on an electrolytically oxidized aluminum layer is upset.

Dadurch entsteht eine dichte und fest anhaftende Jchuxzschicht, die aufgrund ihrer geringen Dichte die Lasse und damit das Trägheitsmoment des Blendenrades nur geringfügig erhöht. Auf diese Schutzschicht wird sodann auf der Oberseite des Blendenrades die reflektierende Schicht aufgebracht. Dies hat den weiteren Vorteil, dass die ^piegelschicht auf der elektrolytisch oxidierten Aluminiumschicht fest anhaftet und dadurch die Gefahr des Abblätterns und der Verschmutzung der Fenster in der optischen Strahlführung vermindert wirdoThis creates a dense and firmly adhering layer of jchuxz, which due to their low density the Lasse and thus the moment of inertia of the aperture wheel only slightly elevated. The reflective layer is then applied to this protective layer on the upper side of the aperture wheel. This has the further advantage that the mirror layer is on the electrolytically oxidized aluminum layer firmly adheres and thereby the risk of flaking and contamination of the window in the optical beam guide is reduced o

Als spiegelnde Schichten sind, wie bereits erwähnt, insbeson dere diejenigen Materialien geeignet, die im infraroten Spektralbereich einen hohen Reflexionsgrad besitzen, v/ie z.B. Gold, Silber u.dgl.As already mentioned, reflective layers are in particular whose materials are suitable that have a high degree of reflection in the infrared spectral range, v / ie e.g. gold, silver and the like.

In der Praxis ergeben sich unter Verwendung von mit Gold bedampften Blendenrädern Erhöhungen des Wirkungsgrades um 3O^ gegenüber einem nicht-spiegelnden Blendenrad.In practice, the use of diaphragm wheels vapor-deposited with gold increases the efficiency by 3O ^ compared to a non-reflecting aperture wheel.

Die mit der Erfindung erzielten Vorteile bestehen insbesondere darin, dass eine Intensitätserhöhung der Strahlung bzw. eine Leistungsersparnis durch eine einfache und wohlfeile Maßnahme erzielt wird. The advantages achieved with the invention are in particular that an increase in the intensity of the radiation or a power saving is achieved through a simple and inexpensive measure.

509816/0976
ORIGINAL fNSPECTED
509816/0976
ORIGINAL fNSPECTED

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und wird im folgenden näher "beschrieben. Die Abbildung zeigt,eine schematische Darstellung des G-asanalysengerätes mit dem Blendenrad gemäß der -Erfindung.An embodiment of the invention is shown in the drawing and will be described in more detail below. The figure shows a schematic representation of the gas analyzer with the aperture wheel according to the invention.

(mit Reflektor 2) Die von einem Strahler 1/erzeugte Strahlung wird durch das Ton einem Motor 4 angetriebene Blendenrad 3 in zwei gegenphasig modulierte Strahlungsanteile zerlegt, von denen der eine die Analysenküvette β und der andere die Vergleichsküvette 7 durchläuft. Die beiden durch die Küvetten 6 und 7 hindurchgegangenen Strahlungsanteile gelangen dann in den Strahlungsdetektor 8, dessen Ausgangssignal 9 weiterverarbeitet wird.(with reflector 2) The radiation generated by a radiator 1 / is transmitted through the sound of a motor 4 driven shutter wheel 3 in two Antiphase modulated radiation components are broken down, one of which is the analysis cuvette β and the other is the Comparison cuvette 7 runs through. The two through the Cuvettes 6 and 7 passed through the radiation then reach the radiation detector 8, the output signal 9 of which is further processed.

Das Blendenrad 3 ist auf seiner dem Strahler zugewandten Seite als Spiegel ausgebildet, sodass beispielsweise auch. die vom Blendenrad reflektierten Lichtstrahlen 11, die bei den bekannten, nicht-spiegelnden Blendenrädern absorbiert würden, neben den unmittelbar vom Reflektor 2 kommenden Lichtstrahlen 10 durch die Meßeinrichtung 5 gelangen können und so die wirksame Intensität erhöhen. Die den Küvetten zugewandte Unterseite des Blendenrad.es bleibt nicht-spiegelnd, sodass keine Strahlung von der einen Küvette in die andere reflektiert wird,, was zu einer Verringerung der Signalamplitude führen würde.The aperture wheel 3 is facing the radiator Side designed as a mirror, so for example. the light rays reflected from the aperture wheel 11, which would be absorbed in the known, non-reflective aperture wheels, in addition to those directly from the reflector 2 light rays 10 coming through the measuring device 5 can reach and thus increase the effective intensity. The underside of the aperture wheel facing the cuvettes remains non-reflective, so that no radiation from the one cuvette is reflected in the other, what to would lead to a reduction in the signal amplitude.

5 0 9 8 Ί B / U 9 7 65 0 9 8 Ί B / U 9 7 6

Claims (7)

-4-Patentansprüche -4 claims (^ Iy Blendenrad für Infrarot-Gasanalysengeräte, bei denen die von einem Infrarot-Strahler ausgehende Strahlung durch das von einem l^otor angetriebene Blendenrad in zwei gegenphasig modulierte Meß- und Vergleichestrahlenbündel zerlegt wird, von denen das eine das zu analysierende Gasgemisch und das andere ein Vergleichsgas durchläuft und beide dann in einen Strahlungsdetektor gelangen, dadurch, gekennzeichnet , dass das Blendenrad (3) auf der dem Strahler (1) zugewandten Seite als Spiegel ausgebildet ist.(^ Iy Diaphragm wheel for infrared gas analyzers in which the Radiation emanating from an infrared radiator through the diaphragm wheel driven by a l ^ otor in two antiphase modulated measuring and comparison beam bundles broken down of which one passes through the gas mixture to be analyzed and the other passes through a reference gas and both then pass into a radiation detector, characterized in that the aperture wheel (3) is designed as a mirror on the side facing the radiator (1). 2. Blendenrad nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass auf der dem Strahler zugewandten Seite eine Schicht aus einem spiegelnden Material aufgebracht ist.2. Aperture wheel according to claim 1, characterized in that on the one facing the radiator Side a layer of a reflective material is applied. 3. Blendenrad nach den vorhergehenden Ansprüchen, dadurch gekennzeichnet, dass das auf das Blendenrad(3) aufgebrachte spiegelnde Material einen hohen Reflexionsgrad im infraroten Spektralbereich hat.3. Aperture wheel according to the preceding claims, characterized in that the aperture wheel (3) applied specular material has a high degree of reflection in the infrared spectral range. 4. Blendenrad nach den vorhergehenden Ansprüchen, dadurch gekennzeichnet , dass das spiegelnde Material durch Bedampfung aufgebracht ist.4. aperture wheel according to the preceding claims, characterized in that the reflective material is applied by vapor deposition. 5. Blendenrad nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet , dass das spiegelnde Material aus einer durch anodisches Niederschlagen erhaltenen glänzenden Schicht besteht.5. aperture wheel according to claims 1 to 3, characterized in that the reflective material consists of a glossy layer obtained by anodic deposition. 6. Blendenrad nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet , dass die Spiegelbildung durch Bekleben des Blendenrads (3) mit einer spiegelnden Folie erreicht wird.6. aperture wheel according to claims 1 to 3, characterized in that the mirror formation is achieved by sticking the aperture wheel (3) with a reflective film. 7. Blendenrad nach den vorhergehenden Ansprüchen, dadurch gekennzeichnet , dass die Spiegelschicht auf einer elektrolytisch oxidierten Aluminiumschicht aufgebracht ist.7. aperture wheel according to the preceding claims, characterized characterized in that the mirror layer is applied to an electrolytically oxidized aluminum layer is. 509816/0976509816/0976
DE19732350479 1973-10-08 Infrared gas analyzer Expired DE2350479C3 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19732350479 DE2350479C3 (en) 1973-10-08 Infrared gas analyzer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19732350479 DE2350479C3 (en) 1973-10-08 Infrared gas analyzer

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2350479A1 true DE2350479A1 (en) 1975-04-17
DE2350479B2 DE2350479B2 (en) 1975-08-14
DE2350479C3 DE2350479C3 (en) 1976-03-25

Family

ID=

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2518508A1 (en) * 1974-04-25 1975-11-13 Ridley Spriggs & Johnson KNITTED CLOTHING
US4549080A (en) * 1983-06-17 1985-10-22 Infrared Industries, Inc. Double-pass flue gas analyzer
DE19911260A1 (en) * 1999-03-13 2000-09-14 Leybold Vakuum Gmbh Infrared gas analyzer and method for operating this analyzer
US6407400B1 (en) * 1976-04-19 2002-06-18 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration, Inc. High efficiency modulator

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2518508A1 (en) * 1974-04-25 1975-11-13 Ridley Spriggs & Johnson KNITTED CLOTHING
US6407400B1 (en) * 1976-04-19 2002-06-18 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration, Inc. High efficiency modulator
US4549080A (en) * 1983-06-17 1985-10-22 Infrared Industries, Inc. Double-pass flue gas analyzer
DE19911260A1 (en) * 1999-03-13 2000-09-14 Leybold Vakuum Gmbh Infrared gas analyzer and method for operating this analyzer
US6635875B1 (en) 1999-03-13 2003-10-21 Inficon Gmbh Infrared gas analyzer and method for operating said analyzer

Also Published As

Publication number Publication date
DE2350479B2 (en) 1975-08-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2504300C3 (en) Device for measuring the absorption capacity of a medium, in particular smoke
DE2731775A1 (en) INTERFERENCE FILTER MONOCHROMATOR
DE2147142A1 (en) Photometric analyzer for two wavelengths for the quantitative analysis of elements in a solution
DE2364184C3 (en) Device for measuring the turbidity of fluids with light
DE3230442A1 (en) METHOD FOR MEASURING THE PROPERTIES OF A PLASTIC FILM BY MEANS OF INFRARED RADIATION
DE2211835B2 (en) Method and device for the simultaneous analysis of different constituents of a gas
DE2111014A1 (en) Method and apparatus for testing a plurality of components simultaneously
DE2015316A1 (en) Device for liquid chromatographic-spectroscopic-chemical analysis
DE2350479A1 (en) Scanning disk for an infra-red gas analyser - with radiation from an infra-red source split by the scanning disk in two rays
DE2253933B2 (en) Application of a method for non-destructive testing of materials to determine the tempering color of a metal strip
DE2136634A1 (en) Optical arrangement for a device for analyzing a sample by atomic spectroscopy
EP0087077A2 (en) Measuring device for optical gas analysis
DE1472144A1 (en) Spectrophotometer
DE2756650A1 (en) CROSS-SECTION CONTROL DEVICE
DE2245161A1 (en) ANALYZING DEVICE WITH ATOMIC ABSORPTION
DE2827705B2 (en) Device for the detection of defects in web material
DE3426472A1 (en) Photometer
WO1994000778A1 (en) Process for measuring relative angles
DE2350479C3 (en) Infrared gas analyzer
DE1497549A1 (en) Photometer system for spectrophotometer
DE3338351A1 (en) Apparatus for optically identifying individual multiparametric properties of particles
DE19626187C2 (en) Method and arrangement for the detection of objects
DE19848120C2 (en) Device for measuring the radiation absorption of gases
DE3117477A1 (en) Device for continuous determination of filling level
EP0053677B1 (en) Non-dispersive infrared gas analyzer

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
E77 Valid patent as to the heymanns-index 1977
8339 Ceased/non-payment of the annual fee