DE2304005C3 - Transversal filter - Google Patents

Transversal filter

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DE2304005C3
DE2304005C3 DE19732304005 DE2304005A DE2304005C3 DE 2304005 C3 DE2304005 C3 DE 2304005C3 DE 19732304005 DE19732304005 DE 19732304005 DE 2304005 A DE2304005 A DE 2304005A DE 2304005 C3 DE2304005 C3 DE 2304005C3
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Description

Fit? 4 eine dritte Ausführungsform undFit? 4 a third embodiment and

Fig. 5 eine vierte ΛικΓύηηΗ^ίοπη des Transversalfilter* nach der Erfindung.Fig. 5 a fourth ΛικΓύηηΗ ^ ίοπη of the transversal filter * according to the invention.

Das Transversalfilter nach Fig. 1 enthalt eine Reihe von Speicherelementen E0. E1. E1. E} und £4. S Pie Kapazitäten nebeneinanderllegender Speicherelemente sind über einen Ladungsübertragungskreis. der durch die Source-Drain-Sfecke eines Feldeffekttransistors gebildet wird, miteinander verbunden Die Source-Efcktrode des Transistors T0 ist über die Reihenschaltung der Drain-Source-Strecke eines Transistors 7", des Widerstandes R0 md der Eingangssignalspannungsquelle V mit einem Punkt konstanten Potentials verbunden. Zwischen der Drain-Elektrode des Transistors T und seiner Gate-Elekirode ist die Kapazität C angebracht. Die Gatc-Elcktrode dfs Transistors T ist mit dem Taktimpulsieiter ^verbunden. Der Transistor T. die Kapazität C und der Widerstand R0 bilden einen sogenannte η Lesekreis für das durch die Speicherelemente gebildete Schieberegister. Die Kapazität C4 ist über die Source-Drain-Strecke eines Transistors T5 mit dem Taktimpulsleiter a_ verbunden, der mit einem Ausgang der Taktimpulssignalquelle S0 verbunden ist. Die Kapazitäten jedes der Speicherelemente sind zwischen der Source-Elektrode und der Gate-Hlektrode des Feldeffekttransistors des betreffenden Speicherelements angebracht. Die Gate-Elektroden der Transistoren T0 T4 der Speicherelemente E„ E4 bilden zugleich die Steuerelektroden der Speicherelemente. Die Steuerelektrode 1 des Speicherelements E0 ist mit dem Stromeingang der Stromteilervorrichtung I verbunden. Der Stromausgang 2 der Stromteilervorrichtung 1 ist mit dem Leiter c; verbunden, während der Stromauseang 3 mit dem Leiter/^ ν erbunden ist. Zwischen dem Stromeingang und dem Stromausgang 2 der Stromleitervorrichtung I ist die Source-Drain-Strecke des Transistors T00 angebracht Zwischen dem Stromeingang und dem Stromausgang 3 der Stromteilervorrichtung I liegt die Source-Drain-Strecke des Transistors Tm. Die Steuerelektrode 21 des Speicherelements E2 ist mit dem Stromeingang der Stromteilervorrichtung II verbunden Der Stromausgani» 22 der Stromteilervorrichtung II ist mit dem Leiter χ verbunden, während der Stromausgang 23 mit dem Leiter^) verbunden ist. Zwischen dem Stromeingang und dem Stromausgang 22 ist die Source-Drain-Strecke des Transistors T20 angebracht. Zwischen dem Stromeingang und dem Stromausgang 23 liegt die Source-Drain-Strecke des Transistors T2,. Die Steuerelektrode 41 des Speicherelements E4 ist mit dem Stromeingang der Stromteilervorrichtung III verbunden. Der Stromausgang 42 ist mit dem Leiter_c und der Stromausgang 43 mit dem Leiter h. verbunden. Zwischen dem Stromeingang und dem Stromausgang 42 der Stromteilervorrichtung III liegt die Source-Drain-Strecke des Transistors T40. Zwischen dem Stromeingang und dem Stromausgang 43 der Stromteilervorrichtung III liegt die Source-Drain-Strecke des Transistors T41. Die Gate-Elektroden der Feldeffekttransistoren der Stromteilervorrichtungen sind mit Ausgängen eines Einstellregisters P verbunden. Die Leiter b und _c sind mit je einem Eingang des Differenzverstärkers SV vei bunden. Die Wirkungsweise des Transversalfilters ist folgende:The transversal filter according to FIG. 1 contains a number of storage elements E 0 . E 1 . E 1 . E } and £ 4 . S Pie capacities of adjacent storage elements are via a charge transfer circuit. which is formed by the source-drain corner of a field effect transistor, connected to one another. The source-Efcktrode of the transistor T 0 is via the series connection of the drain-source path of a transistor 7 ″, the resistor R 0 md of the input signal voltage source V with a point constant Between the drain electrode of the transistor T and its gate electrode there is the capacitance C. The gate electrode of the transistor T is connected to the clock pulse generator 1. The transistor T. the capacitance C and the resistor R 0 form one so-called η read circuit for the shift register formed by the memory elements. The capacitance C 4 is connected via the source-drain path of a transistor T 5 to the clock pulse conductor a_ , which is connected to an output of the clock pulse signal source S 0 between the source electrode and the gate electrode of the field effect transistor of the memory element concerned ents appropriate. The gate electrodes of the transistors T 0 T 4 of the memory elements E 1, E 4 also form the control electrodes of the memory elements. The control electrode 1 of the storage element E 0 is connected to the current input of the current dividing device I. The current output 2 of the current divider device 1 is connected to the conductor c; connected, while the Stromauseang 3 is connected to the conductor / ^ ν. The source-drain path of the transistor T 00 is attached between the current input and the current output 2 of the current conductor device I. The source-drain path of the transistor T m is located between the current input and the current output 3 of the current divider device I. The control electrode 21 of the storage element E 2 is connected to the current input of the current dividing device II. The current output 22 of the current dividing device II is connected to the conductor χ, while the current output 23 is connected to the conductor ^). The source-drain path of the transistor T 20 is attached between the current input and the current output 22. The source-drain path of the transistor T 2 is located between the current input and the current output 23. The control electrode 41 of the storage element E 4 is connected to the current input of the current dividing device III. The current output 42 is with the conductor_c and the current output 43 with the conductor h. connected. The source-drain path of the transistor T 40 lies between the current input and the current output 42 of the current divider device III. The source-drain path of the transistor T 41 is located between the current input and the current output 43 of the current divider device III. The gate electrodes of the field effect transistors of the current dividing devices are connected to outputs of a setting register P. The conductors b and _c are each connected to an input of the differential amplifier SV. The mode of operation of the transversal filter is as follows:

In den Zeitintervallen r,, r, ■·-, der F i 2. 2 wird neue Information über die Größe des F.ingangssignals V als Ladung in der Kapazität C gespeichert. Die in den gerade numerierten Kapazitäten C0 und C1 gespeicherte Information wird zu den ungerade numerierten Kapazitäten C, und C, weitergeschoben. wobei in den genannten Zeitintervallen den gerade numerierten Kapazitäten C0. C. und C4 cite derartige Menge Ladung zugeführt wird, daß die Ladung in diesen Kapazitäten gleich der Referenzladung wird, und /war (E - Vj C Coulomb, wobei £ die Amplitude des Taktsignals und Ki die Schwellwertspannung der verwendeten Feldeffekttransistoren darstellt. Die Ströme, die in den genannten Intervallen die Source-Drain-Strecken der Transistoren T1. 73 und 7~5 durch fließen, durchfließen auch die Stromieilervorrichtungen I. il bzw III. In jeder der Stromteilervorrichtungen werden die ihren Stromeingängen zugeführten Ströme in je zwei Ströme geteilt. Eine einfache Berechnung zeigt, daü die Ströme, die die verschiedenen Source-Drain-Strecken der Feldeffekttransistoren jeder der Stromtcilervorrichtungen I. II und III durchfließen, den nachstehenden Beziehungen entsprechen:In the time intervals r ,, r, ■ · -, the F i 2. 2 new information about the size of the F. input signal V is stored as a charge in the capacitance C. The information stored in the even numbered capacities C 0 and C 1 is shifted to the odd numbered capacities C 1 and C 1. where in the mentioned time intervals the even numbered capacities C 0 . C. and C 4 cite such an amount of charge that the charge in these capacitances becomes equal to the reference charge, and / was (E - Vj C Coulomb, where £ represents the amplitude of the clock signal and Ki represents the threshold voltage of the field effect transistors used. The currents , which flow through the source-drain paths of the transistors T 1, 7 3 and 7 ~ 5 in the specified intervals, also flow through the current divider devices I. II and III A simple calculation shows that the currents which flow through the various source-drain paths of the field effect transistors of each of the current dividing devices I., II and III, correspond to the following relationships:

I,η = I, η =

I,ι =I, ι =

i = ',ο* 'vi· χ = 0. 2. 4. i = ', ο *' vi · χ = 0. 2. 4.

(D (2)(D (2)

In diesen Beziehungen ist Vx die Spannung am Stromeingang der betrachteten Stromteilervorrichtung. (V + Yx) und [V-Yx) sind die von dem Einstellregister P abgegebenen Spannungen, Vd ist die Schwellwertspannung der verwendeten Feldeffekttransistoren, und ft ist ein Faktor, der durch das Material und die Geometrie der Feldeffekttransistoren bestimmt wird. Aus den Beziehungen (1) und (2) folgt, daß der DifferenzstromIn these relationships, V x is the voltage at the current input of the current dividing device under consideration. (V + Y x ) and [VY x ) are the voltages output by the setting register P , V d is the threshold voltage of the field effect transistors used, and ft is a factor which is determined by the material and the geometry of the field effect transistors. From the relationships (1) and (2) it follows that the differential current

(5)(5)

ist. Dabei wird angenommen, daß ^ Vx in bezug aufis. It is assumed that ^ V x with respect to

die Spannung[V Vä) vernachlässigbar ist, was in der Praxis auch meistens der Fall sein wird. Aus der Beziehung (5) folgt, daßthe voltage [V - V ä ) is negligible, which in practice will mostly be the case. From relation (5) it follows that

(6)(6)

wobei Qx die Ladung aus der betrachteten Speicherstufe χ ist, der auf die benachbarte Speicherstufe übertragen wird. Der Gesamtladungsunterschied, der in einem bestimmten Zeitintervall τ, über die Leiter b und£ fließt, wird gleichwhere Q x is the charge from the storage level χ in question, which is transferred to the adjacent storage level. The total difference in charge which flows over the conductors b and £ in a certain time interval τ becomes the same

(7)(7)

sein. Wenn angenommen wird, daß das von der Signalspannungsquelle Vj gelieferte Signal eine Spektralkomponente mit einer Kreisfrequenz w und einerbeing. Assuming that the signal supplied from the signal voltage source Vj has a spectral component having an angular frequency w and a

UUOUUO

Amplitude λ enthält, kann für die in der Kapazität C0 vorhandenen Ladung Q0 in dem Zeitintervall r, in komplexer Form geschrieben werden:Amplitude contains λ, can be used for existing in the capacitance C charge Q 0 r 0 in the time interval are written in complex form:

C- W -e"".C- W -e "".

und E4 wird die betreffende Spektralkomponcnte über Zeitabstände τ, 2 r, 3 τ weitergeschoben.and E 4 the relevant spectral component is shifted further over time intervals τ, 2 r, 3 τ.

Für die in den Kapazitäten C2 und C4 vorhandene Ladung Q1 und ζ|4 kann in komplexer Form »eschrieben werden:For the charge Q 1 and ζ | present in the capacities C 2 and C 4 4 can be written in a complex form:

C- IKe1 C- IKe 1

C- W eC- W e

/H(I - 4 T)/ H (I - 4 T)

wobei C den Kapazitätsweri der Speicherkapazitäten C0 —C4 darstellt und I V der Amplitude A der
betrachteten Spektralkomponente proportional ist. Das Einsätzen des Obenstehenden in die Beziein den aufeinanderfolgenden Speicherstufen E1, E3 10 hung (7) ergibt
where C is the capacitance value of the storage capacities C 0 -C 4 and I V is the amplitude A of
considered spectral component is proportional. Applying the above in relation to the successive storage levels E 1 , E 3 10 hung (7) results

(8)(8th)

Eine beliebige Speklralkomponente C- II'· e'"' in dem Frequenzspektruin des der Kapazität C11 zugefiihrlen Signals liefert ein Ausgangssignal wie in (8). so daß für die Ubertragiingskennlinie H(\\) de: Vorrichtung nach Fig. I gilt:Any special component C-II 'e'"'in the frequency spectrum of the signal fed to the capacitance C 11 supplies an output signal as in (8), so that the following applies to the transmission characteristic H (\\) de: device according to FIG.

(9)(9)

wobei α, = Y0-{V-K)', O2 = Y2(V-V11)1, bx = Yt(V-V1,)-1 ist. Durch passende Wahl der Ubertragungskoeffizienten a,, <i2 .../>,... (auch als Gewichtsfaktoren bezeichnet) "kann eine beliebige Amplitude-Frequenz-Kennlinie und auch eine beliebige Phase-Frequenz-Kennlinie erzielt werden.where α, = Y 0 - {VK) ', O 2 = Y 2 (VV 11 ) 1 , b x = Yt (VV 1 ,) - 1 . Any desired amplitude-frequency characteristic and also any desired phase-frequency characteristic can be achieved by suitable selection of the transfer coefficients a ,, <i 2 ... />, ... (also referred to as weighting factors) ".

Da die Einstellmittel 1 und II des Transversalfilters nach Fig. 1 mit den Kapazitäten C0 und C2 in Reihe angeordnet sind, wird bei übertragung von Infonnation zwischen den Kapazitäten C0 und C1, C2 und C3 keine Ladung verlorengehen. Dies hat zur Folge, daß die Anzahl Speicherelemente, die in die Reihe aufgenommen werden kann, nicht durch das Anbringen der genannten Einstellmittel beschränkt wird. Es können also eine Vielzahl von Speichereiementen hintereinander geschaltet werden, wodurch eine Vielzahl Koeffizienten at ... usw. erhalten werden kann. Außerdem sind nun die Gewichtsfaktoren unabhängig voneinander einstellbar.Since the setting means 1 and II of the transversal filter according to FIG. 1 are arranged in series with the capacitors C 0 and C 2, no charge is lost when information is transmitted between the capacitors C 0 and C 1 , C 2 and C 3. The consequence of this is that the number of storage elements that can be accommodated in the row is not restricted by the attachment of said setting means. A large number of storage elements can therefore be connected in series, as a result of which a large number of coefficients a t ... etc. can be obtained. In addition, the weighting factors can now be set independently of one another.

Bei der Ableitung der Formel (5) wird angenom-When deriving the formula (5) it is assumed

men, daß die Spannung 3 Vx vernachlässigbar ist.men that the voltage 3 V x is negligible.

Diese Vernachlässigung veranlaßt einen Fehler von etwa 2% in dem Gewichtsfaktor, wenn alle Feldeffekttransistoren gleich groß sind. Wenn sehr genau gearbeitet werden soll, kann der Einfluß der Spannung 5 Vx stark herabgesetzt werden. So können z. B.This neglect causes an error of about 2% in the weight factor if all field effect transistors are the same size. If you want to work very precisely, the influence of the 5 V x voltage can be greatly reduced. So z. B.

in den ungeraden Zeitintervallen T1 ..., während deren Information in die Kapazität C0 eingeschrieben wird, die Spannungen (V + Y0) und (V-Y0) auf die in F i g. 1 beschriebene Weise der Stromteilervorrichtung I zugeführt werden, während in den darauffolgenden geraden Zeitintervallen T2 ... die Spannung (F — lo) der Gate-Elektrode des Transistors J^0 and die Spannung (F + iy der Gate-Elektrode des Transistors Tm zugeführt ward. Dies erfolgt auch Ηώ den Spannungen (F -I- T2MV- Y2) and (V + Y11), (F — Ii) iur die Strontfeflervorrichrnngen Π und III. Durch die iTerwecbsüing der Einstellspannungen wird te der Felder ausgemittelL Es hat sich gezeigt, daß derin the odd time intervals T 1 ..., during which information is written into the capacitance C 0 , the voltages (V + Y 0 ) and (VY 0 ) to the values shown in FIG. 1 are supplied to the current divider device I, while in the subsequent even time intervals T 2 ... the voltage (F - lo) of the gate electrode of the transistor J ^ 0 and the voltage (F + iy of the gate electrode of the transistor T m was fed This is also done Ηώ the voltages (F -I- T 2 MV Y 2) and (V + Y 11). (B - II). iur the Strontfeflervorrichrnngen Π and III By iTerwecbsüing adds adjustment is te of Fields averagedL It has been shown that the

verbleibende Fehler infoige von ^Vx nur noch 1%remaining errors infoige of ^ V x only 1%

Dies EiSt sieb auch dadurch erreichen, daß die 6s Leiter A **d .£. abwechselnd mk des Eisgängen s tiad *· des DüfeBBaverstaifeeis SF verbuHden werden, im ^effinterwäil % der Leäer j? mit dem Hingang s und der Leiterx mit dem Eingang r und im Zeitintervall τ2 der LeiterJ> mit dem Eingang r und der Leiter_c mit dem Eingang s. Auch durch diese Maßnahme wird der Fehler ausgemittelt.This can also be achieved by using the 6s ladder A ** d . £. alternately mk of the ice drifts s tiad * · of the DüfeBBaverstaifeeis SF, in ^ effinterwäil% the leäer j? with the input s and the conductor x with the input r and in the time interval τ 2 of the conductor J> with the input r and the conductor_c with the input s. This measure also averages out the error.

Im Ausführungsbeispiel nach Fig. 3 isl einerseits angegeben, wie das Einstellregister P ausgeführt werden kann, und andererseits, wie der Differenzverstärker ausgeführt werden kann. Ferner sind die Gate-Elektroden der Transistoren T0, T2 und T4 mit dem Taktimpulsleiter^ statt mit den Stromeingängen der Stromteilervorrichtungen I, II und III verbunden. Letzteres ergibt den Vorteil, daß eine schnellere Signalübertragung zwischen den Kapazitäten möglich ist. Der Differenzverstärker enthält die Differenzverstärker A und B, von deinen je ein Eingang an Erde gelegt ist. Der andere Eingang des Verstärkers A ist über die Kapazität CA mit dem Ausgang X dieses Verstärkers verbunden. Der andere Eingang des Verstärkers B ist über die Kapazität C8 mit dem Ausgang Y dieses Verstärkers verbunden. Der Kapazitätswert der Kapazitäten CA und C8 ist viele Male größer als der Kapazitätswert der Speicherkapazitäten C0-C4. Zwischen den Ausgängen X und Y wird Σ I Qx nach der Formel (8) gemessen. Dies ist also zugleich das Ausgangssignal des Transversalfilters. Das Einstellregister enthält zwei Verzögerungskreise. Der erste Verzögerungskreis enthält die Feldeffekttransistoren T6-Tn, deren Source-Drain-Strekken miteinander in Reihe geschaltet sind. Zwischen der Drain-Elektrode und der Gate-Elektrode jedes dieser Transistoren ist eine Kapazität mit derselben Rangnummer wie der betreffende Transistor angebracht, mit Ausnahme des Transistors T11, dessen Drain-Elektrode mit seiner Gate-Elektrode verbunden ist. Der zweite Veraogerungskreis eaÄäit die Transistoren T12-F17, deren Source-Draifl-Streckeö ebenfalls miteinander in Reihe geschaltet sind. Zwischen der Drain-Elektrode nnd der Gate-£3ektr©de jedes dieser Transistoren ist &m KapastMt ίαώ derselben Rangnununer wie der betreffende Transistor" angebracht, mit Ausnahme des Transistors T1-,, dessen Drain-Elektrode nut seiner Gate^ElektPode verbunden ist. Die Gate-Elektroden der Transistorea %, ??> Tn, T13, T15 und T„ sinilati Erde gelegt, i&äiitmA die Gate-Elektroden der Transistoren %, % 3»* Tu, T14 und T16 mit dem Aosgangrf der ScfaaiBjjaflnungsquelle S0 verbunden sind. Die Orain-ElektriHie des Transistors T6 ist fiber des Widerstand A1 «ΦIn the exemplary embodiment according to FIG. 3, it is indicated on the one hand how the setting register P can be implemented and, on the other hand, how the differential amplifier can be implemented. Furthermore, the gate electrodes of the transistors T 0 , T 2 and T 4 are connected to the clock pulse conductor ^ instead of to the current inputs of the current dividing devices I, II and III. The latter has the advantage that a faster signal transmission between the capacities is possible. The differential amplifier contains the differential amplifiers A and B, each of which has one input connected to ground. The other input of the amplifier A is connected to the output X of this amplifier via the capacitance C A. The other input of the amplifier B is connected to the output Y of this amplifier via the capacitance C 8. The capacity value of the capacities C A and C 8 is many times greater than the capacity value of the storage capacities C 0 -C 4 . Between the outputs X and Y , Σ I Q x is measured according to formula (8). This is also the output signal of the transversal filter. The setting register contains two delay circuits. The first delay circuit contains the field effect transistors T 6 -T n , the source-drain paths of which are connected in series with one another. Between the drain electrode and the gate electrode of each of these transistors there is a capacitance with the same rank as the respective transistor, with the exception of the transistor T 11 , the drain electrode of which is connected to its gate electrode. The second monitoring circuit includes the transistors T 12 -F 17 , whose source-Draifl path are also connected in series with one another. The gate 3ektr £ © de NND between the drain electrode of each of these transistors is & m KapastMt ίαώ Rangnununer same as the transistor "in question mounted, with the exception of the transistor T 1 - ,, whose drain nut its gate ^ ElektPode is connected. The gate electrodes of the transistors a %, ??> T n , T 13 , T 15 and T "sinilati ground, i & äiitmA the gate electrodes of the transistors%,% 3" * Tu, T 14 and T 16 with the output rf of the ScfaaiBjjaflnungsquelle S 0 are connected. the Orain-ElektriHie of the transistor T 6 is fiber of the resistor A 1

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der Signalspannungsquelle ν; verbunden. Die Source Elektrode des Transistors T12 ist über den Widerstand R2 m'1 der Signalspannungsquelle Y1 verbunden. Die Signalspannungsquelle Y, ist außerdem über eine Gleichspannungsquelle 100 mit einem Punkt konstanten Potentials verbunden.the signal voltage source ν; connected. The source electrode of the transistor T 12 is connected to the signal voltage source Y 1 via the resistor R 2 m ' 1 . The signal voltage source Y 1 is also connected to a point of constant potential via a DC voltage source 100.

Das Einstellregister P kann auf verschiedene Weise betrieben werden. Bevor das zu filternde Eingangssignal dem ersten Transistor T0 zugeführt wird, können mit Hilfe der Schaltspannungsquelle S0 und der Signalquelle r] die Einstellsignale (V ± Yx), wobei χ = 0, 2, 4 ist. in dem Einstellrcgister P gespeichert werden. Weiter können statt eingestellter Gewichtsfaktoren auch veränderliche Gewichtsfaktoren gewählt werden. Dies kann z. B. dadurch erzieh werden, das in den den Zeitintervallen, in denen Informationsübertragung zwischen nebeneinanderliegenden Speicherkapazitäten stattfindet, vorangehenden Zeitintervallen die in dem Einstellregister P vorhandenen Einstellspannungen um eine oder mehrere Stellen in dem Register weitergeschoben werden. Wenn digitale Signale von dem Transversalfilter nach F i g. 3 verarbeitet werden, kann statt des in dieser Figur dargestellten analogen Schieberegisters als Einstellregister P ein digitales Schieberegister verwendet werden, das aus bistabilen Elementen aufgebaut ist.The setting register P can be operated in various ways. Before the input signal to be filtered is fed to the first transistor T 0 , the setting signals (V ± Y x ), where χ = 0, 2, 4, can be generated with the aid of the switching voltage source S 0 and the signal source r]. can be stored in the setting register P. Furthermore, instead of set weighting factors, variable weighting factors can also be selected. This can e.g. B. be educated by the fact that in the time intervals in which information transfer takes place between adjacent storage capacities, the previous time intervals in the setting register P setting voltages are shifted by one or more places in the register. When digital signals from the transversal filter of FIG. 3, instead of the analog shift register shown in this figure, a digital shift register composed of bistable elements can be used as the setting register P.

F i g. 4 zeigt, daß statt der in Fig. 1 dargestellten Speicherstufen, z. B. E2, auch andere Speicherslufen Anwendung finden können. Die Speicherstufe enthält den Transistor T2 und die Kapazitäten C2, C22, C24 und C26. Die Kapazität C2 ist zwischen der Gate-Elektrode und der Drain-Elektrode des Transistors T2 angebracht. Die Gate-Elektrode des Transistors T2 ist mit dem Stromeingang der durch die Transistoren T20 und T21 gebildeten Stromteilervorrichtung verbunden, deren Stromausgänge mit den Leitern c_ bzw. b verbunden sind. Die Kapazität C22 ist mit dem Stromeingang der durch die Transistoren T12 und T23 gebildeten Stromteilervorrichtung verbunden, deren Stromausgänge mit den Leitern _c bzw. b_ verbunden sind. Die Kapazität C24 ist mit dem Stromeingang der durch die Transistoren T24 und T25 gebildeten Stromteilervorrichtung verbunden, deren Stromausgänge mit den Leitern £ bzw. b_ verbunden sind. Die Kapazität C26 ist mit dem Stromeingang der durch die Transistoren T26 sind T27 gebildeten Stromteilervorrichtung verbunden, deren Stromausgänge mit den Leitern c_ bzw. b verbunden sind. Der Kapazitätswert der Kapazitäten C2. C22, C2A- C26 und C3 ist z. B. C, 2 C, 4 C, 8 C und 15 C [Coulombs]. Den Gate-Elektroden der Transistoren T20 und T21 werden die digitalen Signale F1 bzw. F1 mit Hilfe eines ersten (nicht dargestellten) Einstellregisters zugeführt. Den Gate-Elektroden der Transistorer. T22 und T23 werden die digitalen Signale F2 bzw. F2 βώ Hilfe dues zweiten (nicht dargestellten) Einstellregisters zugeführt. Den Gate-Elektroden der Transistoren T2^ and T15 werden die digitalen Signale F3 bzw. F3 mit Hufe eines dritten (nicht dargestellten) Einstellregisters zugeführt. Den Gate-Elektroden der Transistoren T26 and T27 werden die digitalen Signale F4 bzw. F4 mit Hilfe eines vierten (nicht dargestellten) Einstellregisters zugeführt In Abhängigkeit von dem digitalen Signal (0 oder 1). das den genannten Tramptoren zugeführt wird, wird der betreffende Transistor nichtleitend oder leitend sein. Da in dem Filter nach Fig.4 vier Stromteilervorrichtungen verwendet werden, ist die Anzahl möglicher Werte, die der betreffende Gewichtsfaktor an nehmen kann, 2* = 16. So können die nachstehendei Werte erzielt werden:F i g. 4 shows that instead of the memory stages shown in FIG. B. E 2 , other storage runs can also be used. The memory stage contains the transistor T 2 and the capacitances C 2 , C 22 , C 24 and C 26 . The capacitance C 2 is attached between the gate electrode and the drain electrode of the transistor T 2. The gate electrode of transistor T 2 is connected to the current input of the current divider device formed by transistors T 20 and T 21 , the current outputs of which are connected to conductors c_ and b . The capacitance C 22 is connected to the current input of the current divider device formed by the transistors T 12 and T 23 , the current outputs of which are connected to the conductors _c and b_, respectively. The capacitance C 24 is connected to the current input of the current divider device formed by the transistors T 24 and T 25 , the current outputs of which are connected to the conductors £ and b_ . The capacitance C 26 is connected to the current input of the current divider device formed by the transistors T 26 and T 27 , the current outputs of which are connected to the conductors c_ and b . The capacity value of the capacities C 2 . C 22 , C 2 A- C 26 and C 3 is e.g. B. C, 2 C, 4 C, 8 C and 15 C [Coulombs]. The digital signals F 1 and F 1 are fed to the gate electrodes of the transistors T 20 and T 21 with the aid of a first setting register (not shown). The gate electrodes of the transistors. T 22 and T 23 , the digital signals F 2 and F 2 βώ are supplied with the help of the second (not shown) setting register. The gate electrodes of the transistors T 2 ^ and T 15 are supplied with the digital signals F 3 and F 3 with the aid of a third setting register (not shown). The digital signals F 4 and F 4 are fed to the gate electrodes of the transistors T 26 and T 27 with the aid of a fourth setting register (not shown), depending on the digital signal (0 or 1). that is fed to the said Tramptors, the transistor in question will be nonconductive or conductive. Since four flow divider devices are used in the filter according to FIG. 4, the number of possible values that the relevant weighting factor can assume is 2 * = 16. In this way the following values can be achieved:

1, 13/15, 11/15, 9/15, 7/15, 5/15, 3/15, I /15 — 1/15, -3/15, -5/15, -7/15, -9/15, -11/15 -13/15. -1.1, 13/15, 11/15, 9/15, 7/15, 5/15, 3/15, I / 15 - 1/15, -3/15, -5/15, -7/15, - 9/15, -11/15 -13/15. -1.

Die genannten vier Einstellrcgister können übliche digitale Schieberegister vom statischen Typ sein Dies bedeutet, daß die in ein solches Schieberegistei eingeschriebene Information unendlich lange festgehalten werden kann, dies im Gegensatz zu dem Hinstellregister P nach F i g. 3 vom dynamischen Typ. Letzteres bedeutet, daß die in ein solches Register eingeschriebene Information durch Abfließen von Ladung aus den Speicherkapazitäten nach einer gewissen Zeit verlorengeht. Mit dem Transversalfilter nach F i g. 4 können sowohl analoge als auch digitale Signale gefiltert werden.The four setting registers mentioned can be conventional digital shift registers of the static type. This means that the information written in such a shift register can be retained indefinitely, in contrast to the setting register P according to FIG. 3 of the dynamic type. The latter means that the information written in such a register is lost after a certain time due to the discharge of charge from the storage capacities. With the transversal filter according to FIG. 4, both analog and digital signals can be filtered.

In Fig. 5 ist eine Ausführungsform dargestellt, in der andere Stromteilervorrichtungen Anwendung finden. In der Stromteilervorrichtung 1 ist parallel zu der Source-Drain-Strecke des Feldeffekttransistors T00 die Source-Drain-Strecke des zusätzlichen Feldeffekttransistors T0' angebracht. Parallel zu der Source-Drain-Strecke des Transistors T01 ist die Source-Drain-Strecke des zusätzlichen Transistors T1' angebracht. Die Gate-Elektroden dieser zusätzlichen Transistoren sind mit dem Stromeingang der Stromteilervorrichtung 1 verbunden. In der Stromteilervorrichtung II ist parallel zu der Source-Drain-Strecke des Transistors T20 die Source-Drain-Strecke des zusätzlichen Transistors T2 angebracht. Parallel zu der Source-Drain-Strecke des Transistors T21 ist die Source-Drain-Strecke des zusätzlichen Transistors T3 angebracht. Die Gate-Elektroden der zusätzlichen Transistoren sind mit dem Stromeingang der Stromteilervorrichtung II verbunden.In Fig. 5, an embodiment is shown in which other flow dividing devices are used. In the current divider device 1, the source-drain path of the additional field effect transistor T 0 'is attached parallel to the source-drain path of the field effect transistor T 00. The source-drain path of the additional transistor T 1 'is attached parallel to the source-drain path of the transistor T 01. The gate electrodes of these additional transistors are connected to the current input of the current dividing device 1. In the current dividing device II, the source-drain path of the additional transistor T 2 is attached parallel to the source-drain path of the transistor T 20. The source-drain path of the additional transistor T 3 is attached parallel to the source-drain path of the transistor T 21. The gate electrodes of the additional transistors are connected to the current input of the current dividing device II.

Das Anbringen der zusätzlichen Feldeffekttransistoren T0', T1', T2', T3' in der betreffenden Stromteilervorrichtung ergibt den Vorteil, daß die Widerstandskennlinie des zugehörigen Feldeffekttransistors Iinearisiert wird. Die Widerstandskennlinie des Feldeffekttransistors T00 wird annähernd durch die Summe eines linearen und eines quadratischen Teiles gebildet, während die Widerstandskennlinie des Transistors Tq annähernd durch den Unterschied zwischen einem linearen und einem quadratischen Teil gebildet wird. Dies bedeutet also, daß die Widerstandskennlinie der Kombination der Feldeffekttransistoren T00 und T0 eine größere Linearität als die entsprechende Kennlinie des Transistors T00 aufweisen wird, weil sich die quadratischen Teile der beiden Feldeffekttransistoren ausgleichen werden. Eine einfache Berechnung zeigt, daß dieser Aasgleich optüsal ist, wenn gesichert wird, daß die nachstehende Beziehung gilt:Attaching the additional field effect transistors T 0 ', T 1 ', T 2 ', T 3 ' in the relevant current divider device has the advantage that the resistance characteristic of the associated field effect transistor is linearized. The resistance characteristic of the field effect transistor T 00 is approximately formed by the sum of a linear and a square part, while the resistance characteristic of the transistor Tq is approximately formed by the difference between a linear and a square part. This means that the resistance characteristic of the combination of the field effect transistors T 00 and T 0 will have a greater linearity than the corresponding characteristic of the transistor T 00 , because the square parts of the two field effect transistors will equalize each other. A simple calculation shows that this match is optimal if it is ensured that the following relationship applies:

Zq- Σ-ΝZq- Σ-Ν
CLCL

In dieser Beziehung ist ßt ein Faktor, der durch das Material und die Geometrie des Transistors Tm bestimmt wird, während ß2 ein ähnlicher Faktor des Transistors !£, Σ die Dielektrizitätskonstante des Süizhnns, C« die Kapazität der OberSächeneinheiiIn this regard, ß t a factor which is determined by the material and the geometry of the transistor T m, whereas ß 2 is a similar factor of the transistor! £, Σ is the dielectric constant of the Süizhnns, C 'the capacity of the OberSächeneinheii

€09631/217€ 09631/217

der Gate-Elektroden der Transistoren ist, V„ gleich der Summe der Spannung zwischen der Source-Elektrode und dem Substrat des Transistors T00 und der Spannung zwischen der Drain-Elektrode und dem Substrat des Transistors T0' ist, <I>F die Differenzspannung zwischen dem Ferminiveau und dem Intrinsic-Ferminiveau. N die Dotierungskonzentration und £/ die elementare Ladung eines Elektrons ist.of the gate electrodes of the transistors, V "is equal to the sum of the voltage between the source electrode and the substrate of the transistor T 00 and the voltage between the drain electrode and the substrate of the transistor T 0 ', <I> F die Difference voltage between the Fermi level and the intrinsic Fermi level. N is the doping concentration and £ / is the elemental charge of an electron.

1010

Die in den Ausführungsformen verwendeten Schieberegister sind mit Feldeffekttransistoren ausgeführt. Es leuchtet ein, daß die Schieberegister z. B. auch auf die in der niederländischen Offenlegungsschrift 71 14 770 beschriebene Weise ausgeführt sein können. Auch können die Schieberegister auf die z. B. in »Electronics« vom 21. Juni 1971, S. 50 bis 59, beschriebene Weise ausgeführt sein.The shift registers used in the embodiments are implemented with field effect transistors. It is clear that the shift register z. B. also on the in the Dutch patent application 71 14 770 described manner can be carried out. The shift registers can also access the z. B. in "Electronics" from June 21, 1971, pp. 50 to 59, be carried out as described.

Hierzu 3 Blatt ZeichnungenFor this purpose 3 sheets of drawings

33

Claims (3)

Kapazitäten eines Speicherelementes über einen L; Patentansprüche: dungsubertragungskreis mit der Kapazität eines fo -»enden Speicherelementes gekoppelt ist und diCapacities of a storage element over an L; Claims: transmission transmission circuit is coupled to the capacity of a fo - »ending storage element and di 1. Transversalfilter, das eine Reihe von Spei- Taktimpulse den Steuerelektroden der Speichereh cberelemenien mit je einer Kapazität und einer 5 mente zur Steuerung der Ladungsübertragung zw Steuerelektrode enthält, bei dem jede der Kapa- sch- den über die genannten überladekreise miteir zrtäten eines Speicherelementes über einen La- ander gekoppelten kapaataten zugeführt werder dungsübertrasungskreis mit der Kapazität eines und mindestens eine Anzahl nicht nebtaeinandei folgendenSpe"ichere!ementes gekoppelt ist und die liegender Speicherstufen über einstellbare Gewichts Taktimpulse den Steuerelektroden der Speicher- io faktoren mit einer Addiervorncntung gekoppelt sine elemente zur Steuerung der Ladungsübertraaung die die in den Speicherelementen jeweils über einen de zwischen den über die genannten Oberladekreise Vorschubperiode entsprechenden Zeitabstand weiter miteinander gekoppelten Kapazitäten zugeführt geschobenen Signale addiert und die einstellbar« werden, und mindestens eine Anzahl nicht neben- Gewichtsfaktoren durch Stromteilervornchtungen mi einanderhegender Speicherofen über einsteil- i5 einem Stromeingang und zwei Stromausgangen unte; bare Gewichtsfaktoren mit einer Addiervorrich- Verwendung eines Feldeffekttransistors und eine: tuna gekoppelt sind, die die in den Speicherele- hochohmigen Widerstandes realisiert sind,
menten jeweils über einen der Vorschubperiode Em Transversalfilter mit derartigen Stromteiler-
1. Transversal filter which contains a series of storage clock pulses to the control electrodes of the storage elements, each with a capacity and a 5 element to control the charge transfer between the control electrode, in which each of the capacities is transferred via the above-mentioned overload circuits to a storage element a country-coupled capacitors are fed to the transmission transfer circuit with the capacity of one and at least a number not next to each other in the following memory elements and the lying memory stages are coupled to the control electrodes of the memory factors with an adding element for controlling the Charge transfer which adds the signals fed in the storage elements over a respective time interval between the capacitances further coupled to one another via the above-mentioned upper charge circuit feed period and which are adjustable, and at least one A number of non-additional weighting factors through flow divider devices with interconnected storage stoves via one part i 5 one current input and two current outputs below; bare weighting factors are coupled with an adder using a field effect transistor and a tuna, which are implemented in the memory element high-ohmic resistance,
elements each over one of the feed period Em transversal filter with such current divider
entsprechenden Zeitabstand weitergeschobenen vorrichtungen ist aus »I.E.E.E. Transactions on Si,aiale addiert, und die einstellbaren Gewichts- 20 Communication Technology«, Februar 1970, S. 6, faktoren durch Stromteiiervorrichtungen mit Fig. I. und S. 9, Fig. 8, bekannt. In diesem be- eiaem Stromeingang und zwei Stromausaänsen kannten Transversalfilter werden mit Hilfe der verunter Verwendung eines Feldeffekttransistors und wendeten Stromteilerschaltungen die Spannungen an eines hochohmigen Widerstandes realisiert sind, den Anzapfungen des Filters gemessen, und diese dadurch gekennzeichnet, daß die *s Spannungen werden mit Hilfe der mit den Stromein-Stromteilervorrichtungen (I, II. III) unter Ver- gangen der Stromteilerschaltungen verbundenen meidung der für die Schaltungsintegration schwer Widerstände in Ströme verwandelt. Die genannten realisierbaren hochohmigen Widerstände jeweils Widerstände haben einen großen Widerstandswert, zwei Feldeffekttransistoren (T00-T41) enthalten, sj duß die bekannten Stromteilerschaltungen nicht deren Source-EIektrode mit dem Stromeingang 30 geeignet sind für Integration in einem Halbleiterder Stromteiiervorrichtungen und deren Drain- körper.The corresponding time interval for devices is known from "IEEE Transactions on Si, aiale added, and the adjustable weight 20 Communication Technology", February 1970, p. 6, factors through flow dividing devices with FIG. 1 and p. 9, FIG . In this known current input and two current outputs, the taps of the filter are measured with the help of the taps of the filter using a field effect transistor and applied current divider circuits, and these are characterized by the fact that the voltages are measured with the aid the avoidance associated with the current-in-current divider devices (I, II. III) in the past of the current divider circuits, which converts resistances into currents, which are difficult for circuit integration. The above realizable high-resistance resistors each have a high resistance value, contain two field effect transistors (T 00 -T 41 ), so the known current divider circuits do not have their source electrode with the current input 30 suitable for integration in a semiconductor of the current dividing devices and their drain bodies . Elektroden jeweils mit einem Stromausgang der Weiter ist in den bekannten StromteilerschaltungenElectrodes each with a current output of the next is in the known current divider circuits Stromteiiervorrichtungen verbunden sind und die die Impedanz an der Drainelektrode des Feldeffektbeiden Steuerelektroden der Feldeffekttransistoren transistors abhängig von der Spannung am Abzweigdie die Stromteilung bestimmende Steuerspannung 35 punkt des genannten Widerstandes. Dies wird vererhalten. ursacht durch die Tatsache, daß in der bekanntenCurrent dividing devices are connected and both the impedance at the drain electrode of the field effect The control electrodes of the field effect transistors depend on the voltage at the branch the current division determining control voltage 35 point of said resistor. This will cease. caused by the fact that in the known
2. Transversalfilter nach Anspruch I, dadurch Stromteilerschaltung die Kombination eines Widergekennzeichnet, daß in mindestens einer Anzahl Standes und eines Feldeffekttransistors verwendet Stromteiiervorrichtungen (I. II) parallel zu den wird. Hierdurch ist der Gesamtstrom durch den mit Source-Drain-Strecken der Transistoren 1T01, T41I 40 dem Stromeingang der Stromteilerschaltung verbundie Source-Drain-Strecke eines zusätzlichen Feld- denen Widerstand abhängig von der genannten Spaneffekttransistors 17,, T,'> angebracht ist. dessen nung und damit auch die Gewichtsfaktoren des TransGate-Elektrode mit dem Stromeingang der be- versalfilters, wodurch eine Verzerrung des Signals treffenden Stromteilervorrichtung (I. II) verbun- auftritt.2. transversal filter according to claim I, characterized in that the current divider circuit is the combination of a reflection that in at least a number of state and a field effect transistor is used Stromteiiervorrichtungen (I. II) in parallel to the. As a result, the total current through the source-drain path of an additional field resistor connected to the source-drain path of the transistors 1T 01 , T 41 I 40 to the current input of the current divider circuit is attached depending on the mentioned chip effect transistor 17 ,, T, '> is. its voltage and thus also the weighting factors of the TransGate electrode are connected to the current input of the general filter, as a result of which a distortion of the current divider device (I. II) affecting the signal occurs. den ist. 45 Aufgabe der Erfindung ist es, ein Transversalfilterthat is. 45 The object of the invention is to provide a transversal filter 3. Transversalfilter nach Anspruch 1 oder 2. anzugeben, das leicht integriert werden kann und bei dadurch gekennzeichnet, daß die Addiervorrich- dem die Gewichtsfaktoren nicht von der Ausgangstung (S. V) zwei Differenzverstärker (A. B) ent- spannung der Speicherelemente beeinflußt werden, hält, die je zwei Eingänge und einen Ausgang (A". Y) so daß die Signalverzerrungen minimal gehalten aufweisen, wobei ein Eingang jedes der Differenz- 50 werden. Diese Aufgabe löst die Erfindung dadurch, verstärker (A. B) mit einem Punkt konstanten daß die Stromteilervorrichtung unter Vermeidung Potentials verbunden ist, während die anderen der für die Schaltungsintegration schwer realisier-Eingänge mit den Stromausgängen (c. b) der baren hochohmigen Widerstände jeweils zwei FeId-Stromteilervorrichtungen verbunden sind, wobei effekttransistore,. enthalten, deren Source-EIektrode zwischen dem Ausgang (A'. K) und dem mit einem 55 mit dem Stromeingang der Stromteiiervorrichtungen Stromausgang der Stromteilervorrichtung verbun- und deren Drain-Elektroden jeweils mit einem Stromdenen Eingang jedes der Differenzverstärker eine ausgang der Stromteiiervorrichtungen verbunden Kapazität (C^. Cn) angebracht ist, die einen Kapa- sind und die beiden Steuerelektroden der Feldeffektzitätswert aufweist, der größer als der Kapazitäts- transistoren die die Stromteilung bestimmende Steuerwert der Speicherkapazitäten ist. 60 spannung erhalten. 3. Transversal filter according to claim 1 or 2, which can be easily integrated and is characterized in that the adding device does not affect the weighting factors from the output (S. V) two differential amplifiers (A. B) relaxation of the storage elements each of the two inputs and one output (A ". Y) so that the signal distortion is kept to a minimum, with one input of each of the difference 50. This object is achieved by the invention by providing amplifier (A. B) with a Point constant that the current divider device is connected while avoiding potential, while the other inputs, which are difficult to implement for circuit integration , are connected to the current outputs (c. B) of the baren high-ohmic resistors two field current divider devices, with effect transistors containing their source -EI electrode between the output (A '. K) and that with a 55 with the current input of the Stromteiiervorrichtungen current output of the Stromtei device connected and their drain electrodes each connected to a current to the input of each of the differential amplifiers an output of the current dividing devices capacitance (C ^. C n ) is attached, which have a capacitance and the two control electrodes have the field effect value which is greater than that of the capacitance transistors, the control value of the storage capacitances which determines the current division. 60 voltage received. Einige Ausführungsformen der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt und werden im folgenden näher beschrieben. Es zeigtSome embodiments of the invention are shown in the drawing and are described below described in more detail. It shows Fig. 1 eine erste Ausführungsform des Trans-65 versalfilters nach der Erfindung,Fig. 1 shows a first embodiment of the Trans-65 versalfilters according to the invention, Die Erfindung betrifft ein Transversalfilter, das eine F i g. 2 ein Spannungsdiagramm zur ErläuterungThe invention relates to a transversal filter that has a F i g. 2 is a voltage diagram for explanation Reihe von Speicherelementen mit je einer Kapazität der Wirkungsweise dieses Transversalfilters,
und einer Steuerelektrode enthält, bei dem jede der F i g. 3 eine zweite Ausfuhrungsform,
Row of storage elements, each with a capacity of the mode of operation of this transversal filter,
and a control electrode in which each of the F i g. 3 a second embodiment,
DE19732304005 1972-02-17 1973-01-27 Transversal filter Expired DE2304005C3 (en)

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NL7202070A NL7202070A (en) 1972-02-17 1972-02-17
NL7202070 1972-02-17

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Publication Number Publication Date
DE2304005A1 DE2304005A1 (en) 1973-08-23
DE2304005B2 DE2304005B2 (en) 1976-01-02
DE2304005C3 true DE2304005C3 (en) 1976-07-29

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