DE224114C

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Publication number: DE224114C
Application number: DENDAT224114D
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Description

KAISERLICHESIMPERIAL

PATENTAMT.PATENT OFFICE.

PATENTSCHRIFTPATENT LETTERING

m 224114 — KLASSE 2\g. GRUPPE m 224114 - CLASS 2 \ g. GROUP

unter Einfluß von Belichtung ändernden Material.material changing under the influence of exposure.

Patentiert im Deutschen Reiche vom 25.JuIi 1909 ab.Patented in the German Empire on July 25, 1909.

Die bisher bekannten Härtemesser für Röntgenstrahlen, soweit sie die Röntgenstrahlen selbst und nicht die sekundären Stromverhältnisse des Induktors zum Ausgangspunkt der Messung machen, lassen lediglich eine subjektive, in der Beurteilung von Helligkeitsunterschieden und Leuchtstärken gipfelnde Ablesung zu. Infolgedessen schließen sie Fehlermöglichkeiten in sich, die sich in der Praxis häufig inThe previously known hardness meters for X-rays, as far as they are the X-rays itself and not the secondary current ratios of the inductor to the starting point of the Make measurements, leave only a subjective, in the assessment of differences in brightness and readings culminating in luminosities. As a result, they eliminate the possibility of errors in itself, which in practice often turns into

ίο unangenehmer Weise bemerkbar machen und den Wunsch nach einem Härtemesser mit objektiver Zeigerablesung entstehen lassen. Diesem Bedürfnis soll der nachstehend beschriebene Härtemesser gerecht werden.ίο noticeable in an unpleasant way and the Let the desire for a durometer with objective pointer reading arise. That need should do justice to the hardness meter described below.

Der Konstruktion des Apparates liegt die bekannte Tatsache zugrunde, daß der elektrische Widerstand des Selens durch die Bestrahlung mittels Röntgenstrahlen herabgesetzt wird. Eine Ausführungsform des Härtemessers ist in der Figur abgebildet. Der Apparat, der zur Benutzung in den Strahlengang gebracht wird, nimmt die Röntgenstrahlen durch ein Diaphragma T auf, worauf sie einen Keil K aus geeignetem Material passieren. Darauf treffen die Strahlen die Selenzelle S, welche mit einer Stromquelle E und. einer Spule A, die etwa in der Art der Drehspulinstrumente mit einem Magneten M zusammenwirkt, in Serie geschaltet ist. Mit dieser Einrichtung ist der Keil K durch B₁ und B_n zwangläufig verbunden. Fallen jetzt Strahlen bestimmter Härte durch die Spitze des Keils K hindurch auf diese Selenzelle S, so wird deren Widerstand herabgesetzt, der Strom von E durchfließt den Anker A, und letzterer dreht sich gemeinsam mit dem Keil K, so daß immer stärkere Partien desselben von den Strahlen getroffen werden. Es tritt somit nach einer bestimmten Drehung der Fall ein, daß die Strahlen so stark im Keil absorbiert werden, daß sie nicht mehr in genügender Weise auf die Selenzelle einzuwirken vermögen. Infolgedessen stellt sich der Anker A und ein mit ihm verbundener Zeiger auf einen Punkt ein, dessen Lage auf einer Skala den Härtegrad der Strahlen anzugeben geeignet ist.The construction of the apparatus is based on the well-known fact that the electrical resistance of selenium is reduced by exposure to X-rays. One embodiment of the durometer is shown in the figure. The apparatus, which is brought into the beam path for use, receives the X-rays through a diaphragm T , whereupon they pass through a wedge K made of suitable material. The rays hit the selenium cell S, which is connected to a power source E and. a coil A , which interacts in the manner of moving-coil instruments with a magnet M, is connected in series. The wedge K is inevitably connected to this device by B ₁ and B _n. If rays of a certain hardness now fall through the tip of the wedge K onto this selenium cell S, its resistance is reduced, the current from E flows through the armature A, and the latter rotates together with the wedge K, so that stronger and stronger parts of it from the Rays are hit. Thus, after a certain rotation, the case occurs that the rays are so strongly absorbed in the wedge that they are no longer able to act sufficiently on the selenium cell. As a result, the armature A and a pointer connected to it adjusts to a point whose position on a scale is suitable to indicate the degree of hardness of the rays.

Die in der Figur abgebildete Ausführungsform läßt sich in mannigfacher Weise abändern. So ist es beispielsweise nicht erforderlich, daß der Körper K eine keilförmige Gestalt besitzt; vielmehr kann er aus Materialien verschieden starker Durchlässigkeit zusammengesetzt sein oder in der Art der »Walterskala« Plättchen verschiedener Stärke enthalten. Ebenso können Selenzelle und Diaphragma drehbar und der Körper K fest angeordnet sein. Ferner läßt sich in der Nähe der Selenzelle ein bei Auftreffen der Strahlen aufleuchtender Leuchtschirm anordnen, so daß der Effekt der Widerstandsverminderung durch das vom Schirm ausgesandte Fluorescenzlicht verstärkt wird. Die Stromquelle E ist zweckmäßig eine auswechselbare Batterie.The embodiment shown in the figure can be modified in many ways. For example, it is not necessary that the body K has a wedge-shaped shape; Rather, it can be composed of materials with different degrees of permeability or, in the manner of the "Walters scale", contain platelets of different thicknesses. Likewise, the selenium cell and the diaphragm can be rotatable and the body K can be arranged in a fixed manner. Furthermore, a luminescent screen which lights up when the rays strike can be arranged in the vicinity of the selenium cell, so that the effect of reducing resistance is intensified by the fluorescent light emitted by the screen. The power source E is expediently a replaceable battery.

Claims

Patent Claims:

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i. Device for measuring the hardness of X-rays by exposure the X-rays on a cell made of selenium or the like, the electrical ones Resistance to exposure

changing material, characterized in that the interaction of the Irradiation caused a change in resistance of the cell with a device whose Radiation permeability changes continuously or discontinuously from place to place, the measure for the radiation hardness emits.

2. durometer according to claim i, characterized characterized in that the change in resistance of the radiation-sensitive cell results in a mutual change in position of Cell and device with variable radiation permeability is caused.

3. durometer according to claim 1, characterized in that the device of variable radiation permeability with a moving coil system inevitably connected which is caused by an electrical flowing through the radiation-sensitive cell Current is set in rotation.

4. durometer according to claim 1, characterized in that the change in resistance the radiation-sensitive cell by the fluorescent light of a light placed between the X-ray tube and the cell The luminescent screen is enlarged.

1 sheet of drawings.