DE2229761A1 - PROCEDURE FOR DETERMINING THE PLANE OF FOC - Google Patents

PROCEDURE FOR DETERMINING THE PLANE OF FOC

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DE2229761A1 DE19722229761 DE2229761A DE2229761A1 DE 2229761 A1 DE2229761 A1 DE 2229761A1 DE 19722229761 DE19722229761 DE 19722229761 DE 2229761 A DE2229761 A DE 2229761A DE 2229761 A1 DE2229761 A1 DE 2229761A1
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    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/34Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Description

ERNST LKITZ QMBHERNST LKITZ QMBH

Unser Zeichen: A 1863/B 2731 633 Wetelar,den. ' T .Our reference: A 1863 / B 2731 633 Wetelar, den. ' T.

Pat Se/GG HMmkmim 1 ^ * Juni Pat Se / GG HMmkmim 1 ^ * June

Verfahren zur Festlegung der SchärfenebeneProcedure for defining the plane of focus

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Festlegung der Schärfenebene eines von einem abbildenden System entworfenen Bildes mit fotoelektrischen Mitteln sowie Einrichtungen zur Durchführung des Verfahrens.The invention relates to a method for defining the focal plane of a system designed by an imaging system Image with photoelectric means and devices for carrying out the method.

Es sind automatische Fokussierungseinrichtungen für optische Systeme bekannt, bei denen ein Bild durch ein optisches System auf einem relativ zu ihm beweglichen Beobachtungsfeld entworfen wird. Verbunden mit dem optischen System ist eine Verschiebeeinrichtung, mit der das Bild auf dem beweglichen Beobachtungsfeld scharf eingestellt wird. Diese Verschiebeeinrichtung wird angesteuert durch die Ausgangssignale zweier auf der gleichen Seite des Beobachtungsfeldes im Abstand voneinander angeordneter fotoelektrischer Empfänger, und zwar derart, daß diese Empfänger auf unterschiedliche, vom optischen System auch während einer Relativbewegung zwischen Bild und System entworfene Strahlenanteile ansprechen, nachdem die Ausgangssignale der Empfänger eine Vergleichsstufe durchlaufen haben. Diese Vergleichsstufe gibt nur bei optimaler Fokussierung des optischen Systems ein maximales Ausgangssignal ab. Ist die Fokussierung nicht optimal, so steuert das entsprechend kleinere Signal die Verschiebeeinrichtung vorzugsweise im Sinne der Signaloptimierung. Im beweglichen Beobachtungsfeld befindet sich ein in definierter Weise bewegbares, mit Aperturen versenenes Bauelement.There are automatic focusing devices for optical systems are known in which an image through an optical System is designed on an observation field that is movable relative to it. Connected to the optical system is a shifting device with which the image is focused on the moving observation field. These Displacement device is controlled by the output signals of two on the same side of the observation field spaced photoelectric receiver, in such a way that these receivers point to different from the optical system even during a relative movement The beam components designed between the image and the system respond after the output signals of the receiver have a Have passed through the comparison stage. This comparison level only emits a maximum output signal when the optical system is optimally focused. The focus isn't optimally, the correspondingly smaller signal controls the displacement device, preferably in terms of signal optimization. In the moving observation field there is a one that can be moved in a defined manner and is provided with apertures Component.

Vorliegender Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die bekannten Einrichtungen so zu verbessern, daß sich durchThe present invention is based on the object of the known To improve facilities so that through

309862/0768309862/0768

A 186-3/B 2731A 186-3 / B 2731

15.6.1972.June 15, 1972.

optimale Anpassung an die Eigenart der als Objekt vorliegenden Bildstrukturen und die fast vollständige Ausnutzung des an der Bilderzeugung beteiligten Lichtes sowohl der Anwendungsbereich für die Fokussiereinrichtung als auch deren Genauigkeit des Schärfenebeneneinfangs vergrößert.optimal adaptation to the characteristics of what is available as an object Image structures and the almost complete utilization of the light involved in image generation are both the area of application for the focusing device as well as its accuracy of the focal plane capture increased.

Gegenstand der Erfindung ist demgemäß ein Verfahren der eingangs genannten Art, das sich dadurch auszeichnet, daß, um Komponenten aller Azimute und Ortsfrequenzen von Bildstrukturen in der Ebene eines Meßfeldes für die Auswertung nutzbar zu machen, im Meßfeld Streustrukturen solcher Breiten und Längen angeordnet werden, daß das im Meßfeld vorhandene Spektrum der Ortsfrequenzen der Streustruktur fast ausschließlich Ortsfrequenzen enthält, die dem bei der Scharfstellung zu optimierenden, durch Pupillenausschnitte aus der Abbildungsapertur repräsentierten Ortsfrequenzbereich entsprechen, und daß der Abstand zwischen abbildendem System und der Meßfeldebene nach Betrag und Richtung verändert wird, bis der Betrag der in der Bildfeldebene erreichten Modulationsübertragungsfunktion des abbildenden Systems in der Meßfeldebene, gemittelt über den durch die Streustrukturen gegebenen Ortsfrequenzbereich, für den an der Messung beteiligten Bildfeldausschnitt maximale Werte annimmt.The invention accordingly relates to a method of the type mentioned at the beginning, which is characterized in that, about components of all azimuths and spatial frequencies of image structures to make it usable for the evaluation in the plane of a measuring field, in the measuring field scattering structures of such widths and lengths are arranged so that the spectrum of spatial frequencies of the scattering structure present in the measuring field is almost contains only spatial frequencies that are to be optimized during focusing, by pupil sections correspond to the spatial frequency range represented from the imaging aperture, and that the distance between the imaging System and the measuring field level is changed according to amount and direction until the amount is reached in the image field level Modulation transfer function of the imaging system in the measuring field level, averaged over the by the Scatter structures given spatial frequency range, maximum values for the image field section involved in the measurement accepts.

Vorteilhafte Ausgestaltungen des Verfahrens sowie Einrichtungen zu seiner Durchführung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet«Advantageous refinements of the method and devices for carrying it out are set out in the subclaims marked «

Die Erfindung ist nachfolgend anhand einer schematischen Zeichnung erläutert»The invention is explained below with reference to a schematic drawing »

Ein zu fokussierendes abbildendes optisches System 1 kann von einem Servoglied 2 zur Fokussierung auf Streustrukturen 3 längs seiner optischen Achse verschoben werden, Das vonAn imaging optical system 1 to be focused can be moved by a servo member 2 for focusing on scattering structures 3 along its optical axis, that of

3Ü9882/07683Ü9882 / 0768

_ Q _ Q

A I863/B 2/T1A I863 / B 2 / T1

1S·6·1972· 2229761 1S 6 1972 2229761

links einfallende, die Information aus der gewünschten Objektebene tragende Licht gelangt durch das System 1 auf die Streustruktur 3» wä.che mittels eines Antriebs 3f vorzugsweise senkrecht zur optischen Achse des Systems 1 bewegbar ist. Dieser Streustruktur 3 sind zwei fotoelektrische Empfänger 4, 5 zugeordnet, die symmetrisch zur optischen Achse liegen und denen Strahlungsanteile aus sich nur unvollständig überdeckenden Flächenelementen der Pupille des Systems 1 getrennt zugeführt werden. Die Ausgangssignale der Empfänger 4, 5 werden nach entsprechender Verstärkung getrennten Eingängen einer Vergleichsstufe 6 zugeführt.Light incident on the left and carrying the information from the desired object plane passes through the system 1 onto the scattering structure 3, which can be moved by means of a drive 3 f, preferably perpendicular to the optical axis of the system 1. This scattering structure 3 is assigned two photoelectric receivers 4, 5 which are symmetrical to the optical axis and to which radiation components from only incompletely overlapping surface elements of the pupil of the system 1 are fed separately. The output signals of the receivers 4, 5 are fed to separate inputs of a comparison stage 6 after appropriate amplification.

In der Vergleichsstufe 6 werden die beiden Signale als Differenz oder Quotient kombiniert derart, daß sich ein von der Schärfendifferenz zwischen Bild und Streustruktur abhängiges Ausgangssignal ergibt« Das Vorzeichen des Ausgangssignals wird durch die Modulation der miteinander verknüpften Signale der Empfänger 4 und 5 mit einem Referenzsignal gewonnen, welches phasenstarr zur Bewegung des Trägers der Streustruktureh 3 vorzugsweise aus dem Steuersignal für den Antrieb 3* gewonnen wird. Dieses Ausgangssignal wird in bekannter Weise zur Steuerung des Abstandes zwischen dem System 1 und der Streustruktur 3 mittels des Servogliedes 2 verwendet.In the comparison stage 6, the two signals are as Difference or quotient combined in such a way that one is dependent on the difference in focus between the image and the scattered structure Output signal results in «The sign of the output signal is due to the modulation of the interlinked signals of the receivers 4 and 5 with a reference signal obtained which phase-locked to the movement of the carrier of the scattering structures 3, preferably from the control signal for the drive 3 * is obtained. This output signal is used in a known manner to control the distance between the system 1 and the spreading structure 3 by means of the servo element 2 used.

Die Funktion der soweit beschriebenen Einrichtung ist folgende: Die scharfzustellende Bildstruktur und die Meßfeldstruktur 3 werden mittels des Antriebs 3' parallel zu ihren Ebenen in Relativbewegung zueinander versetzt. Die sich dann ergebende Amplitude und Phase relativ zur Bewegungsphase der Streustruktur 3 des aus den Signalen der beiden Empfänger 4, 5 gebildeten Signals ist ein Maß für Betrag und Vorzeichen des Abstandes zwischen Bildebene und Hilfsstrukturebene. Fallen beide Ebenen zusammen, so nimmt das Signal in der Vergleichsstufe einen Extremwert an.The function of the device described so far is as follows: the image structure to be focused and the measuring field structure 3 are set in relative movement to one another parallel to their planes by means of the drive 3 '. the The resulting amplitude and phase relative to the movement phase of the scatter structure 3 of the from the signals of two receivers 4, 5 formed signal is a measure of the amount and sign of the distance between the image plane and Auxiliary structure level. If both levels coincide, then it takes the signal in the comparison stage shows an extreme value.

309882/0768309882/0768

A 1863/B 2731A 1863 / B 2731

Selbst Blaze-Effekte, die nur durch Phasenobjekte verursacht werden können und unterschiedliche Intensitäten in den Pupillenteilen zur Folge haben können, werden in der Extremwertfindung weitgehend durch die durch den Antrieb 3' verursachte Modulation in den Wechselsignalen bei der Abtrennung des Gleichlicht-Stromanteiles eliminiert.Even blaze effects caused only by phase objects and different intensities in the pupil parts can result in the Finding extreme values largely through the drive 3 'caused modulation in the alternating signals in the Separation of the constant light current component eliminated.

Anstelle der nach einer zu ihr parallelen Koordinatenrichtung bewegten Strukturebene kann auch eine Anordnung vorgesehen sein, bei welcher diese Ebene nach zwei vorzugsweise zueinander senkrechten Koordinatenrichtungen bewegt wird. In diesem Fall müssen weitere fotoelektrische Empfänger nebst Vergleichsstufe vorhanden sein. Eine solche Anordnung ist sinnvoll, wenn das Objekt Strukturen mit Parallelität zur erstgenannten Koordinatenrichtung aufweist.Instead of the structural plane moved in a coordinate direction parallel to it, an arrangement can also be provided be, in which this plane is moved in two preferably mutually perpendicular coordinate directions. In this case, further photoelectric receivers and a comparison stage must be available. Such an arrangement makes sense if the object has structures that are parallel to the first-mentioned coordinate direction.

Selbstverständlich lassen sich Einrichtungen zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens in verschiedener Weise praktisch einsetzen. So kann das Ausgangssignal der Vergleichsstufe 6 beispielsweise das Scharfstellen bzw. die Entfernungsmessung mit dem Objektiv 1 steuern, oder es kann bei einem Suchvorgang im Raum dafür sorgen, daß bei festeingestelltem Fokus des Systems 1 auf das Meßfeld nur Bilder von Objektelementen geworfen werden, die alle auf einer Kurve gleicher Entfernung liegen.It goes without saying that devices for carrying out the method according to the invention can be used in various ways use in practice. So the output signal of the comparison stage 6, for example, control the focusing or the distance measurement with the lens 1, or it can When searching in the room, ensure that with a fixed Focus of the system 1 on the measuring field only images of object elements are thrown, all on a curve the same distance.

Die Streustruktur ist zur optimalen Ausnutzung des Bildlichtflusses vorzugsweise eine nicht absorbierende Phasenstruktur mit einem Phasenhub von — für den spektralen Schwerpunkt des abbildenden Lichtes. Die Summe der Flächenanteile, die die Strahlung im Sinne einer Phasenvoreilung beeinflussen, wird dabei vorzugsweise gleich der Summe der Flächenanteile gewählt, welche die Strahlung im Sinne einer Phasenverzögerung beeinflussen, um durch Interferenz direkt durch die Streustruktur ungestreut durchtretendes Licht auszulöschen.The scatter structure is for optimal use of the image light flow preferably a non-absorbing phase structure with a phase deviation of - for the spectral focus of the imaging light. The sum of the area proportions that influence the radiation in terms of a phase advance, is preferably chosen to be equal to the sum of the surface fractions which the radiation in the sense of a phase delay influence in order to extinguish light which passes through the scattering structure directly through interference.

-5--5-

309882/0768309882/0768

Claims (1)

A T863/B 2731A T863 / B 2731 15.6.1972·June 15, 1972 AnsprücheExpectations Verfahren zur fotoelektrxschen Festlegung der Schärfenebene eines von einem abbildenden System entworfenen Bildes, dadurch gekennzeichnet, daß, um Komponenten aller Azimute und Ortsfrequenzen von Bildstrukturen in der Ebene eines Meßfeldes für die Auswertung nutzbar zu machen, im Meßfeld Streustrukturen (3) solcher Breiten und Längen angeordnet werden, daß das im Meßfeld vorhandene Spektrum der Ortsfi'equenzea der Streustruktur fast ausschließlich Ortsfrequenzen enthält, die dem bei der Scharfstellung zu optimierenden, durch Pupillenausschnitte aus der Abbildungsapertür repräsentierten Ortsfrequenzbereich entsprechen, und daß der Abstand zwischen abbildendem System (1) und der Meßfeldebene nach Betrag und Richtung verändert wird, bis der Betrag der in der Bildfeldebene erreichten Modulationsübertragungsfunktion des abbildenden Systems (i) in der Meßfeldebene, gemittelt über den durch die Streustrukturen gegebenen Ortsfrequenzbereich, für den an der Messung beteiligten Bildfeldausschnitt maximale Werte annimmt·Process for the photoelectrical definition of the focal plane an image designed by an imaging system, characterized in that, around components of all azimuths and spatial frequencies of image structures to make them usable for the evaluation in the plane of a measurement field, in the measurement field scatter structures (3) such Latitudes and lengths are arranged so that the spectrum of the spatial sequence of the scatter structure present in the measuring field almost exclusively contains spatial frequencies that are to be optimized during focusing Represented pupil sections from the imaging aperture Spatial frequency range correspond, and that the distance between the imaging system (1) and the measuring field plane is changed according to amount and direction until the amount of the modulation transfer function reached in the image field plane of the imaging system (i) in the measuring field plane, averaged over the area caused by the scattering structures given spatial frequency range, maximum values for the image field section involved in the measurement accepts 2ο Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in an sich bekannter Weise in der Bildebene oder in einer zu ihr konjugierten Ebene ein Meßfeld definiert wird, dessen Abmessungen ausreichend klein sind, um ein Objektdetail abzutrennen, welches optimal fokussiert in die Ebene des Meßfeldes abgebildet wird.2ο method according to claim 1, characterized in that a measurement field is defined in a manner known per se in the image plane or in a plane conjugate to it whose dimensions are sufficiently small to separate an object detail which focuses optimally is mapped into the plane of the measuring field. 3. Verfahren nach Anspruch 1 und 2, bei dem aus der Pupille des zu fokussierendeη abbildenden Systems paarweise symmetrisch zur optischen Achse des abbildenden Systems liegende, nur unvollständig sich überdeckenden Flächenelementen zugeordnete Strahlungsanteile entweder gleichzeitig zwei gleichwertigen fotoelektrischen Umformern geometrisch zugeführt werden, oder bei dem die Zuführung3. The method according to claim 1 and 2, wherein from the pupil of the imaging system to be focussed in pairs symmetrical to the optical axis of the imaging system, only incompletely overlapping surface elements assigned radiation components either two equivalent photoelectric converters at the same time be fed geometrically, or in which the feed 309882/0768 ~6~309882/0768 ~ 6 ~ A 1863/B 2731A 1863 / B 2731 15.6.1972.June 15, 1972. 22237612223761 der Strahlungsanteile wechselweise nacheinander zu einem einzigen fotoelektrischen Umformer erfolgt, dadurch gekennzeichnet, daß die scharfzustellende Bildstruktur und die Meßfeldstruktur (3) in einer oder zwei parallel zu ihren Ebenen liegenden Koordinatenrichtungen in Relativbewegung zueinander versetzt werden und daß die Amplitude des Differenz- oder Quotientensignals zwischen den beiden Umformern (4, 5) oder der wechselweisen Signalfolge aus dem einen Empfänger als Maß für den Betrag des Abstandes zwischen Bildebene und Ebene des Meßfeldes ausgewertet wird und daß das Vorzeichen des Abstandes durch die phasenbezogene Modulation zwischen einem mit der Relativbewegung gekoppelten Referenzsignal und den verknüpften Meßsignalen gewonnen wird.the radiation components take place alternately one after the other to a single photoelectric converter, thereby characterized in that the image structure to be focused and the measuring field structure (3) in one or two coordinate directions lying parallel to their planes are offset in relative movement to one another and that the amplitude of the difference or quotient signal between the two converters (4, 5) or the alternating signal sequence from the one receiver as a measure of the amount of the distance between the image plane and plane of the measuring field is evaluated and that the sign of the distance by the phase-related Modulation between a reference signal coupled with the relative movement and the linked measurement signals is won. Verfahren nach Anspruch 3» bei dem der Ortsfreqüenzbereich, auf den sich die Messung bezieht, und der Bereich der Relativgeschwindigkeiten zwischen Bildebene und Meßfeld beschränkt ist, dadurch gekennzeichnet, daß der Signalfrequenzbereich derart eingeschränkt ist, daß ein Signalfrequenzfilter mit seinen phasendrehenden Bandkanten noch ausreichend weit entfernt von dem durch den korrespondierenden Ortsfrequenzbereich gegebenen Nutzsignalspektralbereich liegt, um phasenrichtige Differenz- oder Quotientenbildung zu gewährleisten.Method according to Claim 3 »in which the local frequency range, to which the measurement relates and the range of relative speeds between the image plane and measuring field is limited, characterized in that the signal frequency range is limited such that a signal frequency filter with its phase shifting Band edges are still sufficiently far removed from that given by the corresponding spatial frequency range Useful signal spectral range is to ensure phase-correct difference or quotient formation. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis k, dadurch gekennzeichnet, daß zur besseren Abtrennung der elektrischen Meßsignale von Stürsignalkomponenten und zur Gewinnung des Vorzeichens der Ablage diese Meßsignale elektrisch mit einem aus den jeweiligen Paaren von Umformersignalen gewonnenen Summensignal kreuzkorreliert werden, wobei mittels weiterer fotoelektrischer Umformer zu dem Summenmeßsignal ein zusätzliches Gegentaktsignal gewonnen wird, welches in Differenz zum Summenmeßsignal geschaltet wird,Method according to claims 1 to k, characterized in that, for better separation of the electrical measurement signals from the storm signal components and to obtain the sign of the storage, these measurement signals are electrically cross-correlated with a sum signal obtained from the respective pairs of converter signals, with the help of further photoelectric converters to the Sum measurement signal an additional push-pull signal is obtained, which is switched in difference to the sum measurement signal, -7--7- 309882/0768309882/0768 A T863/B 2731A T863 / B 2731 15.6.1972.June 15, 1972. und daß dann das resultierende Signal einer Vergleichsstufe (6) als Referenzsignal zugeführt wird. and that the resulting signal is then fed to a comparison stage (6) as a reference signal. 6. Verfahren nach Anspruch 5t dadurch gekennzeichnet, daß bei Vorliegen von Phasenstrukturen der HilfsStruktur (3) das zusätzliche Gegentaktsignal bei Einschränkung der wirksamen Pupillenflächen durch Ausnutzung getrennter, vorzugsweise nicht überlappender Beugungswinke lbereiche durch die PhasensjncxKRgK zwischen verschiedenen BeugungsOrdnungen gewonnen wird.6. The method according to claim 5t, characterized in that if there are phase structures of the auxiliary structure (3), the additional push-pull signal in the case of restriction of the effective pupil areas by utilizing separate, preferably non-overlapping diffraction angle ranges through the phase syncxKRgK between different ones Diffraction orders is obtained. 7· Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß, falls die Verwendung eines Objektivs (1) zur Erreichung eines für die Tiefenauflösung noch ausreichenden ÖffnungsVerhältnisses aus besonderen Gründen nicht möglich ist, die Messung in bereits vorgeschlagener Weise auf zwei oder vier identische, mit einer festen Basis zueinander angeordnete Objektive verteilt wird, die den Pupillenausschnitten "bei Erzeugung eines Mischbildes aus mindestens zwei Teilbildfeldern entsprechen.7 · Method according to one of the preceding claims, characterized characterized in that, if the use of an objective (1) to achieve one for the depth resolution due to special reasons, the measurement in already proposed in two or four identical, with a fixed base to each other Lenses are distributed that cut out the pupil "correspond when generating a mixed image from at least two sub-image fields. 8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß in an sich bekannter Weise unter Verwendung eines vom Meßsignal gespeisten Servoantriebs (2) bei einem Suchvorgang im Raum auf das Meßfeld Bilder von Objektelementen geworfen werden, die alle auf einer Kurve gleicher Entfernung liegen, wobei in den abgetasteten Raum bis zu Entfernungen, die sehr groß gegenüber der Brennweite des abbildenden Systems sind, Schnittlinien auf Flächen gleicher Entfernung gelegt werden.8. The method according to any one of the preceding claims, characterized characterized in that in a manner known per se using a servo drive fed by the measurement signal (2) When searching in space, images of object elements are thrown onto the measuring field, which all lie on a curve of equal distance, being in the scanned space up to distances that are very are large compared to the focal length of the imaging system, intersection lines on surfaces of equal distance be placed. 9» Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß bei Verwendung von Streustrukturen (3) in Form von ein- oder zweidimensionalen9 »Device for carrying out the method according to claim 5, characterized in that when using scattering structures (3) in the form of one- or two-dimensional 309882/0768309882/0768 A 1863/B 2731A 1863 / B 2731 15.6.1972. 2229761June 15, 1972. 2229761 Gitterstruktureη mit sehr ausgeprägter Grundfrequenz als Vergleioher (6) in an sich bekannter Weise ein phasenempfindlicher Gleichrichter verwendet wird, der durch ein aus der gleichen Hilfsgitterstruktur abgeleitetes, seiner Ortsfrequenz entsprechendes Hilfssignal angesteuert wird.Grid structure with a very pronounced fundamental frequency a phase-sensitive rectifier is used as a comparator (6) in a manner known per se, which by an auxiliary signal derived from the same auxiliary grid structure and corresponding to its spatial frequency is controlled. 10. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß dem Objektiv zur Übertragung der hohen Ortsfrequenzen eine Blende zugeordnet ist, welche zur optischen Achse symmetrisch liegende Paare von Kreiszweiecken untereinander gleicher Größe als Durchlässe aufweist, deren Radien dem Radius der Kreisscheibe entsprechen und sich an deren Umfang anschmiegen. 10. Device for performing the method according to claim 1, characterized in that the lens for transmission A diaphragm is assigned to the high spatial frequencies, which is symmetrical to the optical axis Pairs of circular triangles with one another of the same size as passages, the radii of which correspond to the radius of the Corresponding to circular disc and cling to its circumference. 11. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Streustrukturen (3) im Meßfeld Phasenstrukturen sind, die in ihrer Phasenverschiebung mit effektiv r· an den Wellenlängenschwerpunkt des abbildenden Lichtes angepaßt sind und daß die um — phasenschiebenden Flächenanteile etwa 50$ des Meßfeldes ausmachen.11. Device for performing the method according to claim 1, characterized in that the scattering structures (3) in the measuring field are phase structures whose phase shift with effectively r · are adapted to the wavelength center of gravity of the imaging light and that the phase-shifting area shares around $ 50 of the measuring field. 12. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß in bekannter Weise mit einem vom Servoantrieb bewegten Bauteil eine Ausgabevorrichtung für den Entfernungsmeßwert des angemessenen Objektes verbunden ist.12. Device for performing the method according to one of claims 1 to 8, characterized in that in In a known manner, with a component moved by the servo drive, an output device for the measured distance value of the appropriate object. 309882/0768309882/0768
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2437282A1 (en) * 1974-08-02 1976-02-12 Leitz Ernst Gmbh Focusing device esp. for reflex cameras - with adequate photoelectric currents despite weak light and low contrast
DE2436528A1 (en) * 1974-07-29 1976-02-12 Leitz Ernst Gmbh Electro-optical photographic focusser with image scanner - has electronic circuit to produce better matching of components at low light levels

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DE2437282A1 (en) * 1974-08-02 1976-02-12 Leitz Ernst Gmbh Focusing device esp. for reflex cameras - with adequate photoelectric currents despite weak light and low contrast

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