DE2133972C3 - X-ray examination system with adjustable primary and secondary diaphragm - Google Patents
X-ray examination system with adjustable primary and secondary diaphragmInfo
- Publication number
- DE2133972C3 DE2133972C3 DE19712133972 DE2133972A DE2133972C3 DE 2133972 C3 DE2133972 C3 DE 2133972C3 DE 19712133972 DE19712133972 DE 19712133972 DE 2133972 A DE2133972 A DE 2133972A DE 2133972 C3 DE2133972 C3 DE 2133972C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- diaphragm
- primary
- format
- ray
- continuously
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B42/00—Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means
- G03B42/02—Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means using X-rays
Description
gäbe wird hei einem Gerät der eingangs genannten Art erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Nachlaufsteuerung umschaltbar ist und nach Umschaltung bei Verstellung der Primärblende und/oder Änderungen des Abstandes zwischen Primär- und Sekundärblende die Sekundärblende automatisch und kontinuierlich auf den durch die öffnung der Primärblende gegebenen Röntgenstrahlbündelquerschnitt nachstellt, wobei gegebenenfalls vorhandene feste Formateinstellwerte für die Sekundärblende aufgehoben werden.there would be a device of the type mentioned at the beginning Type solved according to the invention in that the follow-up control is switchable and after switching when adjusting the primary diaphragm and / or changing the distance between the primary and secondary diaphragm the secondary diaphragm automatically and continuously on the through the opening of the primary diaphragm readjusts given X-ray beam cross-section, with any existing fixed Format setting values for the secondary aperture are canceled.
Gemäß einer zweckmäßigen Weiterbildung der Erfindung kann bei automatischer Nachstellung der Sekundärblende aufgehobener Formateinstellwert gespeichert bleiben und durch Betätigung einer Drucktaste wieder angefahren werden.According to an expedient development of the invention, with automatic readjustment of the secondary diaphragm canceled format setting value remain stored and by pressing a push button be approached again.
Hierdurch ist es erstmalig möglich, unter Beibehaltung der bei der bekannten automatischen Formateinstellung der Sekundärblende üblichen kontinuierlichen automatischen Nachführung der Primärblende, in allen Zwischenstellungen einwandfreie Bilder zu erreichen, weil nämlich im Zwischenformatbereich, d. h. objektbezogen, nunmehr auch gewährleistet ist, daß sich die Sekundärblende bei Verstellung der Primärblende und auch bei Veränderung des Abstandes zwischen Primär- und Sekundärblende unabhängig von der Richtung, in der diese Änderungen vorgenommen werden, automatisch kontinuierlich nachstellt. Dabei müssen die genannten Mittel derart ausgebildet sein, daß beim Überfahren eines oder mehrerer Formate, dann, wenn die bisher bekannten Formatblockierungen eingebaut sind, diese außer Kraft gesetzt werden.This makes it possible for the first time while maintaining the known automatic format setting the usual continuous automatic tracking of the primary diaphragm, to achieve perfect images in all intermediate positions, because namely in the intermediate format range, d. H. object-related, it is now also guaranteed that the secondary diaphragm when adjusting the Primary diaphragm and also independent when changing the distance between primary and secondary diaphragm automatically continuous from the direction in which these changes are made readjusts. The means mentioned must be designed in such a way that when driving over one or several formats, if the previously known format blockings are built in, these be overridden.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in den und wird nachfolgendAn embodiment of the invention is shown in Figures 4 and 5 below
333SbSST333SbSST
Fig. 1 eine Röntgenuntersuchungseinrichtung imFig. 1 shows an X-ray examination device in
Prinzip,Principle,
F i g. 2 eine Ausführungsform einer Blende,F i g. 2 an embodiment of a diaphragm,
Fig.3 eine Röntgenuntersuchungseinrichtung für3 shows an X-ray examination device for
objektbezogene Einblendung,object-related display,
Fig 4 eine Röntgenuntersuchungscinrichtung für von der Primärblende ist eine dritte Blende H angeordnet, die identisch mit der Sekundärblende 11 ist. Das Röntgenstrahlbündel soll die Sekundärblende 11 geringfügig überdeckend treffen. Das zu untersuchende Objekt 12 befindet sich vor der Objektebene 13. Die im Objekt X2 entstehenden Streustrahlen werden, wie z. B. bei X4 angedeutet, zum Teil von der Betrachtungsebene 10 durch die Sekundärblende 11 abgehalten. Dadurch werden die Bildverschleierung verringert und Bilder mit scharfer Randbegreozung erhalten.4 shows an X-ray examination device for A third diaphragm H, which is identical to the secondary diaphragm 11, is arranged from the primary diaphragm is. The X-ray beam should hit the secondary diaphragm 11 in a slightly overlapping manner. The one to be examined Object 12 is located in front of object plane 13. The scattered rays arising in object X2 become, such as B. indicated at X4, partly from the viewing plane 10 through the secondary diaphragm 11 held. This reduces the image fogging and images with sharp borders obtain.
Eine Ausführungsforro einer Blende S, 6 oder 11 zeigt die Fig.2. Die Blende besteht aus vier Bleiplatten 15, 16,17 und 18, von denen die beiden Bleiplatten 15 und 16 den Röntgenstrahlbündelquerschnitt in der Senkrechten, die beiden Bleiplatten 17 und 18 den Röntgenstrahlbündelquerschnitt in der Waagerechten begrenzen, so daß an der Ausgangsseite dieser Blende ein Röntgenstrahlbündelquerao schnitt 19, an der Eingangsseite dieser Blende der Röntgenstrahlbündelquerschnitt 20, wie tiert in F i g. 2 angedeutet, voriif*?,t. Auf di seite liegt also eine Überdeckung vor, die bei kundärblende 11 möglichst gering sein muß, um »5 randscharfe, gut ausgezeichnete Bilder zu erhalten, die eine verringerte Bildverschleierung aufweisen.An embodiment of a diaphragm S, 6 or 11 is shown in FIG. The cover consists of four lead plates 15, 16, 17 and 18, of which the two lead plates 15 and 16 the X-ray beam cross-section in the vertical, the two lead plates 17 and 18 limit the X-ray beam cross-section in the horizontal so that on the exit side this diaphragm an X-ray beam crossover cut 19, at the entrance side of this diaphragm the X-ray beam cross-section 20, such as tated in Fig. 2 indicated, voriif * ?, t. On tue side is therefore an overlap, which must be as small as possible in the Kundärblende 11 to »Get 5 sharp, excellent images, which have reduced image fogging.
Dvjzu muß die Sekundärblende 11 in Abhängigkeit der Einstellung der Primärblende 7 und gleichzeitig in Abhängigkeit vom Abstand Primärblende 7 zu Sekundärblende 11 kontinuierlich in blendenöffnender oder auch blendenschließenJer Richtung nachgeführt werden.The secondary diaphragm 11 must depend on the setting of the primary diaphragm 7 and at the same time depending on the distance between primary diaphragm 7 and secondary diaphragm 11, continuously in diaphragm opening or also shutter-close can be tracked in each direction.
F i g. 3 zeigt im Prinzip die oben bereits beschriebene objektbezogene Einblendung noch einmal an Hand einer Zeichnung. 1 ist wieder der Flächenstrahler, 7 die Primärblende, 8 und 9 die das Röntgenstrahlbündel in der Senkrechten begrenzenden Röntgenstrahlen, 10 die Betrachtungsebene, 11 die Sekundärblende und 12 das zu untersuchende Objekt. Normalerweise ist die Betrachtungsebene 10 mit dem Bildschirm und die Sekundärblende 11 in einem Zielgerät eingebaut, das hier gestrichelt angedeutet und mit 21 bezeichnet ist. Wie oben bereits ausge-F i g. 3 basically shows the object-related display already described above again Hand of a drawing. 1 is again the surface emitter, 7 the primary diaphragm, 8 and 9 the X-ray beam X-rays delimiting the vertical, 10 the viewing plane, 11 the Secondary diaphragm and 12 the object to be examined. Normally the viewing plane is 10 with the screen and the secondary diaphragm 11 built into a target device, indicated here by dashed lines and is denoted by 21. As already stated above
gg nachgg after
mit zugehörißer Schahungs" with associated shahungs "
TF?g TSaZ 1 der Flächenstrahler (Festanode oder Drehanode), der klaren Darstellung Sdber punktförmig dargestellt, und mit 2 das Ausfri tsfenster einer Röntgenröhre bezeichnet. Die EbSe 3 s die Austrittsebene des Röntgenstrahldels das einen öffnungswinkel, wie bei 4 gezeigt, aufweist, und das zunächst durch eine erste Blende fn seinem Querschnitt begrenzt wird. In der Zeichist nur die Begrenzung in der Senkrechten sieht-TF? G TSaZ 1 of the surface radiator (fixed anode or rotating anode), the clear representation Sdber shown point-like, and with 2 denotes the frying window of an X-ray tube. EbSe 3 s is the exit plane of the X-ray dell which has an opening angle, as shown at 4, and which is initially limited by a first diaphragm fn its cross section. In the drawing, only the vertical limit can be seen-
4545
folgt dif Sekundärblende 11follows dif secondary diaphragm 11
lieh der Änderungse.nstellung ^?^ lent the change position ^? ^
Das Detail im zu untersuchenden Objek .U, das beThe detail in the object to be examined .U, the be
dieser Untersuchung interessieren soll, ist mtBbe zeichnet. Aus dieser Anfang^luMhen« w«d nun das Zielgerät 21 in Richtung des Pfeiles 23 au das Objekt zu gefahren und die EmsteUung J* PrimJ blende 7 unverändert^ gehaltei Wenn ■Jshould be of interest to this investigation, is labeled mtBbe. From this beginning ^ luMhen "w" d now the target device 21 in the direction of the arrow 23 the object to au down and the EmsteUung J * J Prim iris 7 unchanged ^ gehaltei If ■ J
gerat dann in der Stellung 21 befindet, istis then in position 21 is
Röntgenstrahlbündel in Höhe der zweiten Blende Die erste Blende 5 und die zweite Blende 6 sind nahe am Austrittsfenster 2 der Röntgenröhre angeordnet und werden als Primärblende 7 bezeichnet.X-ray beam at the level of the second diaphragm The first diaphragm 5 and the second diaphragm 6 are close arranged on the exit window 2 of the X-ray tube and are referred to as the primary diaphragm 7.
Am Ausgang der Primärblende 7 weist das Röntgenstrahlbündel einen bestimmten öffnungswinkel auf. Die äußeren Strahlen in senkrechter Richtung sind mit 8 und 9 bezeichnet.At the exit of the primary diaphragm 7, the X-ray beam a certain opening angle. The outer rays in a vertical direction are denoted by 8 and 9.
Stand der ^echnik war es nun nicht möglich, daß sich die Sekundärblende 11 kontinuierlich auf den neuen Wert nachstellt. Wie aus Fig.3 klar ersichtlich, ist sie nämlich in der neuen Lage zu weit geöffnet, und die Ränder der auf dem Betrachtungsschirm in der neuen Lage, hier mit W bezeichnet, zu sehenden Bilder sind unscharf. Sie können also nurPrior to the ^ echnik it was not possible that the secondary diaphragm 11 continuously on the readjusts the new value. As can be clearly seen from Figure 3, it is open too wide in the new position, and the edges on the viewing screen in the new position, here designated by W, images to be seen are out of focus. So you can only
ääSmääSm
Strahlbündelquerschnittes weiter begrenzt, d. h. die ein Potentiometer 34. Vom Potentiometer 34 kommt
Sekundärblende 1Γ muß weiter zufahren. wieder der Ist-Wert, in Richtung des Pfeiles 35 der
Eine weitere Untersuchungsart ist in der Fig.4 Soll-Wert, während in Richtung des Pfeiles36 der
gezeigt. Auch hier wird eine Einblendung vorgenom- Steil-Wert läuft Der Soll-Wert ist mit dem Zeichen
men, jedoch ist diese jetzt formatbezogen, d. h. also, 5 Ws beschrieben und am Abgriff des Potentiometers
es besteht die Forderung, in der Ausgangsstellung 34 liegt hier entsprechend wie beim primären Servodes
Zielgerätes 21 und in der anderen Stellung des kreis die Spannung Vs = ka„ wobei as die Öffnung
Zielgerätes 21' müssen die gleichen Formate erhalten der Sekundärblende ist Auch am Potentiometer 34
werden. Wenn in diesem Fall das Zielgerät in Rieh- liegt eine konstante Versorgungsspannung U. In dem
tung des Pfeiles 23 verschoben wird, so muß die Se- io Kasten 37 ist eine Schaltungsanordnung vorhanden,
kundärblende 11, auch in der neuen Lage als Sekun- die eine Quotientenbildung erbringt, nämlich
därblende 11' bezeichnet die gleiche öffnung auf- fc. Us R 3g. eme ^ rf_
weisen. Anders als im Fall der F ι g. .1 bleibt die Se- vFFA &
kundärblende 11' unverändert stehen — In F i g. 3 nung vorhanden, die eine Multiplikation durchführt
ist die Sekundärblende 11' auch noch in der Aus- 15 k UpUFFA. In Richtung des Pfeiles 39 wird eine Größe
gangslage gezeichnet, um deutlich zu machen, um eingegeben, die abgeleitet ist von dem Abstand zwiwelche
Distanz die Sekundärblende 11' zugefahren sehen der Primärblende 7 und der Sekundärblende
werden muß. — Wieder Bezug nehmend auf F i g. 4 11, also damit abgeleitet vom Filmfokusabstand. In
muß also in diesem Fall die Primärblende 7 geöffnet dem Kasten 40 ist eine Schaltungsanordnung vorwerden,
was an sich auch bei den bisher bekannten 20 handen, die praktisch einen Umsetzer enthält, d. h.,
Anordnungen möglich war. Neu ist daher eine Korn- hier wird ein Signal gebildet, das entsprechend kFFA
bination dieser bekannten Einstellung nach Fig.4 ist, und hier wird eine Ausgangsspannung erhalten,
mit der neuen Einstellung nach F i g. 3. Der Vorteil die mit UFFA bezeichnet wird. Diese Ausgangsspander
Einstellung nach F i g. 3 ist beim Vergleich der nung wird an die beiden oben beschriebenen Kästen
F i g. 3 und 4 sofort ersichtlich: 25 37 und 38 in die Schaltungsanordnung eingeführt. An
Bei F i g. 3 bleibt nämlich das interessierende De- der klemme 41 wird eine Spannung UFp angelegt,
tail 22 des Objektes 12, so wie am Anfang als Bild- d. h. eine Spannung zum Festhalten der Primärausschnitt
gewählt auch in der neuen Lage des Ziel- blende, und an der Klemme 42 entsprechend eine
gerätes 21' sichtbar. Spannung UFs entsprechend zum Festhalten der Se-F
i g. 5 zeigt eine mögliche Schaltungsanordnung 30 kundärblende. Sind die beiden Schalter 43 und 44
zur Durchführung oben beschriebener Untersuchun- wie gezeichnet geschaltet, so ist in diesem Fall die
gen im Prinzip. Es sei darauf hingewiesen, daß an Primärblendenöffnung festgehalten, während bei
sich in der Röntgentechnik nicht so sehr der Abstand Änderung des Filmfokusabstandes, also bei Lagezwischen
Primärblende 7 und Sekundärblende 11 als änderung des Zielgerätes 21, die Sekundärblende 11
wichtig erscheint, sondern der Abstand zwischen dem 35 kontinuierlich nachgeführt wird, z. B. für den Fall,
Flächenstrahler 1 und der Betrachtungsebene 10. wie oben an Hand der F i g. 3 erläutert. Die beiden
Hierfür hat sich der Ausdruck Filmfokusabstand Schalter 43 und 44 sind mechanisch verbunden, so
(= FFA) eingebürgert Diese Größe ist nämlich eine daß in dem einen Fall die Sekundärblende und in
Rechengröße, und nach dieser kann auch eine Schal- dem anderen Fall die Primärblende kontinuierlich
tungsanordnung ausgelegt werden. In F i g. 5 sind mit 40 nachlaufen können. Diese Schalter 43 und 44 sind
21 wieder das Zielgerät und mit 24, wie gestrichelt von außen zugängig und vom untersuchenden Arzt
dargestellt, die Röntgenröhrenanordnung bezeichnet. zu bedienen.The beam cross-section is further limited, ie the one potentiometer 34. The secondary diaphragm 1Γ comes from the potentiometer 34 and must continue to close. Again the actual value, in the direction of the arrow 35, the A further type of examination is shown in FIG. Again, a popup is BE DONE steep value passes the target value is men with the character, but this format is based now, ie, described five Ws and at the tap of the potentiometer there is the demand is in the starting position 34 corresponding here As with the primary servode target device 21 and in the other position of the circle the voltage Vs = ka " where a s the opening target device 21 'must have the same formats. If, in this case, the target device is in line with a constant supply voltage U. In the direction of the arrow 23 is shifted, the se- io box 37 is a circuit arrangement available, secondary diaphragm 11, also in the new position as a second The formation of a quotient produces, namely the cover 11 'denotes the same opening on fc . Us R 3g . eme ^ rf _ wise. Unlike in the case of FIG. .1 remains the Se- v FFA &
secondary diaphragm 11 'remain unchanged - In F i g. 3 voltage is available that performs a multiplication, the secondary diaphragm 11 'is also still in the Aus 15 k UpU FFA . In the direction of arrow 39, a size is drawn to make it clear to be entered, which is derived from the distance between the secondary diaphragm 11 'to see the primary diaphragm 7 and the secondary diaphragm must be closed. - Referring again to FIG. 4 11, thus derived from the film focus distance. In this case, therefore, the primary diaphragm 7 must be open and the box 40 must be preceded by a circuit arrangement, which in itself also applies to the previously known 20, which practically contains a converter, that is, arrangements were possible. What is new is therefore a grain - here a signal is formed which corresponds to kFFA in combination with this known setting according to FIG. 4, and an output voltage is obtained here with the new setting according to FIG. 3. The advantage that is referred to as UFFA . This output tensioner setting according to FIG. 3 is when comparing the voltage, the two boxes F i g described above. 3 and 4 immediately apparent: 25 37 and 38 inserted into the circuit arrangement. At At F i g. 3 remains namely the terminal 41 of interest, a voltage U Fp is applied to tail 22 of the object 12, as at the beginning as an image, ie a voltage to hold the primary section selected also in the new position of the target aperture, and on the terminal 42 corresponding to a device 21 'visible. Voltage U Fs corresponding to holding the Se-F i g. 5 shows a possible circuit arrangement 30 secondary diaphragm. If the two switches 43 and 44 are switched as shown for carrying out the above-described examinations, then in this case the conditions are in principle. It should be pointed out that the primary diaphragm opening is maintained, while in X-ray technology it is not so much the change in the film focus distance, i.e. the position between the primary diaphragm 7 and the secondary diaphragm 11 as a change in the target device 21, the secondary diaphragm 11 that appears important, but the distance between the 35 is continuously tracked, for. B. for the case, surface radiator 1 and the viewing plane 10. as above with reference to F i g. 3 explained. The two for this, the expression film focus distance switches 43 and 44 are mechanically linked, so (= FFA) naturalized Primary diaphragm can be designed continuously processing arrangement. In Fig. 5 are able to run after 40. These switches 43 and 44 are 21 again the target device and denoted by 24, as accessible from the outside with dashed lines and shown by the examining doctor, the X-ray tube arrangement. to use.
Im Zielgerät 21 ist die Sekundärblende 11 im festen Es können nun noch — wie oben ausgeführt — zu Abstand zur Betrachtungsebene 10 angeordnet Die dieser Schaltungsanordnung besondere weitere Schal-Primärblende 7 weist in der Röntgenröhrenanord- 45 tungsanordnungen zugefügt werden, die an sich benung 24 einen festen Abstand zum Flächenstrahler 1 kannt sind und eine Speicherung eines Wertes erauf. möglichen, der in einer bestimmten Lage des Ziel-Zur Verstellung der Primärblende 7 ist ein Motor gerätes 21, d. h. bei bestimmtem Filmfor.usabstand, 25 mit vorgeschaltetem Verstärker 26 und einer Ver- gewünscht wird, und zwar wiedergewünscht wird. Bei gleichsstufe ¥1 verbunden. In diese kommt vom 50 Reihenuntersuchungen ist es nämlich manchmal erPotentiometer 28 her der Ist-Wert und in Richtung forderlich, schnell zwischen zwei verschiedenen des PfeÜes 29 der Soll-Wert In Richtung des Pfeiles Fflmfokusabständen zu wählen. Dann kann die 30 wird der Stellwert dem Verstärker 26 zugeführt Schaltungsanordnung so ausgelegt werden, daß für Diese ganze Anordnung ist der sogenannte »Servo- diese beiden Werte eine Drucktaste am Röntgenkreis« für die Primärblende 7 mit der Führungsgröße 55 Untersuchungsgerät eingebaut wird und daß beim Be- Wp. Die Ist-Spannung ist Vp—ka^ wobei O9 die tätigen einer derartigen Taste dieser Wert fest ge-Öffnung der Primärblende ist Am Potentiometer 28 speichert und abrufbereit ist Dabei können an sich liegt eine konstante Versorgungsspannung U. bekannte Schalter verwendet werden, die eine Derselbe Kreis ist in gleicher Weise auch für die Speicherung bei vollem Eindrücken der Taste be-Sekundärblende 11 vorhanden. Auch dort gibt es So wirken und den Abruf bei nur halben Eindrücken einen Motor 31 zur Verstellung der Sekundärblende der Taste in eine sogenannte Vorraststellung ermög-U, einen Verstärker 32, eine Vergleichsstufe 33 und liehen.In the target device 21, the secondary diaphragm 11 is fixed. As explained above, the secondary diaphragm 11 can now be arranged at a distance from the viewing plane 10 Distance to the surface radiator 1 are known and a value is stored. possible, which in a certain position of the target is a motor device 21, that is, at a certain film frame spacing, 25 with an upstream amplifier 26 and a demand is required for adjusting the primary diaphragm 7. Connected at par ¥ 1 . In this, from the 50 series examinations, it is sometimes the actual value that comes from the potentiometer 28 and, in the direction of the arrow 29, the target value must be quickly selected between two different focus distances in the direction of the arrow. Then the 30 is the control value fed to the amplifier 26 - Wp. The actual voltage is Vp-ka ^ where O 9 the actuation of such a button this value is fixed ge-opening of the primary diaphragm is stored on the potentiometer 28 and is ready for use. A constant supply voltage U. known switches can be used The same circle is also available in the same way for storage when the button be-secondary bezel 11 is fully depressed. There, too, there is a motor 31 for adjusting the secondary cover of the button in a so-called pre-latching position, an amplifier 32, a comparison stage 33 and borrowed to enable the retrieval with only half-presses.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings
Claims (2)
dem Markt im Einsatz befindlichen Geräten ergibt Dieser Nachteil wirkt sich besonders stark bei der zusammenfassend folgendes EIiId: sogenannten objektbezogenen Einblendung aus. Hier-The known prior art, such as. B. can be adjusted in the beam, but because of the German Auslegeschriften 1 109 512, 1 192 513, lack of coverage by the not nachstel-1061 177, the U.S. Patents 3 511 995, because of the format recorded, Secun-3 130 313, 3 502 878 and 2 921 202 as well as in the front panel immediately above-mentioned image veiling British patent specification 913 871 as well as from the 50 gene and a blurred image border occur,
This disadvantage has a particularly strong effect on the following EIiId: so-called object-related display. Here-
blende). Für viele Untersuchungen ist es erforderlich, 60 Die Einblendung ist jetzt nur zufällig optimal, den öffnungswinkel des Rönllgenstrahlbündels zu an- wenn die Abstände zum Format passen, d. h., alle dem. Bei diesen Röntgenuntersuchungsaniagen ist es anderen Einblendungen ergeben schlechte Bilder, wie bekannt, z, B. ein Doppelplattenpaar kontinuierlich oben genannt.Simple X-ray examination systems work with the image section being selected only as large as with a radiator whose opening angle of the X-ray is necessary for viewing the object. For gene beam bundles is firmly limited, namely by 55 a certain image section, with a correct initial distance from the object plane to the viewing material, which is impermeable to X-rays, is provided. in the form of plates, rings, etc., the processing level and thus the secondary diaphragm plane are attached to the next higher format of the X-ray tube for on or in the immediate vicinity of the exit window (= single-stage primary and secondary diaphragm setting fixed,
cover). For many examinations it is necessary to adjust the aperture angle of the X-ray beam to the 60 The fade-in is now only accidentally optimal - if the distances match the format, ie, all of them. With these X-ray examination systems, it is other overlays that result in poor images, as is known, e.g. a double plate pair continuously mentioned above.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19712133972 DE2133972C3 (en) | 1971-07-08 | 1971-07-08 | X-ray examination system with adjustable primary and secondary diaphragm |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19712133972 DE2133972C3 (en) | 1971-07-08 | 1971-07-08 | X-ray examination system with adjustable primary and secondary diaphragm |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2133972A1 DE2133972A1 (en) | 1973-01-18 |
DE2133972B2 DE2133972B2 (en) | 1974-06-06 |
DE2133972C3 true DE2133972C3 (en) | 1975-01-09 |
Family
ID=5813017
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19712133972 Expired DE2133972C3 (en) | 1971-07-08 | 1971-07-08 | X-ray examination system with adjustable primary and secondary diaphragm |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2133972C3 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6088538A (en) * | 1983-10-20 | 1985-05-18 | 富士写真フイルム株式会社 | X-ray photographing apparatus |
DE3439471A1 (en) * | 1984-10-27 | 1986-04-30 | MTU Motoren- und Turbinen-Union München GmbH, 8000 München | METHOD AND DEVICE FOR TESTING SINGLE-CRYSTAL OBJECTS |
-
1971
- 1971-07-08 DE DE19712133972 patent/DE2133972C3/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2133972B2 (en) | 1974-06-06 |
DE2133972A1 (en) | 1973-01-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2105259A1 (en) | Device for X-ray photography | |
EP1322143A2 (en) | Method and apparatus for exposure of radiographs | |
EP0415484A2 (en) | X-ray imaging device | |
DE19651722A1 (en) | Automatic exposure setting method for panorama or tomographic radiography device | |
DE102004004630A1 (en) | X-ray equipment | |
EP0794536B1 (en) | X-ray examination apparatus with an x-ray source and an associated diaphragm unit | |
DE2548531C2 (en) | ||
EP0309813B1 (en) | X-ray diagnostic apparatus | |
DE2133972C3 (en) | X-ray examination system with adjustable primary and secondary diaphragm | |
DE2148189A1 (en) | Rangefinder | |
EP0184695B1 (en) | Diaphragm for primary radiation in an x-ray examination apparatus | |
DE2056812C3 (en) | Apparatus for scanning a scanning beam emanating from the earth's surface | |
DE1572642A1 (en) | Laser irradiation device | |
DE2207053C2 (en) | X-ray image intensifier densitometer | |
DE3121176A1 (en) | DEVICE FOR AREA RECORDING OF X-RAY IMAGES | |
DE1572823B2 (en) | OPTICAL APERTURE | |
DE3436866A1 (en) | Diaphragm for X-ray diagnosis equipment | |
DE2627364C2 (en) | Aperture device | |
DE2351473A1 (en) | Exposure control for X-ray system - uses detector in front of film to control contrast about mean setting | |
DE2051872A1 (en) | projector | |
DE1572823C3 (en) | Optical aperture | |
DE19539602A1 (en) | X=ray examination or diagnostic device with two adjustable apertures | |
DE2838248C2 (en) | Movie projection system | |
DE202023103001U1 (en) | Collimator for an X-ray | |
DE2619631A1 (en) | Diagnostic X:ray tube with limited extrafocal radiation - by the use of second light-stop remote from focus and near patient |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |