DE2127007C2

DE2127007C2 - Subsequent step apparatus for measuring the electrical characteristics of electronic components arranged in a plurality of carrier strips

Info

Publication number: DE2127007C2
Application number: DE2127007A
Authority: DE
Inventors: Robert Georges Wintzenheim Reeb
Original assignee: Deutsche ITT Industries GmbH
Current assignee: TDK Micronas GmbH
Priority date: 1970-07-09
Filing date: 1971-06-01
Publication date: 1984-04-05
Also published as: DE2127007A1; FR2101269A5

Description

1515th

2020th

— daß ein Meßkopf (TM) mit je einem Kontaktpaar für jede der Elektioden der einzelnen Bauelemente einer Gruppe von Bauelementen (1,2,3,4) vorgesehen ist,- That a measuring head (TM) with a pair of contacts for each of the electrodes of the individual components of a group of components (1,2,3,4) is provided,

— daß die Apparatur zwei erste mittels eines Kontrollgerätes (50) steuerbare Schalter (5, 6) zweier Schalterpaare (5, 9; 6, 10) aufweist, mit Schallereingängen für jeden der Kontakte an den ersten Elektroden der Bauelemente der Gruppe und jeweils einem Schalterausgang, an den ein Anschluß einer Meßvorrichtung anschaltbar ist,- That the apparatus has two first switches (5, 6) controllable by means of a control device (50) has two pairs of switches (5, 9; 6, 10), with sounder inputs for each of the contacts the first electrodes of the components of the group and one switch output each a connection of a measuring device can be switched on,

— daß die Apparatur ferner zwei zweite mittels des Kontrollgerätes (50) steuerbare Schalter (9, 10) der Schalterpaare (5, 9; 6, 10) aufweist, mit Schaltereingängen für jeden der Kontakte an den zweiten Elektroden der Bauelemente der Gruppe und jeweils einem Schalterausgang, der an den anderen Anschluß der Meßvorrichtung anschaltbar ist, und- That the apparatus also has two second switches (9, 10) of the switch pairs (5, 9; 6, 10), with switch inputs for each of the contacts the second electrodes of the components of the group and each one switch output, the can be connected to the other connection of the measuring device, and

— daß für jedes Bauelement der Gruppe zum Aussortieren defekter Bauelemente ein Auswerfer (EP) vorgesehen ist, der entsprechend dem Vergleich eines vorher eingestellten Grenzwertes der einzelnen Kenndaten mit dem betreffenden von einer der Meßanordnungen (14,16) der Meßvorrichtungen gelieferten Wert der Kenndaten nach dessen Speicherung in je einem Speicher (33, 34, 35, 36) der betreffende Auswerfer (EP) angesteuert wird. - That an ejector (EP) is provided for each component of the group for sorting out defective components, which according to the comparison of a previously set limit value of the individual characteristic data with the relevant value of the characteristic data supplied by one of the measuring arrangements (14,16) of the measuring devices Storage in a respective memory (33, 34, 35, 36) of the relevant ejector (EP) is controlled.

2. Folgeschrittapparatur nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch einen Meßkopf (TM) mit Gleitkontakten aus einer Gold-Platin-Legierung für die Elektroden der Bauelemente.2. subsequent step apparatus according to claim 1, characterized by a measuring head (TM) with sliding contacts made of a gold-platinum alloy for the electrodes of the components.

3. Folgeschrittapparatur nach Anspruch 1 oder 1 V) mit 2, gekennzeichnet3. subsequent step apparatus according to claim 1 or 1 V) with 2, characterized

— durch eine Zählvorrichtung zur Zählung der Auswurfvorgänge,- by a counting device for counting the ejection processes,

— durch eine Vorrichtung zum statischen Auswerten der aussortierten Bauelemente und zum Vergleich der tatsächlichen Ausfallrate mit einer vorher eingestellten Vergleichsrate und- By a device for the static evaluation of the sorted out components and for Comparison of the actual failure rate with a previously set comparison rate and

— durch eine Sicherheitsschaltung, die beim Überschreiten der vorher eingestellten Ver- ω gleichsrate durch die tatsächliche Ausfallrate die Folgeschrittapparatur stoppt.- by a safety circuit that is activated when the previously set ω equal rate through the actual failure rate the subsequent step apparatus stops.

4. Folgeschrittapparatur nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß sowohl die Zählvorrich- ίϊ tung als auch die Vorrichtung zum Vergleich der Ausfallrate mit einer vorher eingestellten Vergleichsrate in Form integrierter Schaltungen ausge4. subsequent step apparatus according to claim 3, characterized in that both the counting device ίϊ device as well as the device for comparing the failure rate with a previously set comparison rate in the form of integrated circuits

45 bildet sind. 45 forms are.

5. Folgeschrittapparatur nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Durchlauf der Gruppen von Bauelementen von einem Schritt zum nächsten von einem mit konstanter Geschwindigkeit angetriebenem Zahnrad bewirkt wird.5. subsequent step apparatus according to one of claims 1 to 4, characterized in that the Iteration of the groups of components from one step to the next from one with constant speed driven gear is effected.

Die Erfindung betrifft eine Folgeschrittapparatur zur Messung der elektrischen Kenndaten von in der Mehrzahl an Trägerstreifen angeordneten elektronischen Bauelementen, gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1. Beispielsweise eignet sich eine derartige Folgeschrittapparatur zum automatischen Messen der Kennwerte von aufgereihten Halbleiterdioden. Eine derartige automatische Meßapparatur, wie sie aus der US-PS 30 92 253 bekannt ist, macht es möglich, die Durchlaß- und die Sperrkennwerte von Dioden bei Arbeitsbedingungen Stück für Stück zu prüfen. Die bekannte Folgeschrittapparatur weist als Auswerfer eine Schneidvorrichtung auf, mit deren Hilfe defekte Bauelemente, welche in der Mehrzahl an einem Band vereinigt sind, aus dem Band durch Ausschneiden aussortiert werden können.The invention relates to a subsequent-step apparatus for measuring the electrical characteristics of electronic components arranged in the plurality of carrier strips, according to the preamble of claim 1. For example, such a subsequent-step apparatus is suitable for automatically measuring the characteristic values of semiconductor diodes in a row. Such automatic measuring apparatus, as is known from US-PS 30 92 253, makes it possible to pass and the barrier characteristics of diodes in working conditions to be checked one by one. The known subsequent step apparatus has a cutting device as an ejector, with the aid of which defective components, which are in the majority united on a tape, can be sorted out from the tape by cutting out.

Aus der DE-AS 10 61 898 ist ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Messung und Sortierung von spannungsabhängigen Widerständen bekannt. Dabei werden unmittelbar nacheinander kurzzeitig mehrere wahlweise einstellbare, konstante Prüfspannungen an den Prüfling gelegt, die sich ergebenden Ströme jeweils mit einem Grenzwert verglichen und die Prüflinge entsprechend dem Vergleich sortiert.From DE-AS 10 61 898 a method and a device for measuring and sorting voltage-dependent Known resistances. Several short-term options are available immediately one after the other adjustable, constant test voltages are applied to the test object, the resulting currents each with compared to a limit value and sorted the test items according to the comparison.

Vorrichtungen der von der Erfindung betroffenen Art enthalten gewöhnlich zwei manuell schaltbare Stromversorgungen. Während die eine Stromversorgung zur Messung der Sperrkennwerte dient, wird die andere zur Messung der Durchlaßkennwerte verwendet. Es ist außerdem möglich, derartige Apparaturen mit einer zusätzlichen Automatik auszurüsten, durch die die Stromversorgung an die vorher ausgerichteten und in Meßposition befindlichen Dioden automatisch angeschaltet wird.Devices of the type concerned by the invention usually contain two manually switchable power supplies. While one power supply is used to measure the locking parameters, the other is used for Measurement of the transmission parameters used. It is also possible to use such apparatus with a to equip additional automation through which the power supply to the previously aligned and in Measuring position located diodes is switched on automatically.

Die bekannten Apparaturen weisen jedoch den Nachteil einer geringen Arbeitsgeschwindigkeit auf. Nachteilig ist auch die Möglichkeit, daß Ausschuß auftritt, wenn die Dioden in falscher Ausrichtung zur Testposition gelangen.The known apparatus, however, have the disadvantage of a slow operating speed. Another disadvantage is the possibility that rejects will occur if the diodes are incorrectly aligned with the Reach test position.

Der Erfindung liegt somit die Aufgabe zugrunde, die Kennwerte von Dioden während der Serienproduktion automatisch mit großer Arbeitsgeschwindigkeit messen und sortieren zu können.The invention is therefore based on the object of determining the characteristic values of diodes during series production to be able to measure and sort automatically at high working speed.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß bei einer Folgeschrittapparatur der im Oberbegriff des Anspruchs 1 genannten Art durch die im kennzeichnenden Teil angegebene Ausbildung gelöst.According to the invention, this object is achieved in a subsequent step apparatus as described in the preamble of the claim 1 is solved by the training specified in the characterizing part.

Die Erfindung wird im folgenden anhand der Beschreibung und der Zeichnung näher erläutert. Es zeigtThe invention is explained in more detail below with reference to the description and the drawing. It shows

Fig.! die grundsätzliche elektrische Schaltung der Diodenmeßapparatur nach der Erfindung undFig.! the basic electrical circuit of the Diode measuring apparatus according to the invention and

F i g. 2 eine perspektivische Ansicht der Apparatur von vorn.F i g. Figure 2 is a front perspective view of the apparatus.

Aus der F i g. 1 ist ersichtlich, daß jeder der 4 /u messenden und mit 1, 2, 3 und 4 bezeichneten Dioden zwei Kontaktpaare zugeordnet sind: ein erstes Paar fürFrom FIG. 1 it can be seen that each of the 4 / u measuring diodes marked 1, 2, 3 and 4 are assigned two pairs of contacts: a first pair for

die Anodenzuleitung und ein zweites Paar für die Kathodenzuleitung. Jedes Kontaktpaar enthält einen Kontakt, der die Elektrode mit einer ersten Stromversorgung verbindet, während der zwehe Kontakt dieselbe Elektrode mit der Meßanordnung verbindet j Bei der Diode 1 beispielsweise vei bindet der erste Kontakt des Kontaktpaares die Anode mit der Stromquelle 15 über die beiden Schalteranordnungen 5 und 7, der zweite Kontakt des Anodenkontaktpaares verbindet dieselbe Elektrode mit der Meßanordnung 16 n> über die Schalter 6 und 8; der erste Kontakt des Kathodenkontaktpaares verbindet die Kathode der Diode 1 mit dem anderen Anschluß der Stromquelle 15 über die Schalter 9 und II, während der weitere Kathodenkontakt die Kathode mit dem anderen Anschluß der Meßanordnung 16 über die Schalter 10 und 12 verbindet. Die gleichen Arbeitsgänge werden in dei Folge für die Dioden 2,3 und 4 wiederholt, wobei die individuelle Testzeit ausreichend bemes'en ist In Abhängigkeit vom Schaltweg sind die vier Dioden :?n entweder über die beiden Schalterpaare 5, 6 und 7, 8 oder über die beiden Schaltorpaare 9, 10 und 11, 12 entweder mit der Stromversorgung 15 und der Meßanordnung 16 oder mit der Stromversorgung 13 und der Meßanordnung 14 verbunden. Die Anschlüsse r> 17 und 18 der Meßanordnungen 14 und 16 sind über die Verbindungen 171 bzw. 181 mit der Schaltung 19 verbunden, die die Meßsignale in kontrollierten Intervallen liefert. Die Stellung der Schalterpaare 5, 6 und 9, 10 ist vom Kontrollgerät 50 abhängig, das über jo den Anschluß 51 mit der Zeitbasisschaltung 20 verbunden ist. Die Zeitbasisschaltung 20 ist über die Verbindungen 201 und 202 mit der Schaltung 19 verbunden. Die Schaltung 20 ist weiterhin mit der Kontrollanordnung 21 verbunden, die ihrerseits mit der Geschwindigkeitskontrolle 22 und mit dem Motor M verbunden ist. Schließlich ist die Zeitbasisschaltung 20 zusätzlich über die Verbindung 203, die bistabile Schaltung B und den Kondensator C mit dem Diodenvorschub verbunden.the anode lead and a second pair for the cathode lead. Each contact pair includes a contact which connects the electrode to a first power supply, while the zwehe contact the same electrode with the measuring arrangement connects j The diode 1, for example vei the first contact of the contact pair binds the anode to the current source 15 via the two switching devices 5 and 7, the second contact of the anode contact pair connects the same electrode with the measuring arrangement 16 n> via the switches 6 and 8; the first contact of the cathode contact pair connects the cathode of the diode 1 to the other connection of the current source 15 via the switches 9 and II, while the further cathode contact connects the cathode to the other connection of the measuring arrangement 16 via the switches 10 and 12. The same operations are repeated in the sequence for the diodes 2, 3 and 4, the individual test time being sufficiently dimensioned. Depending on the switching path, the four diodes are:? N either via the two pairs of switches 5, 6 and 7, 8 or Connected via the two pairs of switches 9, 10 and 11, 12 either to the power supply 15 and the measuring arrangement 16 or to the power supply 13 and the measuring arrangement 14 . The connections r> 17 and 18 of the measuring arrangements 14 and 16 are connected via the connections 171 and 181, respectively, to the circuit 19, which supplies the measuring signals at controlled intervals. The position of the switch pairs 5, 6 and 9, 10 is dependent on the control device 50 , which is connected to the time base circuit 20 via the connection 51. The time base circuit 20 is connected to the circuit 19 via the connections 201 and 202. The circuit 20 is also connected to the control arrangement 21, which in turn is connected to the speed control 22 and to the motor M. Finally, the time base circuit 20 is additionally connected to the diode feeder via the connection 203, the bistable circuit B and the capacitor C.

Jedes der bistabilen Hilfselemente 23, 24, 25, 26 entspricht einer der vier Dioden 1, 2, 3, 4 und enthält zwei Eingänge. Der erste Eingang jedes der bistabilen Hilfselemente 23, 24, 25, 26 ist getrennt mit der Schaltung 19 verbunden, während die zweiten Eingänge « gemeinsam mit der Zeitbasisschaltung 20 verbunden sind. Die Ausgänge der vier Hilfselemente 23,24, 25,26 sind getrennt mit den Eingängen der vier entsprechenden Speicher 33, 34, 35, 36 so verbunden, daß das Hilfselement 23 der Diode 1 entspricht und mit dem Speicher 33 verbunden ist das derselben Diode entspricht. Die Ausgänge der vier Speicher 33,34,35,36 sind mit den Ausgängen der bistabilen Aus^abeschaltungen 43, 44, 45, 46 so verbunden, da der der Diode 1 entsprechende Speicher 33 mit der Ausgabeschaltung 43 verbunden ist, die derselben Diode entspricht. Die Speicher und die Ausgabeschaltungen sind zusätzlich gemeinsam mit der Zeitbasisschaltung über die Verbindung 205 verbunden. Der Ausgang jeder der Ausgabeschaltungen 43,44,45 oder 46 ist getrennt voneinander t>o mit einem der AND-Gatter 53, 54, 55 oder 56 verbunden, so daß die Ausgabeschaltung 43 und das AND-Gatter 53 derselben Diode 1 entsprechen und weiter entsprechend. Die zweiten Eingänge der AND-Gatter 53-56 sind mit der Zeitbasisschaltung 20 über die gemeinsame Verbindung 206 angeschlossen. Die Ausgänge der AND-Gatter 53 — 56 sind entsprechend mit den Kontrollschaltungen von vier pneumatischen Auswerfern verbunden, von denen immer einer auf eine der vier Dioden wirktEach of the bistable auxiliary elements 23, 24, 25, 26 corresponds to one of the four diodes 1, 2, 3, 4 and contains two inputs. The first input of each of the bistable auxiliary elements 23, 24, 25, 26 is connected separately to the circuit 19, while the second inputs are connected to the time base circuit 20 together. The outputs of the four auxiliary elements 23, 24, 25, 26 are separately connected to the inputs of the four corresponding memories 33, 34, 35, 36 so that the auxiliary element 23 corresponds to the diode 1 and is connected to the memory 33 which corresponds to the same diode . The outputs of the four memories 33, 34 , 35, 36 are connected to the outputs of the bistable output circuits 43, 44, 45, 46 so that the memory 33 corresponding to the diode 1 is connected to the output circuit 43, which corresponds to the same diode . The memories and the output circuits are also connected together with the time base circuit via the connection 205. The output of each of the output circuits 43, 44, 45 or 46 is separately t> o connected to one of the AND gates 53, 54, 55 or 56, so that the output circuit 43 and the AND gate 53 correspond to the same diode 1 and on corresponding. The second inputs of the AND gates 53-56 are connected to the time base circuit 20 via the common connection 206. The outputs of the AND gates 53 - 56 are correspondingly connected to the control circuits of four pneumatic ejectors, one of which always acts on one of the four diodes

Im folgenden wird die Arbeitsweise der Meßschaltungen beschrieben. Die vier Dioden werden auf der einen Seite durch die Schalter 5—8 und auf der anderen Seite durch die Schalter 9—12, wie dies in F i g. 1 gezeigt ist mit der jeweiligen Meßschaltung verbunden. Da die Dioden bei der Messung der DurchlaRcharakteristik aufgeheizt werden, wird die Sperrcharakteristik zuerst gemessen. Dementsprechend ist die Quelle für die Sperrspannung mit der Kathode der Diode 1 verbunden und die Prüf- und Meßanordnung 14 führt die Messung für den Diodensperrstrom für jeden Wert der aufgebrachten Diodensperrspannung durch. Aus dem gemessenen Stromwert ergibt sich eine Information, die über die Verbindung 17 zum Eingang 171 der Schaltung 19 gelangt. Die Schaltung 19 ist im Gleichtakt mit der Zeitbasisschaltung 20, die das Signal für den Abschluß der Messung Si an das Kc ntrollgerät 50 liefert. Dieses kontrolliert die Stellung der Schalter 5—12 und schaltet diese so um, daß an der Diode 2 die Messung der Sperrcharakteristik durchgeführt werden kann. Das resultierende Ausgangssignal wandert von der Meßanordnung 14 zu der Schaltung 19 über die Leitung 171. Die Schaltung 19 steht im Gleichtakt mit der das Endsignal S, für die Messung liefernden Zeitbasisschaltung 20. Auf das Signal S2 hin trennt das Kontrollgerät 50 die Kontakte von der Diode 2 und verbindet die Kontakte mit der Diode 3, an der die gleiche Messung wie an den Dioden 1 und 2 vorgenommen wird. Für die Diode 4 wird derselbe Prozeß durchgeführt. Nachdem die Sperrcharakteristik der vier Dioden 1—4 gemessen worden sind, das ist nach dem Auftreten des Signales S₄, erscheint das Zeitintervall D. Bei dem Intervall D handelt es sich um eine Totzeit, die in ihrer Länge der Meßzeit für eine Diode entspricht. Nach der Totzeit D sind die Schalter 5—12 in die zum Messen der Durchlaßcharakteristik notwendige Stellung gebracht. Zuerst wird die Diode 1 gemessen. Die Stromquelle 15 gibt dazu einen Gleichstrom !direkt ab, dem eine durch die Meßanordnung 16 gemessene Gleichspannung V^rcki entspricht. Die von 16 ausgehende Meßinformation wird über den Eingang 181 zur Schaltung 19 geleitet. So wie bei der Sperrspannungsmessung befindet sich die Schaltung 19 im Gleichtakt mit der Zeitbasisschaltung 20, von der ein Meßsignal 5s zum Kontrollgerät 50 geleitet wird, durch das die Schalter die Kontakte mit der Diode 2 verbinden. Nach dem Test der Diode 2 werden die Dioden 3 und 4 in der Folge getestet. Die Messung der Durchlaßcharakteristik der vierten Diode ist mit dem Auftreten des Signals S₈ beendet. Das Ende des Signals S₈ löst ein Verschiebesignal SS aus, das aus der Zeitbasisschaltung 20 stammt und über die Verbindung 205 zu den Speichern 33—36 und zu den bistabilen Ausgabeschaltungen 43—46 geleitet wird. Das Ende des Signals SShat vielfache Wirkungen:The operation of the measuring circuits is described below. The four diodes are switched on one side by switches 5-8 and on the other side by switches 9-12, as shown in FIG. 1 is connected to the respective measuring circuit. Since the diodes are heated up when measuring the transmission characteristic, the blocking characteristic is measured first. Accordingly, the source for the reverse voltage is connected to the cathode of the diode 1 and the test and measurement arrangement 14 carries out the measurement for the diode reverse current for each value of the applied diode reverse voltage. Information is obtained from the measured current value which reaches the input 171 of the circuit 19 via the connection 17. The circuit 19 is in the same mode with the time base circuit 20, which supplies the signal for the completion of the measurement Si to the control device 50. This controls the position of switches 5-12 and switches them over so that the blocking characteristic can be measured on diode 2. The resulting output signal travels from the measuring device 14 to the circuit 19 via the line 171. The circuit 19 is in synchronism with the end signal S 20 for the measurement providing time base circuit to the signal S2 separates out the control apparatus 50, the contacts of the diode 2 and connects the contacts to diode 3, on which the same measurement is made as on diodes 1 and 2. The same process is carried out for the diode 4. After the blocking characteristic of the four diodes 1-4 have been measured, which is after the occurrence of the signal S _4, the time interval D. The interval D is displayed it is a dead time which corresponds in its length of the measurement time for a diode. After the dead time D , the switches 5-12 are brought into the position necessary for measuring the transmission characteristic. First the diode 1 is measured. For this purpose, the current source 15 directly emits a direct current, to which a direct voltage V ^ rcki measured by the measuring arrangement 16 corresponds. The measurement information proceeding from 16 is passed to circuit 19 via input 181. As with the reverse voltage measurement, the circuit 19 is in common mode with the time base circuit 20, from which a measurement signal 5s is passed to the control device 50, through which the switches connect the contacts to the diode 2. After the test of diode 2, diodes 3 and 4 are tested in sequence. The measurement of the forward characteristic of the fourth diode is ended _{when the signal S 8 occurs.} The end of the signal S ₈ triggers a shift signal SS which originates from the time base circuit 20 and is passed via the connection 205 to the memories 33-36 and to the bistable output circuits 43-46 . The end of the signal SS has multiple effects:

a) es startet der nächste Schritt des Diodenvorschubes: der Diodenträgerstreifen bewegt die vier nächsten Dioden zur Meßposition. Das Schrittsignal stammt aus der Zeitbasisschaltung 20 und wird von deren Ausgang 203 über die monostabile Schaltung Sund den Kondensator Czu den an der Führung befindlichen Vorschubmitteln geleitet;a) the next step of the diode advance starts: the diode carrier strip moves the next four diodes to the measuring position. The step signal comes from the time base circuit 20 and is passed from its output 203 via the monostable circuit S and the capacitor C to the feed means located on the guide;

b) es löst die Speicherung der Daten jeder gemessenen Diode aus. Diese Daten sind abgeleitet aus den Informationen, die von den Meßanordnungen 14 und 16 über die Schaltung 19, zu den bistabilenb) it triggers the storage of the data each measured Diode off. These data are derived from the information received from the measuring arrangements 14 and 16 via the circuit 19, to the bistable

Hilfselementen 23—26 gelangt sind und in den Speichern 33—36 gespeichert sind;Auxiliary elements 23-26 have arrived and are stored in the memories 33-36;

c) als ein Folgeergebnis des Verschiebesignals SS startet am Ende der in a) erwähnten Bewegung des Trägerstreifens der Vorgang zum Auswerfen irgendeiner defekten Diode, die sich unter den vier gemessenen Dioden befinden kann;c) as a result of the shift signal SS , at the end of the movement of the carrier strip mentioned in a), the process of ejecting any defective diode which may be among the four measured diodes starts;

d) als weitere Folge des Verschiebesignals 55 am Ende der Bewegung des Trägerstreifens werden die logischen Schaltungen, die in der Reihenfolge 23, 33, 43 oder 24, 34, 44 usw. verbunden sind, in ihre Ausgangsstellung zurückgebracht. Das dazu erforderliche Signal entstammt der Zeitbasisschaltung 20 und wird über deren Ausgang 204 zu jeder der logischen Schaltungen über deren gemeinsame Verbindung zu den Eingängen der Hilfselemente 23-26 geleitet.d) as a further consequence of the displacement signal 55 at the end of the movement of the carrier strip the logic circuits connected in the order 23, 33, 43 or 24, 34, 44, etc., in returned to their original position. The signal required for this comes from the time base circuit 20 and is via its output 204 to each of the logic circuits via their common Connection to the inputs of the auxiliary elements 23-26 passed.

Nach der in d) erwähnten Löschoperation wird der in c) erwähnte eigentliche Auswurfmechanismus durchgeführt. Im Anschluß daran wird nach einer vorher festgelegten Totzeit t_m die erste der nächsten vier Dioden gemessen und der Meßzyklus in der vorher beschriebenen Weise durchgeführt.After the erasing operation mentioned in d), the actual ejection mechanism mentioned in c) is carried out. Following this, after a predetermined dead time t _m, the first of the next four diodes is measured and the measurement cycle is carried out in the manner described above.

In der beschriebenen Darstellung treten die folgenden spezifischen Zeitintervalle auf:The following specific time intervals occur in the representation described:

Meßdauer jeder Diode — 15 msec,
Bewegungsdauer jedes Trägerstreifens — 20 msec, Auswurf fehlerhafter Dioden — 40 msec, Zeitintervall zwischen zwei aufeinanderfolgenden Löschsignalen — 120 msec,Measurement duration of each diode - 15 msec,
Movement time of each carrier strip - 20 msec, ejection of faulty diodes - 40 msec, time interval between two successive erasing signals - 120 msec,

sofern die Dioden nur einem Test, also entweder der Sperrspannungsmessung oder der Gleichstrommessung unterworfen werden und ein Zeitintervall von 180 msec, wenn sowohl die Sperr- als auch die Durchlaßcharakteristik der Dioden gemessen wird. Das Letztere ist beispielsweise auch aus der F i g. 1 zu erkennen.provided that the diodes only undergo a test, i.e. either the reverse voltage measurement or the direct current measurement be subjected and a time interval of 180 msec, when both the blocking and the forward characteristics of the diodes are measured. The latter is for example also from FIG. 1 to recognize.

In der linken unteren Ecke der F i g. 1 sind die Zeiten *o für die Hauptsignale und die weiteren Vorgänge graphisch dargestellt. Dazu befindet sich die Zeitachse in der horizontalen, während in der vertikalen Achsefolgendes dargestellt wird:In the lower left corner of FIG. 1 the times * o for the main signals and the other processes are shown graphically. For this purpose, the time axis is in the horizontal, while the following is shown in the vertical axis:

4545

mit S die von der Schaltung 19 ausgehenden Signale, das sind 51,52,53,54,55,56.57,58..., 5Γ,52',53',54',55',56',57'.._Μ with S the signals emanating from the circuit 19, that is 51,52,53,54,55,56,57,58 ..., 5Γ, 52 ', 53', 54 ', 55', 56 ', 57' .. _Μ

mit 55 die durch die Signalverschiebung entstandemit fdie Dauer des Auswurfvorganges,
mit AMaie Bewegung des Trägerstreifens, und
mit M die Dauer des Meßkontaktes pro Bauelement with 55 the resulting from the signal shift with f the duration of the ejection process,
with AMaie movement of the carrier strip, and
with M the duration of the measuring contact per component

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Wegen der statistischen Daten gestattet die Kontrollapparatur 21 die 4 · 4 Mehrfachschaltung der gemessenen Diode, wobei die Messungen über den Eingang 212 zur Kontrollanordnung 21 gelangen. Zusätzlich ist die Zählung und Speicherung der Auswurfvorgänge möglieh und endlich ein, Vergleich der tatsächlichen Auswurfsrate- mit einer vorher eingegebenen Rate. Sollte die tatsächliche Auswurfrate die vorher eingegebene Grenzrate überschreiten, so stoppt dje Kontrollapparatur über den Ausgang 211 den Motor Mund damit « sämtliche Operationen der Diodenmeßapparatur. Eine derartige Funktion macht es möglich, die Apparatur mit einer Sicherheitsschaltung auszustatten, so daß die Apparatur nicht konstant beobachtet werden muß, aber dennoch das Überschreiten einer vorher eingestellten Ausfallrate bemerkt wird. Es ist damit sichergestellt, daß die Maschine nur solange arbeitet, wie die Ausfallrate unter dem eingestellten Grenzwert liegt. Die Maschine kann dazu mit einem Alarmgerät, beispielsweise einer Glocke oder einem ähnlichen Gerät, das hörbaren oder sichtbaren Alarm gibt, ausgestattet werden, das mit der Kontrollanordnung 21 verbunden ist und bei Stoppen der Maschine in Tätigkeit tritt. Das Stoppen der Maschine kann dadurch auch an anderen Orten angezeigt werden. In der in F i g. 2 gezeigten Folgeschrittapparatur wird der Vorschub mittels eines Zahnrades angetrieben, so daß der Mitnehmer eine konstante Geschwindigkeit von etwa 30 000 Schritten pro Stunde erhält.Because of the statistical data, the control apparatus 21 allows 4 × 4 multiple switching of the measured ones Diode, whereby the measurements reach the control arrangement 21 via the input 212. In addition, the Counting and storage of the ejection processes possible and finally one, comparison of the actual ejection rate with a previously entered rate. Should the actual ejection rate exceed the previously entered limit rate, the control apparatus stops via the output 211 the motor mouth with it « all operations of the diode measuring apparatus. Such a function makes it possible to use the apparatus to equip a safety circuit so that the apparatus does not have to be constantly observed, but nevertheless, the exceeding of a previously set failure rate is noticed. This ensures that the machine only works as long as the failure rate is below the set limit value. The machine can do this with an alarm device, for example a bell or a similar device, the audible or gives a visible alarm, which is connected to the control arrangement 21 and when stopped the machine comes into operation. This means that the machine can also be stopped at other locations are displayed. In the in F i g. 2 the subsequent step apparatus shown is the feed by means of a Gear driven so that the driver has a constant speed of about 30,000 steps per hour.

Die Dioden werden beim Einführen in die Meßapparatur durch einen Streifen getragen. Der Streifen kann beispielsweise aus zwei parallelen klebenden Bändern bestehen. Eines der Bänder trägt in regelmäßigen Abständen die Kathodenanschlüsse der Dioden, während das andere Band an entsprechend festgelegten Punkten die Anodenanschlüsse der Dioden trägt. Der Streifen wird durch die Trägertrommeln Ti, T2, 73. Γ4 und 7"5 angetrieben Während der Messung der Dioden erfolgt der Antrieb durch die Trommel Γ3, an dem Meßkopf befinden sich die Gleitkontakte G; der Auswurf der defekten Dioden wird nach der Messung mittels des Auswurfkopfes TE und vier einzelner pneumatischer Auswerfer, beispielsweise EP durchgeführt. Die ausgesonderten Dioden fallen in einen Behälter R, der unterhalb der Auswerfer angeordnet ist. Am Ausgang der Maschine befinden sich auf den Trommeln TA und T5 nur solche Dioden, die die Kenndatenforderungen erfüllen Der Meßkopf TM ist mit den elektronischen und logischen Teilen der Apparatur verbunden, die sich in der Kontrol!- und Registrierapparatur CC befinden Ar. den Kontakten G des Meßkopfes befinden sich Gleitstückchen aus einer Gold-Platin-Legierung, die als »gosiplat« bekannt ist. Die Verdrahtung des Kopfes schließt die Verbindungen zu diesen Kontakten ein, wobei diese Verbindungen als eine Kelvin-Strombrückenschaltung angeordnet sind.The diodes are carried by a strip when they are inserted into the measuring apparatus. The strip can for example consist of two parallel adhesive tapes. One of the bands carries the cathode connections of the diodes at regular intervals, while the other band carries the anode connections of the diodes at appropriately defined points. The strip is driven by the carrier drums Ti, T2, 73. Γ4 and 7 "5. During the measurement of the diodes, the drive is carried out by the drum Γ3, the sliding contacts G are located on the measuring head; the ejection of the defective diodes is carried out after the measurement by means of of the ejection head TE and four individual pneumatic ejectors, for example EP . The separated diodes fall into a container R, which is arranged below the ejector. At the exit of the machine, only those diodes are on the drums TA and T5 that meet the characteristic data requirements The measuring head TM is connected to the electronic and logical parts of the apparatus, which are located in the control and recording apparatus CC . The contacts G of the measuring head have sliding pieces made of a gold-platinum alloy known as "gosiplat". The wiring of the head includes the connections to these contacts, these connections being called a Kelvin current bridge circuit a are arranged.

Die Vorteile der Vorrichtung liegen in folgenden Punkten:The advantages of the device lie in the following points:

Mit einem Ausführungsbeispiel der Apparatur nach der Erfindung sind folgende Genauigkeiten erreicht worden:With an embodiment of the apparatus according to the invention, the following accuracies are achieved been:

ein kontinuierlich arbeitender Zahnradantrieb erlaubt einen automatischen Vorschub des Streifens auch dann, wenn eine Diode ausgefallen ist,
hohe Geschwindigkeit, so kann man beispielsweise 80 000 Dioden pro Stunde hinsichtlich ihrer Durchlaß- oder ihrer Sperrcharakteristik untersuchen, oder aber beide Charakteristiken von 60 000 Dioden pro Stunde;a continuously working gear drive allows the strip to be fed automatically even if a diode has failed,
high speed, for example 80,000 diodes per hour can be examined with regard to their forward or reverse characteristics, or both characteristics of 60,000 diodes per hour;

Sicherheit der Meßanordnung, die beispielsweise darin liegt, daß Alarm gegeben oder die Messung gestoppt wird, wenn eine voreingestellte Ausfallrate überschritten wird, undSafety of the measuring arrangement, for example in the fact that an alarm is given or the measurement stopped when a preset failure rate is exceeded, and

automatischer Auswurf jedes defekten Bauelementes. ■automatic ejection of every defective component. ■

bei Messung der Dürchlaßcharakteristik ist die '" Spannungsmessung im Bereich von 0 und + 2 V auf ± 1 mV genau, wobei der Strombereich von 10 μπιΑ bis 1 A einstellbar ist, der Strom während 15 msec angelegt wurde und das Resultat nachwhen measuring the conducting characteristic, the voltage measurement is in the range of 0 and + 2 V. ± 1 mV exactly, the current range from 10 μπιΑ to 1 A can be set, the current during 15 msec was applied and the result after

10 msec vorlag;10 msec was present;

bei Messung der Sperrcharakteristik ist der Sperrstroni innerhalb drei Bereiche von 100 nA bis ΙΟμηιΑ mit einer Genauigkeit von etwa 1% innerhalb jedes der Bereiche meßbar, wobei die Sperrspannung kontinuierlich von 10 V bis 150 V mit einem Fehler von 0,5% einstellbar war.when measuring the blocking characteristic, the blocking current is within three ranges from 100 nA to ΙΟμηιΑ with an accuracy of about 1% measurable within each of the ranges, with the reverse voltage continuously from 10V to 150V was adjustable with an error of 0.5%.

Die elektrische Verschaltung der Apparatur ist sowohl im logischen Teil als auch im analogen Teil in vorteilhafter Weise mit integrierten Schaltungen ausführbar. The electrical connection of the apparatus is in both the logical part and the analog part can be carried out advantageously with integrated circuits.

Die Meßgeschwindigkeit der Anordnung ist entsprechend der Zahl der Tests an der in Fig. 1 gezeigten bistabilen Schaltung B einstellbar, die den Vorschub kontrolliert. Darüber hinaus ist mit der Apparatur auch jede andere Messung an auf Streifen aufgereihten Dioden möglich, wie zum Beispiel Messungen an Widerständen, dynamischen Widerständen, Kapazitäten, Schaltzeiten des Hochfrequenzverhaltens usw. Eine entsprechende Stromversorgung und Meßschaltung für jede Messung dieser physikalischen Daten macht es möglich, den mechanischen und logischen Betrieb der Apparatur entsprechend der Erfindung für die Sortierung von Bauelementen mit Hilfe dieser Messungen zu verwenden.The measuring speed of the arrangement can be adjusted according to the number of tests on the bistable circuit B shown in FIG. 1, which controls the advance. In addition, any other measurement on diodes lined up on strips is also possible with the apparatus, such as measurements on resistors, dynamic resistances, capacitances, switching times of the high-frequency behavior, etc. A corresponding power supply and measuring circuit for each measurement of these physical data makes it possible to use the to use mechanical and logical operation of the apparatus according to the invention for sorting components with the aid of these measurements.

Weiterhin ist es möglich, die Apparatur entsprechend der Erfindung zur Messung an irgendeinem BauelementIt is also possible to use the apparatus according to the invention for measurements on any component

ίο mit zwei Elektroden wie beispielsweise Kondensatoren, Widerstände und elektrische Spulen jeder Art zu verwenden, den Anwendungsbereich der Apparatur also auf Messungen an beliebigen elektronischen Bauelementen mit zwei Anschlüssen auszudehnen. Es ist weiterhin möglich, auch andere elektrische oder physikalische Messungen mit dem mechanischen und logischen Teil der Apparatur entsprechend der Erfindung in derselben Weise wie hier für Dioden beschrieben durchzuführen.ίο with two electrodes such as capacitors, Using resistors and electrical coils of any kind is the scope of the apparatus So to extend it to measurements on any electronic components with two connections. It is also possible other electrical or physical measurements with the mechanical and logical part of the apparatus according to the invention in the same way as here for diodes to be carried out as described.

Hierzu 2 Blatt ZeichnungenFor this purpose 2 sheets of drawings

Claims

Patent claims:

1. Subsequent step apparatus for measuring the electrical characteristics of the majority of carrier strips arranged electronic components each with a first and a second electrode, the be contacted by means of contacts of a measuring head, after comparing the characteristics, which are determined by means of measuring devices, with predetermined limit values of the characteristic data for ι ο defective components, the latter being sorted out by means of an ejector, characterized in that