Claims (5)
■■■-'■·■ PATENTANWALT &igr;■■■-'■·■ PATENT ATTORNEY &igr;
NEUE ADRESSE:NEW ADDRESS:
Anmelder· POSTFACH 248 Applicant· PO BOX 248
Anmelder. D-8948 MIHDELHEiM Applicant. D-8948 MIHDELHEiM
NCR Corporation, World Headquarters UNGGENRIED 17 NCR Corporation, World Headquarters UNGGENRIED 17
Daytoh, Ohio TELEPHON (0)8261-3027 Dayton, Ohio PHONE (0)8261-3027
&pgr;&sfgr;&Dgr; FACSIMILE(0)8261-6563 π&sfgr;&Dgr; FACSIMILE(0)8261-6563
. TELEX 522 054 patd. TELEX 522 054 patd
Ihr Zetcrwn/Your R·'· Mein 2eichen/Our Ref. Datum/DaleYour Date/Your R·'· My Ref. Date/Dale
3732/EPC 7. Aug. 19873732/EPC 7 Aug 1987
Europäische Patentanmeldung 86 900 902.7 (0 211 861)European patent application 86 900 902.7 (0 211 861)
P at e nt an sp rü c h e P at e nt claims
1. Testvorrichtung (12) zur Verwendung in einem Dätenübertragungssystem
mit einem Prozessor (14), einer Vielzahl von sekundären Terminals (16-22), und einer Übertragungsleitung
(24), die den Prozessor mit den sekundären Terminals verbindet, wobei die Übertragungsleitung (24) ein Sendeleitungspaar
zum Führen von durch den Prozessor (14) ausgesandten Datensignalen, ein Empfangsleitungspaar zum Führen
von durch den Prozessor (14) zu empfangenen Datensignalen und eine Vielzahl von Kopplern (30) erster Art aufweist,
die in der Übertragungsleitung (24) positioniert sind; wobei der Prozessor (14) und jedes sekundäre Terminal (16-22)
einen Koppler (32) zweiter Art zugeordnet besitzen zun Koppeln an die Übertragungsleitung (24) über die Koppler
(30) erster Art, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfvorrichtung (12) selektiv betätigbaf ist, um das Senden von1. Test device (12) for use in a data transmission system
with a processor (14), a plurality of secondary terminals (16-22), and a transmission line
(24) connecting the processor to the secondary terminals, the transmission line (24) having a transmit line pair
for carrying data signals sent by the processor (14), a receive line pair
for carrying data signals to be received by the processor (14), and a plurality of couplers (30) of a first type
positioned in the transmission line (24); the processor (14) and each secondary terminal (16-22)
having a coupler (32) of a second type associated therewith for coupling to the transmission line (24) via the couplers
(30) of the first type, characterized in that the test device (12) is selectively operable to transmit
Daten durch den Prozessor (14) und die sekundären Terminals
(16-22) zu überwachen, eine Umkehrprüfung des Prozessors '
(14) und der sekundären Terminals (16-22) durchzuführen und eine Umkehr- und Ladeprüfung des Prozessors (14) und
der sekundären Terminals (16-22) durchzuführen, wobei die Prüfvorrichtung (12) aufweist: einen Koppler (J1) erster
Art, einen Koppler (P1) zweiter Art, erste und zweite Sichtindikatoren (D3, D4) und einen Schalter (SW1), wobei der
Schalter (SW1) eine erste, zweite und dritte äuswählbare
Position besitzt; eine erste Schaltungsvorrichtung zum Koppeln des Kopplers (P1) zweiter Art an die Testvorrichtung
(12) und den ersten und zweiten Indikator (D3, D4), wenn der Koppler (P1) zweiter Art der Testvorrichtung (12)
mit einem der Koppler (30) erster Art an der Übertragungsleitung
(24) gekoppelt ist und wenn der Schalter (SW 1) sich in der ersten Position befindet, um den ersten Indikator (D3) zu befähigen aktiv zu werden, wenn der Prozessor
(14) über das Sendeleitungspaar sendet, und auch den zweiten Indikator (D4) zu befähigen aktiv zu werden, wenn
zumindest eines der sekundären Terminals (26-22) über das
Empfangsleitungspaar sendet; eine zweite Schaltungsvorrichtung (58, 62), die angeordnet ist, den Koppler (J1)
erster Art der Testvorrichtung (12) mit dem Koppler (32)
zweiter Art von dem Prozessor (14) oder einem der sekundären Terminals (16-22) zu koppeln,um das Umkehrprüfen des Prozessors
(14) oder des zugeordneten sekundären Terminals (16-22) durchzuführen, wenn sich der Schalter (SW 1) in
der zweiten Position befindet; und dritte Sqhaltungsvorrichtungen
(R3, R-4, 68, D5, D6) zum Koppeln des Kopplers
(JT) erster Art der Testvorrichtung (12) mit dem Koppler
(32) zweiter Art vom Prozessor (14) oder einem sekundären
Terminal (16-22), um das Umkehr- und Ladeprüfen des Prozessors
(14) oder des zugeordneten sekundären Terminal (16-22)
durchzuführen, wenn sich der Schalter (SW1) in der dritten Position befindet.to monitor data through the processor (14) and the secondary terminals (16-22), to perform a reversal test of the processor (14) and the secondary terminals (16-22), and to perform a reversal and load test of the processor (14) and the secondary terminals (16-22), the test device (12) comprising: a first type coupler (J1), a second type coupler (P1), first and second visual indicators (D3, D4), and a switch (SW1), the switch (SW1) having first, second and third selectable positions; first circuit means for coupling the second type coupler (P1) to the test device
(12) and the first and second indicators (D3, D4) when the second type coupler (P1) of the test device (12)
is coupled to one of the first type couplers (30) on the transmission line
(24) and when the switch (SW 1) is in the first position, to enable the first indicator (D3) to become active when the processor
(14) transmits over the transmit line pair and also to enable the second indicator (D4) to become active when
at least one of the secondary terminals (26-22) transmits over the receive line pair; a second circuit device (58, 62) arranged to couple the first type coupler (J1) of the test device (12) to the second type coupler (32) of the processor (14) or one of the secondary terminals (16-22) to perform the reverse testing of the processor (14) or the associated secondary terminal (16-22) when the switch (SW 1) is in the second position; and third switching means
(R3, R-4, 68, D5, D6) for coupling the first type coupler
(JT) of the test device (12) to the second type coupler
(32) of the processor (14) or a secondary terminal (16-22) to perform the reversal and load testing of the processor
(14) or the associated secondary terminal (16-22) when the switch (SW1) is in the third position.
2. Testvorrichtung (12) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die ersten, zweiten und dritten Schaltungsvorrichtungen
Leiter (50, 52, 54, 56) aufweisen, die eine Durchverbindung bezüglich der Übertragungsleitung (24)
zwischen den Kopplern erster und zweiter Art (J1, P1) an der Testvorrichtung (12) bilden.2. Test device (12) according to claim 1, characterized in that the first, second and third circuit devices comprise
conductors (50, 52, 54, 56) which form a through connection with respect to the transmission line (24)
between the couplers of the first and second type (J1, P1) on the test device (12).
3. Testvorrichtung (12) nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß der Koppler (P1) zweiter Art an der Testvorrichtung (12) erste und zweite Verbindungen (2, 3 auf P1)
zum Aufnehmen des Sendeleitungspaars der Übertragungsleitung (24) aufweist und daß der erste Indikator eine
erste lichtemittierende Diode (D3) aufweist, wobei die Schaltungsvorrichtung auch eine erste Diode (D1) und einen
ersten Widerstand (R1) aufweist, die erste Diode (D1), der Widerstand (R1) und die erste lichtemittierende Diode (D3)
in Reihe geschaltet sind zwischen der ersten und zweiten Verbindung (2, 3 an P1) des Kopplers (P1) zweiter Art
der Testvorrichtung (12).3. Test device (12) according to claim 2, characterized in that the second type coupler (P1) on the test device (12) has first and second connections (2, 3 on P1) for receiving the transmission line pair of the transmission line (24) and that the first indicator has a first light emitting diode (D3), the circuit device also having a first diode (D1) and a first resistor (R1), the first diode (D1), the resistor (R1) and the first light emitting diode (D3) being connected in series between the first and second connections (2, 3 on P1) of the second type coupler (P1) of the test device (12).
4. Testvorrichtung (12) nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Koppler (PI) zweiter Art an der Testvorrichtung
(12) dritte und vierte Verbindungen (4, 5 an P1) zum Aufnehmen des Empfangsleitungspaars der Übertragungsleitung
(24) aufweist und daß der zweite Indikator eine zweite lichtemittierende Diode (D4) ist, wobei die erste Schaltungsvorrichtung
auch eine zweite Diode (D2) und einen zweiten Widerstand (R2-) aufweist und die zweite Diode (D2),
der zweite Widerstand (R2) und die zweite lichtemittierende Diode (D4) zwischen der dritten und vierten Verbindung
(4, 5 an P1) des Kopplers (P1) zweiter Art an der Testvorrichtung (12) in Reihe geschaltet sind.4. Test device (12) according to claim 3, characterized in that the second type coupler (PI) on the test device
(12) has third and fourth connections (4, 5 at P1) for receiving the receive line pair of the transmission line
(24) and that the second indicator is a second light emitting diode (D4), the first circuit device
also having a second diode (D2) and a second resistor (R2-) and the second diode (D2),
the second resistor (R2) and the second light emitting diode (D4) are connected in series between the third and fourth connections
(4, 5 at P1) of the second type coupler (P1) on the test device (12).
5. Testvorrichtung (12) nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die dritte Schaltungsvorrichtung aufweist: einen5. Test device (12) according to claim 4, characterized in that the third circuit device comprises: a
ersten Lastwiderstand (R4), der über die erste und zweite Verbindung (2, 3) an (J1) des Kopplers (J1) erster Art an
der Testvorrichtung (12) verbunden ist; einen zweiten
Lastwiderstand (R3), der über die zweite und vierte Verbindung (3, 5 an J1) des Kopplers (J1) erster Art an der
Testvorrichtung (12) verbunden ist; und eine erste und zweite Zenerdiode (D5, D6), die in entgegengesetzter
Beziehung über die erste und zweite Verbindung (2,3) an (Jl) des Kopplers (J1) erster Art an der Testvorrichtung
(12) verbunden sind. first load resistor (R4) connected via the first and second connections (2, 3) to (J1) of the first type coupler (J1) on the test device (12); a second load resistor (R3) connected via the second and fourth connections (3, 5) to J1 of the first type coupler (J1) on the test device (12); and first and second zener diodes (D5, D6) connected in opposite relationship via the first and second connections (2, 3) to (J1) of the first type coupler (J1) on the test device (12) .