DE2037977A1

DE2037977A1 - Code signal verification circuit

Info

Publication number: DE2037977A1
Application number: DE19702037977
Authority: DE
Inventors: Herbert Dipl Ing 8000 München Hager
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1970-07-30
Filing date: 1970-07-30
Publication date: 1972-02-03
Also published as: DE2037977B2

Description

gobesianalprüfschaltunff Die Hauptpatentanmeldung (P 20 17 838.5) betrifft eine KodesignalprUfschaltung, welche eine Anzahl von funktionell zusammengehörenden n Potentialquellen, die Jeweils Ruhe- oder Arbeitspotential aufweisen, darauf überwacht, ob von mehreren der n Potentialquellen in vorgeschriebener Anzahl m Arbeitspotential geliefert wird, durch die das von Jeder Potentialquelle abgegebene Potential mit mindestens einem der von den übrigen Potentialquellen gelieferten Potentialen direkt verknüpft wird, durch die die Potentialquellen in Gruppen geprüft werden, wobei für Jede Gruppe gesondert Jeweils unterscheidbare Kriterien für das Vorhandensein von Arbeitspotential an 0 bis m Potentialquellen der Gruppe und bei Gruppen, die mehr als m Potentialquellen umfassen, zusätzlich Kriterien für das Vorhandensein von Arbeitspotential an mehr als m Potentialquellen gebildet werden und bei der solche Kriterien aus mehreren Gruppen zur Bildung eines positiven Prüfergebnisses miteinander verknüpft werden, die über eine sich zur Anzahl m ergänzende Anzahl von Arbeitspotential führenden Potentialquellen aussagen.gobesianalprüfschaltunff The main patent application (P 20 17 838.5) relates to a code signal checking circuit which contains a number of functionally related n potential sources, each of which has rest or work potential, are monitored for this, whether from several of the n potential sources in a prescribed number of m work potential is supplied, through which the potential emitted by each potential source with at least one of the potentials supplied by the other potential sources directly is linked, through which the potential sources are tested in groups, where Separate criteria for existence for each group of work potential at 0 to m potential sources of the group and for groups that comprise more than m potential sources, additional criteria for the existence are formed by work potential at more than m potential sources and at the such criteria from several groups to form a positive test result are linked to each other via a number which is complementary to the number m state of potential sources leading to work potential.

Die Vorteile einer derartigen Kodesignalprufschaltung gegenüber vergleichbaren bekannten Anordnungen bestehen einerseits in der geringen Laufzeit, die vom Beginn der Prüfung bis zur Abgabe des Prüfungssignals verstreicht und andererseits in der vergleichsweise geringen Anzahl von erforderlichen Typen von Verknüpfungsgliedern.The advantages of such a code signal checking circuit over comparable ones known arrangements exist on the one hand in the short running time, which from the beginning the examination elapses until the examination signal is given and, on the other hand, in the comparatively small number of required types of logic elements.

Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine derartige Kodesignalprüfschaltung auch zur Prüfung von Potential quellen darauf nutzbar zu machen, ob lediglich von einer Potentialqueile Arbeitspotential geliefert wird, wobei die vorgenannten vorteilhaften Eigenschaften der Anordnung der Hauptanmeldung weitgehend erhalten bleiben sollen.The object of the present invention is to provide such Code signal test circuit can also be used to test potential sources make whether work potential is only supplied by a potential source, with the aforementioned advantageous properties of the arrangement the main application should be largely retained.

Die Kodesignalprüfschaltung gemäß der Hauptpatentanmeldung (P 20 17 838.5) ist daher erfindungsgemäß dadurch gekennzeichnet, daß sie zusätzlich zur Überwachung der n Potentialquellen darauf ausgenutzt wird, ob von lediglich einer Arbeitspotential geliefert wird, wozu sie die Potentiale der Potentialquellen über eine Eingangsschaltung empfängt, die eine durch die Beziehung (Y)2n festgelegte Anzahl y von NAND-und/oder NOR-Gliedern enthält, die Jeweils gleich viele und insgesamt mn Eingänge aufweisen, die in n Gruppen von m Jeweils zu einem anderen der Gatter gehörenden Eingänge an Jeweils eine andere der Potentialquellen angeschlossen sind, und deren Ausgangsgrößen Jeweils sowohl direkt als auch über einen Inverter abgegeben werden.The code signal checking circuit according to the main patent application (P 20 17 838.5) is therefore characterized according to the invention in that, in addition to Monitoring of the n potential sources is used to determine whether only one Labor potential is delivered, for which purpose it uses the potentials of the potential sources receives an input circuit having one specified by the relationship (Y) 2n Number y of NAND and / or NOR elements contains, each having the same number and total have mn inputs that are in n groups of m each to a different one of the gates corresponding inputs are each connected to a different one of the potential sources, and their output variables, both directly and via an inverter will.

Durch die erfindungsgemäß vorgesehene Eingangsschaltung wird die Anzahl der insgesamt erforderlichen Verknüpfungsgliedertypen nicht vergrößert und trotz Erweiterung des Anwendungsbereiches der Schaltungsanordnung wird die insgesamt erforderliche Laufzeit lediglich um die durch ein VerknUpfungsglied bedingte Laufzeit vergrößert.The input circuit provided according to the invention increases the number the total required link types not enlarged and despite Expansion of the field of application of the circuit arrangement is the total required Running time only increased by the running time caused by a link.

Durch die Erfindung wird außerdem angegeben, wie die Kodesignalprüfschaltung aufzubauen ist, wenn eine derartig große Anzahl von Potentialquellen zu überwachen ist, daß einzelne der Gatter bei normaler Erweiterung der Schaltungsanordnung eine unzulässig hohe Anzahl von Eingängen aufweisen müßten. -Die gemäß der Erfindung vorgesehene Eingangsschaltung kann auch dazu ausgenutzt werden, unabhängig von einer Kodeprüfung im 1 von n-Kode anstehende Potentiale von Potentialquellen im m von n-Kode weiterzugeben. Die Anwendungsgebiete der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnungen sind die Datenverarbeitungstechnik und insbesondere die öffentliche Fernsprechvermittlungstechnik.The invention also specifies how the code signal checking circuit needs to be built up when monitoring such a large number of potential sources is that some of the gates with normal expansion of the circuit arrangement one would have to have an inadmissibly high number of inputs. -The according to the invention provided input circuit can also be used independently of one Code check in the 1 of n-code pending potentials of potential sources in the m of pass on n-code. The areas of application of the circuit arrangements according to the invention are data processing technology and in particular public telephone exchange technology.

In 2 Figuren werden Aufbau und Funktionsweise der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung und deren Varianten näher erläutert. In 2 figures, the structure and mode of operation of the inventive Circuit arrangement and its variants explained in more detail.

Die Fig. 1 zeigt ein Ausführungsbeispiel der gemäß der Erfindung vorgesehenen Eingangsschaltung für eine Kodesignalprüfschaltung; Die Fig. 2 zeigt eine Kodesignalprtlfsohaltung zur Überwachung einer größeren Anzahl von Potentialquellen mit Eingangsschaltungen gemäß Fig. 1 und der eigentlichen Prüfung dienenden Teilen gemäß der Hauptpatentanmeldung.Fig. 1 shows an embodiment of the provided according to the invention Input circuit for a code signal checking circuit; Fig. 2 shows a code signal retention for monitoring a large number of potential sources with input circuits 1 and the actual test serving parts according to the main patent application.

Gemäß der Erfindung kann die der Hauptpatentanmeldung (P 20 17838.5) entsprechende Kodesignalprüfschaltung zur Überwachung von n Potentialquellen darauf ausgenutzt werden ob von lediglich einer Potentialquelle Arbeitapotential geliefert wird. Hierzu werden die Potentiale der Potentialquellen über eine Eingangs schaltung empfangen, wie sie in der Fig. 1 dargestellt ist. Diese Eingangsschaltung ist für den Fall ausgelegt, daß 15 Potentialquellen xl bis x15 überwacht werden sollen. Außerdem ist angenommen, daß die eigentliche Überwachungaschaltung so aufgebaut ist, daß sie im 2 von n-tode angelieferte Potentiale überwachen kann. Die Eingangsschaltung enthält in diesem Falle 6 NOR-Glieder Nol bis No6, wobei sich die Anzahl y=6 der NOR-Glieder aus der Beziehung (23=15 ergibt. Die NOR-Glieder weisen Jeweils gleich viele und insgesamt m.n=2.15 Eingänge auf, also jeweils 5 und insgesamt 30 Eingänge.According to the invention, the main patent application (P 20 17838.5) Corresponding code signal test circuit for monitoring n potential sources on it are used whether work potential is supplied by only one potential source will. For this purpose, the potentials of the potential sources are switched via an input circuit received as shown in FIG. This input circuit is for designed the case that 15 potential sources xl to x15 are to be monitored. It is also assumed that the actual monitoring circuit is constructed in this way is that it can monitor potentials supplied by n-tode in the 2. The input circuit in this case contains 6 NOR elements Nol to No6, the number y = 6 of NOR elements from the relationship (23 = 15 results. The NOR elements each have the same many and a total of m.n = 2.15 inputs, i.e. 5 and a total of 30 inputs.

Diese Eingänge sind in n=15 Gruppen ru Jeweils m=2 Jeweils sueinem anderen der NOR-Glieder gehörenden Eingängen zusammengefaßt und an Jeweils eine andere der Potentialquellen angeschlossen. So sind ein Eingang des ersten und einer des zweiten NCR-Gliedes Nol und No2 an die Potentialquelle x1, ein Eingang des ersten und einer des dritten NOR-Gliedes Nol und No3 an die zweite Potential quelle x2, ein Eingang des zweiten und einer des dritten NOR-Gliedes No2 und No3 an die dritte Potentialquelle NoS usw., ein Eingang des fünften NOR-Gliedes und einer des sechsten NOR-Gliedes No6 an die fünfzehnte Potentialquelle x15 angeschlossen. These inputs are in n = 15 groups ru each m = 2 each sueinem other inputs belonging to the NOR elements combined and at each one other of the potential sources connected. So are an entrance of the first and one of the second NCR element Nol and No2 to the potential source x1, an input of the first and one of the third NOR element Nol and No3 to the second potential source x2, one input of the second and one of the third NOR gate No2 and No3 to the third Potential source NoS etc., one input of the fifth NOR element and one of the sixth NOR gate No6 connected to the fifteenth potential source x15.

Die Ausgangsgößen der NOR-Glieder Nol bis No6 werden einerseits direkt, andererseits über Jeweils einen der Inverter I1 bis it, die NOR-Glieder mit nur einem Eingang sind an die in der Hauptpatentanmeldung beschriebene eigentliche Prüfschaltung weitergegeben, was im Zusammenhang mit der Fig. 2 noch näher erläutert wird. The output quantities of the NOR elements Nol to No6 are on the one hand direct, on the other hand via one of the inverters I1 to it, the NOR elements with only an input are to the actual test circuit described in the main patent application passed on, which will be explained in more detail in connection with FIG.

Die beschriebene Eingangsschaltung wirkt so, daß bei Lieferung von Arbeitspotential von einer der Potentialquellen xl bis x15 an zwei der Ausgänge all bis a16 Arbeitspotential und an zwei der Ausgänge all bis a5E Ruhepotential auftritt. Liefert also beispielsweise die Potentialquelle x4 Arbeitspotential, so geben die NOR-Gatter Nol und No4 Ruhepotential ab, was einer Lieferung von Arbeitspotential an den Ausgängen all und al4 bzw. Ruhepotential an den Ausgängen all und a14 entspricht. Anstelle der in Fig. 1 dargestellten NCR-Glieder Nol bis No6 kannen auch NAND-Glieder vorgesehen sein, wenn Ruhepotential und Arbeitspotential ihre Rolle vertauschen. Es ist dann auch die Bedeutung der direkt mit den Ausgängen der Verknüpfungsglieder verbundenen Ausgänge gegenüber derjenigen der Ausgänge der Inverter I1 bis 16 vertauscht.The input circuit described works in such a way that upon delivery of Working potential of one of the potential sources xl to x15 at two of the outputs all to a16 work potential and at two of the outputs all to a5E rest potential occurs. If, for example, the potential source x4 supplies work potential, see above give the NOR gates Nol and No4 rest potential, which means a supply of work potential at the outputs all and al4 or rest potential at the outputs all and a14. Instead of the NCR elements Nol to No6 shown in FIG. 1, NAND elements can also be used be provided when resting potential and work potential swap their roles. It is then also the meaning of being directly connected to the outputs of the logic elements connected outputs with respect to those of the outputs of the inverters I1 to 16 interchanged.

In der Fig. 2 sind zwei vollständige Kodesign'alpr<1fschaltunen dargestellt. Es wird zunächst die in der linken Hälfte dargestellte mit I bezeichnete betrachtet. Sie enthält die hier nur schematisch dargestellte Eingangsschaltung El, deren Eingänge in der oben beschriebenen Weise an die Potentialquellen xl bis x15 angeschlossen sind. Die eigentliche Prüfschaltung, die derjenigen der Hauptpatentanmeldung entspricht, enthält eingangsseitig die zu einer ersten Gruppe zusammengefaßten NAND-Glieder N11 bis N15 und die zu einer zweiten Gruppe zusammengefaßten NAND-Glieder N21 bis N25. Die drei Eingänge des NAND-Glredes Nil sind mit Jeweils einem anderen Ausgang all bis a13 der Eingangsschaltung E1 verbunden. Die Ausgänge als bis a13 der Eingangsschaltung El sind an Jeweils einen anderen der drei Eingänge des NAND-Gliedes N15 angeschlossen. Durch die NAND-Glieder N12 bis N14 werden die an den Ausgängen all bis a13 auftretenden Ausgangsgrößen außerdem in Zweiergruppen miteinander verknilpft. So sind die Ausgänge all und a12 mit den Eingängen des NAND-Gliedes N12, die Ausgge all und a13 mit den Eingängen des NAND-Gliedes N13 und die Ausgänge a12 und a13 mit den Eingängen des NAND-Gliedes N14 verbunden.In FIG. 2, two complete Kodesign'alpr <1fschaltunen are shown. First of all, the one shown in the left half is labeled I considered. It contains the input circuit shown here only schematically El, the inputs of which to the potential sources xl to in the manner described above x15 are connected. The actual test circuit, that of the main patent application corresponds to, contains on the input side the NAND elements combined to form a first group N11 to N15 and the NAND gates N21 to N21 to which are combined to form a second group N25. The three inputs of the NAND-Glredes Nil are each with a different output all connected to a13 of the input circuit E1. The outputs as to a13 of the input circuit El are each connected to a different one of the three inputs of the NAND element N15. The NAND gates N12 to N14 are those that occur at the outputs all to a13 Output variables also linked together in groups of two. So are the exits Alles and a12 with the inputs of the NAND gate N12, the outputs all and a13 with the inputs of the NAND gate N13 and the outputs a12 and a13 with the inputs of the NAND gate N14 connected.

In entsprechender Weise sind die zur zweiten Gruppe gehörigen Ausgänge a14 bis a16 bzw. al4 bis a16 mit den Eingängen der NAND-Glieder N21 bis N25 verbunden.The outputs belonging to the second group are similar a14 to a16 or al4 to a16 are connected to the inputs of the NAND gates N21 to N25.

Durch die Verknüpfung der zu Gruppen zusammengefaßten Ausgänge der Eingangsschaltung El werden Je Gruppe Kriterien ftlr das Vorhandensein von Arbeitspotential an 0 bis 2 Ausgängen bsw. an mehr als 2, in diesem Falle an 3 Ausgängen gebildet. Führt beispielsweise keiner der ersten 3 Ausgänge all bis a13 der Eingangsechaltung E1 Arbeitspotential, so wird an den Ausgängen der NANDLGlieder N11 bis N14 Arbeitspotential, an dem Ausgang des NAND-Gliedes N15 dagegen Ruhepotential geliefert. Bei Lieferung von Arbeitapotential an einen der Ausgänge all bis a13 der ersten Gruppe wird an den Ausgängen sämtlicher NAND-Glieder N11 bis N15 Arbeitspotential abgegeben. Bei Lieferung von Arbeitspotential an 2 Ausgängen der die Ausgänge all bis a13 umiasrrnden Gruppe wird von den NAND-Gliedern Nil und N15 und von zweien der NAND-Glieder N12 bis N14 Arbeitspoential abgegeben. Das dritte der NAND-Glieder N12 bis N14, im Falle der Lieferung von Arbeitspotential durch die ersten beiden Ausgänge all und a12 das NAND-Glied N12, gibt dagegen Ruhepotential ab. Wird an allen drei Ausgängen all bis a13 Arbeitspotential abgegeben, dann liefern die NAND-Glieder N11 bis N14 Ruhepotential, das NAND-Glied N15 dagegen Arbeitspotential.By linking the outputs of the Input circuit El are criteria for the presence of work potential for each group at 0 to 2 outputs, e.g. formed on more than 2, in this case on 3 outputs. For example, if none of the first 3 outputs all to a13 of the input circuitry E1 work potential, then at the outputs of the NANDL elements N11 to N14 work potential, on the other hand, resting potential is supplied at the output of the NAND gate N15. At delivery from working potential to one of the outputs all to a13 of the first group is on the outputs of all NAND gates N11 to N15 released working potential. at Delivery of work potential at 2 outputs that surround the outputs all to a13 The group is made up of the NAND elements Nil and N15 and two of the NAND elements N12 to N14 work potential released. The third of the NAND gates N12 to N14, in the case the delivery of work potential through the first two outputs all and a12 the NAND gate N12, on the other hand, is resting potential. Used on all three outputs all delivered to a13 working potential, then the NAND gates N11 to N14 deliver Rest potential, the NAND element N15, on the other hand, work potential.

Entsprechendes gilt fUr die zweite Gruppe der Ausgänge al4 bis a16 der Eingangsschaltung El.The same applies to the second group of outputs al4 to a16 the input circuit El.

Außer den erwähnten NAND-Gliedern enthält der der eigentlichen Kodesignalprüfung dienende Teil der Schaltungsanordnung gemäß Fig. 2 weitere NAND-Glieder, mit deren Hilfe solche Kriterien aus den beiden Gruppen zur Bildung eines positiven PrUfungsergebisses miteinander verknüpft werden, die Uber eine sich sur Anzahl 2 ergänzende Anzahl von Arbeitspotential- führenden usgängen all bis a16 der Eingangsschaltung E1 aussagen.In addition to the NAND elements mentioned, it contains the actual code signal test Serving part of the circuit arrangement according to FIG. 2 further NAND elements, with their Such criteria from the two groups help to form a positive test result be linked together, the Uber a sur Number 2 additional Number of outputs carrying working potential all to a16 of the input circuit Express E1.

Zum Zwecke einer derartigen VerknUpfung sind die Ausgänge der NAND-Glieder N12 bis N14 einerseits mit Jeweils einem der Eingänge des Dreier-WAND-Gliedes N10 und andererseits mit Jeweils einem Eingang des 8 Eingänge aufweisenden NAND;Gliedes N8 verbunden. Entsprechendes gilt fUr die Verbindung der Ausgänge der NAND-Glieder N22 bis N24 mit den Eingängen des NAND-Gliedes N20 bzw. mit 3 weiteren Eingängen des NAND-Gliedes N8e Die restlichen beiden Eingänge des NAND-Gliedes N8 sind mit dem Ausgang des NAND-Gliedes N15 der ersten Gruppe bzw. mit dem Ausgang des NAND-Gliedes N21 der zweiten Gruppe von Eingangs-NAND-Gliedern Nil bis N25 verbunden. Die Schaltungsanordnung enthält außerdem noch die beiden Dreier-NANIGlieder N100, N200 und Nal, sowie die beiden lediglich als Negatoren ausgenutzten NAND-Glieder Rn11 und Nn12.The outputs of the NAND gates are used for such a link N12 to N14 on the one hand with one of the inputs of the three-WAND element N10 and on the other hand with one input each of the 8-input NAND element N8 connected. The same applies to the connection of the outputs of the NAND elements N22 to N24 with the inputs of the NAND element N20 or with 3 further inputs of the NAND gate N8e The remaining two inputs of the NAND gate N8 are with the output of the NAND gate N15 of the first group or with the output of the NAND gate N21 of the second group of input NAND gates Nil to N25 are connected. The circuit arrangement also contains the two three-way NANI links N100, N200 and Nal, as well as the two NAND gates Rn11 and Nn12, which are only used as inverters.

Die Eingänge des NAND-Gliedes N100 sind mit dem Ausgang des NAND-Gliedes N11, dem Ausgang des NAND-Gliedes N1O sowie Ufer den Negator Nnl mit dem Ausgang des NAND-Gliedes N21 der zweiten Gruppe pe verbunden. In entsprechender Weise sind die Eingänge des NAND-Gliedes N200 mit dem Ausgang des NAND-Gliedes N25, dem Ausgang des NAND-Gliedes N20 sowie Uber den Negator Nn2 mit dem Ausgang des NAND-Gliedes N15 der ersten Gruppe verbunden. An die Eingänge des Ausgangs-NAND-Gliedes Nal sind die Ausgänge des NAND-Gliedes N100, des NAND-Gliedes N200 und des NAND-Gliedes N8 angeschlossen, Im folgenden wird die Funktionsweise der oben beschriebenen erfindungsgemäßen Kodesignalprüfschaltung näher erläutert. Es wird der Fall angenommen, daß die Lieferung eines richtigen Kodezeichens vorliegt, daß also lediglich eine der Potentialquellen xl bis x15 Arbeitspotential liefert,und zwar eine solche Potential quelle, die in der im Zusammenhang mit der Fig. 1 erläuterten Weise an zwei Ausgängen der Eingangs schaltung El Arbeitspotential hervorruft, die zu der ersten Gruppe von Ausgängen gehören.The inputs of the NAND gate N100 are connected to the output of the NAND gate N11, the output of the NAND gate N1O and banks the inverter Nnl with the output of the NAND gate N21 of the second group pe. Are in a corresponding manner the inputs of the NAND gate N200 with the output of the NAND gate N25, the output of the NAND gate N20 and via the inverter Nn2 to the output of the NAND gate N15 connected to the first group. The inputs of the output NAND gate Nal are the outputs of the NAND gate N100, the NAND gate N200 and the NAND gate N8 connected, The following is the mode of operation of the above-described inventive Code signal test circuit explained in more detail. It is assumed that the delivery a correct code symbol is present, that is, only one of the potential sources xl to x15 provides work potential, namely such a potential source that is shown in the manner explained in connection with FIG. 1 at two outputs of the input circuit El creates work potential, which leads to the first group of outputs belong.

Es werdealso z.B. von der Potentialquelle zl Arbeitspotential geliefert, womit das Auftreten von Arbeitspotential an den Ausgängen all und a12 der Eingangsschaltung El verbunden ist. In diesem Falle wird am Ausgang des NAND-Gliedes N12 Ruhepotential, an den übrigen Ausgängen der NAND-Glieder N11 bis N15 der ersten Gruppe von Ausgängen dagegen Arbeitspotential abgegeben. Das Ruhepotential am Ausgang des NAND-Gliedes N12 hat zur Folge, daß am Ausgang des NAtE;Gliedes N10 auf jeden Fall Arbeitspotential abgegeben wird. Dieses Arbeitspotential wird an einen Eingang des NAND-Gliedes N100 weitergegeben. Der zweite Eingang dieses NAND-Gliedes N100 erhält vom Ausgang des NAND-Gliedes N11 Arbeitspotential und auch an den dritten Eingang wird Arbeitspotential geliefert, da unter Voraussetzung des Vorhandenseins eines richtigen Kodezeichens in der zweiten Gruppe von Ausgängen a14 bis a16 sämtliche Ruhepotential liefern, was zur Folge hat, daß das NAND-Glied N21 Ruhepotential abgibt, das durch den Negator Nnl1, dessen Ausgang an den dritten Eingang des NAND-Gliedes N100 angeschlossen ist, in Arbeitspotential umgewandelt wird. Das NAND-Glied N100 gibt also dementsprechend Ruhepotential ab, welches an den einen Eingang des Ausgangs-NAND-Gliedes Nal weitergegeben wird und damit am Ausgang dieses NAND-Gliedes unabhängig von der Art von Potentialen an dessen übrigen Eingängen die Abgabe von Arbeitspotential und damit die Signalisierung des Vorliegens eines richtigen Kodezeichens zur Folge hat.Thus, e.g. from the potential source zl work potential, with which the occurrence of work potential at the outputs all and a12 of the input circuit El is connected. In this case, at the output of the NAND element N12 resting potential, at the other outputs of the NAND elements N11 bis N15 of the first group of outputs, on the other hand, surrendered work potential. The resting potential at the output of the NAND element N12 has the consequence that at the output of the NAtE; element N10 In any case, work potential is given up. This work potential is at passed an input of the NAND gate N100. The second input of this NAND gate N100 receives work potential from the output of the NAND element N11 and also to the third Work potential is supplied as input, provided that it is available a correct code character in the second group of outputs a14 to a16 all Deliver rest potential, which has the consequence that the NAND element N21 emits rest potential, through the inverter Nnl1, whose output is connected to the third input of the NAND gate N100 is connected, is converted into working potential. The NAND element N100 accordingly emits rest potential which is applied to one input of the output NAND element Nal is passed on and thus independent of the output of this NAND element Kind of potentials at its other inputs the delivery of work potential and thus the signaling of the presence of a correct code character result Has.

Entsprechende Verhältnisse liegen vor, wenn zwei der Ausgänge a14 bis a16 Arbeitspotential führen, was dann der Fall ißt, wenn beispielsweise die Potentialquelle a10 Ärbeitspotential fahrt.Corresponding conditions exist when two of the outputs a14 lead to a16 work potential, which is the case if, for example, the Potential source a10 labor potential drives.

Es wird nun der Fall angenommen, daß in der ersten Gruppe von Ausgängen der Eingangsschaltung El einer, beispielsweise der erste all, und in-der zweiten Gruppe von Ausgängen ebenfalls einer, beispielsweise der vierte Ausgang a14 Arbeitspotential führt Dies ist dann der Fall, wenn von der Potentialquelle x4 Arbeitspotential geliefert wird, da diese ja, wie anhand der Fig. 1 beschrieben wurde, mit einem Eingangsdes NOR-Gliedes Nol und einem Eingang des NCPGliedes No4 verbunden ist. Es wird bei diesein Beispiel an den Ausgängen sämtlicher NAND-Glieder N11 bis N25 Arbeitspotential geliefert. Demzufolge liegt an jedem der Eingänge des NAND-Gliedes N8 Arbeitspotential, was die Abgabe von Ruhepotential an dessen Ausgang zur Folge hat. Hierdurch wird Jedoch die Abgabe von Arbeitspotential und damit. ebenfalls wieder die Signalisierung des Vorliegens eines richtigen Kodezeichens am Ausgang A des NAND-Gliedes Nal veranlaßt.It is now assumed that in the first group of outputs the input circuit El one, for example the first all, and in-the second Group of outputs also one, for example the fourth output a14 work potential This is the case when the potential source supplies x4 working potential is, since this yes, as was described with reference to FIG. 1, with an input des NOR gate Nol and an input of NCP gate No4 is connected. It will be at this one example at the outputs of all NAND gates N11 to N25 working potential delivered. Therefore is on each of the entrances of the NAND element N8 work potential, which results in the release of rest potential at its output Has. However, this results in the release of work potential and thus. Likewise again the signaling of the presence of a correct code character at the output A of the NAND gate Nal causes.

Bei allen anderen möglichen Kombinationen von Ausgängen der Eingangsschaltung Ei, die gleichzeitig Arbeitspotential liefern, d.h. bei Lieferung von Arbeitspotential durch mehr als eine Potentialquelle xl bis x15, wird die Abgabe eines positiven Pr<Lfr'gsergebnisses verhindert. Wenn beispielsweise über sämtliche drei Ausgänge all bis a13 der Eingangsschaltung Ei, die au der ersten Gruppe von Ausgängen gehören, Arbeitapotential geliefert wird, was dann der Fall ist, wenn außer der Potentiaiqtielle xl eine der mit den Eingängen des NOR-Gliedes No3 der Eingangsschaltung El verbundenen Potentialquellen z2, s3, w6, s9 und x13 Arbeitspotential liefern, wird am Ausgang des NAND-Gliedes N11 Ruhepotential und damit am Ausgang des NAND-Gliedes N100 Ar,beitspotential abgegeben. Das NAND"Glied N8 gibt ebenfalls Arbeitspotential ab, da an die mit den Ausgängen der NAND-Glieder N12 bis N14 verbunden nen Eingänge Ruhepotential geliefert wird. Auch das NAND-Glied N200 gibt Arbeitspotential ab, da das vom Ausgang des NAND4Gliedes N15 abgegebene Arbeitspotential durch den Negator Rh12 als Ruhepotential an seinen Eingang gelangt. Es liegt also an allen drei Eingängen des Ausgang-NAND-Gliedes Kai Arbeitspotential, so daß an dessen Ausgang A Ruhepotential abgegeben wird, was ein.With all other possible combinations of outputs of the input circuit Ei, which at the same time deliver labor potential, i.e. when delivering labor potential through more than one potential source xl to x15, the output is a positive Pr <Lfr'g result prevented. If, for example, all three outputs all to a13 of the input circuit Ei that belong to the first group of outputs, Work potential is delivered, which is the case if other than the potential xl one of the connected to the inputs of the NOR gate No3 of the input circuit El Potential sources z2, s3, w6, s9 and x13 supply working potential is at the output of the NAND element N11 rest potential and thus at the output of the NAND element N100 Ar, beitspotential submitted. The NAND "element N8 also gives off work potential, since those with the Outputs of the NAND gates N12 to N14 connected to the inputs resting potential supplied will. The NAND gate N200 also emits work potential, since the output of the NAND4 member N15 delivered working potential through the inverter Rh12 as rest potential reaches its entrance. So it is due to all three inputs of the output NAND gate Kai work potential, so that at its output A rest potential is given what a.

Zeichen dafür ist, daß ein falsches Kodeseichen vorliegt.The sign of this is that there is a wrong code character.

Als zweiter im Hinblick auf den der eigentlichen Prüfung dienenden Teil der Schaltungsanordnung charakteristischer Fall, der bei Vorliegen eines falschen Kodezeichens auftritt, wird der3enige betrachtet, daß in der ersten Gruppe von Ausgängen der Eingangsschaltung Ei, die beiden ersten und in der zweiten Gruppe einer oder mehrere Arbeitspotential führen, insgesamt also mindestens 3 Arbeitspotential führende Ausgänge vorhanden sind.Second with regard to the one used for the actual examination Part of the circuit arrangement characteristic case that occurs when an incorrect Code character occurs, the one in the first group of outputs is considered the input circuit Ei, the first two and in the second group one or lead several work potentials, so a total of at least 3 work potentials lead Exits are available.

Abweichung von dem vorstehend beschriebenen Fall, bei dem lediglich die beiden ersten Ausgänge all und a12 der ersten Gruppe Arbeitspotential geführt hatten, liegt nunmehr nicht an allen drei Eingängen des NAND-Gliedes N100 Arbeitspotential, da das NAND-Glied IJ21 der zweiten Gruppe nunmehr, da Ja nicht sämtliche Ausgänge dieser Gruppe Ruhepotential liefern, Arbeitspotential liefert und dieses Arbeitspotential durch den Negator Nnli in Ruhepotential gewandelt wird. Dieses Ruhepotential am Eingang des NAND-Gliedes N100 veranlaßt die Weitergabe von Arbeitspotental an den mit dem Ausgang dieses Gatters verbundenen Eingang des Ausgangs-NANt-Gliedes Na, an dessen übrige beiden Eingänge in Übereinstimmung mit dem vorstehend beschriebenen Fall jeweils Arbeitspotential geliefert wird, so daß am Ausgang A Ruhepotential auftritt.Deviation from the case described above, in which only the first two outputs all and a12 of the first group Work potential had led, is now not due to all three inputs of the NAND gate N100 Work potential, since the NAND element IJ21 of the second group is now, since yes not all outputs of this group supply resting potential, supplying working potential and this working potential is converted into rest potential by the negator Nnli. This rest potential at the input of the NAND gate N100 causes the forwarding of Working potential at the input of the output NANt element connected to the output of this gate Well, at the other two entrances in accordance with the one described above Case in each case work potential is supplied, so that at output A rest potential occurs.

Entsprechende Verhältnisse liegen bei dem Fall vor, daß in der ersten Gruppe von einem Ausgang und in der zweiten Gruppe von zwei oder drei Ausgängen Arbeitspotential geliefert wird.Corresponding conditions exist in the case that in the first Group of one output and in the second group of two or three outputs Labor potential is delivered.

Für den Fall, daß an keinem der 6 Ausgänge all bis a16 Arbeitspotential geliefert wird, geben einerseits die beiden NAND-Glieder N10 und N20 Ruhepotential ab, daß in Form von Arbeitspotential an zwei Eingänge des Ausgang-NAND-Gliedes Na1 weitergegeben wird und andererseits liefert auch das NAND-Glied NB Arbeitspo-Potential, da sowohl an Seinen mit dctm Ausgang des NAND-Gliedes N15 als auch an seinen mit den Ausgang des NAND-Gliedes N21 verbundenen Eingang Ruhepotential Seliefert wird.' Auch hier ist wieder die Abgabe von Ruhepotential am Ausgang A die Folge.In the event that none of the 6 outputs have all up to a16 working potential is supplied, on the one hand the two NAND elements N10 and N20 give rest potential from that in the form of working potential at two inputs of the output NAND gate Na1 is passed on and, on the other hand, the NAND element NB also supplies work potential, because both on his with the output of the NAND gate N15 and on his with the output of the NAND gate N21 connected input rest potential Sel is delivered. ' Here, too, the release of rest potential at output A is the result.

Aus der Beschreibung des Aufbaus und der Funktionsweise der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung läßt sich erkennen, daß der Zeitpunkt der Abgabe des Ausgangssignals im ungünstigsten Fall, von 6 Gatterlaufzeiten abhängig ißt. Sie wird dann beispielsweise bestimmt durch eines der NOR-Gatter Nol bis No6 und einen der Inverter II bis I6 der Eingangsschaltung El, durch das NAND-Glied N12, das NAND-Glied N10, das NAND-Glied N100 und das Ausgangs-NAND-Glied Na1.From the description of the structure and the mode of operation of the inventive Circuit arrangement can be seen that the time of delivery of the output signal in the worst case, dependent on 6 gate times. You will then for example determined by one of the NOR gates Nol to No6 and one of the inverters II to I6 the input circuit El, through the NAND gate N12, the NAND gate N10, the NAND gate N100 and the output NAND gate Na1.

Wenn eine sehr große Anzahl von Potentialquellen zu überwachen ist, würde eine Erweiterung der Schaltungsanordnung gemäß Lil 1 der Fig. 2 nach dem ihm anhaftenden Bildungsgesetz Verknüpfungsglieder erfordern, die eine schlecht realisierbare große Anzahl von Eingängen aufzuweisen haben. Es werden daher die zu Uberw2chenden Potentialquellen gruppenweise mehreren gleichartigen Prüfschaltungen zugefUhrt und die Ergebnisse der einzelnen Prüfschaltungen werden nochmals miteinander verknüpft. Die Schaltungsanordnung gemäß Fig. 2 enthält daher außer der Teilschaltung I eine gleichartig aufgebaute Teilschaltung II und ist somit zur Überwachung von insgesamt 30 Potentialquellen x1 bis x30 geeignet.When monitoring a very large number of potential sources is, would be an extension of the circuit arrangement according to Lil 1 of FIG. 2 after him adherent education law require links that are poorly feasible have a large number of inputs. It will therefore be those to be monitored Potential sources are fed in groups to several test circuits of the same type and the results of the individual test circuits are linked to one another again. The circuit arrangement according to FIG. 2 therefore contains, in addition to the subcircuit I, one similarly structured subcircuit II and is therefore for monitoring a total of 30 potential sources x1 to x30 suitable.

Die an den Ausgängen A und B abgegebenen Teilergebnisse werden mittels weiterer Verknüpfungsglieder, nämlich der NAND-Glieder Nz1, Nz2 und NA miteinander verknüpft. Die Eingänge des NAND-Gliedes Nzl sind mit dem Ausgang A des Teils I der Schalttmgsanordnung sowie mit den Ausgängen der Negatoren Nn21 und Nn22, die sur Teilachaltung II gehören, verbunden. In entsprechender Veise sind die Eingänge des NAND-Gliedes NK2 mit dos Ausgang B der Teilschaltung II und den Ausgängen der Negatoren Nn11 und Nn12, die zum Schaltungsteil I gehören, verbunden. Die Ausgänge der beiden NAND-Glieder Nzl und Nz2 fuhren su den Eingängen des Ausgang NAND-Gliedes NA, an dessen Ausgang Z das Endergebnis abgegeben wird.The partial results given at outputs A and B are displayed using further logic elements, namely the NAND elements Nz1, Nz2 and NA with one another connected. The inputs of the NAND gate Nzl are connected to the output A of part I. the switching arrangement and with the outputs of the inverters Nn21 and Nn22, the sur Teilachaltung II belong, connected. The entrances are in the same way of the NAND element NK2 with the output B of the subcircuit II and the outputs of the Inverters Nn11 and Nn12, which belong to circuit part I, are connected. The exits the two NAND elements Nzl and Nz2 lead to the inputs of the output NAND element NA, at whose output Z the final result is delivered.

Liegt ein richtiges todeseichen vor, fUhrt also nur eine der Potentialquellen xl bis x30 Arbeitspotential, dann gibt eine der Teilschaltungen, wenn die Arbeitspotential führende Potentialquelle sich unter den ersten 15 befindet die Teilschaltung 1, Arbeitspotential ab, das an einen Eingang des NAND-Gliedes Nz1 gelangt.If there is a real dead body, only one of the potential sources is there xl to x30 work potential, then one of the subcircuits gives when the work potential leading potential source is among the first 15 is subcircuit 1, Working potential from which arrives at an input of the NAND gate Nz1.

Auch den beiden übrigen Eingängen des NAND-Gliedes Nzi wird dann Arbeitspotential zugeführt, da sämtliche Aus all bis a16 der Eingangsachaltung E2 der Teilschaltung II in diesem Falle Arbeitspotential führen, die an diese Eingänge angeschlossenen NAND-Glieder demzufolge Ruhepotential abgeben, das dann durch die Negatoren Nn21 und Nn22, deren Ausgänge an zwei Eingänge des NAND-Gliedes Nzl angeschlossen sind, in Arbeitspotential gewandelt werden.The other two inputs of the NAND element Nzi then also have working potential supplied, since all Aus all to a16 of the input circuit E2 of the subcircuit II lead in this case work potential connected to these inputs NAND gates consequently emit resting potential, which is then passed through the inverters Nn21 and Nn22, the outputs of which are connected to two inputs of the NAND gate Nzl, be converted into work potential.

Das NAND-Glied Nzl gibt daher Ruhepotential ab, was das nur treten von Arbeitspotential am Ausgang Z und damit, die Signalisierung des Vorliegens eines richtigen Kodezeichens zur Folge hat.The NAND element Nzl is therefore resting potential, which only occurs of work potential at output Z and thus the signaling of the presence of a correct code character.

Sobald mehr als eine der Potentialquellen xl bis x3O Arbeitspatential führen, ist bei keinem der NAND-Glieder Nzl und Nz2 die Bedingung mehr erfüllt, daß an sämtliche ihrer drei Eingänge Arbeitspotential gelangt, so daß beiden Eingängen des Ausgangs-MAND-Gliedes NA Arbeitspotential zugeführt wird, und dieses demzufolge Ruhepotential abgibt und damit das Vorliegen eines falsch kodierten Kodezeichens anzeigt.As soon as more than one of the potential sources xl to x3O work potential lead, the condition is no longer fulfilled for any of the NAND elements Nzl and Nz2, that working potential comes to all of its three inputs, so that both inputs of the output MAND element NA working potential is supplied, and this consequently Releases rest potential and thus the presence of an incorrectly coded code character indicates.

2 Patentansprüche 2 Flguren2 claims 2 Flguren

Claims

P a t e n t a n s p r ü c h e CI Yod, esignalprUfschluss, which a number of associated n potential sources, each of which is rest or work potential have, monitored to see whether several of the n potential sources in prescribed Number m working potential is supplied through which the of each potential source emitted potential with at least one of those supplied by the other potential sources Potentials are directly linked, through which the potential sources are checked in groups , whereby for each group separately distinguishable criteria for the Presence of work potential at O to n potential sources of the group and at Groups that include more than m potential sources, additional criteria for the Presence of work potential at more than m potential sources are formed, and by using such criteria from several groups to form a positive Examination results are linked to each other, which are linked to a number m the complementary number of potential sources leading to work potential, according to Patent application P 20 17 838.5, characterized in that in addition to monitoring of the n potential sources (x1 ... x15; x16 ... x30) are used to determine whether only a work potential is supplied, for which purpose it uses the potentials of the potential sources via an input circuit (E1, E2) which receives one through the relationship (Y) - n contains a fixed number y of NOR (Nol to No6; Fig.1) or NOR elements that Each have the same number and a total of m.n inputs, which are divided into n groups of m each belonging to a different one of the linking elements (No1 to No6; Fig.l) Inputs each connected to a different one of the potential sources (x1 to x7; x16 to x30) and their output variables both directly and via an inverter (11 to I6; Fig.1) are delivered (Fig. 1, 2).

2) code signal test circuit according to claim 1, characterized in that that it is provided several times and each part of the potential sources (xl up to x15; x16 to x30) monitored, and'daf the result variables of the individual test circuits with such criteria arising within the other test circuit in accordance with an exclusive-OR condition are linked to the existence of resting potential testify to all potential sources monitored by them (e.g. x16 to x30) (Fig. 2).