DE202011104160U1

DE202011104160U1 - Device for the reliable detection of material defects in transparent materials

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Publication number: DE202011104160U1
Application number: DE201120104160
Authority: DE
Original assignee: GRENZBACH MASCHB GmbH; GRENZBACH MASCHINENBAU GmbH
Current assignee: GRENZBACH MASCHB GmbH; GRENZBACH MASCHINENBAU GmbH
Priority date: 2011-08-08
Filing date: 2011-08-08
Publication date: 2011-12-21
Anticipated expiration: 2021-08-09

Abstract

Vorrichtung zur sicheren Detektion von Materialfehlern in einem kontinuierlich erzeugten Band aus transparentem Werkstoff mittels der Prüfung eines quer zur Förderrichtung verlaufenden, im Durchlicht und Auflicht beobachteten, Streifens eines Band aus diesem Werkstoff, dadurch gekennzeichnet, dass sie die folgenden Merkmale aufweist: a) ein Befestigungs-Portal (11) in der Breite des zu prüfenden transparenten Werkstoffs dient als Träger von Zeilenkameras (9), wobei die Zeilenkameras (9) hinsichtlich ihres Erfassungsbereichs diese Breite lückenlos abdecken und das Werkstoff-Band mittels eines linienförmigen Leuchtmittels (5) mit konstantem Lichtstrom und eines angrenzenden linienförmigen Leuchtmittels (6) mit oszillierendem Lichtstrom lückenlos durchleuchtet wird, und wobei eine zusätzliche Hellfeld-Beleuchtung (8) den untersuchten Streifen im Auflicht beleuchtet, b) das Befestigungs-Portal (11) dient zusätzlich als Träger von weiteren Zeilenkameras (1), deren optische Achsen zu der der Zeilenkameras (11) leicht geneigt sind, wobei auch die Zeilenkameras (1) hinsichtlich ihres Erfassungsbereichs die genannte Breite lückenlos abdecken, wobei die Zeilenkameras (1) ein Strichgitter...Device for the reliable detection of material defects in a continuously produced strip of transparent material by testing a strip of this material running transversely to the conveying direction and observed in transmitted and reflected light, characterized in that it has the following features: a) a fastening -Portal (11) in the width of the transparent material to be tested serves as a carrier for line cameras (9), the line cameras (9) covering this width without gaps in terms of their detection area and the material band by means of a linear illuminant (5) with constant luminous flux and an adjacent linear illuminant (6) is completely illuminated with an oscillating luminous flux, and an additional bright-field illumination (8) illuminates the examined strip in incident light, b) the fastening portal (11) also serves as a carrier for further line cameras (1 ), whose optical axes correspond to that of the Line cameras (11) are slightly inclined, the line cameras (1) also covering the stated width without gaps in terms of their detection range, the line cameras (1) having a grating ...

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung und zur Überprüfung und Detektion von transparenten oder halbtransparenten Objekten wie flächigem Glas und/oder Kunststoffprodukten auf Kratzer, Fremdeinschlüsse oder dergleichen Materialfehler, die eine Änderung des Brechungsindex im Material bewirken.The invention relates to a device and for checking and detecting transparent or semitransparent objects such as flat glass and / or plastic products on scratches, foreign inclusions or the like material defects that cause a change in the refractive index in the material.

Aus der EP 1 288 651 B1 ist eine Vorrichtung, bzw. ein entsprechendes Verfahren, zur Ermittlung von optischen Fehlern, insbesondere der Brechkraft in großflächigen Scheiben aus einem transparenten Werkstoff wie Glas mittels einer Auswertung des beobachteten Bildes bekannt. Diese Vorrichtung umfasst eine Lichtquelle zum Projizieren eines definierten Musters aus regelmäßigen Sequenzen, wobei die Sequenzen wenigstens zwei unterschiedliche Lichtintensitäten umfassen; ferner Mittel zum Anordnen der zu untersuchenden Scheibe in den Strahlengang der Projektion und eine Kamera, wobei Sequenzen des Musters auf Pixel der Kamera gerichtet sind. Mit einer solchen als bekannt vorausgesetzten Vorrichtung soll hierbei die Aufgabe erfüllt werden, eine Vorrichtung anzugeben, mit der optische Fehler in wenigstens einer Dimension einer Scheibe ermittelbar sind. Gelöst wird diese Aufgabe dadurch, dass die Lichtquelle eine als Leuchtmatrix ausgebildete Leuchtwand ist die aus einer Vielzahl von selektiv, vorzugsweise zeilen- und/oder spaltenweise ansteuerbaren LEDs besteht. Die Sequenzen müssen hierbei streng äquidistant sein und dürfen keine Abweichungen von ihrer regelmäßigen Struktur aufweisen. Solche Abweichungen verfälschen bei diesem Verfahren das Messergebnis.From the EP 1 288 651 B1 is a device, or a corresponding method, for determining optical defects, in particular the refractive power in large-area slices of a transparent material such as glass by means of an evaluation of the observed image known. This device comprises a light source for projecting a defined pattern of regular sequences, the sequences comprising at least two different light intensities; further means for arranging the disc to be examined in the beam path of the projection and a camera, wherein sequences of the pattern are directed to pixels of the camera. With such a device, which is presumed to be known, the object is to be achieved of specifying a device with which optical errors can be determined in at least one dimension of a disk. This object is achieved in that the light source is a light-emitting wall formed as a light-emitting matrix which consists of a plurality of selectively, preferably row and / or column-controllable LEDs. The sequences must be strictly equidistant and must not deviate from their regular structure. Such deviations distort the measurement result in this method.

Weiter ist in der EP 1 477 793 A2 ein Verfahren, bzw. eine entsprechende Vorrichtung, zur Erkennung von Fehlern in transparentem Material beschrieben, bei dem mit einer ersten Strahlungsquelle ein definiertes Teilvolumen des Materials bestrahlt wird und bei dem mit einer zweiten Strahlungsquelle derart Licht in das Material eingekoppelt wird, dass der Lichtweg im besagten Teilvolumen ausschließlich im Inneren des Materials verläuft. Ein Fehler wird bei diesem Verfahren im Teilvolumen dadurch erkannt, dass

a) sowohl vom Fehler gestreutes Licht, oder
b) die vom Fehler hervorgerufene Absorption im Hellfeld und/oder
c) die vom Fehler hervorgerufene Ablenkung des Lichts der ersten Strahlungsquelle

detektiert wird.Next is in the EP 1 477 793 A2 a method or a corresponding device for detecting defects in transparent material described in which a first radiation source, a defined partial volume of the material is irradiated and in which with a second radiation source such light is coupled into the material that the light path in said partial volume runs exclusively in the interior of the material. An error in this method is recognized in the partial volume in that

a) both of the error scattered light, or
b) the absorption caused by the error in the bright field and / or
c) the deflection of the light of the first radiation source caused by the error

is detected.

Der erfindungsgemäßen Vorrichtung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung vorzustellen mit dem alle möglichen Fehler die in transparentem Werkstoff, insbesondere Glas, auftreten können, sicher detektiert und typisiert werden können. Zudem soll für den Anwender jederzeit erkennbar sein, dass die Sicherheit des Betriebs der Vorrichtung gewährleistet ist.The device according to the invention is based on the object of presenting a device with which all possible errors which can occur in transparent material, in particular glass, can be reliably detected and typed. In addition, the user should always be aware that the safety of the operation of the device is guaranteed.

Diese Aufgabe wird mit einer Vorrichtung nach Anspruch 1 gelöst.This object is achieved with a device according to claim 1.

Die erfindungsgemäße Vorrichtung wird im Folgenden näher beschrieben. Es zeigen dabei im Einzelnen:The device according to the invention will be described in more detail below. In detail, they show:

1: ein Funktions-Schema der erfindungsgemäßen Vorrichtung 1 : a functional diagram of the device according to the invention

2A: die Darstellung der Beleuchtung über das Strichgitter 7 2A : the representation of the illumination over the grating 7

2B: eine Erläuterung zur Beleuchtung über das Strichgitter 7 2 B : an explanation of the lighting via the grating 7

3: eine Darstellung der räumlichen Anordnung der erfindungsgemäßen Vorrichtung 3 : A representation of the spatial arrangement of the device according to the invention

4: ein Struktogramm des verwendeten Lernprogramms 4 : a structogram of the tutorial used

Die erfindungsgemäße Vorrichtung ermöglicht einerseits die Detektierung und Typisierung aller in einem, fortwährend als bandartige Material vorbeilaufenden, transparenten Werkstoff, wie zum Beispiel dem beständigen Fluss eines Float-Glasbandes, auftretenden Fertigungsfehler, als auch die selbständige ständige Kontrolle aller Funktionsabläufe. Deshalb sind hierbei für den Anwender nicht nur die sichere Detektion und die Möglichkeit zur Typisierung gegeben, sondern es ist auch stets der sichere Betrieb der erfindungsgemäßen Vorrichtung gewährleistet.On the one hand, the device according to the invention enables the detection and typing of all manufacturing defects occurring in a transparent material passing continuously as a ribbon-like material, such as, for example, the constant flow of a float glass ribbon, as well as the independent constant control of all functional sequences. Therefore, not only the safe detection and the possibility for typing are given for the user, but it is always ensured the safe operation of the device according to the invention.

Die 1 zeigt ein Funktions-Schema der erfindungsgemäßen Vorrichtung. Als horizontale Linie 3 ist hier das Inspektionsmedium, zum Beispiel ein zu prüfendes Glasband skizziert. In der Mitte ist beispielhaft als Scansensor eine von mehreren Zeilenkameras 9 gezeigt, die mit den beiden, im Schnitt dargestellten linienförmigen, Leuchtmitteln 5 und 6 unterhalb der horizontalen Linie 3 zusammenwirkt. Diese Leuchtmittel 5, 6 sind entsprechend der Breite des zu beleuchtenden Inspektionsmediums hinsichtlich ihrer Längenausdehnung modulartig zu einer Beleuchtungsebene 4 zusammengesetzt. Sie bilden gemeinsam gewissermaßen 2 parallel verlaufende Lichtbänder von denen das eine linienförmig angeordnete, in ihrer Lichtintensität oszillierende, Leuchtmittel 5 aufweist, während das andere linienförmig angeordnete, in ihrer Lichtintensität konstante, Leuchtmittel 6 beinhaltet. Die Frequenz der oszillierenden Lichtintensität ist hierbei bevorzugt gleich einer einstellbaren Zeilenfrequenz der Zeilenkamera 9, bzw. der Frequenz der Ansteuerung eines alternativ verwendeten Scansensors. Bevorzugt ist, dass diese Frequenzen in einem ganzzahligen Vielfachen zueinander stehen. Der Betrachtungsmittelpunkt der Zeilenkamera 9 liegt im Fall eines fehlerfreien Inspektionsmediums im Bereich der Abgrenzungslinie der Leuchtmittel 5 und 6. Bei einem auftretenden Materialfehler verschiebt sich dieser Betrachtungsmittelpunkt infolge Lichtablenkung aus dieser Mittelpunktslage. Dadurch ergeben sich am Ort des detektierten Materialfehlers unterschiedliche Einflüsse auf das Ausgangssignal der betreffenden Zeilenkamera 9. Aus der Veränderung zweier aufeinander folgender Signale einer Zeilenkamera 9 und der zusätzlichen Information des Fehlerortes, bzw. der Lage im Bereich der betreffenden Zeilenkamera, lässt sich ein resultierendes Fehlersignal aus dem Vergleich der Messwerte zweier in Bezug zueinander stehender, optischer Kanäle gewinnen und einer Schaltungsanordnung zur Fehlererkennung und zur weiteren Signalverarbeitung zuführen.The 1 shows a functional diagram of the device according to the invention. As a horizontal line 3 Here is the inspection medium, for example sketched a glass ribbon to be tested. In the middle is an example of a scan sensor one of several line scan cameras 9 Shown with the two, shown in section, linear, bulbs 5 and 6 below the horizontal line 3 interacts. These bulbs 5 . 6 are according to the width of the inspection medium to be illuminated in terms of their length extension modular to a lighting level 4 composed. They form together in a sense 2 parallel light bands of which one arranged in a line, oscillating in their light intensity, bulbs 5 has, while the other linearly arranged, constant in their light intensity, bulbs 6 includes. The frequency of the oscillating light intensity is preferably equal to an adjustable line frequency of the line scan camera 9 , or the frequency of the control of an alternative used Scan sensor. It is preferred that these frequencies are in an integer multiple to each other. The focal point of the line scan camera 9 lies in the case of a defect-free inspection medium in the range of the delineation line of the bulbs 5 and 6 , If a material defect occurs, this center of view shifts from this midpoint position as a result of light deflection. This results in the location of the detected material error different influences on the output signal of the respective line scan camera 9 , From the change of two consecutive signals of a line scan camera 9 and the additional information of the fault location, or the position in the region of the respective line scan camera, a resulting error signal can be obtained from the comparison of the measured values of two related optical channels and fed to a circuit arrangement for error detection and further signal processing.

Zusätzlich zu der gezeigten Zeilenkamera 9 ist in der 1 beispielhaft eine von mehreren weiteren Zeilenkameras 1 dargestellt, die, in einem Winkel zur Zeilenkamera 9 versetzt angeordnet ist, wobei deren optische Achse durch denselben Betrachtungsmittelpunkt in der Materialebene wie den der Zeilenkamera 9 verläuft, jedoch auf die Struktur hier beispielhaft ein Strichgitter 7 gerichtet ist, das sich halbseitig (vgl. 2A) auf dem Leuchtmittel 6 mit konstantem Licht befindet. Zur Beleuchtung der von der Zeilenkamera 1 betrachteten Szenerie dient die, Hellfeld-Beleuchtung 8, die in der linken Bildseite dargestellt ist.In addition to the line camera shown 9 is in the 1 by way of example one of several further line scan cameras 1 shown at an angle to the line scan camera 9 is arranged offset, wherein the optical axis through the same viewing center in the material plane as that of the line scan camera 9 runs, but on the structure here, for example, a grating 7 directed, which is half-sided (cf. 2A ) on the bulb 6 is located with constant light. To illuminate the of the line scan camera 1 considered scene serves the, bright field illumination 8th , which is shown in the left side of the picture.

Bilder die mit einer Dunkelfeld-Beleuchtung entstanden sind, erscheinen dem Betrachter zuerst ungewohnt. Das Licht wird dabei flach eingestrahlt. nach dem Prinzip von Einfallswinkel ist gleich Ausfallswinkel wird das gesamte Licht vom Betrachter, bzw. der Zeilenkamera 1, weggelenkt, das Betrachtungs-Feld bleibt also dunkel. Topographische Fehler wie Schräge Kanten, Kratzer, Prägungen, Vertiefungen, Erhebungen stören den Strahlengang des Lichts. An diesen Anomalien wird das Licht zur Kamera hin reflektiert oder meistens nur gestreut. Diese Fehlstellen erscheinen dann im Kamerabild heller als der Hintergrund. Es handelt sich bei der Glasherstellung hierbei meist um Sulfatflecken oder Top-Tins.Pictures that were created with a dark field illumination, the viewer initially seem unfamiliar. The light is radiated flat. according to the principle of angle of incidence is equal to the angle of incidence is the entire light from the viewer, or the line scan camera 1 , deflected, so the viewing field remains dark. Topographical errors such as slanted edges, scratches, embossments, depressions, elevations disturb the light path. At these anomalies, the light is reflected towards the camera or mostly scattered. These defects then appear brighter in the camera image than the background. Glass production is usually sulphate or top-tins.

Wird mittels einer Kamera 1 das Strichgitter 7 beobachtet, führt jede Verzerrung im transparenten Werkstoff zu einer Veränderung der Gitterperiode, was mit Hilfe der verwendeten Datenverarbeitung, die später noch eingehend beschrieben wird (vgl. 4) leicht detektiert werden kann. Mit der Kamera 9 können in Verbindung mit der, in der linken oberen Bildhälfte dargestellten, Hellfeld-Beleuchtung 8 wichtige Informationen für die Detektion von sog. Bottom Tins (oder auch Tin Pickups genannt) gewonnen werden. Solche Bottom Tins wirken an der Unterseite eines transparenten Werkstoffs wie ein Spiegel und liefern im Hellfeld kontrastreiche Signale. Durch die Kombination der beiden Kanäle Sensor 1 (Zeilenkamera) und Sensor 9 (Zeilenkamera), können Fehler die durch die Struktur 7 (Strichgitter) verdeckt werden, durch die erfindungsgemäße Anordnung erkannt.Is by means of a camera 1 the grating 7 observed, any distortion in the transparent material leads to a change in the grating period, which is described with the aid of the data processing used, which will be described in detail later (cf. 4 ) can be easily detected. With the camera 9 can be used in conjunction with the bright field illumination shown in the upper left half of the picture 8th important information for the detection of so-called. Bottom Tins (or called Tin Pickups) are obtained. Such bottom tins act like a mirror on the underside of a transparent material and deliver high-contrast signals in the bright field. By combining the two channels sensor 1 (Line scan camera) and sensor 9 (Line scan), errors can be caused by the structure 7 (Grid) are hidden, recognized by the inventive arrangement.

In der 2A ist die Darstellung der Erfassung der Beleuchtung mittels einer Zeilenkamera 1 in Verbindung mit dem Strichgitter 7 gesondert herausgezeichnet. Hier ist deutlich zu erkennen, dass das Strichgitter 7 lediglich die Hälfte des Flächenbereichs des Leuchtmittels 6 einnimmt und neben dem Leuchtmittel 5 angeordnet ist. Die Zeilenkamera 1 ist gesondert über dem Strichgitter 7 skizziert.In the 2A is the representation of the detection of the illumination by means of a line camera 1 in conjunction with the grating 7 separately drawn out. Here you can clearly see that the grating 7 only half of the area of the illuminant 6 occupies and next to the bulb 5 is arranged. The line scan camera 1 is separate above the grating 7 outlined.

Die 2B dient der Erläuterung des Messverfahrens mittels Strichgitters 7 auf dem Leuchtmittel 6. Hier ist das Strichgitter 7 in der Abfolge seiner charakteristischen Linienstruktur bezüglich der Breite der Linien vergrößert herausgezeichnet. Der quer zu den einzelnen Linien des Strichgitters 7 skizzierte streifenförmige Bereich 10 stellt einen speziell für ein Lernprogramm ausgewählten Ausschnitt des Strichgitters 7 dar, der sich in dieser Form in diesem Bereich über das gesamte Strichgitter 7 hinzieht.The 2 B serves to explain the measuring method by means of grating 7 on the bulb 6 , Here is the graticule 7 in sequence of its characteristic line structure concerning the width of the lines enlarged outlined. The transverse to the individual lines of the grating 7 sketched strip-shaped area 10 Provides a section of the graticule specially selected for a tutorial 7 which is in this form in this area over the entire grating 7 drags.

Die 3 zeigt eine Darstellung der räumlichen Anordnung der erfindungsgemäßen Vorrichtung. Das Befestigungs-Portal 11 ist hier in räumlicher Ansicht zu erkennen, wobei im oberen Bereich die für diese Breite benötigte Anzahl von Zeilenkameras 9 und den entsprechenden Zeilenkameras 1 angeordnet sind. Neben dem linienförmigen Leuchtmittel 5 und dem weiteren linienförmigen Leuchtmittel 6 ist die Hellfeld-Beleuchtung 8 zu erkennen. Die Dunkelfeld-Beleuchtung 2 ist in dieser Darstellung verdeckt und deshalb nicht darstellbar. Da die Geschwindigkeit des Bandes an transparentem Werkstoff das in der erfindungsgemäßen Vorrichtung hindurch läuft wichtig ist für den Betrieb der Zeilenkameras, ist im Bereich des Befestigungs-Portals 11 ein diesbezüglicher Geschwindigkeits-Sensor vorgesehen, dessen Ausgangssignal der Steuerung der Anlage zugeführt wird. Dieser Sensor ist nicht gesondert bezeichnet. Des Weiteren weist die erfindungsgemäße Vorrichtung eine weitere Vorrichtung zur Überwachung der Leuchtmittel (5, 6, 2, 8) und der Zeilenkameras (9, 1) auf, die sicherstellt, dass kein Streifen des Materialbandes ungeprüft unter dem Befestigungs- Portal 11 hindurch läuft. Die zu diesem Zweck benötigten Sensoren sind nicht gesondert bezeichnet und deren Anwendung ist dem Fachmann geläufig.The 3 shows a representation of the spatial arrangement of the device according to the invention. The attachment portal 11 can be seen here in a spatial view, wherein in the upper area required for this width number of line scan cameras 9 and the corresponding line scan cameras 1 are arranged. Next to the linear light source 5 and the further line-shaped light source 6 is the brightfield lighting 8th to recognize. The dark field illumination 2 is hidden in this representation and therefore not representable. Since the speed of the strip of transparent material running through the device according to the invention is important for the operation of the line scan cameras, it is in the area of the attachment portal 11 a related speed sensor provided, the output signal of the control system is supplied to the system. This sensor is not designated separately. Furthermore, the device according to the invention has a further device for monitoring the lighting means ( 5 . 6 . 2 . 8th ) and line scan cameras ( 9 . 1 ), which ensures that no strip of material tape unchecked under the mounting portal 11 passes through. The sensors required for this purpose are not designated separately and their application is familiar to the person skilled in the art.

In der 4 ist ein Struktogramm des verwendeten Betriebsprogramms, bzw. dem darin verwendeten Lernprogramms zur Durchführung der beanspruchten Verfahrensschritte dargestellt. Im Wesentlichen handelt es sich hierbei um ein Lernprogramm das die Möglichkeit bietet als Fehler detektierte Stellen oder Bereiche im transparenten Material die eine gewisse Konstanz aufweisen nicht als eigentlichen Fehler zu werten, sondern diese Stellen oder Bereiche gewissermaßen „wegzulernen”, bzw. in einem Lernprozess als unwichtig einzustufen.In the 4 a structural diagram of the operating program used, or the learning program used therein for carrying out the claimed method steps is shown. in the Essentially, this is a learning program that offers the opportunity to perceive errors as detected defects or areas in the transparent material that have a certain consistency not as a real mistake, but to "learn" these places or areas in a sense, or in a learning process as unimportant classified.

Als Beispiel wird zu diesem Zweck auf das Strichgitter 7 verwiesen, das ohne das erfindungsgemäße Lernprogramm regelmäßig als Materialfehler gewertet werden würde, jedoch erfindungsgemäß als konstante Struktur erkannt wird und deshalb nicht als Materialfehler detektiert wird. Aus diesem Grund ist es bei dem erfindungsgemäßen Verfahren auch nicht notwendig, dass die Gitterstruktur eine bestimmte Regelmäßigkeit oder sogar Äquidistanz aufweisen muss, oder auf bestimmte Weise mit der Anzahl der erfassten Pixel korreliert sein muss, wie das bei aus dem Stand der Technik bekannten Verfahren bekannt ist. Denn die Gitterstruktur wird ohnehin programmtechnisch als solche erkannt, egal wie genau diese Struktur in der Praxis ausgestaltet ist.As an example, for this purpose, on the grating 7 referred to, which would be evaluated without the inventive learning program regularly as a material error, but according to the invention recognized as a constant structure and therefore is not detected as a material defect. For this reason, it is also not necessary in the method according to the invention for the lattice structure to have a certain regularity or even equidistance, or to be correlated in a certain way with the number of detected pixels, as is known from methods known from the prior art is. Because the grating structure is anyway recognized programmatically as such, no matter how exactly this structure is configured in practice.

Prinzipiell werden mittels des erfindungsgemäßen Lernprogramms ein Video-Eingangssignal 16 und ein Sollwert 12 in einer bestimmten Weise bearbeitet und daraus ein Video-Ausgangssignal 26 gewonnen. Das Video-Ausgangssignal 26 wird gleichzeitig einer Differenzstufe 13 zugeführt, wo es, jeweils entsprechend dem gewählten Parameter, entweder mit dem Sollwert addiert oder von diesem subtrahiert wird. In der Verzögerungsstufe 19 wird das Video-Eingangssignal 16 mittels einer Einstellmöglichkeit 20 verzögert einem Addierer 25 zugeführt, dessen anderer Eingang im Wesentlichen mit dem Ausgang der Stufe 15 zur Offsetbildung verbunden ist und zu einem neuen Video-Ausgangssignal aufsummiert wird. Hierbei erfolgt die Steuerung der Verzögerungsstufe durch die software, wobei entsprechende Parameter manuell einstellbar sind und der Verzögerungsalgorithmus gewählt werden kann. Die Verzögerungsstufe 19 ist deswegen steuerbar, da in dem erfindungsgemäßen Verfahren nicht jeder kleine Fehler „weggelernt” werden soll, sondern es sollen hierbei nur Ereignisse „weggelernt” werden die für längere Zeit auf dem Material sind. Es werden hierbei somit vorhergehende Video-Signale aufsummiert und mit dem aktuellen Video-Signal verglichen. Ein einzelner Fehler wird hierbei detektiert, andererseits werden zum Beispiel 100 gleichartige Fehler nicht. detektiert. Es herrscht hier die Maxime: Alles was gleich ist wird herausgefiltert, alles was nur kurzzeitig (1, 2, 3 oder 4 Scans) auftritt wird original, das heißt ohne eine Signalveränderung, durchgelassen und detektiert. Die Schaltungsstufe 15 ist für die Offset-Bildung für die nächste Zeile mittels einer einstellbaren Dämpfung zuständig. Weist zum Beispiel ein detektiertes Signal einen Wert von 100 auf und soll der entsprechende Sollwert 50 betragen, so kann das System, je nach eingestelltem Parameter 14, zum Beispiel jeweils in 10-er Schritten springen oder den Sollwert 50 auch sofort erreichen Hier wird somit entschieden wie schnell das System etwas „weglernt”, wobei im Gegensatz hierzu bei der Einstellung 20 entschieden wird, was weggelernt wird. Die Parameter für die Offset-Einstellung sind also mit der Lerngeschwindigkeit des Systems korreliert, die Parameter 12 und die Einstellung 20 bestimmen dagegen welche Signal nicht detektiert werden. Da das erfindungsgemäße System „weglernt” was konstant ist, egal wo es auftritt, werden auch Toleranzen ausgeglichen die durch Veränderungen infolge Wärmeentwicklung oder Druckveränderungen entstehen. Deshalb ist das System auch generell gegenüber Veränderungen im Betrieb unempfindlich und in besonderer Weise betriebssicher.In principle, by means of the learning program according to the invention a video input signal 16 and a setpoint 12 edited in a specific way and from this a video output signal 26 won. The video output signal 26 becomes simultaneously a difference stage 13 where it is either added to or subtracted from the setpoint according to the selected parameter. In the delay stage 19 becomes the video input signal 16 by means of a setting option 20 delays an adder 25 fed, whose other input substantially to the output of the stage 15 is connected to offset and added up to a new video output signal. In this case, the control of the delay stage by the software, with corresponding parameters are manually adjustable and the delay algorithm can be selected. The delay level 19 is therefore controllable, since in the method according to the invention, not every small error should be "learned away", but it should only "learned" events that are on the material for a long time. Thus, previous video signals are summed up and compared with the current video signal. A single error is detected in this case, on the other hand, for example, 100 similar errors are not. detected. It is the maxim here: everything that is the same is filtered out, everything that occurs only briefly (1, 2, 3 or 4 scans) is original, that is without a signal change, transmitted and detected. The circuit stage 15 is responsible for the offset formation for the next line by means of an adjustable attenuation. For example, if a detected signal has a value of 100 and should the corresponding setpoint 50 amount, the system can, depending on the set parameter 14 , for example, jump in steps of 10 or the setpoint 50 also reach immediately Here, therefore, it is decided how fast the system "learns" something, in contrast to the setting 20 it is decided what is learned away. The parameters for the offset setting are therefore correlated with the learning speed of the system, the parameters 12 and the attitude 20 determine which signals are not detected. Since the system according to the invention "learns away" what is constant, no matter where it occurs, tolerances are also compensated for by changes due to heat generation or pressure changes. Therefore, the system is also generally insensitive to changes in operation and particularly reliable.

Die Schaltungsstufe 22 (RAM) und die Schaltungsstufe 21 (Breitenzähler) mit dem Eingang 17 (Zeilenstart) betreffen eine Zusatzfunktion deren Wirkung darin besteht, dass bestimmte Bereiche in einer zu prüfenden Zeile des untersuchten Bandes aus transparentem Werkstoff anders behandelt werden als der Rest dieser Zeile. So kann zum Beispiel der Randbereich des untersuchten Bandes, der später nicht genutzt wird, hinsichtlich dort auftretender Fehler unbeachtlich bleiben. Der Nutzbereich wird in einem solchen Fall definiert durch den Bereich zwischen „D in” und „D out”.The circuit stage 22 (RAM) and the circuit level 21 (Width counter) with the entrance 17 (Line Start) relate to an additional function whose effect is that certain areas in a test line of the examined band of transparent material are treated differently than the rest of this line. Thus, for example, the edge area of the examined band, which is not used later, remain insignificant in terms of errors occurring there. The payload is defined in such a case by the range between "D in" and "D out".

Mittels der erfindungsgemäßen optischen Konfiguration und dem erfindungsgemäßen Betriebsprogramm, bzw. Lernprogramm, können folgende Fehlertypen detektiert und typisiert werden.

1) Blasen und Einschlüsse durch Dunkelfeld-Beleuchtung und Impulslicht 5 und Konstantlicht 6
2) Knoten (nicht aufgeschmolzene Materialpartikel) mittels den Zeilenkameras 1 und der Hellfeld-Beleuchtung 8,
3) Zinn-Fehler (Tin Pickup, Top Tin (kalt oder heiß) mittels den Zeilenkameras 9 und Impulslicht 5 und Konstantlicht 6,
4) Sulfat-Fehler

By means of the optical configuration according to the invention and the operating program or learning program according to the invention, the following error types can be detected and typed.

1) Bubbles and inclusions due to dark field illumination and pulsed light 5 and constant light 6
2) Nodes (not melted material particles) by means of the line scan cameras 1 and the brightfield lighting 8th .
3) Tin fault (Tin Pickup, Top Tin (cold or hot) by means of the line scan cameras 9 and pulse light 5 and constant light 6 .
4) sulfate error

BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS

11: Zeilenkamera für Gitterreferenz und DunkelfeldlichtLine scan camera for grid reference and dark field light
22: DunkelfeldbeleuchtungDark field illumination
33: Glasband (Inspektionsmedium)Glass ribbon (inspection medium)
44: Beleuchtungsebeneillumination plane
55: Leuchtmittel (oszillierender Lichtstrom)Illuminant (oscillating luminous flux)
66: Leuchtmittel (konstanter Lichtstrom)Illuminant (constant luminous flux)
77: Strichgittergratings
88th: Hellfeld-BeleuchtungBrightfield illumination
99: Zeilenkamera (optische Verzerrungen, Impulslicht, Hellfeldlicht)Line scan camera (optical distortions, pulsed light, brightfield light)
1010: Ausschnitt für LernprogrammClipping for tutorial
1111: Befestigungs-Portal (Grundrahmen)Mounting portal (base frame)
12 12: Parameter, SollwertParameter, setpoint
1313: Differenzstufedifferential stage
1414: Parameter, DämpfungParameters, damping
1515: Offset-Bildung für nächste Zeile mit DämpfungOffset formation for next line with attenuation
1616: Video-EingangssignalVideo input signal
1717: Zeilen-StartLine Start
1818: D in (Zeile mit Dämpfung Eingang)D in (line with damping input)
1919: Verzögerungsstufedelay stage
2020: Einstellung eines VerzögerungsalgorithmusSetting a delay algorithm
2121: Breitenzählerwidth counter
2222: RAM (Adresse)RAM (address)
2323: D outD out
2424: Offsetoffset
2525: Addiereradder
2626: Video-AusgangssignalVideo output

ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION

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Zitierte PatentliteraturCited patent literature

EP 1288651 B1 [0002]
EP 1477793 A2 [0003]

Claims

Device for the reliable detection of material defects in a continuously produced strip of transparent material by means of the examination of a transverse to the conveying direction, observed in transmitted light and reflected light, strip of a strip of this material, characterized in that it comprises the following features: a) a fastening Portal ( 11 ) in the width of the transparent material to be tested serves as a carrier of line scan cameras ( 9 ), whereby the line scan cameras ( 9 ) cover this width completely in terms of their detection range and the material band by means of a line-shaped light source ( 5 ) with a constant luminous flux and an adjacent line-shaped illuminant ( 6 ) is continuously illuminated with oscillating luminous flux, and wherein additional bright-field illumination ( 8th ) illuminates the examined strip in reflected light, b) the attachment portal ( 11 ) additionally serves as a carrier for further line scan cameras ( 1 ) whose optical axes to that of the line scan cameras ( 11 ) are slightly inclined, whereby the line scan cameras ( 1 ) cover the said width completely in terms of their coverage, the line-scan cameras ( 1 ) a grating ( 7 ), which is located on the surface of the illuminant ( 6 ) and wherein the examined strip is provided with dark field illumination ( 2 ) is illuminated in reflected light, c) a device for monitoring the function of the lighting means ( 5 . 6 . 2 . 8th ) and the cameras ( 9 . 1 )

Apparatus according to claim 1, characterized in that the grating ( 7 ) the surface of the illuminant ( 6 ) covered only halfway in terms of its longitudinal extent.

Device according to one of claims 1 or 2, characterized in that a sensor is provided which detects the speed of the band of transparent material and the line frequency of the line scan cameras ( 9 . 1 ) adapts to this.