DE202008017935U1 - Optical probe (II) - Google Patents
Optical probe (II) Download PDFInfo
- Publication number
- DE202008017935U1 DE202008017935U1 DE202008017935U DE202008017935U DE202008017935U1 DE 202008017935 U1 DE202008017935 U1 DE 202008017935U1 DE 202008017935 U DE202008017935 U DE 202008017935U DE 202008017935 U DE202008017935 U DE 202008017935U DE 202008017935 U1 DE202008017935 U1 DE 202008017935U1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- radiation
- electromagnetic radiation
- optical probe
- probe
- probe body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/303—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/954—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/954—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores
- G01N2021/9542—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores using a probe
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/954—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores
- G01N2021/9542—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores using a probe
- G01N2021/9546—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores using a probe with remote light transmitting, e.g. optical fibres
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Optische Sonde, umfassend
a) einen Sondenkörper (1, 24),
b) Mittel (2, 3, 4, 5, 17, 18, 19, 20, 21, 22, 23, 25) zum Einleiten elektromagnetischer Strahlung in einen Strahlungseintrittsbereich (16, 27) des Sondenkörpers (1, 24),
c) mindestens eine Strahlungs-Austrittsöffnung (6, 7, 8) für den Austritt der elektromagnetischen Strahlung aus dem Sondenkörper (1, 24) sowie
d) mindestens einen im Strahlungsverlauf hinter dem Strahlungseintrittsbereich (16, 27) im Sondenkörper (1, 24) angeordneten, die eingesetzte elektromagnetische Strahlung reflektierenden Strahlungs-Umlenkkörper (10, 14, 28), wobei der (die) Strahlungs-Umlenkkörper (10, 14, 28) so eingerichtet ist (sind), dass mindestens zwei separate Austrittsstrahlenbündel (34, 35) der elektromagnetischen Strahlung den Sondenkörper (1, 24) verlassen,
dadurch gekennzeichnet, dass
e) die Mittel (2, 3, 4, 5, 17, 18, 19, 20, 21, 22, 23, 25) zum Einleiten elektromagnetischer Strahlung sowie der mindestens eine Strahlungs-Umlenkkörper (10, 14, 28) derart eingerichtet sind, dass die mindestens zwei Austrittsstrahlenbündel (34,...Optical probe comprising
a) a probe body (1, 24),
b) means (2, 3, 4, 5, 17, 18, 19, 20, 21, 22, 23, 25) for introducing electromagnetic radiation into a radiation entry region (16, 27) of the probe body (1, 24),
c) at least one radiation outlet opening (6, 7, 8) for the exit of the electromagnetic radiation from the probe body (1, 24) and
d) at least one in the radiation course behind the radiation entrance region (16, 27) in the probe body (1, 24) arranged, the used electromagnetic radiation reflecting radiation deflecting body (10, 14, 28), wherein the (the) radiation deflecting body (10, 14, 28) is set up such that at least two separate exit beam bundles (34, 35) of the electromagnetic radiation leave the probe body (1, 24),
characterized in that
e) the means (2, 3, 4, 5, 17, 18, 19, 20, 21, 22, 23, 25) for introducing electromagnetic radiation and the at least one radiation deflecting bodies (10, 14, 28) are set up in this way in that the at least two exit beams (34, ...
Description
Die Erfindung betrifft eine optische Sonde umfassend, einen Sondenkörper, Mittel zum Einleiten elektromagnetischer Strahlung in einen Strahlungseintrittsbereich des Sondenkörpers, mindestens eine Strahlungs-Austrittsöffnung für den Austritt der elektromagnetischen Strahlung aus dem Sondenkörper sowie mindestens einen im Strahlungsverlauf hinter dem Strahlungseintrittsbereich im Sondenkörper angeordneten, die eingesetzte elektromagnetische Strahlung reflektierenden Strahlungs-Umlenkkörper, wobei der (die) Strahlungs-Umlenkkörper so eingerichtet ist (sind), dass mindestens zwei separate Austrittsstrahlenbündel der elektromagnetischen Strahlung den Sondenkörper verlassen.The The invention relates to an optical probe comprising a probe body, Means for introducing electromagnetic radiation into a radiation entrance area the probe body, at least one radiation outlet opening for the escape of the electromagnetic radiation the probe body and at least one in the radiation path arranged behind the radiation entrance area in the probe body, the electromagnetic radiation reflecting radiation deflecting body used, the radiation deflecting body (s) being so arranged is (are) that at least two separate exit beam the electromagnetic radiation leave the probe body.
Derartige
optische Sonden werden bevorzugt zur Untersuchung der Oberflächen
von Bohrungen eingesetzt, wobei die Sonden in das zu untersuchende
Bohrloch eingeführt werden. Aus der
Aus
der
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zu Grunde, eine optische Sonde der eingangs genannten Art zur Verfügung zu stellen, deren Aufbau vereinfacht ist und eine hohe Miniaturisierbarkeit aufweist und deren grundsätzlicher Aufbau zahlreiche Varianten zulässt.Of the Invention is now based on the object, an optical probe of to provide the aforementioned type whose Structure is simplified and has a high degree of miniaturization and their basic structure allows numerous variants.
Diese Aufgabe wird bei einer optischen Sonde der eingangs genannten Art dadurch gelöst, dass die Mittel zum Einleiten elektromagnetischer Strahlung sowie der mindestens eine Strahlungs-Umlenkkörper derart eingerichtet sind, dass die mindestens zwei Austrittsstrahlenbündel ohne Strahlteiler mittels Reflexion am mindestens einen Strahlungs-Umlenkkörper erzeugt werden.These Task is in an optical probe of the type mentioned solved by the fact that the means for introducing electromagnetic Radiation and the at least one radiation deflecting body are set up such that the at least two exit beam without beam splitter by means of reflection at the at least one radiation deflecting body be generated.
Durch den Verzicht auf den Strahlteiler wird eine Ursache für Strahlungsverluste eliminiert. Des Weiteren ist ein Bauteil ohne Strahlteiler besser miniaturisierbar. Zudem kann der Justage-Aufwand für die optischen Elemente verringert werden. Die Erzeugung zweier oder mehrerer separater Austrittsstrahlenbündel ohne Strahlteiler kann z. B. dadurch erfolgen, dass nur ein Teilbündel eines Eingangsstrahlenbündels am Strahlungsumlenkkörper reflektiert wird, während das andere Teilbündel ohne Umlenkung den Sondenkörper verlässt.By the abandonment of the beam splitter becomes a cause for Radiation losses eliminated. Furthermore, a component without Beam splitter better miniaturized. In addition, the adjustment effort be reduced for the optical elements. The production two or more separate exit beam without a beam splitter can z. B. take place in that only a partial bundle an input beam at Strahlungsumlenkkörper is reflected while the other sub-beam without deflection leaves the probe body.
Ein zusammenhängendes Eingangsstrahlenbündel kann auch als aus zwei Teilbündeln zusammengesetzt betrachtet werden, die unmittelbar aneinander grenzen. Somit werden zwei Strahlengänge erzeugt, die separat ausgewertet werden können und die es ermöglichen, ohne Bewegung des Sondenkörpers gleichzeitig verschiedene Oberflächenbereiche abzutasten und durch Auswertung der von der jeweiligen Oberfläche reflektierten Strahlung zu untersuchen. Eine gegebenenfalls für die Untersuchung größerer Oberflächenbereiche noch notwendige Bewegung der Sonde kann hierdurch reduziert werden, wodurch eine erhebliche Zeitersparnis erreicht wird.A contiguous input beam may also be considered to be composed of two sub-beams immediately adjacent to one another. Thus, two beam paths are generated, which can be evaluated separately and make it possible, without movement of the probe body simultaneously different Oberflä To scan areas and examined by evaluating the reflected radiation from the respective surface. A movement of the probe which may still be necessary for the examination of larger surface areas can hereby be reduced, whereby a considerable saving of time is achieved.
Die von der zu untersuchenden Oberfläche reflektierte Strahlung wird in der Regel wieder über den betroffenen Strahlungsumlenkkörper zurück durch den Strahlungseintrittsbereich hindurch einer Auswerteeinheit zugeführt, wobei die zurückgeführte Strahlung die Strecke des Strahlverlaufs des zugehörigen Eingangsstrahlenbündel in umgekehrter Richtung durchläuft.The reflected radiation from the surface to be examined is usually returned via the affected Strahlungsumlenkkörper back through the radiation entrance region through an evaluation unit fed, the recycled radiation the path of the beam path of the associated input beam goes through in the opposite direction.
Erfindungsgemäß können die Mittel zum Einleiten elektromagnetischer Strahlung derart eingerichtet sein, dass im Strahlungseintrittsbereich die elektromagnetische Strahlung vor dem erstmaligen Auftreffen zumindest eines Teils der elektromagnetischen Strahlung auf den mindestens einen Strahlungs-Umlenkkörper auf mindestens zwei räumlich voneinander getrennte Eingangsstrahlenbündel aufgeteilt ist. Durch die räumliche Trennung kann die Auswertbarkeit der separaten Strahlengänge weiter vereinfacht werden.According to the invention the means for introducing electromagnetic radiation set up in such a way be that in the radiation entrance area, the electromagnetic Radiation before the first impact of at least part of the electromagnetic radiation on the at least one radiation deflecting body on at least two spatially separated input beams is divided. Due to the spatial separation, the readability the separate beam paths are further simplified.
Es kann vorteilhaft sein, die erfindungsgemäße Sonde so auszubilden, dass für jedes Eingangsstrahlenbündel jeweils eine Reflexionsfläche vorgesehen ist. Ein Strahlungs-Umlenkkörper kann für jedes Eingangsstrahlenbündel jeweils eine Reflexionsfläche aufweisen, um die beiden Strahlenbündel auf unterschiedliche Bereiche der zu untersuchenden Oberfläche zu lenken. Alternativ kann zumindest eines der Strahlenbündel am Strahlungs-Umlenkkörper vorbei ohne Reflexion aus dem Sondenkörper hinaus geführt werden.It may be advantageous, the probe according to the invention form so that for each input beam in each case a reflection surface is provided. A radiation deflecting body can for each input beam respectively have a reflection surface around the two beams to different areas of the surface to be examined to steer. Alternatively, at least one of the radiation beams past the radiation deflecting body without reflection from the probe body be led out.
Die erfindungsgemäße Sonde kann auch so ausgeführt werden, dass die Mittel zum Einleiten elektromagnetischer Strahlung Lichtleiter umfassen. Mittels der Lichtleiter, z. B. Lichtleitfasern, kann die Strahlung in effektiver und Raum sparender Weise nahe an den oder die Strahlungs-Umlenkkörper oder unmittelbar an den Strahlungs-Austritt herangebracht werden. Durch den Einsatz von Lichtleitern kann insbesondere auch bei einer Vielzahl separater Strahlengänge eine hohe Miniaturisierung erreicht werden. Alternativ kann die Strahlung auch ohne Lichtleiter eingeleitet werden, z. B. durch freie, z. B. mittels Linsen und/oder Spiegel in den Sondenkörper hinein gerichtete Strahlenbündel. Auch innerhalb des Sondenkörpers können Linsen, z. B. Mikrolinsen vorgesehen werden, was allerdings den Nachteil des Strahlverlustes mit sich bringt.The Probe according to the invention can also be carried out in this way Be that means for introducing electromagnetic radiation Include light guides. By means of the light guide, z. B. optical fibers, can close the radiation in an effective and space-saving way or the radiation deflecting body or directly to be brought to the radiation outlet. Because of the engagement of light guides can in particular even in a variety of separate Beam paths high miniaturization can be achieved. alternative the radiation can also be initiated without a light guide, z. B. by free, z. B. by means of lenses and / or mirrors in the probe body directed in bundle of rays. Also inside the probe body can lenses, z. B. microlenses are provided, which However, the disadvantage of the beam loss brings with it.
Die erfindungsgemäße Sonde kann auch so ausgeführt werden, dass mindestens eine zweite Strahlungs-Austrittsöffnung vorgesehen ist. Auf diese Weise kann jedem Austrittsstrahlenbündel eine separate Austrittsöffnung zugeordnet sein. Alternativ können zwei separate Austrittsstrahlenbündel den Sondenkörper in unterschiedliche Richtungen oder parallel und zueinander beabstandet durch eine gemeinsame Strahlungs-Austrittsöffnung verlassen.The Probe according to the invention can also be carried out in this way be that at least one second radiation outlet opening is provided. In this way, each outlet beam can be associated with a separate outlet opening. Alternatively you can two separate exit beams bundle the probe body in different directions or in parallel and spaced apart leave through a common radiation outlet opening.
Die optische Sonde kann erfindungsgemäß auch so ausgebildet sein, dass mindestens zwei Strahlungsquellen der elektromagnetischen Strahlung mit unterschiedlichen Strahlungsfrequenzen vorgesehen sind. Die unterschiedlichen Strahlungsfrequenzen können kombiniert in der Untersuchung eines bestimmten Oberflächenbereiches in bekannter Weise eingesetzt werden, um durch die Kombination zweier Wellenlängen einen größeren Messbereich zu erreichen.The Optical probe according to the invention can also be formed be that at least two radiation sources of the electromagnetic Radiation provided with different radiation frequencies are. The different radiation frequencies can combined in the investigation of a certain surface area be used in a known manner, by the combination of two Wavelengths a larger measuring range to reach.
Es ist aber auch möglich, die erfindungsgemäße Sonde so auszubilden, dass die Mittel zum Einleiten elektromagnetischer Strahlung derart eingerichtet sind, dass sich die Frequenz der Strahlung in einem der Eingangsstrahlenbündel von der Frequenz der Strahlung in einem anderen der Eingangsstrahlenbündel unterscheidet. Auf diese Weise können separate und aufgrund der unterschiedlichen Frequenzen in der Auswertung voneinander unterscheidbare Strahlengänge gebildet werden. Insbesondere kann hierdurch die gleichzeitige Untersuchung mehrerer Oberflächenbereiche erleichtert werden.It but is also possible, the invention Probe so that the means for introducing electromagnetic Radiation are arranged such that the frequency of the radiation in one of the input beams from the frequency of the radiation in another the input beam differs. This way can be separate and due to the different frequencies in the evaluation of mutually distinguishable beam paths be formed. In particular, this can be the simultaneous examination several surface areas are facilitated.
Erfindungsgemäß kann die optische Sonde auch so ausgebildet sein, dass der oder zumindest einer der Strahlungs-Umlenkkörper strahlformend ist.According to the invention the optical probe also be designed so that the or at least one the radiation deflecting body is jet-forming.
Eine strahlformende Eigenschaft bedeutet, dass die einfallende Strahlung nicht nur umgelenkt wird, wie bei einem planen Spiegel. Vielmehr weist der Strahlungs-Umlenkkörper im Bereich des Auftreffens eine von der planen Ebene abweichende Struktur auf. So kann der Strahlungs-Umlenkkörper z. B. eine konkave Oberfläche aufweisen, mit der auftreffende Strahlung fokussiert wird. Dabei kann vorgesehen sein, dass die auftreffende Strahlung in Strahlverlauf vor dem Umlenkkörper parallel ist.A Beam-forming property means that the incident radiation not just diverted, like a plan mirror. Much more the radiation deflecting body is in the area of the impact a structure deviating from the plan level. So can the Radiation deflecting z. B. a concave surface have, is focused with the incident radiation. there can be provided that the incident radiation in the beam path in front of the deflection body is parallel.
Die auftreffende Strahlung kann aber auch ein sich aufweitendes oder ein sich verengendes Strahlenbündel sein. Bei bekanntem Verlauf der auftreffenden Strahlung kann die Krümmung der Reflexionsfläche des Strahlungs-Umlenkkörpers so gestaltet werden, dass sich der Fokuspunkts am gewünschten Ort relativ zum Sondenkörper befindet. Die Sonde kann dann in einer zu untersuchenden Bohrung so platziert werden, dass der Fokuspunkt genau auf der zu untersuchenden Oberfläche liegt. Bei einer Mehrzahl von Fokuspunkten können diese gleichzeitig auf unterschiedliche Oberflächen platziert werden. Die reflektierende Fläche des Strahlungs-Umlenkkörpers kann eine ultrapräzisionsgefertigte Funktionsfläche sein, wodurch eine hochgenaue Ausrichtung des Fokuspunktes möglich ist.The incident radiation can also be an expanding or narrowing beam. With a known course of the incident radiation, the curvature of the reflection surface of the radiation deflecting body can be designed such that the focal point is located at the desired location relative to the probe body. The probe can then be placed in a hole to be examined so that the focal point lies exactly on the surface to be examined. With a plurality of focus points, these can be placed simultaneously on different surfaces. The reflecting surface of the radiation deflecting body can be an ultra precision manufactured functional surface, whereby a highly accurate alignment of the focal point is possible.
Bei einer konvexen Form der reflektierenden Funktionsfläche kann auch eine zerstreuende Wirkung erreicht werden, um einen möglichst großen Bereich auf der zu untersuchenden Oberfläche zu bestrahlen.at a convex shape of the reflective functional surface Also, a dispersive effect can be achieved to a possible extent large area on the surface to be examined to irradiate.
Mit dem strahlformenden Strahlungs-Umlenkkörper kann auf weitere strahlformende Bestandteile, insbesondere Linsen, verzichtet werden. Hierdurch können Strahlungsverluste auf Grund der Transmission durch eine Linse vermieden werden. Soweit auf Linsen verzichtet wird, wird auch die Miniaturisierbarkeit erhöht. Zudem ist der Justageaufwand geringer.With the beam-shaping radiation deflection body can on more beam-forming components, in particular lenses, are dispensed with. As a result, radiation losses due to the transmission be avoided by a lens. As far as omitted lenses will also increase the miniaturization. moreover the adjustment effort is lower.
Bei der Verwendung von Lichtleitern im Strahlungseintrittsbereich kann auch eine Gradienten-Index-Faser verwendet werden, zum Beispiel um eine Fokussierung des Strahlenbündels auch dann zu erreichen, wenn das Strahlenbündel nicht auf einen strahlformenden Strahlungs-Umlenkkörper trifft.at the use of optical fibers in the radiation entrance area can Also, a gradient index fiber can be used, for example in order to achieve a focusing of the beam even then if the beam does not focus on a beam Radiation deflection meets.
Im Folgenden werden Ausbildungsbeispiele der erfindungsgemäßen optischen Sonde anhand von Figuren dargestellt.in the Below are training examples of the invention optical probe illustrated by figures.
Es zeigen schematisch:It show schematically:
Die
eingekoppelte Strahlung läuft in Form von drei separaten
Strahlenbündeln
Das
Strahlenbündel
Strahlenbündel
Die
von den Oberflächen
Die
In
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNGQUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.This list The documents listed by the applicant have been automated generated and is solely for better information recorded by the reader. The list is not part of the German Patent or utility model application. The DPMA takes over no liability for any errors or omissions.
Zitierte PatentliteraturCited patent literature
- - US 6781699 B2 [0002] - US 6781699 B2 [0002]
- - DE 3232904 C2 [0003] - DE 3232904 C2 [0003]
Claims (9)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE202008017935U DE202008017935U1 (en) | 2008-10-07 | 2008-10-07 | Optical probe (II) |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE202008017935U DE202008017935U1 (en) | 2008-10-07 | 2008-10-07 | Optical probe (II) |
DE102008050259A DE102008050259A1 (en) | 2008-10-07 | 2008-10-07 | Optical sensor for inspecting surfaces of boreholes, has light conductors, radiation source, coupling elements, and deflecting bodies arranged such that exit radiation beams are produced without beam splitter by reflection at bodies |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE202008017935U1 true DE202008017935U1 (en) | 2010-12-30 |
Family
ID=41795072
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE202008017935U Expired - Lifetime DE202008017935U1 (en) | 2008-10-07 | 2008-10-07 | Optical probe (II) |
DE102008050259A Ceased DE102008050259A1 (en) | 2008-10-07 | 2008-10-07 | Optical sensor for inspecting surfaces of boreholes, has light conductors, radiation source, coupling elements, and deflecting bodies arranged such that exit radiation beams are produced without beam splitter by reflection at bodies |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102008050259A Ceased DE102008050259A1 (en) | 2008-10-07 | 2008-10-07 | Optical sensor for inspecting surfaces of boreholes, has light conductors, radiation source, coupling elements, and deflecting bodies arranged such that exit radiation beams are produced without beam splitter by reflection at bodies |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (2) | DE202008017935U1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
PT3156760T (en) * | 2015-10-14 | 2019-10-11 | Sturm Maschinen & Anlagenbau Gmbh | Sensor device and method for surface inspection of a cylindrical cavity |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3232904C2 (en) | 1982-09-04 | 1991-02-14 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart, De | |
US6781699B2 (en) | 2002-10-22 | 2004-08-24 | Corning-Tropel | Two-wavelength confocal interferometer for measuring multiple surfaces |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4305661A (en) * | 1979-02-27 | 1981-12-15 | Diffracto, Ltd. | Method and apparatus for determining physical characteristics of objects and object surfaces |
US5895927A (en) * | 1995-06-30 | 1999-04-20 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Electro-optic, noncontact, interior cross-sectional profiler |
DE102005059550A1 (en) * | 2005-12-13 | 2007-06-14 | Siemens Ag | Optical measuring device for measuring inner wall of e.g. ear channel, in animal, has rotatable reflector rotatable around rotary axis so that inner wall of cavity is scanned along line circulating rotary axis |
-
2008
- 2008-10-07 DE DE202008017935U patent/DE202008017935U1/en not_active Expired - Lifetime
- 2008-10-07 DE DE102008050259A patent/DE102008050259A1/en not_active Ceased
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3232904C2 (en) | 1982-09-04 | 1991-02-14 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart, De | |
US6781699B2 (en) | 2002-10-22 | 2004-08-24 | Corning-Tropel | Two-wavelength confocal interferometer for measuring multiple surfaces |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102008050259A1 (en) | 2010-04-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE112015000627B4 (en) | Microspectroscopic device | |
EP1430486A2 (en) | Method and device for analysing a sample by means of a raster scanning probe microscope | |
EP3056934B1 (en) | Measuring head of an endoscopic device and method of inspecting and measuring an object | |
EP3140628B1 (en) | System and method for analyzing a light beam conducted by a beam-conducting optical unit | |
DE102013113265B4 (en) | Device for non-contact optical distance measurement | |
DE19951482A1 (en) | Multi-wavelength illumination device for microscope, has correction lens system which provides direction change for at least one wavelength | |
DE102010016462B4 (en) | Layer measuring method and measuring device | |
DE102008022493A1 (en) | Apparatus and method for evanescent illumination of a sample | |
DE102008050258A1 (en) | Optical probe for testing surfaces of borehole, has radiation-deflection body that is arranged in probe body for reflecting bundle of radiations, and radiation outlet discharging reflected bundle of radiations | |
DE10021379A1 (en) | Optical measuring arrangement, in particular for measuring the layer thickness | |
DE3244484A1 (en) | DEVICE FOR OPTIMIZING THE COUPLING OF TWO OPTICAL SYSTEMS FOR OBSERVING AND ANALYZING OBJECTS | |
DE102019001498A1 (en) | Device for optical measurement and mapping of a measurement object and method | |
DE202008017935U1 (en) | Optical probe (II) | |
DE4005878C2 (en) | ||
DE102022117536A1 (en) | Device for chromatically confocal measurement of distances | |
DE102014216278A1 (en) | Device for the interferometric measurement of an object | |
DE3804642A1 (en) | Arrangement for avoiding the variable aperture aberration (spherical aberration) in scanning microscopes having z-scan | |
DE10146945A1 (en) | Measuring arrangement and measuring method | |
WO2002014811A1 (en) | Light detector unit and method for detecting luminescence light and confocal microscope for luminescence microscopy | |
DE102022110651B4 (en) | Compact optical spectrometer | |
DE102018126009A1 (en) | Method and microscope for determining the thickness of a cover or supporting glass | |
DE102019210041B4 (en) | Optical device for a multi-channel opto-mechanical addressing unit | |
DE3010307C2 (en) | Optical system for a discussion microscope | |
EP3786575B1 (en) | Optical chromatic confocal measuring apparatus and method | |
DE102017124547B4 (en) | microscope |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R207 | Utility model specification |
Effective date: 20110203 |
|
R150 | Utility model maintained after payment of first maintenance fee after three years | ||
R150 | Utility model maintained after payment of first maintenance fee after three years |
Effective date: 20111130 |
|
R151 | Utility model maintained after payment of second maintenance fee after six years | ||
R151 | Utility model maintained after payment of second maintenance fee after six years |
Effective date: 20140903 |
|
R158 | Lapse of ip right after 8 years |