DE19918630A1 - Arrangements to monitor the performance of D-WDM multi-wavelength systems - Google Patents
Arrangements to monitor the performance of D-WDM multi-wavelength systemsInfo
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Abstract
Description
Bei dichtgepackten WDM Systemen (dense WDM, D-WDM) werden Nachrichten über Lichtsignale bei verschiedenen Wellenlängen über nur eine Faser übertragen. Jede Wellenlänge ist Träger eines Informationssignals. Dabei liegen derzeit alle Kanäle innerhalb des Wellenlängenbereichs von ca. 1520 nm bis 1565 nm. Weiterführende Entwicklungen sollen die Nutzung eines erweiterten Wellenlängenbereiches von ca. 1390 nm bis 1650 nm ermöglichen. Der Kanalabstand beträgt dabei nur wenige Nanometer bzw. einige hundert Picometer. Von der internationalen ITU-T Arbeitsgruppe wurden dabei zur Standardisierung dieser Telekommunikationssysteme die zu verwendenden Wellenlängen (d. h. Kanäle) mit einem Kanalabstand von 100 GHz (entspricht 0.8 nm) als Standard empfohlen.With densely packed WDM systems (dense WDM, D-WDM) messages are sent via Light signals at different wavelengths are transmitted via just one fiber. Any wavelength is the carrier of an information signal. All channels are currently within the Wavelength range from approx. 1520 nm to 1565 nm. Further developments should Enable use of an extended wavelength range from approx. 1390 nm to 1650 nm. The channel spacing is only a few nanometers or a few hundred picometers. Of the international ITU-T working group were used to standardize this Telecommunication systems the wavelengths to be used (i.e. channels) with a Channel spacing of 100 GHz (corresponds to 0.8 nm) is recommended as standard.
An vielen Stellen dieses Übertragungssystems werden Anordnungen zur laufenden
Überwachung aller charakteristischer Parameter benötigt. Die laufende Überwachung gestattet
nach Notwendigkeit eine gezielte Signalregeneration oder -verbesserung, bzw. die schnelle
Reaktion auf Störungen und Ausfälle. Zu den wichtigsten Parametern gehören dabei die
Wellenlänge sowie die Leistung, die Wellenlängendrift der Laser, sowie das Signal-Rausch-
Verhältnis in jedem Übertragungskanal. Typische Spezifikationsanforderungen für die
Überwachung sind dabei:
At many points in this transmission system, arrangements for the continuous monitoring of all characteristic parameters are required. The ongoing monitoring allows a targeted signal regeneration or improvement, or the quick reaction to faults and failures. The most important parameters include the wavelength and the power, the wavelength drift of the lasers, and the signal-to-noise ratio in each transmission channel. Typical specification requirements for monitoring are:
- - Wellenlängenmessung pro Kanal mit 0.08 nm absoluter Genauigkeit und 0.01 nm Auflösung- Wavelength measurement per channel with 0.08 nm absolute accuracy and 0.01 nm resolution
- - Leistungsmessung pro Kanal mit 0.5 dB absoluter Genauigkeit und 0.1 dB Auflösung- Power measurement per channel with 0.5 dB absolute accuracy and 0.1 dB resolution
- - S/N-Messung zwischen den Kanälen mit 0.4 dB absoluter Genauigkeit, 0.1 dB- S / N measurement between the channels with 0.4 dB absolute accuracy, 0.1 dB
- - Wiederholbarkeit und einer Dynamik von mindestens 33 dB- Repeatability and a dynamic range of at least 33 dB
- - Zuverlässigkeit über 1010 Meßzyklen (ca. 20 Jahre)- Reliability over 1010 measuring cycles (approx. 20 years)
- - geringe PDL (0.1 dB max.)- low PDL (0.1 dB max.)
- - Messung in Quasi-Echtzeit- Measurement in quasi real time
Zur Überwachung eignen sich grundsätzlich zwei verschiedene Verfahren: die Filtertechnik und die Interferometertechnik. Beide kommen in konventionellen optischen Spektrumanalysatoren zur Anwendung. There are basically two different methods for monitoring: filter technology and the interferometer technology. Both come in conventional optical spectrum analyzers to use.
Bei der Filtertechnik werden zur Wellenlängenselektion durchstimmbare schmalbandige Filter verwendet. Es kommen akustooptische Filter (z. B. Fa. Wandel & Goltermann) oder piezoelektrisch gesteuerte Mikrofilter (z. B. Fa. Queensgate) zum Einsatz, die direkt über eine elektrische Größe abstimmbar sind. Eine weitere Variante ist die Gittermonochromatortechnik, bei dem entweder das Gitter gedreht und das räumlich aufgelöste Signalspektrum mit einer einzelnen Photodiode abgetastet wird oder das Gitter feststeht und ein scannender Ablenkspiegel vor dem Ausgangsspalt des Monochromators vorgesehen ist (z. B. Fa. Photonetics), oder es wird ein feststehendes Gitter zusammen mit einer Fotodiodenzeile als Detektoreinheit (z. B. Fa. Yokogawa) verwendet.Filter technology uses tunable narrow-band filters for wavelength selection used. There are acousto-optical filters (e.g. from Wandel & Goltermann) or piezoelectrically controlled microfilters (e.g. from Queensgate) are used, which are directly connected to a electrical size are tunable. Another variant is the lattice monochromator technology, where either the grid is rotated and the spatially resolved signal spectrum with a individual photodiode is scanned or the grid is fixed and a scanning deflecting mirror is provided in front of the exit slit of the monochromator (e.g. from Photonetics), or it will a fixed grid together with a photo diode array as a detector unit (e.g. from Yokogawa) used.
Bei der Interferometertechnik wird aus dem Detektorsignal eines Michelson-Interferometers mit variablen Weglängen mit Hilfe der Fouriertransformation das Spektrum gewonnen (z. B. Fa. Hewlett Packard).In interferometer technology, the detector signal of a Michelson interferometer is also used variable path lengths with the help of the Fourier transformation the spectrum is obtained (e.g. Fa. Hewlett Packard).
Alle erwähnten, konventionellen Anordnungen sind nicht geeignet, die hohen Anforderungen, die bezüglich Auflösung, Meßgenauigkeit, ASE-Messung und Dynamik an eine Monitoring- Baugruppe für ein WDM System gestellt werden, gleichzeitig und in geeigneter Weise zu erfüllen und außerdem den Forderungen nach kurzer Meßzeit, Langlebigkeit und geringem Platzbedarf zu entsprechen.All of the conventional arrangements mentioned are not suitable, the high requirements, who are responsible for monitoring, resolution, measurement accuracy, ASE measurement and dynamics Assembly for a WDM system can be provided simultaneously and in a suitable manner meet and also the requirements for short measuring time, durability and low Space requirements.
Ziel der Erfindung ist es, ein geeignetes kompaktes Meßsystem zu realisieren, das bei Meßzeiten im ms-Bereich die permanente und parallele Überwachung der Kanäle eines D-WDM Systems nach Frequenz, Leistung, Drift und SNR gestattet.The aim of the invention is to realize a suitable compact measuring system, the measuring times permanent and parallel monitoring of the channels of a D-WDM system in the ms range allowed by frequency, power, drift and SNR.
Die Aufgabe wird, gemäß den Merkmalen des Anspruches 1, durch die Verwendung eines speziellen Demultiplexers der D-WDM Technik, kombiniert mit einem Array von Photodetektoren, realisiert.The object is, according to the features of claim 1, by using a special demultiplexer of D-WDM technology, combined with an array of Photodetectors realized.
Dabei wird die Eigenschaft eines Phased-Array-Demultiplexers ausgenutzt, daß die Kanalmitten frequenzen eines solchen Demultiplexers durch Änderung der Temperatur definiert veränderlich sind. Ändert man zeitlich periodisch die Temperatur und mißt diese gleichzeitig, so können die Mittenfrequenzen jedes separierten Kanals eindeutig zugewiesen werden. The property of a phased array demultiplexer is exploited that the channel centers frequencies of such a demultiplexer variable by changing the temperature are. If you change the temperature periodically and measure it at the same time, you can The center frequencies of each separated channel can be clearly assigned.
Das Filterprofil jeden Kanals des Demultiplexers ist gaußförmig. Das Ausgangssignal des an
jedem Kanalausgang angeordneten Photodetektors ist der zeitliche Mittelwert über die von der
Filterfunktion bewertete anliegende Spektralfunktion. In Kenntnis der Bewertungsfunktion
(gaußförmige Durchlaßkurve über der Wellenlänge) und momentaner Mittenfrequenz (zeitlich
veränderlich durch Temperatursteuerung) können die Parameter
The filter profile of each channel of the demultiplexer is Gaussian. The output signal of the photodetector arranged at each channel output is the time average over the applied spectral function evaluated by the filter function. Knowing the evaluation function (Gaussian transmission curve over the wavelength) and the current center frequency (changing over time through temperature control), the parameters
- - Zentralwellenlänge und zeitliche Drift des optischen Trägers,Central wavelength and temporal drift of the optical carrier,
- - optische Leistung und zeitliche Veränderung,- optical performance and change over time,
- - spektrale Leistungsdichten außerhalb der Nutzbereiche zur Bestimmung des Signal-Rausch- Abstandes ermittelt werden.- spectral power densities outside the useful range for determining the signal-noise Distance can be determined.
Das System enthält keine beweglichen Teile. Die Separation der zu überwachenden Kanäle erfolgt mit einer Baugruppe in integrierter Optik. Die parallele Datenerfassung gewährleistet kurze Meßzeiten. Die verwendeten Baugruppen sind weitgehend polarisationsunempfindlich. Das System weist vernachlässigbare Rückwirkungen auf. Das Meßsystem ist kompakt aufgebaut. Einflüße auf die Meßgenauigkeit durch undefinierte Polarisationsrichtungen der zu vermessenden Spektren werden durch die Vorschaltung einer Einrichtung zur Polatrisations manipulation verhindert. Dafür kommen Einrichtungen, die die Polarisationsrichtung statistisch verändern (Polarisationsscrambler), und Polarisationsschalter zum Einsatz.The system contains no moving parts. The separation of the channels to be monitored takes place with an assembly in integrated optics. The parallel data acquisition is guaranteed short measuring times. The modules used are largely insensitive to polarization. The system has negligible repercussions. The measuring system is compact built up. Influences on the measurement accuracy due to undefined polarization directions Surveying spectra are provided by connecting a device for polarization manipulation prevented. For this come facilities that statistically determine the polarization direction change (polarization scrambler), and polarization switch used.
In Fig. 1 ist der prinzipielle Aufbau eines D-WDM Monitors dargestellt. Am Fasereingang (1) wird das zu untersuchende D-WDM Spektrum eingespeist. Der nachfolgende Demultiplexer (2) separiert an seinem Ausgang n Kanäle, je nachdem für wieviel Ausgänge dieses Bauteil spezifiziert ist. Statt der üblicherweise dort vorhandenen n Ausgangsfasern sind n Photodetektoren (4) angebracht, von denen jede die Strahlung eines Ausgangskanals erfaßt. Die elektrischen Signale werden n-kanalig (5) der Auswerteeinheit (6), sowie der Anzeige- und Steuereinheit (7) übergeben. Durch eine Rückführung (8) aus der Anzeige- und Steuereinheit (7) wird der Demultiplexer (2) über die Modulationseinrichtung (3) in seiner Durchlaßcharakteristik periodisch verändert. Diese Änderung wirkt sich ausschließlich auf die Durchlaßwellenlänge jedes einzelnen Kanals aus.In Fig. 1 the basic structure of a D-WDM monitor is shown. The D-WDM spectrum to be examined is fed in at the fiber input ( 1 ). The following demultiplexer ( 2 ) separates n channels at its output, depending on how many outputs this component is specified for. Instead of the n output fibers usually present there, n photodetectors ( 4 ) are attached, each of which detects the radiation of an output channel. The electrical signals are transmitted via the n-channel ( 5 ) to the evaluation unit ( 6 ) and the display and control unit ( 7 ). A feedback ( 8 ) from the display and control unit ( 7 ) periodically changes the pass characteristic of the demultiplexer ( 2 ) via the modulation device ( 3 ). This change only affects the transmission wavelength of each individual channel.
In Fig. 2 ist der Demultiplexer (2) ein Phased-Array-Demultiplexer, der durch eine Substrattemperierung (10) in der Charakteristik verändert wird. Die Messung der aktuellen Temperatur erfolgt über den integrierten Sensor (11), dessen Signal (9) von der Anzeige- und Steuereinheit (7) ausgewertet wird und der Ablaufsteuerung dient. In Fig. 2 the demultiplexer ( 2 ) is a phased array demultiplexer, which is changed in the characteristics by a substrate temperature control ( 10 ). The current temperature is measured via the integrated sensor ( 11 ), the signal ( 9 ) of which is evaluated by the display and control unit ( 7 ) and is used for sequence control.
Fig. 3 zeigt eine Anordnung, bei der die nicht zwangsläufig festliegende Polarisationsrichtung des Eingangssignales durch einen Polarisationsscambler statistisch verteilt wird, um so polarisationsbedingte Meßfehler zu vermeiden. Fig. 3 shows an arrangement in which the polarization direction is not necessarily downer of the input signal is distributed by a statistically Polarisationsscambler, so as to avoid polarization-induced measurement error.
In Fig. 4 ist der Scrambler durch einen Polarisationsschalter ersetzt, der periodisch und synchron mit der Datenerfassung und Verarbeitung zwischen zwei orthogonalen Polarisationszuständen umschaltet und durch einen weiteren Polarisator dem Eingang des Phased Array einen definierten Polarisationszustand bereitstellt. Damit können Meßfehler durch wechselnde Polarisationsrichtungen des Eingangssignals ausgeschaltet werden. In FIG. 4, the scrambler is replaced by a polarization switch which switches periodically and in synchronism with the data acquisition and processing between two orthogonal polarization states and the input of the phased array provides by a further polarizer a defined polarization state. This allows measurement errors due to changing polarization directions of the input signal to be eliminated.
Fig. 1 Prinzipieller Aufbau eines D-WDM Monitors Fig. 1 Basic structure of a D-WDM monitor
Fig. 2 Aufbau eines D-WDM Monitors mit Phased-Array-Demultiplexer Fig. 2 Structure of a D-WDM monitor with phased array demultiplexer
Fig. 3 Aufbau eines D-WDM Monitors mit Phased-Array-Demultiplexer mit vorgeschaltetem Polarisationsscrambler Fig. 3 Structure of a D-WDM monitor with phased array demultiplexer with an upstream polarization scrambler
Fig. 4 Aufbau eines D-WDM Monitors mit Phased-Array-Demultiplexer mit vorgeschaltetem Polarisationschalter Fig. 4 Structure of a D-WDM monitor with phased array demultiplexer with an upstream polarization switch
11
Fasereingang
Fiber input
22nd
Demultiplexer,
Demultiplexer,
33rd
Modulationseinrichtung
Modulation device
44th
Photodetektoren
Photodetectors
55
n-kanaliger Übertragungsweg
N-channel transmission path
66
Auswerteeinheit
Evaluation unit
77
Anzeige- und Steuereinheit
Display and control unit
88th
Rückführung
return
99
Signal
signal
1010th
Substrattemperierung
Substrate temperature control
1111
Sensor
sensor
1212th
Polarisationsscrambler
Polarization scrambler
1313
Polarisationsschalter
Polarization switch
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Cited By (2)
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---|---|---|---|---|
WO2002091053A1 (en) * | 2001-05-04 | 2002-11-14 | Bookham Technology Plc | Wavelength selective optical device and method of operating the same |
WO2003050980A2 (en) * | 2001-12-10 | 2003-06-19 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Wavelength division multiplexing optical performance monitors |
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002091053A1 (en) * | 2001-05-04 | 2002-11-14 | Bookham Technology Plc | Wavelength selective optical device and method of operating the same |
WO2003050980A2 (en) * | 2001-12-10 | 2003-06-19 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Wavelength division multiplexing optical performance monitors |
WO2003050980A3 (en) * | 2001-12-10 | 2004-03-25 | Du Pont | Wavelength division multiplexing optical performance monitors |
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