DE19915851A1

DE19915851A1 - Image processing method for pixel image signals provided by solid-state image detector

Info

Publication number: DE19915851A1
Application number: DE1999115851
Authority: DE
Inventors: Martin Spahn
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1999-04-08
Filing date: 1999-04-08
Publication date: 2000-12-07

Abstract

The image processing method combines the signals for an offset image with the pixel image signals provided by a solid-state image detector, for providing an offset corrected image. An offset correction value is determined using the pixel signals for a dark reference zone of the solid-state image detector for correction of all pixel image signals of the offset corrected image.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Verarbeiten der von einem aus einer Pixelmatrix mit einer Dunkelreferenzzone be stehenden Festkörperbildsensor gelieferten Pixelbildsignale zur Korrektur des Offset sowie etwaiger Offset-Instabilitä ten.The invention relates to a method for processing the one from a pixel matrix with a dark reference zone standing solid-state image sensor supplied pixel image signals to correct the offset and any offset instability ten.

Festkörperbilddetektoren sind bekannt und basieren auf akti ven Pixelmatrizen (Panels), z. B. aus amorphen Silizium (a- Si). Die Bildinformation, welche beispielsweise von einer auf den Festkörperbilddetektor treffenden Röntgenstrahlung, die zuvor ein zu durchleuchtendes Objekt, beispielsweise einen Patienten durchstrahlt hat, geliefert wird, wird in einem Röntgenkonverter in Form einer Szintillatorschicht (z. B. aus Cäsiumjodid (CsJ), Gadolinium-Oxi-Sulfit (GOS) oder Selen) in von der Pixelmatrix verarbeitbare Strahlung gewandelt. In den aktiven Pixeln der Matrix werden hierdurch elektrische Ladun gen generiert und gespeichert und anschließend mit einer de dizierten Elektronik ausgelesen. Die Daten, die der Detektor liefert, werden als Rohdaten bezeichnet. Der Dateninhalt ei nes jeden Pixels setzt sich dabei aus einem Offsetwert und einem der absorbierten Strahlung entsprechenden Wert (Nutz signal) zusammen. Die Rohdaten enthalten Insuffizienzen des Festkörperbilddetektors (unterschiedliche Werte im Offset, unterschiedliche Sensitivität und Defekte, neben anderen mög lichen Störungen). Die Mindestanforderung an die Rohdatenver arbeitung, also die Pixelbildsignalverarbeitung eines rönt genbelichteten Bildes bei Festkörperdetektoren beinhalten da her (in der angegebenen Reihenfolge) Solid state image detectors are known and are based on acti ven pixel matrices (panels), e.g. B. from amorphous silicon (a- Si). The image information, for example, from one to the other the solid-state image detector X-rays that previously an object to be examined, for example one Patient has been irradiated, is delivered in one X-ray converter in the form of a scintillator layer (e.g. from Cesium iodide (CsJ), gadolinium oxysulfite (GOS) or selenium) in converted radiation that can be processed by the pixel matrix. In the As a result, active pixels of the matrix become electrical charges gen generated and saved and then with a de dedicated electronics. The data that the detector supplies are referred to as raw data. The data content Each pixel consists of an offset value and a value corresponding to the absorbed radiation (usable signal) together. The raw data contain insufficiencies of the Solid state image detector (different values in offset, different sensitivity and defects, among others possible malfunctions). The minimum requirement for the raw data ver work, i.e. the pixel image signal processing of a roentgen genexposed image in solid state detectors include forth (in the order given)

1. a correction of the offset by subtracting a so-called called offset image, which before or shortly afterwards oh ne application of radiation was recorded,
2. a "flatfielding" correction that differentiated the locally sensitive sensitivities, and
3. a correction of the defective areas by suitable loading calculation (e.g. interpolation) from the neighboring area.

Probleme hinsichtlich des gegebenen Offsets können daraus re sultierend auftreten, dass die Stabilität des Offsetverhal tens unter Umständen nicht vollkommen gewährleistet sein kann, das heißt, dass der Offsetwert von zwei aufeinander folgend aufgenommenen Bildern - z. B. dem Röntgenbild und dem zur Offsetkorrektur benötigten Offsetbild - unterschiedlich und nicht vorhersagbar sein kann. Gründe für solche Schwan kungen sind z. B. elektronische Instabilitäten, Eigenschaften des a-Si-Materials oder Temperatureffekte. Die Instabilität des Offsetverhaltens kann folglich zu einer fehlerhaften Kor rektur führen und Artefakte erzeugen. Dies kann unter Umstän den die Bildqualität erheblich verschlechtern. Die Instabili tät und damit die sichtbaren Artefakte können sich dabei auf geometrische Strukturen, also Flächenabschnitte der Pixelma trix beziehen, die durch die Ansteuer- oder Ausleseelektronik definiert sind oder durch eine Unterteilung der gesamten ak tiven Fläche auf mehrere individuelle Panels bei großflächi gen Detektoren. Die Strukturen, die von der Elektronik erwar tet werden, sind durch die Anzahl der Kanäle pro Ansteuer- oder Auslesechip (z. B. 64 oder 128) definiert, also bei spielsweise in Form von Streifen einer Breite von 64 oder 128 Kanälen.Problems with the given offset can result from this sulting occur that the stability of the offset behavior may not be fully guaranteed can, that is, the offset value of two on top of each other following pictures taken - e.g. B. the x-ray and the offset image required for offset correction - different and cannot be predictable. Reasons for such swan kungen are z. B. electronic instabilities, properties of the a-Si material or temperature effects. The instability the offset behavior can consequently lead to an incorrect cor perform rectification and create artifacts. This may happen which significantly deteriorate the image quality. The instabili and the visible artifacts can change geometric structures, i.e. surface sections of the Pixelma obtain trix through the control or readout electronics are defined or by a subdivision of the entire ak tive area on several individual panels with large areas against detectors. The structures that electronics expected are determined by the number of channels per control or readout chip (e.g. 64 or 128) defined, i.e. at for example in the form of strips with a width of 64 or 128 Channels.

Der Erfindung liegt damit das Problem zugrunde, ein Verfahren anzugeben, das auf einfache Weise eine Korrektur des Offsets sowie etwaiger Offset-Instabilitäten ermöglicht. The invention is therefore based on the problem of a method specify that the correction of the offset is simple and any offset instabilities.

Zur Lösung dieses Problems umfasst ein Verfahren der eingangs genannten Art erfindungsgemäß folgende Schritte:
To solve this problem, a method of the type mentioned in the introduction comprises the following steps:

- Computational linkage of the signals of an offset image with the read out pixel image signals to determine a offset corrected image,
- Determination of an offset correction value based on signals the pixel of the dark reference zone, and
- Arithmetical calculation dependent on the determined offset correction value Linking the offset correction value with all pixel images signals of the offset-corrected image.

Das erfindungsgemäße Verfahren nutzt zur Offsetkorrektur die sich am Rande des Festkörperbilddetektors befindliche Dunkel referenzzone (DRZ). Diese Dunkelreferenzzone ist nicht oder so gut wie nicht sensitiv für Röntgenstrahlung, sie verhält sich aber ansonsten wie alle anderen Pixel in der aktiven Fläche des Festkörperbilddetektors, das heißt, die von den Pixeln der Dunkelreferenzzone gelieferten Pixelbildsignale bestehen nicht aus Offsetwert und Nutzsignal, sondern (idea lerweise) nur aus dem Offsetwert. Die Dunkelreferenzzone dient daher als Maß für den Offset des gesamten Detektors. Durch geeignete Verarbeitung der Pixelbildsignalinformation aus der Dunkelreferenzzone kann damit auf die Instabilität des Festkörperbilddetektors geschlossen werden. Im Rahmen dessen wird anhand der Pixelbildsignale aus der Dunkelrefe renzzone ein Offset-Korrekturwert ermittelt, welcher dann - abhängig von seinem konkreten Wert (bei einem Offset von 0 erübrigt sich eine Korrektur) - rechnerisch mit sämtlichen Pixelbildsignalen des offset-korrigierten Bilds verknüpft wird. Es wird also ein "globaler" Offset-Korrekturwert für die gesamte Pixelmatrix ermittelt, das heißt, es erfolgt eine "globale" Korrektur über die gesamte aktive Detektorfläche. Hierdurch kann bereits eine beachtliche Offsetkorrektur er reicht werden. The method according to the invention uses the for offset correction darkness located on the edge of the solid-state image detector reference zone (DRZ). This dark reference zone is not or practically not sensitive to X-rays, it behaves but otherwise like all other pixels in the active Area of the solid-state image detector, that is, that of the Pixel image signals provided by pixels of the dark reference zone do not consist of offset value and useful signal, but (idea only) from the offset value. The dark reference zone therefore serves as a measure of the offset of the entire detector. By appropriately processing the pixel image signal information from the dark reference zone can thus indicate instability of the solid-state image detector are closed. As part of this is based on the pixel image signals from the dark reef limit zone determines an offset correction value, which then - depending on its concrete value (with an offset of 0 there is no need for a correction) - mathematically with all Linked pixel image signals of the offset-corrected image becomes. So it becomes a "global" offset correction value for the entire pixel matrix is determined, that is, there is one "global" correction over the entire active detector area. As a result, he can already make a considerable offset correction be enough.

Wie beschrieben, können Offset-Instabilitäten auch innerhalb geometrischer Strukturen, sogenannter Flächenabschnitte über die Pixelmatrix auftreten. Da sich die geometrischen Struktu ren in der Dunkelreferenzzone fortsetzen, dient die Dunkelre ferenzzone zusätzlich auch als Maß für den Offset der geome trischen Struktur, also des Flächenabschnitts der Pixelma trix, z. B. den individuellen Panels oder den Matrixregionen, die von derselben Ansteuer- bzw. Ausleseelektronik bzw. deren Chips beeinflusst werden. Um diese Instabilitäten erfassen und korrigieren zu können sieht eine zweckmäßige Weiterbil dung der Erfindung vor, dass in einem weiteren Korrektur schritt die Pixelbildsignale bestimmter Flächenabschnitte der Pixelmatrix, in welche diese unterteilt ist (also z. B. der einzelnen Panels oder aber der chipbezogenen Matrixstreifen), korrigiert werden, wozu zu jedem Flächenabschnitt ein zweiter Offset-Korrekturwert anhand der Signale der Pixel eines dem Flächenabschnitt zugeordneten Abschnitts der Dunkelreferenz zone ermittelt und mit dem ersten Offset-Korrekturwert ver glichen wird, wonach in Abhängigkeit des Vergleichsergebnis ses der Differenzwert zwischen erstem und zweitem Offset- Korrekturwert mit den Pixelbildsignalen des Flächenabschnitts rechnerisch verknüpft wird. Hierdurch wird quasi eine "loka le" Korrektur realisiert, die flächenabschnittsbezogen er folgt. Es wird anhand der Pixelsignale aus dem DRZ-Abschnitt, welcher dem betrachteten Flächenabschnitt zugeordnet ist (z. B. im Falle eines aus mehreren Panels bestehenden Detektors der das Panel an zwei Randseiten umgebende Bereich der DRZ, im Falle eines chipbezogenen Streifens der dem Streifen ange schlossene DRZ-Abschnitt) ein zweiter Offset-Korrekturwert ermittelt, welcher mit dem ersten Offset-Korrekturwert ver glichen wird. Idealerweise sollten beide gleich groß sein, wenn nämlich keine Offset-Instabilität vorliegt. Im Falle ei ner gegebenen Differenz wird der Differenzwert zwischen dem Korrekturwert mit den relevanten Pixelbildsignalen des be trachteten Flächenabschnitts rechnerisch verknüpft, wobei die Korrekturwerte in der Regel von den Pixelbildsignalen subtra hiert werden.As described, offset instabilities can also occur within geometric structures, so-called surface sections over the pixel matrix occur. Because the geometric structure continue in the dark reference zone, the darker serves reference zone also as a measure of the offset of the geome trical structure, i.e. the surface section of the Pixelma trix, e.g. B. the individual panels or the matrix regions, those of the same control or readout electronics or their Chips are affected. To capture these instabilities and being able to correct sees an expedient development tion of the invention that in a further correction the pixel image signals of certain surface sections of the Pixel matrix into which it is divided (e.g. the individual panels or the chip-related matrix strips), are corrected, for which purpose a second for each surface section Offset correction value based on the signals of the pixels of one Area section assigned section of the dark reference zone determined and ver with the first offset correction value Is compared, depending on the comparison result ses the difference between the first and second offset Correction value with the pixel image signals of the area section is mathematically linked. This effectively becomes a "loka le "Correction implemented, the area-related he follows. It is based on the pixel signals from the DRZ section, which is assigned to the area section under consideration (e.g. B. in the case of a detector consisting of several panels the area of the DRZ surrounding the panel on two sides, in the case of a chip-related strip, the strip indicated closed DRZ section) a second offset correction value determines which ver with the first offset correction value is compared. Ideally, both should be the same size, if there is no offset instability. In the case of egg ner given difference is the difference value between the Correction value with the relevant pixel image signals of the be intended section of area mathematically linked, the Correction values usually subtracted from the pixel image signals be hated.

Wie beschrieben besteht die Möglichkeit, dass Offset-Instabi litäten in unterschiedlich großen geometrischen Strukturen bzw. Flächenabschnitten auftreten können. So beispielsweise über ein gesamtes Panel bei einem sich aus mehreren, z. B. vier Panels zusammensetzenden Festkörperbilddetektor, und zu sätzlich noch über einen oder mehrere chipbezogene Matrix streifen. Um jede Instabilitäten zeigende Struktur zu be trachten kann erfindungsgemäß ferner vorgesehen sein, dass die weitere Korrektur wenigstens ein weiteres Mal bezüglich gegenüber den im vorherigen Korrekturschritt bearbeiteten Flächenabschnitten kleineren bestimmten Flächenabschnitten der Pixelmatrix unter Ermittlung eines jeweiligen abschnitts bezogenen Offset-Korrekturwerts anhand der abschnittsbezoge nen Signale der Pixel der Dunkelreferenzzone, Vergleich des selben mit dem im vorangehenden Korrekturschritt ermittelten Offset-Korrekturwert und gegebenenfalls rechnerische Verknüp fung des sich ergebenden Differenzwerts der verglichenen, ab schnittsbezogenen Offset-Korrekturwerte mit den Pixelbildsi gnalen des weiteren Flächenabschnitts durchgeführt wird. Man betrachtet also nacheinander immer kleiner werdende Flächen abschnitte, ausgehend von einer ersten globalen Betrachtung der gesamten Pixelmatrix. Beispielsweise erfolgt zunächst die globale Korrektur der gesamten Pixelmatrix, anschließend wer den die Flächenabschnitte der einzelnen Panels berücksich tigt, und danach die jeweiligen ansteuer- oder auslesechipbe zogenen Flächenabschnitte, welche in diesem Fall die kleinste Flächenabschnittseinheit bilden. Die jeweils flächenab schnittsbezogenen Korrekturwerte werden stets mit dem Korrek turwert des jeweils größeren, im Rahmen des vorangehenden Korrekturschritts bearbeiteten Flächenabschnitt verglichen und hieraus der Differenzwert gebildet. Auf diese Weise ist es möglich, sukzessive mit immer größerer Genauigkeit und Auflösung etwaige Offset-Instabilitäten zu korrigieren, so dass letztendlich ein weitestgehend offset- und instabili tätsfreies Bild erhalten wird. An die Korrektur schließen sich dann die eingangs genannten weiteren Verarbeitungs schritte ("Flatfielding" und Defektkorrektur) an.As described there is a possibility that offset instabi in geometrical structures of different sizes or surface sections can occur. For example over an entire panel with one consisting of several, e.g. B. four panels composing solid-state image detector, and to additionally via one or more chip-related matrix streak. To be any structure showing instabilities can also be provided according to the invention that the further correction regarding at least one more time compared to those processed in the previous correction step Area sections smaller certain area sections the pixel matrix by determining a respective section related offset correction value based on the section related NEN signals of the pixels of the dark reference zone, comparison of the same with the one determined in the previous correction step Offset correction value and, if necessary, arithmetic link the resulting difference in value of the compared cut-related offset correction values with the pixel image si gnalen the further surface section is carried out. Man looks at areas that are getting smaller and smaller sections based on a first global view the entire pixel matrix. For example, the global correction of the entire pixel matrix, then who the surface sections of the individual panels and then the respective control or readout chips drawn surface sections, which in this case is the smallest Form surface section unit. The each area cut-related correction values are always corrected value of the larger, in the context of the previous Corrected step compared surface section processed and from this the difference value is formed. That way it is possible successively with ever greater accuracy and Correct the resolution of any offset instabilities, see above that ultimately a largely offset and unstable image is obtained. Close to the correction then the further processing mentioned at the beginning steps ("flatfielding" and defect correction).

Bei dem beschriebenen Verfahren erfolgt nach jeder Ermittlung eines Offset-Korrekturswerts unmittelbar die Verknüpfung des selben mit den Pixelbildsignalen der jeweils betrachteten Fläche bzw. des Flächenabschnitts. Es wird also in jedem Schritt ein Korrekturbild ermittelt. Ein hierzu alternatives Verfahren zur Korrektur des Offsets sowie etwaiger Offset- Instabilitäten umfasst demgegenüber erfindungsgemäß folgende Schritte:
In the described method, after each determination of an offset correction value, the same is immediately linked to the pixel image signals of the area or area section being viewed. A correction image is thus determined in each step. In contrast, an alternative method for correcting the offset and any offset instabilities comprises the following steps according to the invention:

- Computational linkage of the signals of an offset image with the read out pixel image signals to determine a offset corrected image,
- Determination of a first offset correction value using Signals from the pixels of the dark reference zone,
- Determination of one or more additional offset correction values for a predetermined area section where in the pixel matrix in several such surface sections is divided based on the signals of the pixels of the area section assigned to the dark reference zone no
- Determination of a difference between the respective telten further offset correction value and the regarding the offset section previously determined Correction value, and
- Summary link of the offset correction value and the or the difference values for determining one based on the Consider when determining the offset correction values th smallest area section related total correction value which corresponds to the pixel image signals of the respective Area section to determine an overall correction image is mathematically linked.

Gemäß dieser Erfindungsalternative werden wenigstens zwei Offset-Korrekturwerte, die verschieden großen Flächenab schnitten zugeordnet sind, anhand der jeweils abschnittsbezo genen Bereiche der Dunkelreferenzzone ermittelt, beispiels weise ein erster globaler, auf die gesamte Matrix bezogener Offset-Korrekturwert sowie ein zweiter, panelbezogener und ein dritter, chipstreifenbezogener Offset-Korrekturwert. Der kleinste Flächenabschnitt ist in diesem Fall der Chipstrei fen. Erfindungsgemäß werden nun anhand der einzelnen Korrek turwerte die Differenzwerte ermittelt und diese bezogen auf den Chipstreifen summarisch miteinander verknüpft, das heißt, zu jedem Chipstreifen der gesamten aktiven Pixelmatrix wird ein chipstreifenbezogener Gesamtkorrekturwert bestimmt, wel cher dann mit den chipstreifenbezogenen Pixelbildsignale ver knüpft wird. Es erfolgt hier also lediglich eine einmalige rechnerische Verknüpfung des Korrekturwerts mit den Pixel bildsignalen, wenn nämlich der Gesamt-Korrekturwert bezogen auf den kleinsten Flächenabschnitt ermittelt wurde. Hier wie auch betreffend die erste Erfindungsalternative kann als kleinster Flächenabschnitt der einem Auslesechip der Ausle seelektronik oder einem Ansteuerchip der Ansteuerelektronik zugeordnete Matrixabschnitt verwendet werden. Eine noch fei nere Unterteilung ist selbstverständlich denkbar.According to this alternative of the invention, at least two Offset correction values that vary in area cuts are assigned, based on the respective section identified areas of the dark reference zone, for example a first global one, based on the entire matrix Offset correction value and a second, panel-related and a third offset correction value related to chip strips. The in this case the smallest area section is the chip streak fen. According to the invention, the individual corrections are now made the difference values determined and related to summarily linked the chip strip, that is, to each chip stripe of the entire active pixel matrix a total stripe-related correction value determines which then ver with the chip stripe-related pixel image signals is knotted. So there is only a one-off arithmetical linking of the correction value with the pixels image signals, namely when the total correction value is obtained was determined on the smallest area section. Here how also regarding the first alternative of the invention can be as smallest area section of a readout chip of the Ausle seelektronik or a control chip of the control electronics assigned matrix section can be used. Another still nter subdivision is of course conceivable.

Die Ermittlung der jeweiligen Offset-Korrekturwerte kann er findungsgemäß durch Mittelwertbildung über wenigstens einen Teil der Signale der Pixel der Dunkelreferenzzone bzw. des jeweiligen flächenabschnittsbezogenen Abschnitts der Dunkel referenzzone erfolgen. Alternativ hierzu können die jeweili gen Offset-Korrekturwerte als Medianwerte anhand wenigstens eines Teils der Signale der Pixel der Dunkelreferenzzone bzw. des jeweiligen flächenabschnittsbezogenen Abschnitts der Dun kelreferenzzone ermittelt werden, wozu eine entsprechende Hochpass-Filterung durchgeführt wird. He can determine the respective offset correction values according to the invention by averaging over at least one Part of the signals of the pixels of the dark reference zone or the respective section of the darkness related to the area reference zone. Alternatively, the respective offset correction values as median values based on at least part of the signals of the pixels of the dark reference zone or of the respective area-related section of the dun kelreferenzzone be determined, for which a corresponding High pass filtering is performed.

Bei der Korrekturwertermittlung sollten alle Pixelbildsignale ausgeschlossen werden, die entweder von defekten Pixeln ge liefert werden, oder die zusätzlich zum Offsetwert noch An teile von Nutzsignal enthalten, was beispielsweise durch op tische Einstreuung oder ähnliches im Bereich des Übergangs von der Dunkelreferenzzone zur aktiven Pixelmatrix gegeben sein kann. Um dem Rechnung zu tragen, kann erfindungsgemäß vorgesehen sein, dass zur Mittelwertbildung oder Medianwer termittlung sämtliche Signale verwendet werden, die eine vor gegebene Schwellwertbedingung erfüllen, und die inbesondere in einem vorgegebenen Schwellwertintervall liegen. Pixelbild signale, die noch einen Anteil an Nutzsignal enthalten, sind wesentlich größer als die reinen Offsetsignale. Solche Pixel bildsignale, die die Wertermittlung verfälschen würden, kön nen durch geeignete Schwellwertbedingungen ausgeschlossen werden. Gleiches gilt für defekte Pixel, die entweder über haupt kein Signal liefern oder aber ein wesentlich höheres Signal als der zu erwartende Offset. Darüber hinaus sind De fektpixel in der Regel in ihrer Lage ohnehin vorab bestimm bar, so dass deren Signale unmittelbar ausgeschlossen werden können.When determining the correction value, all pixel image signals should be to be excluded, either from defective pixels are delivered, or which in addition to the offset value Parts of useful signal contain what, for example, by op table bedding or similar in the area of the transition given from the dark reference zone to the active pixel matrix can be. To take this into account, the invention can be provided that for averaging or median value all signals are used, the one before given given threshold condition, and in particular are within a predetermined threshold interval. Pixel image signals that still contain a portion of the useful signal much larger than the pure offset signals. Such pixels Image signals that would distort the valuation can excluded by suitable threshold value conditions become. The same applies to defective pixels that either have No signal at all or a much higher one Signal as the expected offset. In addition, De Defect fect pixels in their position in advance anyway bar, so that their signals are immediately excluded can.

Bei einer Ermittlung der Offset-Korrekturwerte bzw. des Ge samt-Korrekturwerts in Form reeller Zahlen können solche mit nicht ganzzahligem Bruchteil vorkommmen. Um den sich tatsäch lich ergebenden Offset-Korrekturwert möglichst exakt im Rah men der Korrektur berücksichtigen zu können kann erfindungs gemäß bei Ermittlung von derartigen Offset-Korrekturwerten mit nicht ganzzahligem Bruchteil vorgesehen sein, dass die mit dem jeweiligen Offset-Korrekturwert zu korrigierenden Pi xelbildsignale mit zwei Teilkorrekturwerten verknüpft werden, wobei die Anzahl der mit dem ersten und dem zweiten Teilkor rekturwert zu verknüpfenden Pixelbildsignale abhängig von der Größe des jeweiligen Offset-Korrekturwerts ist, wobei die An zahl der mit dem zweiten Teilkorrekturwert zu verknüpfenden Pixelbildsignale basierend auf dem nicht ganzzahligen Bruch teil, insbesondere der ersten und gegebenenfalls einer oder mehrerer weiterer Nachkommastellen des jeweiligen Offset- Korrekturwerts ermittelt wird. Die Größe des Offset-Korrek turwerts geht gemäß dieser Erfindungsausgestaltung also zu sätzlich auch in die Anzahl der mit den verschiedenen Teil korrekturwerten zu korrigierenden Pixelbildsignale ein, wobei der nicht ganzzahlige Bruchteil bzw. die Nachkommastelle se parat berücksichtigt wird, so dass eine wesentlich bessere Korrektur möglich ist. Dabei kann erfindungsgemäß die Anzahl der mit dem zweiten Teilkorrekturwert zu korrigierenden Pi xelbildsignale als der sich durch Multiplikation des nicht ganzzahligen Bruchteils, insbesondere der wenigstens einen Nachkommastelle mit einem Faktor ergebende Prozentsatz der zu korrigierenden Pixelbildsignale ermittelt werden. Konkret be deutet dies, dass bei einem angenommenen Offset-Korrekturwert von beispielsweise 0,7 du bzw. lsb (du = digital units, lsb = least significant bit, wobei die Offset-Korrekturwerte in Form digitaler Einheiten (du) bzw. in Form der lsb ermittelt werden) 70% der Pixelsignalwerte der jeweils betrachteten Fläche oder des Flächenabschnitts mit dem zweiten Rauschkor rekturwert korrigiert werden (Bruchteil × Faktor = 0,7 × 100 = 70% oder Nachkommastelle × Faktor = 7 × 10 = 70%). Im Falle eines ermittelten Wertes von z. B. 0,3 du bzw. lsb wäre dies 30% usw. Natürlich kann hierbei auch die zweite oder dritte Nachkommastelle zusätzlich noch Berücksichtigung finden.When determining the offset correction values or the Ge The total correction value in the form of real numbers can be used with non-integer fraction. To actually resulting offset correction value as precisely as possible in the frame Men can take into account the correction fiction according to when determining such offset correction values with a non-integer fraction that the Pi to be corrected with the respective offset correction value xel image signals are linked with two partial correction values, where the number of with the first and the second part Kor pixel value signals to be linked depending on the correction value Size of the respective offset correction value, the An number of those to be linked with the second partial correction value Pixel image signals based on the non-integer fraction part, especially the first and possibly one or several other decimal places of the respective offset Correction value is determined. The size of the offset correction According to this embodiment of the invention, turwert thus goes on also in the number of parts with different parts correction values to be corrected pixel image signals, wherein the non-integer fraction or the decimal place se is taken into account, so that a much better one Correction is possible. According to the invention, the number the Pi to be corrected with the second partial correction value xelbildsignale than that by multiplying the not integer fraction, especially the at least one Decimal place with a percentage of the to correcting pixel image signals are determined. Specifically, be this means that given an assumed offset correction value e.g. 0.7 du or lsb (du = digital units, lsb = least significant bit, the offset correction values in Form of digital units (du) or in the form of the lsb )) 70% of the pixel signal values of the respective considered Surface or the surface section with the second noise cor correction value to be corrected (fraction × factor = 0.7 × 100 = 70% or decimal places × factor = 7 × 10 = 70%). In the event of a determined value of z. B. 0.3 du or lsb would be this 30% etc. Of course, the second or third can also be used Decimal places are also taken into account.

Die Pixelbildsignale können als Digitalwerte in Form von In tegerzahlen abgebildet werden, wobei auch die Teilkorrektur werte als Integerzahlen aus den in Form reeller Zahlen ermit telten Offset-Korrekturwerten, gegebenenfalls dem Gesamt- Korrekturwert derart bestimmt werden, dass der erste Teilkor rekturwert der ganzen Zahl des jeweiligen Offset-Korrektur werts bzw. des Gesamt-Korrekturwerts entspricht und der zwei te Teilkorrekturwert bei einer von Null verschiedenen Nach kommastelle die nächsthöhere oder nächstniedrigere Integer zahl oder abhängig vom Vorzeichen des Offset-Korrekturwerts "1" oder "-1" ist. Wird also beispielsweise ein Offset- Korrekturwert oder ein Gesamt-Korrekturwert von "-2,7" ermit telt, so wäre der erste Teilkorrekturwert "-2", der zweite Teilkorrekturwert kann entweder "-3" sein, alternativ dazu kann der zweite Teilkorrekturwert auch lediglich "-1" sein, nämlich dann, wenn der erste und der zweite Teilkorrekturwert auf einen Pixelbildsignalwert gemeinsam angewendet werden. Der absolute Korrekturwert beträgt in jedem Fall "-3". Die Korrektur kann nun so erfolgen, dass beispielsweise auf eine erste Anzahl an Pixelbildsignalen der erste Teilkorrekturwert "-2" angewendet wird, hier beispielsweise subtrahiert wird, wobei es sich in diesem Fall um 30% aller Pixel handelt (auf grund der Nachkommastelle "7", die besagt, dass 70% aller Pi xelbildsignale einer besonderen Korrektur bedürfen). Auf die übrigen 70% aller Pixelbildsignale kann dann die in diesem Fall nächstniedrigere Integerzahl "-3" angewendet werden. Al ternativ ist es möglich, den ersten Teilkorrekturwert "-2" auf sämtliche Pixelbildsignalwerte anzuwenden und anschlie ßend auf die abhängig von der Nachkommastelle des Offset- Korrekturwerts ermittelten 70% der Pixel zusätzlich noch den zweiten Teilkorrekturwert von "-1" anzuwenden, so dass diese Pixel insgesamt ebenfalls mit "-3" korrigiert werden. Wird beispielsweise ein Offset-Korrekturwert oder ein Gesamt- Korrekturwert von 0,5 du bzw. lsb gemessen, so wäre der erste Teilkorrekturwert "0", der zweite Teilkorrekturwert wäre "1", er würde auf 50% der Pixelbildsignale angewendet.The pixel image signals can be digital values in the form of In number of numbers are shown, including the partial correction values as an integer from the real numbers offset correction values, possibly the total Correction value can be determined such that the first subcor correction value of the whole number of the respective offset correction value or the total correction value and the two partial correction value for a non-zero night Decimal place the next higher or next lower integer number or depending on the sign of the offset correction value Is "1" or "-1". For example, if an offset Correction value or a total correction value of "-2.7" telt, the first partial correction value would be "-2", the second Partial correction value can either be "-3", alternatively the second partial correction value can also only be "-1", namely when the first and the second partial correction value applied to a pixel image signal value together. The absolute correction value is "-3" in any case. The Correction can now be made so that, for example, to a first number of pixel image signals the first partial correction value "-2" is applied, for example subtracted here, in which case it is 30% of all pixels (on due to the decimal place "7", which means that 70% of all Pi xel image signals require a special correction). On the remaining 70% of all pixel image signals can then in this If the next lower integer "-3" is used. Al Alternatively, it is possible to set the first partial correction value "-2" apply to all pixel image signal values and then depending on the decimal place of the offset 70% of the pixels also determined the correction value second partial correction value of "-1" so that this Total pixels can also be corrected with "-3". Becomes for example an offset correction value or a total Correction value of 0.5 du or lsb measured, that would be the first Partial correction value "0", the second partial correction value would be "1", it would be applied to 50% of the pixel image signals.

Die Auswahl der mit dem ersten und/oder dem zweiten Teilkor rekturwert zu verknüpfenden Pixelbildsignale kann zufällig erfolgen oder fest vorgegeben sein, wobei im letzteren Fall hierfür die jeweiligen, einer bestimmten Anzahl, insbesondere einem bestimmten Prozentsatz an zu korrigierenden Pixelbild signalwerten zugeordneten Teilkorrekturwerte aus einem oder mehreren Speichermitteln, in dem oder denen die jeweiligen Teilkorrekturwerte pixelbezogen gespeichert sind, ausgelesen und verknüpft werden. Diese Speichermittel können nach Art von Arrays ausgeführt sein. Für den Fall, dass beispielsweise zur Bestimmung des Prozentsatzes lediglich die erste Nachkom mastelle berücksichtigt wird, ist es ausreichend, insgesamt zehn verschiedene Arrays vorzusehen. In diesen bestimmten Nachkommastellen zugeordneten Arrays sind die jeweiligen Kor rekturwerte, z. B. "1" für die zu korrigierenden Pixelbildsi gnale abgelegt, für die übrigen Pixelbildsignale ist "0" ein geschrieben. Wird also beispielsweise ein Offset-Korrektur wert mit "2,3" gemessen, wird auf Array Nummer "3" zurückge griffen, wo an 30% der Pixelpositionen eine "1", an den übri gen eine "0" eingeschrieben ist, so dass eine feste Pixelpo sition definiert ist.The selection of the with the first and / or the second subcor Pixel image signals to be linked may be random take place or be predetermined, in the latter case for this the respective, a certain number, in particular a certain percentage of the pixel image to be corrected Partial correction values assigned to signal values from or several storage means in which the respective Partial correction values are stored pixel-related, read out and be linked. According to Art be executed by arrays. In the event that, for example only the first descendant to determine the percentage mastelle is considered, it is sufficient overall to provide ten different arrays. In that particular Arrays assigned to decimal places are the respective cor correction values, e.g. B. "1" for the pixel image to be corrected gnale filed, for the remaining pixel image signals "0" is on written. So, for example, there will be an offset correction value measured with "2.3" is returned to array number "3" grabbed a "1" at 30% of the pixel positions, at the rest a "0" is inscribed, so that a fixed pixel po sition is defined.

Neben dem Verfahren betrifft die Erfindung ferner eine Vor richtung zur Aufnahme von Strahlungsbildern, insbesondere ei ne medizinischen Diagnose- oder Therapie- und Behandlungsan lage, mit einem aus einer Pixelmatrix bestehenden Festkörper bilddetektor und einem Rechenmittel zum Korrigieren des Off sets sowie etwaiger Offset-Instabilitäten der Pixelbildsigna le, wobei das Rechenmittel erfindungsgemäß zur Durchführung des vorbeschriebenen Verfahrens ausgebildet ist.In addition to the method, the invention further relates to a pre direction for taking radiation images, in particular egg ne medical diagnosis or therapy and treatment location, with a solid consisting of a pixel matrix image detector and a computing means for correcting the off sets and any offset instabilities of the pixel image signals le, the computing means according to the invention for implementation of the above-described method.

Weitere Vorteile, Merkmale und Einzelheiten der Erfindung er geben sich aus dem im folgenden beschriebenen Ausführungsbei spiel sowie anhand der Zeichnungen. Dabei zeigen:Further advantages, features and details of the invention he give themselves from the execution described below game and based on the drawings. Show:

Fig. 1 eine Prinzipskizze einer erfindungsgemäßen Vorrich tung,Tung Fig. 1 is a schematic diagram of a Vorrich according to the invention,

Fig. 2 eine Prinzipansicht eines Festkörperbilddetektors, Fig. 2 is a schematic view of a solid-state image detector,

Fig. 3 ein Flussdiagramm zur Darstellung des Verfahrensab laufs der ersten Erfindungsalternative, Fig. 3 is a flow diagram illustrating the Verfahrensab run of the first alternative of the invention,

Fig. 4 eine Prinzipskizze zur Darstellung der schrittwei sen Offset-Korrektur, Fig. 4 is a schematic diagram showing the schrittwei sen offset correction,

Fig. 5 ein Flussdiagramm zur Darstellung des Ablaufs des Verfahrens der zweiten Erfindungsalternative. Fig. 5 is a flow diagram illustrating the sequence of the method of the second alternative of the invention.

Fig. 1 zeigt in Form einer Prinzipskizze eine erfindungsgemä ße Vorrichtung zur Aufnahme von Strahlungsbildern, welche als medizinische Diagnose- oder Therapie- und Behandlungsvorrich tung ausgebildet ist. Mittels einer Röntgenstrahlenquelle 1 wird Röntgenstrahlung erzeugt, wobei dies über die Vorrich tungssteuerung 2 gesteuert erfolgt. In der Vorrichtungssteue rung 2 sind die hierfür erforderlichen Komponenten wie bei spielsweise der Hochspannungsgenerator etc. beinhaltet oder dieser zugeordnet, was nicht näher dargestellt und an sich bekannt ist. Die Röntgenstrahlung bestrahlt einen Patienten 3 und trifft auf einen digitalen Festkörperbilddetektor 4, der, wie bezüglich Fig. 2 noch näher beschrieben werden wird, eine Pixelmatrix aufweist. Die einzelnen Pixelbildsignale werden von einem im gezeigten Beispiel in der Vorrichtungssteuerung 2 integrierten Auslesemittel 5 ausgelesen und an ein Rechen mittel 6 gegeben, welches zum Erzeugen und Ausgeben des Strahlungsbildes sowie zur Durchführung von Offset-Korrektu ren ausgebildet ist. Das Rechenmittel 6 ist mit einem Ausga bemedium 7 in Form eines Monitors verbunden, auf dem die Strahlungsbilder ausgegeben werden können. Fig. 1 shows in the form of a schematic diagram an inventive device for recording radiation images, which is designed as a medical diagnostic or therapy and treatment device. X-ray radiation is generated by means of an X-ray source 1 , this being done in a controlled manner via the device controller 2 . In the device control 2 , the components required for this, such as the high-voltage generator, etc., are included or associated with this, which is not shown in more detail and is known per se. The x-ray radiation irradiates a patient 3 and strikes a digital solid-state image detector 4 which, as will be described in more detail with reference to FIG. 2, has a pixel matrix. The individual pixel image signals are read out by a readout means 5 integrated in the example shown in the device control 2 and given to a computing means 6 which is designed to generate and output the radiation image and to carry out offset corrections. The computing means 6 is connected to an output medium 7 in the form of a monitor on which the radiation images can be output.

Fig. 2 zeigt eine Prinzipdarstellung eines Festkörperbildde tektors 8. Dieser besteht aus vier nebeneinander geordneten Panels 9, von denen jedes eine aus einer Vielzahl einzelner Pixel 10 bestehende Pixelmatrix aufweist. Ferner ist eine Dunkelreferenzzone 11 vorgesehen, die die aktive Pixelfläche seitlich umgibt. Gezeigt sind weiterhin Ansteuerchips 12 ei ner Ansteuerelektronik sowie Auslesechips 13 der Ausleseelek tronik des Auslesemittels 5. Ersichtlich kann die gesamte ak tive Pixelmatrixfläche in verschiedene Flächen bzw. Flächen abschnitte aufgeteilt werden. Zum einen ist die Gesamtfläche, die sich aus sämtlichen aktiven Pixelmatrizen der einzelnen Panels 9 ergibt, zu nennen. Daneben ergeben sich die Flächen abschnitte der paneleigenen Pixelmatrizen. Diese können schließlich noch in die von den Ansteuer- oder Auslesechips definierten, im gezeigten Beispiel horizontal oder vertikal verlaufenden chipbezogenen Flächenabschnitte unterteilt wer den. Die Darstellung ist lediglich schematisch, es sind selbstverständlich wesentlich mehr Ansteuer- und Auslesechips 12, 13 vorgesehen, von denen jeder beispielsweise 64 oder 128 Kanäle bedient. Den jeweiligen definierten Flächenabschnitten ist stets ein entsprechender Abschnitt der Dunkelreferenzzone zugeordnet. Im Fall der gesamten aktiven Matrixfläche die ge samte diese umgebende Dunkelreferenzzone, im Falle der ein zelnen panelbezogenen Flächenabschnitte die den jeweiligen aktiven Matrixbereich an zwei Seiten umgebenden Bereiche der Dunkelreferenzzone und im Falle der chipbezogenen Flächenab schnitte die sich an den jeweiligen Flächenabschnitt an schließenden Bereiche der Dunkelreferenzzone. Der Aufbau und die Betriebsweise eines solchen Festkörperdetektors ist an und für sich bekannt und bedarf keiner näheren Ausführung. Fig. 2 shows a schematic diagram of a solid state detector 8th This consists of four panels 9 arranged side by side, each of which has a pixel matrix consisting of a large number of individual pixels 10 . Furthermore, a dark reference zone 11 is provided, which laterally surrounds the active pixel area. Also shown are control chips 12 of control electronics and readout chips 13 of the readout electronics of the readout means 5 . Obviously, the entire active pixel matrix area can be divided into different areas or areas. On the one hand, the total area that results from all active pixel matrices of the individual panels 9 must be mentioned. In addition, there are the surface sections of the panel's own pixel matrices. Finally, these can be subdivided into the chip-related surface sections defined by the control or readout chips, which in the example shown run horizontally or vertically. The representation is only schematic, of course, significantly more control and readout chips 12 , 13 are provided, each of which serves, for example, 64 or 128 channels. A corresponding section of the dark reference zone is always assigned to the respective defined surface sections. In the case of the entire active matrix area, the entire dark reference zone surrounding it, in the case of the individual panel-related area sections, the areas of the dark reference zone surrounding the respective active matrix area on two sides, and in the case of the chip-related area sections, the areas of the dark reference zone adjoining the respective area section . The structure and mode of operation of such a solid-state detector is known per se and requires no further elaboration.

Fig. 3 zeigt nun in Form eines Flussdiagramms den Ablauf des Verfahrens der ersten Erfindungsalternative, bei welcher schrittweise korrigiert und schrittweise entsprechende Kor rekturbilder erzeugt werden. Zunächst wird vom aufgenommenen Röntgenbild 14 (A(x, y)) ein Offsetbild 15 (O(x, y)), welches bereits vorher oder kurz nach der Aufnahme des Röntgenbildes erfasst wurde, im Schritt 16 subtrahiert, wodurch ein pixel weise Offsoffset-korrigiertes Bild 17 (P(x, y)) erhalten wird. Anschließend erfolgt eine globale Korrektur sämtlicher Pixelsignale über die gesamte Fläche der Pixelmatrix. Hierzu wird im Schritt 18 ein globaler Offset-Korrekturwert K1 an hand sämtlicher Pixel bzw. Pixelbildsignale der Dunkelrefe renzzone ermittelt. In die Ermittlung des Offset-Korrektur werts K1, was beispielsweise durch Mittelwertbildung oder durch Medianwertbildung erfolgen kann, gehen sämtliche Pixel bildsignale der Dunkelreferenzzone ein, deren Signal im Schwellwertintervall S1 < P_DRZ (x, y) < S2 liegt, wobei S1 und S2 die unteren und oberen Schwellwerte bilden. Diese Schwell werte werden vorher definiert. Hierdurch werden die Signale defekter Pixel oder aber von Pixeln, deren Signal noch ein Nutzsignal enthält, herausgefiltert und im Rahmen der Korrek turwertermittlung nicht berücksichtigt. Der ermittelte Offset-Korrekturwert K1 wird nun rechnerisch im Schritt 19 mit sämtlichen Pixeln verknüpft, hier subtrahiert, womit ein um globale Offsetschwankungen korrigiertes Bild 20 (P'(x, y) erhalten wird. Fig. 3 now shows in the form of a flow diagram the sequence of the method of the first alternative of the invention, in which step-by-step correction and step-by-step corresponding correction images are generated. First, in step 16 , an offset image 15 (O (x, y)), which was already recorded before or shortly after the x-ray image was taken, is subtracted from the x-ray image 14 (A (x, y)). corrected image 17 (P (x, y)) is obtained. This is followed by a global correction of all pixel signals over the entire area of the pixel matrix. For this purpose, a global offset correction value K1 is determined in step 18 on the basis of all pixels or pixel image signals of the dark reference zone. All pixel image signals of the dark reference zone are included in the determination of the offset correction value K1, which can be done, for example, by averaging or median value formation, the signal of which lies in the threshold value interval S1 <P _DRZ (x, y) <S2, S1 and S2 being the form lower and upper threshold values. These threshold values are defined in advance. As a result, the signals from defective pixels or from pixels whose signal still contains a useful signal are filtered out and are not taken into account in the context of the correction value determination. The determined offset correction value K1 is now arithmetically linked in step 19 to all pixels, here subtracted, whereby an image 20 (P '(x, y) corrected for global offset fluctuations is obtained.

Um lokale Offsetschwankungen korrigieren zu können, wird im Schritt 21 ein lokaler Offset-Korrekturwert K2 der Pixel ei nes flächenbezogenen Bereichs der Dunkelreferenzzone mit der Schwellwertbedingung S3 < P_DRZ (x, y) < S4 für alle Flächenab schnitte ermittelt. Als Flächenabschnitt kann beispielsweise die Fläche eines jeweiligen Panels 9 dienen. Es wird also zu jedem Panel 9 ein panelbezogener Offset-Korrekturwert K2 er mittelt, wobei auch hier lediglich im angegebenen Schwellwer tintervall liegende Pixelbildsignale berücksichtigt werden. Im Schritt 22 wird nun der ermittelte Offset-Korrekturwert K2 mit dem globalen Offset-Korrekturwert K2 verglichen und ein Differenzwert ΔK bestimmt. Im Schritt 23 werden nun sämtliche Pixelbildsignale des jeweiligen Flächenabschnitts, hier also des jeweiligen Panels 9 mit dem Differenzwert ΔK rechnerisch verknüpft, hier subtrahiert, womit ein um lokale Offset schwankungen korrigiertes Bild 24 (P"(x, y) erhalten wird. Die Schritte 21, 22 und 23 können nochmals durchgeführt wer den, um einen weiteren lokalen Offset-Korrekturwert zu ermit teln, wobei dieser Korrekturwert dann zu weiteren Flächenab schnitten, in welche die Panels 9 unterteilt werden können, also beispielsweise in die von den Ansteuer- oder Auslese chips definierten Flächenabschnitte, berechnet wird. In ent sprechender Weise erfolgt dann die Differenzwertermittlung durch Vergleich mit dem vorher ermittelten Offset-Korrektur wert (hier K2), wonach dieser flächenabschnittsbezogene Dif ferenzwert mit den jeweiligen Pixelbildsignalen des Flächen abschnitts (hier der chipbezogenen streifenartigen Flächenab schnitte) rechnerisch verknüpft wird, um auch diese chipbezo genen Offset-Instabilitäten ausgleichen zu können. In order to be able to correct local offset fluctuations, a local offset correction value K2 of the pixels of an area-related area of the dark reference zone with the threshold value condition S3 <P _DRZ (x, y) <S4 is determined for all area sections in step 21 . For example, the area of a respective panel 9 can serve as the area section. A panel-related offset correction value K2 is therefore determined for each panel 9 , with pixel image signals lying only in the specified threshold interval being taken into account here as well. In step 22 , the determined offset correction value K2 is compared with the global offset correction value K2 and a difference value ΔK is determined. In step 23 , all the pixel image signals of the respective surface section, here here of the respective panel 9 , are arithmetically combined with the difference value ΔK, here subtracted, whereby an image 24 (P "(x, y) corrected for local offset fluctuations is obtained. The steps 21 , 22 and 23 can be carried out again in order to determine a further local offset correction value, this correction value then cutting into further areas into which the panels 9 can be subdivided, for example into those of the control or readout chips In a corresponding manner, the difference value is then determined by comparison with the previously determined offset correction value (here K2), after which this area section-related difference value with the respective pixel image signals of the area section (here the chip-related strip-like area sections) arithmetically is linked to this also chi to compensate for offset instabilities.

Fig. 4 zeigt in Form verschiedener Prinzipdarstellungen die einzelnen Korrekturschritte. Diagramm a) zeigt über eine Zei le der aktiven Pixelmatrix den Verlauf des Offset-Signals. Die Zeile erstreckt sich über die Länge x, wobei x/2 die Stoßkante zweier Panels definiert. Das Diagramm a) zeigt ei nen Ausschnitt aus dem bereits pixelweise offset-korrigierten Bild, wie es im Schritt 17 erhalten wird. FIG. 4 shows the individual correction steps in the form of various basic representations. Diagram a) shows the course of the offset signal over a line of the active pixel matrix. The line extends over the length x, where x / 2 defines the joint edge of two panels. Diagram a) shows a section of the already pixel-corrected offset-corrected image, as is obtained in step 17 .

Wie beschrieben wird zunächst ein globaler Offset-Korrektur wert betreffend die Fläche oder den Flächenabschnitt F₁ er mittelt, hier der gesamten Matrixfläche. Nach Ermittlung des selben erfolgt die Nullpunktkorrektur, so dass der im Dia gramm b) gezeigte Signalverlauf erhalten wird. Anschließend erfolgt die Ermittlung weiterer Offset-Korrekturwerte betref fend die Flächenabschnitte F₂, hier der jeweiligen Panels. Nach Ermittlung des Differenzwerts gemäß Schritt 22 erfolgt auch hier die lokale Nullpunktkorrektur, so dass der im Dia gramm c) gezeigte Verlauf erhalten wird. Anschließend wird für die Flächenabschnitte F₃, hier die chipbezogenen Matrix streifen, der jeweilige Offset-Korrekturwert ermittelt und nach Bestimmung der jeweiligen Differenzwerte die Nullpunkt korrektur durchgeführt. Im Idealfall erhält man dann das im Diagramm d) gezeigte offsetfreie Signal. Die Ermittlung er folgt jeweils für alle Flächenabschnitte F₂, F₃, in die die Matrix unterteilt ist, im Beispiel ist sie jeweils nur für ausgewählte Abschnitte dargestellt.As described, a global offset correction value relating to the area or the area section F ₁ is first determined, here the entire matrix area. After determining the same, the zero point correction is carried out, so that the signal curve shown in diagram b) is obtained. Subsequently, further offset correction values are determined relating to the surface sections F ₂ , here the respective panels. After determining the difference value in accordance with step 22 , the local zero point correction is also carried out here, so that the course shown in diagram c) is obtained. The respective offset correction value is then determined for the surface sections F ₃ , here the chip-related matrix, and the zero point correction is carried out after determining the respective difference values. Ideally, the offset-free signal shown in diagram d) is then obtained. The determination is made in each case for all surface sections F ₂ , F ₃ into which the matrix is divided, in the example it is only shown for selected sections.

Schließlich zeigt Fig. 5 ein Flussdiagramm zur Darstellung des Verfahrensablaufs der zweiten Erfindungsalternative. Auch hier wird ausgehend von einem Röntgenbild 25 (A(x, y)) und einem Offsetbild 26 (O(x, y)) in einem Subtraktionsschritt 27 ein pixelweise Offsoffset-korrigiertes Bild 28 (P(x, y)) er halten. Hieran schließt sich im Schritt 29 die Bestimmung des globalen Offset-Korrekturwertes K1 an. Im Unterschied zum Verfahren gemäß Fig. 3 erfolgt hier aber keine sofortige Ver knüpfung mit den Pixelbildsignalen, vielmehr wird im Schritt 30 ein lokaler Offset-Korrekturwert K2 ermittelt. Nach er folgter Differenzbildung ΔK im Schritt 31 wird ein flächenab schnittsbezogener Gesamt-Korrekturwert K_ges durch Summation des Offset-Korrekturwerts K1 und des Differenzwerts ΔK für jeden Flächenabschnitt ermittelt (Schritt 32). Selbstver ständlich kann vor Bestimmung des Gesamt-Korrekturwerts K_ges noch ein weiterer lokaler Korrekturwert, beispielsweise be treffend die chipbezogenen Flächenabschnitte bestimmt werden. Der sich hieraus ergebende Differenzwert würde dann ebenfalls in die Berechnung des Gesamt-Korrekturwerts mit eingehen. Der Gesamt-Korrekturwert, der jeweils separat zu einem vorbe stimmten Flächenabschnitt ermittelt wird, wird dann im Schritt 33 mit den Pixelbildsignalen dieses Flächenabschnitts rechnerisch verknüpft, hier subtrahiert, womit ein um globale und lokale Offsetschwankungen korrigiertes Bild 34 (P'(x, y)) erhalten wird. Bei diesem Verfahren ist also nur ein einziger Korrekturschritt erforderlich.Finally, FIG. 5 shows a flowchart to illustrate the process sequence of the second alternative of the invention. Here too, starting from an x-ray image 25 (A (x, y)) and an offset image 26 (O (x, y)), a pixel-wise offset offset-corrected image 28 (P (x, y)) is obtained in a subtraction step 27 . This is followed in step 29 by the determination of the global offset correction value K1. In contrast to the method according to FIG. 3, however, there is no immediate link to the pixel image signals here; rather, a local offset correction value K2 is determined in step 30 . After he folgter difference .DELTA.K in step 31, a cut-related flächenab total correction value K is _saturated by summation of the offset correction value and the difference value K1 .DELTA.K for each area segment is determined (step 32). Selbstver understandable the total correction value K can before determining _ges yet another local correction value, for example, be aptly the chip-related surface sections are determined. The resulting difference value would then also be included in the calculation of the total correction value. The total correction value, which is determined separately for a predetermined area section, is then arithmetically linked in step 33 with the pixel image signals of this area section, here subtracted, with which an image 34 (P '(x, y) corrected for global and local offset fluctuations) is subtracted. ) is obtained. This method therefore only requires a single correction step.

Claims

1. A method for processing the pixel image signals supplied by a solid-state image detector consisting of a pixel matrix with a dark reference zone to correct the offset and any offset instabilities, comprising the following steps:

arithmetical linkage of the signals of an offset image with the read-out pixel image signals to determine an offset-corrected image,
- Determination of an offset correction value on the basis of signals from the pixels of the dark reference zone, and
- Computational linkage of the offset correction value dependent on the determined offset correction value with all pixel image signals of the offset-corrected image.

2. The method according to claim 1, characterized ge indicates that in another correction step the pixel image signals of certain surface sections corrected the pixel matrix into which it is divided for which a second offset Correction value based on the signals from the pixels of the surface section associated section of the dark reference zone averaged and compared with the first offset correction value , according to which the Difference value between the first and second offset correction value with the pixel image signals of the area section is linked.

3. The method according to claim 2, characterized ge indicates that the further correction we at least one more time compared to the previous ones small sections of the surface ren certain surface sections of the pixel matrix under Er averaging a respective section-related offset correction turwert based on the section-related signals of the pixels of the Dark reference zone, comparison of the same with that in the previous correcting step determined offset correction value and if necessary arithmetical linkage of the resulting Difference value of the compared offset correction values with the Pixel image signals of the further surface section carried out becomes.

4. The method according to claim 2 or 3, characterized characterized that as the first or as Another area section of a readout chip of the readout electronics or a control chip of the control electronics assigned matrix section is used.

5. A method for processing the pixel image signals supplied by a solid-state image sensor consisting of a pixel matrix with a dark reference zone to correct the offset and any offset instabilities, comprising the following steps:

arithmetical linkage of the signals of an offset image with the read-out pixel image signals to determine an offset-corrected image,
Determination of a first offset correction value on the basis of signals from the pixels of the dark reference zone,
- Determination of one or more further offset correction values for a predetermined area section, where the pixel matrix is divided into several such area sections, on the basis of the signals of the pixels of a section of the dark reference zone assigned to the area section,
- Determination of a difference value between the respectively determined further offset correction value and the offset correction value determined with respect to the previously considered surface section, and
- Summary link of the offset correction value and the difference value or values for determining an overall correction value related to the smallest area section considered in the course of determining the offset correction values, which arithmetically with the pixel image signals of the respective area section for determining an overall correction image is linked.

6. The method according to claim 5, characterized ge indicates that the smallest area cut a readout chip of the readout electronics or egg matrix associated with a control chip of the control electronics cut is used.

7. The method according to claim one of the preceding claims che, characterized, that the respective offset correction values by mean education over at least part of the signals of the pixels of the Dark reference zone or the respective area section section of the dark reference zone is determined.

8. The method according to any one of claims 1 to 6, there characterized by that the each because of little offset correction values as median values least part of the signals of the pixels of the dark reference zo ne or the respective area-related section the dark reference zone can be determined.

9. The method according to claim 7 or 8, characterized characterized that for averaging or used all signals to determine the median value that meet a specified threshold condition, and that in particular in a predetermined threshold value interval vall lie.

10. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that at Determination of offset correction values in the form of real numbers with a non-integer fraction that with the respective Offset correction value to be corrected with pixel image signals two partial correction values are linked, the number ver with the first and the second partial correction value linking pixel image signals depending on the size of each Offset correction value is, and the number of with the second Partial correction value to be linked based on pixel image signals on the non-integer fraction, especially the first and possibly one or more further decimal places the respective offset correction value is determined.

11. The method according to claim 10, characterized ge indicates that the number of with the second partial correction value to be linked pixel image signals than by multiplying the non-integer Fraction, in particular the at least one decimal place with a percentage of the corrected Pixel image signals is determined.

12. The method according to claim 10 or 11, characterized characterized that the pixel image signals mapped as digital values in the form of integers the, with the partial correction values as integers the offset correction determined in the form of real numbers evaluate, if necessary the total correction value in this way be true that the first partial correction value of the whole Number of the respective offset correction value, possibly the Total correction value corresponds and the second partial correction value at a decimal place other than zero next higher or next lower integer or dependent is "1" or "-1" from the sign of the offset correction value.

13. The method according to any one of claims 10 to 12, there characterized by that the Aus selection of the first and / or the second partial correction pixel image signals to be linked occurs randomly or is fixed.

14. Device for taking radiation images, esp special medical diagnosis or therapy and treatment with a pixel matrix Solid-state image detector and a computing means for correction of the offset and any offset instabilities of the pixels image signals, the computing means for performing the Ver driving according to one of claims 1 to 13 is formed.