DE19902151A1 - Dielectric ceramic for a laminated ceramic electronic element e.g. a miniature capacitor - Google Patents

Dielectric ceramic for a laminated ceramic electronic element e.g. a miniature capacitor

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Abstract

A dielectric ceramic, obtained by firing a barium titanate powder having a perovskite structure with a c-axis/a-axis ratio of 1.003-1.010 and an OH group content of <= 1 wt.% in its crystal lattice, is new. Independent claims are also included for the following: (i) production of a dielectric ceramic by firing the barium titanate powder described above; (ii) a laminated ceramic electronic element with an internal conductor between two adjacent layers of the above dielectric ceramic; and (iii) a process for producing the above laminated ceramic electronic element.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine dielektrische Keramik, die vorteilhafterweise in einem laminierten keramischen Elektronikelement verwendet wird, wie z. B. in einem laminierten Keramikkondensator, der einen Innenleiter besitzt, der aus einem Basis­ metall bzw. unedlen Metall, z. B. Nickel oder einer Nickellegierung, hergestellt ist, und sie betrifft ein Verfahren zur Herstellung der dielektrischen Keramik. Die vorliegende Erfindung betrifft auch ein laminiertes keramisches Elektronikelement, das aus der dielektrischen Keramik gebildet wird, und ein Verfahren zu dessen Herstellung.The present invention relates to a dielectric ceramic, which advantageously in a laminated ceramic electronic element is used, such as. B. in one Laminated ceramic capacitor, which has an inner conductor made of a base metal or base metal, e.g. B. nickel or a nickel alloy, and it relates to a method for producing the dielectric ceramic. The present The invention also relates to a laminated ceramic electronic element resulting from the dielectric ceramic is formed, and a method for producing the same.

Die Miniaturisierung und die Kostenreduzierung bei laminierten keramischen Elek­ tronikelementen schreitet immer weiter fort. So ist zum Beispiel in einem solchen ke­ ramischen Elektronikelement eine Keramikschicht verdünnt worden, und ein unedles Metall ist als ein Innenleiter verwendet worden. Im Falle eines laminierten Keramik­ kondensators, der eine Art eines laminierten keramischen Elektronikelements dar­ stellt, ist eine dielektrische Keramikschicht nur etwa 3 µm dünn ausgebildet worden, und ein unedles Metall wie z. B. Cu oder Ni ist als ein Material zur Erzeugung eines Innenleiters, z. B. einer Innenelektrode, verwendet worden.Miniaturization and cost reduction in laminated ceramic elec tronic elements continues to advance. For example, in such a ke Raman electronic element has been thinned a ceramic layer, and a base Metal has been used as an inner conductor. In the case of a laminated ceramic capacitor, which is a kind of a laminated ceramic electronic element a dielectric ceramic layer is only about 3 µm thin, and a base metal such as B. Cu or Ni is as a material for producing a Inner conductor, e.g. B. an inner electrode has been used.

Aber wenn die Keramikschicht dünn wird, steigt die Stärke eines elektrischen Feldes an, das an die Schicht angelegt wird, wodurch ein Problem bei der Verwendung ei­ nes Dielektrikums als Keramikschicht verursacht wird, die eine große Änderung bei der Dielektrizitätskonstanten zeigt, die von einem elektrischen Feld induziert wird. Eine Verringerung der Größe der Keramikkörner in der Dickenrichtung der Keramik­ schicht bewirkt ebenfalls ein Problem bezüglich der Zuverlässigkeit.But when the ceramic layer becomes thin, the strength of an electric field increases which is applied to the layer, causing a problem in use  dielectric caused as a ceramic layer, which makes a big change which shows dielectric constants induced by an electric field. A reduction in the size of the ceramic grains in the thickness direction of the ceramic layer also causes a reliability problem.

Um mit derartigen Situationen fertig zu werden, sind in den japanischen Patentan­ meldungs-Offenlegungsschriften (kokai) der Nummern 9-241074, 9-241 075, usw., Keramikmaterialien vorgeschlagen worden, die eine verbesserte Zuverlässigkeit durch eine Vergrößerung der Größe der Keramikkörner in der Dickenrichtung der dielektrischen Keramikschicht ermöglichen. Folglich erlaubt die Steuerung der Korn­ größe der Keramikkörner eine Reduzierung der Änderung der Dielektrizitätskon­ stanten, die von einem elektrischen Feld oder der Temperatur induziert wird.In order to cope with such situations, there are Japanese patents reporting disclosure documents (kokai) of numbers 9-241074, 9-241 075, etc., Ceramic materials have been proposed that have improved reliability by increasing the size of the ceramic grains in the thickness direction of the allow dielectric ceramic layer. Consequently, the control of the grain allows size of the ceramic grains a reduction in the change in dielectric constant ate that is induced by an electric field or temperature.

Aber wenn bei dem oben beschriebenen Stand der Technik die Dicke einer dielektri­ schen Keramikschicht etwa 1 µm oder weniger beträgt, steigt die Schwankung der Temperatur-/Dielektrizitätskonstanten-Charakteristiken an, obwohl die Zuverlässig­ keit aufrechterhalten wird, wodurch es schwierig wird, Produkte mit stabilen Tempe­ ratur-/Dielektrizitätskonstanten-Charakteristiken mit einer hohen Reproduzierbarkeit zu erhalten. Um stabile Temperatur-/Dielektrizitätskonstanten-Charakteristiken zu gewährleisten, muß die Feldstärke herabgesetzt werden und die Nennspannung der resultierenden laminierten keramischen Elektronikelemente muß herabgesetzt wer­ den. Deshalb ist die Realisierung einer dünnen Schicht mit einer Dicke von nur 1 µm oder weniger schwierig oder sogar unmöglich, solange der oben beschriebene Stand der Technik zur Lösung dieses Problems eingesetzt wird.But when in the prior art described above, the thickness of a dielectric ceramic layer is about 1 µm or less, the fluctuation of the Temperature / Dielectric constant characteristics, although the Reliable is maintained, which makes it difficult to produce products with a stable temperature rature / dielectric constant characteristics with high reproducibility to obtain. To stable temperature / dielectric constant characteristics ensure, the field strength must be reduced and the nominal voltage of the The resulting laminated ceramic electronic elements must be reduced the. That is why the realization of a thin layer with a thickness of only 1 µm or less difficult or even impossible as long as the state described above technology is used to solve this problem.

Im Hinblick auf das oben Gesagte ist die vorliegende Erfindung auf eine dielektrische Keramik, die vorteilhafterweise in einem laminierten keramischen Elektronikelement verwendet wird, das eine dünne Keramikschicht mit einer Dicke von nur 1 µm oder weniger umfaßt, und auf ein Verfahren zur Herstellung der dielektrischen Keramik ausgerichtet. Die vorliegende Erfindung ist auch auf ein laminiertes keramisches Elektronikelement, das aus der dielektrischen Keramik hergestellt wird, und auf ein Verfahren zur Herstellung desselben ausgerichtet.In view of the above, the present invention is based on a dielectric Ceramic, which is advantageously in a laminated ceramic electronic element is used, which is a thin ceramic layer with a thickness of only 1 µm or less, and a method of manufacturing the dielectric ceramic aligned. The present invention is also based on a laminated ceramic  Electronic element, which is made of the dielectric ceramic, and on a Process for producing the same.

Bei einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist eine dielektrische Keramik vorgesehen, die durch das Brennen ("firing") von Bariumtitanat-Pulver erhalten wird, das eine Perowskit-Struktur aufweist, in der ein Verhältnis der c-Achse zur a-Achse (im folgenden c-Achse/a-Achse-Verhältnis genannt) in der Perowskit-Struktur in dem Bereich von 1,003 bis 1,010 liegt, und ein Betrag an OH-Gruppen in dem Kristallgitter bei 1 Gew.-% oder weniger liegt.In one embodiment of the present invention is a dielectric ceramic provided which is obtained by firing barium titanate powder, which has a perovskite structure in which a ratio of the c-axis to the a-axis (hereinafter referred to as the c-axis / a-axis ratio) in the perovskite structure in the Range is 1.003 to 1.010, and an amount of OH groups in the crystal lattice is 1% by weight or less.

Bei einer anderen Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren zur Herstellung der dielektrischen Keramik vorgesehen, wobei das Verfahren die folgen­ den Schritte umfaßt: Vorsehen des oben genannten Bariumtitanat-Pulvers, bei dem das c-Achse/a-Achse-Verhältnis in der Perowskit-Struktur in dem Bereich von 1,003 bis 1,010 liegt und ein Betrag an OH-Gruppen in dem Kristallgitter 1 Gew.-% oder weniger beträgt, und das Brennen des Bariumtitanat-Pulvers.In another embodiment of the present invention, a method for Manufacture of the dielectric ceramic provided, the process following the steps include: providing the above barium titanate powder in which the c-axis / a-axis ratio in the perovskite structure in the range of 1.003 is up to 1.010 and an amount of OH groups in the crystal lattice is 1% by weight or is less, and the burning of the barium titanate powder.

Der Betrag an OH-Gruppen wird auf der Basis des Verlustes bei 150°C oder mehr bestimmt, der während der thermogravimetrischen Analyse der Prüflinge gemessen wird.The amount of OH groups is based on the loss at 150 ° C or more determined, which is measured during the thermogravimetric analysis of the test specimens becomes.

Das Bariumtitanat-Pulver weist vorzugsweise eine maximale Teilchengröße von 0,5 µm oder weniger und eine durchschnittliche Teilchengröße von 0,1-0,3 µm auf.The barium titanate powder preferably has a maximum particle size of 0.5 µm or less and an average particle size of 0.1-0.3 µm.

Außerdem umfaßt jedes Teilchen des oben beschriebenen Bariumtitanat-Pulvers vorzugsweise einen Abschnitt mit einer niedrigen Kristallinität und einen Abschnitt mit einer hohen Kristallinität, wobei der Durchmesser des Abschnitts mit der niedrigen Kristallinität weniger als 0,65 mal die Teilchengröße des Pulvers beträgt. Wie in Fig. 2, die eine Transmissionselektronenmikroskop-Aufnahme von Bariumtitanat-Pulver ist, und in Fig. 3 gezeigt ist, die eine erläuternde Skizze dazu ist, bezieht sich der hier verwendete Begriff "Abschnitt 21 mit einer niedrigen Kristallinität" auf eine Domäne, die eine Anzahl von Gitterfehlern wie z. B. einen Hohlraum 22 aufweist, wohingegen sich der hier verwendete Begriff "Abschnitt 23 mit einer hohen Kristallinität" auf eine Domäne bezieht, die keine solchen Gitterfehler aufweist.In addition, each particle of the barium titanate powder described above preferably comprises a portion with a low crystallinity and a portion with a high crystallinity, the diameter of the portion with the low crystallinity being less than 0.65 times the particle size of the powder. As shown in Fig. 2, which is a transmission electron micrograph of barium titanate powder, and shown in Fig. 3, which is an explanatory sketch thereof, the term "portion 21 having a low crystallinity" as used herein refers to a domain, which a number of lattice defects such. B. has a cavity 22 , whereas the term "section 23 with a high crystallinity" used here refers to a domain that has no such lattice defects.

Wenn also das Verhältnis (durchschnittliche Korngröße der gebrannten dielektri­ schen Keramik)/(durchschnittliche Teilchengröße des vorgesehenen Bariumtitanat- Pulvers) von R verkörpert wird, fällt R vorzugsweise in den Bereich von 0,90-1,2.So if the ratio (average grain size of the fired dielectri ceramics) / (average particle size of the intended barium titanate Powder) is embodied by R, R preferably falls in the range of 0.90-1.2.

Körner, die die dielektrische Keramik der vorliegenden Erfindung bilden, können eine Kern-Schalen-Struktur, bei der sich die Zusammensetzung und das Kristallsystem des Kerns und der Schale voneinander unterscheiden, oder eine homogene Struktur aufweisen, die eine einheitliche Zusammensetzung und ein einheitliches Kristallsy­ stem aufweist.Grains that form the dielectric ceramic of the present invention can be one Core-shell structure, in which the composition and the crystal system the core and the shell differ from each other, or a homogeneous structure have a uniform composition and a uniform crystal sy stem has.

Der hier verwendete Begriff "Kristallsystem" bezieht sich auf ein Kristallsystem von Perowskit-Kristallen, d. h. auf ein kubisches System mit einem c-Achse/a-Achse- Verhältnis in der Perowskit-Struktur von 1 oder auf ein tetragonales System mit ei­ nem c-Achse/a-Achse-Verhältnis in der Perowskit-Struktur von 1 oder mehr.The term "crystal system" used here refers to a crystal system of Perovskite crystals, d. H. on a cubic system with a c-axis / a-axis Ratio in the perovskite structure from 1 or to a tetragonal system with ei A c-axis / a-axis ratio in the perovskite structure of 1 or more.

Bei noch einer anderen Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist ein lami­ niertes keramisches Elektronikelement vorgesehen, das einen Schichtstoff (Laminat), der aus einer Vielzahl von Keramikschichten gebildet wird, und einen Innenleiter um­ faßt, der entlang einer speziellen Übergangsstelle zwischen benachbarten dielektri­ schen Keramikschichten ausgebildet ist.In yet another embodiment of the present invention is a lami Ceramic electronic element is provided, which is a laminate (laminate), which is formed from a plurality of ceramic layers, and an inner conductor summarizes the along a special transition point between adjacent dielectri ceramic layers is formed.

Vor allem bei der vorliegenden Erfindung wird die dielektrische Keramikschicht, die in dem laminierten keramischen Elektronikelement enthalten ist, von einer dielektri­ schen Keramik gebildet, die durch das Brennen von Bariumtitanat-Pulver erhalten wird, das eine Perowskit-Struktur aufweist, bei der ein c-Achse/a-Achse-Verhältnis in der Perowskit-Struktur in dem Bereich von 1,003 bis 1,010 liegt und ein Betrag an OH-Gruppen in dem Kristallgitter 1 Gew.-% oder weniger beträgt. Especially in the present invention, the dielectric ceramic layer that is in the laminated ceramic electronic element is contained by a dielectri ceramics formed by burning barium titanate powder which has a perovskite structure in which a c-axis / a-axis ratio in the perovskite structure is in the range of 1.003 to 1.010 and an amount OH groups in the crystal lattice is 1% by weight or less.  

Bei dem oben beschriebenen laminierten keramischen Elektronikelement enthalten die Innenleiter vorzugsweise ein unedles Metall wie z. B. Nickel oder eine Nickellegie­ rung.Included in the laminated ceramic electronic element described above the inner conductor preferably a base metal such as. B. nickel or a nickel alloy tion.

Das laminierte keramische Elektronikelement kann außerdem eine Vielzahl von Au­ ßenelektroden an verschiedenen Stellen einer Seitenfläche aufweisen. In diesem Fall sind die Innenleiter derart ausgebildet, daß ein Ende jedes Innenleiters zur Seitenflä­ che hin bloßliegt, so daß er elektrisch mit einer der Außenelektroden verbunden wer­ den kann. Eine solche Struktur wird typischerweise bei laminierten keramischen Kondensatoren verwendet.The laminated ceramic electronic element can also have a variety of Au have external electrodes at different locations on one side surface. In this case the inner conductors are designed in such a way that one end of each inner conductor faces the side surface che exposed, so that he is electrically connected to one of the outer electrodes that can. Such a structure is typically used in laminated ceramic Capacitors used.

Bei noch einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist ein Verfah­ ren zum Herstellen eines laminierten keramischen Elektronikelements vorgesehen, wobei das Verfahren die folgenden Schritte umfaßt Vorsehen eines Bariumtitanat- Pulvers, bei dem ein c-Achse/a-Achse-Verhältnis in der Perowskit-Struktur in dem Bereich von 1,003 bis 1,010 liegt und ein Betrag an OH-Gruppen in dem Kristallgitter 1 Gew.-% oder weniger beträgt; Herstellen eines Schichtstoffs, bei dem eine Vielzahl von keramischen Grünfolien ("ceramic green sheets"), die das Bariumtitanat-Pulver enthalten, und Innenelektroden so geschichtet (laminiert) werden, daß die Innen­ elektroden entlang bestimmter Übergangsstellen der keramischen Grünfolien vorhan­ den sind; und Brennen des Bariumtitanat-Pulvers, um dadurch eine dielektrische Ke­ ramik vorzusehen.In yet another embodiment of the present invention, there is a method ren intended for producing a laminated ceramic electronic element, the method comprising the steps of providing a barium titanate Powder with a c-axis / a-axis ratio in the perovskite structure in the Range is 1.003 to 1.010 and an amount of OH groups in the crystal lattice Is 1% by weight or less; Manufacture of a laminate in which a variety of ceramic green sheets that contain the barium titanate powder included, and inner electrodes are layered (laminated) so that the inner electrodes along certain transition points of the ceramic green foils are; and firing the barium titanate powder to thereby form a dielectric core ramic.

Verschiedene weitere Aufgaben, Merkmale und viele der mit der vorliegenden Erfin­ dung verbundenen Vorteile werden aus der nachfolgenden genauen Beschreibung der bevorzugten Ausführungsbeispiele deutlich, wenn diese in Zusammenhang mit den beigefügten Zeichnungen betrachtet werden. Es zeigen:Various other tasks, features and many of those with the present inven The associated benefits will become apparent from the detailed description that follows of the preferred embodiments clearly when related to be considered in the accompanying drawings. Show it:

Fig. 1 eine Querschnittansicht eines laminierten keramischen Kondensators 1 gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung, Fig. 1 is a cross sectional view of a laminated ceramic capacitor 1 according to an embodiment of the present invention,

Fig. 2 eine Transmissionselektronenmikroskop-Aufnahme eines Bariumtitanat- Pulvers, das zur Herstellung einer dielektrischen Keramik gemäß der vor­ liegenden Erfindung vorgesehen wird, und Fig. 2 is a transmission electron microscope image of a barium titanate powder, which is provided for the production of a dielectric ceramic according to the present invention, and

Fig. 3 eine erläuternde Skizze zu der in Fig. 2 gezeigten Elektronenmikroskop- Aufnahme. Fig. 3 is an explanatory sketch of the electron microscope image shown in Fig. 2.

Das Bariumtitanat-Pulver, das bei der vorliegenden Erfindung verwendet wird, besitzt eine Zusammensetzung, die durch die folgende Formel dargestellt wird: (Ba1-xXx)m (Ti1-yYy)O3. Die Zusammensetzung ist nicht weiter speziell eingeschränkt. X kann Ca, einzelne Arten von seltenen Erdmetallen, und eine Kombination aus zwei oder mehr davon umfassen. Y kann einzelne Arten wie z. B. Zr oder Mn und eine Kombination aus zwei oder mehr Arten davon umfassen. Im allgemeinen ist m vorzugsweise 1,000-1,035, was von der Zusammensetzung des Bariumtitanat-Pulvers abhängt, um eine nicht reduzierende dielektrische Keramik zu erhalten.The barium titanate powder used in the present invention has a composition represented by the following formula: (Ba 1-x X x ) m (Ti 1-y Y y ) O 3 . The composition is not particularly limited. X can include Ca, individual types of rare earth metals, and a combination of two or more of them. Y can single types such. B. Zr or Mn and a combination of two or more types thereof. In general, m is preferably 1,000-1,035, depending on the composition of the barium titanate powder, in order to obtain a non-reducing dielectric ceramic.

Das Bariumtitanat-Pulver, das zweckmäßigerweise verwendet wird, besitzt eine Pe­ rowskit-Struktur, bei der ein c-Achse/a-Achse-Verhältnis in dem Bereich von 1,003 bis 1,010 liegt. Darüber hinaus beträgt der Betrag an OH-Gruppen in dem Kristallgit­ ter 1 Gew.-% oder weniger, eine maximale Teilchengröße beträgt 0,5 µm oder weni­ ger, und eine durchschnittliche Teilchengröße beträgt 0,1-0,3 µm. Ein solches Bari­ umtitanat-Pulver kann durch eine Wärmebehandlung des Bariumtitanat-Pulvers er­ halten werden, das durch ein Naßsyntheseverfahren hergestellt wird, wie z. B. ein Hydrothermalsyntheseverfahren, ein Hydrolyseverfahren, oder ein Sol-Gel-Verfah­ ren. Für die Synthese kann auch ein Festphasen-Verfahren verwendet werden, bei dem ein Karbonat, ein Oxid, etc. der Elemente, die das Bariumtitanat-Pulver bilden, gemischt und wärmebehandelt werden.The barium titanate powder which is suitably used has a pe rowskit structure with a c-axis / a-axis ratio in the range of 1.003 up to 1.010. In addition, the amount of OH groups in the crystal grid is ter 1 wt .-% or less, a maximum particle size is 0.5 microns or less ger, and an average particle size is 0.1-0.3 microns. Such a bari Umtitanat powder can he by a heat treatment of the barium titanate powder will hold, which is produced by a wet synthesis process, such as. B. a Hydrothermal synthesis process, a hydrolysis process, or a sol-gel process Ren. A solid phase method can also be used for the synthesis, at a carbonate, an oxide, etc. of the elements that make up the barium titanate powder, be mixed and heat treated.

Bei der oben beschriebenen Wärmebehandlung werden die Bedingungen für ein gemäßigtes Kornwachstum so ausgewählt, das ein c-Achse/a-Achse-Verhältnis in einer Höhe von 1,003 bis 1,010 realisiert wird. Zum Beispiel kann eine effektive Wärmebehandlung in einer Atmosphäre durchgeführt werden, die H2O enthält. Selbstverständlich kann der oben genannte Bereich durch eine geeignete Einstellung der Temperatur und der Zeitdauer der Wärmebehandlung eingehalten werden. Wenn ein Festphasen-Verfahren verwendet wird, müssen die Zerfallsbedingungen kontrol­ liert werden, da sich das c-Achse/a-Achse-Verhältnis in Abhängigkeit von den Bedin­ gungen für den Zerfall des synthetisierten Pulvers verringern könnte.In the heat treatment described above, the conditions for moderate grain growth are selected so that a c-axis / a-axis ratio of 1.003 to 1.010 is realized. For example, effective heat treatment can be performed in an atmosphere containing H 2 O. Of course, the above range can be maintained by appropriately setting the temperature and the duration of the heat treatment. If a solid phase method is used, the disintegration conditions must be checked since the c-axis / a-axis ratio could decrease depending on the conditions for the disintegration of the synthesized powder.

Das Durchmesserverhältnis des Abschnitts 21 mit der niedrigen Kristallinität, d. h. ein Verhältnis des Durchmessers des Abschnitts 21 mit der niedrigen Kristallinität zu der Teilchengröße des Pulvers nach der oben beschriebenen Wärmebehandlung wird so vorbestimmt, daß es weniger als 0,65 in jedem Teilchen des in Fig. 2 und Fig. 3 ge­ zeigten Bariumtitanat-Pulvers ist. Solch ein Durchmesserverhältnis kann durch eine Wärmebehandlung bei einer Temperaturerhöhungsrate von 1°C/min oder weniger erhalten werden.The diameter ratio of the low crystallinity section 21 , that is, a ratio of the diameter of the low crystallinity section 21 to the particle size of the powder after the heat treatment described above, is predetermined to be less than 0.65 in each particle of the one shown in FIG. showed 3 ge 2 and FIG. barium titanate powder is. Such a diameter ratio can be obtained by heat treatment at a temperature increase rate of 1 ° C / min or less.

Die Beziehung zwischen der durchschnittlichen Teilchengröße des so erhaltenen Bariumtitanat-Pulvers und der durchschnittlichen Korngröße der gebrannten dielektri­ schen Keramik, d. h. das Verhältnis von (durchschnittlicher Korngröße der gebrannten Keramik)/(durchschnittlicher Teilchengröße des vorgesehenen Bariumtitanat-Pul­ vers), das durch R verkörpert wird, ist vorzugsweise 0,09-1,2. Kurz gesagt, ein be­ trächtliches Kornwachstum wird vorzugsweise während des Sinterns zum Erzeugen der Keramikmaterialien verhindert. So werden zum Beispiel zu diesem Zweck eine Mn-Komponente und/oder eine Mg-Komponente, ein Sinterhilfsmittel auf Si-Basis, etc. dem Bariumtitanat-Pulver hinzugefügt. Im allgemeinen können diese Zusätze dem Bariumtitanat-Pulver in der Form von Oxidpulver oder Karbonatpulver beige­ mengt werden. Alternativ dazu kann ein Verfahren verwendet werden, bei dem das Bariumtitanat-Pulver von einer Lösung umhüllt wird, die diese Zusätze enthält, und dann wärmebehandelt wird. The relationship between the average particle size of the thus obtained Barium titanate powder and the average grain size of the fired dielectri ceramics, d. H. the ratio of (average grain size of the burned Ceramic) / (average particle size of the intended barium titanate pulp vers) represented by R is preferably 0.09-1.2. In short, a be Pregnant grain growth is preferred to be generated during sintering the ceramic materials prevented. For example, a Mn component and / or a Mg component, a sintering aid based on Si, etc. added to the barium titanate powder. In general, these additives the barium titanate powder in the form of oxide powder or carbonate powder beige be mixed. Alternatively, a method can be used in which the Barium titanate powder is coated with a solution containing these additives, and then heat treated.  

Dieses Bariumtitanat-Pulver wird gebrannt, um dadurch eine dielektrische Keramik herzustellen, die in einem laminierten keramischen Elektronikelement verwendet wird, z. B. in einem laminierten Keramikkondensator 1, wie er in Fig. 1 veranschau­ licht ist.This barium titanate powder is fired to thereby produce a dielectric ceramic that is used in a laminated ceramic electronic element, e.g. B. in a laminated ceramic capacitor 1 , as is illustrated in Fig. 1 light.

Wie in Fig. 1 gezeigt ist, umfaßt der laminierte Keramikkondensator 1 einen Schicht­ stoff 3, der eine Vielzahl von laminierten dielektrischen Schichten 2 enthält, und eine erste Außenelektrode 6 und eine zweite Außenelektrode 7, die jeweils auf einer er­ sten Seitenfläche 4 und einer zweiten Seitenfläche 5 des Schichtstoffs 3 vorgesehen sind. Der laminierte Keramikkondensator 1 bildet in seiner Gesamtheit ein rechtecki­ ges, parallelepiped-geformtes chipartiges Elektronikelement.As shown in Fig. 1, the laminated ceramic capacitor 1 comprises a laminate 3 containing a plurality of laminated dielectric layers 2 , and a first outer electrode 6 and a second outer electrode 7 , each on a first side surface 4 and a second Side surface 5 of the laminate 3 are provided. The laminated ceramic capacitor 1 in its entirety forms a rectangular, parallelepiped-shaped chip-like electronic element.

In dem Schichtstoff 3 sind erste Innenelektroden 8 und zweite Elektroden 9 abwech­ selnd als die Innenleiter angeordnet. Die ersten Innenelektroden 8 sind entlang spe­ zieller Übergangsstellen zwischen dielektrischen Keramikschichten 2 derart ausge­ bildet, daß ein Ende jeder Innenelektrode 8 zu der ersten Seitenfläche 4 des Schichtstoffs 3 hin bloßliegt, so daß sie mit der ersten Außenelektrode 6 elektrisch verbunden werden kann, während die zweiten Innenelektroden 9 entlang spezieller Übergangsstellen zwischen den dielektrischen Keramikschichten 2 derart ausgebildet sind, daß ein Ende jeder Innenelektrode 9 zur zweiten Seitenfläche 5 des Schicht­ stoffs 3 hin so bloßliegt, daß sie elektrisch mit der zweiten Außenelektrode 7 verbun­ den werden kann.In the laminate 3 , first inner electrodes 8 and second electrodes 9 are alternately arranged as the inner conductors. The first inner electrodes 8 are formed along special transition points between dielectric ceramic layers 2 such that one end of each inner electrode 8 is exposed to the first side surface 4 of the laminate 3 so that it can be electrically connected to the first outer electrode 6 , while the second Inner electrodes 9 are formed along special transition points between the dielectric ceramic layers 2 such that one end of each inner electrode 9 to the second side surface 5 of the layer 3 is exposed so that it can be electrically connected to the second outer electrode 7 .

In dem laminierten Keramikkondensator 1 umfassen die dielektrischen Keramik­ schichten 2, die in dem Schichtstoff 3 enthalten sind, die oben erwähnte dielektrische Keramik.In the laminated ceramic capacitor 1 , the dielectric ceramic layers 2 contained in the laminate 3 include the above-mentioned dielectric ceramic.

Zur Erzeugung des laminierten Keramikkondensators 1 werden Ausgangsmaterialien vorgesehen, die eine primäre Komponente wie z. B. Bariumtitanat und einen Zusatz­ stoff zur Verbesserung der Charakteristiken, etc., umfassen. Die Materialien werden zu vorbestimmten Mengen abgewogen und naß vermischt, um ein gemischtes Pulver zu bilden.To produce the laminated ceramic capacitor 1 , starting materials are provided which have a primary component such as e.g. B. barium titanate and an additive to improve the characteristics, etc., include. The materials are weighed in predetermined amounts and wet mixed to form a mixed powder.

Dann werden dem gemischten Pulver ein organisches Bindemittel und ein Lösungs­ mittel hinzugefügt, um dadurch einen Brei zu erhalten, und eine keramische Grünfo­ lie, die die dielektrische Keramikschicht 2 bildet, wird unter Verwendung des Breis hergestellt.Then, an organic binder and a solvent are added to the mixed powder to thereby give a slurry, and a ceramic green sheet forming the dielectric ceramic layer 2 is produced using the slurry.

Danach werden elektrisch leitende dünne Pastenfilme, die die Innenelektroden 8 und 9 bilden, auf den speziellen keramischen Grünfolien ausgebildet. Der leitende Pa­ stenfilm enthält ein unedles Metall wie Nickel oder Kupfer, oder eine Legierung dar­ aus, und wird durch ein Verfahren wie z. B. Siebdruck, Aufdampfen, oder Plattieren gebildet.Thereafter, electrically conductive thin paste films, which form the inner electrodes 8 and 9, are formed on the special ceramic green sheets. The conductive paste film contains a base metal such as nickel or copper, or an alloy thereof, and is made by a method such as e.g. B. screen printing, vapor deposition, or plating.

Eine Vielzahl von keramischen Grünfolien, einschließlich derer, auf denen ein leiten­ der Pastenfilm ausgebildet worden ist, wie oben beschrieben worden ist, werden ge­ schichtet, verpreßt und, falls notwendig, zugeschnitten. Somit ist ein Grünschichtstoff 3 hergestellt, in dem die keramischen Grünfolien und die Innenelektroden 8 und 9, die entlang spezieller Übergangsstellen zwischen den keramischen Grünfolien aus­ gebildet sind, laminiert sind, wobei ein Ende jeder der Innenelektroden 8 und 9 zur Seitenfläche 4 bzw. 5 hin offen daliegt.A variety of ceramic green sheets, including those on which a paste paste film has been formed as described above, are layered, pressed and, if necessary, cut to size. Thus, a green laminate 3 is produced in which the ceramic green sheets and the inner electrodes 8 and 9 , which are formed along special transition points between the ceramic green sheets, are laminated, with one end of each of the inner electrodes 8 and 9 toward the side surface 4 and 5 , respectively is open.

Der Schichtstoff 3 wird dann in einer reduzierenden Atmosphäre gebrannt, um da­ durch das Bariumtitanat-Pulver in eine dielektrische Keramik umzuwandeln. Bei die­ sem Schritt wird das oben beschriebene Korngrößenverhältnis R so gesteuert, daß es in den Bereich von 0,90 ≦ R ≦ 1,2 fällt.The laminate 3 is then fired in a reducing atmosphere in order to be converted into a dielectric ceramic by the barium titanate powder. In this step, the grain size ratio R described above is controlled so that it falls in the range of 0.90 ≦ R ≦ 1.2.

Die erste Außenelektrode 6 und die zweite Außenelektrode 7 sind jeweils auf der ersten Seitenfläche 4 und auf der zweiten Seitenfläche 5 des Schichtstoffs 3 so aus­ gebildet, daß sie mit den offen liegenden Enden der ersten Innenelektroden 8 und der zweiten Innenelektroden 9 in dem gebrannten Schichtstoff 3 in Kontakt kommen. The first outer electrode 6 and the second outer electrode 7 are each formed on the first side surface 4 and on the second side surface 5 of the laminate 3 so that they are in the fired laminate 3 with the exposed ends of the first inner electrodes 8 and the second inner electrodes 9 get in touch.

Keine speziellen Beschränkungen sind der Zusammensetzung der Materialien zur Herstellung der Außenelektroden 6 und 7 auferlegt. Es können vor allem die gleichen Materialien wie für die Innenelektroden 8 und 9 verwendet werden. Die Außenelek­ troden können auch aus einer Sinterschicht aufgebaut werden, die ein elektrisch lei­ tendes Metallpulver, wie z. B. ein Pulver aus Ag, Pd, Ag-Pd, Cu, oder einer Cu-Le­ gierung umfaßt, oder aus einer Sinterschicht, die das oben genannte leitende Metall­ pulver umfaßt, das mit Erdglasur ("glass frit") vermischt ist, wie z. B. B2O3-Li2O-SiO2- BaO, B2O3-SiO2-BaO, Li2O-SiO2-BaO oder B2O3-SiO2-ZnO. Die Zusammensetzung der Materialien zur Herstellung der Außenelektroden 6 und 7 wird in angemessener Weise unter Berücksichtigung von Faktoren bestimmt, die den laminierten Keramik­ kondensator 1 betreffen, wie z. B. die Verwendung oder die Umgebung für die Ver­ wendung.No special restrictions are imposed on the composition of the materials for producing the outer electrodes 6 and 7 . Above all, the same materials can be used as for the inner electrodes 8 and 9 . The Außenelek electrodes can also be constructed from a sintered layer, the an electrically conductive metal powder, such as. B. comprises a powder of Ag, Pd, Ag-Pd, Cu, or a Cu alloy, or of a sintered layer comprising the above conductive metal powder mixed with earth glass ("glass frit"), such as e.g. B. B 2 O 3 -Li 2 O-SiO 2 - BaO, B 2 O 3 -SiO 2 -BaO, Li 2 O-SiO 2 -BaO or B 2 O 3 -SiO 2 -ZnO. The composition of the materials for producing the outer electrodes 6 and 7 is determined in an appropriate manner taking into account factors that affect the laminated ceramic capacitor 1 , such as. B. use or the environment for use.

Wie oben beschrieben worden ist, können die Außenelektroden 6 und 7 dadurch ge­ bildet werden, daß die Metallpulverpaste, die sie bildet, auf dem gebrannten Schicht­ stoff 3 aufgebracht und gebrannt wird. Die Elektroden können auch durch das Auf­ bringen der Paste auf dem ungebrannten Schichtstoff 3 gebildet werden und können gleichzeitig mit dem Brennen des Schichtstoffs 3 gebrannt werden.As has been described above, the outer electrodes 6 and 7 can be formed by applying the metal powder paste which forms them to the fired layer 3 and firing them. The electrodes can also be formed by bringing the paste onto the unfired laminate 3 and can be fired simultaneously with the firing of the laminate 3 .

Die Außenelektroden 6 und 7 können mit Auftragsschichten 10 und 11 überzogen werden, die in Abhängigkeit von den Anforderungen jeweils aus Ni, Cu, einer Ni-Cu- Legierung, etc. gebildet werden. Die Auftragsschichten 10 und 11 können außerdem mit zweiten Auftragsschichten 12 und 13 überzogen werden, die jeweils von einem Lötmittel, Zinn, etc. gebildet werden.The outer electrodes 6 and 7 can be coated with application layers 10 and 11 , which are formed from Ni, Cu, a Ni-Cu alloy, etc., depending on the requirements. The application layers 10 and 11 can also be coated with second application layers 12 and 13 , each of which is formed by a solder, tin, etc.

Die vorliegende Erfindung wird nun anhand von Beispielen genauer beschrieben, was aber nicht als Einschränkung der Erfindung gedacht sein soll.The present invention will now be described in more detail by way of examples, but this should not be construed as a limitation of the invention.

BeispieleExamples

Der laminierte Keramikkondensator, der in diesem Beispiel hergestellt wird, ist ein laminierter Keramikkondensator 1 mit einer Struktur, wie sie in Fig. 1 gezeigt ist.The laminated ceramic capacitor manufactured in this example is a laminated ceramic capacitor 1 having a structure as shown in FIG. 1.

Unterschiedliche Bariumtitanat-Materialien mit Zusammensetzungen, wie sie in Ta­ belle 1 gezeigt sind, wurden durch Hydrolyse hergestellt. Die resultierenden Materi­ alpulver besitzen eine Teilchengröße von 50 bis 70 nm und eine kubische Struktur, die viele OH-Gruppen in den Gittern der Perowskit-Struktur enthält. Durch eine Wär­ mebehandlung dieser Materialien unter einer Vielzahl von Bedingungen, z. B. in einer Atmosphäre, die H2O enthält, wurden Bariumtitanat-Pulver A bis N mit verschiedenen "c/a"-Werten (c-Achse/a-Achse-Verhältnis), durchschnittlichen Teilchengrößen, ma­ ximalen Teilchengrößen, Beträgen von OH-Gruppen, und Durchmesserverhältnissen hergestellt. Aggregationen, die während der Wärmebehandlung erzeugt worden sind, wurden nach der Wärmebehandlung zerlegt.Different barium titanate materials with compositions as shown in Table 1 were made by hydrolysis. The resulting alpine powders have a particle size of 50 to 70 nm and a cubic structure that contains many OH groups in the lattices of the perovskite structure. By heat treatment of these materials under a variety of conditions, e.g. B. in an atmosphere containing H 2 O, were barium titanate powders A to N with different "c / a" values (c-axis / a-axis ratio), average particle sizes, maximum particle sizes, amounts of OH -Groups, and diameter ratios. Aggregations generated during the heat treatment were disassembled after the heat treatment.

Tabelle 1 Table 1

Die in Tabelle 1 gezeigten "c/a"-Werte wurden durch eine Röntgenbeugung der Bari­ umtitanat-Pulver bestimmt. Das heißt, die durch die Röntgenbeugung erhaltenen Er­ gebnisse wurden einer Röntgen-Profilannäherung (profile fitting) unter Verwendung einer Rietveld-Analyse unterzogen, um die Gitterkonstanten genau zu bestimmen. Die durchschnittliche Teilchengröße und die maximale Teilchengröße wurden durch Betrachtung der Bariumtitanat-Pulver unter einem Rasterelektronenmikroskop ge­ messen. Ein Betrag an OH-Gruppen wurde durch ein Verlustgewicht bei einer Tem­ peratur von 150°C oder höher gemessen, das durch Thermogravimetrie der Barium­ titanat-Pulver gemessen wurde.The "c / a" values shown in Table 1 were determined by X-ray diffraction from the Bari umtitanate powder determined. That is, the Er obtained by X-ray diffraction Results were made using an X-ray profile fitting subjected to a Rietveld analysis to precisely determine the lattice constants. The average particle size and the maximum particle size were determined by Viewing the barium titanate powder under a scanning electron microscope measure up. An amount of OH groups was determined by a loss weight at a tem temperature of 150 ° C or higher, measured by thermogravimetry of the barium titanate powder was measured.

Das Durchmesserverhältnis, das in Tabelle 1 gezeigt ist, ist ein Verhältnis des Durchmessers des Abschnitts mit einer niedrigen Kristallinität zu der Teilchengröße des Pulvers und wurde dadurch bestimmt, daß das Pulver einem Schneidevorgang unterworfen wurde, um so eine Dünnfilmprobe zu erhalten, und unter einem Trans­ missionselektronenmikroskop betrachtet wurde. Wenn die filmartige Probe des Pul­ vers durch einen Schneidvorgang hergestellt wird, variieren die Teilchengröße des Pulvers und der Durchmesser eines Abschnitts mit niedriger Kristallinität in dem Pul­ ver. Da sich vor allem ein Abschnitt mit niedriger Kristallinität nicht immer im Mittel­ punkt eines Pulverteilchens befindet, muß die Größe des Abschnitts mit der Abwei­ chung gemessen werden, die von der Schnittstelle beim Herstellen des Dünnfilms abhängt. Somit wurden zur Messung Teilchen ausgewählt, die eine Teilchengröße aufwiesen, die ähnlich der Teilchengröße war, die mit dem Rasterelektronenmikro­ skop beobachtet worden ist. Das Durchmesserverhältnis wurde durch das Messen von 10 oder mehr solcher Teilchen und das Berechnen des durchschnittlichen Durchmesserverhältnisses bestimmt.The diameter ratio shown in Table 1 is a ratio of the Diameter of the portion with a low crystallinity to the particle size of the powder and was determined by cutting the powder was subjected so as to obtain a thin film sample, and under a trans mission electron microscope was considered. If the film-like sample of the Pul verse is produced by a cutting process, the particle size of the Powder and the diameter of a portion of low crystallinity in the powder ver. Because a section with low crystallinity is not always on average point of a powder particle, the size of the section with the deviation be measured by the interface when manufacturing the thin film depends. Thus, particles were selected for the measurement that have a particle size which was similar to the particle size used with the scanning electron micro skop has been observed. The diameter ratio was determined by measuring  of 10 or more such particles and calculating the average Diameter ratio determined.

In der "BaTiO3-Pulver"-Spalte in Tabelle 1 ist der Wert "x" der Materialien (Ba1-xCax)mTiO3 für die Pulver A bis H 0,00, so daß die Pulver A bis H kein Ca enthalten, aber die Pulver I bis N enthalten Ca, da ihre "x"-Werte 0,05 bzw. 0,10 betragen.In the "BaTiO 3 powder" column in Table 1, the value "x" of the materials (Ba 1-x Ca x ) m TiO 3 for powders A to H is 0.00, so that powders A to H are none Contain Ca, but powders I through N contain Ca because their "x" values are 0.05 and 0.10, respectively.

Als Zusätze, die den in Tabelle 1 gezeigten Bariumtitanat-Pulvern hinzugefügt wer­ den sollen, wurden jene vorgesehen, die die Zusammensetzungen besaßen, die in den Tabellen 2 und 3 gezeigt sind. Vor allem im Hinblick auf die Proben Nr. 1 bis 17, die in Tabelle 2 gezeigt sind, wurden RE (RE steht für ein Element aus der Gruppe Gd, Dy, Ho und Er), Mg und Mn als Zusätze vorgesehen, die dem BaTiO3 in der Form einer der oben genannten Proben A bis H hinzugefügt wurden. Ein Sinterhilfs­ mittel, das Si als einen primären Bestandteil enthält, wurde ebenfalls vorgesehen. Im Hinblick auf die Proben der Nummern 18 bis 29, die in Tabelle 3 gezeigt sind, wurden Mg und Mn als Zusätze vorgesehen, die dem (Ba1-xCax)TiO3 in der Form einer der oben genannten Proben I bis N hinzugefügt werden sollten. Ein Sinterhilfsmittel, das (Si, Ti)-Ba als eine primäre Komponente enthält, wurde ebenfalls vorgesehen.As additives to be added to the barium titanate powders shown in Table 1, those having the compositions shown in Tables 2 and 3 were provided. Especially with regard to samples Nos. 1 to 17, which are shown in Table 2, RE (RE stands for an element from the group Gd, Dy, Ho and Er), Mg and Mn were provided as additives which the BaTiO 3 were added in the form of one of the above samples A to H. A sintering aid containing Si as a primary ingredient has also been provided. Regarding the samples of Nos. 18 to 29 shown in Table 3, Mg and Mn were provided as additives that added to the (Ba 1-x Ca x ) TiO 3 in the form of one of the above samples I to N. should be. A sintering aid containing (Si, Ti) -Ba as a primary component has also been provided.

Tabelle 2 Table 2

Tabelle 3 Table 3

Die jeweils in den Tabellen 2 und 3 gezeigten Zusätze wurden in Alkoxid-Verbindun­ gen umgewandelt, die in einem organischen Lösungsmittel lösbar sind, und dann wurden sie den Bariumtitanat-Pulvern beigemengt, die in einem organischen Lö­ sungsmittel dispergiert worden sind. Vor allem im Hinblick auf die Proben Nr. 1 bis 17 wurden die jeweiligen Zusätze den Bariumtitanat-Pulvern derart hinzugefügt, daß "α", "β", "γ" und das "Si-enthaltende Sinterhilfsmittel", alle basierend auf Molanteilen, in "(Ba1-xCax)TiO3 + Mg + γMn" derart vorlagen, wie dies in Tabelle 2 gezeigt ist. Im Hin­ blick auf die Proben der Nummern 18 bis 29 wurden die jeweiligen Zusätze den Bari­ umtitanat-Pulvern so hinzugefügt, daß "β", "γ" und das "(Si, Ti)-Ba-enthaltende Sin­ terhilfsmittel", alle auf der Basis von Molanteilen, in "(Ba1-xCax)TiO3 + βMg + γMn" so vorlagen, wie es in Tabelle 3 gezeigt ist.The additives shown in Tables 2 and 3, respectively, were converted into alkoxide compounds which are soluble in an organic solvent, and then they were added to the barium titanate powders which had been dispersed in an organic solvent. Especially with regard to samples Nos. 1 to 17, the respective additives were added to the barium titanate powders in such a way that "α", "β", "γ" and the "Si-containing sintering aid", all based on molar proportions, in "(Ba 1-x Ca x ) TiO 3 + Mg + γMn" as shown in Table 2. In view of the samples of the numbers 18 to 29, the respective additives were added to the barium titanate powders such that "β", "γ" and the "(Si, Ti) -Ba-containing sintering aid", all on the Base of molar proportions in "(Ba 1-x Ca x ) TiO 3 + βMg + γMn" as shown in Table 3.

Zum Auflösen der oben genannten Zusätze in einem organischen Lösungsmittel können diese in Alkoxide umgewandelt werden, wie oben beschrieben worden ist, oder sie können in Acetylacetonate oder Metallseife umgewandelt werden.To dissolve the above additives in an organic solvent these can be converted into alkoxides as described above, or they can be converted to acetylacetonates or metal soap.

Die resultierenden Breie wurden einer Verdampfung des organischen Lösungsmittels bis zur Trockenheit und einer weiteren Wärmebehandlung unterzogen, um dadurch die organischen Komponenten zu entfernen.The resulting slurries underwent evaporation of the organic solvent subjected to dryness and further heat treatment to thereby to remove the organic components.

Danach wurde jeder Probe der Bariumtitanatpulver, denen die jeweiligen Zusätze beigemengt worden sind, ein Polyvinylbutyral-Bindemittel und ein organisches Lö­ sungsmittel wie z. B. Ethanol hinzugefügt, und die Zutaten wurden einer Naßmahlung unterzogen, um so einen Keramikbrei herzustellen. Der so erhaltene Brei wurde un­ ter Verwendung einer Rakel zu einer Folie geformt, um dadurch eine rechteckige Grünfolie mit einer Dicke von 1,5 µm zu erhalten. Dann wurde auf der erhaltenen keramischen Grünfolie eine leitende Paste, die Ni als eine primäre Komponente ent­ hielt, durch Aufdrucken aufgetragen, um einen leitenden Pastenfilm zur Bildung von Innenelektroden zu bilden.After that, each sample was given the barium titanate powder containing the respective additives have been added, a polyvinyl butyral binder and an organic solvent means such. B. ethanol was added and the ingredients were wet ground subjected to a ceramic pulp. The porridge thus obtained became un ter using a squeegee formed into a sheet, thereby forming a rectangular To obtain green film with a thickness of 1.5 microns. Then was received on the ceramic green sheet is a conductive paste that contains Ni as a primary component held, applied by printing, to form a conductive paste film Form internal electrodes.

Danach wurde eine Vielzahl der so erhaltenen keramischen Grünfolien derart lami­ niert, daß die vorderen Enden der oben erwähnten leitenden Pastenfilme auf den Folien abwechselnd angeordnet wurden, um dadurch einen Schichtstoff zu erhalten. Der resultierende Schichtstoff wurde bei 350°C in einer N2-Atmosphäre erhitzt, um so das Bindemittel zu brennen, und dann zwei Stunden lang bei einer Temperatur, wie sie in Tabelle 4 gezeigt ist, in einer reduzierenden Atmosphäre von H2-N2-H2O-Gas bei einem Sauerstoffpartialdruck von 10-9 bis 10-12 MPa gebrannt.Thereafter, a plurality of the ceramic green sheets thus obtained were laminated such that the front ends of the above-mentioned conductive paste films were alternately arranged on the sheets to thereby obtain a laminate. The resulting laminate was heated at 350 ° C in an N 2 atmosphere so as to burn the binder, and then at a temperature as shown in Table 4 in a reducing atmosphere of H 2 -N 2 for two hours -H 2 O gas burned at an oxygen partial pressure of 10 -9 to 10 -12 MPa.

Auf den gegenüberliegenden Seitenflächen des gebrannten Schichtstoffs wurde eine Silberpaste aufgetragen, die B2O3-Li2O-SiO2-BaO-Erdglasur enthielt, woraufhin das Brennen in einer Stickstoffatmosphäre bei 600°C erfolgte, um Außenelektroden zu erhalten, die elektrisch mit den Innenelektroden verbunden sind.A silver paste containing B 2 O 3 -Li 2 O-SiO 2 -BaO earth glaze was applied to the opposite side surfaces of the fired laminate, followed by firing in a nitrogen atmosphere at 600 ° C to obtain external electrodes which were electrically connected the internal electrodes are connected.

Die Außengröße des sich ergebenden laminierten Keramikkondensators besaß eine Breite von 5,0 mm, eine Länge von 5,7 mm und eine Dicke von 2,4 mm, und die Dicke der dielektrischen Keramikschicht, die zwischen den Innenelektroden vorhanden ist, betrug 1 µm. Die Gesamtanzahl an effektiven dielektrischen Keramikschichten betrug fünf, und die Fläche der gegenüberliegenden Elektroden pro Schicht betrug 16,3 × 10-6 m2.The outer size of the resulting laminated ceramic capacitor was 5.0 mm in width, 5.7 mm in length and 2.4 mm in thickness, and the thickness of the dielectric ceramic layer existing between the inner electrodes was 1 µm. The total number of effective dielectric ceramic layers was five, and the area of the opposing electrodes per layer was 16.3 × 10 -6 m 2 .

Die elektrischen Eigenschaften der sich ergebenden Proben wurden folgendermaßen gemessen.The electrical properties of the resulting samples were as follows measured.

Die elektrostatische Kapazität (C) und der dielektrische Verlust (tanδ) wurden unter Verwendung eines automatischen Brückeninstruments gemäß JIS (japanische Indu­ strienorm) 5102 gemessen, und die Dielektrizitätskonstante (ε) wurde unter Verwen­ dung der erhaltenen elektrostatischen Kapazität bestimmt.The electrostatic capacitance (C) and the dielectric loss (tanδ) were below Use of an automatic bridge instrument according to JIS (Japanese Indu strienorm) 5102, and the dielectric constant (ε) was determined using determination of the electrostatic capacity obtained.

Um den Isolationswiderstand (R) zu messen, wurde ein Isolationstestgerät verwen­ det; durch das Anlegen von 10 V Gleichstrom über zwei Minuten wurde bei 25°C ein Isolationswiderstand (R) erhalten, und der spezifische elektrische Widerstand wurde berechnet.An insulation tester was used to measure the insulation resistance (R) det; by applying 10 V DC for two minutes at 25 ° C Insulation resistance (R) was obtained, and the specific electrical resistance was calculated.

Was die Änderungsrate der elektrostatischen Kapazität im Hinblick auf die Tempe­ raturänderung betrifft, so ist die Änderungsrate (ΔC/C20) in einem Bereich von -25°C bis +85°C unter Bezugnahme auf die elektrostatische Kapazität bei 20°C und die Än­ derungsrate (ΔC/C25) in einem Bereich von -55°C bis +125°C unter Bezugnahme auf die elektrostatische Kapazität bei 25°C gezeigt.As for the rate of change in electrostatic capacity with respect to the temperature change, the rate of change (ΔC / C 20 ) is in a range from -25 ° C to + 85 ° C with reference to the electrostatic capacity at 20 ° C and the am rate of change (ΔC / C 25 ) in a range from -55 ° C to + 125 ° C with reference to the electrostatic capacity at 25 ° C shown.

Bei einem Hochtemperatur-Belastungsversuch wurde die Änderung des Zeitverlaufs des Isolationswiderstands beim Anlegen von 10 V Gleichstrom bei 150°C gemessen. Bei diesem Test wurde die durchschnittliche Lebensdauer der Proben berechnet, wobei die Lebensdauer einer Probe als gleich der Zeit bis zum Durchschlag be­ trachtet wurde, wenn der Isolationswiderstand (R) jeder Probe auf 105 Ω oder weni­ ger abfiel.In a high-temperature load test, the change in the time course of the insulation resistance was measured when 10 V direct current was applied at 150 ° C. In this test, the average life of the samples was calculated, and the life of a sample was considered equal to the time to breakdown when the insulation resistance (R) of each sample fell to 10 5 Ω or less.

Die Durchschlagspannung wurde gemessen, indem eine Gleichstromspannung bei einer Spannungserhöhungsrate von 100 V/sec. angelegt wurde.The breakdown voltage was measured using a DC voltage at a voltage increase rate of 100 V / sec. was created.

Eine durchschnittliche Korngröße der dielektrischen Keramik, die in dem erhaltenen laminierten Keramikkondensator enthalten ist, wurde durch das chemische Anätzen von polierten Querschnittsflächen des Schichtstoffs und die Betrachtung der Oberflä­ chen unter einem Rastermikroskop erhalten. Durch die Verwendung der Resultate und der durchschnittlichen Teilchengrößen der Ausgangsrohmaterialien, die in Ta­ belle 1 gezeigt sind, wurde ein Verhältnis R, d. h. (durchschnittliche Korngröße der dielektrischen Keramik)/(durchschnittliche Teilchengröße der Ausgangsrohmateriali­ en) gemessen.An average grain size of the dielectric ceramic obtained in the Laminated ceramic capacitor is included by chemical etching of polished cross-sectional areas of the laminate and the consideration of the surface Chen obtained under a scanning microscope. By using the results and the average particle sizes of the starting raw materials described in Ta belle 1, a ratio R, i. H. (average grain size of the dielectric ceramic) / (average particle size of the raw material i en) measured.

Die Ergebnisse sind in Tabelle 4 gezeigt. The results are shown in Table 4.  

Tabelle 4 Table 4

Die dielektrische Keramik der vorliegenden Erfindung ist durch die folgenden Merk­ male gekennzeichnet. Zuerst wird sie erhalten, indem Bariumtitanatpulver gebrannt wird, das eine Perowskit-Struktur aufweist, bei der ein c-Achse/a-Achse-Verhältnis in der Perowskit-Struktur in dem Bereich von 1,003 bis 1,010 liegt und ein Betrag von OH-Gruppen in dem Kristallgitter 1 Gew.-% oder weniger beträgt. Vorzugsweise be­ sitzt das Bariumtitanatpulver, das als das Rohmaterial dient, eine maximale Teil­ chengröße von 0,5 µm oder weniger und eine durchschnittliche Teilchengröße von 0,1 bis 0,3 µm. Auch umfassen einzelne Teilchen des Bariumtitanat-Pulvers vor­ zugsweise einen Abschnitt mit einer niedrigen Kristallinität und einen Abschnitt mit einer hohen Kristallinität in jedem Teilchen, und der Durchmesser des Abschnitts mit der niedrigen Kristallinität beträgt weniger als 0,65 mal die Teilchengröße des Pul­ vers. Außerdem ist ein Verhältnis R, d. h. (durchschnittliche Korngröße der dielektri­ schen Keramik)/(durchschnittliche Teilchengröße des Bariumtitanatpulvers) 0,90 bis 1,2, so daß während des Sinterns der Keramik kein wesentliches Kornwachstum auftritt.The dielectric ceramic of the present invention is characterized by the following marked times. First, it is obtained by burning barium titanate powder which has a perovskite structure in which a c-axis / a-axis ratio in the perovskite structure is in the range of 1.003 to 1.010 and an amount of OH groups in the crystal lattice is 1% by weight or less. Preferably be the barium titanate powder that serves as the raw material sits a maximum part size of 0.5 µm or less and an average particle size of 0.1 to 0.3 µm. Also include individual particles of the barium titanate powder preferably a section with a low crystallinity and a section with high crystallinity in each particle, and the diameter of the section with the low crystallinity is less than 0.65 times the particle size of the pul verse. In addition, a ratio R, i.e. H. (average grain size of the dielectri ceramics) / (average particle size of the barium titanate powder) 0.90 to 1,2, so that no significant grain growth during the sintering of the ceramic occurs.

Die Probennummern, die in Tabelle 4 mit * gekennzeichnet sind, und die Pulver, die in Tabelle 1 mit * markiert sind, liegen außerhalb des Rahmens der vorliegenden Er­ findung oder der oben aufgelisteten bevorzugten Bereiche. The sample numbers marked with * in Table 4 and the powders marked marked with * in Table 1 are outside the scope of the present Er invention or the preferred ranges listed above.  

Zuerst einmal zeigte eine Transmissionselektronenmikroskopanalyse einer ge­ brannten Keramik in bezug auf die Proben der Nummern 1 bis 17, die in Tabelle 4 gezeigt sind und durch Verwendung eines der Rohmaterialpulver A bis H erhalten worden sind, die in Tabelle 1 gezeigt sind, daß nahe der Korngrenze eines Keramik­ korns das seltene Erdmetall (RE), wie z. B. Gd, Dy, Ho oder Er, diffundiert ist und ei­ nen Schalenabschnitt gebildet hat; und in dem Mittelpunkt des Keramikkorns wurde ein Kernabschnitt gebildet; d. h., die gebrannte Keramik nimmt in jedem Korn eine Kern-Schalen-Struktur an, bei der der Kern und die Schale unterschiedliche Zusam­ mensetzungen und Kristallsysteme aufweisen.First of all, a transmission electron microscope analysis showed a ge fired ceramics with respect to the samples numbered 1 to 17 shown in Table 4 are shown and obtained by using one of the raw material powders A to H. shown in Table 1 that near the grain boundary of a ceramic korns the rare earth metal (RE), such as B. Gd, Dy, Ho or Er, is diffused and egg has formed a shell portion; and was in the center of the ceramic grain a core section is formed; d. that is, the fired ceramic takes one in each grain Core-shell structure, in which the core and the shell different together have settings and crystal systems.

Wie aus den Daten der Probe Nr. 1 in Tabelle 4 ersichtlich wird, ist die Verwendung eines Materialpulvers mit einem c-Achse/a-Achse-Verhältnis in der Perowskit-Struk­ tur von weniger als 1,003, wie z. B. das Materialpulver A, das in Tabelle 1 gezeigt ist, nicht vorteilhaft, weil die Reaktivität eines Zusatzes übermäßig hoch ist, was unvor­ teilhafterweise zu einer vergrößerten Korngröße der gesinterten Keramik und zu ei­ ner erhöhten Schwankung der Temperatur-/Dielektrizitätskonstanten-Charakteristi­ ken führt.As can be seen from the data of Sample No. 1 in Table 4, the use is a material powder with a c-axis / a-axis ratio in the perovskite structure less than 1.003, e.g. B. the material powder A shown in Table 1, not advantageous because the reactivity of an additive is excessively high, which is unpredictable partly to an enlarged grain size of the sintered ceramic and egg an increased variation in the temperature / dielectric constant characteristics ken leads.

Wie aus den Daten der Probe Nr. 15 in Tabelle 4 klar wird, ist die Verwendung eines Materialpulvers mit einem c-Achse/a-Achse-Verhältnis von mehr als 1,010, wie z. B. das in Tabelle 1 gezeigte Materialpulver F, nicht vorzuziehen, weil die Reaktivität mit einem Zusatzstoff schlecht ist, so daß sich dadurch die durchschnittliche Lebensdau­ er verkürzt, und außerdem verschlechtert sich die Zuverlässigkeit in nachteiliger Weise, wenn die dielektrischen Keramikschichten verdünnt werden, wie in dem Fall dieses Beispiels.As is clear from the data of Sample No. 15 in Table 4, the use of a Material powder with a c-axis / a-axis ratio of more than 1.010, such as. B. the material powder F shown in Table 1, not preferable because the reactivity with an additive is bad, so that the average lifespan it shortens and, moreover, the reliability deteriorates in a disadvantageous manner Way, when the dielectric ceramic layers are thinned, as in the case of this example.

Selbst dann, wenn das c-Achse/a-Achse-Verhältnis des Materialpulvers bei 1,003-1,010 liegt und der Betrag an OH-Gruppen 1 Gew.-% oder weniger beträgt, demon­ strieren die Daten der Probe Nr. 16 in Tabelle 4, daß dann, wenn ein Pulver mit einer durchschnittlichen Teilchengröße von mehr als 0,3 µm verwendet wird, wie z. B. das in Tabelle 1 aufgeführte Materialpulver G, die durchschnittliche Lebensdauer relativ kurz sein kann, und außerdem kann die Zuverlässigkeit in nachteiliger Weise ver­ schlechtert werden, wenn die dielektrischen Keramikschichten dünner ausgelegt werden, wie in dem Fall dieses Beispiels.Even if the c-axis / a-axis ratio of the material powder is 1.003-1.010 is and the amount of OH groups is 1 wt .-% or less, demon data of Sample No. 16 in Table 4 show that when a powder with a average particle size of more than 0.3 microns is used, such as. B. that Material powder G listed in Table 1, the average lifespan relative  can be short, and also the reliability can be disadvantageous are deteriorated if the dielectric ceramic layers are made thinner as in the case of this example.

In ähnlicher Weise zeigen die Daten der Probe Nr. 17 in Tabelle 4 selbst in dem Fall, in dem das c-Achse/a-Achse-Verhältnis und der Betrag an OH-Gruppen des Materi­ alpulvers in die oben beschriebenen Bereiche der vorliegenden Erfindung fallen, deutlich, daß dann, wenn ein Materialpulver mit einer maximalen Teilchengröße von mehr als 0,5 µm verwendet wird, wie z. B. das Materialpulver H, das in Tabelle 1 ge­ zeigt ist, die durchschnittliche Lebensdauer relativ kurz sein kann, und wenn die di­ elektrischen Keramikschichten dünner gemacht werden, kann sich die Zuverlässig­ keit in nachteiliger Weise verschlechtern.Similarly, the data of Sample No. 17 in Table 4 show even in the case in which the c-axis / a-axis ratio and the amount of OH groups of matter fall into the areas of the present invention described above, clearly that if a material powder with a maximum particle size of more than 0.5 µm is used, such as. B. the material powder H, the ge in Table 1 shows is the average lifespan can be relatively short and if the di electrical ceramic layers can be made thinner, which can be reliable disadvantageously worsen.

Selbst in den Fällen der Materialpulver C, D und E in Tabelle 1, bei denen das c-Achse/a-Achse-Verhältnis des Materialpulvers 1,003-1,010 beträgt, der Betrag an OH-Gruppen 1 Gew.-% oder weniger beträgt, die maximale Teilchengröße 0,5 mm oder weniger beträgt, und die durchschnittliche Teilchengröße 0,1-0,3 µm beträgt, wie aus den Daten der Proben Nr. 4, 9 und 11 (bei denen R weniger als 0,90 ist) oder der Proben Nr. 8 und 14 (bei denen R größer als 1,2 ist) in Tabelle 4 deutlich wird, kann die temperaturabhängige Schwankung der Dielektrizitätskonstanten an­ steigen.Even in the cases of material powders C, D and E in Table 1 where the c-axis / a-axis ratio of the material powder is 1.003-1.010, the amount OH groups is 1% by weight or less, the maximum particle size is 0.5 mm or less, and the average particle size is 0.1-0.3 µm, as from the data of Sample Nos. 4, 9 and 11 (where R is less than 0.90) or Sample Nos. 8 and 14 (where R is greater than 1.2) in Table 4 the temperature-dependent fluctuation in the dielectric constant climb.

Obwohl bei den Proben Nr. 5, 6, 7, 10, 12 und 13, die in Tabelle 4 gezeigt sind, die Dicke der dielektrischen Keramikschicht nur 1 µm dünn ist, erfüllt im Gegensatz dazu die Änderungsrate der elektrostatischen Kapazität mit der Temperatur die durch die JIS-Spezifikationen festgelegten B-Charakteristiken in dem Bereich von -25°C bis +85°C, und erfüllt die X7R-Charakteristiken, die durch die EIA-Spezifikationen (EIA = Electronic Industries Association) festgelegt sind, in dem Bereich von -55°C bis +125°C. Außerdem können die Proben 70 Stunden lang oder länger durchhalten, bis es zum Durchschlag in einem Hochtemperatur-Belastungsversuch kommt, und sie können bei 1200°C oder weniger gesintert werden. Die Änderung der elektrostati­ schen Kapazität beim Anlegen einer Gleichstromspannung ist klein und kann somit eine hohe Spannungsnennleistung gewährleisten.Although for Sample Nos. 5, 6, 7, 10, 12 and 13 shown in Table 4, the In contrast, the thickness of the dielectric ceramic layer is only 1 µm thin the rate of change of electrostatic capacity with temperature caused by the JIS specifications set B characteristics in the range from -25 ° C to + 85 ° C, and fulfills the X7R characteristics, which are defined by the EIA specifications (EIA = Electronic Industries Association) are set in the range from -55 ° C to + 125 ° C. In addition, the samples can last for 70 hours or more until it breaks down in a high temperature stress test, and they can be sintered at 1200 ° C or less. The change in electrostatics  capacity when applying a DC voltage is small and can therefore ensure a high voltage rating.

Die gebrannten Keramiken der Proben Nr. 18 bis 29, die in Tabelle 4 aufgeführt sind und die unter Verwendung der in Tabelle 1 aufgeführten Materialpulver I bis N er­ halten worden sind, wurden einer Transmissionselektronenmikroskopanalyse unter­ zogen. Es wurde bestätigt, daß Ungleichmäßigkeiten in der Zusammensetzung und ein uneinheitliches Kristallsystem, wie sie bei einzelnen Keramikkörnern in Zusam­ menhang mit den Proben Nr. 1 bis 17 gefunden wurden, nicht beobachtet wurden.The fired ceramics of Sample Nos. 18 to 29 listed in Table 4 and using the material powders I to N listed in Table 1 were kept under a transmission electron microscope analysis pulled. It was confirmed that compositional and unevenness a non-uniform crystal system, such as that of individual ceramic grains in combination 1 to 17 were not observed.

Wenn ein Material verwendet wird, das ein c-Achse/a-Achse-Verhältnis der Perows­ kit-Struktur von weniger als 1,003 aufweist, wie z. B. das Materialpulver J, das in Ta­ belle 1 gezeigt ist, können die Temperaturcharakteristiken der Dielektrizitätskon­ stante ansteigen, wie aus den Daten der Proben Nr. 22 und 23 in Tabelle 4 ersicht­ lich wird. Dieser Anstieg tritt ungeachtet des Grades an Kornwachstum während des Brennens auf, wie aus dem Vergleich des Verhältnisses R der Probe Nr. 22 und desjenigen der Probe Nr. 23 deutlich wird.If a material is used that has a c-axis / a-axis ratio of the Perows kit structure less than 1.003, such as. B. the material powder J, which in Ta belle 1 is shown, the temperature characteristics of the dielectric con constant increase, as can be seen from the data of the sample No. 22 and 23 in Table 4 becomes. This increase occurs regardless of the degree of grain growth during the Burning on as from the comparison of the ratio R of Sample No. 22 and of sample No. 23 becomes clear.

Wie aus den Daten der in Tabelle 4 gezeigten Probe Nr. 27 deutlich wird, ist die Ver­ wendung eines Materialpulvers mit einem c-Achse/a-Achse-Verhältnis von mehr als 1,010, wie z. B. das Materialpulver L in Tabelle 1, nicht vorteilhaft angesichts der nicht zufriedenstellenden Temperatur-/Dielektrizitätskonstanten-Charakteristiken der kur­ zen durchschnittlichen Lebensdauer und der schlechten Zuverlässigkeit.As is clear from the data of Sample No. 27 shown in Table 4, the ver use of a material powder with a c-axis / a-axis ratio of more than 1.010, such as B. the material powder L in Table 1, not advantageous in view of not satisfactory temperature / dielectric constant characteristics of the kur zen average lifespan and poor reliability.

Selbst im Fall der Materialpulver I und K von Tabelle 1, bei denen das c-Achse/a- Achse-Verhältnis des Materialpulvers 1,003-10,010 beträgt, der Betrag an OH-Grup­ pen 1 Gew.-% oder weniger beträgt, die maximale Teilchengröße 0,5 µm oder weni­ ger beträgt, und die durchschnittliche Teilchengröße 0,1-0,3 µm beträgt, zeigen die Daten der Proben Nr. 18 und 24 (bei denen R weniger als 0,90 beträgt) oder der Probe Nr. 21 (bei der R größer als 1,2 ist) in Tabelle 4 deutlich, daß eine Schwan­ kung der Dielektrizitätskonstanten in Abhängigkeit davon größer werden kann, ob der Wert von R kleiner als 0,90 oder größer als 1,2 ist.Even in the case of the material powders I and K of Table 1, in which the c-axis / a- Axis ratio of the material powder is 1.003-10.010, the amount of OH group pen is 1% by weight or less, the maximum particle size is 0.5 µm or less ger, and the average particle size is 0.1-0.3 µm, show the Data of Sample Nos. 18 and 24 (where R is less than 0.90) or the Sample No. 21 (where R is greater than 1.2) in Table 4 clearly shows that a swan  dielectric constant can increase depending on whether the R is less than 0.90 or greater than 1.2.

Also selbst dann, wenn das c-Achse/a-Achse-Verhältnis des Materialpulvers 1,003-1,010 beträgt und der Betrag an OH-Gruppen 1 Gew.-% oder weniger beträgt, zei­ gen die Daten der Probe Nr. 28 in Tabelle 4, daß dann, wenn ein Pulver verwendet wird, das eine durchschnittliche Teilchengröße von mehr als 0,3 µm und eine maxi­ male Teilchengröße von mehr als 0,5 µm besitzt, wie z. B. das Materialpulver M, das in Tabelle 1 gezeigt ist, die Temperatur-/Dielektrizitätskonstanten-Charakteristiken nicht zufriedenstellend sein können, die durchschnittliche Lebensdauer relativ kurz sein kann, und sich außerdem dann, wenn die dielektrischen Keramikschichten dün­ ner ausgelegt werden, die Zuverlässigkeit in nachteiliger Weise verschlechtern kann.So even if the c-axis / a-axis ratio of the material powder Is 1.003-1.010 and the amount of OH groups is 1% by weight or less, zei the data of Sample No. 28 in Table 4 that when a powder is used is that an average particle size of more than 0.3 microns and a maxi male particle size of more than 0.5 microns, such as. B. the material powder M As shown in Table 1, the temperature / dielectric constant characteristics may not be satisfactory, the average lifespan is relatively short can be, and also when the dielectric ceramic layers thin ner be designed, the reliability can deteriorate disadvantageously.

Wie aus Beispiel Nr. 29 in Tabelle 4 deutlich wird, können sich dann, wenn das Mate­ rialpulver N, das in Tabelle 1 gezeigt ist, verwendet wird, bei dem jedes Teilchen des Bariumtitanat-Pulvers einen Abschnitt mit einer niedrigen Kristallinität mit einem Durchmesser von nicht weniger als 0,65 mal die Teilchengröße des Pulvers besitzt, die Temperatur-/Dielektrizitätskonstanten-Charakteristiken verschlechtern.As is clear from Example No. 29 in Table 4, when the mate rial powder N shown in Table 1, in which each particle of Barium titanate powder has a low crystallinity section with a Has a diameter of not less than 0.65 times the particle size of the powder, deteriorate the temperature / dielectric constant characteristics.

In Gegensatz dazu erfüllt die Rate der Änderung der elektrostatischen Kapazität mit der Temperatur unter Bezugnahme auf die Proben Nr. 19, 20, 25 und 26, die in Ta­ belle 4 gezeigt sind, B-Charakteristiken, die durch die JIS-Spezifikationen festgelegt sind, in dem Bereich von -25°C bis +85°C, und erfüllt die X7R-Charakteristiken, die durch die EIA-Spezifikationen festgelegt sind, in dem Bereich von -55°C bis +125°C, obwohl die Dicke der dielektrischen Keramikschicht nur 1 µm dünn ist. Außerdem können die Proben 70 Stunden lang oder länger durchhalten, bis ein Durchschlag in einem Hochtemperatur-Belastungsversuch auftritt, und die Proben können bei einer Temperatur von nicht höher als 1200°C gebrannt werden. Die Änderung der elek­ trostatischen Kapazität beim Anlegen einer Gleichstromspannung ist klein, und eine hohe Spannungsnennleistung kann gewährleistet werden. In contrast, the rate of change in electrostatic capacity also complies with the temperature with reference to Sample Nos. 19, 20, 25 and 26 described in Ta belle 4 are shown, B characteristics determined by the JIS specifications are in the range of -25 ° C to + 85 ° C, and meets the X7R characteristics that specified by the EIA specifications, in the range from -55 ° C to + 125 ° C, although the thickness of the dielectric ceramic layer is only 1 µm thin. Furthermore can last for 70 hours or more until a breakdown in a high temperature stress test occurs, and the samples can be Temperature of not higher than 1200 ° C. The change in elec trostatic capacity when applying a DC voltage is small, and one high voltage rating can be guaranteed.  

Wie oben erwähnt worden ist, kann selbst dann, wenn die Körner einer dielektrischen Keramik eine homogene Zusammensetzung und ein einheitliches Kristallsystem in jedem Teilchen aufweisen - nämlich dann, wenn die Körner keine Kern-Schalen- Struktur aufweisen - die Steuerung des Kornwachstums während des Sinterns eine dielektrische Keramik mit exzellenten Temperatur-/Dielektrizitätskonstanten-Charak­ teristiken und hoher Zuverlässigkeit erzeugen, wie dies bei den Proben Nr. 19, 20, 25 und 26 der Fall ist.As mentioned above, even if the grains are dielectric Ceramic has a homogeneous composition and a uniform crystal system each particle - namely when the grains do not have core-shell Having structure - controlling grain growth during sintering dielectric ceramic with excellent temperature / dielectric constant character produce characteristics and high reliability, as is the case with sample no. 19, 20, 25 and 26 is the case.

Das oben beschriebene Beispiel ist auf ein laminiertes keramisches Elektronikele­ ment in der Form eines laminierten Keramikkondensators gerichtet; aber auch in dem Fall von anderen laminierten keramischen Elektronikelementen, wie z. B. einem viel­ schichtigen Keramiksubstrat, das durch fast dasselbe Verfahren hergestellt wird, wurden, wie bestätigt, die gleichen Resultate erzielt.The example described above is on a laminated ceramic electronic element ment directed in the form of a laminated ceramic capacitor; but also in that Case of other laminated ceramic electronic elements, such as. B. a lot layered ceramic substrate made by almost the same process As confirmed, the same results were achieved.

Wie oben beschrieben worden ist, werden bei der dielektrischen Keramik der vorlie­ genden Erfindung eine exzellente Temperatur-/Dielektrizitätskonstanten-Charakteris­ tik und eine verbesserte Zuverlässigkeit verwirklicht, indem das c-Achse/a-Achse- Verhältnis in der Perowskit-Struktur und der Betrag an OH-Gruppen in dem Kristall­ gitter gesteuert werden, und vorzugsweise durch das weitere Steuern der maximalen Teilchengröße, der durchschnittlichen Teilchengröße, der Struktur der Pulverteilchen auf der Basis der Kristallinität, und des Kornwachstums während des Brennens des Bariumtitanat-Pulvers, das als das Ausgangsmaterial dient.As described above, the dielectric ceramics are the present invention an excellent temperature / dielectric constant character tics and improved reliability realized by the c-axis / a-axis Ratio in the perovskite structure and the amount of OH groups in the crystal grid can be controlled, and preferably by further controlling the maximum Particle size, the average particle size, the structure of the powder particles based on the crystallinity and grain growth during the firing of the Barium titanate powder, which serves as the starting material.

Folglich kann durch die Verwendung der dielektrischen Keramik der vorliegenden Erfindung ein laminiertes keramisches Hochleistungs-Elektronikelement mit einer exzellenten Temperatur-/Dielektrizitätskonstanten-Charakteristik und hoher Zuverläs­ sigkeit erhalten werden. Vor allem dann, wenn die dielektrische Keramik bei einem laminierten keramischen Elektronikelement verwendet wird, das einen Schichtstoff einschließt, bei dem dielektrische Keramikschichten und Innenelektroden aufeinan­ dergeschichtet sind, wie z. B. bei einem laminierten Keramikkondensator, kann die Temperatur-/Dielektrizitäts-Charakteristik selbst dann stabilisiert werden, wenn eine dünne Keramikschicht mit einer Dicke von etwa 1 µm oder weniger vorliegt, und folg­ lich ist dies vorteilhaft für die Miniaturisierung und die dünnere Ausgestaltung des laminierten keramischen Elektronikelements.Consequently, by using the dielectric ceramic, the present Invention a laminated ceramic high-performance electronic element with a excellent temperature / dielectric constant characteristics and high reliability be preserved. Especially when the dielectric ceramic is used for one Laminated ceramic electronic element is used, which is a laminate includes, in which dielectric ceramic layers and internal electrodes on one another are layered, e.g. B. in a laminated ceramic capacitor, the Temperature / dielectric characteristics can be stabilized even if one  thin ceramic layer with a thickness of about 1 micron or less, and follow Lich this is advantageous for the miniaturization and the thinner design of the laminated ceramic electronic elements.

Beim Herstellen der dielektrischen Keramik durch das Brennen in einer reduzieren­ den Atmosphäre wird die Keramik während des Brennens nicht reduziert. Deshalb erlaubt das laminierte keramische Elektronikelement der vorliegenden Erfindung, das unter Verwendung der dielektrischen Keramik hergestellt ist, die Verwendung eines unedlen Metalls, wie z. B. Nickel oder eine Nickellegierung als das Material für den Innenleiter, um dadurch die Kosten für ein laminiertes keramisches Elektronikele­ ment, z. B. einen laminierten Keramikkondensator, zu verringern.When making the dielectric ceramic by firing in one cut The ceramic is not reduced to the atmosphere during firing. Therefore The laminated ceramic electronic element of the present invention allows the made using the dielectric ceramic, using a base metal, such as. B. nickel or a nickel alloy as the material for the Inner conductor to reduce the cost of a laminated ceramic electronics ment, e.g. B. a laminated ceramic capacitor.

Die dielektrische Keramik nach der vorliegenden Erfindung sieht eine ausgezeich­ nete Temperatur-/Dielektrizitätskonstanten-Charakteristik und eine ausgezeichnete Zuverlässigkeit vor, ungeachtet der Tatsache, ob sie eine Kern-Schalen-Struktur aufweist oder nicht. Deshalb werden die Temperaturcharakteristiken und die Zuver­ lässigkeit dann, wenn die dielektrische Keramik keine Kern-Schalen-Struktur auf­ weist, nicht von dem Zustand der Dispersion eines Zusatzbestandteils beeinträchtigt, wodurch die Schwankung der Charakteristiken mit den Brennbedingungen herabge­ setzt wird.The dielectric ceramic according to the present invention looks excellent nete temperature / dielectric constant characteristic and an excellent Reliability before, regardless of whether it has a core-shell structure has or not. Therefore, the temperature characteristics and the zuver casualness if the dielectric ceramic does not have a core-shell structure does not suffer from the state of dispersion of an additional ingredient, whereby the variation of the characteristics with the firing conditions is reduced is set.

Claims (30)

1. Dielektrische Keramik, dadurch gekennzeichnet, daß sie durch das Brennen eines Bariumtitanat-Pulvers erhalten wird, bei dem ein c-Achse/a-Achse-Ver­ hältnis in der Perowskit-Struktur in dem Bereich von 1,003 bis 1,010 liegt und ein Betrag an OH-Gruppen in dem Kristallgitter 1 Gew.-% oder weniger be­ trägt.1. Dielectric ceramic, characterized in that it is obtained by firing a barium titanate powder in which a c-axis / a-axis ratio in the perovskite structure is in the range of 1.003 to 1.010 and an amount OH groups in the crystal lattice are 1% by weight or less. 2. Dielektrische Keramik nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Bariumtitanat-Pulver eine maximale Teilchengröße von 0,5 µm oder weniger und eine durchschnittliche Teilchengröße von 0,1-0,3 µm besitzt.2. Dielectric ceramic according to claim 1, characterized in that the Barium titanate powder has a maximum particle size of 0.5 µm or less and has an average particle size of 0.1-0.3 µm. 3. Dielektrische Keramik nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die einzelnen Teilchen des Bariumtitanat-Pulvers einen Abschnitt mit einer niedri­ gen Kristallinität und einen Abschnitt mit einer hohen Kristallinität umfassen und der Durchmesser des Abschnitts mit der niedrigen Kristallinität weniger als 0,65 mal die Teilchengröße des Pulvers ist. 3. Dielectric ceramic according to claim 1, characterized in that the individual particles of the barium titanate powder a section with a low gene crystallinity and a portion with a high crystallinity and the diameter of the portion with the low crystallinity is less than 0.65 times the particle size of the powder.   4. Dielektrische Keramik nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Verhältnis R, das als (durchschnittliche Korngröße der dielektrischen Kera­ mik)/(durchschnittliche Teilchengröße des vorgesehenen Bariumtitanat- Pulvers) definiert ist, in dem Bereich von 0,90-1,2 liegt.4. Dielectric ceramic according to claim 1, characterized in that a Ratio R, which is the (average grain size of the dielectric Kera mic) / (average particle size of the intended barium titanate Powder) is defined, is in the range of 0.90-1.2. 5. Dielektrische Keramik nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Körner, die die dielektrische Keramik bilden, eine Kern-Schalen-Struktur auf­ weisen, in der sich die Zusammensetzung und das Kristallsystem des Kerns und der Schale voneinander unterscheiden.5. Dielectric ceramic according to claim 1, characterized in that the Grains that form the dielectric ceramic have a core-shell structure point in the composition and the crystal system of the core and distinguish the shell from each other. 6. Dielektrische Keramik nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Körner in der dielektrischen Keramik eine homogene Struktur aufweisen, die eine einheitliche Zusammensetzung und ein einheitliches Kristallsystem auf­ weist.6. Dielectric ceramic according to claim 1, characterized in that the Grains in the dielectric ceramic have a homogeneous structure that a uniform composition and a uniform crystal system points. 7. Verfahren zur Herstellung einer dielektrischen Keramik, gekennzeichnet durch die folgenden Schritte:
Vorsehen eines Bariumtitanat-Pulvers, bei dem das c-Achse/a-Achse-Verhält­ nis in der Perowskit-Struktur in dem Bereich von 1,003 bis 1,010 liegt und ein Betrag an OH-Gruppen in dem Kristallgitter 1 Gew.-% oder weniger beträgt, und
Brennen des Bariumtitanat-Pulvers.
7. A method for producing a dielectric ceramic, characterized by the following steps:
Providing a barium titanate powder in which the c-axis / a-axis ratio in the perovskite structure is in the range of 1.003 to 1.010 and an amount of OH groups in the crystal lattice is 1% by weight or less , and
Firing the barium titanate powder.
8. Verfahren zur Herstellung einer dielektrischen Keramik nach Anspruch 7, da­ durch gekennzeichnet, daß in dem Schritt des Vorsehens eines Bariumtitanat- Pulvers ein Bariumtitanat-Pulver vorgesehen wird, das eine maximale Teil­ chengröße von 0,5 µm oder weniger und eine durchschnittliche Teilchengröße von 0,1-0,3 µm aufweist.8. A method for producing a dielectric ceramic according to claim 7, there characterized in that in the step of providing a barium titanate Powder a barium titanate powder is provided which is a maximum part size of 0.5 µm or less and an average particle size of 0.1-0.3 µm. 9. Verfahren zur Herstellung einer dielektrischen Keramik nach Anspruch 7, da­ durch gekennzeichnet, daß bei dem Schritt des Vorsehens eines Bariumtita­ nat-Pulvers einzelne Teilchen des Bariumtitanat-Pulvers einen Abschnitt mit einer niedrigen Kristallinität und einen Abschnitt mit einer hohen Kristallinität umfassen und der Durchmesser des Abschnitts mit der niedrigen Kristallinität weniger als 0,65 mal die Teilchengröße des Pulvers beträgt.9. A method for producing a dielectric ceramic according to claim 7, there characterized in that in the step of providing a barium tita  nat powder individual particles of the barium titanate powder with a section of low crystallinity and a section of high crystallinity include and the diameter of the portion with the low crystallinity is less than 0.65 times the particle size of the powder. 10. Verfahren zur Herstellung einer dielektrischen Keramik nach Anspruch 7, da­ durch gekennzeichnet, daß in dem Brennschritt ein Verhältnis R, das als (durchschnittliche Korngröße der dielektrischen Keramik nach dem Brennen)/(durch­ schnittliche Teilchengröße des vorgesehenen Bariumtitanat-Pulvers) definiert ist, so gesteuert wird, daß es in den Bereich von 0,90-1,2 fällt.10. A method for producing a dielectric ceramic according to claim 7, because characterized in that in the firing step a ratio R, which is called (average grain size of dielectric ceramic after firing) / (by average particle size of the intended barium titanate powder) is controlled to fall in the range of 0.90-1.2. 11. Verfahren zur Herstellung einer dielektrischen Keramik nach Anspruch 7, da­ durch gekennzeichnet, daß die Körner, die die dielektrische Keramik bilden, nach dem Brennen eine Kern-Schalen-Struktur aufweisen, in der sich die Zu­ sammensetzung und das Kristallsystem des Kerns und der Schale voneinan­ der unterscheiden.11. A method for producing a dielectric ceramic according to claim 7, there characterized in that the grains that form the dielectric ceramic after firing have a core-shell structure in which the Zu composition and the crystal system of the core and the shell from each other who differentiate. 12. Verfahren zur Herstellung einer dielektrischen Keramik nach Anspruch 7, da­ durch gekennzeichnet, daß die Körner in der dielektrischen Keramik nach dem Brennen eine homogene Struktur aufweisen, die eine einheitliche Zusammen­ setzung und ein einheitliches Kristallsystem aufweist.12. A method for producing a dielectric ceramic according to claim 7, there characterized in that the grains in the dielectric ceramic after the Burning have a homogeneous structure that is uniform together setting and has a uniform crystal system. 13. Laminiertes keramisches Elektronikelement mit einem Schichtstoff, der aus einer Vielzahl von dielektrischen Keramikschichten gebildet wird, und einem Innenleiter, der entlang einer speziellen Übergangsstelle zwischen zwei ne­ beneinanderliegenden dielektrischen Keramikschichten ausgebildet ist, da­ durch gekennzeichnet, daß die dielektrischen Keramikschichten eine dielektri­ sche Keramik umfassen, die durch das Brennen eines Bariumtitanat-Pulvers erhalten wird, bei dem ein c-Achse/a-Achse-Verhältnis in der Perowskit- Struktur in dem Bereich von 1,003-1,010 liegt und ein Betrag an OH-Gruppen in dem Kristallgitter 1 Gew.-% oder weniger beträgt. 13. Laminated ceramic electronic element with a laminate made of a plurality of dielectric ceramic layers is formed, and one Inner conductor that runs along a special transition point between two ne dielectric ceramic layers lying next to one another is formed there characterized in that the dielectric ceramic layers have a dielectri ceramics by firing a barium titanate powder is obtained with a c-axis / a-axis ratio in the perovskite Structure is in the range of 1.003-1.010 and an amount of OH groups in the crystal lattice is 1% by weight or less.   14. Laminiertes keramisches Elektronikelement nach Anspruch 13, dadurch ge­ kennzeichnet, daß das Bariumtitanat-Pulver eine maximale Teilchengröße von 0,5 µm oder weniger und eine durchschnittliche Teilchengröße von 0,1-0,3 µm besitzt.14. Laminated ceramic electronic element according to claim 13, characterized ge indicates that the barium titanate powder has a maximum particle size of 0.5 µm or less and an average particle size of 0.1-0.3 µm owns. 15. Laminiertes keramisches Elektronikelement nach Anspruch 13, dadurch ge­ kennzeichnet, daß einzelne Teilchen des Bariumtitanat-Pulvers einen Ab­ schnitt mit einer niedrigen Kristallinität und einen Abschnitt mit einer hohen Kristallinität umfassen und der Durchmesser des Abschnitts mit der niedrigen Kristallinität weniger als 0,65 mal die Teilchengröße des Pulvers beträgt.15. Laminated ceramic electronic element according to claim 13, characterized ge indicates that individual particles of the barium titanate powder have an Ab cut with a low crystallinity and a section with a high Include crystallinity and the diameter of the section with the lowest Crystallinity is less than 0.65 times the particle size of the powder. 16. Laminiertes keramisches Elektronikelement nach Anspruch 13, dadurch ge­ kennzeichnet, daß ein Verhältnis R, das als (durchschnittliche Korngröße der dielektrischen Keramik)/(durchschnittliche Teilchengröße des Bariumtitanat- Pulvers) definiert ist, in dem Bereich von 0,90-1,2 liegt.16. Laminated ceramic electronic element according to claim 13, characterized ge indicates that a ratio R, which is (average grain size of the dielectric ceramic) / (average particle size of barium titanate Powder) is defined, is in the range of 0.90-1.2. 17. Laminiertes keramisches Elektronikelement nach Anspruch 13, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Körner, die die dielektrische Keramik bilden, eine Kern- Schalen-Struktur aufweisen, bei der sich die Zusammensetzung und das Kri­ stallsystem des Kerns und der Schale voneinander unterscheiden.17. Laminated ceramic electronic element according to claim 13, characterized ge indicates that the grains that form the dielectric ceramic have a core Have shell structure in which the composition and the Kri distinguish between the stable system of the core and the shell. 18. Laminiertes keramisches Elektronikelement nach Anspruch 13, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Körner in der dielektrischen Keramik eine homogene Struktur aufweisen, die eine einheitliche Zusammensetzung und ein einheitli­ ches Kristallsystem aufweist.18. Laminated ceramic electronic element according to claim 13, characterized ge indicates that the grains in the dielectric ceramic are homogeneous Have structure that have a uniform composition and a uniform ches crystal system. 19. Laminiertes keramisches Elektronikelement nach Anspruch 13, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Innenleiter ein unedles Metall enthält. 19. Laminated ceramic electronic element according to claim 13, characterized ge indicates that the inner conductor contains a base metal.   20. Laminiertes keramisches Elektronikelement nach Anspruch 19, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Innenleiter Nickel oder eine Nickellegierung enthält.20. Laminated ceramic electronic element according to claim 19, characterized ge indicates that the inner conductor contains nickel or a nickel alloy. 21. Laminiertes keramisches Elektronikelement nach Anspruch 13, dadurch ge­ kennzeichnet, daß es außerdem eine Vielzahl von Außenelektroden umfaßt, die an verschiedenen Stellen auf einer Seitenfläche des Schichtstoffs vorge­ sehen sind, wobei eine Vielzahl von Innenleitern so ausgebildet ist, daß ein Ende jedes Innenleiters zu der Seitenfläche hin bloßliegt, so daß er elektrisch mit einer der Außenelektroden verbunden werden kann.21. Laminated ceramic electronic element according to claim 13, characterized ge indicates that it also includes a plurality of external electrodes, which are featured in various places on one side surface of the laminate are seen, wherein a plurality of inner conductors is designed so that a End of each inner conductor is exposed to the side surface so that it is electrical can be connected to one of the outer electrodes. 22. Verfahren zur Herstellung eines laminierten keramischen Elektronikelements, gekennzeichnet durch die folgenden Schritte:
Vorsehen eines Bariumtitanat-Pulvers, bei dem ein c-Achse/a-Achse-Verhält­ nis in der Perowskit-Struktur in dem Bereich von 1,003 bis 1,010 liegt und ein Betrag an OH-Gruppen in dem Kristallgitter 1 Gew.-% oder weniger beträgt;
Herstellen eines Schichtstoffs, bei dem eine Vielzahl von keramischen Grünfo­ lien, die das Bariumtitanat-Pulver enthalten, und Innenelektroden so laminiert werden, daß die Innenelektroden entlang bestimmter Übergangsstellen der keramischen Grünfolien vorliegen; und
Brennen des Bariumtitanat-Pulvers, um dadurch eine dielektrische Keramik vorzusehen.
22. A method for producing a laminated ceramic electronic element, characterized by the following steps:
Providing a barium titanate powder in which a c-axis / a-axis ratio in the perovskite structure is in the range of 1.003 to 1.010 and an amount of OH groups in the crystal lattice is 1% by weight or less ;
Producing a laminate in which a plurality of ceramic green foils containing the barium titanate powder and inner electrodes are laminated such that the inner electrodes are along certain transition points of the ceramic green foils; and
Firing the barium titanate powder to thereby provide a dielectric ceramic.
23. Verfahren zur Herstellung eines laminierten keramischen Elektronikelements nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, daß in dem Schritt des Vorse­ hens eines Bariumtitanat-Pulvers ein Bariumtitanat-Pulver vorgesehen wird, das eine maximale Teilchengröße von 0,5 µm oder weniger und eine durch­ schnittliche Teilchengröße von 0,1-0,3 µm aufweist.23. Process for producing a laminated ceramic electronic element according to claim 22, characterized in that in the step of Vorse a barium titanate powder is provided, which has a maximum particle size of 0.5 µm or less and one through Average particle size of 0.1-0.3 microns. 24. Verfahren zur Herstellung eines laminierten keramischen Elektronikelements nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, daß bei dem Schritt des Vorse­ hens eines Bariumtitanat-Pulvers einzelne Teilchen des Bariumtitanat-Pulvers einen Abschnitt mit einer niedrigen Kristallinität und einen Abschnitt mit einer hohen Kristallinität umfassen und der Durchmesser des Abschnitt mit der nied­ rigen Kristallinität weniger als 0,65 mal die Teilchengröße des Pulvers beträgt.24. Process for producing a laminated ceramic electronic element according to claim 22, characterized in that in the step of Vorse a barium titanate powder, individual particles of the barium titanate powder  a section with a low crystallinity and a section with a high crystallinity and the diameter of the section with the low crystallinity is less than 0.65 times the particle size of the powder. 25. Verfahren zur Herstellung eines laminierten keramischen Elektronikelements nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, daß in dem Brennschritt ein Ver­ hältnis R, das als (durchschnittliche Korngröße der dielektrischen Keramik nach dem Brennen)/(durchschnittliche Teilchengröße des vorgesehenen Bari­ umtitanat-Pulvers) definiert ist, so gesteuert wird, daß er in den Bereich von 0,90-1,2 fällt.25. Process for producing a laminated ceramic electronic element according to claim 22, characterized in that a Ver ratio R, which as (average grain size of the dielectric ceramic after firing) / (average particle size of the intended bari umtitanate powder) is controlled to be in the range of 0.90-1.2 falls. 26. Verfahren zur Herstellung eines laminierten keramischen Elektronikelements nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, daß Körner, die die dielektrische Keramik bilden, nach dem Brennen eine Kern-Schalen-Struktur aufweisen, bei der sich die Zusammensetzung und das Kristallsystem des Kerns und der Schale voneinander unterscheiden.26. A method of manufacturing a laminated ceramic electronic element according to claim 22, characterized in that grains which the dielectric Form ceramic, after firing have a core-shell structure, at which is the composition and the crystal system of the nucleus and the Differentiate the shell from each other 27. Verfahren zur Herstellung eines laminierten keramischen Elektronikelements nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, daß Körner in der dielektrischen Keramik nach dem Brennen eine homogene Struktur aufweisen, die eine ein­ heitliche Zusammensetzung und ein einheitliches Kristallsystem aufweist.27. A method of manufacturing a laminated ceramic electronic element according to claim 22, characterized in that grains in the dielectric Ceramics after firing have a homogeneous structure, which is a uniform composition and a uniform crystal system. 28. Verfahren zur Herstellung eines laminierten keramischen Elektronikelements nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, daß der Innenleiter ein unedles Metall umfaßt.28. A method of manufacturing a laminated ceramic electronic element according to claim 22, characterized in that the inner conductor is a base Metal includes. 29. Verfahren zur Herstellung eines laminierten keramischen Elektronikelements nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, daß der Innenleiter Nickel oder eine Nickellegierung umfaßt. 29. Process for producing a laminated ceramic electronic element according to claim 22, characterized in that the inner conductor nickel or includes a nickel alloy.   30. Verfahren zur Herstellung eines laminierten keramischen Elektronikelements nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, daß der Schritt des Herstellens eines Schichtstoffs die Unterschritte des Vorsehens der Innenelektroden zu­ sammen mit speziellen Übergangsstellen zwischen zwei benachbarten kera­ mischen Grünfolien derart, daß ein Ende jedes Innenleiters zu einer Seitenflä­ che des Schichtstoffs hin bloßliegt, und das Bilden einer Vielzahl von Außen­ elektroden auf der Seitenfläche des Schichtstoffs derart umfaßt, daß das bloß­ liegende Ende jedes der Innenleiter elektrisch mit der entsprechenden der Außenelektroden verbunden ist.30. A method of manufacturing a laminated ceramic electronic element according to claim 22, characterized in that the step of manufacturing of a laminate to the sub-steps of providing the internal electrodes together with special transition points between two neighboring kera mix green foils such that one end of each inner conductor becomes a side surface surface of the laminate is exposed, and forming a variety of exterior electrodes on the side surface of the laminate such that the bare end of each of the inner conductors electrically connected to the corresponding one of the External electrodes is connected.
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