DE19746532A1 - Lichtelektrische Positionsmeßeinrichtung - Google Patents
Lichtelektrische PositionsmeßeinrichtungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine lichtelektrische Positionsmeßeinrichtung gemäß
dem Oberbegriff des Anspruches 1.
Derartige Meßeinrichtungen werden zur inkrementalen oder absoluten Posi
tionsbestimmung bei Bearbeitungsmaschinen sowie bei Koordinatenmeß
maschinen eingesetzt.
Bei lichtelektrischen Positionsmeßeinrichtungen wird ein Maßstab berüh
rungslos mittels einer Lichtquelle und Photodetektoren abgetastet. Die dabei
erzeugten elektrischen Signale sind relativ klein und daher störempfindlich.
In der DE 25 05 587 C3 ist eine Längenmeßeinrichtung beschrieben, von der
unsere Erfindung ausgeht. In einem Gehäuse ist ein Glasmaßstab unter
Zwischenschaltung einer hochelastischen Klebeschicht befestigt. Die Ab
tasteinheit stützt sich über Gleitschuhe direkt am Glasmaßstab ab, wodurch
der Maßstab eine Führung der Abtasteinheit darstellt.
Als Nachteil dieser Positionsmeßeinrichtung hat sich herausgestellt, daß sich
auf der Oberfläche des Glasmaßstabes eine elektrische Ladung ansammelt,
die so groß werden kann, daß über die Abtasteinheit eine sprunghafte Ent
ladung erfolgt. Diese sprunghafte Entladung verursacht einen elektrischen
Impuls, der als Störimpuls wirkt und insbesondere bei inkrementalen Meß
systemen von der Auswerteeinheit als Zählimpuls oder als Referenzmar
kenimpuls interpretiert wird.
In der US-PS 5,030,825 ist eine Winkelmeßeinrichtung beschrieben, bei der
zur Abtastung eines Maßstabes mehrere Photodetektoren vorgesehen sind.
Zwischen dem Maßstab und den Photodetektoren ist eine Abtastplatte an
geordnet. Diese. Abtastplatte ist aus einem elektrisch leitenden Material ge
fertigt und am Bezugspotential (Erde) angeschlossen; sie soll dadurch eine
Abschirmung der Photodetektoren gegen elektromagnetische Störfelder be
wirken.
Diese Maßnahme hat den Nachteil, daß die Abtastplatte nicht aus transpa
rentem Material hergestellt werden kann. Weiterhin können vom Maßstab
ausgehende Störsignale durch diese Maßnahme nicht verhindert werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, bei einer lichtelektrischen Positi
onsmeßeinrichtung die Störsicherheit zu verbessern.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Merkmale des Anspruches
1 gelöst.
In den abhängigen Ansprüchen sind vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfin
dung angegeben.
Die Vorteile der Erfindung liegen darin, daß die positionsabhängigen Abtast
signale von statischen Aufladungen des Maßstabes weitgehend unbeeinflußt
bleiben.
Mit Hilfe von Ausführungsbeispielen wird die Erfindung nachstehend anhand
der Zeichnungen näher erläutert.
Es zeigt
Fig. 1 eine lichtelektrische inkrementale Längenmeßein
richtung mit einem ersten Maßstab im Teilschnitt,
Fig. 2 eine Draufsicht des ersten Maßstabes,
Fig. 3 eine Draufsicht eines zweiten Maßstabes,
Fig. 4 eine Draufsicht eines dritten Maßstabes,
Fig. 5 eine Draufsicht eines vierten Maßstabes,
Fig. 6 die Längenmeßeinrichtung mit einem Abschluß
block und einem Verbindungselement,
Fig. 7 ein Detail eines Abschlußblockes,
Fig. 8 ein weiteres Detail eines Abschlußblockes
Fig. 9 ein Verbindungselement in einer ersten Lage und
Fig. 10 ein Verbindungselement in einer zweiten Lage.
Die Fig. 1 zeigt eine lichtelektrische inkrementale Längenmeßeinrichtung
bestehend aus den beiden in Meßrichtung X relativ zueinander verschiebba
ren Hauptkomponenten Gehäuse 1 und Mitnehmer 2. Das Gehäuse 1 ist an
einem ersten Maschinenteil 3 und der Mitnehmer 2 an einem zweiten Ma
schinenteil 4 befestigt. Das Gehäuse 1 ist aus Metall, in der Regel aus Alu
minium und somit elektrisch leitend. Innerhalb des Gehäuses 1 ist ein Maß
stab 5 aus Glas befestigt. Die Befestigung erfolgt an einer Fläche des Ge
häuses 1 mittels einer elastischen Klebstoffschicht 6. Diese Klebstoffschicht
6 ist elektrisch isolierend. Durch die elastische Klebstoffschicht 6 kann sich
der Maßstab 5 bei Temperaturänderungen unabhängig vom Gehäuse 1 frei
ausdehnen. Es werden keine Zwangskräfte auf den Maßstab 5 übertragen.
Auf dem transparenten Maßstab 5 ist eine Inkrementalteilung 7 aus lichtun
durchlässigen Chrom-Markierungen 8 aufgebracht. Diese Inkrementalteilung
7 wird von einer am Mitnehmer 2 befestigten Abtasteinrichtung 9 abgetastet.
Diese umfaßt eine Lichtquelle 10 sowie mehrere Photodetektoren 11. Das
Licht der Lichtquelle 10 fällt durch die transparenten Bereiche der Teilung 7
und gelangt auf die Photodetektoren 11, wodurch periodische analoge elek
trische Abtastsignale erzeugt werden, die in bekannter Weise einer Auswer
teeinheit zur Bildung von zählbaren Rechtecksignalen zugeführt werden. Die
Abtasteinrichtung 9 stützt sich über Kugellager 12 auf der die Teilung 7 tra
genden Oberfläche des Maßstabes 5 federnd ab.
Durch äußere elektrische Felder sowie durch das Abrollen und Gleiten der
Kugellager 12 kann sich die Oberfläche des Maßstabes 5 elektrisch aufla
den, wodurch ein Potentialunterschied dieser Oberfläche und anderen elek
trisch leitenden Teilen der Längenmeßeinrichtung entsteht, der zu einer im
pulsartigen Entladung führen kann. Diese Entladungen werden den elektri
schen Abtastsignalen überlagert, was bei inkrementalen Meßsystemen zu
Zählimpulsen und somit zu Zählfehlern oder zu anderen, die Auswerteeinheit
störenden Signalen führt.
Um diese elektrischen Aufladungen von der Oberfläche des Maßstabes 5
über die gesamte Länge des Maßstabes 5 abzuführen, ist bei diesem ersten
Ausführungsbeispiel eine über die gesamte Meßlänge reichende Schicht 13
aus Chrom auf der Maßstab-Oberfläche aufgebracht, welche die Markierun
gen 8 der inkrementalen Teilung 7 elektrisch miteinander verbindet. Diese
elektrisch leitende Schicht 13 ist an einem Maßstabende über ein Verbin
dungselement 14 mit einem Bezugspotential 15 (Erde, Masse) elektrisch
leitend verbunden. In nicht dargestellter Weise kann die Schicht 13 auch an
mehreren Stellen, insbesondere an beiden Maßstabenden mit dem
Bezugspotential 15 verbunden sein.
Fig. 2 zeigt eine Draufsicht des Maßstabes 5 der Längenmeßeinrichtung
gemäß Fig. 1. Die Markierungen 8 sowie die verbindende Schicht 13 wurde
in einem gemeinsamen Beschichtungsverfahren auf die Oberfläche aufge
bracht. Bei diesem, sowie bei den nachfolgend beschriebenen Beispielen
werden die Markierungen 8 im Durchlichtverfahren abgetastet. Wenn die
Markierungen 8 reflektierend ausgebildet sind, ist auch eine Auflicht-Abta
stung möglich. Desweiteren kann die verbindende Schicht 13 auch ein auf
gewalzter oder anderweitig mit der Maßstaboberfläche innig in Kontakt ge
brachter Metallstreifen sein. Ist diese Schicht 13 oder der Streifen hart ge
nug, können auch die Kugellager 12 darauf abrollen.
Die elektrische Verbindung zwischen dem Verbindungselement 14 und dem
Bezugspotential 15 ist in den Fig. 1 bis 5 nur schematisch dargestellt.
Bei allen Fig. 1 bis 10 werden gleiche Teile mit den gleichen Bezugszei
chen versehen.
Gemäß Fig. 3 sind in der über die gesamte Meßlänge reichenden Schicht
13 die Referenzmarken 16 als transparente Fenster eingebracht. Mit einem
einzigen Lithographie- und Beschichtungsprozeß lassen sich somit die Mar
kierungen 8, die Referenzmarken 16 sowie die verbindende elektrisch lei
tende Schicht 13 herstellen.
Die Schicht 13 gemäß Fig. 4 ist großflächig über die gesamte Oberfläche
des Maßstabes 5 aufgebracht und leitet somit die elektrische Ladung beson
ders gut zu dem Bezugspotential 15 ab.
Bei dem Beispiel nach Fig. 5 sind in der Schicht 13 zwei Spuren 17 frei
gelassen, auf denen die Kugellager 12 abrollen können. Um die elektrische
Ladung auch von den Spuren 17 ableiten zu können, sind die Spuren 17
möglichst schmal.
In nicht gezeigter Weise kann anstelle einer Metallschicht 13 auch eine
elektrisch leitende transparente Schicht auf den Maßstab 5 aufgebracht wer
den. Dies hat den Vorteil, daß diese Schicht die Markierungen 8 optisch
nicht stört und somit großflächig auch unter oder über die Markierungen 8
aufgebracht - insbesondere aufgedampft - werden kann.
In den Fig. 6 bis 10 ist im Detail dargestellt, wie das Verbindungsele
ment 14 ausgestaltet werden kann. Die beiden Enden des Gehäuses 1 wer
den jeweils über einen Abschlußblock 20 abgedichtet. Die Abschlußblöcke
20 - von denen nur einer dargestellt ist - dienen der Montage des Gehäuses
1 an dem ersten Maschinenteil 3. Hierzu weist der Abschlußblock 20 eine
Bohrung 23 auf, durch die er mittels einer Schraube an einer Fläche des
Maschinenteils 3 fixiert wird.
Die Befestigung des Abschlußblockes 20 am Gehäuse 1 kann in bekannter
Weise durch Schrauben erfolgen, oder wie in Fig. 6 dargestellt ist, durch
Formschluß. Hierzu ist im Gehäuse 1 zumindest eine Aussparung 18 einge
bracht, in die ein Vorsprung 21 des Abschlußblockes 20 formschlüssig ein
greift. Wichtig ist, daß der Formschluß in Meßrichtung X spielfrei wirksam ist
und den Abschlußblock 20 relativ zum Gehäuse 1 fixiert.
Erfindungsgemäß ist zumindest an einem der Abschlußblöcke 20 das Ver
bindungselement 14 angeordnet, das einen elektrischen Kontakt zwischen
der Schicht 13 und dem Abschlußblock 20 herstellt. Da der Abschlußblock
20 im Betrieb am ersten Maschinenteil 3 elektrisch leitend befestigt ist, und
das erste Maschinenteil 3 wiederum in der Regel an ein Bezugspotential
(Erde, Masse) 15 angeschlossen ist, stellt das Verbindungselement 14 die
elektrische Verbindung der Schicht 13 mit dem Bezugspotential 15 her.
Gemäß Fig. 6 ist das Verbindungselement 14 ein Blechteil, das am Ab
schlußblock 20 befestigt ist. Das Blechteil kann am Abschlußblock 20 über
Schrauben 24 angeschraubt werden, es ist aber auch ein Nieten, Klemmen,
Löten oder Kleben möglich. Das Blechteil 14 besitzt zumindest eine federnde
Zunge 22, mit der es sich im montierten Zustand an der Schicht 13 federnd
abstützt. Der elektrische Kontakt der federnden Zunge 22 mit der Schicht 13
wird zwangsläufig bei der Montage des Abschlußblockes 20 an das
Gehäuse 1 erzeugt. Der Abschlußblock 20 wird dabei an das Ende des
Gehäuses 1 herangeführt und durch eine Relativbewegung senkrecht zur
Meßrichtung X wird der Vorsprung 21 in die Aussparung 18 eingehakt.
Während dieser Einhakbewegung wird die Zunge 22 in Richtung der
Maßstaboberfläche bewegt, wo sie sich am Ende auf der Schicht 13 abstützt
und einen elektrischen Kontakt herstellt.
In den Fig. 7 bis 10 ist im Detail dargestellt, wie ein Blechteil 14 beson
ders vorteilhaft ausgestaltet werden kann, um es für den rechten oder den
linken Abschlußblock 20 verwenden zu können. Das Blechteil 14 weist zwei
Zungen 22.1 und 22.2 auf, von denen jeweils eine in einer Bohrung 25.1,
25.2 des Abschlußblockes 20 eingepreßt ist und die andere die Schicht 13
kontaktiert. Durch einfaches Drehen des Blechteiles 14 (Pfeil in Fig. 10)
wird ausgewählt, welche der Zungen 22.1 oder 22.2 der Schicht 13 zugeord
net ist.
Die anhand der Fig. 6 bis 10 beschriebenen Ausführungsbeispiele kön
nen bei den Maßstäben 5 gemäß den Fig. 1 bis 5 angewandt werden.
Die Erfindung ist nicht auf die beschriebenen inkrementalen Meßsysteme
beschränkt, sondern auch bei absoluten Positionsmeßsystemen einsetzbar.
Claims (9)
1. Lichtelektrische Positionsmeßeinrichtung mit einem Maßstab (5), wel
cher innerhalb eines rohrförmigen Gehäuses (1) angeordnet ist und
Markierungen (8) aufweist, welche von einer in Meßrichtung (X) relativ
zum Gehäuse bewegbaren Abtasteinrichtung (9) lichtelektrisch abtast
bar ist, und die stirnseitigen Enden des Gehäuses (1) jeweils durch ei
nen Abschlußblock (20) abgeschlossen sind, dadurch gekennzeichnet,
daß an zumindest einem Abschlußblock (20) ein elektrisch leitendes
Verbindungselement (14) angeordnet ist, das einen elektrischen Kontakt
zwischen dem Maßstab (5) und dem Abschlußblock (20) herstellt.
2. Lichtelektrische Positionsmeßeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß das Gehäuse (1) mittels zumindest eines Ab
schlußblockes (20) an einem Maschinenteil (3) befestigt ist, daß weiter
hin der Abschlußblock (20) aus elektrisch leitendem Material besteht
und über das Maschinenteil (3) mit einem Bezugspotential (15) verbun
den ist.
3. Lichtelektrische Positionsmeßeinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, da
durch gekennzeichnet, daß das Verbindungselement (14) ein federndes
Teil ist, das am Abschlußblock (20) befestigt ist und das sich mit einer
federnden Zunge (22) an einer elektrisch leitenden Oberfläche (13) des
Maßstabes (5) abstützt.
4. Lichtelektrische Positionsmeßeinrichtung nach einem der Ansprüche 1
bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Maßstab (5) mittels elektrisch
isolierender Mittel (6) am Gehäuse (1) befestigt ist, und/oder der
Maßstab (5) aus elektrisch nicht leitendem Material besteht.
5. Lichtelektrische Positionsmeßeinrichtung nach Anspruch 4, dadurch
gekennzeichnet, daß der Maßstab (5) aus Glas oder Glaskeramik be
steht, der über eine elektrisch isolierende Schicht (6) am Gehäuse (1)
befestigt ist.
6. Lichtelektrische Positionsmeßeinrichtung nach einem der Ansprüche 1
bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Maßstab (5) aus elektrisch nicht
leitendem Material besteht, dessen Oberfläche über die gesamte
Meßlänge mit einem leitenden Mittel (13) in Kontakt steht, mit dem
wiederum das Verbindungselement (14) elektrisch leitend verbunden ist.
7. Lichtelektrische Positionsmeßeinrichtung nach Anspruch 6, dadurch
gekennzeichnet, daß die lichtelektrisch abtastbaren Markierungen eine
Folge von in Meßrichtung (X) voneinander beabstandet angeordneten
elektrisch leitenden Bereichen (8) sind, und daß diese Bereiche (8) über
den gesamten Meßbereich über das elektrisch leitende Mittel (13) mit
einander elektrisch leitend verbunden sind.
8. Lichtelektrische Positionsmeßeinrichtung nach Anspruch 7 oder 8, da
durch gekennzeichnet, daß das leitende Mittel eine auf die Oberfläche
des Maßstabes (5) aufgebrachte elektrisch leitende Schicht (13) ist,
welche ununterbrochen über die gesamte Meßlänge reicht.
9. Lichtelektrische Positionsmeßeinrichtung nach Anspruch 8, dadurch
gekennzeichnet, daß sich die Abtasteinrichtung (9) über Gleit- oder
Rollelemente (12) auf einem Oberflächenbereich des Maßstabes (5) ab
stützt, und daß die Schicht (13) auf diesem Oberflächenbereich oder auf
einem nahe daneben liegenden Oberflächenbereich des Maßstabes (5)
aufgebracht ist.
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1376066A2 (de) * | 2002-06-20 | 2004-01-02 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Optische Struktur für einen optischen Kodierer |
DE102009043293A1 (de) | 2009-09-29 | 2011-03-31 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Längenmesseinrichtung |
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1997
- 1997-10-22 DE DE19746532A patent/DE19746532A1/de not_active Withdrawn
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US8234792B2 (en) | 2009-09-29 | 2012-08-07 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Linear encoder |
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