DE19738179C1 - Optical measurement of spatial coordinates of object points - Google Patents

Optical measurement of spatial coordinates of object points

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Abstract

An optical pattern is projected on the object to be measured. The pattern comprises a surface whose intensity distribution corresponds to a pattern projected by the same projection unit, with a sinusoidal intensity distribution at places with a constant phase angle. A camera picks up an image of the pattern. A triangulation technique is used to calculate the surface contour of the object. The background intensity distribution is calculated.

Description

Es ist bekannt, daß zur hochgenauen dreidimensionalen Formerfassung Triangulations­ verfahren eingesetzt werden, welche mit einem Streifenprojektor und einer Film- oder Videokamera arbeiten. Dieses Meßprinzip bietet den Vorteil, daß eine flächenhafte Aus­ wertung möglich ist, nämlich an allen Oberflächenpunkten eines Objektes, die sowohl vom Projektor beleuchtet als auch von der Kamera beobachtet werden.It is known that triangulations for high-precision three-dimensional shape detection procedures are used, which with a strip projector and a film or Video camera work. This measuring principle offers the advantage that a flat area evaluation is possible, namely at all surface points of an object, which both illuminated by the projector and observed by the camera.

Um eine eindeutige Identifikation der projizierten Streifen zu ermöglichen, ist es erfor­ derlich, eine Reihe unterschiedlicher Streifenmuster nacheinander zu projizieren und mit der Kamera aufzunehmen. Hierzu sind verschiedene Verfahren bekannt, so z. B. das hier­ archische Phasenshiftverfahren, das z. B. im Digitalisiersystem OptoShape der Fa. Massen (Am Seerhein 8, 78467 Konstanz) verwendet wird, der codierte Lichtansatz (T. G. Stahs, F. M. Wahl, "Close Range Photogrammetry Meets Machine Vision", SPIE Vol. 1395 (1990) S. 496-503 sowie "Kurzbeschreibung LCD 320" zum Projektor Typ LCD 320 der Fa. ABW, Gutenbergstraße 9, D-72636 Frickenhausen) oder das kombi­ nierte CLA-Phasenshift-Verfahren (Patentschrift DE 41 20 115 C2). Bei diesen Techni­ ken wird eine hohe Auflösung durch das aus der interferometrischen Meßtechnik stam­ mende Phasenshiftverfahren erzielt. Beim Phasenshiftverfahren wird durch Projektion phasenverschobener sinusförmiger Wellenfronten die Berechnung des Phasenwinkels für jeden Punkt der untersuchten Streifen- bzw. Interferenzbilder ermöglicht. Hierzu werden für jede der verwendeten Perioden- bzw. Wellenlängen jeweils mindestens 3 phasenver­ schobene Wellenfronten benötigt, da Hintergrundintensität, Intensitätsamplitude und Phasenwinkel bestimmt werden müssen (W. Osten, "Digitale Verarbeitung und Auswer­ tung von Interferenzbildern", Kap. 6, Akademie Verlag ISBN 3-05-501294-1).In order to enable a clear identification of the projected stripes, it is required to project a series of different stripe patterns one after the other and with the camera. Various methods are known for this purpose, e.g. B. this one archic phase shift method, the z. B. in the digitizing system OptoShape from Massen (Am Seerhein 8, 78467 Konstanz) is used, the coded light approach (T.G. Stahs, F.M. Wahl, "Close Range Photogrammetry Meets Machine Vision", SPIE Vol. 1395 (1990) pp. 496-503 and "Brief description LCD 320" for the projector type LCD 320 from ABW, Gutenbergstrasse 9, D-72636 Frickenhausen) or the combi nated CLA phase shift method (patent specification DE 41 20 115 C2). With these techni ken is a high resolution by the stam from interferometric measurement technology phase shifting process. In the phase shift method is by projection phase-shifted sinusoidal wave fronts the calculation of the phase angle for enables every point of the examined streak or interference images. To do this for each of the period or wavelengths used, at least 3 phase ver pushed wavefronts because of background intensity, intensity amplitude and Phase angles must be determined (W. East, "Digital processing and evaluation tion of interference images ", Chapter 6, Akademie Verlag ISBN 3-05-501294-1).

Das Phasenshiftverfahren besitzt den Nachteil, daß für jede der verwendeten Perioden- bzw. Wellenlängen mindestens 3 Bilder benötigt werden. Beim Einsatz des Phasenshift­ verfahrens in Kombination mit einem programmierbaren Liniengitter, z. B. in Form eines LCD-Panels, ergibt sich ferner der Nachteil, daß zur Erzeugung der Sinusgitter, welche um ganzzahlige Vielfache von 120° verschiebbar sein müssen, für die kürzeste darstell­ bare Periode jeweils 6 Linien zu einer Sinuswellenperiode kombiniert werden, da der 120° Phasenshift durch Versetzen des Streifenmusters um 2 Linien erfolgt. Aus diesem Grunde wird in der Praxis meistens der 4er Phasenshift verwendet, bei dem eine Periode durch Kombination von nur 4 Linien erzeugt wird und der 90° Phasenshift durch Verset­ zen des Streifenmusters um eine Linie durchgeführt wird. Hierdurch erhält man eine hö­ here Streifendichte und damit Auflösung, benötigt aber insgesamt 4 Gitterprojektionen um den Phasenwinkel zu berechnen.The phase shift method has the disadvantage that for each of the period used or wavelengths at least 3 images are required. When using phase shift procedure in combination with a programmable line grid, e.g. B. in the form of a LCD panels, there is also the disadvantage that to generate the sine grid, which  must be displaceable by integer multiples of 120 ° for the shortest period, 6 lines can be combined to form a sine wave period since the 120 ° phase shift by shifting the stripe pattern by 2 lines. For this Basically, the 4-phase shift, in which one period is used, is mostly used in practice is generated by a combination of only 4 lines and the 90 ° phase shift by offset zen of the stripe pattern is performed around a line. This gives you a high here strip density and thus resolution, but requires a total of 4 grid projections to calculate the phase angle.

Während der gesamten Aufnahmezeit, die benötigt wird, um alle Lichtmuster aufzuneh­ men, muß die gesamte zu vermessende Szenerie unbeweglich sein, da sonst die mit der Kamera aufgenommenen Bilder nicht korrelieren. Dies ist insbesondere dann ein Pro­ blem, falls das aufzunehmende Objekt nur schwerlich in absoluter Ruhe verharrt, so wie beispielsweise bei der Messung an lebenden Personen. Es ist daher zweckmäßig, die An­ zahl der zu projizierenden Lichtmuster zu minimieren und damit die Aufnahmezeit zu verkürzen.During the entire recording time that is required to record all light patterns the entire scene to be measured must be immovable, otherwise the one with the Do not correlate images captured by the camera. This is a pro in particular stupid, if the object to be captured is difficult to remain in absolute calm, like for example when measuring on living people. It is therefore expedient to to minimize the number of light patterns to be projected and thus the recording time shorten.

Die Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren anzugeben, das zur hochauflösenden Vermessung von Objekten mittels projizierter Lichtmuster geeignet ist und das eine in der Auflösung gleichwertige und in der Aufnahmezeit überlegene Alternative zu den obengenannten Verfahren darstellt. Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den jeweiligen Unteransprüchen angegeben.The object of the invention is to provide a method for high-resolution Measurement of objects using projected light patterns is suitable and the one in equivalent to the resolution and superior in recording time to the represents above method. Advantageous further developments are in the respective Subclaims specified.

Zur Berechnung des Phasenwinkels für jeden Bildpunkt der beobachtenden Kamera wird eine Projektionseinheit mit programmierbarem oder mechanisch verstellbarem Gitter verwendet. Erfindungsgemäß ist das Gitter so ausgebildet, daß entweder mindestens zwei verschiedene Lichtflächen erzeugt bzw. projiziert werden können, die jeweils eine gleichmäßige nicht durch Linien oder sonstige Strukturen durchzogene Intensitätsver­ teilung aufweisen, die der Intensitätsverteilung einer mit der gleichen Projektionseinheit erzeugten Gitterprojektion mit sinusförmiger Intensitätsverteilung an Orten mit konstan­ tem Phasenwinkel bekannter oder berechenbarer Größe entspricht. Oder das Gitter ist so ausgebildet, daß eine strukturfreie Lichtfläche projiziert werden kann, deren Intensitäts­ verteilung punkteweise genau dem Mittelwert zwischen maximaler und minimaler In­ tensität der mit der gleichen Projektionseinheit erzeugten Gitterprojektionen mit sinus­ förmiger Intensitätsverteilung entspricht. Die mit strukturfreien Lichtflächenprojektionen erzeugten und mit der Kamera aufgenommenen Abbildungen werden im Folgenden Konstantphasenbilder genannt, da der an jedem Bildpunkt vorliegende Phasenwinkel konstant ist.To calculate the phase angle for each pixel of the observing camera a projection unit with programmable or mechanically adjustable grille used. According to the invention, the grid is designed so that either at least two different light surfaces can be generated or projected, each one uniform intensity distribution not marked by lines or other structures Have division that the intensity distribution of one with the same projection unit generated lattice projection with sinusoidal intensity distribution at locations with constant corresponds to the phase angle of known or calculable size. Or the grid is like that trained that a structure-free light surface can be projected, the intensity distribution of points exactly the average between maximum and minimum In  intensity of the grid projections with sine generated with the same projection unit shaped intensity distribution. The one with structure-free light surface projections Images created and captured with the camera are shown below Constant phase images called because the phase angle present at each pixel is constant.

Erfindungsgemäß werden die Konstantphasenbilder zur Berechnung der Hintergrundin­ tensität oder der Intensitätsamplitude in den Abbildungen der mit der gleichen Projek­ tionseinheit erzeugten Gitterprojektionen mit sinusförmiger Intensitätsverteilung ver­ wendet. Es werden somit von den drei unbekannten Größen Hintergrundintensität, In­ tensitätsamplitude und Phasenwinkel, welche, wie Eingangs erwähnt, bei sinusförmiger Intensitätsverteilung zu bestimmen sind, entweder Hintergrundintensität oder Intensi­ tätsamplitude oder Hintergrundintensität und Intensitätsamplitude aus Konstantphasen­ bildern berechnet. Die so berechnete Hintergrundintensität oder Intensitätsamplitude wird erfindungsgemäß dazu verwendet, um aus den Abbildungen der Gitterprojektionen mit sinusförmiger Intensitätsverteilung punktweise den Phasenwinkel zu berechnen.According to the invention, the constant phase images are used to calculate the background intensity or the intensity amplitude in the images of the same project tion unit generated grid projections with sinusoidal intensity distribution ver turns. From the three unknown quantities, background intensity, In intensity amplitude and phase angle, which, as mentioned at the beginning, is sinusoidal Intensity distribution must be determined, either background intensity or intensity amplitude or background intensity and intensity amplitude from constant phases images calculated. The background intensity or intensity amplitude calculated in this way is used according to the invention to derive from the images of the grid projections to calculate the phase angle point by point with sinusoidal intensity distribution.

Formelmäßig ergeben sich dabei die folgenden Zusammenhänge:In terms of formula, the following relationships arise:

Es gilt für die Intensität IS(x,y) eines Bildpunktes an den Bildkoordinaten (x, y) bei sinus­ förmiger Intensitätsverteilung:
The following applies to the intensity I S (x, y) of a pixel at the image coordinates (x, y) with a sinusoidal intensity distribution:

IS(x,y) = IA(x,y) . sinϕ(x,y) + IH(x,y)
I S (x, y) = I A (x, y) . sinϕ (x, y) + I H (x, y)

mit:
IA(x,y): Intensitätsamplitude
ϕ(x,y): Phasenwinkel
IH(x,y): HintergrundintensitätWith:
I A (x, y) : intensity amplitude
ϕ (x, y) : phase angle
I H (x, y) : background intensity

Seien I1(x,y) und I2(x,y) die in den Konstantphasenbildern am Bildpunkt (x, y) enthaltenen Intensitäten, welche den ortsunabhängigen Phasenwinkeln ϕ1 bzw. ϕ2 entsprechen.Let I 1 (x, y) and I 2 (x, y) be the intensities contained in the constant phase images at the image point (x, y), which correspond to the location-independent phase angles ϕ 1 and ϕ 2, respectively.

Unter Verwendung des Ansatzes:
Using the approach:

I1(x,y) = IA(x,y) . sinϕ1 + IH(x,y)
I 1 (x, y) = I A (x, y) . sinϕ 1 + I H (x, y)

I2(x,y) = IA(x,y) . sinϕ2 + IH(x,y)
I 2 (x, y) = I A (x, y) . sinϕ 2 + I H (x, y)

ergibt sich die Hintergrundintensität IH(x,y) zu:
the background intensity I H (x, y) results in:

und die Intensitätsamplitude IA(x,y) zu:
and the intensity amplitude I A (x, y) to:

Die Projektionseinheit ist vorteilhafterweise konstruktiv so ausgebildet, daß ein Sinusgit­ ter sowie ein in Intensitätsamplitude und Periodenlänge mit dem Sinusgitter identisches aber um π/2 phasenverschobenes Gitter projiziert werden kann.The projection unit is advantageously constructed such that a sine grid ter and one identical in intensity amplitude and period length to the sine grid but can be projected around π / 2 phase-shifted grid.

Zur Berechnung des Phasenwinkels für jeden Bildpunkt der Kamera werden vorteilhaf­ terweise die Abbildungen der Projektionen eines Sinusgitters und des hierzu passenden Cosinusgitters, also eines Gitters das gegenüber dem Sinusgitter um π/2 phasenverscho­ ben ist, verwendet.To calculate the phase angle for each pixel of the camera are advantageous usually the images of the projections of a sine grid and the matching one Cosine grating, i.e. a grating that is phase-shifted by π / 2 compared to the sine grating ben is used.

Der Phasenwinkel ϕ(x,y) am Bildpunkt (x, y) errechnet sich dann wie folgt:The phase angle ϕ (x, y) at the pixel (x, y) is then calculated as follows:

Mit:
With:

IC(x,y) = IA(x,y) . sin(ϕ(x,y) + π/2) + IH(x,y) = IA(x,y) . cosϕ(x,y) + IH(x,y)
I C (x, y) = I A (x, y) . sin (ϕ (x, y) + π / 2) + I H (x, y) = I A (x, y) . cosϕ (x, y) + I H (x, y)

gilt:
applies:

Es ist nun offensichtlich, daß zur Bestimmung des Phasenwinkels ϕ(x,y) nur zwei Gitter­ projektionen mit sinusförmiger Intensitätsverteilung erforderlich sind. It is now evident that only two grating projections with a sinusoidal intensity distribution are required to determine the phase angle ϕ (x, y) .

Da der Phasenwinkel ϕ(x,y) durch die Arcustangensfunktion bestimmt wird, ist er 2π moduliert, so daß um ganzzahlige Vielfache von 2π verschiedene Phasenwerte nicht un­ terschieden werden können. Zur Berechnung der absoluten Phasenwinkel, d. h. zur Be­ stimmung des n . 2π Offsets eines Phasenwinkels, wird das Verfahren deshalb vorteil­ hafterweise mit dem Verfahren des codierten Lichtansatzes kombiniert, oder durch Ver­ wendung unterschiedlicher Periodenlängen in den Sinus/Cosinus Gitterpaaren eine Serie von Phasenbildern berechnet, die eine Berechnung des absoluten Phasenwinkels zuläßt. In beiden Fällen lassen sich hierbei gegenüber der Verwendung des Phasenshiftverfah­ rens Projektionen bzw. Bildaufnahmen einsparen.Since the phase angle ϕ (x, y) is determined by the arctangent function, it is modulated by 2π, so that phase values different from integer multiples of 2π cannot be distinguished. To calculate the absolute phase angle, ie to determine the n. 2π offsets of a phase angle, the method is therefore advantageously combined with the method of the coded light approach, or a series of phase images is calculated by using different period lengths in the sine / cosine grating pairs, which permits calculation of the absolute phase angle. In both cases, projections or image recordings can be saved compared to the use of the phase shift method.

Im ersten Fall führt man hierzu vorteilhafterweise die zur Auswertung der Streifenbilder des codierten Lichtansatzes erforderliche Identifikation heller und dunkler Linien auf Ba­ sis des Hintergrundintensitätsbildes durch, womit sich die Erzeugung des ansonsten er­ forderlichen dynamischen Schwellwertbildes zur Binarisierung der Streifenmuster erüb­ rigt.In the first case, this advantageously leads to the evaluation of the strip images of the coded light approach required identification of light and dark lines on Ba sis of the background intensity image, with which the generation of the otherwise he required dynamic threshold image for binarization of the stripe pattern rigt.

Im zweiten Fall benötigt man zur Phasenberechnung nur zwei Gitterprojektionen pro verwendeter Periodenlänge, da das nach obigen Verfahren erzeugte Hintergrundintensi­ tätsbild für alle Periodenlängen gültig ist.In the second case, only two grid projections per are required for the phase calculation period length used, since the background intensity generated according to the above method is valid for all period lengths.

Da sich die nach dem hier beschriebenen neuen Verfahren berechneten Phasenbilder im Ergebnis nicht von den mittels des bekannten Phasenshiftverfahrens erzeugten Phasen­ bildern unterscheiden, muß die Verrechnung von Phasenbild mit Bildern des codierten Lichtansatzes bzw. die Verrechnung von Phasenbildern unterschiedlicher Periodenlänge zur Bestimmung des absoluten Phasenwinkels hier nicht weiter erläutert werden.Since the phase images calculated according to the new method described here in the Result not from the phases generated using the known phase shift method distinguish between images, the calculation of phase image with images of the coded Light approach or the calculation of phase images of different period lengths to determine the absolute phase angle are not further explained here.

Im folgenden seien zwei Ausführungsbeispiele aufgeführt:Two exemplary embodiments are listed below:

Ein Gitter mit den geforderten Eigenschaften erhält man durch Verwendung eines programmierbaren LCD-Panels mit Linien- oder Punktelementen in der Projektionsein­ heit (LCD-Projektor).A grid with the required properties can be obtained by using a programmable LCD panels with line or dot elements in the projection unit (LCD projector).

Wird nun ein Bild bei voll durchlässigem LCD-Panel und ein Bild bei voll abgedunkel­ tem LCD-Panel aufgenommen, so erhält man die obere und die untere Einhüllende zu sämtlichen mit dem LCD-Gitter projizierbaren Streifenmustern, unter der Vorausset­ zung, daß zur Erzeugung der Streifenmuster ebenfalls die hellsten und dunkelsten Li­ nien, welche mit dem LCD-Panel erzeugbar sind, verwendet werden.Now there is an image when the LCD panel is fully transparent and an image when it is completely dark the LCD panel, you get the upper and lower envelopes all stripe patterns that can be projected with the LCD grid, under the prerequisite  tion that the lightest and darkest Li lines that can be generated with the LCD panel can be used.

Es gilt dann für die ortsunabhängigen Phasenwinkel ϕ1 = 90° und ϕ2 = 270° und somit für die Hintergrundintensität IH(x,y):
It then applies to the location-independent phase angles ϕ 1 = 90 ° and ϕ 2 = 270 ° and thus for the background intensity I H (x, y) :

Die dabei entstehenden Verhältnisse zeigt Fig. 1. Sie zeigt einen Schnitt durch die Ab­ bildungsebene des Projektionsfeldes senkrecht zur Orientierung der Streifen. Dabei ist die Intensität I über der Strecke s aufgetragen. Kurve 1 zeigt den Intensitätsverlauf bei Projektion mit voll durchlässigem Gitter (Konstantphasenwinkel ϕ1 = 90°), Kurve 2 den Intensitätsverlauf bei voll abgedunkeltem Gitter (Konstantphasenwinkel ϕ2 = 270°), Kurve 3 die resultierende Hintergrundintensität IH und Kurve 4 den Intensitätsverlauf bei Projektion eines Sinusgitters.The resulting conditions are shown in FIG. 1. It shows a section through the plane of the projection field perpendicular to the orientation of the strips. The intensity I is plotted over the distance s. Curve 1 shows the intensity curve when projected with a fully permeable grating (constant phase angle ϕ 1 = 90 °), curve 2 shows the intensity curve with a fully darkened grating (constant phase angle ϕ 2 = 270 °), curve 3 the resulting background intensity I H and curve 4 the intensity curve Projection of a sine grid.

Wird hingegen ein Bild aufgenommen, bei welchem die durch die LCD-Elemente her­ vorgerufene Abdunkelung genau dem Mittel zwischen maximaler Helligkeit bei voll durchlässigem LCD-Panel und minimaler Helligkeit bei voll abgedunkeltem LCD-Panel entspricht, so erhält man ein Konstantphasenbild zum Winkel ϕ1 = 0° und somit für die Hintergrundintensität IH(x,y):
If, on the other hand, an image is recorded in which the darkening caused by the LCD elements corresponds exactly to the mean between maximum brightness with a fully transparent LCD panel and minimum brightness with a fully darkened LCD panel, a constant phase image is obtained for the angle ϕ 1 = 0 ° and therefore for the background intensity I H (x, y) :

IH(x,y) = I1(x,y)
I H (x, y) = I 1 (x, y)

d. h. man erhält so direkt aus einem Bild die Hintergrundintensität. Diese Vorgehens­ weise erfordert allerdings ein Gitter welches Graustufen darstellen kann und nicht nur binäre hell/dunkel Muster. Die dabei entstehenden Verhältnisse zeigt Fig. 2. Sie zeigt wiederum einen Schnitt durch die Abbildungsebene des Projektionsfeldes senkrecht zur Orientierung der Streifen. Es ist die Intensität I über der Strecke s aufgetragen. Kurve 5 zeigt den Intensitätsverlauf bei Projektion mit halb durchlässigem Gitter (Konstantphasenwinkel ϕ1 = 0°), der identisch ist mit dem Intensitätsverlauf der Hinter­ grundintensität IH, und Kurve 6 den Intensitätsverlauf bei Projektion eines Sinusgitters.ie you get the background intensity directly from an image. However, this procedure requires a grid that can represent gray levels and not just binary light / dark patterns. The resulting conditions are shown in FIG. 2. It again shows a section through the imaging plane of the projection field perpendicular to the orientation of the strips. The intensity I is plotted over the distance s. Curve 5 shows the intensity curve when projected with a semitransparent grating (constant phase angle ϕ 1 = 0 °), which is identical to the intensity curve of the background intensity I H , and curve 6 shows the intensity curve when a sinus grating is projected.

Claims (8)

1. Verfahren zur optischen Vermessung räumlicher Koordinaten von Objektpunkten, bei dem mittels eines Projektors Lichtmuster auf das zu vermessende Objekt projiziert wer­ den, Abbildungen dieser Lichtmuster auf dem Objekt mittels einer Kamera aufgenommen werden und aus diesen Abbildungen über ein Triangulationsverfahren die Oberflächen­ kontur des Objektes berechnet wird, dadurch gekennzeichnet, daß Lichtflächen auf das zu vermessende Objekt projiziert und aufgenommen werden, deren jeweilige Intensitätsverteilung der Intensitätsverteilung einer mit der gleichen Projektionseinheit erzeugten Gitterprojektion mit sinusförmiger Intensitätsverteilung an Orten mit konstantem Phasenwinkel von bekannter oder berechenbarer Größe entspricht, daß die Abbildungen dieser Lichtflächen zur punktweisen Berechnung der Hintergrundin­ tensität oder der Intensitätsamplitude in den Abbildungen der Gitterprojektionen mit si­ nusförmiger Intensitätsverteilung verwendet werden und daß die so berechnete Hinter­ grundintensität oder Intensitätsamplitude dazu verwendet wird, um aus den Abbildungen von Gitterprojektionen mit sinusförmiger Intensitätsverteilung punktweise den Phasen­ winkel zu berechnen.1. A method for the optical measurement of spatial coordinates of object points, in which light patterns are projected onto the object to be measured by means of a projector, images of these light patterns are recorded on the object by means of a camera and the surface contour of the object is calculated from these images using a triangulation method is characterized in that light areas are projected and recorded on the object to be measured, the respective intensity distribution of which corresponds to the intensity distribution of a grating projection generated with the same projection unit with sinusoidal intensity distribution at locations with a constant phase angle of known or calculable size, so that the images of these light areas are used for pointwise calculation of the background intensity or the intensity amplitude in the images of the grating projections with sinusoidal intensity distribution are used and that the so be calculated background intensity or intensity amplitude is used to calculate the phase angle point by point from the images of grating projections with sinusoidal intensity distribution. 2. Verfahren nach Patentanspruch 1 dadurch gekennzeichnet, daß die Hintergrundintensität oder die Intensitätsamplitude punktweise aus den Projek­ tionen der oberen und der unteren Einhüllenden der Gitterprojektionen mit sinusförmiger Intensitätsverteilung ermittelt wird.2. The method according to claim 1 characterized, that the background intensity or the intensity amplitude point by point from the project tions of the upper and lower envelopes of the grid projections with sinusoidal Intensity distribution is determined. 3. Verfahren nach Patentanspruch 1 dadurch gekennzeichnet, daß die Hintergrundintensität punktweise aus der Projektion einer Lichtfläche ermittelt wird, deren Intensitätsverteilung punktweise dem Mittelwert von maximaler und minimaler Intensität der Gitterprojektionen mit sinusförmiger Intensitätsverteilung entspricht.3. The method according to claim 1 characterized, that the background intensity is determined point by point from the projection of a light surface whose intensity distribution is pointwise the mean of maximum and minimum intensity of the grid projections with sinusoidal intensity distribution corresponds. 4. Verfahren nach Patentanspruch 1, 2 oder 3 dadurch gekennzeichnet, daß der ortsabhängige Phasenwinkel punktweise aus der Projektion eines Sinusgitters und der Projektion eines hierzu um ein Viertel der Periodenlänge verschobenen Sinusgitters ermittelt wird.4. The method according to claim 1, 2 or 3  characterized, that the location-dependent phase angle point by point from the projection of a sine grid and the projection of a sine grid shifted by a quarter of the period is determined. 5. Verfahren nach Patentanspruch 1, 2, 3 oder 4 dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren zur Bestimmung der absoluten, nicht 2π modulierten Phasenwinkel mit dem Verfahren des codierten Lichtansatzes kombiniert wird.5. The method according to claim 1, 2, 3 or 4 characterized, that the method for determining the absolute, not 2π modulated phase angle with the method of the coded light approach is combined. 6. Verfahren nach Patentanspruch 5 dadurch gekennzeichnet, daß die zur Berechnung der Hintergrundintensität oder Intensitätsamplitude aufgenom­ menen Abbildungen zugleich zur Identifikation heller und dunkler Streifen in den Strei­ fenbildern des codierten Lichtansatzes verwendet werden.6. The method according to claim 5 characterized, that recorded to calculate the background intensity or intensity amplitude these pictures to identify light and dark stripes in the stripes images of the coded light approach can be used. 7. Verfahren nach Patentanspruch 1, 2, 3 oder 4 dadurch gekennzeichnet, daß zur Bestimmung der absoluten Phasenwinkel Gitterprojektionen mit unterschiedli­ chen Periodenlängen verwendet werden, um eine Serie von Phasenbildern zu erhalten, welche die Berechnung der absoluten, nicht 2π modulierten Phasenwinkel ermöglicht.7. The method according to claim 1, 2, 3 or 4 characterized, that to determine the absolute phase angle grating projections with differ period lengths are used to obtain a series of phase images, which enables the calculation of the absolute, not 2π modulated phase angles. 8. Verfahren nach Patentanspruch 7 dadurch gekennzeichnet, daß die zur Berechnung der Hintergrundintensität oder Intensitätsamplitude verwendeten Abbildungen genau einmal aufgenommenen werden und für die Phasenwinkelberechnung aller benötigten Periodenlängen verwendet werden.8. The method according to claim 7 characterized, that used to calculate the background intensity or intensity amplitude Images are recorded exactly once and for the phase angle calculation all required period lengths can be used.
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