DE19705044A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Datenreduzierung bei der Messung von Profilkörpern - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Datenreduzierung bei der Messung von ProfilkörpernInfo
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Description
Die Erfindung betrifft einen Verfahren zur Messung der
Profiltiefe von Profilkörpern, wobei
- (a) der Profilkörper von einer linienförmigen Laserstrahl beaufschlagt wird,
- (b) das von dem Profilkörper reflektierte Laserlicht durch einen bildauflösenden Sensor erfaßt wird und
- (c) die Signale des bildauflösenden Sensors zur Erzeugung von Ausgangsdaten nach Maßgabe der Profiltiefe verar beitet werden.
Die Erfindung betrifft weiterhin eine Vorrichtung zur
Messung der Profiltiefe von Profilkörpern, enthaltend
- (a) einen Laser zur Erzeugung eines Laserstrahls,
- (b) erste optisch abbildende Mittel zur Erzeugung eines linienförmigen Lichtflecks auf der Profiloberfläche des Profilkörpers,
- (c) einen bildauflösenden Sensor zum Erfassen des von der Profiloberfläche reflektierten Laserlichtes, und
- (d) Bildverarbeitungsmittel, durch welche aus Positions daten des bildauflösenden Sensors Meßwerte für die Profiltiefe des Profilkörpers erzeugbar sind.
Durch die WO 96/37754 ist ein Verfahren und ein Meßgerät
zur Messung der Profiltiefe eines Kraftfahrzeugreifens
bekannt, wobei ein Laser-Meßkopf verwendet wird, welcher
nach dem Triangulationsverfahren arbeitet. Der Laser-Meß
kopf wird so bzgl. des Kraftfahrzeugreifens positioniert,
daß eine Referenzfläche eine definierte Lage zu dem Reifen
einnimmt. Der Laserstrahl des Lasers wird durch die Refe
renzfläche hindurch unter einem Winkel auf den Grund des
Reifenprofils geleitet, so daß auf dem Grund des Reifen
profils ein Lichtfleck erzeugt wird. Durch einen bildauf
lösenden Sensor wird die Position des Lichtflecks beobach
tet und daraus ein Maß für die Tiefe des Reifenprofils
gewonnen. Das Meßgerät ist als mobiles Meßgerät ausgelegt,
wobei der Laser-Meßkopf an einem Stab angeordnet ist. In
einem separaten Gehäuse sind Auswerteeinheit, Batterie und
Drucker angeordnet. Mittels des Stabes wird der Laser-Meß
kopf manuell an Reifen von geparkten Kraftfahrzeugen heran
geführt. Es wird auch erwähnt, daß das Meßgerät stationär
ausgebildet und in einer Bremsprüfanlage oder Waschstraße
eingesetzt werden kann. Zu diesem Zweck wird der Meßkopf in
die Fahrbahn eingelassen und mittels Schrittmotoren über
das Reifenprofil bewegt, wenn ein Reifen sich über dem Meß
kopf befindet.
Die DE-OS 18 09 459 beschreibt ein Verfahren und eine
Vorrichtung zur automatischen Ermittlung der Profiltiefe
von Kraftfahrzeugreifen im fließenden Verkehr. Das Meßprinzip
beruht auf dem sogenannten Lichtschnittverfahren.
In der Straßenoberfläche wird eine schlitzförmige Öffnung
vorgesehen, unter welchem die Meßanordnung in einer Grube
angeordnet ist. Durch den zu messenden Reifen wird ein
photoelektrischer Kontakt betätigt, welcher einen
Elektronenblitz auslöst. Durch den Elektronenblitz wird ein
schmales Lichtband erzeugt. Das Lichtband wird durch die
schlitzförmige Öffnung hindurch scharf auf die Reifen
oberfläche abgebildet. Durch das Profil der Reifenober
fläche wird das Lichtband als Stufenlinie reflektiert,
wobei die Stufenhöhe proportional zu der Profiltiefe ist.
Das stufenförmige Lichtbandbild wird durch ein Fernrohr und
ein Kameraobjektiv vergrößert auf eine Photoschicht abge
bildet. Ein Teil des abbildenden Lichtbündels wird durch
einen halbdurchlässigen Spiegel auf eine Platte
reflektiert, welche aus einem Raster von photoelektrischen
Elementen besteht. Aus den Ausgangssignalen der photo
elektrischen Elementen ermittelt ein elektronisches Aus
wertegerät die Stufenhöhen und damit die Profiltiefe.
Das in der DE-OS 18 09 459 beschriebenen Verfahren führt zu
einer großen Menge an Daten, da das Raster von photo
elektrischen Elementen (z. B. einer CCD-Kamera) in der Regel
über 512 × 512 Pixel verfügen, welche alle digitalisiert,
gespeichert und nachträglich mittels Software ausgewertet
werden müssen. Bei der Vermessung des Profils eines Kraft
fahrzeugreifens ist jedoch oft nur die Profiltiefe und
nicht der genaue Profilverlauf auf der Profiloberfläche von
Interesse, so daß ein großer Teil dieser Meßwerte zur
Bestimmung der Profiltiefe des Reifens überflüssig ist.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die auszu
wertenden Daten bei einem Verfahren bzw. einer Vorrichtung
der eingangs genannten Art zu reduzieren.
Bezogen auf das Verfahren wird diese Aufgabe erfindungs
gemäß dadurch gelöst, daß
- (d) das von dem Profilkörper reflektierte Laserlicht durch optisch abbildende Mittel anamorphotisch auf den bild auflösenden Sensor abgebildet wird.
Bezogen auf die Vorrichtung wird diese Aufgabe erfindungs
gemäß gelöst durch
- (e) weite optisch abbildende Mittel, welche
(e1) zwischen der Profiloberfläche des Profilkörpers und dem bildauflösenden Sensor angeordnet sind und
(e2) das von dem Profilkörper reflektierte Laserlicht anamorphotisch auf den bildauflösenden Sensor abge bildet.
Unter einer "anamorphotischen Abbildung" wird eine optische
Abbildung verstanden, bei der der Abbildungsmaßstab in zwei
zueinander senkrechten Richtungen verschieden ist. Das Bild
ist gegenüber der Abmessungen des abgebildeten Objekts in
der Richtung des größten Bildwinkels kontrahiert. Derartige
Abbildungen lassen sich mit einem Anamorphoten, z. B. einer
Zylinder- oder Stablinse realisieren.
Das zweidimensionale Bild der Laserlichtlinie auf der
Profiloberfläche wird durch die anamorphotische Abbildung
optisch im wesentlichen zu einem eindimensionalen Bild
reduziert, wodurch die Daten optisch reduziert werden.
Dabei kann das von dem Profilkörper reflektierte Laserlicht
auf einer einzigen Sensorzeile abgebildet wird. Der
Verzicht auf ein zweidimensionales Detektorelement bringt
neben einer Kostensenkung auch den Vorteil mit sich, daß
der Ausleseprozeß einfacher ist und damit die Kosten für
die Ausleseelektronik reduziert werden können. Ein weiterer
Vorteil ist die große Verfügbarkeit von Zeilensensoren mit
einer großen Anzahl von Einzelelementen, die entscheidend
für die Auflösung des Gesamtsystems ist. Weiterhin kann die
Meßgeschwindigkeit erhöht werden.
Besonders vorteilhaft zeigt sich das erfindungsgemäße
Verfahren und die erfindungsgemäße Vorrichtung wenn die
Messung des Profilkörpers so erfolgt, daß eine Relativ
bewegung zwischen dem Profilkörper und dem linienförmigen
Laserstrahl während der Messung stattfindet. Es werden dann
mehrere Linien an dem Profilkörper abgebildet und ausge
wertet, so daß die bei üblichen Verfahren anfallende Daten
menge erheblich wird.
Wenn das Profil einer Mantelfläche eines zylinderförmigen
Teils vermessen werden soll, kann diese Relativbewegung
durch Rotieren des zylinderförmigen Teils erfolgen. Der
zylinderförmige Teil kann beispielsweise einen Kraftfahr
zeugreifen sein.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist nachstehend unter
Bezugnahme auf die zugehörigen Zeichnungen näher erläutert.
Fig. 1 ist eine schematische Darstellung und veran
schaulicht die Messung des Profils eines Kraft
fahrzeugreifens,
Fig. 2 ist eine schematische Darstellung und zeigt den
Verlauf des Laserstrahls auf der Profiloberfläche
bei Verwendung einer linienförmigen Beleuchtung,
Fig. 3 veranschaulicht die anamorphotische Abbildung des
von der Profiloberfläche reflektierte Laserlicht
auf einer einzigen Sensorzeile,
Fig. 4 ist ein Flußdiagramm und veranschaulicht einen
möglichen Ablauf der Messung der des Profils eines
Kraftfahrzeugreifens,
Fig. 5 ist ein Flußdiagramm und veranschaulicht eine
Möglichkeit der Datenauswertung bei der Messung
des Profils eines Kraftfahrzeugreifens.
In Fig. 1 ist mit 10 ein Kraftfahrzeugreifen bezeichnet,
dessen Profil gemessen werden soll. Die Drehachse des
Kraftfahrzeugreifens 10 ist mit 12 bezeichnet. Der Kraft
fahrzeugreifen 10 liegt an einer ersten und einer zweiten
Rolle 14 bzw. 16 eines (nicht im Einzeln gezeigten) Brems
prüfstandes 18 an. Die Rollen 14 und 16 sind um jeweils
eine Drehachse 20 bzw. 22 drehbar gelagert.
In einer Ausnehmung in dem Bremsprüfstand 18 unterhalb der
beiden Rollen 14 und 16 ist ein Laser 24 und ein bildauf
lösender Sensor 26 angeordnet. Der Laser 24 und der bild
auflösende Sensor 26 ist als eine Einheit zu einem Laser-
Meßkopf zusammengefaßt. Der bildauflösende Sensor 26 ist
mit (nicht gezeigten) Bildverarbeitungsmitteln in Form
einer elektronischen Signalauswerteeinheit verbunden. Als
Laser, Sensor und Signalauswerteeinheit werden handels
übliche Komponenten verwendet.
Der Laser 24 ist so angeordnet, daß der Laserstrahl 28 des
Lasers 24 mit der Normalen der Profiloberfläche 30 des
Kraftfahrzeugreifens 10 einen Winkel bildet.
In Fig. 2 ist der Verlauf des Laserstrahls auf der Profil
oberfläche 30 bei Verwendung einer linienförmigen Beleuch
tung gezeigt. Verfahren, welche eine linienförmige Beleuch
tung verwenden werden Lichtschnittverfahren genannt (s.
beispielsweise Firmenpublikation "Strahlformungsoptiken"
der Firma Schäfter & Kirchhoff, Celsiusweg 15, 22761
Hamburg). Die Profiloberfläche 30 wird von einem linien
förmigen Laserstrahl des Lasers 24 beleuchtet. Der linien
förmige Laserstrahl erstreckt sich quer zur Abrollrichtung
des Kraftfahrzeugreifens 10 und kann entweder nur einen
Teil der Breite oder die gesamte Breite der Profilober
fläche 30 erfassen. In Fig. 2 erfaßt der linienförmige
Laserstrahl drei Längsrillen 32, 34 und 36 der Profilober
fläche 30.
Wie aus Fig. 2 und 3 ersichtlich ist, trifft der linien
förmige Laserstrahl auf die Profiloberfläche 30 in einem
bestimmten Winkel zur Radialrichtung des Reifens 10 (d. h.
zur Normalen der Profiloberfläche 30). (Der linienförmige
Laserstrahl kann jedoch auch senkrecht auf die Profilober
fläche 30 gerichtet sein.) Dadurch entsteht an der Reifen
oberfläche 30 eine gestufte Laserlichtlinie, wobei jede
Stufenhöhe einer bestimmten Profiltiefe entspricht. Die
drei Längsrillen 32, 34 und 36 der in Fig. 2 und 3 darge
stellten Profiloberfläche 30 besitzen die gleiche Profil
tiefe. Die gezeigte stufenförmige Laserlichtlinie besteht
aus vier der Profiltiefe Null entsprechenden Abschnitten
38, 40, 42 und 44 und drei der Profiltiefe der Längsrillen
32, 34 und 36 entsprechenden Abschnitten 46, 48 und 50.
In Fig. 3 ist eine anamorphotische Abbildung der gestuften
Laserlichtlinie 38, 40, 42, 44, 46, 48, 50 schematisch
dargestellt. Die gestufte Laserlichtlinie 38, 40, 42, 44,
46, 48, 50 wird durch eine (durch zwei gekreuzte Doppel
pfeile dargestellte) Zylinderlinse 52 anamorphotisch auf
einen Zeilendetektor 54 (z. B. Diodenzeile) abgebildet.
Diese Abb. führt dazu, daß alle einer bestimmten
Profiltiefe zugeordneten Laserlichtlinienabschnitte auf
einer einzigen Diode in der Diodenzeile 54 abgebildet
werden, unabhängig davon, von welcher Profilrille das
Laserlicht reflektiert wird. In Fig. 3 werden also die
Laserlichtlinienabschnitte 38, 40, 42 und 44 auf die Diode
56 und die Laserlichtlinienabschnitte 46, 48, 50 auf die
Diode 58 der Diodenzeile 54 abgebildet. (Dabei geht also
die Information verloren, an welcher Stelle der Profilober
fläche eine bestimmte Profiltiefe gemessen wurde.) Der
Abstand der beiden Dioden 56 und 58 ist Proportional zu der
Profiltiefe der Rillen 32, 34 und 36. Jede Diode der
Diodenzeile entspricht also einer bestimmten Profiltiefe.
Werden nun mehrere Dioden der Diodenzeile 54 von dem Laser
licht beaufschlagt, kann aus dem Intensitätsverhältnis des
Laserlichtes an den einzelnen Dioden zur Gesamtintensität
auf den Flächenanteil der entsprechenden Profiltiefe zur
gesamten Profiloberfläche geschlossen werden.
Eine Möglichkeit des Ablaufs der in Fig. 3 dargestellten
Messung soll nun anhand von Fig. 4 und 5 beschrieben werden.
Bei dieser beschriebenen Messung wird der Reifen 10 konti
nuierlich mit konstanter Geschwindigkeit (z. B. 5 km/h)
rotiert.
Zunächst wird der Reifen 10 in Position gebracht, indem der
Reifen 10 an den zwei Rollen 14 und 16 (Fig. 1) in die in
Fig. 1 gezeigten Position gebracht wird. Dies ist durch
Block 60 in Fig. 4 dargestellt. Dann wird der Laser-Meßkopf
in Position zum Reifen 10 gebracht (Block 62). Dies ist
z. B. dann notwendig, wenn der Laser-Meßkopf zwischen den
Messungen weggeschwenkt wird oder wenn eine Höhenanpassung
an die Größe des Reifens 10 erfolgt. Die Messung wird
gestartet (Block 64). Dies kann durch Betätigung einer
entsprechenden (nicht dargestellten) Drucktaste erfolgen.
Durch die Betätigung der Drucktaste wird der Laser 24
(Fig. 2) eingeschaltet. Dann werden die Meßwerte der Reifen
profiltiefe erfaßt (Block 66). Das erfolgt dadurch, daß die
lichtempfindlichen Detektoren (z. B. Photodioden) der Zeile
54 (z. B. Diodenarray mit 128 Dioden) die Intensität des von
der jeweiligen Diode getroffenen Lichts in einer zu der
jeweiligen Lichtintensität proportionalen Spannung umwan
delt. Diese Spannungswerte werden seriell mit einer
bestimmten Taktfrequenz T ausgelesen und durch einen A/D-Wandler
in digitale Werte (8 Bit) umgewandelt. Diese
digitalen Werte werden gespeichert. Die Messung wird nach
einer oder mehreren Umdrehungen des Reifens 10 beendet
(Block 68) und die Meßwerte ausgewertet. Das ist durch
Block 70 dargestellt und wird später anhand von Fig. 5 näher
beschrieben. Die Ergebnisse der Auswertung werden ge
speichert (Block 72) und die Meßergebnisse ausgegeben
(Block 74). Die Ausgabe der Meßergebnisse kann automatisch
oder durch Betätigung eines (nicht dargestellten) Druck
knopfes erfolgen, durch welchen ein (nicht dargestellter)
Drucker aktiviert wird.
Die durch Block 70 in Fig. 4 dargestellte Auswertung der
Meßwerte ist in Fig. 5 näher beschrieben. Als erstes werden
die bei jedem Taktsignal gespeicherten Zeilendaten gelesen
(Block 76). Dabei entspricht jedes Element des Datenarrays
einer Diode des Diodenarrays, d. h. einem Positionswert des
Reifenprofils. Die in der Nähe eines ersten Endes des
Diodenarrays 54 befindlichen Dioden (z. B. Diode 56 in
Fig. 3) entsprechen dabei Positionswerte, welche der Ober
fläche des Reifenprofils zugeordnet sind, und die in der
Nähe eines zweiten Endes des Diodenarrays 54 befindlichen
Dioden (z. B. Diode 58 in Fig. 3) entsprechen Positionswerte,
welche der größten Profiltiefe des Reifenprofils zugeordnet
sind. Die Zeilendaten werden aufaddiert (Block 78).
Beginnend von dem der Oberfläche des Reifens zugeordneten
Ende der Zeile wird nun das erste ausgeprägte Maxima der
Zeile ermittelt (Block 80). Dieses Maxima entspricht der
Diode 56 in der schematischen Darstellung von Fig. 3. Dieses
Maxima wird der Oberfläche des Reifens zugeordnet, d. h. der
Profiltiefe Null. Die gemessene Intensität der vor diesem
Maximum liegenden Dioden des Diodenarrays (d. h. unterhalb
der Diode 56 in Fig. 3) stammt von Verschutzungen an der
Profiloberfläche und erzeugen kein ausgeprägtes Maximum.
Dann wird das letzte ausgeprägte Maxima der Zeile ermittelt
(Block 82). Dieses Maxima entspricht der Diode 58 in der
schematischen Darstellung von Fig. 3. Dieses Maxima stellt
ein vernünftiges Maß für die zu ermittelnde Reifenprofil
tiefe dar. Der Abstand der beiden Maxima ist dann propor
tional zu dem Reifenprofilwert.
Es sei ausdrücklich erwähnt, daß dieses Verfahren zur
Ermittelung der Reifenprofiltiefe nur ein von vielen
Möglichkeiten der Auswertung der Meßdaten darstellt. Die
Meßdaten des Datenarrays enthalten mehr Informationen als
bei diesem Verfahren verwendet wird. Beispielsweise kann
nicht nur ein einziger Wert der Reifenprofiltiefe ermittelt
werden, sondern mehrere Werte oder der gesamte Profil
tiefenverlauf des Reifens. Es ist also möglich, auch
Informationen über die Tiefe und Flächenanteile von Profil
nuten zu erhalten, dessen Positionswerte zwischen der
Positionswerte der Oberfläche des Reifens und der Posi
tionswerte des mit dem oben beschriebenen Verfahren
ermittelten Reifenprofilwertes liegen.
Es sei noch erwähnt, daß Bereiche der Profiloberfläche,
welche von der Mitte der Profiloberfläche weit entfernt
sind, einen relativ kleinen Beitrag zu der Intensität der
Dioden liefern. Dies hängt mit der Winkelverteilung sowohl
des reflektierten als auch des eingestrahlten Laserlichtes
zusammen (Lambertsche Kosinusgesetz). Diese Tatsache beein
flußt die Messung in einer günstigen Weise. Die Profilober
fläche des Reifens ist nämlich in der Regel leicht
gekrümmt, so daß Messungen weit entfernt von der Mitte zu
verfälschten Werten führen. Diese Meßwerte werden also
"optisch gedämpft".
Vor dem Einsatz der Vorrichtung ist es sinnvoll, die Meß
zeit zwischen zwei Auslesungen des Zeilendetektors so
eingestellt, daß keine der Dioden während der Messung in
die Sättigung geht, weil das Meßergebnis sonst verfälscht
wird.
Claims (8)
1. Verfahren zur Messung der Profiltiefe von Profilkörpern
(30), wobei
- (a) der Profilkörper (30) von einer linienförmigen Laserstrahl beaufschlagt wird,
- (b) das von dem Profilkörper (30) reflektierte Laser licht durch einen bildauflösenden Sensor (54) erfaßt wird und
- (c) die Signale des bildauflösenden Sensors (54) zur
Erzeugung von Ausgangsdaten nach Maßgabe der
Profiltiefe verarbeitet werden,
dadurch gekennzeichnet, daß - (d) das von dem Profilkörper (30) reflektierte Laser licht durch optisch abbildende Mittel (52) anamor photisch auf den bildauflösenden Sensor (54) abge bildet wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
das von dem Profilkörper (30) reflektierte Laserlicht
auf einer Sensorzeile (54) abgebildet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß eine Relativbewegung zwischen dem Profil
körper (30) und dem linienförmigen Laserstrahl während
der Messung stattfindet.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
der Profilkörper (30) die Mantelfläche eines zylinder
förmigen Teils (10) ist und der zylinderförmige Teil
(10) während der Messung rotiert wird.
5. Vorrichtung zur Messung der Profiltiefe von Profil
körpern (30), enthaltend
- (a) einen Laser (24) zur Erzeugung eines Laserstrahls,
- (b) erste optisch abbildende Mittel zur Erzeugung eines linienförmigen Lichtflecks auf der Profiloberfläche (30) des Profilkörpers,
- (c) einen bildauflösenden Sensor (54) zum Erfassen des von der Profiloberfläche (30) reflektierten Laser lichtes, und
- (d) Bildverarbeitungsmittel, durch welche aus Posi
tionsdaten des bildauflösenden Sensors (54) Meß
werte für die Profiltiefe des Profilkörpers (30)
erzeugbar sind,
gekennzeichnet durch - (e) zweite optisch abbildende Mittel (52), welche
- (e1) zwischen der Profiloberfläche (30) des Profil körpers und dem bildauflösenden Sensor (52) angeordnet sind und
- (e2) das von dem Profilkörper reflektierte Laser licht anamorphotisch auf den bildauflösenden Sensor (54) abgebildet.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
daß die zweite optisch abbildende Mittel (52) eine
Zylinder- oder Stablinse enthalten.
7. Vorrichtung nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekenn
zeichnet, daß eine Relativbewegung zwischen dem Profil
körper (30) und dem linienförmigen Laserstrahl während
der Messung stattfindet.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß der Profilkörper (30) die Mantelfläche eines
zylinderförmigen Teils (10) ist und der zylinderförmige
Teil (10) während der Messung rotiert wird.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1997105044 DE19705044A1 (de) | 1997-02-03 | 1997-02-03 | Verfahren und Vorrichtung zur Datenreduzierung bei der Messung von Profilkörpern |
PCT/EP1998/000558 WO1998034090A1 (de) | 1997-02-03 | 1998-02-03 | Verfahren und vorrichtung zur messung der profiltiefe eines kraftfahrzeugreifens |
AU62943/98A AU6294398A (en) | 1997-02-03 | 1998-02-03 | Method and device for measuring the pattern depth on a tyre |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1997105044 DE19705044A1 (de) | 1997-02-03 | 1997-02-03 | Verfahren und Vorrichtung zur Datenreduzierung bei der Messung von Profilkörpern |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19705044A1 true DE19705044A1 (de) | 1998-08-06 |
Family
ID=7819832
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1997105044 Ceased DE19705044A1 (de) | 1997-02-03 | 1997-02-03 | Verfahren und Vorrichtung zur Datenreduzierung bei der Messung von Profilkörpern |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19705044A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10239765B4 (de) * | 2002-08-29 | 2005-03-03 | Maha Maschinenbau Haldenwang Gmbh & Co. Kg | Profiltiefenmeßvorrichtung |
WO2023089486A1 (en) * | 2021-11-19 | 2023-05-25 | Alcon Inc. | Anamorphic depth gauge for ophthalmic systems |
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DE3234070A1 (de) * | 1982-09-14 | 1984-03-15 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Optische anordnung zur formerkennung eines objekts |
WO1996037754A1 (de) * | 1995-05-26 | 1996-11-28 | Buerger Joachim | Verfahren und messgerät zur messung der profiltiefe eines kraftfahrzeugreifens |
-
1997
- 1997-02-03 DE DE1997105044 patent/DE19705044A1/de not_active Ceased
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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