DE19538531A1 - Process for the deposition of metal layers - Google Patents

Process for the deposition of metal layers

Info

Publication number
DE19538531A1
DE19538531A1 DE19538531A DE19538531A DE19538531A1 DE 19538531 A1 DE19538531 A1 DE 19538531A1 DE 19538531 A DE19538531 A DE 19538531A DE 19538531 A DE19538531 A DE 19538531A DE 19538531 A1 DE19538531 A1 DE 19538531A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
oxygen
metal
glow discharge
indicates
palladium
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19538531A
Other languages
German (de)
Inventor
Heinrich Dr Meyer
Ralf Dr Schulz
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Atotech Deutschland GmbH and Co KG
Original Assignee
Atotech Deutschland GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from DE19944438791 external-priority patent/DE4438791C2/en
Application filed by Atotech Deutschland GmbH and Co KG filed Critical Atotech Deutschland GmbH and Co KG
Priority to DE19538531A priority Critical patent/DE19538531A1/en
Priority to DE19581161T priority patent/DE19581161D2/en
Priority to AU38003/95A priority patent/AU3800395A/en
Priority to DE59503637T priority patent/DE59503637D1/en
Priority to PCT/DE1995/001501 priority patent/WO1996012051A1/en
Priority to US08/817,337 priority patent/US6221440B1/en
Priority to JP51285696A priority patent/JP3210675B2/en
Priority to AT95935818T priority patent/ATE171225T1/en
Priority to CA002203024A priority patent/CA2203024A1/en
Priority to EP95935818A priority patent/EP0787224B1/en
Priority to TW84114090A priority patent/TW403793B/en
Publication of DE19538531A1 publication Critical patent/DE19538531A1/en
Priority to US09/840,367 priority patent/US6403168B2/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/18Pretreatment of the material to be coated
    • C23C18/20Pretreatment of the material to be coated of organic surfaces, e.g. resins
    • C23C18/28Sensitising or activating
    • C23C18/30Activating or accelerating or sensitising with palladium or other noble metal
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/06Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of metallic material
    • C23C16/18Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of metallic material from metallo-organic compounds
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/1601Process or apparatus
    • C23C18/1633Process of electroless plating
    • C23C18/1646Characteristics of the product obtained
    • C23C18/165Multilayered product
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/31Coating with metals
    • C23C18/32Coating with nickel, cobalt or mixtures thereof with phosphorus or boron
    • C23C18/34Coating with nickel, cobalt or mixtures thereof with phosphorus or boron using reducing agents
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C28/00Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D
    • C23C28/02Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D only coatings only including layers of metallic material
    • C23C28/021Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D only coatings only including layers of metallic material including at least one metal alloy layer
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C28/00Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D
    • C23C28/02Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D only coatings only including layers of metallic material
    • C23C28/023Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D only coatings only including layers of metallic material only coatings of metal elements only
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C28/00Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D
    • C23C28/30Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer
    • C23C28/32Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one pure metallic layer
    • C23C28/322Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one pure metallic layer only coatings of metal elements only
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C28/00Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D
    • C23C28/30Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer
    • C23C28/34Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one inorganic non-metallic material layer, e.g. metal carbide, nitride, boride, silicide layer and their mixtures, enamels, phosphates and sulphates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • H01L23/14Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
    • H01L23/145Organic substrates, e.g. plastic
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/18Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material
    • H05K3/181Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material by electroless plating
    • H05K3/182Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material by electroless plating characterised by the patterning method
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/38Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal
    • H05K3/381Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by special treatment of the substrate
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/38Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal
    • H05K3/388Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by the use of a metallic or inorganic thin film adhesion layer
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/1601Process or apparatus
    • C23C18/1633Process of electroless plating
    • C23C18/1646Characteristics of the product obtained
    • C23C18/165Multilayered product
    • C23C18/1653Two or more layers with at least one layer obtained by electroless plating and one layer obtained by electroplating
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/18Pretreatment of the material to be coated
    • C23C18/20Pretreatment of the material to be coated of organic surfaces, e.g. resins
    • C23C18/2006Pretreatment of the material to be coated of organic surfaces, e.g. resins by other methods than those of C23C18/22 - C23C18/30
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D5/00Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
    • C25D5/48After-treatment of electroplated surfaces
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/91Methods for connecting semiconductor or solid state bodies including different methods provided for in two or more of groups H01L2224/80 - H01L2224/90
    • H01L2224/92Specific sequence of method steps
    • H01L2224/922Connecting different surfaces of the semiconductor or solid-state body with connectors of different types
    • H01L2224/9222Sequential connecting processes
    • H01L2224/92242Sequential connecting processes the first connecting process involving a layer connector
    • H01L2224/92247Sequential connecting processes the first connecting process involving a layer connector the second connecting process involving a wire connector
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/08Treatments involving gases
    • H05K2203/086Using an inert gas
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/08Treatments involving gases
    • H05K2203/087Using a reactive gas
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/11Treatments characterised by their effect, e.g. heating, cooling, roughening
    • H05K2203/1163Chemical reaction, e.g. heating solder by exothermic reaction
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/13Moulding and encapsulation; Deposition techniques; Protective layers
    • H05K2203/1333Deposition techniques, e.g. coating
    • H05K2203/1338Chemical vapour deposition
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/14Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using spraying techniques to apply the conductive material, e.g. vapour evaporation
    • H05K3/146By vapour deposition
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/18Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material
    • H05K3/188Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material by direct electroplating

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein ergänzendes Verfahren zum Abscheiden kohlenstoff- und sauerstoffarmer Metallschichten durch Zersetzen flüchti­ ger Metallverbindungen auf elektrisch nichtleitenden Substratoberflächen nach Patentanmeldung P 44 38 791.1.The invention relates to a supplementary method for deposition Low-carbon and low-oxygen metal layers due to volatile decomposition metal connections on electrically non-conductive substrate surfaces according to patent application P 44 38 791.1.

Das haftfeste Metallbeschichten elektrisch nichtleitender Substrate, bei­ spielsweise von Kunststoffen, bereitet in vielen Fällen erhebliche Proble­ me. Insbesondere eine ganzflächige und beidseitige Metallbeschichtung von Kunststoffolien scheitert häufig daran, daß sich die Metallschichten bei einer zu hohen thermischen Belastung des Substrat/Metall-Verbundes leicht wieder ablösen. Dieser Nachteil stellt sich insbesondere bei vielfälti­ gen Substraten aus Epoxidharzen und bei manchen Herstellverfahren für beschichtete Polyimide ein.The adhesive metal coating of electrically non-conductive substrates for example of plastics, creates considerable problems in many cases me. In particular, a full-surface and double-sided metal coating Of plastic films often fails because the metal layers if the thermal load on the substrate / metal composite is too high easily peel off again. This disadvantage arises in particular with diversi against epoxy resin substrates and in some manufacturing processes for coated polyimides.

Epoxidharz, Fluor-Polymere, thermoplastische Kunststoffe allgemein und Polyimide werden seit langem als Substratmaterial in der Elektronikindu­ strie für die Herstellung von Leiterplatten, Hybridschaltungen, Halbleit­ erträgern (Chip Carrier, Multi-Chip-Modulen) und anderen Bauelementen eingesetzt. Polyimid weist dabei vielfältige Vorteile auf. Beispielsweise ist dessen mechanische Beständigkeit höher, so daß die Längenausdehnung des Materials bei thermischer Belastung geringer ist als bei sonstigen zu beschichtenden Materialien. Ferner verfügen Polyimidsubstrate über bes­ sere elektrische Isolationswerte.Epoxy resin, fluoropolymers, thermoplastics in general and Polyimides have long been used as a substrate material in the electronics industry  strie for the production of printed circuit boards, hybrid circuits, semiconductor bear (chip carrier, multi-chip modules) and other components used. Polyimide has many advantages. For example whose mechanical resistance is higher, so that the linear expansion of the material under thermal stress is less than with other coating materials. Furthermore, polyimide substrates have bes our electrical insulation values.

Für den Einsatz als Substratmaterial in Halbleiterträgern können Vorpro­ dukte des Polyimids auf einen geeigneten Träger durch ein Spin-Coating- Verfahren in dünner Schicht aufgebracht und anschließend zu Polyimid umgesetzt werden. In die derart gebildeten Schichten können einfach und reproduzierbar feinste Löcher geätzt werden, die zur Verbindung mehrerer Metallisierungsebenen dienen.For use as a substrate material in semiconductor carriers, Vorpro products of the polyimide on a suitable support by a spin coating Process applied in a thin layer and then to polyimide be implemented. In the layers formed in this way, simple and reproducibly finest holes can be etched to connect several Metallization levels serve.

Zur Herstellung von Polyimidlaminaten, beispielsweise für die Leiterplat­ tenherstellung, wurden in der Vergangenheit meist mit Kupferfolien ka­ schierte Polyimidfolien verwendet. Aus den Kupferschichten werden die Leiterzüge meist durch Ätzprozesse gebildet. Hierzu werden Verfahrens­ techniken eingesetzt, die in der Literatur beschrieben sind (beispielsweise im Handbuch der Leiterplattentechnik, Hrsg. G. Herrmann, Band 2, Eugen G. Leuze Verlag, Saulgau 1991). Derartige Verfahren sind zur Herstellung von Leiterplatten zwar grundsätzlich geeignet, jedoch liegt die Breite der feinsten mit derartigen Techniken reproduzierbar herstellbaren Leiterzüge im Bereich von etwa 100 µm. Die Kupferfolien werden in herkömmlicher Weise durch Verkleben mit den Polyimidoberflächen verbunden. Jedoch erweicht die Kleberschicht bei thermischer Behandlung, beispielsweise beim Löten der Leiterplatten, und ist auch gegenüber den chemischen Bädern, die für die Metallisierung von Löchern in den Polyimidlaminaten eingesetzt werden, nicht ausreichend beständig. For the production of polyimide laminates, for example for the printed circuit board in the past, mostly copper foils were not used Sheer polyimide films used. The copper layers become the Conductors mostly formed by etching processes. This will be procedural techniques used in the literature (for example in the manual of printed circuit board technology, ed. G. Herrmann, volume 2, Eugen G. Leuze Verlag, Saulgau 1991). Such methods are used to manufacture of printed circuit boards is basically suitable, but the width is finest conductor tracks that can be reproducibly produced with such techniques in the range of about 100 µm. The copper foils are more traditional Way connected by gluing to the polyimide surfaces. However softens the adhesive layer during thermal treatment, for example when soldering the circuit boards, and is also opposite to the chemical ones Baths for the metallization of holes in the polyimide laminates are used, not sufficiently resistant.  

Um die Kleberschichten zu vermeiden, wurde die dem Fachmann geläufi­ ge "cast-on"-Technik zur Herstellung kleberfreier Polyimidlaminate ent­ wickelt, bei der flüssige Polyamidsäurelösung vor der Dehydratisierung und Cyclisierung zum Polyimid auf eine Kupferfolie aufgegossen wird. Nach der Bildung des Polyimids auf der Kupferfolie entsteht auf diese Weise ein haftfester Polymer/Metall-Verbund.To avoid the adhesive layers, the expert was familiar "Cast-on" technology for the production of adhesive-free polyimide laminates in the liquid polyamic acid solution before dehydration and cyclization to polyimide is poured onto a copper foil. After the polyimide has formed on the copper foil, it is formed on it Way an adhesive polymer / metal composite.

Dieses Verfahren hat jedoch den Nachteil, daß nur relativ dicke, beispiels­ weise 17 µm dicke, Kupferfolien verwendet werden können. Ferner sind diese Folien außerordentlich teuer.However, this method has the disadvantage that only relatively thick, for example 17 µm thick copper foils can be used. Furthermore are these foils are extremely expensive.

Mit dünneren Kupferfolien beschichtete Polyimidlaminate wurden zwar schon hergestellt; jedoch ist der Aufwand zur Herstellung dieser Laminate außerordentlich hoch und somit die Preise auch beträchtlich. Die Handha­ bung der mit dünnen Kupferfolien beschichteten Laminate ist darüber hinaus problematisch, da die Kupferfolien sehr empfindlich gegen mecha­ nische Einwirkung sind. Im Falle der "cast-on"-Technik können derartig dünne Kupferfolien überhaupt nicht eingesetzt werden, da sich das Lami­ nat bei der Herstellung stark verwerfen würde.Polyimide laminates coated with thinner copper foils were indeed already made; however, the effort involved in making these laminates extremely high and therefore the prices are also considerable. The handha Exercise of the laminates coated with thin copper foils is above problematic because the copper foils are very sensitive to mecha nical influence. In the case of the "cast-on" technique, such thin copper foils are not used at all because the lami would strongly discard nat in the manufacture.

Feinere Leiterzüge sind daher allenfalls dadurch erzeugbar, daß keine mit Kupferfolien an der Oberfläche versehene Laminate als Ausgangsmateria­ lien verwendet werden. Die Leiterzüge werden in diesem Fall durch Me­ tallabscheidung direkt auf den Oberflächen gebildet. Durch Sputtern oder Metallverdampfung bzw. mittels chemischer Methoden hergestellte kle­ berfreie Polyimidsubstrate haben sich bei der Leiterplattenherstellung bis­ lang nicht durchsetzen können. Insbesondere bei Anwendung chemischer Methoden tritt der Nachteil der größeren Wasseraufnahme von Polyimid gegenüber anderen Polymeren in den Vordergrund. Es hat sich beispiels­ weise gezeigt, daß die Haftfestigkeit von ganzflächig auf Polyimidfolien stromlos und elektrolytisch abgeschiedenen Kupferschichten zur Polyimid­ oberfläche bei thermischer Behandlung, beispielsweise beim Löten, erheb­ lich verringert oder gänzlich aufgehoben wird. Um das Auftreten von bla­ senförmigen Abhebungen bei der thermischen Behandlung zu vermeiden, wird generell vorgeschlagen, die beschichteten Polyimidfolien nach der Abscheidung zu tempern.Finer conductor tracks can therefore only be generated by the fact that none with Laminates with copper foils on the surface as starting material lien can be used. In this case, the conductor tracks are created by Me tall deposit formed directly on the surfaces. By sputtering or Metal evaporation or kle. Manufactured by chemical methods Over-free polyimide substrates have been used in circuit board manufacture for a long time. Especially when using chemical Methods occurs the disadvantage of the greater water absorption of polyimide in the foreground compared to other polymers. It has, for example showed that the adhesive strength of the entire surface on polyimide films Electroless and electrolytically deposited copper layers for polyimide  surface during thermal treatment, for example during soldering Lich reduced or completely canceled. To the appearance of bla to avoid sen-shaped withdrawals during thermal treatment, It is generally proposed to use the coated polyimide films after Annealing deposition.

Die Temperbehandlung reicht jedoch nicht aus, Blasen zu verhindern, wenn beidseitig und ganzflächig mit Kupferschichten versehene Polyimid­ folien einer zu starken thermischen Behandlung ausgesetzt werden. In diesem Fall kann die eingeschlossene Feuchtigkeit, die vom chemischen Metallisierungsprozeß herrührt, während des Temperns nicht mehr ent­ weichen, so daß diese bei der thermischen Behandlung explosionsartig aus der Polyimidfolie austritt und die Kupferbeschichtung von der Polyi­ midoberfläche abhebt.However, the annealing treatment is not enough to prevent blisters, if polyimide is provided on both sides and all over with copper layers foils are exposed to excessive thermal treatment. In In this case, the trapped moisture from the chemical The metallization process no longer occurs during the annealing give way, so that they explode during thermal treatment emerges from the polyimide foil and the copper coating from the polyi mid surface stands out.

Aus den vorgenannten Gründen wurden andere Verfahren zur haftfesten Metallisierung von Polyimidsubstraten entwickelt. Wegen der Anforde­ rung, eine ausreichende Haftfestigkeit der abgeschiedenen Metall­ schichten auch während und nach einer thermischen Beanspruchung der Substrate zu erreichen, wurden Vakuumverfahren zur Metallisierung ein­ gesetzt. Die Metallabscheidung durch Zersetzen flüchtiger Metallver­ bindungen mittels Glimmentladung ist hierbei eine gelungene Alternative. In DE 35 10 982 A1 wird ein solches Verfahren zur Herstellung elektrisch leitender Strukturen auf Nichtleitern, beispielsweise Polyimidfolien, durch Abscheidung metallischer Filme auf den Nichtleiteroberflächen durch Zer­ setzung metallorganischer Verbindungen in einer Glimmentladungszone offenbart. Die abgeschiedenen Metallfilme dienen vorzugsweise als kata­ lytisch aktive Keimschichten zur nachfolgenden stromlosen Metallisierung der Oberflächen.For the reasons mentioned above, other methods have become adherent Metallization of polyimide substrates developed. Because of the requirement tion, sufficient adhesive strength of the deposited metal layers also during and after thermal stress on the To achieve substrates, vacuum processes were used for metallization set. Metal deposition by decomposing volatile metal ver Glow discharge bonds are a successful alternative. In DE 35 10 982 A1, such a method for manufacturing is electrical conductive structures on non-conductors, for example polyimide films Deposition of metallic films on the non-conductive surfaces by cerium settlement of organometallic compounds in a glow discharge zone disclosed. The deposited metal films preferably serve as kata lytically active seed layers for subsequent electroless metallization of the surfaces.

In DE 37 44 062 A1 wird ein Verfahren zur Herstellung metallischer Strukturen auf Fluor-Polymeren oder thermoplastischen Kunststoffen durch Zersetzung metallorganischer Verbindungen in einer Glimmentla­ dung beschrieben.DE 37 44 062 A1 describes a process for producing metallic  Structures on fluoropolymers or thermoplastics by decomposing organometallic compounds in a glow metal described.

In DE 38 06 587 A1 wird ein Verfahren zur Herstellung metallischer Strukturen auf Polyimid durch Zersetzung metallorganischer Verbindun­ gen in einer Glimmentladung näher dargestellt.DE 38 06 587 A1 describes a process for producing metallic Structures on polyimide through decomposition of organometallic compounds gene shown in more detail in a glow discharge.

Weitere Verfahren und metallorganische Verbindungen werden in den Druckschriften DE 37 16 235 A1 und DE 38 28 211 C2 offenbart.Other processes and organometallic compounds are described in the Publications DE 37 16 235 A1 and DE 38 28 211 C2 are disclosed.

Mit diesen Verfahren ist es möglich, haftfeste Metallschichten auf Poly­ imidoberflächen zu erzeugen, wenn auf der ersten mittels Glimmentla­ dung erzeugten Metallschicht weitere Metallschichten aus stromlosen und elektrolytischen Metallisierungsbädern abgeschieden werden. In den ge­ nannten Dokumenten zum Stand der Technik werden für die stromlose Metallisierung übliche Kupfer- oder Nickelbäder angegeben.With these methods it is possible to apply adhesive metal layers to poly to produce imide surfaces when on the first by means of Glimmentla metal layer produced further metal layers from currentless and electrolytic metallization baths are deposited. In the ge State-of-the-art documents are used for the de-energized Metallization usual copper or nickel baths specified.

Um möglichst reine Metallschichten mit der Glimmentladungsmethode herzustellen, d. h. Metallschichten ohne nennenswerte Kohlenstoff- und Sauerstoffbeimengungen, muß das Substrat während der Metallabschei­ dung auf eine möglichst hohe Temperatur aufgeheizt werden. Die kohlen­ stoffhaltigen Beimengungen rühren von den organischen Bestandteilen der bei der Abscheidung meist verwendeten flüchtigen metallorganischen Verbindungen her. Den Einfluß der Substrattemperatur auf den Kohlen­ stoffgehalt der mit der Glimmentladungsmethode abgeschiedenen Metall­ schichten ist beispielsweise in E. Feurer und H. Suhr, "Thin palladium films prepared by metal-organic plasma-enhanced chemical vapour depo­ sition", Thin Solid Films, 157 (1988), 81, 84 dargestellt. Danach nimmt der Kohlenstoffgehalt der Schichten mit steigender Substrattemperatur ab. Aus dieser Druckschrift ist auch erkennbar, daß die Palladiumschich­ ten bei Raumtemperatur knapp 30 Gew.-% Kohlenstoff enthalten. Erst beim Aufheizen des Substrats auf Temperaturen über 100°C kann der Kohlenstoffgehalt auf vernachlässigbare Werte abgesenkt werden.In order to achieve the purest possible metal layers with the glow discharge method to manufacture, d. H. Metal layers without significant carbon and Oxygen admixtures, the substrate must during the metal separation be heated to the highest possible temperature. The coal Additives containing substances come from the organic components the most volatile organometallic used in the deposition Connections. The influence of the substrate temperature on the coals substance content of the metal deposited with the glow discharge method Layers are described, for example, in E. Feurer and H. Suhr, "Thin palladium films prepared by metal-organic plasma-enhanced chemical vapor depo sition ", Thin Solid Films, 157 (1988), 81, 84 the carbon content of the layers with increasing substrate temperature from. From this publication it can also be seen that the palladium layer  ten at room temperature contain almost 30 wt .-% carbon. First when heating the substrate to temperatures above 100 ° C Carbon content can be reduced to negligible levels.

Enthält die Metallschicht einen zu großen Kohlenstoffgehalt durch unge­ nügende Zersetzung der Metallverbindungen in der Glimmentladung bzw. durch nicht ausreichende Desorption der nur teilweise zersetzten Ligan­ denverbindungen von den Substratoberflächen, so ist die Leitfähigkeit der abgeschiedenen Metallschichten nur gering, und zudem ist deren katalyti­ sche Aktivität zum Starten einer stromlosen Metallabscheidung auf den Oberflächen ebenfalls nicht ausreichend.If the metal layer contains too much carbon due to sufficient decomposition of the metal compounds in the glow discharge or due to insufficient desorption of the only partially decomposed ligan connections from the substrate surfaces, so is the conductivity of the deposited metal layers only slight, and also their catalytic activity to start electroless metal deposition on the Surfaces also not sufficient.

Für viele Anwendungszwecke ist eine Erhitzung der Substrate nicht er­ wünscht, da diese thermisch nicht ausreichend stabil sind. Daher wurden Versuche unternommen, den Kohlenstoffgehalt der Metallschichten auf andere Weise zu senken. Beispielsweise wird in der vorgenannten Druck­ schrift von E. Feurer und H. Suhr vorgeschlagen, die abgeschiedenen Me­ tallschichten mit einem Sauerstoffplasma nachzubehandeln. Eine weitere Alternative besteht nach Versuchen dieser Autoren darin, das bei der Me­ tallabscheidung üblicherweise als Trägergas verwendete Argon durch Sauerstoff zu ersetzen. Dadurch wird anstelle von Palladium Palladium­ oxid abgeschieden, das durch eine nachfolgende Behandlung in einem Wasserstoffplasma wiederum zu einem metallischen Palladiumfilm redu­ ziert werden kann. Diese Vorgehensweise ist jedoch sehr kompliziert und aufwendig. Außerdem zersetzen sich die metallorganischen Verbindungen bereits beim Hindurchleiten des Sauerstoffs durch das Vorratsgefäß, das diese Verbindungen enthält, so daß nur ein geringer Teil die Glimmentla­ dungszone erreicht.For many applications, heating the substrates is not the case wishes, since these are not sufficiently stable thermally. Therefore Attempts have been made to determine the carbon content of the metal layers other way to lower. For example, in the aforementioned print written by E. Feurer and H. Suhr proposed the separated Me post-treat layers with an oxygen plasma. Another According to experiments by these authors, the alternative is to use the Me tallabscheid argon commonly used as a carrier gas To replace oxygen. This will replace palladium with palladium oxide deposited by a subsequent treatment in one Hydrogen plasma in turn reduced to a metallic palladium film can be decorated. However, this procedure is very complicated and complex. In addition, the organometallic compounds decompose already when the oxygen is passed through the storage vessel, the contains these compounds, so that only a small part of the Glimmentla zone reached.

Der vorliegenden Erfindung liegt von daher das Problem zugrunde, die Nachteile des Standes der Technik zu vermeiden und ein zur Paten­ tanmeldung P 44 38 791.1 ergänzendes Verfahren zu finden, mit dem es gelingt, haftfest kohlenstoff- und sauerstoffarme Metallschichten auf Oberflächen, elektrisch nichtleitender Substrate bei niedrigen Tempera­ turen abzuscheiden, ohne daß eine weitere Behandlung der abgeschiede­ nen Metallschichten erforderlich ist. Es soll ferner ein einfaches Verfahren gefunden werden, mit dem es gelingt, metallisierte Substrate herzustel­ len, die auch für die Herstellung elektrischer Schaltungsträger verwendet werden können.The present invention is therefore based on the problem that  Avoid disadvantages of the prior art and a godfather application P 44 38 791.1 to find a supplementary procedure with which it succeeds in adhering to low-carbon and low-oxygen metal layers Surfaces, electrically non-conductive substrates at low temperatures separating doors without further treatment of the deposited NEN metal layers is required. It is also intended to be a simple process with which it is possible to produce metallized substrates len, which is also used for the production of electrical circuit carriers can be.

Das Problem wird gelöst durch die Ansprüche 1, 2 und 10. Bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angege­ ben.The problem is solved by claims 1, 2 and 10. Preferred Embodiments of the invention are specified in the subclaims ben.

Kohlenstoff- und sauerstoffarme Metallschichten können mit einem Ver­ fahren erhalten werden, bei dem die flüchtigen Metallverbindungen in Gegenwart von Sauerstoff auf den Substratoberflächen in einer Glimm­ entladung zersetzt werden. Die oxidierende Gasmischung enthält neben den flüchtigen Metallverbindungen und Sauerstoff inerte Gase, ausge­ wählt aus der Gruppe bestehend aus Stickstoff und Edelgasen. Als Edel­ gas wird aus Kostengründen Argon bevorzugt.Low-carbon and low-oxygen metal layers can with a Ver drive are obtained, in which the volatile metal compounds in Presence of oxygen on the substrate surfaces in a glow discharge can be decomposed. The oxidizing gas mixture also contains the volatile metal compounds and oxygen inert gases chooses from the group consisting of nitrogen and noble gases. As a noble gas is preferred for reasons of cost argon.

Durch das Oxidationsvermögen des Sauerstoffs in der Gasmischung wer­ den die Substratoberflächen nach einer eventuellen Reinigung und Funk­ tionalisierung der Oberflächen auch während der Metallabscheidung wei­ ter gereinigt, hier vorzugsweise von den durch die Glimmentladung ent­ stehenden organischen Bruchstücken der metallorganischen Verbindun­ gen. Durch Verwendung einer Gasmischung, die neben Sauerstoff auch inerte Trägergase enthält, kann ferner auch die Bildung von Metalloxid­ schichten weitgehend verhindert werden, deren elektrische Leitfähigkeit und katalytische Aktivität für die stromlose Metallabscheidung nicht aus­ reichend hoch wäre. Ferner wird auch verhindert, daß sich die metallorga­ nischen Verbindungen bereits vor dem Einleiten in die Glimmentladungs­ zone zersetzen, da als Trägergas für die Verbindungen nicht reiner Sauer­ stoff sondern ein Gasgemisch mit den inerten Gasen verwendet wird, das durch die meist flüssige Metallverbindungen hindurchgeleitet wird.Due to the oxidizing ability of the oxygen in the gas mixture the substrate surfaces after a possible cleaning and radio tionalization of the surfaces also during the metal deposition white ter cleaned, here preferably from the glow discharge standing organic fragments of organometallic compounds gen. By using a gas mixture that in addition to oxygen Contains inert carrier gases, the formation of metal oxide can also layers are largely prevented, their electrical conductivity  and catalytic activity for electroless metal deposition would be high enough. It also prevents the metallorga African compounds before the glow discharge is initiated decompose zone as the carrier gas for the compounds is not pure acid material but a gas mixture with the inert gases is used through which mostly liquid metal compounds are passed.

In einer besonders gut geeigneten Gasmischung zur Bildung weitgehend kohlenstoff- und sauerstofffreier Metallschichten wird das Verhältnis des Partialdruckes von Sauerstoff zu dem der inerten Gase in der Gasmi­ schung auf einen Wert zwischen 2 : 1 und 1 : 8, vorzugsweise zwischen 1 : 3 und 1 : 4, eingestellt. Unter der Annahme, daß durch Sauerstoff die Liganden in den metallorganischen Verbindungen zu Kohlendioxid und Wasser oxidiert werden, wird bei Einstellung eines Partialdruckverhält­ nisses von 1 : 3 bis 1 : 4 ein unter dem theoretischen (stöchiometrischen) Verbrauch von Sauerstoff liegender Wert festgestellt. Beispielsweise wer­ den bei Einstellung des Verhältnisses von 1 : 3 bei der Verdampfung von etwa 300 mg π-Allyl-π-cyclopentadienyl-Palladium-(II) bei 45°C durch­ schnittlich etwa 150 Standard-cm³ Sauerstoff verbraucht. Für die voll­ ständige Oxidation der Liganden in der Verbindung würden dagegen 330 Standard-cm³ benötigt werden. Durch Versuche wurde festgestellt, daß üblicherweise zwischen 20 und 70% der stöchiometrischen Sauerstoff­ menge benötigt werden.To a large extent in a particularly suitable gas mixture for formation carbon and oxygen free metal layers the ratio of Partial pressure of oxygen to that of the inert gases in the gas medium to a value between 2: 1 and 1: 8, preferably between 1: 3 and 1: 4. Assuming that oxygen Ligands in the organometallic compounds to carbon dioxide and Water will be oxidized when a partial pressure ratio is set from 1: 3 to 1: 4 below the theoretical (stoichiometric) Consumption of oxygen lying value determined. For example, who that when setting the ratio of 1: 3 in the evaporation of about 300 mg of π-allyl-π-cyclopentadienyl-palladium- (II) at 45 ° C an average of about 150 standard cm³ of oxygen is used. For the full however, constant oxidation of the ligands in the compound would result in 330 Standard cm³ are required. Experiments have shown that usually between 20 and 70% of the stoichiometric oxygen amount needed.

Der Gesamtdruck der Gasmischung in dem Reaktionsgefäß, in dem die Zersetzung der Metallverbindungen stattfindet, liegt vorzugsweise zwi­ schen 1 Pa und 50 Pa.The total pressure of the gas mixture in the reaction vessel in which the Decomposition of the metal compounds takes place, is preferably between between 1 Pa and 50 Pa.

Als flüchtige Metallverbindungen werden Palladium-, Kupfer-, Gold- oder Platinverbindungen oder deren Mischungen eingesetzt. Andere Metall­ verbindungen sind ebenfalls grundsätzlich einsetzbar, sofern die gebildete Metallschicht katalytisch für die nachfolgende stromlose Metallisierung ist. Werden bei der Metallabscheidung mittels Glimmentladung Metall­ schichten mit ausreichend hoher elektrischer Leitfähigkeit zur direkten nachfolgenden elektrolytischen Metallisierung gebildet, so können auch andere Metallverbindungen zur Bildung der ersten Metallschicht verwen­ det werden, beispielsweise Molybdänverbindungen.As volatile metal compounds are palladium, copper, gold or Platinum compounds or mixtures thereof are used. Other metal Connections can also be used in principle, provided that the one created  Metal layer catalytic for the subsequent electroless metallization is. Become metal during metal deposition using glow discharge layers with sufficiently high electrical conductivity for direct subsequent electrolytic metallization, so can also use other metal compounds to form the first metal layer Det are, for example molybdenum compounds.

Palladium hat sich als besonders vorteilhaft herausgestellt, da es durch Ätzen leicht entfernt und darauf problemlos eine weitere Metallschicht aus einem Kupferbad stromlos abgeschieden werden kann. Werden an­ dere Metalle als Palladium zur Abscheidung der ersten Metallschicht ver­ wendet, so wird das Substrat vor der stromlosen Metallisierung in eine Aktivierungslösung, beispielsweise eine Palladiumchloridlösung, getaucht.Palladium has been found to be particularly advantageous because it is Etch easily removed and another metal layer on top of it can be deposited without current from a copper bath. Will be on other metals as palladium to deposit the first metal layer turns, the substrate is turned into an electroless metallization Activation solution, for example a palladium chloride solution, immersed.

Durch Erzeugung einer dünnen Schicht von Palladium entstehen für die nachfolgende stromlose Metallabscheidung katalytisch wirkende Metall­ schichten, so daß eine weitere Aktivierung dieser Metallschichten, bei­ spielsweise mit edelmetallhaltigen Lösungen, nicht erforderlich ist. Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren werden kohlenstoff- und sauerstoff­ arme Metallschichten mittels Glimmentladung gebildet, so daß diese nicht mehr weiterbehandelt werden müssen, beispielsweise in einer Glimment­ ladung in Gegenwart reduzierender Gase, wie Wasserstoff.By creating a thin layer of palladium for the subsequent electroless metal deposition of catalytically active metal layers, so that further activation of these metal layers, at for example with solutions containing precious metals, is not required. With The process according to the invention uses carbon and oxygen poor metal layers formed by means of glow discharge, so that they do not need further treatment, for example in a glow charge in the presence of reducing gases such as hydrogen.

Als flüchtige Metallverbindungen kommen die nach dem Stand der Tech­ nik bekannten Verbindungen, beispielsweise Dimethyl-π-cyclopentadienyl- Platin, Dimethyl-Gold-acetylacetonat und insbesondere π-Allyl-π-cyclopen­ tadienyl-Palladium-(II), zum Einsatz. Die in den vorstehenden Druckschrif­ ten angegebenen Abscheidungsbedingungen sind auf die Erzeugung der Metallschichten nach dem erfindungsgemäßen Verfahren entsprechend übertragbar. As volatile metal compounds come according to the state of the art known compounds, for example dimethyl-π-cyclopentadienyl Platinum, dimethyl gold acetylacetonate and in particular π-allyl-π-cyclopen tadienyl-palladium (II). The in the previous publication The specified deposition conditions are based on the generation of the Metal layers according to the inventive method accordingly transferable.  

Vor der Metallabscheidung mittels Glimmentladung werden die Substrat­ oberflächen in einem Glimmentladungsverfahren mit einer oxidierenden Gasmischung, enthaltend Sauerstoff und inerte Gase, vorbehandelt. Diese Gasmischung enthält selbstverständlich keine flüchtigen Metallverbindun­ gen, da bei diesem Verfahrensschritt keine Metallschichten abgeschieden werden sollen.Before the metal deposition by means of glow discharge, the substrate surfaces in a glow discharge process with an oxidizing Gas mixture containing oxygen and inert gases, pretreated. This The gas mixture naturally does not contain any volatile metal compounds gene, since no metal layers were deposited in this process step should be.

Anschließend wird eine erste Metallschicht nach dem vorgenannten Ver­ fahren auf den Substratoberflächen niedergeschlagen. Danach kann zu einer Verstärkung der Metallschichtdicke eine zweite Metallschicht auf den Oberflächen mit einem stromlosen Metallisierungsbad abgeschieden werden. Hierzu wird vorzugsweise als stromloses Metallisierungsbad ein Nickel-, Kupfer-, Kobalt- oder Palladiumbad oder ein Bad zur Abscheidung von Legierungen dieser Metalle verwendet.Then a first metal layer according to the aforementioned Ver drive down on the substrate surfaces. After that, too a reinforcement of the metal layer thickness on a second metal layer the surfaces are deposited with an electroless plating bath will. For this purpose, an electroless plating bath is preferably used Nickel, copper, cobalt or palladium bath or a bath for deposition of alloys of these metals.

Zur Erzeugung haftfester Metallschichten ist die stromlose Abscheidung einer Nickel/Bor-Legierung besonders gut geeignet, da diese zur Erzeu­ gung von Metallstrukturen eines elektrischen Schaltungsträgers aus einer ganzflächigen Metallschicht leicht herausgeätzt werden kann.Electroless deposition is used to create adhesive metal layers a nickel / boron alloy is particularly well suited because it supply of metal structures of an electrical circuit carrier from a all-over metal layer can be easily etched out.

Das Verfahren kann ferner vorteilhaft zur Abscheidung der Metallschich­ ten auf Polyimidoberflächen eingesetzt werden, da das Substratmaterial dadurch schonend behandelt wird.The method can also be advantageous for the deposition of the metal layer ten on polyimide surfaces because the substrate material is treated gently.

Bei der Beschichtung von Polyimidfolien wird die zweite Metallschicht in einer bevorzugten Verfahrensvariante aus einem neutral oder sauer einge­ stellten stromlosen Metallisierungsbad abgeschieden. Ein Teil der mittels Glimmentladung abgeschiedenen Metallschicht weist nur eine geringe Haftfestigkeit zur Substratoberfläche auf. Dieser Teil wird durch die nach­ folgend stromlos abgeschiedene Metallschicht aus einem neutralen oder sauren Metallisierungsbad verfestigt, so daß der Gesamtverbund eine gute Haftfestigkeit aufweist. Die Haftfestigkeit derartiger Metallschichten wird auch durch Kontakt mit wäßrig-alkalischen Lösungen nicht verrin­ gert.When coating polyimide films, the second metal layer is in a preferred process variant from a neutral or acidic provided electroless plating bath deposited. Part of the means Glow discharge deposited metal layer shows only a slight Adhesion to the substrate surface. This part is followed by the subsequently electrolessly deposited metal layer from a neutral or acidic metallization bath solidified, so that the overall composite  has good adhesive strength. The adhesive strength of such metal layers is not reduced even by contact with aqueous alkaline solutions device.

Darüber hinaus nimmt Polyimid bei Verwendung neutraler oder saurer stromloser Metallisierungsbäder deutlich weniger Feuchtigkeit auf als bei Verwendung alkalischer stromloser Metallisierungsbäder, so daß nach der Behandlung auch weniger Hydroxylionen im Material zurückbleiben, die insbesondere bei thermischer Belastung des Substrats hydrolytisch (dis­ soziierend) wirken und den Haftverbund schwächen können. Es wurde festgestellt, daß die besten Ergebnisse mit stromlosen Metallisierungs­ bädern mit einem pH-Wert zwischen 2 und 7 erreicht werden.In addition, polyimide decreases when using neutral or acidic Electroless metallization baths have significantly less moisture than in Use of alkaline electroless plating baths, so that after the Treatment also leaves less hydroxyl ions in the material hydrolytically (dis can have a sociating effect and weaken the bond. It was found that the best results with electroless metallization baths with a pH between 2 and 7 can be achieved.

Nachfolgend werden exemplarische Ausführungsformen der Erfindung beschrieben:The following are exemplary embodiments of the invention described:

Als Substrate kommen verschiedene Materialien in Betracht: zum einen Polyimid, daneben aber auch Epoxidharze sowie deren Verbundwerkstoffe mit Glas- oder Kohlenstoffasern, Papierlagen oder anderen Füllstoffen, Polyetherimid, Keramiken sowie weitere Substratmaterialien. Polyimid wird in verschiedenen Handelsformen und Halbzeugarten eingesetzt: Ne­ ben Polyimidfolien als solchen können diese auch, verpreßt mit anderen Trägermaterialien, wie beispielsweise FR4-Material (Epoxidharz/Glasfaser) und Kupferfolien, in einem Schichtlaminat verwendet werden. Ferner kön­ nen plattenförmige Polyimidsubstrate ebenso wie Spin-Coating-Schichten nach dem erfindungsgemäßen Verfahren beschichtet werden. Unter Polyi­ mid ist hierbei auch solches Material zu verstehen, das aus gelöstem und/oder nachgehärtetem Polyimid erzeugt wird. Darüber hinaus können Polyimide mit unterschiedlicher chemischer Struktur eingesetzt werden. Das Material namens KAPTON H, Warenzeichen der Firma DuPont de Ne­ mours, Inc., Wilmington, Del., USA, ist ein Kondensationspolymeri­ sationsprodukt von Pyromellitsäuredianhydrid (PMDA) mit Diamino­ diphenylether (DDE). Das Material namens UPILEX, Warenzeichen der Fa. UBE Industries, Tokio, Japan dagegen ist aus einem Kondensationspro­ dukt aus 3,4,3′,4′-Biphenyl-tetracarbonsäuredianydrid (BPDA) mit DDE (UPlLEX-R) oder mit p-Phenylendiamin (PPD) (UPlLEX-S) hergestellt.Various materials can be considered as substrates: firstly Polyimide, but also epoxy resins and their composites with glass or carbon fibers, paper layers or other fillers, Polyetherimide, ceramics and other substrate materials. Polyimide is used in various forms of trade and semi-finished products: Ne ben polyimide films as such can also be pressed with others Backing materials, such as FR4 material (epoxy resin / glass fiber) and copper foils can be used in a layered laminate. Furthermore, plate-shaped polyimide substrates as well as spin coating layers are coated by the process according to the invention. Under Polyi mid is also to be understood as material that consists of dissolved and / or post-cured polyimide is produced. In addition, you can Polyimides with different chemical structures can be used. The material called KAPTON H, trademark of DuPont de Ne  mours, Inc., Wilmington, Del., USA, is a condensation polymer tion product of pyromellitic dianhydride (PMDA) with diamino diphenyl ether (DDE). The material called UPILEX, trademark of the company UBE Industries, Tokyo, Japan, on the other hand, is from a condensation pro derives from 3,4,3 ′, 4′-biphenyl-tetracarboxylic acid dianydride (BPDA) with DDE (UPlLEX-R) or with p-phenylenediamine (PPD) (UPlLEX-S).

Zur Herstellung elektrischer Schaltungsträger werden vor der Abschei­ dung der ersten Metallschicht mittels Glimmentladung gegebenenfalls Löcher in das Substrat gestanzt, gebohrt oder geätzt. Danach wird das perforierte Substrat gereinigt, beispielsweise mit einer Netzmittel enthal­ tenden wäßrigen Lösung.To manufacture electrical circuit carriers are before the Abschei formation of the first metal layer by means of glow discharge, if necessary Holes punched, drilled or etched into the substrate. After that it will perforated substrate cleaned, for example with a wetting agent tend aqueous solution.

Anschließend können die zu beschichtenden Oberflächen mittels Glimm­ entladung vorbehandelt werden. Beispielsweise werden die Oberflächen angeätzt, gereinigt und/oder mit reaktiven Gruppen funktionalisiert, indem die Gase mit den chemischen Gruppen an der Polyimidoberfläche reagie­ ren. Für die Vorbehandlung wird das Substrat in einen normalen Plasma­ reaktor, beispielsweise in einen Parallelplattenreaktor eingebracht, der als Rohr- oder Tunnelreaktor ausgebildet ist. Die Glimmentladung von etwa 1000 Watt zur Vorbehandlung kann sowohl mit Gleichstrom als auch mit Wechselstrom (Hochfrequenz im kHz- oder MHz-Bereich) erzeugt werden.The surfaces to be coated can then be coated with glow pre-treated discharge. For example, the surfaces etched, cleaned and / or functionalized with reactive groups by the gases react with the chemical groups on the polyimide surface Ren. For the pretreatment, the substrate is in a normal plasma reactor, for example introduced into a parallel plate reactor, which as Tube or tunnel reactor is formed. The glow discharge of about 1000 watts for pretreatment can be used with both direct current and Alternating current (high frequency in the kHz or MHz range) are generated.

Vorzugsweise werden die Oberflächen in Sauerstoff oder in einem Sauer­ stoff/Argon- oder Sauerstoff/Stickstoff-Gemisch angeätzt. Beispielsweise wird ein Sauerstoff/Argon-Gemisch mit einem Partialdruckverhältnis von 1 : 1 bei einem Gesamtdruck im Reaktor von etwa 8 Pa verwendet. Die Einwirkzeit beträgt in diesem Fall typischerweise 30 Minuten. In einer anderen Variante wird reiner Sauerstoff mit einem Druck von 0,25 hPa eingesetzt. Bei einer Glimmentladungsleistung wird das Substrat innerhalb von 90 Sekunden gereinigt. The surfaces are preferably in oxygen or in an acid Etched substance / argon or oxygen / nitrogen mixture. For example becomes an oxygen / argon mixture with a partial pressure ratio of 1: 1 used at a total pressure in the reactor of about 8 Pa. The In this case the exposure time is typically 30 minutes. In a Another variant is pure oxygen with a pressure of 0.25 hPa used. With a glow discharge power, the substrate becomes inside cleaned by 90 seconds.  

Die erste Metallschicht, die auch katalytisch aktiv und haftungsvermit­ telnd wirkt, wird auf die derart vorbehandelten Oberflächen durch Zerset­ zen flüchtiger Metallverbindungen aufgebracht. Hierzu wird ein inertes Trägergas durch einen Vorratsbehälter, der die meist flüssige metallorga­ nische Verbindung enthält, hindurchgeleitet. Das inerte Gas kann zusätz­ lich Sauerstoff enthalten. Wird dem Trägergas zum Hindurchleiten durch die flüssige Metallverbindung im Vorratsbehälter kein Sauerstoff zuge­ mischt, so wird dieser separat in den Plasmareaktor eingeleitet und ge­ langt auf diese Weise in die Glimmentladungszone. Bei der Zersetzung der Metallverbindungen entsteht, abhängig von den Beschichtungsbedingun­ gen, eine dünne hochreine Metallschicht mit einer Schichtdicke von 0,01 µm bis 0,1 µm.The first metal layer that is also catalytically active and adherent has a telend effect on the surfaces pretreated in this way by decomposition zen volatile metal compounds applied. For this, an inert Carrier gas through a reservoir that is the mostly liquid metal organ contains African connection, passed through. The inert gas can additionally Lich contain oxygen. Will pass through to the carrier gas the liquid metal compound in the storage container is not supplied with oxygen mixes, this is introduced separately into the plasma reactor and ge reaches the glow discharge zone in this way. When decomposing the Metal compounds are formed depending on the coating conditions gene, a thin high-purity metal layer with a layer thickness of 0.01 µm to 0.1 µm.

Für die Metallisierung werden normale Parallelplattenreaktoren verwendet, die als Tunnel- oder Rohrreaktoren ausgebildet sind. Bei der Metallisierung beträgt der Druck in der Behandlungskammer im allgemeinen 1 Pa bis 50 Pa. Meist wird eine nahe bei Raumtemperatur liegende Temperatur weit unterhalb 100°C im Laminat durch Variation der elektrischen Leistung der Glimmentladung eingestellt. Zur thermischen Schonung des Substrats wird eine zusätzliche Beheizung des Substrats vermieden. Diese ist auch nicht erforderlich.Normal parallel plate reactors are used for the metallization, which are designed as tunnel or tube reactors. With the metallization the pressure in the treatment chamber is generally 1 Pa to 50 Pa. Usually a temperature close to room temperature becomes wide below 100 ° C in the laminate by varying the electrical power of the Glow discharge set. For thermal protection of the substrate additional heating of the substrate is avoided. This is too not mandatory.

Auf diese Grundmetallschicht kann die zweite Metallschicht, beispiels­ weise eine Palladium-, eine Nickel/Bor-Legierungs- oder Nickel/Phosphor- Legierungsschicht, durch stromlose Metallisierung aus einem sauren oder neutralen Bad aufgebracht werden. Es kommen jedoch auch die Metalle Gold und Kobalt oder deren Legierungen sowie reines Nickel oder andere Legierungen des Kobalts in Betracht. Zum volladditiven Metallaufbau wird bevorzugt Palladium stromlos abgeschieden.On this base metal layer, the second metal layer, for example a palladium, a nickel / boron alloy or a nickel / phosphorus Alloy layer, by electroless metallization from an acid or neutral bath can be applied. However, the metals also come Gold and cobalt or their alloys as well as pure nickel or others Cobalt alloys. It becomes a fully additive metal structure preferably electrolessly deposited palladium.

Wird Palladium zur Erzeugung der Leiterzüge nach einer anderen Verfah­ rensweise als der Additiv-Technik, wie beispielsweise dem Semiadditiv- Verfahren, als zweite Metallschicht aufgebracht, muß darauf geachtet werden, daß diese Palladiumschicht nur in geringer Schichtdicke abge­ schieden wird. Dies ist erforderlich, da Palladium nur schwierig ätzbar ist und daher nur dann einfach von den Oberflächen entfernt werden kann, wenn das Ätzmittel die Schicht durch Poren durchdringen und die Palla­ diumschicht von unten her abheben kann.If palladium is used to generate the conductor tracks according to a different procedure  as the additive technique, such as the semi-additive Process, applied as a second metal layer, must be taken into account be that this palladium layer abge only in a small layer thickness will be divorced. This is necessary because palladium is difficult to etch and therefore can only be easily removed from the surfaces, when the etchant penetrates the layer through pores and the palla layer can lift off from below.

Als stromlose Metallisierungsbäder werden vorzugsweise die folgenden Badlösungen eingesetzt:The following are preferred as electroless plating baths Bathroom solutions used:

  • - stromloses Nickelbad mit Hypophosphit als Reduktionsmittel zur Erzeugung von Nickel/Phosphor-Schichten (anstelle von Nickelsal­ zen können auch Kobaltsalze zur Abscheidung von Kobalt/Phos­ phorschichten oder eine Mischung von Nickel- mit Kobaltsalzen zur Abscheidung von Nickel/Kobalt/Phosphor-Schichten verwendet werden);- Electroless nickel bath with hypophosphite as a reducing agent Production of nickel / phosphor layers (instead of nickel sal Cobalt salts can also be used to separate cobalt / phos layers or a mixture of nickel and cobalt salts Deposition of nickel / cobalt / phosphor layers used will);
  • - stromlose Nickelbäder mit Dimethylaminoboran als Reduktions­ mittel zur Erzeugung von Nickel/Bor-Schichten (als Reduktionsmit­ tel ist auch Diethylaminoboran anstelle von Dimethylaminoboran geeignet);- Electroless nickel baths with dimethylaminoborane as a reduction agent for the production of nickel / boron layers (as reducing agent tel is also diethylaminoborane instead of dimethylaminoborane suitable);
  • - stromlose Palladiumbäder mit Ameisensäure bzw. deren Derivaten als Reduktionsmittel;- Electroless palladium baths with formic acid or its derivatives as a reducing agent;
  • - stromloses Kupferbad mit Hypophosphit als Reduktionsmittel.- Electroless copper bath with hypophosphite as a reducing agent.

Außer den genannten Bädern können auch weitere Badtypen oder Bäder zur Abscheidung anderer Metalle verwendet werden. Diese Bäder sollten sauer oder neutral sein, d. h. vorzugsweise einen pH-Wert zwischen 2 und 6 max. 7 aufweisen.In addition to the baths mentioned, other bath types or baths can also be used can be used to deposit other metals. These baths should be acidic or neutral, d. H. preferably a pH between 2 and 6 max. 7 have.

Auf die zweite Metallschicht können weitere Metallschichten aus stromlo­ sen oder elektrolytischen Metallisierungsbädern niedergeschlagen werden. Wenn die zweite Metallschicht bereits eine ausreichende Schichtdicke aufweist, so daß sie porenfrei ist, können die darauf abgeschiedenen Metallschichten auch mit alkalischen Metallisierungsbädern erzeugt wer­ den. Hierzu kommen grundsätzlich alle abscheidbaren Metalle in Frage. Es werden die üblichen stromlosen und elektrolytischen Bäder eingesetzt.Further metal layers made of electroless can be placed on the second metal layer  or electrolytic metallization baths. If the second metal layer already has a sufficient layer thickness has so that it is pore-free, the deposited on it Metal layers are also created with alkaline metallization baths the. In principle, all separable metals can be used for this. It the usual electroless and electrolytic baths are used.

Die Substrate werden mit den wäßrigen Behandlungsbädern, beispiels­ weise beim stromlosen oder elektrolytischen Metallisieren, durch Eintau­ chen in die Behandlungslösungen, aber auch in sogenannten horizontalen Behandlungsanlagen, in denen die Behandlungslösungen durch Schwallen an die Substrate herangebracht werden, in Kontakt gebracht.The substrates are treated with the aqueous treatment baths, for example wise in electroless or electrolytic metallization, through thawing chen in the treatment solutions, but also in so-called horizontal Treatment plants in which the treatment solutions by gushing brought into contact with the substrates.

Der Kohlenstoff- und Sauerstoffgehalt der mittels Glimmentladung abge­ schiedenen Metallschichten kann beispielsweise mittels ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Application) ermittelt werden. Hierzu wird das beschichtete Substrat in eine Ultrahochvakuumkammer eingebracht und mit Röntgenstrahlen (Al-Kα oder Mg-Kα) belichtet. Die obersten Atomla­ gen der Metallschicht werden durch die energiereiche Strahlung angeregt und ionisiert, so daß Elektronen aus dem Material austreten. Deren Ener­ gie wird gemessen, so daß eine elementspezifische quantitative Analyse der Zusammensetzung der Metallschicht möglich ist.The carbon and oxygen content of the metal layers deposited by means of glow discharge can be determined, for example, by means of ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Application). For this purpose, the coated substrate is placed in an ultra-high vacuum chamber and exposed to X-rays (Al-K α or Mg-K α ). The uppermost atomic layers of the metal layer are excited and ionized by the high-energy radiation, so that electrons emerge from the material. Their energy is measured so that an element-specific quantitative analysis of the composition of the metal layer is possible.

Die nachfolgenden Beispiele dienen der Erläuterung der Erfindung. In allen Beispielen wurden die folgenden Bedingungen eingehalten:
Reaktortyp: Parallelplattenreaktor, Hochfrequenzspannung an der Sub­ stratelektrode,
The following examples serve to explain the invention. The following conditions were met in all examples:
Reactor type: parallel plate reactor, high-frequency voltage at the substrate electrode,

Frequenz: 13, 56 MHz,
Substrattemperatur: 35-45°C.
Frequency: 13, 56 MHz,
Substrate temperature: 35-45 ° C.

Beispiel 1 (Abscheidung von Palladium auf KAPTON H-Folie)Example 1 (deposition of palladium on KAPTON H film)

1. Vorbehandlung:
Gas: Sauerstoff,
Druck: 0,25 hPa,
Gasfluß: 100 Standard-cm³/min,
Hochfrequenzleistung: 1000 Watt,
Leistungsdichte: 0,8 W/cm²,
Behandlungszeit: 90 Sekunden;
1. Pretreatment:
Gas: oxygen,
Pressure: 0.25 hPa,
Gas flow: 100 standard cm³ / min,
High frequency power: 1000 watts,
Power density: 0.8 W / cm²,
Treatment time: 90 seconds;

2. Palladium-Abscheiden mittels Glimmentladung:
Metallorganische Verbindung: π-Allyl-π-cyclopentadienyl-Palladium-(II),
Gas: Ar/O₂ in einer Mischung 3 : 1 (Volumenverhältnis),
Druck: 0,1 hPa,
Gasfluß: 25 Standard-cm³/min,
Hochfrequenzleistung 600 Watt,
Leistungsdichte: 0,5 W/cm²,
Verdampfertemperatur: 45°C.
2. Palladium deposition using glow discharge:
Organometallic compound: π-allyl-π-cyclopentadienyl-palladium- (II),
Gas: Ar / O₂ in a 3: 1 mixture (volume ratio),
Pressure: 0.1 hPa,
Gas flow: 25 standard cc / min,
High-frequency power 600 watts,
Power density: 0.5 W / cm²,
Evaporator temperature: 45 ° C.

Es wurden 300 mg (Δ 1 ,4 mMol) der metallorganischen Verbindung ver­ dampft und in den Reaktor überführt. Hierzu wurden insgesamt 60 Standard-cm³ Sauerstoff in der Argon/Sauerstoff-Mischung verbraucht. In einem weiteren Versuch wurden 230 Standard-cm³ Sauerstoff ver­ braucht. In beiden Fällen wurden weitgehend kohlenstoffreie Palladium­ schichten erhalten. Unter der Annahme, daß durch Sauerstoff die Ligan­ den der metallorganischen Verbindung zu Kohlendioxid und Wasser oxi­ diert werden, würden im vorliegenden Fall 330 Standard-cm³ Sauerstoff erforderlich sein. 300 mg (Δ 1.4 mmol) of the organometallic compound were ver evaporates and transferred to the reactor. A total of 60 Standard cc of oxygen consumed in the argon / oxygen mixture. In In another experiment, 230 standard cm³ of oxygen were used needs. In both cases, largely carbon-free palladium get layers. Assuming that the Ligan that of the organometallic compound to carbon dioxide and water oxi 330 standard cc of oxygen would be dated in the present case to be required.  

Beispiel 2 (Abscheidung von Palladium auf KAPTON H-Folie mit nachfol­ gender stromloser und elektrolytischer Metallisierung)Example 2 (deposition of palladium on KAPTON H film with subsequent gender electroless and electrolytic metallization)

1. Vorbehandlung:
Gas: Sauerstoff,
Druck: 0,25 hPa,
Gasfluß: 100 Standard-cm³/min,
Hochfrequenzleistung: 1000 Watt,
Leistungsdichte: 0,8 W/cm²,
Behandlungszeit: 90 Sekunden;
1. Pretreatment:
Gas: oxygen,
Pressure: 0.25 hPa,
Gas flow: 100 standard cm³ / min,
High frequency power: 1000 watts,
Power density: 0.8 W / cm²,
Treatment time: 90 seconds;

2. Palladium-Abscheiden mittels Glimmentladung:
Metallorganische Verbindung: π-Allyl-π-cyclopentadienyl-Palladium-(II),
Gas: Ar/O₂ oder N₂/0₂, jeweils in einer Mischung 3 : 1 (Volumenverhält­ nis),
Druck: 0,1 hPa,
Gasfluß: 25 Standard-cm³/min,
Hochfrequenzleistung 600 Watt,
Leistungsdichte: 0,5 W/cm²
Verdampfertemperatur: 45°C,
Behandlungszeit: 10-15 Minuten,
2. Palladium deposition using glow discharge:
Organometallic compound: π-allyl-π-cyclopentadienyl-palladium- (II),
Gas: Ar / O₂ or N₂ / 0₂, each in a 3: 1 mixture (volume ratio),
Pressure: 0.1 hPa,
Gas flow: 25 standard cc / min,
High-frequency power 600 watts,
Power density: 0.5 W / cm²
Evaporator temperature: 45 ° C,
Treatment time: 10-15 minutes,

3. Nickel/Bor-Schicht aus einem schwach sauren Nickel/Bor-Bad mit Di­ methylaminoboran als Reduktionsmittel abscheiden:
Zusammensetzung beispielsweise:
Nickelsulfat (NiSO₄·5 H₂O) 40 g/l,
Dimethylaminoboran 4 g/l,
Natriumcitrat 20 g/l,
Milchsäure (85 Gew.-%ig) 10 g/l
in einer wäßrigen Lösung pH-Wert 7,0,
Temperatur: 40°C,
Behandlungszeit: 2 Minuten.
3. Deposit the nickel / boron layer from a weakly acidic nickel / boron bath with dimethylaminoborane as the reducing agent:
Composition, for example:
Nickel sulfate (NiSO₄.5 H₂O) 40 g / l,
Dimethylaminoborane 4 g / l,
Sodium citrate 20 g / l,
Lactic acid (85% by weight) 10 g / l
in an aqueous solution pH 7.0
Temperature: 40 ° C,
Treatment time: 2 minutes.

4. Elektrolytisch Kupfer abscheiden aus einem schwefelsauren Kupferbad (CUPRACID BL der Firma Atotech Deutschland GmbH, Berlin, DE):
Stromdichte: 2 A/dm²,
Schichtdicke: 25 µm.
4. Electrolytically deposit copper from a sulfuric acid copper bath (CUPRACID BL from Atotech Deutschland GmbH, Berlin, DE):
Current density: 2 A / dm²,
Layer thickness: 25 µm.

5. Beschichten der Metallschichten mit einem Trockenfilmresist (beispiels­ weise Riston-Typ der Firma DuPont de Nemours, Inc.):
Belichten,
Entwickeln in 1 Gew.-%iger Na₂CO₃-Lösung.
5. Coating the metal layers with a dry film resist (for example Riston type from DuPont de Nemours, Inc.):
Expose,
Develop in 1 wt .-% Na₂CO₃ solution.

6. Abätzen der Kupfer- und der Nickel/Bor-Schicht:
Ätzlösung: CuCl₂/HCl,
(Gesamt-Kupfergehalt: 1 20 g/l,
1,5 Gew.-% HCl, 40°C, NaCl gesättigt).
6. Etching the copper and the nickel / boron layer:
Etching solution: CuCl₂ / HCl,
(Total copper content: 1 20 g / l,
1.5% by weight HCl, 40 ° C, NaCl saturated).

7. Abätzen der Palladiumschicht:
Ätzlösung: HNO₃ konz./HCl konz.1 : 3, 1 : 1 mit Wasser verdünnt, Raumtemperatur,
Behandlungszeit: 15 Sekunden.
7. Etching off the palladium layer:
Etching solution: HNO₃ conc. / HCl conc. 1: 3, 1: 1 diluted with water, room temperature,
Treatment time: 15 seconds.

8. Trockenfilmresist in Aceton entfernen.8. Remove the dry film resist in acetone.

Beispiel 3 (Abscheiden von Palladium auf UPILEX S-Folie mit nachfolgen­ der stromloser und elektrolytischer Metallisierung)Example 3 (deposition of palladium on UPILEX S film followed by electroless and electrolytic metallization)

1. Vorbehandlung:
Gas: Sauerstoff,
Druck: 0,25 hPa,
Gasfluß: 100 Standard-cm³/min,
Hochfrequenzleistung: 1000 Watt,
Leistungsdichte: 0,8 W/cm²
Behandlungszeit: 90 Sekunden;
1. Pretreatment:
Gas: oxygen,
Pressure: 0.25 hPa,
Gas flow: 100 standard cm³ / min,
High frequency power: 1000 watts,
Power density: 0.8 W / cm²
Treatment time: 90 seconds;

2. Palladium-Abscheiden mittels Glimmentladung:
Metallorganische Verbindung: π-Allyl-π-cyclopentadienyl-Palladium-(II),
Gas: Ar/O₂ oder N₂/O₂, jeweils in einer Mischung 4 : 1 (Volumenverhält­ nis),
Druck: 0,1 hPa,
Gasfluß: 25 Standard-cm³/min,
Hochfrequenzleistung 600 Watt,
Leistungsdichte: 0,5 W/cm²
Verdampfertemperatur: 45°C,
Behandlungszeit: 10-15 Minuten,
2. Palladium deposition using glow discharge:
Organometallic compound: π-allyl-π-cyclopentadienyl-palladium- (II),
Gas: Ar / O₂ or N₂ / O₂, each in a 4: 1 mixture (volume ratio),
Pressure: 0.1 hPa,
Gas flow: 25 standard cc / min,
High-frequency power 600 watts,
Power density: 0.5 W / cm²
Evaporator temperature: 45 ° C,
Treatment time: 10-15 minutes,

3. Nickel/Bor-Schicht aus einem schwach sauren Nickel/Bor-Bad mit Di­ methylaminoboran als Reduktionsmittel abscheiden:
Zusammensetzung beispielsweise:
Nickelsulfat (NiSO₄·5H₂O) 50 g/l,
Dimethylaminoboran 2,5 g/l,
Natriumcitrat 25 g/I,
Milchsäure (85 Gew.-%ig) 25 g/l,
Thiodiglykolsäure 1 ,5 mg/l,
in einer wäßrigen Lösung pH-Wert 6 bis 7,
Temperatur: 40°C,
Behandlungszeit: 2 Minuten.
3. Deposit the nickel / boron layer from a weakly acidic nickel / boron bath with dimethylaminoborane as the reducing agent:
Composition, for example:
Nickel sulfate (NiSO₄.5H₂O) 50 g / l,
Dimethylaminoborane 2.5 g / l,
Sodium citrate 25 g / I,
Lactic acid (85% by weight) 25 g / l,
Thiodiglycolic acid 1.5 mg / l,
in an aqueous solution pH 6 to 7,
Temperature: 40 ° C,
Treatment time: 2 minutes.

4. Elektrolytisch Kupfer abscheiden aus einem schwefelsauren Kupferbad (CUPRACID BL der Firma Atotech Deutschland GmbH):
Stromdichte: 2 A/dm²,
Schichtdicke: 25 µm.
4. Electrolytically deposit copper from a sulfuric acid copper bath (CUPRACID BL from Atotech Deutschland GmbH):
Current density: 2 A / dm²,
Layer thickness: 25 µm.

5. Beschichten der Metallschichten mit einem Trockenfilmresist (beispiels­ weise Riston-Typ der DuPont de Nemours, Inc.)
Belichten,
Entwickeln in 1 Gew.-%iger Na₂CO₃-Lösung.
5. Coating the metal layers with a dry film resist (for example Riston type from DuPont de Nemours, Inc.)
Expose,
Develop in 1 wt .-% Na₂CO₃ solution.

6. Abätzen der Kupfer- und der Nickel/Bor-Schicht:
Ätzlösung: CuCl₂/HCl,
(Gesamt-Kupfergehalt: 120 g/l, 1,5 Gew.-% HCl, 40°C, NaCl gesättigt).
6. Etching the copper and the nickel / boron layer:
Etching solution: CuCl₂ / HCl,
(Total copper content: 120 g / l, 1.5% by weight HCl, 40 ° C, NaCl saturated).

7. Abätzen der Palladiumschicht:
Ätzlösung: HNO₃ konz./HCl konz.1 : 3, 1 : 1 mit Wasser verdünnt, Raumtemperatur,
Behandlungszeit: 15 Sekunden.
7. Etching off the palladium layer:
Etching solution: HNO₃ conc. / HCl conc. 1: 3, 1: 1 diluted with water, room temperature,
Treatment time: 15 seconds.

8. Trockenfilmresist in Aceton entfernen.8. Remove the dry film resist in acetone.

Nach Durchführung der Verfahren der Beispiele 2 und 3 werden haftfeste Metallschichten erhalten, die sowohl thermischen Behandlungen, wie beispielsweise einem Lötprozeß, oder auch der Behandlung in wäßrig-al­ kalischen Lösungen widerstehen, ohne daß die Haftfestigkeit absinkt.After performing the procedures of Examples 2 and 3, adherent Get metal layers that both thermal treatments, such as for example a soldering process, or the treatment in aqueous al withstand potassium solutions without reducing the adhesive strength.

Die Haftfestigkeit der Metallschichten auf der Substratoberfläche wird insbesondere durch eine Wärmebehandlung nach der Abscheidung der stromlos und elektrolytisch abgeschiedenen Metallschichten erhöht (bei­ spielsweise einstündiges Tempern bei 120°C). The adhesive strength of the metal layers on the substrate surface is in particular by heat treatment after the deposition of the Electrolessly and electrolytically deposited metal layers increased (at for example, one-hour annealing at 120 ° C).  

Anstelle von Argon kann in beiden Beispielen auch ein anderes Edelgas, beispielsweise Neon, verwendet werden, wobei dieselben Versuchsergeb­ nisse erhalten werden.Instead of argon, another noble gas, For example, neon can be used, the same experimental results nisse are preserved.

Werden anstelle der oxidierenden Gasmischung in den Beispielen in den Verfahrensschritten 2. jeweils nur inerte Gasmischungen ohne Sauerstoff verwendet, beispielsweise reiner Stickstoff oder reines Argon, so entste­ hen kohlenstoffhaltige Palladiumschichten bei der Abscheidung mittels Glimmentladung. Die bei der stromlosen und elektrolytischen Metallab­ scheidung erhaltenen Metallschichten weisen zwar auch eine hohe Haft­ festigkeit zur Substratoberfläche auf. Jedoch sinkt diese auf sehr kleine Werte, wenn die mit Kupferstrukturen versehene Polyimidfolie in Verfah­ rensschritt 5. in eine alkalische Entwicklerlösung getaucht wird.Instead of the oxidizing gas mixture in the examples in the Process steps 2. only inert gas mixtures without oxygen used, for example pure nitrogen or pure argon hen carbon-containing palladium layers during the deposition by means Glow discharge. The in the electroless and electrolytic Metallab Metal layers obtained by separation also have a high level of adhesion strength to the substrate surface. However, this drops to very small Values if the polyimide film provided with copper structures is in process Step 5 is immersed in an alkaline developer solution.

Claims (10)

1. Verfahren zum Abscheiden kohlenstoff- und sauerstoffarmer Me­ tallschichten auf Oberflächen elektrisch nichtleitender Substrate bei Temperaturen nahe Raumtemperatur durch Zersetzen flüchtiger Metallverbindungen auf den Substratoberflächen mittels eines Glimmentladungsverfahrens in Gegenwart von inerten Gasen, nach Patent 4438 791 (Patentanmeldung P 4438791.1), dadurch ge­ kennzeichnet, daß die flüchtigen Metallverbindungen in zusätzli­ cher Gegenwart von Sauerstoff zersetzt werden.1. Process for depositing low-carbon and low-oxygen metal layers on surfaces of electrically non-conductive substrates at temperatures close to room temperature by decomposing volatile metal compounds on the substrate surfaces by means of a glow discharge process in the presence of inert gases, according to patent 4438 791 (patent application P 4438791.1), characterized in that that the volatile metal compounds are decomposed in the additional presence of oxygen. 2. Verfahren zur Metallisierung von Oberflächen elektrisch nichtleiten­ der Substrate bei Temperaturen nahe Raumtemperatur mit den we­ sentlichen Verfahrensschritten:
  • - Vorbehandeln der Oberflächen mittels eines Glimmentla­ dungsverfahrens mit einer oxidierenden Gasmischung, ent­ haltend Sauerstoff und inerte Gase,
  • - Abscheiden einer ersten Metallschicht auf den Oberflächen durch Zersetzen flüchtiger Metallverbindungen auf den Sub­ stratoberflächen mittels eines Glimmentladungsverfahrens in Gegenwart von inerten Gasen und Sauerstoff,
  • - Abscheiden einer zweiten Metallschicht auf den Oberflächen mit einem stromlosen Metallisierungsbad.
2. Process for the metallization of electrically non-conductive surfaces of the substrates at temperatures close to room temperature with the essential process steps:
  • - pretreating the surfaces by means of a glow discharge process with an oxidizing gas mixture containing oxygen and inert gases,
  • Depositing a first metal layer on the surfaces by decomposing volatile metal compounds on the substrate surfaces by means of a glow discharge process in the presence of inert gases and oxygen,
  • - Deposition of a second metal layer on the surfaces with an electroless metallization bath.
3. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß als inerte Gase Stickstoff und Edelgase ver­ wendet werden.3. The method according to any one of the preceding claims, characterized characterized in that the inert gases are nitrogen and noble gases be applied. 4. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch ge­ kennzeichnet, daß das Verhältnis des Partialdruckes von Sauerstoff zu dem der inerten Gase in der Gasmischung auf einen Wert zwi­ schen 2 : 1 und 1 : 8, vorzugsweise zwischen 1 : 3 und 1 : 4, einge­ stellt wird.4. The method according to any one of the preceding claims, characterized ge indicates that the ratio of the partial pressure of oxygen to which the inert gases in the gas mixture to a value between 2: 1 and 1: 8, preferably between 1: 3 and 1: 4 is posed. 5. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Partialdruck der Gasmischung bei der Zerset­ zung der flüchtigen Metallverbindungen auf einen Wert zwischen 1 Pa und 50 Pa eingestellt wird.5. The method according to any one of the preceding claims, characterized ge indicates that the partial pressure of the gas mixture during the decomposition volatile metal compounds to a value between 1 Pa and 50 Pa is set. 6. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch ge­ kennzeichnet, daß als flüchtige Metallverbindungen Palladiumver­ bindungen verwendet werden.6. The method according to any one of the preceding claims, characterized ge indicates that as volatile metal compounds Palladiumver bindings are used. 7. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch ge­ kennzeichnet, daß als elektrisch nichtleitendes Substrat Polyimid verwendet wird.7. The method according to any one of the preceding claims, characterized ge characterizes that as an electrically non-conductive substrate polyimide is used. 8. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch ge­ kennzeichnet, daß als stromloses Metallisierungsbad ein Nickel-, Kupfer-, Kobalt-, Palladium- oder Legierungsbad dieser Metalle ver­ wendet wird.8. The method according to any one of the preceding claims, characterized ge  indicates that a nickel, Copper, cobalt, palladium or alloy bath of these metals ver is applied. 9. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch ge­ kennzeichnet, daß als zweite Metallschicht eine Nickel/Bor-Legie­ rung stromlos abgeschieden wird.9. The method according to any one of the preceding claims, characterized ge indicates that a nickel / boron alloy is used as the second metal layer is deposited without current. 10. Verwendung der mit einem Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9 metallisierten Substrate zur Herstellung elektrischer Schal­ tungsträger.10. Use of a method according to one of claims 1 up to 9 metallized substrates for the production of electrical scarf executives.
DE19538531A 1994-10-18 1995-10-09 Process for the deposition of metal layers Withdrawn DE19538531A1 (en)

Priority Applications (12)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19538531A DE19538531A1 (en) 1994-10-18 1995-10-09 Process for the deposition of metal layers
EP95935818A EP0787224B1 (en) 1994-10-18 1995-10-18 Process for separating metal coatings
JP51285696A JP3210675B2 (en) 1994-10-18 1995-10-18 Metal layer deposition method
AU38003/95A AU3800395A (en) 1994-10-18 1995-10-18 Process for separating metal coatings
DE59503637T DE59503637D1 (en) 1994-10-18 1995-10-18 METHOD FOR DEPOSITING METAL LAYERS
PCT/DE1995/001501 WO1996012051A1 (en) 1994-10-18 1995-10-18 Process for separating metal coatings
US08/817,337 US6221440B1 (en) 1994-10-18 1995-10-18 Process for plating metal coating
DE19581161T DE19581161D2 (en) 1994-10-18 1995-10-18 Process for the deposition of metal layers
AT95935818T ATE171225T1 (en) 1994-10-18 1995-10-18 METHOD FOR DEPOSING METAL LAYERS
CA002203024A CA2203024A1 (en) 1994-10-18 1995-10-18 Process for plating metal coatings
TW84114090A TW403793B (en) 1995-10-09 1995-12-28 A method to deposit metal layer
US09/840,367 US6403168B2 (en) 1994-10-18 2001-04-23 Process for plating metal coatings

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19944438791 DE4438791C2 (en) 1994-10-18 1994-10-18 Substrate provided with metallized polyimide surfaces
DE19538531A DE19538531A1 (en) 1994-10-18 1995-10-09 Process for the deposition of metal layers

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE19538531A1 true DE19538531A1 (en) 1997-04-10

Family

ID=54063323

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19538531A Withdrawn DE19538531A1 (en) 1994-10-18 1995-10-09 Process for the deposition of metal layers

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE19538531A1 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19729891A1 (en) * 1997-07-12 1999-01-14 Hartmut Sauer Equipment modifying plastic surfaces using accelerated silicon carbide grit blaster followed by plasma treatment
DE19851579A1 (en) * 1998-11-09 2000-05-11 Fraunhofer Ges Forschung Metallized plastic for metallizing decorative plastics, for shower fittings, and as housings for computers and mobile phones shows strong adhesion of the metal coating to the plastics surface especially when activated
AT517633A1 (en) * 2015-09-11 2017-03-15 Technische Universität Wien Texturing of polyimide surfaces by oxygen plasma treatment

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19729891A1 (en) * 1997-07-12 1999-01-14 Hartmut Sauer Equipment modifying plastic surfaces using accelerated silicon carbide grit blaster followed by plasma treatment
DE19729891B4 (en) * 1997-07-12 2006-12-21 AHC-Oberflächentechnik GmbH & Co. OHG Method for targeted roughening of plastic surfaces and apparatus for carrying out the method
DE19851579A1 (en) * 1998-11-09 2000-05-11 Fraunhofer Ges Forschung Metallized plastic for metallizing decorative plastics, for shower fittings, and as housings for computers and mobile phones shows strong adhesion of the metal coating to the plastics surface especially when activated
DE19851579B4 (en) * 1998-11-09 2005-06-30 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Metallised plastic and process for its production
AT517633A1 (en) * 2015-09-11 2017-03-15 Technische Universität Wien Texturing of polyimide surfaces by oxygen plasma treatment

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0787224B1 (en) Process for separating metal coatings
DE69131900T2 (en) Delamination resistant metal film laminate
DE69733530T3 (en) FLEXIBLE COMPOSITE WITHOUT ADHESIVE AND METHOD FOR THE PRODUCTION THEREOF
US4975327A (en) Polyimide substrate having a textured surface and metallizing such a substrate
EP0259754A2 (en) Flexible circuits
DE3200301A1 (en) RELAXATION THROUGH ELECTROMAGNETIC RADIATION FOR OBJECTS THAT ARE MADE OF POLYSULPHONES
EP0321734A1 (en) Process for the production of strongly adhering metallic structures on fluoropolymers and thermoplastic materials
DE3012889C2 (en) Base material for the manufacture of printed circuits
KR100495531B1 (en) Microporous copper film and electroless copper plating solution for obtaining the same
EP1080247B1 (en) Method for producing metallized substrate materials
DE102004019877A1 (en) Adhesive layer for gluing resin to a copper surface
DE3800682A1 (en) METHOD FOR PRODUCING ELECTRIC PCB
EP0195332B1 (en) Printed circuits
EP0406678A1 (en) Swelling agent for the pre-treatment of polymers to be plated by electrolysis
DE19538531A1 (en) Process for the deposition of metal layers
DE4438791C2 (en) Substrate provided with metallized polyimide surfaces
DE3806587A1 (en) METHOD FOR PRODUCING RESOLVED METALLIC STRUCTURES ON POLYIMIDE
EP0197323A2 (en) Printed circuits
EP0788727B1 (en) Process for manufacturing electrical circuit bases
EP0650537B1 (en) Metallisation of plastics
CH659428A5 (en) METHOD FOR RELAXING AND / OR STABILIZING AGAINST THE DEVELOPMENT OF TENSION CRACKS OF AN AT LEAST PARTIAL OBJECT OF A POLYMER.

Legal Events

Date Code Title Description
AF Is addition to no.

Ref country code: DE

Ref document number: 4438791

Format of ref document f/p: P

8143 Withdrawn due to claiming internal priority