DE19536072A1 - Adjusting control resistor - Google Patents
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Abstract
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Abgleich eines Stellwiderstandes gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.The invention relates to a method for adjusting a variable resistor according to the Preamble of claim 1.
Es ist bekannt, Stellwiderstände, mit zwei nebeneinander verlaufenden Widerstands bahnen, mittels einer Nachbildung eines stellbaren Schleiferkontaktes abzugleichen. Die dabei abgegriffene Größe entspricht der Kennlinie des Stellwiderstandes, auf die abgeglichen wird. Diese Nachbildung hat den Nachteil, daß komplizierte Führungsmechaniken erforder lich sind. Der Abgleich selber erfolgt beispielsweise mittels Laserabtrag der Wider standsschichten.It is known, variable resistors, with two juxtaposed resistors paths, by means of a replica of an adjustable wiper contact. The size tapped corresponds to the characteristic curve of the variable resistor to which is compared. This replica has the disadvantage that it requires complicated guide mechanisms are. The adjustment itself is carried out, for example, by laser ablation of the contra stand layers.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, den Abgleich ohne die komplizierte Stellmechanik durchzuführen.The invention has for its object the adjustment without the complicated Perform actuating mechanism.
Diese Aufgabe wird durch die im Patentanspruch 1 aufgeführten Merkmale gelöst. Durch das Kurzschließen der Widerstandsbahnen mittels kurzschließenden Leiterbah nen wird nicht nur auf die komplizierte Stellmechanik verzichtet, es kann auch schnel ler abgeglichen werden. Außerdem sind nach Trennung der kurzschließenden Leiterbahnen die verbleibenden Reste dieser Leiterbahnen Grundlage für den Abgriff des Stellwiderstandes.This object is achieved by the features listed in claim 1. By short-circuiting the resistance tracks using a short-circuiting conductor track Not only is there no need for complicated adjustment mechanisms, it can also be done quickly be compared. In addition, after the short-circuiting conductors have been separated, the remaining ones are Remains of these conductor tracks are the basis for tapping the variable resistor.
Vorteilhafte Ausführungen sind in den Ansprüchen 2 bis 6 enthalten. Advantageous embodiments are contained in claims 2 to 6.
Nach dem Durchtrennen der ersten überbrückenden Leiterbahn liegt der zweite bzw. ein weiterer Meßpunkt direkt an der einmal angeschlossenen Meßanordnung an. Auch entfällt eine exakte Positionierung des nachgebildeten Schleiferkontaktes. Ein weiterer Vorteil liegt darin, daß die für dieses Verfahren geschaffene Leiterbahnmas ke für alle Stellwiderstände mit gleicher Kennlinie verwendbar ist.After severing the first bridging conductor track, the second or another measuring point directly on the measuring arrangement once connected. There is also no need for an exact positioning of the reproduced wiper contact. On Another advantage is that the conductor track mask created for this process ke can be used for all variable resistors with the same characteristic.
Die erfinderische Lösung wird nachfolgend an einem Ausführungsbeispiel mit Zeichnung beschrieben. Es zeigen:The inventive solution is described below using an exemplary embodiment Drawing described. Show it:
Fig. 1 eine schematische Darstellung der überbrückenden Leiterbahnen, Fig. 1 is a schematic representation of the bridging conductor tracks,
Fig. 1a eine schematische Darstellung der getrennten Leiterbahnen nach Fig. 1, FIG. 1a is a schematic representation of the separate conductor tracks according to Fig. 1,
Fig. 2 eine elektrische Darstellung des Schichtwiderstandes mit den überbrücken den Leiterbahnen und den dabei in Einzelwiderständen aufgeteilten Wider standsbahnen nach Fig. 1, Fig. 2 is an electrical representation of the film resistor with the bridge the conductors and the thereby divided into individual resistors Resist was tracks of FIG. 1,
Fig. 3 eine weitere schematische Darstellung der überbrückenden Leiterbahnen, Fig. 3 shows another schematic representation of the bridging conductor tracks,
Fig. 4 eine schematische Darstellung der getrennten Leiterbahnen nach Fig. 3. Fig. 4 is a schematic representation of the separate conductor tracks of FIG. 3.
Wie in Fig. 1 dargestellt, werden einem Stellwiderstand Rg mittels bekanntem Siebdruckverfahren und einer dazu notwendigen Siebdruckmaske mehrere Wider standsbahnen R1, R2 mit einander überbrückende Leiterbahnen 1.1 bis 1.9 aufge bracht. Dies erfolgt in der Regel vor dem Auftrag der Widerstandsschichten zur Schaffung der Widerstandsbahnen R1 und R2. Die Siebdruckmaske ist dabei so gestaltet, daß die Leiterbahnen 1.1 bis 1.9 mehrere Meß- und Kontrollpositionen 2.1 bis 2.9 eines Schleiferkontaktes, die einer Kennlinie des Stellwiderstandes Rg ent sprechen soll, beinhaltet, d. h. nachbilden. An diesen Abgriffs- bzw. Meßpunkten 2.1 bis 2.9 überbrücken die Leiterbahnen 1.1 bis 1.9 die beiden Widerstandsbahnen R1, R2. Die Widerstandsbahnen R1 und R2 sind einseitig mit einer bekannten und daher nicht näher beschriebenen Meßanordnung 3 verbunden. In dieser Meßanordnung 3 voreingestellt ist die Kennlinie des abzugleichenden Stellwiderstandes Rg. As shown in Fig. 1, a variable resistor Rg by means of a known screen printing method and a screen printing mask required for this purpose, several resistance tracks R1, R2 with mutually bridging interconnects 1.1 to 1.9 are brought up. This is usually done before the resistance layers are applied to create the resistor tracks R1 and R2. The screen printing mask is designed in such a way that the conductor tracks 1.1 to 1.9 contain several measurement and control positions 2.1 to 2.9 of a wiper contact, which should correspond to a characteristic curve of the variable resistor Rg, that is to emulate them. At these tapping or measuring points 2.1 to 2.9 , the conductor tracks 1.1 to 1.9 bridge the two resistance tracks R1, R2. The resistance tracks R1 and R2 are connected on one side to a known and therefore not described measuring arrangement 3 . In this measuring arrangement 3 the characteristic of the variable resistor Rg to be adjusted is preset.
Entsprechend dem Sollwert des ersten Meßpunktes 2.1 wird der Stellwiderstand Rg.1 auf diesen abgeglichen. Dabei erfolgt beispielsweise durch einen Laser ein Abgleich mittels Trimmen der Widerstandsbahnen R1 und R2 nach an sich bekannter Methode. Nach dem Trimmen wird die an diesem Meßpunkt 2.1 liegende über brückende Leiterbahn 1.1 getrennt, beispielsweise gleichfalls mittels Laserabtrag. An der Meßanordnung 3 liegt zu diesem Zeitpunkt nach Durchtrennung der Leiterbahn 1.1 ein weiterer Meßpunkt 2.2 für den Abgleich auf die Kennlinie an. Auf diesen zweiten Meßpunkt 2.2 wird der Stellwiderstand Rg.2 ebenfalls mittels Laserabgleich getrimmt und die an dieser Stelle überbrückende Leiterbahn 1.2 getrennt. Dieser Verfahrens ablauf wiederholt sich solange, bis jeder einzelne Meßpunkt 2.1 bis 2.9 abgearbeitet und somit die voreingestellte Kennlinie mit der Kennlinie des Stellwiderstandes Rg übereinstimmt. Nach dem Auftrennen (Fig. 1a) liegen somit zwei voneinander getrennte Widerstandsanordnungen vor, die in Reihe geschaltet den jeweiligen Meßpunkt ergeben. Während des Abgleichens simuliert die Kurzschlußbrücke in Form der überbrückenden Leiterbahnen 1.1 bis 1.9 die Reihenschaltung.The variable resistor Rg.1 is adjusted to the setpoint of the first measuring point 2.1 . In this case, for example, a laser is used for trimming the resistance tracks R1 and R2 according to a method known per se. After trimming, the one located at this measuring point 2.1 via bridging conductor track 1.1 is separated, for example likewise by laser ablation. Is located on the measuring device 3 at this time to cut through the conductor, a further measuring point of 1.1 2.2 for the adjustment on the characteristic line. The variable resistor Rg.2 is also trimmed to this second measuring point 2.2 by means of laser adjustment and the conductor track 1.2 bridging at this point is separated. This procedure is repeated until each individual measuring point 2.1 to 2.9 is processed and thus the preset characteristic curve matches the characteristic curve of the variable resistor Rg. After the separation ( FIG. 1a) there are two separate resistor arrangements which, when connected in series, give the respective measurement point. During the adjustment, the short-circuit bridge in the form of the bridging conductor tracks 1.1 to 1.9 simulates the series connection.
Fig. 2 zeigt den elektrischen Zusammenhang zwischen den Widerstandsbahnen R1 und R2 mit den überbrückenden Leiterbahnen 1.1 bis 1.9. Wie dargestellt werden die Widerstandsbahnen R1 und R2 durch die überbrückenden Leiterbahnen 1.1 bis 1.9 in einzelne Teilwiderstände R1.1 bis R1.9 und R2.1 bis R2.9 gegliedert. An den Meß punkten 2.1 der Widerstandsbahnen R1 und R2 liegen über die Leiterbahn 1.1 die Teilwiderstände R1.1 und R2.1 in Summe als Rg.1 in Reihe zur Meßanordnung 3. Durch Laserabtrag wird dieser Widerstand Rg.1 auf seinen Sollwiderstand in der Kennlinie abgeglichen. Nach Sollwerteinstellung erfolgt die Auftrennung der Leiter bahn 1.1. Zu diesem Zeitpunkt liegen nun über die Leiterbahn 1.2 die Teilwiderstände R1.1, R1.2 und R2.1, R2.2 in Summe als Rg.2 in Reihe zur Meßanordnung 3. Es kann nun an den Meßpunkten 2.2 auf diesen Widerstandssollwert der Kennlinie abgeglichen werden. Bei Einstellung wird die Leiterbahn 1.2 aufgetrennt und die Meß punkte 2.3 liegen an der Meßanordnung 3 an. Hierbei befinden sich R1.1, R1.2, R1.3 und R2.1, R2.2, R2.3 in Summe als Rg.3 und in Reihe zur Meßanordnung 3. Fig. 2 shows the electrical connection between the resistance tracks R1 and R2 with the bridging conductor tracks 01/01 to 09/01. As shown, the resistor tracks R1 and R2 are divided into individual partial resistors R1.1 to R1.9 and R2.1 to R2.9 by the bridging conductor tracks 1.1 to 1.9 . At the measuring points 2.1 of the resistor tracks R1 and R2, the partial resistors R1.1 and R2.1 are in total as Rg.1 in series with the measuring arrangement 3 via the conductor track 1.1 . This resistance Rg.1 is adjusted to its target resistance in the characteristic curve by laser ablation. After setting the setpoint, the conductor 1.1 is separated . At this time, the partial resistances R1.1, R1.2 and R2.1, R2.2 are now in total as Rg.2 in series with the measuring arrangement 3 via the conductor track 1.2 . It can now be adjusted to this resistance setpoint of the characteristic at measuring points 2.2 . When setting the conductor 1.2 is cut and the measuring points 2.3 are on the measuring arrangement 3 . Here are R1.1, R1.2, R1.3 and R2.1, R2.2, R2.3 in total as Rg.3 and in series with the measuring arrangement 3 .
Dieses passiert solange, bis alle kurzschließenden Leiterbahnen 1.1 bis 1.9 aufge trennt sind, womit der Stellwiderstand Rg seiner Kennlinie entsprechend verwendet werden kann, d. h. die verbliebenen Teile der ehemals kurzschließenden Leiterbahnen 1.1 bis 1.9 sind für den Schleiferkontakt als Abgriffspositionen nutzbar.This happens until all short-circuiting tracks 1.1 to 1.9 are separated, which means that the variable resistor Rg can be used in accordance with its characteristic curve, ie the remaining parts of the formerly short-circuiting tracks 1.1 to 1.9 can be used as tap positions for the wiper contact.
In Fig. 3 dargestellt ist der Verlauf von überbrückenden Leiterbahnen 1.1 bis 1.5 bei versetzten Widerständen R1.1 bis R1.6 und R2.1 bis R2.5. Hierbei weisen die Leiter bahnen 1.1 bis 1.5 eine Y-artige Form auf, an denen sich die Meßpunkte 2.1 bis 2.5 befinden.The course of bridging conductor tracks 1.1 is shown in Fig. 3 to 1.5 at staggered resistors R1.1 to R1.6 and R2.1 to R2.5. Here, the conductor tracks 1.1 to 1.5 have a Y-like shape, at which the measuring points 2.1 to 2.5 are located.
Durch diese Form ist ein feinerer Widerstandsabgleich an den Teilwiderständen R1.1 bis R1.6 und R2.1 bis R2.5 als gesamten Stellwiderstand Rg möglich. Das erfinderi sche Verfahren läuft dabei identisch, jedoch mit kleineren Abgleichschritten ab. Die überbrückenden Leiterbahnen 1.1 bis 1.5 werden in Teilstrecken 1.1′ bis 1.5′ und 1.1′′ bis 1.5′′ getrennt (siehe Fig. 4).This form enables a finer resistance adjustment at the partial resistors R1.1 to R1.6 and R2.1 to R2.5 as the total variable resistor Rg. The inventive method runs identically, but with smaller adjustment steps. The bridging interconnects 1.1 to 1.5 are separated in sections 1.1 'to 1.5 ' and 1.1 '' to 1.5 '' (see Fig. 4).
Dies geschieht folgendermaßen: An den Meßpunkten 2.1 liegen der Teilwiderstand R1.1 und R2.1 in Reihe zur Meßanordnung 3. Nach Auftrennung der Leiterbahn 1.1′ liegen nun die Meßpunkte 2.2 der Widerstandsbahn R1 und 2.1 der Widerstandsbahn R2 an der Meßanordnung 3 an. Somit sind die Teilwiderstände R1.1, R1.2 und R2.1 in Summe als Rg.2 in Reihe zur Meßanordnung 3. Wird nun die Leiterbahn 1.1′′ aufgetrennt, befinden sich die Meßpunkte 2.2 beider Widerstandsbahnen R1 und R2 an der Meßanordnung 3. Die Abgleichschritte wiederholen sich auch hier bis zur vollständigen Einstellung der Kennlinie des Stellwiderstandes Rg.This is done as follows: At measuring points 2.1 , partial resistors R1.1 and R2.1 are in series with measuring arrangement 3 . After disconnection of the conductor track 1.1 ', the measuring points 2.2 of the resistance track R1 and 2.1 of the resistance track R2 are now at the measuring arrangement 3 . The partial resistors R1.1, R1.2 and R2.1 are thus in total as Rg.2 in series with the measuring arrangement 3 . If the conductor path 1.1 '' is now separated, the measuring points 2.2 of both resistance paths R1 and R2 are located on the measuring arrangement 3 . The adjustment steps are repeated here until the characteristic of the variable resistor Rg is completely set.
Ein noch feinerer Abgleich ergibt sich aus einer versetzten Y-artigen oder einer X-artigen Struktur der Leiterbahnen 1.1 bis 1.5, soll aber nur erwähnt werden.An even finer adjustment results from an offset Y-like or an X-like structure of the conductor tracks 1.1 to 1.5 , but should only be mentioned.
Claims (6)
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DE1995136072 DE19536072C2 (en) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | Procedure for adjusting a variable resistor |
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- 1995-09-28 DE DE1995136072 patent/DE19536072C2/en not_active Expired - Fee Related
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DE19536072C2 (en) | 1999-06-02 |
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