DE19522960C2 - Procedure for determining the transverse offset of sample edges - Google Patents

Procedure for determining the transverse offset of sample edges

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Description

Anwendungsgebiet der ErfindungField of application of the invention

Die Erfindung bezieht sich auf die Bestimmung des Querversatzes von Musterkanten während des Transportes, z. B. bei der Rollenführung oder beim Längsschneiden von Verpackungsmaterial.The invention relates to the determination of the transverse offset of pattern edges during transportation, e.g. B. in the roller guide or slitting Packing material.

Charakteristik des bekannten Standes der TechnikCharacteristic of the known prior art

Um den Querversatz von Verpackungsaufdrucken gegenüber einer Schneidkante zu bestimmen, ist es bekannt, am Rand der Bahn einen Streifen mit zu drucken und die Position des Streifens durch einen optoelektronischen Sensor zu ermitteln. Da der Streifen einen festen Abstand zur Musterkante aufweist, kann dadurch auch indirekt die Position der Musterkante ermittelt werden, um z. B. den Längsschnitt mit einem festen Abstand zum Verpackungsdruck durchzuführen. Nachteilig bei derartigen Systemen ist jedoch der zusätzliche Platzbedarf für den Steuerstreifen, der in der Regel wieder entfernt werden muß.To offset the offset of packaging prints against a cutting edge determine, it is known to print a strip on the edge of the web and the Determine the position of the strip using an optoelectronic sensor. Since the Stripe has a fixed distance to the pattern edge, can also indirectly Position of the pattern edge can be determined, for. B. the longitudinal section with a fixed Distance to the packaging printing. A disadvantage of such systems is however, the additional space required for the tax strip, which is usually again must be removed.

Ziel der ErfindungAim of the invention

Ziel der Erfindung ist eine meßtechnische Erfassung der Kantenposition von sich wiederholenden Mustern quer zur Transportrichtung während des Transportes, ohne den zusätzlichen Platzbedarf eines Steuerstreifens auf der Bahn. The aim of the invention is a metrological detection of the edge position itself repeating patterns perpendicular to the direction of transport during transport without the additional space requirement of a control strip on the track.  

Darlegung des Wesens der ErfindungState the nature of the invention

Erfindungsgemäß wird dies für wiederholt wiederkehrende Muster auf Bahnen während des Transportes dadurch erreicht, daß ein optoelektronischer Sensor mit einem Meßfenster die Intensität des von der Druckvorlage reflektierten Lichtes erfaßt und verarbeitet, wobeiAccording to the invention, this is used for repetitive patterns on webs during of transport achieved in that an optoelectronic sensor with a Measurement window detects the intensity of the light reflected from the artwork and processed, where

  • - die Länge des Meßfensters so gewählt wird, daß die Meßfensterlänge mit der Länge des sich wiederholenden Bildfensters übereinstimmt, in dem sich das Muster befindet,- The length of the measuring window is chosen so that the measuring window length with the length of the repeating image window in which the pattern is located,
  • - die Breite des Meßfensters so gewählt wird, daß die Meßfensterbreite in Referenzposition zum einen Teil von der links- oder rechtseitigen Begrenzung des Muster und zum anderen Teil von der Hintergrundfarbe bedeckt wird, die sich quer zur Transportrichtung neben der links- oder rechtsseitigen Musterbegrenzung befindet,- The width of the measuring window is chosen so that the measuring window width in Part of the reference position from the left or right limit of the Pattern and the other part is covered by the background color, which is transverse to the Transport direction is next to the left or right side pattern boundary,
  • - das während einer Bildfensterlänge im Meßfenster vom optoelektronischen Sensor erfaßte Intensitätssignal über die Länge des Bildfensters integriert, anschließend auf einen Referenzwert normiert und das Ergebnis als Maß für die Querposition der Muster verwendet wird.- That during an image window length in the measurement window from the optoelectronic sensor Detected intensity signal integrated over the length of the image window, then on normalizes a reference value and the result as a measure of the transverse position of the Pattern is used.

Der Referenzwert kann zweckmäßigerweise der über eine Musterlänge gemessene Intensitätswert des Meßfensters sein, wenn die Mittellinie des Meßfensters entweder mit der rechts- oder mit der linksseitigen Begrenzung des Musters übereinstimmt.The reference value can expediently be the one measured over a sample length Intensity value of the measuring window if the center line of the measuring window is either with that matches the right or left boundary of the pattern.

Die Breite des Meßfensters wird zweckmäßigerweise dem Meßbereich und der Auflösung angepaßt.The width of the measuring window is expediently the measuring range and Adjusted resolution.

Die Integration des im Meßfenster erfaßten Intensitätssignals kann durch eine geeignete Optik, z. B. durch eine Zylinderlinsenoptik, oder durch eine lineare Abbildung eines Meßfensterabschnittes mit anschließender analoger oder digitaler Integration der einzelnen Meßfensterabschnitte erfolgen.The integration of the intensity signal detected in the measuring window can be done by a suitable Optics, e.g. B. by a cylindrical lens optics, or by a linear imaging of a Measuring window section with subsequent analog or digital integration of the individual measurement window sections.

Bei einer Querverschiebung des Musters ändert sich die Position des Meßfensters relativ zur Begrenzung des Musters. Damit ändert sich auch die Intensität des reflektierten Lichtes. Bei weißem Hintergrund und grauen oder farbigen Mustern wird die Intensität des reflektierten Lichtflecks größer, wenn die Querverschiebung das Muster aus dem Meßfenster heraus laufen läßt. Die Intensität wird kleiner, wenn das Muster sich in das Meßfenster bewegt. Damit ist die im Meßfenster erfaßte Intensität des reflektierten Lichts ein Maß für den Querversatz des Musters bezüglich der festen Position des Meßfensters. With a transverse shift of the pattern, the position of the measuring window changes relatively to limit the pattern. This also changes the intensity of the reflected Light. With a white background and gray or colored patterns, the intensity of the reflected light spot is larger when the transverse displacement removes the pattern from the Lets the measuring window run out. The intensity becomes smaller when the pattern is in the Measuring window moved. This is the intensity of the reflected light detected in the measuring window a measure of the transverse offset of the pattern with respect to the fixed position of the Measuring window.  

Damit die Größe des Querversatzsignals unabhängig von der Farbe und von der Form der Musterbegrenzung ist, wird erfindungsgemäß das elektrische Signal, das der Intensität des vom Meßfenster erfaßten reflektierten Lichts proportional ist, fortlaufend über eine Musterlänge integriert und durch einen Referenzwert dividiert, der mit der ersten Messung ermittelt wird.This means that the size of the cross offset signal is independent of the color and shape the pattern limitation, according to the invention the electrical signal is the Intensity of the reflected light detected by the measuring window is proportional, continuously integrated over a sample length and divided by a reference value, which with the first measurement is determined.

AusführungsbeispielEmbodiment

Die Erfindung soll in einem Ausführungsbeispiel anhand einer Zeichnung erläutert werden. Eine bedruckte Bahn mit fortlaufend sich wiederholenden Druckmustern wird an der erfindungsgemäßen Meßeinrichtung, bestehend aus optoelektronischen Sensor (2) und Auswerteeinheit (4), vorbeigeführt. Aus dem Meßfenster (1) wird über den optoelektronischen Sensor (2) ein Meßfensterabschnitt (3) erfaßt. Die der empfangenen Lichtmenge proportionale Signalintensität wird durch die Auswerteeinheit (4) über die Länge des Druckmusters (5) aufsummiert. Dadurch, daß die Summation entsprechend dem erfindungsgemäßen Verfahren über eine Periodenlänge der sich periodisch wiederholenden Druckmuster erfolgt, ist der aufsummierte Intensitätswert unabhängig von der Position des Meßfensters in Transportrichtung, so daß nur die Querverschiebung einen Einfluß ausübt.The invention will be explained in an embodiment with reference to a drawing. A printed web with continuously repeating print patterns is guided past the measuring device according to the invention, consisting of an optoelectronic sensor ( 2 ) and evaluation unit ( 4 ). From the measurement window (1) a Meßfensterabschnitt (3) is detected via the optoelectronic sensor (2). The signal intensity, which is proportional to the quantity of light received, is summed up by the evaluation unit ( 4 ) over the length of the print pattern ( 5 ). Because the summation according to the method according to the invention takes place over a period length of the periodically repeating print patterns, the accumulated intensity value is independent of the position of the measuring window in the transport direction, so that only the transverse displacement has an influence.

Die erste Messung wird als Referenzmessung durchgeführt und der so ermittelte Referenzwert (REF) in der Auswerteeinheit gespeichert. Bei jeder folgenden Messung wird die über eine Musterlänge erfaßte Signalintensität durch den Referenzwert dividiert. Die auf diese Weise normierte Signalintensität des aktuellen Meßfensters (1) nimmt den Wert 1 an, wenn keine Querverschiebung zwischen der Aufnahme des Referenzwertes und dem aktuellen Meßwert aufgetreten ist. Verschiebt sich die bedruckte Bahn während des Transportes quer zur Transportrichtung, dann wird die normierte Signalintensität kleiner 1, wenn das Meßfenster sich in das Druckmuster bewegt und auf diese Weise mehr Druckinformation den weißen Hintergrund abdeckt. Die normierte Signalintensität wird größer 1, wenn das Meßfenster sich quer zur Transportrichtung vom Druckmusterrand entfernt und damit mehr weißer Hintergrund zur Signalintensität beiträgt. Damit stellt die erfindungsgemäß gemessene normierte Signalintensität ein Maß für die Querverschiebung von Bahnen mit periodischen Mustern dar und kann z. B. für die Querreglung verwendet werden.The first measurement is carried out as a reference measurement and the reference value (REF) determined in this way is stored in the evaluation unit. For each subsequent measurement, the signal intensity recorded over a sample length is divided by the reference value. The signal intensity of the current measurement window ( 1 ) standardized in this way assumes the value 1 if there is no transverse shift between the recording of the reference value and the current measurement value. If the printed web shifts transversely to the transport direction during transport, then the normalized signal intensity becomes less than 1 when the measuring window moves into the print pattern and in this way more print information covers the white background. The normalized signal intensity becomes greater than 1 if the measuring window moves away from the edge of the print pattern transversely to the transport direction and thus more white background contributes to the signal intensity. Thus, the normalized signal intensity measured according to the invention is a measure of the transverse displacement of webs with periodic patterns and can e.g. B. can be used for the lateral control.

Claims (4)

1. Verfahren zur Bestimmung des Querversatzes von Mustern auf sich wiederholenden Bildfenstern an Bahnen während des Transportes, wobei ein optoelektronischer Sensor mit einem Meßfenster die Intensität des von der Bahn reflektierten Lichtes erfaßt und verarbeitet, dadurch gekennzeichnet, daß
  • a) die Länge des Meßfensters so gewählt wird, daß die Meßfensterlänge mit der Länge des sich wiederholenden Bildfensters übereinstimmt, in dem sich das Muster befindet,
  • b) die Breite des Meßfensters so gewählt wird, daß die Meßfensterbreite in Referenzposition zum einen Teil von der links- oder rechtseitigen Begrenzung des Muster und zum anderen Teil von der Hintergrundfarbe bedeckt wird, die sich quer zur Transportrichtung neben der links- oder rechtsseitigen Musterbegrenzung befindet,
  • c) das während einer Bildfensterlänge im Meßfenster vom optoelektronischen Sensor erfaßte Intensitätssignal über die Länge des Bildfensters integriert, anschließend auf einen Referenzwert normiert und das Ergebnis als Maß für die Querposition der Muster verwendet wird.
1. A method for determining the transverse offset of patterns on repeating image windows on webs during transport, an optoelectronic sensor with a measuring window detecting and processing the intensity of the light reflected from the web, characterized in that
  • a) the length of the measuring window is chosen so that the measuring window length corresponds to the length of the repeating image window in which the pattern is located,
  • b) the width of the measuring window is chosen so that the measuring window width in the reference position is partly covered by the left or right-hand boundary of the pattern and partly by the background color, which is located transversely to the transport direction next to the left or right-hand pattern boundary ,
  • c) the intensity signal detected by the optoelectronic sensor in the measurement window over a length of the image window is integrated over the length of the image window, then standardized to a reference value and the result is used as a measure of the transverse position of the pattern.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Integration des vom optoelektronischen Sensor erfaßten Intensitätssignals durch eine anamorphotische Optik vorgenommen wird, die das Meßfenster auf den lichtempfindlichen Teil des Sensors abbildet.2. The method according to claim 1, characterized in that the integration of the optoelectronic sensor detected intensity signal by an anamorphic Optics is made that the measurement window on the light-sensitive part of the Sensor maps. 3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Integration des vom optoelektronischen Sensor erfaßten Intensitätssignal durch analoge oder digitale Integration einzelner Abtastwerte erfolgt, die über jeweils ein Bildfenster aufgenommen werden, dessen Länge zuvor eingestellt wurde.3. The method according to claim 1, characterized in that the integration of the optoelectronic sensor detected intensity signal by analog or digital Integration of individual samples takes place, each via an image window recorded, the length of which was previously set. 4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Referenzwert in einem der Messung vorgeschalteten Normierungsschritt durch Integration des vom optoelektronischen Sensor erfaßten Intensitätssignal über die Bildfensterlänge des in seiner Querpostion zu bestimmenden Musters bestimmt wird und während dieser Referenzmessung die Mitte des Meßfensters auf die ausgewählte Begrenzung des Musters eingestellt und in seiner Position konstant gehalten wird.4. The method according to claim 1, characterized in that the reference value in a standardization step preceding the measurement by integrating the from optoelectronic sensor detected intensity signal over the image window length of the is determined in its cross position to be determined and during this Reference measurement the center of the measurement window to the selected limitation of the Pattern is set and held constant in its position.
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