DE1910049A1 - Device for uncovering defects or errors on a web - Google Patents

Device for uncovering defects or errors on a web

Info

Publication number
DE1910049A1
DE1910049A1 DE19691910049 DE1910049A DE1910049A1 DE 1910049 A1 DE1910049 A1 DE 1910049A1 DE 19691910049 DE19691910049 DE 19691910049 DE 1910049 A DE1910049 A DE 1910049A DE 1910049 A1 DE1910049 A1 DE 1910049A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
conductive elements
web
photoelectrically conductive
photoelectrically
defects
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19691910049
Other languages
German (de)
Inventor
Fumio Sugaya
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Publication of DE1910049A1 publication Critical patent/DE1910049A1/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901—Optical details; Scanning details
    • G01N21/8903—Optical details; Scanning details using a multiple detector array
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

PATlNTANWItTIPATlNTANWItTI DR. E. WIEGAND DIPL-ING. W. NIEMANN 1 Q 1 Π Π A QDR. E. WIEGAND DIPL-ING. W. NIEMANN 1 Q 1 Π Π A Q DR. M. KÖHLER DIPL-ING. C. GERNHARDT » 3 I U U *fDR. M. KÖHLER DIPL-ING. C. GERNHARDT »3 I U U * f MÖNCHEN HAMBURGMÖNCHEN HAMBURG

telefon. 555474 8000 MÜNCHEN 15, 27.Februar 1969phone. 555474 8000 MUNICH 15, February 27, 1969

TELEGRAMME, KARPATENT NUSSBAUMSTHASSE 10TELEGRAMS, CARPATENT WALNUT HATE 10

W. 14 040/68 13/NieW. 14 040/68 13 / Never

Fuji Shashin Film Kabushiki Kaisha Kanagawa (Japan)Fuji Shashin Film Kabushiki Kaisha Kanagawa (Japan)

Vorrichtung zum Aufdecken von Mangeln oder Fehlern auf einer BahnDevice for uncovering defects or defects on a web

Zusammenfassung:Summary:

Fehler oder Mängel auf einer sich bewegenden Bahn werden durch optische Mittel festgestellt oder aufgedeckt* Eine Mehrzahl von lichtelektrisch leitfähigen Elementen iet mit Bezug auf die Vorführrichtung seitlich unter einer sich bewegenden Bahn angeordnet und die lichtelektrisch leitfähigen Elemente werden insgesamt in einer zu der Anordnungsrichtung parallelen Richtung hin- und herbewegt.Defects or defects on a moving web are detected or revealed by optical means * A plurality of photoelectrically conductive elements iet laterally below with respect to the projection direction arranged on a moving web and the photoelectrically conductive elements are all in reciprocated in a direction parallel to the arrangement direction.

909837/ 1128909837/1128

Die' Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum Aufdecken vonMingeln oder Fehlern auf einer sich bewegenden Bahn durch optische Mittel und insbesondere auf eine Vorrichtung zum Aufdecken von Mängeln und Fehlern auf einer sich bewegenden Bahn, wobei die Anordnung einer Mahi3-zahl von lichtelektrisch leitfähigen Elementen insgesamt in einer Richtung hin- und herbewegt wird.The invention relates to an apparatus for detecting defects or defects on a moving web by optical means and, more particularly, to an apparatus for detecting defects and defects on a moving web, wherein the arrangement of a Mahi 3 number of photoelectrically conductive elements is moved back and forth overall in one direction.

Es gab bisher drei Arten von Vorrichtungen zum W Aufdecken von Unvollkommenheiten oder Mängeln im allgemeinen sowohl bei der Arbeitsweise der Verwendung von reflektiertem Licht als auch bei der Arbeitsweise der Verwendung von Durchgangslioht. Diese drei Arten sind wie folgt:There have been three types of devices for W uncovering imperfections or deficiencies in general, both at work, the use of reflected light and in the operation of the use of Durchgangslioht. These three types are as follows:

Eine Art, bei welcher eine Anzahl von lichtelektrisch leitfähigen Elementen seitlich in Nähe der sich vorbewegenden Bahn angeordnet ist, eine Art, die als "Methode mit wanderndem Lichtpunkt" ("llying spot method") bezeichnet wird, wobei ein Lichtpunkt in dem wirksamen Sichtfeld eines lichtelektrisch leitfähigen Elementes abgetastet' * wird, und eine Art, die als "Methode mit Wanderbild" ("flying image method") bezeichnet wird, bei welcher ein zu untersuchender Teil gleichförmig beleuchtet und eine Stelle darin, die dem Sichtfeld eines lichtelektrisch leitfähigen Elementes entspricht, abgetastet wird* Die erste Art, bei* welcher eine Mehrzahl von lichtelektrisch leitfähigen Elementen angeordnet ist, ist im Hinblick auf den Aufbau einfach und haltbar, wobei es jedoch im allgemeinenA kind in which a number of photoelectric conductive elements is arranged laterally near the advancing web, a type known as the "method with wandering point of light "(" lying spot method ") is scanned, whereby a point of light is scanned in the effective field of view of a photoelectrically conductive element '* and a kind that is called the "method with moving picture" ("flying image method"), in which a part to be examined uniformly illuminates and a place in it, which corresponds to the field of view of a photoelectrically conductive element, is scanned * The first type, with * which a plurality of photoelectrically conductive Elements arranged is simple and durable in terms of construction, but it is generally

909837/1128909837/1128

schwierig ist, derartige Mängel, wie Kratzer, die sich parallel zu der Bahnvorfuhrri.ch.tung erstrecken, festzustellen, da das Signal durch Wechselstrom verstärkt wird. Andererseits ist die dritte, als "Wanderbildmethode11 bezeichnete Art wirksam im Hinblick auf durchgehende Fehler oder Mangel, wie Kratzer, die sich parallel zu der Bahnvorführrichtung erstrecken; es ist jedoch hierbei erforderlich, die Abtastgeschwindigkeit außerordentlich groß zu machen, um den nicht abgetasteten Teil«zwischen dem einen Abtastvorgang und dem nächsten Abtastvorgang zu verkleinern. Demgemäß erfordert die dritte Art eine komplette Vorrichtung mit großen Abmessungen.It is difficult to detect such defects as scratches that extend parallel to the Bahnvorfuhrri.ch.tung, since the signal is amplified by alternating current. On the other hand, the third type called " traveling image method 11 is effective in terms of continuous defects or defects such as scratches extending parallel to the web feeding direction; however, it is necessary here to make the scanning speed extremely high in order to cover the unscanned portion" between the one scanning operation and the next scanning operation, Accordingly, the third type requires a complete apparatus with a large size.

Gemäß der Erfindung wird eine neuartige Vorrichtung zum Aufdecken von Fehlern oder Mangeln geschaffen, die die durch die üblichen Arten von Aufdeckvorrichtungen erhältlichen Vorteile, wie vorstehend bei der ersten und dritten Art beschrieben, aufweist und die jedoch nicht die Nachteile besitzt, wie sie bei diesen gebräuchlichen Arten von Aufdeckvorrichtungen gefunden wurden.According to the invention, a novel device for detecting errors or deficiencies is created which the advantages obtainable from the usual types of uncovering devices, as with the first above and third type described, and which, however, does not have the disadvantages as they are customary with these Types of detection devices have been found.

Eine Anzahl von lichtelektrisch leitfähigen Elementen mit deren jeweiligen Sichtfeldern wird mit Be^ug auf die Vorführrichtung der Bahn seitlich angeordnet und in der Anordnungsrichtung insgesamt zur gleichen Zeit mit einer definierten Amplitude und Periode hin- und herbewegt. Auf diese Weise" werden die Unvollkommenheiten oder Mängel, selbst solche, die sich durchgehend in der Vorführriclitung der Bahn erstrecken, aufgedeckt. · . -A number of photoelectrically conductive elements with their respective fields of view are shown with Be ^ ug arranged laterally in the direction of projection of the web and generally the same in the direction of arrangement Time moved back and forth with a defined amplitude and period. In this way "become the imperfections or defects, even those that extend continuously in the demonstration line of the track, are discovered. ·. -

909837/1128909837/1128

Aufgabe der Erfindung ist die Schaffung einer Vorrichtung zum wirksamen Aufdecken von Unvollkommenheiten oder Mängeln. Ein weiterer Zweck der Erfindung ist die Schaffung einer Vorrichtung zum Aufdecken von Unvollkommenheiten oder Mängeln auf einer sich bewegenden Bahn unter Verwendung einer Mehrzahl von lichtelektrisch leitfähigen Elementen, die seitlich hin- und herbewegt werden.The object of the invention is to provide a device for efficiently revealing imperfections or defects. Another purpose of the invention is to provide a device for revealing imperfections or imperfections on a moving web using a plurality of photoelectrically conductive ones Elements that are moved back and forth sideways.

Die Erfindung wird nachstehend anhand der Zeichnung näher erläutert.The invention is explained in more detail below with reference to the drawing.

Fig. 1 zeigt eine schaubildliche Ansicht mit teilweise abgenommenen Teilen einer Ausführungsform der Aufdeckvorrichtung gemäß der Erfindung. Fig. 1 shows a perspective view with partial removed parts of an embodiment of the uncovering device according to the invention.

Fig. 2 zeigt eine teilweise Querschnittsansicht des Sucher- oder Aufdeckteils der Aufdeckvorrichtung gemäß der Erfindung. .FIG. 2 shows a partial cross-sectional view of the finder or uncover part of the uncovering device according to FIG Invention. .

Fig. 3 zeigt eine vergrößerte Teilansicht einer weiteren Ausführungsform der lichtelektrisch leitfähigen Elemente, die an dem Aufdeck- oder Sucherteil derAufdeckvorrichtung gemäß der Erfindung vorgesehen werden.Fig. 3 shows an enlarged partial view of another Embodiment of the photoelectrically conductive elements, those on the uncovering or finder part of the uncovering device be provided according to the invention.

Fig. 4 zeigt eine vergrößerte Teilansicht des Aufdeck- oder Sucherteiles gemäß der Erfindung undFig. 4 shows an enlarged partial view of the Aufdeck- or finder part according to the invention and

Fig. 5 zeigt ein elektrisches Schaltbild, das gemäß der Erfindung zur Anwendung gelangt.Fig. 5 shows an electrical circuit diagram according to the invention is applied.

909837/1128909837/1128

Mit Bezug auf Fig. 1, die eine Ausführungsform der Erfindung darstellt, bezeichnet das Bezugszeichen 1 ein Lampengehäuse, das eine rohrförmige Lampe 2 enthält. Ein Filter 3 ist an dem am Bodenteil des Lampengehäuses angeordneten Fenster vorgesehen. Das Filter 3 ist ein infrarotes transparentes Filter (infra-red transparent filter), das für eine lichtempfindliche Bahn, beispielsweise einen photographischen Film, verwendet wird, und es ist daher nicht für jede Bahn gemäß der Erfindung erforderlich. Das durch das Filter 3 hindurchgehende Licht wird auf die Bahn 4 aufgestrahlt. Die Bahn 4 wird in waagerechter Anordnung von Rollen 5 und 6 gespannt.Referring to Fig. 1, the one embodiment According to the invention, the reference numeral 1 denotes a lamp housing which contains a tubular lamp 2. A filter 3 is attached to the one on the bottom part of the lamp housing arranged window provided. The filter 3 is an infrared transparent filter (infra-red transparent filter), that is used for a photosensitive sheet such as a photographic film, and it is therefore not required for every track according to the invention. The light passing through the filter 3 is applied to the Lane 4 radiated. The path 4 is in a horizontal arrangement stretched by rollers 5 and 6.

Unter der Bahn 4 ist ein Schlitz 7 vorgesehen. Unter dem Schlitz 7 is£ ein hin- und hergehender Träger 8 vorgesehen, der eine Anordnung von einer Mehrzahl von Phototransistoren D,--Doh darauf trägt. Der hin- und hergehende Träger 8 ist durch ein Paar von Federn 9 und 10 in waagerechter Richtung aufgehängt. Ein Ende des hin- und hergehenden Trägers 8 ist an eine Spule 12 eines Vibrators (Wechselgleichrichters) 11 befestigt, der an dem Ende des hin- und hergehenden Trägers 8 vorgesehen ist. Durch Anschließen einer Wechselstromquelle mit z.B.. 8 Cyclen/sec. an die Spule wird der hin- und hergehende Träger 8 in waagerechter Lage hin- und herbewegt oder vibriert. Der Ausgang der jeweiligen Phototransistoren wird durch eine Verbindung (bondage) 13 aus weichen dünnen Leiterdrähten entnommen (eine weitere Verbindung 13* ist auf der gegenüberliegenden Seite, wenn auch in der Zeichnung nicht gezeigt, vorgesehen).A slot 7 is provided under the track 4. Under the slot 7 is provided with a reciprocating carrier 8, which carries an array of a plurality of phototransistors D, - Doh thereon. The back and forward beam 8 is suspended by a pair of springs 9 and 10 in the horizontal direction. An end the reciprocating beam 8 is attached to a coil 12 of a vibrator (inverter) 11, which is provided at the end of the reciprocating beam 8. By connecting an AC power source with e.g. 8 cycles / sec. The reciprocating carrier 8 is moved back and forth in the horizontal position on the coil or vibrate. The output of the respective phototransistors is made through a connection (bondage) 13 taken from soft thin conductor wires (another connection 13 * is on the opposite side, if also not shown in the drawing, provided).

909837/1123909837/1123

Mit Bezug auf Pig. 2, die mit größerer Genauigkeit den Aufdeck- oder Sucherteil der Aufdeckvorrichtung gemäß der Erfladung zeigt, ist eine Mehrzahl von Phototransistoren Dl-ii und D85-88 an den 6eSenüberließsnden Enden und neben dem hin- und hergehenden Träger 8 vorgesehen. Die vorstehend beschriebenen Phototransistoren D1-Jj, und Ds5-88 (nicht gezeigt) sind an einer festenUnterlage fest angebracht und dienen zum Abtasten der nahen Randteile &n den gegenüberliegenden Seiten der Bahn k,. wo immer die andersa ^ Phototransistoren D,- gh auf dem hin- und hergehenden Träger zu jeder Zeit/sind. Die feststehenden Phototransistoren dt_4 und D«5-88 stellen lediglich die Lichtwertschwankung mit einer kürzeren Periode als die hin- und Herbewegungsperiode des hin- und hergehenden Trägers 8 fest. Die Unvollkommenheiten oder Fehler, die Lichtwertsänderungen mit einer längeren Periode als die Periode der Hin- und Herbewegung des hin- und hergehenden Trägers ergeben, werden von den Phdotransistoren festgestellt, die auf dem bin- und hergehenden Träger 8 angeordnet sind.With reference to Pig. 2, showing with greater accuracy the Aufdeck- or part of the viewfinder according to the Aufdeckvorrichtung Erfladung, a plurality of phototransistors l D-ii and D 85-88 in the 6 s nu S b Erlie ß sins ends and beside the reciprocating Carrier 8 is provided. The above-described phototransistors D 1- Jj, and D s5-88 (not shown) are fixedly attached to a solid base and serve to scan the near edge portions & n the opposite sides of the web k ,. wherever the different phototransistors D, - gh are on the reciprocating carrier at all times. The fixed phototransistors d t_4 and D "5-88 represent only the light level fluctuation with a period shorter than the reciprocation of the reciprocating support 8 fixed. The imperfections or defects which result in light value changes having a period longer than the period of the reciprocating movement of the reciprocating carrier are detected by the phdotransistors arranged on the reciprocating carrier 8.

Der durch die Bahn 4 durchgegangene Lichtwert ist ^ konstant, wenn die Bahn normal ist und keine Fehler oder " Unvollkommenheiten aufweist, ändert sich jedoch, wenn die Bahn irgendeine Fehlerstelle besitzt. Durch die Änderung des festgestellten Durchgangslichtwertes werden die Fehlerstellen auf der Bahn aufgedeckt. Wenn jedoch, wie bei dieser Ausführungsform, die Bahn halbtransparent ist, wird das durch die Bahn durchgehende Licht gestreut, wobei es schwierig wird, die Änderung in wirksamer Weise von denThe light value passed through the web 4 is constant if the web is normal and no errors or "Has imperfections, however, changes if the path has any flaws. By the change the determined passage light value, the defects on the web are revealed. If, however, like this one Embodiment, the web is semi-transparent, the light passing through the web is scattered, whereby it difficult to make the change in an effective manner from the

909837/1128909837/1128

unter der Bahn angeordneten lichtelektrisch leitfähigen Elementen festzustellen. In dieser Hinsicht besitzen die lichtelektrisch leitfähigen Elemente, die gemäß der Erfindung zur Anwendung gelangen, jeweils ein Sichtfeld so, daß sie außer dem Durchgangslicht kein gestreutes licht aufnehmen. Auf diese Weise können die gemäß der Erfindung vorgesehenen Phototransistoren Unvollkommenheiten und Fehler, selbst auf einer halbtransparenten Bahn, feststellen.arranged under the track photoelectrically conductive Elements. In this regard, the photoconductive elements made in accordance with the invention come into use, one field of view in such a way that they do not have any scattered light apart from the transmitted light absorb light. In this way, the phototransistors provided according to the invention can have imperfections and detect errors, even on a semi-transparent track.

Obgleich Phototransistoren bei der vorstehend beschriebenen Ausführungsform verwendet werden, ist es ersichtlich, daß auch lichtelektrisch leitfähige Elemente mit einem verhältnismäßig großen Sichtfeld angewendet werden können, falls optische Linsen, wie in Fig. 3 gezeigt, entsprechend hierfür vorgesehen sind. Einander benachbarte Sichtfeider sind bis zu einem gewissen Ausmaß überlappt.Although phototransistors in the one described above Embodiment are used, it can be seen that also photoelectrically conductive elements with a relatively large field of view can be applied if optical lenses, as shown in Fig. 3, accordingly are provided for this. Adjacent visual fields are overlapped to some extent.

Die Amplitude der Hin- und Herbewegung des hin- und hergehenden Trägers 8 ist vorzugsweise mehr als 2mal so lang wie der Abstand zwischen zwei benachbarten Phototransistoren. Der Grund hierfür 1st darin zu suchen, daß eine gleichförmige Empfindlichkeit für jede Fehlerstelle oder Unvollkommenheit in einer beliebigen Lage von der Bahn licht erhalten werden kann, falls nicht der Phototransistor die Fehlerstelle oder Unvollkommenheit mit einer höheren Geschwindigkeit als eine bestimmte Geschwindigkeit abtastet.The amplitude of the reciprocating movement of the reciprocating carrier 8 is preferably more than 2 times long as the distance between two neighboring phototransistors. The reason for this is to be sought in that a uniform sensitivity to any flaw or imperfection in any location of the Railway light can be obtained if not the phototransistor scans the flaw or imperfection at a speed greater than a certain speed.

Flg. 5 erläutert einen Teil der elektrischen Schaltung für die Feststellung und Beurteilung der von den Verbindungen 13,13* herausgenommenen Signale.Flg. 5 explains part of the electrical circuit for the determination and assessment of the signals removed from the connections 13, 13 *.

909837/1128909837/1128

Bei einer Ausführungsform gemäß der Erfindung sind 88 Phototransistoren vorgesehen, wovon 80 mit Ausnahme der fest angebrachten 8 Photo transistoren Di _]j, un<^ Dftc-88 8 Kanäle unterteilt sind. Jeder Kanal enthält 10 Phototransistoren. Die restlichen Phototransistoren D^^ und DgC-Qo sind in den gegenüberliegenden Endkanälen eingeschlossen. Der eine Kanal unter den 10 Kanälen ist in Fig. 5 dargestellt.In one embodiment according to the invention, 88 phototransistors are provided, 80 of which are divided into 8 channels with the exception of the 8 permanently attached phototransistors Di_] j, un < ^ D ftc-88. Each channel contains 10 phototransistors. The remaining phototransistors D ^^ and DgC - Qo are enclosed in the opposite end channels. One of the 10 channels is shown in FIG.

Bei diesem Schaltdiagramm wird das Signal von den Phototrans i door en durch Verstärker 16,16' verstärkt und dann zu den Hochpaßfiltern 17*17* und Tiefpaßfiltern 18,18' übergeführt. "In this circuit diagram, the signal from the phototrans i door en amplified by amplifier 16,16 'and then to the high-pass filters 17 * 17 * and low-pass filters 18, 18 '. "

Der erstere Ausgang (I6,l6r) umfaßt ein einzelnes Fehlerstellensignal und der letztere umfaßt ein kontinuierliches Fehlerstellensignal. ·The former output (I6, I6 r ) comprises a single fault location signal and the latter comprises a continuous fault location signal. ·

Dieee Signale werden als Fehlerstellensignale angesehen, wenn die Signale größer als ein bestimmter Wert auf der positiven und der negativen Seite werden. Die Erkennung oder Feststellung des Wertes wii?d von den Dioden 20*21,28,29, den Widerständen 24,25,38,39 und den Verstärkern 22,23,31,32 ausgeführt. Der Wert wird durch die Potentiometer 26,27,35 und 36 bestimmt. Das Signal von; den Verstärket 22,2^31,3S wird zu einem Auf zeichner 61 zusammen: m£& dem; Signal von den Verstärkern 62,6> ... in dem anderen Kanal überfuhrt. Dieses Signal kann einer Speihereinrichtung zugeführt werden, die eine Markiereinrichtung zum Markieren des Vorhandenseins der Fehlerstellen oder Unvollkommenheiten auf der Bahn betätigenThese signals are regarded as fault location signals, if the signals are greater than a certain value on the positive and the negative side will be. The detection or Determination of the value wii? D of the diodes 20 * 21,28,29, den Resistors 24,25,38,39 and the amplifiers 22,23,31,32. The value is determined by the potentiometers 26,27,35 and 36 determined. The signal from; the gain becomes 22.2 ^ 31.3S to a recorder 61 together: m £ &dem; Signal from the amplifiers 62.6> ... transferred in the other channel. This signal can be fed to a storage device which a marking device for marking the presence of the Actuate flaws or imperfections on the web

kann oder die ein Solenoid zum Herausnehmen der Unvollkommenheiten oder Fehlerstellen enthaltenden Bahn in dem Falle betätigen kann« wenn eine Schneideinrichtung an der Bahnvorführeinrichtung befestigt ist.may or the path containing a solenoid for removing the imperfections or flaws in the event that a cutting device is attached to the web feed device.

Das vorstehend beschriebene elektrische Schaltbild weist insbesondere das Merkmal auf, daß der Widerstand 19 mit den Widerständen 55* 56 ... in den anderen Kanal verbunden ist und der Widerstand 30 mit den Widerständen 58,59., in dem anderen Kanal verbunden ist, wie dies in Fig. 5 gezeigt ist. Die Signale von sämtlichen PhototransistorenThe electrical circuit diagram described above has in particular the feature that the resistor 19 connected to the resistors 55 * 56 ... in the other channel and the resistor 30 to the resistors 58,59., in the other channel as shown in FIG. The signals from all the phototransistors

Teil hiervon
werden von einem /(hy a part thereof) zu den Leitungen JJ und 46 geführt -. Gerade durch den vorstehend beschriebenen gebräuchlichen elektrischen Stromkreis kann eine durchgehende oder kontinuierliche Fehlerstelle oder Unvollkommenheit, die sich mit Bezug auf die Vorführrichtung der Bahn seitlich erstreckt, nicht unabhängig festgestellt werden, obgleich eine einzelne Fehlerstelle und eine durchgehende Fehlerstelle, die sich in Längsrichtung erstreckt, wahrgenommen werden können. Durch das Sammeln der Signale von sämtlichen Elementen, wie unmittelbar vorstehend beschrieben, können auch die seitlich sich erstreckenden Fehlerstellen oder Unvollkommenheiten aufgedeckt werden.Part of it
are led from a / (hy a part thereof) to lines JJ and 46 -. By virtue of the conventional electrical circuit described above, a continuous or continuous defect or imperfection which extends laterally with respect to the direction of projection of the web cannot be independently detected, although a single defect and a continuous defect which extends in the longitudinal direction can be perceived can be. By collecting the signals from all of the elements as described immediately above, the laterally extending imperfections or imperfections can also be revealed.

Wie vorstehend beschrieben, wird gemäß der Erfindung das gestreute Licht nicht aufgenommen, so daß eine halbtransparente Bahn nach dem Lichtdurchgangsverfahren hinsichtlich ihrer Unvollkommenheiten oder Fehlerstellen geprüft werden kann, da die jeweiligen lichtelektrisch leitfähigen Elemente bestimmte Sichtfelder aufweisen. Drei Arten von Fehlerstellen der Bahn können aufgezeigt und voneinander unterschiedenAs described above, according to the invention the scattered light is not received, so that a semitransparent path after the light transmission method with respect to their imperfections or flaws can be checked, as the respective photoelectrically conductive elements have certain fields of view. Three types of fault locations on the web can be identified and distinguished from one another

909837/1 128.909837/1 128.

werden, nämlich eine einaäLne Fehlerstelle, eine kontinuierliche oder durchgehende Fehlerstelle, die sich in Längsrichtung erstreckt, und eine kontinuierliche oder durchgehende Fehlerstelle, die sich in Seitwärtsrichtung erstreckt .become, namely a single point of failure, a continuous one or continuous flaw extending longitudinally and continuous or continuous Defect that extends sideways.

Da die Sichtfelder von benachbarten lichtelektrisch leitfähigen Elementen nicht getrennt sind, sondern sich auf der Bahnoberfläche überlappen, wird beim Abtasten kein Bereich oder keine Fläche auf der Bahn ausgelassen, wenn die Abtastgeschwindigkeit nicht so hoch ist.Because the fields of view of neighboring photoelectrically conductive elements are not separated, but rather each other overlap on the web surface, no area or area will be missed on the web when scanned, if the scanning speed is not that high.

überdies gibt es bei der Vorrichtung gemäß der Erfindung keinen Teil, der einer Reibwirkung unterworfen ist, so daß der Aufbau der Vorrichtung einfach.und dauerhaft ist.moreover there are in the device according to the invention no part which is subjected to a frictional effect, so that the structure of the device is simple and durable.

909837/1128909837/1128

Claims (6)

PatentansprücheClaims ( I^ Vorrichtung zum Aufdecken von Mängeln oder Fehlern auf einer Bahn, dadurch gekennzeichnet, daß sie eine Mehrzahl von lichtelektrisch leitfähigen Elementen (Dc-Oh)* die mit Bezug auf die Vorführrichtung der sich bewegenden Bahn seitlich angeordnet sind, eine Lichtquelle (2), die auf der gegenüberliegenden Seite zu dem genannten lichtelektrisch leitfähigen Elementen mit Bezug auf die sich bewegende. Bahn angeordnet ist, und einen, die genannten lichtelektrisch leitfäMgen Elemente einschließenden elektrischen Stromkreis für die Erkennung des die Unvollkommenheit oder Fehlerstelle wiedergebenden Signals umfaßt, wobei die lichtelektrisch leitfähigen Elemente mit Bezug auf die Vorführrichtung der Bahn eine seitliche Hin- und Herbewegung ausführen können.(I ^ Device for revealing defects or defects on a web, characterized in that it has a plurality of photoelectrically conductive elements (Dc - Oh) * which are arranged laterally with respect to the direction of projection of the moving web, a light source (2) which is arranged on the opposite side to said photoelectrically conductive elements with respect to the moving web, and comprises an electrical circuit including said photoelectrically conductive elements for the detection of the signal representing the imperfection or defect, the photoelectrically conductive elements Elements with respect to the direction of presentation of the web can perform a lateral reciprocating movement. 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die lichtelektrisch leitfähigen Elemente jeweils ein definiertes oder bestimmtes Siehtfeld aufweisen.2. Apparatus according to claim 1, characterized in that the photoelectrically conductive elements each have a defined or specific field of vision. 3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Sichtfeider von benachbarten lichtelektrisch leitfähigen Elementen teilweise überlappt sind.3. Device according to claim 1 or 2, characterized in that that the visual fields of neighboring photoelectric conductive elements are partially overlapped. 4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis jj, da- . durch gekennzeichnet, daß ein Teil des Ausgangssignals von sämtlichen lichtelektrisch leitfähigen Elementen gesammelt wird, wofcei eine Fehlerstelle oder Unvollkommenheit, die eine Änderung der Leitfähigkeit zu einem bestimmten Zeitpunkt in sämtlichen der lichtelektrisch leitfähigen Elemente verursacht, unabhängig festgestellt werden kann.4. Device according to one of claims 1 to jj, da-. characterized in that part of the output signal from collected all photoelectrically conductive elements becomes, wofcei a flaw or imperfection that a change in conductivity at a given point in time in all of the photoelectrically conductive elements caused can be determined independently. 5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die lichtelektrisch leitfähigen Elemente Phototransistoren sind.5. Device according to one of claims 1 to 4, characterized in that the photoelectrically conductive Elements are phototransistors. 6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5* dadurch gekennzeichnet, daß die lichtelektrisch leitfähigen Elemente jeweils mit Linsen ausgestattet sind, die zwischen den lichtelektrisch leitfähigen Elementen und der Bahn angeordnet sind.6. Device according to one of claims 1 to 5 *, characterized in that the photoelectrically conductive Elements are each equipped with lenses between the photoelectrically conductive elements and the Web are arranged. 7- Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß weiterhin fest angebrachte lichtelektrisch leitfähige Elemente an den gegenüberliegenden Enden der Anordnung von lichtelektrisch leitfähigen Elementen, die eine seitliche Hin- und Herbewegung ausführen, angeordnet sind.7- Device according to one of claims 1 to 6, characterized characterized in that further firmly attached photoelectrically conductive elements on the opposite Ends of the arrangement of photoelectrically conductive elements, which perform a lateral reciprocating movement, are arranged. 909837/1128909837/1128
DE19691910049 1968-02-27 1969-02-27 Device for uncovering defects or errors on a web Pending DE1910049A1 (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1196068 1968-02-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1910049A1 true DE1910049A1 (en) 1969-09-11

Family

ID=11792168

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19691910049 Pending DE1910049A1 (en) 1968-02-27 1969-02-27 Device for uncovering defects or errors on a web

Country Status (2)

Country Link
US (1) US3589816A (en)
DE (1) DE1910049A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4421050B4 (en) * 1993-06-18 2005-12-22 Abb Industrial Systems Inc., Columbus Method and device for measuring at least one property of a two-sided material web

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3736063A (en) * 1970-08-07 1973-05-29 Mitsubishi Electric Corp Comparison system for determining shape and intensity of illumination of luminous objects
US3765777A (en) * 1972-02-22 1973-10-16 Monsanto Co Device for locating and identifying threadline defects
US3859538A (en) * 1972-11-22 1975-01-07 Stroemberg Oy Ab Fault detector for paper webs
US3800157A (en) * 1972-11-28 1974-03-26 Gaf Corp Web inspection apparatus
US4338032A (en) * 1979-05-18 1982-07-06 Spencer Wright Industries, Inc. Detection of faults in sheet and like materials
US4249081A (en) * 1979-11-01 1981-02-03 Sparton Corporation Defect detection system
US4395127A (en) * 1980-09-11 1983-07-26 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Treasury Optical paper detector
US4714340A (en) * 1984-11-23 1987-12-22 Stillwagon W C Method and apparatus for inspecting high speed converted web
US4728800A (en) * 1985-04-24 1988-03-01 Young Engineering, Inc. Apparatus and method for detecting defects in a moving web
US5550384A (en) * 1995-04-11 1996-08-27 Appalachian Electronic Instruments, Inc. Method and apparatus of automatically scanning for density defects in carpets
US5798531A (en) * 1996-06-10 1998-08-25 Harris Instrument Corporation System for detecting small holes in moving articles
US6219136B1 (en) 1998-03-03 2001-04-17 Union Underwear Company, Inc. Digital signal processor knitting scanner
FR2852533B1 (en) * 2003-03-20 2006-10-06 Arck Electronique HOLES DETECTION DEVICE IN CONTINUOUS BAND THREADED MATERIALS
US7765831B2 (en) * 2005-09-30 2010-08-03 Thermo King Corporation Temperature control system and method of operating same

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USRE25671E (en) * 1964-10-27 Servo-controlled shutters for pinhole detectors
US2686452A (en) * 1948-07-21 1954-08-17 Instr Dev Lab Inc Color matching apparatus
US3157915A (en) * 1959-07-09 1964-11-24 Geo W Bollman & Co Inc Control device
US3134021A (en) * 1959-08-01 1964-05-19 Zeiss Ikon Ag Photoelectric exposure meters with light ray limiters
FR79613E (en) * 1959-12-22 1962-12-28 Feldmuehle Ag Method and device for the continuous monitoring of paper, sheets or other webs or sheet-shaped products, for optically detectable anomalies
NL277194A (en) * 1961-04-14 1900-01-01
US3206606A (en) * 1961-07-20 1965-09-14 Eastman Kodak Co Photosensitive inspection method and apparatus
GB1077561A (en) * 1964-02-18 1967-08-02 Omron Tateisi Electronics Co System of detecting and marking defects in a moving web
US3495089A (en) * 1965-10-11 1970-02-10 Fife Mfg Co Alignment sensing devices utilizing light-emitting semi-conductors

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4421050B4 (en) * 1993-06-18 2005-12-22 Abb Industrial Systems Inc., Columbus Method and device for measuring at least one property of a two-sided material web

Also Published As

Publication number Publication date
US3589816A (en) 1971-06-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69620758T2 (en) CHECKING THE EDGES OF AN OBJECT
DE1910049A1 (en) Device for uncovering defects or errors on a web
DE19544178B4 (en) Apparatus for scanning digitizing image templates and method for their operation
DE2428123C2 (en) Arrangement for detecting defects in a material scanned by means of a laser beam
DE60160T1 (en) METHOD FOR EXAMINING FAULTS ON GLASS SHEETS AND DEVICE FOR CARRYING OUT THIS METHOD.
DE3013244A1 (en) AUTOMATIC FAULT DETECTOR DEVICE
CH620029A5 (en)
DE2938235A1 (en) DEVICE FOR DETECTING A FOREIGN BODY ON AN OBJECT, EXAMPLE OF A BOTTLE
DE3119688A1 (en) DEVICE FOR CHECKING AN OBJECT FOR IRREGULARITIES
DE2152510A1 (en) Method for detecting surface defects
DE3926349A1 (en) Optical defect inspection arrangement for flat transparent material - passes light via mirror forming image of illumination pupil on camera lens of photoreceiver
DE3737797C2 (en) Process and device for processing developed photographic films
DE102005021316B4 (en) Double imaging system and method
DE1798349A1 (en) Method, device and device for finding and classifying defects in a band or veil of textile fibers
DE1910048A1 (en) Method for indicating defects on the surface of a web and apparatus therefor
DE1648480B1 (en) DEVICE FOR OPTICAL DETERMINATION OF DEFECTS IN A MOVING MATERIAL TRAIL
DE1211421B (en)
DE2827126A1 (en) THICKNESS SCANNER FOR FILMS
DE1276335B (en) Arrangement for measuring variations in width of a moving transparent birefringent film
DE3326173C2 (en) Densitometer for an electrophoresis device
DE1146283B (en) Method and device for measuring the contrast transfer function of an optical system
DE1900632A1 (en) Device for testing film webs
DE1473743A1 (en) Device for detecting defects in a strip
DE1573496A1 (en) Device for testing and sorting of web or sheet products
DE2654726B1 (en) Device for monitoring a gas flow for particles present in it