DE1813323U

DE1813323U - MICROMETERS, IN PARTICULAR FOR READING RULES.

Info

Publication number: DE1813323U
Application number: DEC7101U
Authority: DE
Original assignee: Continental Elektronidustrie AG
Current assignee: Continental Elektronidustrie AG
Priority date: 1960-04-14
Filing date: 1960-04-14
Publication date: 1960-06-15

Description

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CONTINENTAL ELEKTROINDUSTRIE AKTIENGESELLSCHAFTCONTINENTAL ELEKTROINDUSTRIE AKTIENGESELLSCHAFT ASKANIA-WERKE ^&g BERLIN-MARIENDORFASKANIA-WERKE ^ & g BERLIN-MARIENDORF

44 Sl/Gad/Hr. 11.4.196044 Sl / Gad / Hr. April 11, 1960

Grebrauchsmusteranmeldung Nr. 5834 A l/5 Mikrometer,insbesondere zur Ablesung von MaßstäbenAbuse model registration No. 5834 A l / 5 Micrometers, especially for reading rulers

Gegenstand der feuerung ist ein Mikrometer, insbesondere zur Ablesung von Maßstäben, bei dem eine abzulesende Marke oder ein anderes Zielob^ekt in eine einen Ablesindex enthaltende Ebene abgebildet wird und bei dem durch Verstellen des Ableseindex oder eines in dem Abbildungsstrahlengang angeordneten, optischen, den Abbildungsstrahlengang versetzenden Elementes das Markenbild mit dem Index zur Koinzidenz gebracht wird, mit Mitteln zur Beobachtung der Koinzidenz und zur Messung der hierzu notwendigen Verstellung.The subject of the fire is a micrometer, especially for Reading of scales at which a mark to be read or another target object in a plane containing a reading index is imaged and in which by adjusting the reading index or an arranged in the imaging beam path, optical element displacing the imaging beam path the brand image is brought to coincidence with the index, with means for observing the coincidence and for measuring the adjustment required for this.

Bei den bekannten Mikrometern, wie sie etwa zur Ablesung von Maßstäben benutzt werden, wird ein eine Maßstabsmarke umfassender Ausschnitt des Maßstabes über ein optisches den Abbildungsstrahlengang versetzendes Element in eine Ebene abgebildet, in der sich eine Strichmarke als Ableseindex befindet. Diese Strichmarke und das Bild der Maßstabsmarke können durch ein Okular beobachtet werden.In the case of the known micrometers, such as those used, for example, for reading scales, a scale mark becomes more comprehensive Section of the scale mapped into a plane via an optical element that offsets the imaging beam path, in which there is a line mark as a reading index. This line mark and the image of the scale mark can go through an eyepiece can be observed.

Der Messende hat die Aufgabe, die Lage des optjsshen, den Strahlengang versetzenden Elementes mit Hilfe eines geeigneten Eriebes mit der Hand solange zu verstellen, bis das Markenbild auf den Ableseindex fällt. Eine im Okular sichtbare Skala, die mit dem optischen Element bzw. mit dem Trieb verbunden ist, gestattet es, die Verstellung abzulesen.The person measuring has the task of determining the position of the optjsshen, the Beam path offsetting element with the help of a suitable Adjust the Eriebes by hand until the brand image falls on the reading index. A scale visible in the eyepiece, which is connected to the optical element or to the drive, allows the adjustment to be read.

Auch kann der Indexträger etwa mit Hilfe einer Schraube verschiebbar ausgebildet sein, so daß der Messende den Index gegen das feststehende Markenbild zu verschieben hat.The index carrier can also be displaced, for example with the aid of a screw be designed so that the person measuring has to move the index against the fixed brand image.

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Ferner ist es bekannt, die -visuelle Beobachtung der Koinzidenz der Strichmarke mit dem Markenbild durch eine objektive zu ersetzen. Hierzu wird anstelle der Strichmarke etwa eine Bildtrennungskante verwendet, die von dem Markenbild zwei Teilbilder erzeugt, welche in bekannter Weise fotometrisch miteinander verglichen werden. Bei Gleichheit der Lichtströme der Teilbilder ist die Marke auf die Bildtrennungskante eingespielt. It is also known to visualize the coincidence to replace the line mark with the brand image with an objective one. For this purpose, instead of the line mark, a Image separation edge is used, which generates two partial images from the brand image, which are photometrically in a known manner be compared with each other. If the luminous flux of the partial images is the same, the mark is applied to the image separating edge.

Wenn man ein solches Instrument zu sehr empfindlichen Messungen verwenden will, so ist es wünschenswert, daß der Messende das einmal eingestellte Gerät während der Messung nicht mehr berührt, besser noch, die Bedienung aus einiger Entfernung vornehmen kann.If one wants to use such an instrument for very sensitive measurements, it is desirable that the person measuring Once the device has been set, it no longer touches it during the measurement, or better still, it can be operated from a distance can make.

Es ist zwa.r bekannt, die Verstellung etwa des optischen, den Strahlengang versetzenden Elementes durch einen Motor auszuführen, wobei die Größe der Verstellung beispielsweise durch ein Zählwerk angezeigt wird. Hierbei treten jedoch unvermeidliche Vibrationen des Gerätes durch den Motor auf. Auch wird die Genauigkeit der Anzeige des Zählwerkes durch die Itose der verwendeten Getriebe, die andererseits eine große Einstexlzeit verursachen, beeinträchtigt.It is well known that the adjustment of the optical, the Execute beam path offsetting element by a motor, the size of the adjustment for example by a counter is displayed. In this case, however, inevitable vibrations of the device occur due to the motor. Also will the accuracy of the display of the counter by the Itose's used gears, which on the other hand have a long adjustment time cause, impaired.

Die Aufgabe, die der feuerung zugrunde lag, besteht darin, ein aus einiger Entfernung ablesbares und bedienbares Mikrometer ohne die lachteile, die bei der Verwendung eines Motors zur Verstellung auftreten, zu beschaffen.The task on which the fire was based is to create a Micrometer that can be read and operated from a distance without the laughing parts that come with using a motor Pretense occur to procure.

Zu diesem Zweck wird neuerungsgemäß ein Mikrometer, insbesondere zur Ablesung von Maßstäben, bei dem eine abzulesende Marke oder ein anderes Zielobjekt in eine einen Ableseindex enthaltende Ebene abgebildet wird und bei dem durch Verstellen des Ableseindex oder eines in dem Abbildungsstrahlengang angeordneten, optischen, den Abbildungsstrahlengang versetzenden Elementes das Markenbild mit dem Index zur Koinzidenz gebracht wird, mit Mitteln zur Beobachtung der Koinzidenz und zur Messung der hierzu notwendigen Verstellung, vorgeschlagen, welchesFor this purpose, according to the invention, a micrometer is used, in particular for reading scales, at which a mark to be read or another target object is mapped into a plane containing a reading index and in the case of which by adjusting of the reading index or an optical offset arranged in the imaging beam path and offsetting the imaging beam path Element, the brand image is brought to coincidence with the index, with means for observing the coincidence and for measuring the adjustment necessary for this, suggested which

sich, dadurch kennzeichnet, daß die Verstellung unmittelbar durch das einer Richtkraft unterworfene, bewegliche Teil eines elektrischen Systems erfolgt.itself, characterized in that the adjustment is immediate by the moving part subjected to a leveling force an electrical system takes place.

In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel eines Gegenstandes nach der Heuerung dargestellt. Figur 1 zeigt ein einfaches Ausführungsbeispiel, bei dem als elektrisches System ein Galvanometer verwendet wird und bei dem die Beobachtung der Koinzidenz visuell erfolgt. In Figur 2 ist eine Anordnung dargestellt, bei der die vizuelle Beobachtung durch eine objektive ersetzt ist.In the drawing, an embodiment of an object is shown after the hiring. Figure 1 shows a simple one Embodiment in which the electrical system is a galvanometer is used and in which the observation of the coincidence is done visually. In Figure 2 an arrangement is shown, in which the visual observation is replaced by an objective one.

Bas Mikrometer (siehe Figur l) enthält die optisch abbildenden Elemente 1, 2, die einen eine Maßstabsmarke 3 enthaltenden Ausschnitt des abzulesenden Maßstabes 4 über ein optisches, den Abbildungsstrahlengang versetzendes Element, eine Planplatte 6, auf einen mit einem Ables#index 5 versehenen Schirm 7 abbilden. Mit 3¹ ist das Bild der Marke bezeichnet. Dieses Bild sowie den Ableseindex 5 kann man durch ein Okular 8 beobachten.Bas micrometer (see Figure 1) contains the optically imaging elements 1, 2, which contain a scale mark 3 containing a section of the scale 4 to be read via an optical element that offsets the imaging beam path, a plane plate 6, onto a screen provided with a reading index 5 Figure 7. With 3 ¹ the image of the brand is referred to. This image and the reading index 5 can be observed through an eyepiece 8.

Die Planplatte 6 wird mit Hilfe eines Galvanometers 9 verstellt. Hierzu ist sie an dem Torsionsfaden 10 der Galvanometerspule 11 befestigt. Zur Regulierung der Plattenverstellung ist das Galvanometer in einem Stromkreis angeordnet, der aus einer Spannungsquelle 12, einem verstellbaren Widerstand 13 und einem Amperemeter 14 besteht.The plane plate 6 is adjusted with the aid of a galvanometer 9. For this purpose, it is on the torsion thread 10 of the galvanometer coil 11 attached. To regulate the plate adjustment, the galvanometer is arranged in a circuit that consists of a voltage source 12, an adjustable resistor 13 and an ammeter 14 consists.

Der Messende beobachtet durch das Okular 8 den Ableseindex 5 und die Marke 3' und verstellt den Widerstand 13 solange, bis das Bild durch die Planplatte 6 derart verschoben wird, daß es mit dem Ableseindex zusammenfällt. Als Maß für die hierzu notwendige Verdrehung dient die Stromstärke, die mit dem Amperemeter 14 gemessen wird. Hierbei kann das Amperemeter gleich in Bruchteilen der Maßstabsteilung geeicht sein.The person measuring observes the reading index 5 through the eyepiece 8 and the mark 3 'and adjusts the resistor 13 until the image is shifted through the plane plate 6 in such a way that it coincides with the reading index. The current intensity measured with the ammeter is used as a measure of the rotation required for this 14 is measured. The ammeter can be calibrated in fractions of the scale division.

Bei dieser Anordnung läßt sich die Empfindlichkeit in einfacher Weise festlegen, in^-dem man nämlich den Abstand zwischen der Planplatte 6 und der Spule 11 entsprechend wählt. T>enn die Platte dreht sich um den Winkel ckjl , wenn sich die SpuleWith this arrangement, the sensitivity can be determined in a simple manner, namely by choosing the distance between the plane plate 6 and the coil 11 accordingly. T> hen the plate rotates through the angle ckjl when the coil turns

um c^ dreht, wobei Ii der Abstand der Spule und £ der der Planplatte von der Einspannstelle 15 bedeuten.rotates around c ^, where Ii is the distance between the coil and £ that of the plane plate from the clamping point 15.

figur 2 zeigt eine Anordnung, bei der anstelle des Schirmes 7 (figur 1) ein bildaufteilendes Element, ein prismatischer Körper 16, angeordnet ist.FIG. 2 shows an arrangement in which instead of the screen 7 (Figure 1) an image-dividing element, a prismatic body 16, is arranged.

Das Bild der Marke wird an der Begrenzungskante 17 eines spiegelnden Belages 18 in der Diagona3ä>ene des prismatischen Körpers 16 in zwei Teilbilder zerlegt. Mit 16' ist eine Gesichtsfeldblende bezeichnet. Die zu den beiden Teilbildern gehörenden Lichtströme 19,20 gelangen über Reflektoren 21, 22 bzw. 23, das Prisma 24 und das Sammelprisma 25 auf das lichtempfindliche Element 26. Zwischen dem Prisma 24 und dem Prisma 25 ist eine Drehblende 27 angeordnet, die von einem nicht dargestellten Motor angetrieben wird, dessen Drehachse einen Generator 29 antreibt.The image of the mark is at the boundary edge 17 of a reflective Deck 18 in the diagonal of the prismatic Body 16 broken down into two partial images. At 16 'there is a field diaphragm designated. The luminous fluxes 19, 20 belonging to the two partial images pass through reflectors 21, 22 or 23, the prism 24 and the collecting prism 25 on the photosensitive element 26. Between the prism 24 and the Prism 25, a rotary shutter 27 is arranged, which is driven by a motor, not shown, whose axis of rotation a generator 29 drives.

Die von dem lichtelektrischen Element erzeugten elektrischen Signale werden einem Verstärker 30 zugeführt. In einem Gerät werden die zu den Mchtströmen 19 und 20 gehörenden Signale mit Hilfe der von dem Generator 29 erzeugten Wechselspannung getrennt und beide einem Differenzmeßinstrument 32 zugeführt.The electrical signals generated by the photoelectric element are fed to an amplifier 30. In one device the signals belonging to the power currents 19 and 20 become separated by means of the alternating voltage generated by the generator 29 and both fed to a differential measuring instrument 32.

Der Beobachter hat den Widerstand 13 (Pigur 1) solange zu verstellen, bis das Instrument 32 keinen Ausschlag anzeigt. Die dazu notwendige Verdrehung der Planplatte 6 kann wieder an dem Amperemeter 14 abgelesen werden.The observer has to adjust the resistor 13 (Pigur 1) as long as until the instrument 32 shows no deflection. The necessary rotation of the flat plate 6 can be done again on the Ammeter 14 can be read.

Es sei darauf hingewiesen, daß die ^Teuerung nicht auf das Ausführungsbeispiel beschränkt ist, z.B. kann die Planplatte durch einen Schiebekeil ersetzt werden, der durch eine Tauchspule verschoben wird. Auch kann der Indexträger verschiebbar ausgebildet sein.It should be noted that the ^ inflation does not apply to the embodiment is limited, e.g. the flat plate can be replaced by a sliding wedge, which is replaced by a moving coil is moved. The index carrier can also be designed to be displaceable be.

Schutzansprüohe:Protection claims:

Claims

M 46615-144.60 protection claims

1) Micrometer, especially for reading rulers, at which a mark to be read or another target object is mapped into a level containing a reading index and in which by adjusting the reading index or of an optical element which is arranged in the imaging beam path and which offsets the imaging beam path, the brand image is brought to coincidence with the index, with means for observing the coincidence and for measuring the adjustment necessary for this, characterized that the adjustment is made directly by the moving part of an electrical system that is subjected to a directional force he follows.

2) micrometer according to claim 1, characterized in that the optical element or the reading index directly with the moving part of the electrical system is connected.

3) micrometer according to one of claims 1 to 2, characterized in that that the electrical system is a galvanometer, which is an optical, the imaging beam path offsetting Element, preferably a plane plate, adjusted, the current flowing through the galvanometer coil as a measure for the Adjustment is used.

4) micrometer according to one of claims 1 to 3, characterized in that that the electrical system in a circuit consisting of a voltage source, a variable Resistance and preferably a fraction of the scale division calibrated ammeter is arranged.

PÄ: B 46615 4.6Ιϊ

5) micrometer according to one of claims 1 to 4, characterized in that that the observation of the coincidence was done visually by looking directly at the index and the brand image

6) micrometer according to one of claims 1 to 4, characterized in that that the observation of the coincidence is carried out objectively with the aid of a known photoelectric device, in the case of the reading index, for example, by means of an image separating edge is replaced, the partial images of the brand image are generated, which are compared photometrically in a known manner will.