DE1810069U - MEASURING EQUIPMENT. - Google Patents

MEASURING EQUIPMENT.

Info

Publication number
DE1810069U
DE1810069U DEH31733U DEH0031733U DE1810069U DE 1810069 U DE1810069 U DE 1810069U DE H31733 U DEH31733 U DE H31733U DE H0031733 U DEH0031733 U DE H0031733U DE 1810069 U DE1810069 U DE 1810069U
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
vernier
scale
measuring device
verniers
units
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DEH31733U
Other languages
German (de)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss Sports Optics GmbH
Original Assignee
M Hensoldt and Soehne Optische Werke AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by M Hensoldt and Soehne Optische Werke AG filed Critical M Hensoldt and Soehne Optische Werke AG
Priority to DEH31733U priority Critical patent/DE1810069U/en
Publication of DE1810069U publication Critical patent/DE1810069U/en
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/002Details
    • G01B3/004Scales; Graduations

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Optical Transform (AREA)

Description

M. HENSOLDT & SÖHNE OPTISCHE WERKE A. G. WETZLAR Meßeinrichtung Die Erfindung betrifft eine Meßeinrichtung, insbesodnere für Werkzeugmaschinen, mit optischen Mitteln zur Projektion eines Maßstabausschnittes in ein Ablesefenster und einem im Ablesefenster angeordneten Nonius zur Ermittlung von Zwischenwerten des Maßstabes. Bekanntlich wird bei derartigen Geräten die Lage eines Striches des Maßstabes in dem Nonius ermittelt und aus dieser Lage der Feinmeßwert erhalten. Um die Maßstabintervalle mit einem Nonius in 1/10 Ableseeinheiten zu unterteilen, werden allgemein 9 Intervallides Maßstabes 10 Noniusintervalle zugeordnet. Will man eine feinere Unterteilung erhalten, z. B. um die 1/20 Einheiten der Maßstabintervalle ablesen zu können, ist es bekannt, 19 Yiaßetabintervallen 20 Noniusintervalle zuzuordnen. M. HENSOLDT & SÖHNE OPTISCHE WERKE AG WETZLAR measuring device The invention relates to a measuring device, in particular for machine tools, with optical means for projecting a scale section into a reading window and a vernier arranged in the reading window for determining intermediate values of the scale. It is known that in such devices the position of a line of the scale in the vernier is determined and the fine measurement value is obtained from this position. In order to subdivide the scale intervals with a vernier into 1/10 reading units, 9 intervals of the scale are generally assigned to 10 vernier intervals. If you want to get a finer subdivision, e.g. B. in order to be able to read the 1/20 units of the scale intervals, it is known to assign 19 Yiaßetabintervallen 20 vernier intervals.

Diese Lösung ist jedoch nur beschränkt anwendbar. Wie man erkennt, erfordert eine feinere Unterteilung einen verlängerten, also beispielsweise einen doppelt so langen Nonius. Für einen derart langen Nonius ist nun aber, wenn man die Übersicht im Ablesefenster nicht stören will, häufig kein Platz vorhanden.However, this solution can only be used to a limited extent. How to see a finer subdivision requires an extended one, for example one twice as long vernier. For such a long vernier now, however, is if one does not want to disturb the overview in the reading window, there is often no space available.

Aufgabe der Erfindung ist es, eine feinere Intervallablesung als bisher mit einem Nonius zu ermöglichen, ohne daß die genannten Nachteile auftreten.The object of the invention is to provide a finer interval reading than before to enable with a vernier without the disadvantages mentioned occurring.

Dies wird nach der Erfindung durch einen zweiten über oder unter dem ersten angeordneten und gegen diesen versetzten Nonius gleicher Abmessung erreicht. Kommt bei dieser Anordnung ein Strich des Maßstabes mit einem Strich des einen Nonius,. nicht zur Deckung, so koinzidiert er mit hinrichender Genauigkeit mit dem zugehörigen des anderen Nonius. Die Ablesegenauigkeit wird also beispielsweise um 5 Einheiten der nächsten Dezimale erhöht. Zweckmäßig ist der zweite Nonius gegen den ersten um 0, 05 Noniusintervalle versetzt. In diesem Fall gibt der erste Nonius die 1/10 Einheiten und der zweite Nonius die zwischen den 1/10 Einheiten liegenden 1/20 Einheiten.This is according to the invention by a second above or below the first arranged and offset against this vernier reached the same dimension. With this arrangement, a line on the scale comes with a line on the one vernier. does not cover, it coincides with the corresponding one with sufficient accuracy of the other vernier. The reading accuracy is thus, for example, by 5 units the next decimal increases. The second vernier is useful against the first offset by 0.05 vernier intervals. In this case the first vernier is 1/10 Units and the second vernier the 1/20 units between the 1/10 units.

Vorteilhaft werden die Striche der Nonien durch Lichtspalte gebildet. Dies erleichtert einerseits des Auffinden eines Maßstabstriches in einem der Nonien und gibt darüber hinaus zu- verlässigeAbleseergebnisse. Zweckmäßig sind den Nonien zwei Dezimalziffernreihen zugeordnet.The lines of the verniers are advantageously formed by light gaps. On the one hand, this makes it easier to find a scale line in one of the verniers and reliable reading results. It is useful to assign two rows of decimal digits to the verniers.

Hierdurch wird die Ablesung erleichtert. Auf der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung dargestellt, und zwar zeigen Fig. 1 das Ablesefenster einer erfindungsgemäßen Einrichtung ; Fig. 2 und 3 je eine Meßstellung.This makes reading easier. On the drawing is a Embodiment of the invention shown, namely Fig. 1 shows the reading window a device according to the invention; 2 and 3 each have a measurement position.

In dem Ablesefenster 1 einer Meßeinrichtung erscheint ein Ausschnitt eines Maßstabes 2. Im Ablesefenster sind fest zwei gegeneinander versetzte Nonien 3 und 4 vorgesehen. Beide Nonien bestehen aus dunklen Feldern, zwischen denen Lichtspalte gelassen sind. Die Lichtspalte 5 des ersten Nonius bestimmen 1/10 Einheiten, die Lichtspalte 6 des zweiten Nonius dagegen zwischen den 1/10 Einheiten liegende 1/20 Einheiten. Demzufolge sind unter den Nonien zwei Ziffernreihen 7 und 8 vorgesehen, von denen die Reihe 7 die Dezimalwerte des ersten Nonius und die Zifferreihe 8 die Dezimalwerte des zweiten Nonius angibt.A section appears in the reading window 1 of a measuring device of a ruler 2. In the reading window there are two fixed verniers offset against each other 3 and 4 provided. Both verniers consist of dark fields with gaps of light between them are serene. The light column 5 of the first vernier determine 1/10 units, the Light column 6 of the second vernier, however, 1/20 lying between the 1/10 units Units. As a result, two rows of digits 7 and 8 are provided under the verniers, of which row 7 is the decimal value of the first vernier and number row 8 is the Indicates decimal values of the second vernier.

Gemäß Fig. 1 liest man den Wert 30,85 ab. Fig. 2 zeigt die Einstellung auf den Wert.., 40, Fig. 3 die Einstellung auf den Wert.., 45.According to FIG. 1, the value 30.85 is read off. Fig. 2 shows the setting to the value .., 40, Fig. 3 the setting to the value .., 45.

Claims (4)

eWnsprüche
1. Meßeinrichtung, insbesondere für Werkzeugmaschinen, mit einem Maßstab und einem relativ zu diesem verschieblichen
Nonius zur Ermittlung von Zwischenwerten des Maßstabes, gekennzeichnet durch einen zweiten, gegen den ersten versetzten Nonius gleicher Abmessung.
Entitlements
1. Measuring device, especially for machine tools, with one scale and one that can be moved relative to it
Vernier for determining intermediate values of the scale, characterized by a second, offset from the first vernier of the same size.
2. Meßeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Nonius gegen den zweiten um 0e05 Noniusintervalle versetzt ist.2. Measuring device according to claim 1, characterized in that the The first vernier is offset from the second by 0e05 vernier intervals. 3. Meßeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Striche der Nonien durch Lichtspalte gebildet sind. 3. Measuring device according to claim 1, characterized in that the Lines of the verniers are formed by light gaps. 4. Meßeinrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch zwei den Nonien zugeordnete Dezimalziffernreihen.4. Measuring device according to claim 1, characterized by two rows of decimal digits assigned to the verniers.
DEH31733U 1959-05-02 1959-05-02 MEASURING EQUIPMENT. Expired DE1810069U (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEH31733U DE1810069U (en) 1959-05-02 1959-05-02 MEASURING EQUIPMENT.

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEH31733U DE1810069U (en) 1959-05-02 1959-05-02 MEASURING EQUIPMENT.

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1810069U true DE1810069U (en) 1960-04-21

Family

ID=32915956

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEH31733U Expired DE1810069U (en) 1959-05-02 1959-05-02 MEASURING EQUIPMENT.

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE1810069U (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2148066A1 (en) Diameter measuring device for machine tools
DE1810069U (en) MEASURING EQUIPMENT.
DE900618C (en) Set up on pointer measuring devices for the numerical display of the measured values
DE477526C (en) Pen case with computing device
DE415286C (en) Device for solving linear equations
DE584692C (en) Limit sliding gauge
DE842547C (en) Vernier
DE952387C (en) Length measuring device for measuring distances, in which electrically arranged sensors are mechanically coupled with a capacitance
DE757877C (en) Image throwing device for workshop measurements, especially for performing serial measurements
DE418294C (en) Graduation for scales of slide rules, measuring instruments and gauges
DE976263C (en) Device with an optical device for reading measured values, in particular length measured values
DE832344C (en) Escape line board
DE332076C (en) Tolerance calliper
DD248865A1 (en) METHOD AND DEVICE FOR MEASURING LENGTHS AT MEASUREMENT OBJECTS
DE705733C (en) Device for determining the origin of dials
DE962503C (en) Drawing ruler
DE895789C (en) Bearing arrangement with cross frame and goniometer
DE948924C (en) Load display device for testing machines with variable measuring range
DE1988279U (en) DEVICE FOR THE STEP-BY-STEP ADJUSTMENT OF RESISTORS OR CAPACITORS.
DE645014C (en) Measuring sheet for stencil molding
DE328293C (en) Micrometer gauge for square edges and their whole multiples
DE2456135B2 (en) Device for measuring the position of a moving machine part
DE1577871A1 (en) Device for measuring the real shape of a part of an object
DE1828231U (en) DRAWING DEVICE.
DE1206162B (en) Device for reading the relative position of two longitudinally or rotationally movable parts