DE1621511A1 - Process for anti-reflective coating of silicon single crystal surfaces - Google Patents

Process for anti-reflective coating of silicon single crystal surfaces

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DE1621511A1
DE1621511A1 DE19671621511 DE1621511A DE1621511A1 DE 1621511 A1 DE1621511 A1 DE 1621511A1 DE 19671621511 DE19671621511 DE 19671621511 DE 1621511 A DE1621511 A DE 1621511A DE 1621511 A1 DE1621511 A1 DE 1621511A1
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etching
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Dipl-Chem Theodor Renner
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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    • H01L31/02363Special surface textures of the semiconductor body itself, e.g. textured active layers

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Description

Verfahren zum Entspiegeln von Silitiumeinkristalloberflächen. Dor le'?irkungsgrad von optisch aktiven Bauelementent wie Solarzellen und rhotozelleng mit Silltiumeinkristallen als optioch aktiven Bentandtell kann durch Ausschalten der ]Reflektion den auffallenden Lichten wenentlich verbeneert worden. Die herkömmliche Entspiegt- lun,r,nmothode int das Aufdampfen einer interterentfähigen A. /4» -Schicht. Derartige Schichten zUenen jedoch# alleine angewa#4t, mit nehr engen Pertigungutoleranten bett-offe»4 Behiobtdiake und Brechungeindex hergentellt werden, ferner reicht die mit A./440 -Schichten rrzielte Reflektioneminderung in vielen Pillen nicht eigot.- Der Er1Jndung liegt daher die Aufgabe zu Grunde@ ein* weitere. Methode zur Ref lexminderung zu achaff en, bei, der die zu bestrahlende Oberfläche des Kristalls geeignet strukturiert ist, um im '#Inne -einer Lichtfalle MehrfachreflektIonen des einfallenden LiChtes zu erzwin,7cn. Das neue Verfahren soll sowohl allein als auch neben den Verfahren mit der A./4-Schicht angewandt werden können, derartg daß sich beide Verfahren ergänzen. Schließlich soll vermieden werden, daß bei Bearbeitung der Oberfläche in dieser Kristalletörungen (damage..Schicht) entsteheng die bei der Anwendung des Bauelementes stören.Process for anti-reflective coating of silicon single crystal surfaces. The efficiency of optically active components such as solar cells and rhotozelleng with silicon monocrystals as optically active By switching off the] reflection, Bentandtell can reduce the conspicuous Lichten have been barely verbeneert. The conventional non-mirrored lun, r, nmothode int the vapor deposition of an interterentabolic A. / 4 » -Layer. Such layers, however, are # applied alone, with very tight production tolerant bed-oven »4 Behiobtdiake and Refractive index can be produced, furthermore that with A./440 -Layers aimed at reducing reflections in many pills not possible. Hence the Er1Jndung is the object of a @ * more. To create a method for reducing reflections in which the surface of the crystal to be irradiated is structured in a suitable manner in order to generate multiple reflections of the incident light in the interior of a light trap. The new process should be able to be used both alone and in addition to the process with the A./4 layer, so that both processes complement each other. Finally, it should be avoided that when the surface is processed in this crystal defects (damage layer) arise that interfere with the application of the component.

Die Erfindung-bezieht sich auf ein Verfahren zum Entspiegeln von Siliziumeinkristalloberflächen von optisch aktiven Bauelementen, 'wie Solarzellen und Photozellen. Die erfindungsgemäße Lösung besteht dRrln, dt2.0 eine Fläche den Siliziumeinkristalls, auf der die Ätzgeschwindigkeit größer ist als auf einer 1111# -Pläche des KrIstalleg derart,ch-emisch geätzt wirdv daß die unterschiedlichen Ätzgeachwindigkeit.en in den verschiedenen kristallographi-.gehen Richtungen des Einkristalle ausgenutzt werden und dadurch eine Matt#itzung erzielt wird.The invention relates to a method for anti-reflective coating of silicon single crystal surfaces of optically active components, such as solar cells and photocells. The solution according to the invention consists of dRrln, dt2.0 a surface of the silicon single crystal on which the etch speed is faster than on a 1111 # face of the crystal is chemically etched in such a way that the different etching speeds in the various crystallographic directions of the single crystal are used and a matting is achieved as a result.

Es ist gemäß weiterer Erfindung besonders günstig# wenn eine* iooj -Pläche den Kristalls «t&Ltzt wirds Die Itsrate auf dies.er Fläche let größer als auf einer 11115 Pläche. Die Pläche wird vorzugsweise no geätzt #,daß aut ihr pyramidenfdruige Xtzf Iguren mit quadratischer '11003-Grundf1Kehe und vier i11l# -Seitenfhächen entatehen. Die Ätzung kann so gefUhrt werden# daß die Grundflächen der Pyramiden mit den vier Seitentlichen Winkel von 50 bis 6(Yot theoretisch 550 W, bilden* Durch Rechnung ergibt niehg daß bei derartigen Pinehenwinkeln a 45 0 für je den senkrecht einfallende LJ(,.htblindel eine Zweifach-Reflektion erreicht wird;' Durch-,-- # . 11005 -.lächen auf Siliziumeinkristallen erfindungsgenKße Xtzung von ergeben sich alsoausgezeichnett Lichtfalleng die eine wesentliche Verbesserung-,der bisher bekannten Entspie gel ungsverfahren von Siliziumeinkristalloberflächen bedeutene' Das erfindungegemäße Entspiegelungsverfahren und die herkömmliche Entspiegelungsmethode auf der Grundlage einer interferenzfähigen /4-Schicht können nebeneinander angewandt sich einander'ergänzen. Auf diese Weise,aleo durch-Aüeschalten der Ref « lex-fon des aufftallenden Lichtes kann der Wirkungsgirad von Silizium'-Solarzellen um nahezu 40#o verbessert werden. Weiterhin werden»durch Anwen'dung der erfindungsgemäßen Entspiegelungsmethode die Fertlgungstoleranzen Dir Schichtdicke und Brechungeindex einer A. /4-Aufdafnpfschicht bei mattgeätzten Sillzlumeinkristalloberflächen, insbesondere SolRrzellen-OberflE**.,chen,6rwe - it e rt Du rch die erfindungsgemäße Ätzung entstehen an der Krietalloberfläche keine störenden Krietallfehler, die bei mechanischer Bearbeitung praktisch unvermeidlich #,-lärer.-4 Die erfindunFegemäße Mattätz-ung wird vorzugsweise mit einer Natriumcarbonatlösung-(Na 2 00 3 )ausgeführt. In einigen Pällen hat sich auch eine Ktilium-Gärbonat162ung (K co,)ftls günstig erl";iesen. Zweckmäßig werden Konzentrationen der Carbonatlösungen von 1 bis 20#49 vorzugsweise 3 bis 10aio'g angew-andte Di 9 Ätztemperatur kann z.B. in d-er Größenordnung von 90 0 C und die Ätz seit zwischen 3 und 6 Minuten liegen. Durch Ätztemperatur Und Ätzzeit worden Porn und Tiefe der ittzteriperitturen im wesentlichen bestimmt. Jedoch ist die Ätzzeit unIrr! tischl, d.h. cie kann wesentlich ldnger alr, 6 Minuten geätzt werden, da nach Entwickeln von pyramidenförmigen Ätzfiguren die itzl-eschwindigkeit stark abAinkte Ei hat sich als günstig erwiesen,0 die zu ntzende Oberfläche vor'der Mattätzung durch eine poliereride Ätzung', t.B. mit einer Mischung aus Balpeteraäure (HNO ) und Fluß-3 säure (HP), vorzubereiten. Anhand einiger AusfUhrungebeiepiele wird die Erfindung näher er-1 äutert. Es wurde die Ättetruktur von vier verschieden behandelten# in einer -Ebene geschnittenen Silizium-Scheiben untersucht. Die Proben.wa.ren wie folgt hergestelltt Probe 1 a) Ätzpolieren in HN0 3 glip#- 3 8 le cn. 1 'min. b) SpUlen in Netzmittell 90 0 of 2 min. e) Ätzen in 5% Na CO 0 (1,9 3 min. 2 . 39 90 Pro-be 2 a) u.b) wie Probe 1. c) Ätzen in 295% Nae-03# 3 min. Probe 3 a)ujb) ef Probel-a 0) Ätzen in 141A2C030 9poet 5 *in* Probe 4 a) wie Probe 1. b) Kochen in ENO 3 (iconn.)o 2 ein. spulen in 11? (kqnr,) c) Ätsen In 5% Nae050 90 0 Os 5 min. Die Proben meooon duroliweg ein schwach erkennbares unregelmäßiges Plockenmuster au2 und ereob-taxieg bei eanähernd nenkrechtem Licht- eintall matt. Sio zeigten Vorzugerichtungen der Reflexion bei grooom Einfallwwinkeln (45 bin 500)e wobei das Reflexionnvermögen bei setzutul@r Drehung « die Weheiben-Normale vier Xaxima durch. .iieft Daneben traten blankel,-rolativ gut reflektierende Stelle&. t unterechiedlicher INKutigkeet auf. Dii*Oberflächen aller proben wurden auch alektronenmikrorikopiaoh untersucht und nach den liatrinen-Abdruokverfahren elektronennikroskopisch dargestellt. In der beigefügten Figur ist die Oberfläche eines erfindungegemäß geätzten Biliziumeinkristalle söhematisch dargestellt. Der zugehörige Maßstab Ist unter der Figur in angegeben. Die erfindungsgemli3 geätzten Proben 1 bin 4 wiesen durchweg Bereiche mit besonders groß# de utlich und regeliäiig ausgebildeten Ätzpyramiden auf. Die Probe-2 kommt den Idealfall einer möglichst lUckenlos mit symmetrischen Pyren:Wen besetzten Oberfläche am nächsten. Die in der vorstehenden Besehreibumg angegebenen krlotallograplit- sehen Orienti erungen' sind eiwageBä4 zo zu-leier-, da14819 nur beispielhaft fUr alle gemä# der Orientierungen stehen. So kmm s.De anstelle von Lilie auch jeweils (Til)9 (iT1)9 (111)9 (YYI)v (TIT)o (111).und (111) Weretanden wer- den# wenn die entsprechenden kNrolierten lät gelben Sinne ungeschrieben werdeno It is according to another invention particularly favorable when a # * iooj surface of the crystal “t & last it will be the rate on this Area let larger than on a 11115 area. The plane will preferably no etched # that aut her pyramidal Xtzf Iguren with square '11003 base and four i11l # side surfaces entatehen. The etching can be guided so # that the bases of the pyramids with four Seitentlichen angle of 50 to 6 (Yot theoretically 550 W, form * gives tracing niehg that in such Pinehenwinkeln a 45 0 for each of the perpendicular incident LJ (. Htblindel a double reflection is achieved; 'Through -, - # . 11005 surfaces on silicon monocrystals Invention of the invention This results in excellent light traps which are a significant improvement - the previously known antireflection method of silicon monocrystalline surfaces. In this way, by aleo-Aüeschalten the Ref "lex fon of aufftallenden light of Wirkungsgirad of Silizium' solar cells can be improved by almost 40 o #. Furthermore, "by Anwen'dung the invention Entspiegelungsmethode the Fertlgungstoleranzen you layer thickness and a Brechungeindex A. / 4 Aufdafnpfschicht at mattgeätzten Sillzlumeinkristalloberflächen, especially SolRrzellen-OberflE ** chen, 6rwe -. It e rt You rch etching invention occur at the Krietal surface no disruptive crystal defects, which are practically unavoidable with mechanical processing. The matt etching according to the invention is preferably carried out with a sodium carbonate solution (Na 2 00 3 ). In some Pällen also a Ktilium-Gärbonat162ung (K co,) has FTLs low erl ";. Iesen Conveniently, concentrations of carbonate solutions 1-20 # 49 andte angew-preferably 3 to 9 10aio'g Di etching temperature may, for example, in d- he order of 90 0 C and the etching are for 3-6 minutes. by etching temperature and etching time was porn and depth of ittzteriperitturen essentially determined. However, the etching time unIrr! tischl, ie cie can substantially ldnger alr, 6 minutes etched Since after the development of pyramid-shaped etched figures, the itzl-eschescheline has shown to be favorable, 0 the surface to be etched before 'matt etching by a polishing etching', tB with a mixture of Balpetera acid (ENT ) and 3 hydrofluoric acid ( HP). The invention will be explained in more detail with the aid of some exemplary embodiments. The etching structure of four differently treated # Examined silicon wafers cut in a plane. The samples were made as follows Sample 1 a) Etch polishing in HN0 3 glip # - 3 8 le cn. 1 'min. b) Rinsing in wetting agent 90 0 or 2 min. e) Etching in 5% Na CO 0 (1.9 3 min. 2 . 39 90 Sample 2 a) ub) as sample 1. c) Etch in 295% Nae-03 # 3 min. Sample 3 a) ujb) ef Sample-a 0) etching in 141A2C030 9poet 5 * in * Sample 4 a) as sample 1. b) Cooking in ENO 3 (iconn.) o 2 a. coils in 11? (kqnr,) c) Etching in 5% Nae050 90 0 Os 5 min. The samples meooon duroliweg a faintly noticeable irregular Plockenmuster au2 and ereob-taxieg with almost perpendicular light all matt. Sio showed preferred directions of reflection grooom angles of incidence (45 am 500) e being the reflectivity with setzutul @ r rotation «the Weheiben normals through four Xaxima. .iieft Next to it there was a bright, shiny, well-reflective spot &. t different INKoundkeet on. The * surfaces of all the samples were also electron microrikopiaoh examined and represented by electron microscopy using the liatrine abduction method. In the attached figure, the surface of a silicon monocrystal etched according to the invention is shown schematically. The corresponding scale is given under the figure in. The erfindungsgemli3 etched samples 1 am 4 had consistently areas with particularly large # de utlich and regeliäiig trained Ätzpyramiden on. Sample-2 comes to the ideal case of a surface that is as seamless as possible with symmetrical pyrene: closest to whom. The krlotallograplit- seeing orientations' are too vague, but only da14819 exemplary for all women Orientations stand. So kmm s.De instead of lily in each case (Til) 9 (iT1) 9 (111) 9 (YYI) v (TIT) o (111). And (111) Weretanden are the # if the corresponding burnished leaves yellow Meaning unwritten o

Claims (1)

p a t e n t ä n a p r U c 1. Verfahren zum Entspiegeln von Silizium-Sinkristallober"flächon von optisch aktiven BauAenenten, wie Solarzellen und Photozel- Ion, dadurch gekennzeichnet, daß elne Pläche den Siliziumein- kristallag auf dee die'Ätugeechwindigkeit gröBer ist.a14 auf einer j1115 -Pliiobe den Krietalleg derart cheziech geätzt wirdg daß die unterschiedlichen itzgenthwindigkeiten in den'verschie- den en kristallographin.chen Richtungen den Einkristalle'auage- nutzt worden und dadurch eine Mattätzung erzielt wird. 2. Verfahren nach Anaprucrh 19 'daduroh!gekonnseiob»tg daß eine j1003 -Pläche dea Kristalle geätet wird. 3* Vorfahren na -oh Änapruch 20 daduroWP4okennseichnet 9 da3 die Pläche so geätzt v#eit daß-auf.Ihr guren mit quadratlacher i100# Grundfläahe»und vier #l1l# -Seltünflächen entstehon. C Verfahren naoh d@n Anaprüchen 1.. b10 39 dadurüh daß mit eines- Ilutriumkarbonatlöaung geätzt wird. dag mit oin@r Gomtat warag V0V2gur02 uL#a@h den Anau)ä90h(Pn, 4 uecl 5 it
7. Verfahren nach den Ansprüchen-4 bin 69 dadurch gekennzeichnet, daß bei etwa 9000 cao 3 bin 6 XinUttft lang geätzt wird. 8. Verfahren nach den AnagrÜchen 1 bin 79 dUurch gekennzeichnet,'. daß die zu ätzende Oberfläche vor der Xattätzung polierend geätzt wird. 9. Verfführen nach Anspruch 89 dadurch gekannzeichne-tg dag zum Polierätzen eine Salpetersäure/-Plußenure-L8nung verwendet wird*
p atent ä n a U pr c 1. Process for anti-reflective coating of sinking crystal silicon surface "flat of optically active components such as solar cells and photo cells Ion, characterized in that the surface of the silicon Kristallag on dee the 'sewing speed is greater. a14 on a j1115 -Pliiobe the Krietalleg is etched so cheziech that the different speeds in the 'different the en crystallographic directions of the single crystals has been used and thereby a matt etching is achieved. 2. Procedure according to Anaprucrh 19 'daduroh! Konseiob »tg that a J1003 -Pläche is geätet dea crystals. 3 * ancestors na -oh Änapruch 20 daduroWP4okennseichnet 9 da3 die Pläche etched so that v # eit-auf.Ihr gures with a square i100 # base area »and four # l1l # - Green areas arise. C procedure after d @ n claims 1 .. b10 39 dadurüh that is etched with an Ilutriumkarbonatlöaung. dag with oin @ r Gomtat warag V0V2gur02 uL # a @ h den Anau) ä90h (Pn, 4 uecl 5 it
7. The method according to claims-4 bin 69, characterized in that at about 9000 cao 3 bin 6 XinUttft is etched long. 8. Method according to Anagrüchen 1 am 79 characterized by, '. that the surface to be etched is etched in a polishing manner prior to the Xat etching. 9. Verffführung according to claim 89, thereby gekannzeichne-tg that a nitric acid / -plußenure-L8nung is used for polishing etching *
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2214197A1 (en) * 1972-03-23 1973-09-27 Siemens Ag PROCESS FOR ALKALINE ETCHING OF SEMICONDUCTOR SYSTEMS
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