DE1489253C

DE1489253C - Optical transmitter with a degenerately doped semiconductor as a stimulable medium

Info

Publication number: DE1489253C
Authority: DE
Inventors: Glen Ithica N.Y.; Feist Wolfgang Martin Burlington; Steele Samuel Robert Sudbury; Mass.; Wade (V.St.A.)
Original assignee: Raytheon Co
Current assignee: Raytheon Co

Description

Die Erfindung bezieht sich auf einen optischen Sender mit einem entartet dotierten Halbleiter als stimulierbarem Medium und als Rekombinationsbereich für Löcher und Elektronen zur Auslösung stimulierter Strahlung innerhalb eines optischen Resonators. ■ -The invention relates to an optical transmitter with a degenerately doped semiconductor as a stimulable medium and as a recombination area for holes and electrons for triggering stimulated radiation within an optical resonator. ■ -

Bei derartigen optischen Sendern muß eine Sperrschicht vorhanden sein, die den Halbleiterbereich, der als Rekombinationsbereich dient, von einem anderen Bereich trennt, aus dem die zur Rekombination benötigten Ladungsträger injiziert werden. Bekannte optische Sender dieser Art weisen daher p- und n-Scliichten auf, die einander berühren und an ihrem Übergang eine Sperrschicht bilden. Durch Anlegen einer Vorspannung an den Übergang werden bei diesen bekannten optischen Sendern Loch-Elektronen-Paare im Übergangsbereich zwischen diesen Schichten und in der näheren Umgebung des Übergangsbereiches gebildet. Diese Elektronen und Löcher vereinigen sich danach wieder und erzeugen eine entsprechende Emission von Photonen einer charakteristischen Wellenlänge.Such optical transmitters must have a barrier layer that covers the semiconductor area, serving as a recombination area from one another area separates from which the charge carriers required for recombination are injected. Known optical transmitters of this type therefore have p- and n-layers that touch each other and form a barrier layer at their junction. By applying a bias voltage to the transition will be in these known optical transmitters hole-electron pairs in the transition area between these layers and in the vicinity of the transition area educated. These electrons and holes then reunite and create one corresponding emission of photons of a characteristic wavelength.

Eines der Probleme, das Anordnungen mit einem p-n-Übergang aufwerfen, ist der hohe Verlust, der in den neutralen p- und η-Bereichen auftritt, die den Übergangsbereich umgeben. Es ist bekannt, daß insbesondere im η-Material eine hohe Photonenabsorption stattfindet, und es wird angenommen, daß diese Absorption einen großen Teil des Verlustes der Anordnung verursacht. Zusätzliche Verluste treten auch im p-Material auf.One of the problems posed by devices with a p-n junction is the high loss that occurs in the neutral p and η regions surrounding the transition region. It is known that in particular a high photon absorption takes place in the η material, and it is believed that this Absorption causes a large part of the loss of alignment. Additional losses also occur in the p-material.

Weiterhin ist es auch bekannt, den CdS mittels Filmdurchtunnelung eine Injektionslumineszenz hervorzurufen, indem zwischen dem Halbleiter und mindestens einem metallischen Bereich, der als Quelle für in den Rekombinationsbereich . zu injizierende Ladungsträger dient, eine Sperrschicht einzuschalten, die von einer Aluminiumoxidschicht gebildet wird. Zum Injizieren der Ladungsträger wird zwischen den metallischen Bereich und den Halbleiter eine Vorspannung solcher Größe angelegt, daß die Ladungsträger die Sperrschicht durchtiinneln. .Furthermore, it is also known to induce injection luminescence into the CdS by means of film tunneling, by placing between the semiconductor and at least one metallic area that acts as a source for in the recombination area. The charge carriers to be injected serve to switch on a barrier layer, which is formed by an aluminum oxide layer. To inject the charge carrier is between the metallic area and the semiconductor applied a bias voltage of such magnitude that the charge carriers pierce the barrier. .

Diese Anordnung hat den Nachteil, daß die Ausbildung der Sperrschicht aus Aluminiumoxid (Al₂O₃) sehr kritisch ist und besondere Arbeitsgänge erfordert. Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, auch diese Nachteile zu vermeiden.This arrangement has the disadvantage that the formation of the barrier layer from aluminum oxide (Al ₂ O ₃ ) is very critical and requires special operations. The invention is based on the object of avoiding these disadvantages as well.

Diese Aufgabe wird nach der Erfindung dadurch gelöst, daß das stimulierbare Halbleitermedium in einem einzigen Leitfähigkeitstyp vorliegt und mindestens ein als "Flächenelektrode dienender metallischer Bereich in unmittelbarem Kontakt mit derr Halbleitermedium, steht und die Sperrschicht zwischen den beiden Bereichen dadurch gebildet wird, daß die Elektroneiuiffinitätu!tiesr Halbleitermediums ^; größer oder kleiner ist .als .,djeuAustrittsarbeit. der metallischen Flächenelektrode*. ; _;j .. ' \ This object is achieved according to the invention in that the stimulable semiconductor medium is present in a single conductivity type and at least one metallic area serving as a "surface electrode is in direct contact with the semiconductor medium, and the barrier layer between the two areas is formed in that the electron ionization! tiesr semiconductor ^medium; larger or smaller is .als, djeuAustrittsarbeit the metallic electrode surface. _*;..; .. _j '\

Es ist ersichtlich, daß nach der Erfindung ein optischer Sender mit einem entartet dotierten Halbleiter als stimuiierbares Medium geschaffen wird, der sich durch einen extrem einfachen Aufbau auszeichnet und sehr leicht hergestellt werden kann, weil bei der Herstellung der kritischen Sperrschicht keinerlei besondere Maßnahmen getroffen zu werden brauchen. Es genügt vielmehr das Aufbringen einer ohnehin benötigten Elektrode aus einem speziell ausgewählten Werkstoff, um die benötigte Sperrschicht zu erzeugen. Zugleich hat ein solcher optischer Sender einen guten Wirkungsgrad, weil die Verluste, wie sie an durch p-n-Übergänge gebildete Sperrschichten entstehen, bei dem erfindungsgemäßen optischen Sender nicht auftreten.It can be seen that, according to the invention, an optical transmitter with a degenerately doped semiconductor is created as a stimulable medium, which is characterized by an extremely simple structure and can be made very easily because in the manufacture of the critical barrier layer no special measures need to be taken. Rather, it is sufficient to apply one Anyway required electrode made of a specially selected material to create the required barrier layer to create. At the same time, such an optical transmitter has a good efficiency, because the losses, such as they arise at barrier layers formed by p-n junctions, in the case of the optical according to the invention Transmitter does not occur.

Die Erfindung wird int folgenden an Hand der in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiele näher beschrieben und erläutert. Es zeigtThe invention is described in the following with reference to the in Exemplary embodiments shown in the drawing are described and explained in more detail. It shows

Fig. 1 eine Draufsicht auf einen optischen Sender nach der Erfindung mit einem an das Halbleitermedium angrenzenden metallischen Bereich, dessen Austrittsarbeit größer ist als die Elektronenaffinität des Halbleitermediums,Fig. 1 is a plan view of an optical transmitter according to the invention with a metallic area adjoining the semiconductor medium, its Work function is greater than the electron affinity of the semiconductor medium,

F i g. 2 eine bildliche Darstellung der Ferminiveaus und des Energiebandes der Anordnung nach F i g. I ohne angelegte Spannung,F i g. Figure 2 is a pictorial representation of the Fermi levels and the energy band of the arrangement according to FIG. I without applied voltage,

F i g. 3 eine bildliche Darstellung der Ferminiveaus und des Energiebandes der Anordnung nach Fig. 1 nach Anlegen einer Spannung,F i g. 3 is a pictorial representation of the Fermi levels and the energy band of the arrangement according to FIG. 1 after applying a voltage,

F i g. 4 eine Draufsicht auf einen optischen SenderF i g. 4 is a plan view of an optical transmitter

ao nach der Erfindung mit einem an das Halbleitermedium angrenzenden metallischen Bereich, dessen Austrittsarbeit geringer ist als die Elektronenaffinität des Halbleitermediums,ao according to the invention with one to the semiconductor medium adjoining metallic area, the work function of which is lower than the electron affinity of the semiconductor medium,

Fig. 5 eine bildliche Darstellung der Ferminiveaus und des Energiebandes der Anordnung nach Fig.·4 ohne angelegte Spannung undFig. 5 is a pictorial representation of the Fermi levels and the energy band of the arrangement according to FIG. 4 without applied voltage and

F i g. 6 eine bildliche Darstellung der Ferminiveaus ■ und des Energiebandes der Anordnung nach Fig. 4 nach Anlegen einer Spannung.F i g. 6 shows a pictorial representation of the Fermi levels and the energy band of the arrangement according to FIG after applying voltage.

Bei dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 1 handelt es sich um einen optischen Sender 60 nach der Erfindung, der ein entartet p-dotiertes Halbleitermedium 61 in Form eines Quaders aufweist, der an zwei parallelen Flächen mit als Flächenelektroden dienenden Metallbereichen 62 und 63 bedeckt ist. Das entartet p-dotierte Halbleitermedium besteht vorzugsweise aus Galliumarsenid, während die. Metallbereiche 62 und 63 vorzugsweise aus Aluminium bestehen. Zwei vielschichtige dielektrische Anordnungen 64 und 65 bedecken zwei dazu senkrechte Flächen des Halbleitermediums 61. Eine Vorspannung wird dieser Anordnung mit Hilfe einer Spannungsquelle 69 zugeführt, die galvanisch mit dem Medium 61 im Punkt 70 und ebenfalls galvanisch mit den metallischen Bereichen 62 und 63 durch Kontakte 67 und 68 verbunden ist. Bei diesem Ausführungsbeispiel ist die Elektronenaffinität des Halbleiters geringer als die Austrittsarbeit des Metalls, so daß die Grenzflächen 71 und 72 zwischen dem Halbleitermedium 61 und den metallischen Bereichen 62 und 63 Sperrschichten bilden. Die Affinität eines Halbleiters ist die Energiedifferenz zwischen dem Valenzniveau und der unteren Grenze des Leitungsbandes im Halbleiter. ; ·The embodiment according to FIG. 1 is an optical transmitter 60 according to the invention, which has a degenerate p-doped semiconductor medium 61 in the form of a cuboid, which is covered on two parallel surfaces with metal regions 62 and 63 serving as surface electrodes. The degenerate p-doped semiconductor medium preferably consists of gallium arsenide, while the. Metal areas 62 and 63 are preferably made of aluminum. Two multilayer dielectric arrangements 64 and 65 cover two perpendicular surfaces of the semiconductor medium 61. A bias voltage is supplied to this arrangement with the aid of a voltage source 69, which is galvanically connected to the medium 61 at point 70 and also galvanically to the metallic areas 62 and 63 through contacts 67 and 68 is connected. In this embodiment, the electron affinity of the semiconductor is lower than the work function of the metal, so that the interfaces 71 and 72 between the semiconductor medium 61 and the metallic regions 62 and 63 form barrier layers. The affinity of a semiconductor is the energy difference between the valence level and the lower limit of the conduction band in the semiconductor. ; ·

55" ^ Fig. 2;'zeigt das Energiediagramm für die AIuminium-Galliumarsenid-Grenzfläche der Anordnung nach Fig. 1 bei Fehlen einer Vorspannung. Die Sperrschicht hat eine Höhe von etwa 0,6 eV. Weiterhin ist wegen der entarteten Dotierung die Breite der Sperrschicht so gering, daß schon bei Anlegen geringer Vorspannungen ein beträchtliches Durchtunneln der Sperrschicht stattfinden kann. Fig. 3 veranschaulicht die Situation bei Anlegen einer positiven Vorspannung mit Hilfe der Spannungsquelle 69, die die Injektion von Elektronen in das Leitungsband des Galliumarsenids durch quantenmechanisches Durchtunneln ermöglicht. In beiden Diagrammen stellen F_Al und F_üaAs die Ferminiveaus für Alu- 55 "^ Fig. 2; 'shows the energy diagram for the aluminum-gallium arsenide interface of the arrangement according to FIG. 1 in the absence of a bias. The barrier layer has a height of about 0.6 eV Depletion layer so small that considerable tunneling of the barrier layer can take place even with the application of low biases. Fig. 3 illustrates the situation when a positive bias voltage is applied with the aid of the voltage source 69, which enables the injection of electrons into the conduction band of the gallium arsenide by quantum mechanical tunneling. In both diagrams, F _Al and F _{üaAs represent} the Fermi levels for aluminum

minium und Galliumarsenid dar. Die Theorie der Wirkungsweisen ist die folgende. In das Halbleitermedium 61 werden von den metallischen Bereichen 62 und 63 her Elektronen injiziert, indem ein quantenmechanisches Durchtunneln der Sperrschichten 71 und 72 stattfindet. Die Tunnelelektronen gelangen in das entartet dotierte Halbleitermedium und besetzen sein Leitungsband. Diese Elektronen führen zu einer Besetzungsinversion. Diese Besetzungsinversion gibt Anlaß zu einer Löcher-Elektronen-Rekombination und einer anschließenden Erzeugung von Photonen infraroter Energie bei Wellenlängen von etwa 9000 Angström. Da von den reflektierenden Enden und den Grenzflächen zu den metallischen Bereichen 62 und 63 und den dielektrischen Schichten 64 und 65 ein Resonator gebildet wird, wird ein Schwinguiigsmodus in Längsrichtung des entartet dotierten Galliumarsenidbereiches erzeugt. Nach einer gewissen Zeit hat sich kohärente Lichtenergie in genügendem Maße aufgebaut, die durch die Verstärkung mit Hilfe der reflektierenden Oberflächen erzeugt worden ist. Es wird dann von einer der Endflächen des Halbleitennediums 61, die zu diesem Zweck in geringem Maße weniger reflektierend ist als die andere Endfläche, kohärente Lichtenergie abgestrahlt. Eine Vorspannung in Vorwärtsrichtung hebt das Ferminiveau des Aluminiums und krümmt die Galliumarsenid-Energiebänder nach oben, wie es F i g. 3 zeigt, wodurch die Injektion von Elektronen aus dem Aluminium in das Galliumarsenid möglich ist.minium and gallium arsenide. The theory of the modes of action is as follows. In the semiconductor medium 61 electrons are injected from the metallic regions 62 and 63 by a quantum mechanical Tunneling through the barrier layers 71 and 72 takes place. The tunnel electrons get in the degenerate doped semiconductor medium and occupy its conduction band. These electrons lead to a Population inversion. This population inversion gives rise to hole-electron recombination and subsequent generation of photons of infrared energy at wavelengths of about 9000 angstroms. Since from the reflective ends and the interfaces to the metallic areas 62 and 63 and a resonator is formed between the dielectric layers 64 and 65, a vibrating mode becomes generated in the longitudinal direction of the degenerately doped gallium arsenide region. After a certain Time has built up sufficient coherent light energy, due to the amplification has been created with the help of the reflective surfaces. It is then held by one of the end faces of the Semiconductor medium 61, which for this purpose is slightly less reflective than the other end face, emitted coherent light energy. A forward bias raises the Fermi level of aluminum and bends the gallium arsenide energy bands upward as it is F i g. 3 shows what causes the injection of electrons from the aluminum in which gallium arsenide is possible.

In F i g. 4 ist eine ähnliche Anordnung offenbart wie in Fig. 1. Das reflektierende Metall, das in direkter Berührung mit dem entartet dotierten Bereich steht, ist hier jedoch so gewählt, daß seine Austrittsarbeit geringer ist als die Affinität des Halbleiters. Dies ermöglicht es, daß die Elektronen unmittelbar in den Halbleiter injiziert werden, ohne daß sie eine Grenzschicht durchtunneln müssen. Die Anordnung 80 nach F i g. 4 weist einen entartet p-dotierten Galliumarsenidbereich auf, der auf zwei einander gegenüberliegenden Flächen mit reflektierenden Magnesiumbereichen 82 und 83 belegt ist. Die reflektierenden Bereiche und der entartet dotierte Bereich sind von zwei vielschichtigen dielektrischen Bereichen 84 und 85 bedeckt. Eine Vorspannung in Vorwärtsrichtung wird von einer Spannungsquelle 86 geliefert, die galvanisch mit dem Bereich 81 im Punkt 87 und am negativen Pol mit den Bereichen 82 und 83 an den Kontaktstellen 89 und 88 verbunden ist. Andere Metalle, die an die Stelle des Magnesiums treten können und die eine genügend kleine Austrittsarbeit und ein gutes Reflexionsvermögen haben, sind Beryllium, Gallium und Thorium.In Fig. 4, a similar arrangement is disclosed as in FIG. 1. The reflective metal shown in FIG is in direct contact with the degenerate doped area, but is chosen here so that its work function is less than the affinity of the semiconductor. This allows the electrons to flow immediately can be injected into the semiconductor without having to tunnel through a boundary layer. the Arrangement 80 according to FIG. 4 has a degenerate p-doped gallium arsenide region that overlaps two opposite surfaces with reflective magnesium areas 82 and 83 is occupied. the reflective areas and the degenerate doped area are of two multilayer dielectric Areas 84 and 85 covered. Forward bias is provided by a voltage source 86 supplied galvanically with the area 81 at point 87 and on the negative pole with the areas 82 and 83 is connected at the contact points 89 and 88. Other metals that take the place of magnesium can occur and which have a sufficiently small work function and good reflectivity are beryllium, gallium and thorium.

F i g. 5 zeigt die Energieverhältnisse an der Grenzfläche zwischen Magnesium und Galliumarsenid bei Fehlen einer Vorspannung, wogegen Fig. 6 die Energieverhältnisse an dieser Grenzfläche nach Anlegen der Vorspannung zeigt. F i g. 6 macht deutlich, daß die Elektronen unmittelbar in das Leitungsband des entartet dotierten Galliumarsenidbereiches injiziert werden und, indem sie eine Besetzungsinversion bewirken, die Emission einer kohärenten infraroten Strahlung anregen.F i g. 5 shows the energy ratios at the interface between magnesium and gallium arsenide at Absence of a bias, whereas FIG. 6 shows the energy ratios at this interface after application the preload shows. F i g. 6 makes it clear that the electrons are directly in the conduction band of the degenerately doped gallium arsenide region and by causing a population inversion cause, stimulate the emission of a coherent infrared radiation.

Es sei darauf hingewiesen, daß die Anordnungen nach den F i g. 1 und 4 von parallelen, verspiegelten Oberflächen nach Fabry—Perot Gebrauch machen, um die gewünschte Rückkopplung zu erzielen. It should be noted that the arrangements according to FIGS. 1 and 4 of parallel, mirrored Surfaces according to Fabry-Perot use to achieve the desired feedback.

Obwohl keine speziellen Temperaturen im Hinblick auf die Funktion der erfindungsgemäßen Anordnungen gefordert werden und eine kohärente Strahlung bei 300 ⁰K, also im wesentlichen bei Raumtemperatur, erzielbar ist, wird allgemein eine beträchtlich bessere Funktion solcher optischen Halbleitersender bei Temperaturen von etwa 77 ⁰K erzielbar sein.Although no special temperatures are required with regard to the function of the arrangements according to the invention and coherent radiation at 300 ^° K, i.e. essentially at room temperature, can be achieved, a considerably better function of such optical semiconductor transmitters can generally be achieved at temperatures of about 77 ^° K .

Wenngleich die als Ausführungsbeispiele beschriebenen Anordnungen nach der Erfindung von entartet p-dotiertem Material Gebrauch machen, ist es ohne weiteres verständlich, daß die hier offenbarten Vorrichtungen auch aus einem entartet η-dotierten Material hergestellt werden könnten, beispielsweise aus Galliumarsenid, das mit einer η-Verunreinigung dotiert ist, beispielsweise mit Phosphor, Arsen oder Antimon. Ebenso können Löcher von einer geeigneten Lochquelle quantenmechanisch in einen entartet η-dotierten Bereich getunnelt werden, beispielsweise aus einem Metall der V. Gruppe des Periodischen Systems der chemischen Elemente, wie Kobalt oder Tantal, oder aus geeigneten Metallen der VI. Gruppe, wie Chrom, Molybdän und Wolfram.Although the arrangements according to the invention described as exemplary embodiments of degenerate Make use of p-doped material, it is readily understood that the devices disclosed herein could also be made from a degenerate η-doped material, for example from Gallium arsenide, which is doped with an η-impurity, for example with phosphorus, arsenic or Antimony. Holes can also degenerate quantum mechanically into a suitable hole source η-doped area can be tunneled, for example from a metal of the V group of the periodic System of chemical elements, such as cobalt or tantalum, or suitable metals of the VI. Group such as chromium, molybdenum and tungsten.

Es ist erkennbar, daß die beschriebenen speziellen Ausführungsbeispiele nur zur Veranschaulichung der allgemeinen Grundzüge der Erfindung dienen und daß vielfältige Abwandlungen möglich sind, ohne den Rahmen der Erfindung zu verlassen. So kann beispielsweise bei einem optischen Sender nach der Erfindung der entartet dotierte Bereich von einem zentralen Zylinder gebildet werden, auf den ein äußerer Zylinder aus einem metallischen Werkstoff aufgebracht ist. Weiterhin sind Anordnungen möglich, bei denen nur an einer Seite des Halbleitermediums ein metallischer Bereich vorgesehen ist. It will be appreciated that the specific embodiments described are only illustrative of the serve general principles of the invention and that various modifications are possible without to leave the scope of the invention. For example, with an optical transmitter after the Invention of the degenerate doped area formed by a central cylinder on which a outer cylinder made of a metallic material is applied. Furthermore, arrangements are possible in which a metallic area is provided on only one side of the semiconductor medium.

Claims

Claim:

Optical transmitter with a degenerately doped semiconductor as a stimulable medium and as a Recombination area for holes and electrons to trigger stimulated radiation within an optical resonator, characterized in that the stimulable semiconductor medium (61) is present in a single conductivity type and at least one as a surface electrode serving metallic area (62, 63) in direct contact with the semiconductor medium (61) and the barrier layer between the two areas is formed in that the electron affinity of the semiconductor medium is greater or less than the work function the metallic surface electrode.

1 sheet of drawings